株式会社堀場製作所

株式会社堀場製作所とは

名称の「株式会社」について(β版)

株式会社堀場製作所の基本情報

項目	内容
商号又は名称	株式会社堀場製作所
商号又は名称（読み仮名）フリガナ	ホリバセイサクショ
法人番号	1130001011676
会社法人等番号	1300-01-011676
登記所	京都地方法務局 ※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号 ※2024年08月31日更新 インボイス番号	T1130001011676 ※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。 (2024年08月31日現在)
法人種別	株式会社
郵便番号	〒601-8305 ※地方自治体コードは 26107
国内所在地（都道府県）都道府県	京都府 ※京都府の法人数は 112,225件
国内所在地（市区町村）市区町村	京都市南区 ※京都市南区の法人数は 6,392件
国内所在地（丁目番地等）丁目番地	吉祥院宮の東町2番地
国内所在地（1行表示）1行表示	京都府京都市南区吉祥院宮の東町2番地
国内所在地（読み仮名）読み仮名	キョウトフキョウトシミナミクキッショウインミヤノヒガシチョウ
英語表記	HORIBA, Ltd.
国内所在地（英語表示）英語表示	2, Miyanohigashi-cho, Kisshoin, Minami-ku, Kyoto
代表者	代表取締役 足立 正之
設立日	1953年01月26日
資本金	120億1,100万円 (2024年03月26日現在)
従業員数	1,814人 (2024年09月16日現在)
ホームページHP	http://www.horiba.co.jp
更新年月日更新日	2024年06月12日
変更年月日変更日	2015年10月05日
法人番号指定年月日指定日	2015年10月05日 ※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局	京都労働局 〒604-0846 京都府京都市中京区両替町通御池上ル金吹町451
管轄の労働基準監督署労働基準監督署	京都下労働基準監督署 〒600-8009 京都府京都市下京区四条通室町東入 函谷鉾町101 アーバンネット四条烏丸ビル5階

株式会社堀場製作所の場所

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株式会社堀場製作所の補足情報

項目	内容
企業名 読み仮名	カブシキガイシャ　ホリバセイサクショ
企業名 英語	HORIBA, Ltd.
上場・非上場	上場
資本金	120億1,100万円
業種	電気機器
証券コード	68560

株式会社堀場製作所の登録履歴

日付	内容
2015年10月05日	【新規登録】 名称が「株式会社堀場製作所」で、「京都府京都市南区吉祥院宮の東町2番地」に新規登録されました。

株式会社堀場製作所の法人活動情報

株式会社堀場製作所の調達情報(3件)

期間 公表組織	活動名称 / 活動対象 / 金額
2023年07月31日 国立研究開発法人新エネルギー・産業技術総合開発機構	燃料電池等利用の飛躍的拡大に向けた共通課題解決型産学官連携研究開発事業共通課題解決型基盤技術開発燃料電池のプロセスインフォマティクス共通基盤の構築 70,999,500円
2018年07月04日 国立研究開発法人新エネルギー・産業技術総合開発機構	省エネ製品開発の加速化に向けた複合計測分析システム研究開発事業省エネ製品開発の加速化に向けた複合計測分析システム研究開発事業 87,030,720円
2016年11月18日 防衛省	分光測定装置 4,989,600円

株式会社堀場製作所の表彰情報(11件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2024年09月16日 厚生労働省	均等・両立推進企業表彰またはファミリー・フレンドリー企業表彰-表彰
2024年09月16日 厚生労働省	健康経営銘柄-認定 2019
2024年09月16日 厚生労働省	あんぜんプロジェクト-認定
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「プラチナくるみん」特例認定 2020
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2012
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2008
2017年12月05日 厚生労働省	ポジティブ・アクション
2017年12月05日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2008年・2012年
2017年12月04日 厚生労働省	女性の活躍推進企業
2017年12月04日 厚生労働省	両立支援のひろば 一般事業主行動計画公表
2016年03月16日 経済産業省	新・ダイバーシティ経営企業100選 多様な人材を活用し経営上の成果を上げている企業

