株式会社カワノラボとは

株式会社カワノラボ(カワノラボ)は、法人番号:1120901035602で大阪府豊中市石橋麻田町1番31号に所在する法人として大阪法務局北大阪支局で法人登録され、2015年10月05日に法人番号が指定されました。登録情報として、補助金情報が1件特許情報が10件が登録されています。なお、2022年10月20日に法人番号公表サイトでは登録情報が変更されています。法人番号公表サイトでの最終更新日は2022年10月25日です。
インボイス番号:T1120901035602については、2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されています。
この地域の労働局は大阪労働局。淀川労働基準監督署が所轄の労働基準監督署です。
 

名称の「株式会社」について(β版)

株式会社は、法人格を持つ組織形態の一つであり、株主が出資することによって設立されます。株式会社は、株主の出資額に応じた株式を発行し、経営を行います。株主は株式を所有することで、会社の経営に参加する権利を持ちます。また、株式会社は独立した法的存在であり、株主の責任は出資額に限定されます。株式会社は、経営の安定性や資金調達の容易さなどの利点を持ち、多くの企業がこの形態を選択しています。

株式会社カワノラボの基本情報

項目 内容
商号又は名称 株式会社カワノラボ
商号又は名称(読み仮名)フリガナ カワノラボ
法人番号 1120901035602
会社法人等番号 1209-01-035602
登記所 大阪法務局北大阪支局
※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号
※2024年08月31日更新
インボイス番号
T1120901035602
※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。
(2024年08月31日現在)
法人種別 株式会社
郵便番号 〒560-0042
※地方自治体コードは 27203
国内所在地(都道府県)都道府県 大阪府
※大阪府の法人数は 470,479件
国内所在地(市区町村)市区町村 豊中市
※豊中市の法人数は 14,577件
国内所在地(丁目番地等)丁目番地 石橋麻田町1番31号
国内所在地(1行表示)1行表示 大阪府豊中市石橋麻田町1番31号
国内所在地(読み仮名)読み仮名 オオサカフトヨナカシイシバシアサダチョウ
更新年月日更新日 2022年10月25日
変更年月日変更日 2022年10月20日
法人番号指定年月日指定日 2015年10月05日
※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局 大阪労働局
〒540-8527 大阪府大阪市中央区大手前4丁目1番67号大阪合同庁舎第2号館8F(総務・雇均)・9F(基準)
管轄の労働基準監督署労働基準監督署 淀川労働基準監督署
〒532-8507 大阪府大阪市淀川区西三国4-1-12

株式会社カワノラボの場所

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株式会社カワノラボの登録履歴

日付 内容
2022年10月20日
【住所変更】
国内所在地が「大阪府豊中市石橋麻田町1番31号」に変更されました。
2015年10月05日
【新規登録】
名称が「株式会社カワノラボ」で、「大阪府池田市石橋2丁目12番9号」に新規登録されました。

株式会社カワノラボの法人活動情報

株式会社カワノラボの補助金情報(1件)

期間
公表組織
活動名称 / 活動対象 / 金額
2022年01月18日
中小企業最低賃金引上げ支援対策費補助金(業務改善助成金)
1,500,000円

株式会社カワノラボの特許情報(10件)

日付
公表組織 / 種類
活動対象 / 分類等
2020年05月19日
特許庁 / 特許
分析装置、分析方法、及び粒子分離装置
FI分類-C12M 1/26, FI分類-G01N 27/76, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 15/12 B, FI分類-G01N 15/14 A, FI分類-G01N 15/14 C, FI分類-G01N 33/48 M, FI分類-G01N 33/50 T
2019年04月26日
特許庁 / 特許
電気化学デバイスの評価方法
FI分類-H01G 11/06, FI分類-H01G 11/24, FI分類-H01G 11/32, FI分類-H01G 11/56, FI分類-H01G 11/86, FI分類-H01M 4/86 M, FI分類-H01M 4/96 M, FI分類-H01M 8/10 101, FI分類-H01G 13/00 381
2018年08月24日
特許庁 / 特許
分析装置、及び分析方法
FI分類-C12M 1/42, FI分類-C12Q 1/02, FI分類-G01N 27/72, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 33/48 M
2017年12月08日
特許庁 / 特許
粒子分析装置、及び粒子分析方法
FI分類-G01N 27/76, FI分類-G01N 15/10 A
2017年12月08日
特許庁 / 特許
粒子分離方法
FI分類-B03C 1/023, FI分類-G01N 27/74, FI分類-G01N 27/76, FI分類-B03C 1/00 B, FI分類-B01J 19/08 D, FI分類-B01J 19/00 321
2017年01月31日
特許庁 / 特許
分析方法、及び分析装置
FI分類-H01M 4/48, FI分類-G01N 27/76, FI分類-H01M 4/36 Z, FI分類-H01M 4/38 Z
2016年12月16日
特許庁 / 特許
磁場生成装置、測定セル、分析装置、及び粒子分離装置
FI分類-G01N 27/76, FI分類-G01R 33/16
2016年10月21日
特許庁 / 特許
粒子分析装置
FI分類-G01N 27/76, FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 21/41 Z
2016年06月24日
特許庁 / 特許
分散質分析方法、および分析装置
FI分類-G01N 27/76
2016年06月24日
特許庁 / 特許
分散質分析方法、および分析装置
FI分類-G01N 27/76

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