法人番号:1020001063943
株式会社カツラ・オプト・システムズ
情報更新日:2024年08月31日
株式会社カツラ・オプト・システムズとは
株式会社カツラ・オプト・システムズ（カツラオプトシステムズ）は、法人番号:1020001063943で神奈川県川崎市麻生区上麻生1丁目7番11号に所在する法人として横浜地方法務局で法人登録され、2015年10月05日に法人番号が指定されました。登録情報として、特許情報が7件が登録されています。法人番号公表サイトでの最終更新日は2018年06月08日です。
インボイス番号:T1020001063943については、2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されています。
この地域の労働局は神奈川労働局。川崎北労働基準監督署が所轄の労働基準監督署です。
名称の「株式会社」について(β版)
株式会社は、法人格を持つ組織形態の一つであり、株主が出資することによって設立されます。株式会社は、株主の出資額に応じた株式を発行し、経営を行います。株主は株式を所有することで、会社の経営に参加する権利を持ちます。また、株式会社は独立した法的存在であり、株主の責任は出資額に限定されます。株式会社は、経営の安定性や資金調達の容易さなどの利点を持ち、多くの企業がこの形態を選択しています。
株式会社カツラ・オプト・システムズの基本情報
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 商号又は名称 | 株式会社カツラ・オプト・システムズ |
| 商号又は名称（読み仮名）フリガナ | カツラオプトシステムズ |
| 法人番号 | 1020001063943 |
| 会社法人等番号 | 0200-01-063943 |
| 登記所 | 横浜地方法務局 ※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。 |
| インボイス登録番号 ※2024年08月31日更新 インボイス番号 |
T1020001063943 ※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。 (2024年08月31日現在) |
| 法人種別 | 株式会社 |
| 郵便番号 | 〒215-0021 ※地方自治体コードは 14137 |
| 国内所在地（都道府県）都道府県 | 神奈川県 ※神奈川県の法人数は 365,821件 |
| 国内所在地（市区町村）市区町村 | 川崎市麻生区 ※川崎市麻生区の法人数は 5,293件 |
| 国内所在地（丁目番地等）丁目番地 | 上麻生1丁目7番11号 |
| 国内所在地（1行表示）1行表示 | 神奈川県川崎市麻生区上麻生1丁目7番11号 |
| 国内所在地（読み仮名）読み仮名 | カナガワケンカワサキシアサオクカミアサオ1チョウメ |
| 電話番号TEL | 044-969-5231 |
| FAX番号FAX | 044-969-5230 |
| ホームページHP | http://www.katsura-opto.com/ |
| 更新年月日更新日 | 2018年06月08日 |
| 変更年月日変更日 | 2015年10月05日 |
| 法人番号指定年月日指定日 | 2015年10月05日 ※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。 |
| 管轄の労働局労働局 | 神奈川労働局 〒231-8434 神奈川県横浜市中区北仲通5丁目57番地横浜第2合同庁舎 |
| 管轄の労働基準監督署労働基準監督署 | 川崎北労働基準監督署 〒213-0001 神奈川県川崎市高津区溝口1-21-9 |
株式会社カツラ・オプト・システムズの場所
株式会社カツラ・オプト・システムズの登録履歴
| 日付 | 内容 |
|---|---|
| 2015年10月05日 | 【新規登録】 名称が「株式会社カツラ・オプト・システムズ」で、「神奈川県川崎市麻生区上麻生1丁目7番11号」に新規登録されました。 |
株式会社カツラ・オプト・システムズの関連情報
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 情報名 | 株式会社カツラ・オプト・システムズ |
| 情報名 読み | カツラオプトシステムズ |
| 住所 | 神奈川県川崎市麻生区上麻生1丁目7-11 |
| 電話番号 | 044-969-5231 |
株式会社カツラ・オプト・システムズの法人活動情報
株式会社カツラ・オプト・システムズの特許情報(7件)
| 日付 公表組織 / 種類 |
活動対象 / 分類等 |
|---|---|
2019年11月12日 特許庁 / 特許 | レンズ軸上軸外点像観察方法、その装置及びその方法を用いたプログラム FI分類-G01M 11/02 B |
2018年10月10日 特許庁 / 特許 | カメラモジュール調整装置及びカメラモジュール調整方法 FI分類-G03B 17/02, FI分類-H04N 5/232, FI分類-G02B 7/02 C, FI分類-G02B 7/02 Z, FI分類-G03B 15/00 W, FI分類-G03B 37/00 A, FI分類-H04N 5/225 400 |
2017年12月27日 特許庁 / 特許 | レンズ光軸測定装置、及びレンズ光軸の測定方法 FI分類-G03B 17/02, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01M 11/00 L |
2017年10月26日 特許庁 / 特許 | 検査カメラモジュールの調整装置及びその調整方法 FI分類-G03B 17/02, FI分類-G02B 7/02 C |
2016年07月04日 特許庁 / 特許 | 光学素子特性測定装置 FI分類-G01B 11/00 D, FI分類-G01B 11/02 H |
2014年12月02日 特許庁 / 特許 | 3次元チルトセンサ及びこれを用いた測定対象の3軸廻りの角度変位を測定する方法 FI分類-G01B 11/26 G |
2014年06月26日 特許庁 / 特許 | 撮像素子の位置計測方法及び当該方法に用いる投光装置 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/26 H |
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