株式会社堀場製作所の届出情報(4件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2017年01月12日 経済産業省	計量法届出製造事業者 - 濃度計第三類
2017年01月12日 経済産業省	計量法届出製造事業者 - 濃度計第二類
2017年01月12日 経済産業省	計量法届出製造事業者 - 濃度計第一類
- デジタル庁	代表者:代表取締役 足立 正之 全省庁統一資格 / -

株式会社堀場製作所の特許情報(283件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2023年03月31日 特許庁 / 特許	車両搭載型のドレンセパレータ、及び、車両搭載型の排ガス分析装置 FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/22 P
2022年06月02日 特許庁 / 特許	イオン分析装置及び燃料電池評価システム FI分類-H01M 8/04 N
2021年11月24日 特許庁 / 特許	検査装置、情報処理方法およびプログラム FI分類-G01N 21/17 A, FI分類-G01N 35/00 D, FI分類-G01N 35/02 C
2021年11月22日 特許庁 / 特許	元素分析装置、元素分析装置の操作方法及び元素分析装置の動作プログラム FI分類-G01N 31/12 A, FI分類-G01N 31/12 B
2021年10月08日 特許庁 / 特許	元素分析方法、元素分析装置、及び、元素分析装置用プログラム FI分類-G01N 31/12 B
2021年08月26日 特許庁 / 特許	異物除去装置及び異物除去方法 FI分類-B08B 5/00 A, FI分類-H01L 21/304 645 A
2021年07月29日 特許庁 / 特許	放射線検出素子の製造方法 FI分類-G01T 1/24, FI分類-H01L 31/00 A
2021年02月18日 特許庁 / 特許	元素分析装置 FI分類-F27B 14/06, FI分類-G01N 1/22 R, FI分類-G01N 1/22 T, FI分類-G01N 25/00 J, FI分類-G01N 31/12 B
2020年06月30日 特許庁 / 特許	元素分析装置の校正方法、元素分析装置、及び、元素分析装置用プログラム FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/27 F, FI分類-G01N 31/12 A
2020年06月26日 特許庁 / 特許	分析装置 FI分類-G01N 21/39, FI分類-G01N 21/3504
2020年05月25日 特許庁 / 特許	試料ガス分析装置、試料ガス分析方法及び試料ガス分析用プログラム FI分類-G01N 21/3504
2020年05月25日 特許庁 / 特許	排ガス分析装置、ガス供給方法、及び排ガスサンプリング装置 FI分類-G01N 1/00 E, FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/00 101 T, FI分類-G01N 1/00 101 X
2020年05月12日 特許庁 / 特許	試料分析装置 FI分類-G01N 21/39, FI分類-G01N 21/3504
2020年04月01日 特許庁 / 特許	動的状態観測システム FI分類-G01N 23/04, FI分類-H01M 10/44 P, FI分類-H01M 10/48 A, FI分類-G01M 17/007 Z, FI分類-G01N 23/20 ZHV, FI分類-H01M 10/44 102 Z
2020年01月27日 特許庁 / 特許	放射線検出素子、放射線検出器及び放射線検出装置 FI分類-H01L 31/00 A, FI分類-H01L 31/10 H
2019年12月27日 特許庁 / 特許	ガス封入モジュール及びガス分析計 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/37, FI分類-G01N 21/01 B
2019年12月27日 特許庁 / 特許	基準板、校正用部材、光沢計、及び、基準板の製造方法 FI分類-G01N 21/57, FI分類-G01N 21/01 A
2019年12月23日 特許庁 / 特許	相互作用検出方法、相互作用検出装置及びバイオチップ再生キット FI分類-C12Q 1/06, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 33/53 S, FI分類-G01N 33/543 595
2019年12月20日 特許庁 / 特許	分析装置、分析装置用プログラム及び分析方法 FI分類-G01N 21/39
2019年12月18日 特許庁 / 特許	粒子分析装置及び粒子分析方法 FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 15/02 B, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 33/48 M
2019年12月13日 特許庁 / 特許	X線分析装置、分析方法、及びプログラム FI分類-G01N 23/223
2019年12月10日 特許庁 / 特許	検体採取具、検体採取具の製造方法、及び測定システム FI分類-G01N 1/10 V, FI分類-G01N 1/12 B, FI分類-G01N 33/48 S, FI分類-G01N 37/00 101
2019年12月04日 特許庁 / 特許	X線分析装置、X線分析システム、分析方法、及びプログラム FI分類-G01N 23/223
2019年12月02日 特許庁 / 特許	四重極質量分析装置、四重極質量分析方法、及び、四重極質量分析装置用プログラム FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 G
2019年11月29日 特許庁 / 特許	オイルミスト検出装置 FI分類-G01N 21/49 Z
2019年11月28日 特許庁 / 特許	車両試験システム及び車両試験方法 FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01M 17/007 A
2019年11月25日 特許庁 / 特許	測定装置、及び、制御方法 FI分類-G01N 21/57
2019年11月20日 特許庁 / 特許	電解液分析方法及び電解液分析装置 FI分類-H01M 10/058, FI分類-H01M 6/16 A, FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-H01M 10/0566, FI分類-H01M 12/06 G
2019年11月14日 特許庁 / 特許	流体計量装置およびそれを有する試料分析装置 FI分類-G01N 1/38
2019年11月11日 特許庁 / 特許	車両管理装置、排ガス分析システム、車両管理用プログラム、及び車両管理方法 FI分類-G01M 15/02, FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01M 17/02, FI分類-G01M 17/007 P, FI分類-G01M 17/007 T, FI分類-G01M 17/007 Z
2019年10月29日 特許庁 / 特許	遠心沈降式の粒径分布測定装置 FI分類-G01N 15/04 A, FI分類-G01N 15/04 B, FI分類-G01N 21/01 B, FI分類-G01N 21/03 Z, FI分類-G01N 21/49 Z
2019年10月29日 特許庁 / 特許	遠心沈降式の粒径分布測定装置 FI分類-G01N 15/04 A, FI分類-G01N 15/04 B, FI分類-G01N 21/01 B, FI分類-G01N 21/03 Z, FI分類-G01N 21/49 Z
2019年10月29日 特許庁 / 特許	遠心沈降式の粒径分布測定装置 FI分類-G01N 15/04 A, FI分類-G01N 15/04 B, FI分類-G01N 21/01 B, FI分類-G01N 21/03 Z, FI分類-G01N 21/49 Z
2019年10月17日 特許庁 / 特許	試験システム、試験方法及び試験プログラム FI分類-G01M 15/02, FI分類-G01M 17/007 Z
2019年09月27日 特許庁 / 特許	粒子物性測定に用いられる光学測定用セル及びこれを用いた粒子物性測定装置 FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 21/03 Z
2019年09月25日 特許庁 / 特許	X線導管の製造方法 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G21K 1/06 D, FI分類-G21K 5/02 X
2019年09月17日 特許庁 / 特許	排ガス分析装置、排ガス分析方法、及び補正式作成方法 FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01N 27/62 103 M
2019年08月27日 特許庁 / 特許	捕捉装置及び捕捉方法 FI分類-G01N 1/02 D, FI分類-G01N 1/22 G
2019年08月27日 特許庁 / 特許	元素検出方法、元素検出装置、及びコンピュータプログラム FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/225
2019年08月27日 特許庁 / 特許	X線分析装置及びX線発生ユニット FI分類-G01N 23/223, FI分類-G21K 1/02 C, FI分類-G21K 1/06 G, FI分類-G21K 5/02 X, FI分類-G21K 5/08 X
2019年08月09日 特許庁 / 特許	ガス分析装置及びガス分析方法 FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 31/00 V
2019年08月08日 特許庁 / 特許	グロー放電発光分析方法 FI分類-G01N 21/67 C
2019年08月06日 特許庁 / 特許	ガス分析装置及びガス分析装置の校正方法 FI分類-G01N 1/00 C, FI分類-G01N 1/00 101 R, FI分類-G01N 1/00 102 E
2019年08月06日 特許庁 / 特許	分析装置及び分析方法 FI分類-G01N 31/12 A
2019年08月02日 特許庁 / 特許	測定システム、測定装置、測定方法、及びプログラム FI分類-G01D 7/08, FI分類-G01J 5/48 C
2019年07月29日 特許庁 / 特許	グロー放電発光分析方法及びグロー放電発光分析装置 FI分類-G01N 21/67 C
2019年07月16日 特許庁 / 特許	車両試験装置 FI分類-G01M 17/013, FI分類-B60C 19/00 H, FI分類-G01M 17/007 A
2019年07月05日 特許庁 / 特許	粒子解析用データ生成方法、粒子解析用データ生成プログラム、及び粒子解析用データ生成装置 FI分類-G06V 10/774
2019年06月28日 特許庁 / 特許	分析装置及び分析方法 FI分類-G01N 21/01 B, FI分類-G01N 21/3504
2019年06月25日 特許庁 / 特許	分析装置、分析方法及び分析装置用プログラム FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01N 21/3504
2019年06月07日 特許庁 / 特許	排ガス分析装置、排ガス分析方法、排ガス分析用プログラム及び機械学習装置 FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01N 21/3504
2019年06月06日 特許庁 / 特許	放射線検出装置、コンピュータプログラム及び位置決め方法 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01N 23/2252, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 L
2019年05月27日 特許庁 / 特許	粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定装置用プログラム FI分類-G01N 15/02 A
2019年05月27日 特許庁 / 特許	粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定装置用プログラム FI分類-G01N 15/02 C
2019年05月27日 特許庁 / 特許	粒子撮像装置、粒子径測定装置、複式粒子径測定装置、コンピュータプログラム、粒子観察方法、及び複式粒子測定装置 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01N 15/02 B, FI分類-G01N 21/47 A, FI分類-G01N 21/49 Z
2019年05月23日 特許庁 / 特許	粒子径分布測定装置、粒子径分布測定方法、及び、粒子径分布測定装置用プログラム FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 21/49 Z, FI分類-G06N 20/00 130
2019年05月21日 特許庁 / 特許	台車、自動運転システム及び収納方法 FI分類-G01M 17/007 D
2019年05月21日 特許庁 / 特許	分析システム及び分析方法 FI分類-G01M 15/10
2019年05月17日 特許庁 / 特許	路上走行試験システム、路上走行試験システム用プログラム FI分類-G08G 1/13, FI分類-G01C 21/34, FI分類-G01M 15/10, FI分類-G08G 1/137, FI分類-G08G 1/00 D, FI分類-G01M 17/007 Z
2019年05月15日 特許庁 / 特許	ブレーキダスト計測システム及びブレーキダスト計測方法 FI分類-G01M 17/007 E
2019年05月14日 特許庁 / 特許	自動運転装置 FI分類-G01M 17/007 D
2019年05月09日 特許庁 / 特許	路上走行試験装置 FI分類-G01M 15/10, FI分類-G08G 1/00 D, FI分類-G08G 1/0969, FI分類-G01M 17/007 Z
2019年03月14日 特許庁 / 特許	放射線検出装置及び放射線検出用信号処理装置 FI分類-G01T 1/17 H, FI分類-G01T 1/36 B, FI分類-G01T 1/36 D
2019年03月14日 特許庁 / 特許	検出装置及びスペクトル生成装置 FI分類-G01T 1/17 H, FI分類-G01T 1/36 D
2019年03月08日 特許庁 / 特許	半導体レーザ装置、及び分析装置 FI分類-H01S 5/022, FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 21/03 B, FI分類-G01N 21/3504
2019年03月08日 特許庁 / 特許	供試体試験装置 FI分類-G01M 17/007 A
2019年02月28日 特許庁 / 特許	三次元画像生成装置、及び三次元画像生成装置の係数算出方法 FI分類-G01B 15/04 A, FI分類-G01B 15/04 Z
2018年12月27日 特許庁 / 特許	ガス分析装置、ガス分析用プログラム、及びガス分析方法 FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01N 31/00 H
2018年12月27日 特許庁 / 特許	分析装置、分析方法、及びプログラム FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 21/27 A
2018年12月27日 特許庁 / 特許	粒子形状分析方法、顕微鏡および顕微鏡システム FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 C
2018年12月20日 特許庁 / 特許	試料前処理装置及び分析システム FI分類-G01N 31/00 Y, FI分類-G01N 31/12 A
2018年12月19日 特許庁 / 特許	粒子径表示装置、粒子径表示方法および粒子径表示システム FI分類-G01N 15/02 D
2018年12月14日 特許庁 / 特許	光学分析装置、並びに光学分析装置に用いられる機械学習装置及びその方法 FI分類-G01J 3/45, FI分類-G01J 3/02 C, FI分類-G01J 3/42 U
2018年12月14日 特許庁 / 特許	シリコンドリフト型放射線検出器及び放射線検出装置 FI分類-G01T 1/24, FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/2252
2018年12月14日 特許庁 / 特許	放射線検出器及び放射線検出装置 FI分類-G01T 1/24, FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 7/00 Z, FI分類-G01N 23/2252
2018年12月14日 特許庁 / 特許	表面特性検査装置及び表面特性検査プログラム FI分類-G01N 21/57, FI分類-G01B 11/30 A
2018年12月14日 特許庁 / 特許	シリコンドリフト型放射線検出素子、シリコンドリフト型放射線検出器及び放射線検出装置 FI分類-G01T 1/24, FI分類-G01N 23/223
2018年12月13日 特許庁 / 特許	排ガス分析システム及び排ガス分析方法 FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/00 101 R
2018年12月12日 特許庁 / 特許	保持装置及びそれが備える搭載台の固定方法 FI分類-G01M 17/007 D
2018年12月12日 特許庁 / 特許	判別方法、学習方法、判別装置及びコンピュータプログラム FI分類-C12Q 1/04, FI分類-G01N 21/65, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 33/48 M, FI分類-G01N 33/483 C
2018年12月10日 特許庁 / 特許	粒子数計測装置及び粒子数計測方法 FI分類-G01N 15/06 D
2018年11月14日 特許庁 / 特許	粒子径分布測定装置の補正方法、粒子径分布測定装置の校正方法、粒子径分布測定装置、及び、ガス分析システム FI分類-G01N 15/02 Z, FI分類-G01N 15/06 D, FI分類-G01N 15/14 J, FI分類-G01N 27/60 C
2018年10月26日 特許庁 / 特許	ガス分析装置及びガス分析方法 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 31/12 A
2018年10月25日 特許庁 / 特許	X線検出装置及びX線検出方法 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G21K 1/06 B, FI分類-G21K 1/06 M
2018年10月10日 特許庁 / 特許	分析装置 FI分類-G01N 21/03 B, FI分類-G01N 21/3504
2018年10月02日 特許庁 / 特許	流量測定装置及び流量測定方法 FI分類-G01F 1/46, FI分類-G01F 7/00
2018年09月28日 特許庁 / 特許	分析装置及び分析方法 FI分類-G01N 21/3504
2018年09月27日 特許庁 / 特許	多重反射セル、ガス分析装置、及び多重反射セル用ミラーの製造方法 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/33, FI分類-G01N 21/61, FI分類-G02B 7/198, FI分類-G01N 21/03 B, FI分類-G01N 21/3504
2018年09月27日 特許庁 / 特許	多重反射セル、ガス分析装置、及び多重反射セルの構成方法 FI分類-G01N 21/39, FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/03 B
2018年09月21日 特許庁 / 特許	ブレーキ試験システム、ブレーキ試験方法及びブレーキ試験システム用のプログラム FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01M 17/007 A, FI分類-G01M 17/007 E
2018年09月20日 特許庁 / 特許	半導体レーザ装置、半導体レーザ装置の駆動方法及び駆動プログラム FI分類-G01N 21/39, FI分類-H01S 5/024, FI分類-H01S 5/0687, FI分類-G01N 21/3504
2018年09月14日 特許庁 / 特許	半導体レーザ FI分類-H01S 5/12, FI分類-H01S 5/062
2018年09月12日 特許庁 / 特許	粒子分析装置 FI分類-G01N 15/12 C, FI分類-G01N 15/14 E
2018年09月10日 特許庁 / 特許	試料分散装置 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 Z, FI分類-G01N 15/00 Z
2018年08月28日 特許庁 / 特許	分析方法、分析用セル、及び分析装置 FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/03 Z
2018年08月28日 特許庁 / 特許	エクソソーム表面分子を特定する方法 FI分類-C12Q 1/02, FI分類-C07K 14/47, FI分類-C07K 16/28, FI分類-C07K 17/00, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 33/566, FI分類-G01N 33/53 D, FI分類-C12N 15/115 Z, FI分類-G01N 21/41 101, FI分類-G01N 33/543 595, FI分類-G01N 33/543 501 J
2018年08月01日 特許庁 / 特許	分析装置、分析方法、分析装置用プログラム及び分析用学習装置 FI分類-G01N 21/3504
2018年07月23日 特許庁 / 特許	分析装置及び容器供給装置 FI分類-G01N 1/22 T, FI分類-G01N 1/00 101 B
2018年07月13日 特許庁 / 特許	分析装置、システム、分析方法、及びプログラム FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 15/06 D, FI分類-G01N 21/27 A
2018年07月13日 特許庁 / 特許	担体に固相化された真核細胞膜またはエクソソームの表面分子に対する結合性タンパク質への非特異的結合を抑制する方法 FI分類-C07K 14/42, FI分類-C07K 16/00, FI分類-C07K 17/00, FI分類-G01N 33/53 S, FI分類-G01N 33/543 595, FI分類-G01N 33/543 501 J, FI分類-G01N 33/543 501 M
2018年07月12日 特許庁 / 特許	試料分析装置、電子顕微鏡、及び集光ミラーユニット FI分類-H01J 37/12, FI分類-G01N 21/62 A, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/252 Z
2018年07月12日 特許庁 / 特許	ルミネッセンス採光装置 FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/20 Z
2018年07月12日 特許庁 / 特許	ルミネッセンス分析装置 FI分類-G01N 21/62 A, FI分類-G01N 23/2254, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/252 Z
2018年07月04日 特許庁 / 特許	シャシダイナモメータ装置、その制御方法、及び、シャシダイナモメータ装置用プログラム FI分類-G01M 17/007 A
2018年06月21日 特許庁 / 特許	光学測定用セル及びこれを用いた粒子物性測定装置 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 21/03 Z, FI分類-G01N 21/49 A
2018年06月18日 特許庁 / 特許	流体制御装置、及び、流量比率制御装置 FI分類-G05D 7/06 Z
2018年05月29日 特許庁 / 特許	薬剤分析に用いられる検量線設定方法 FI分類-G01N 21/65
2018年05月28日 特許庁 / 特許	放射線検出器及び放射線検出装置 FI分類-G01T 1/24, FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/2252
2018年05月22日 特許庁 / 特許	光学セル及びガス分析装置 FI分類-G01N 21/03 B, FI分類-G01N 21/3504, FI分類-G01N 1/00 101 R
2018年05月21日 特許庁 / 特許	排ガス分析方法及び排ガス分析システム FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01N 15/06 D
2018年05月18日 特許庁 / 特許	半導体レーザ素子の製造方法及びその半導体レーザ装置並びにガス分析装置 FI分類-H01S 5/028, FI分類-G01N 21/3504, FI分類-H01S 5/026 650
2018年05月15日 特許庁 / 特許	ボンベ管理システム、ボンベ管理プログラム及びガスリーク検出システム FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01M 3/26 Z, FI分類-G01N 1/22 G
2018年05月14日 特許庁 / 特許	稼働率解析システム、稼働率解析プログラム、及び、稼働率解析方法 FI分類-G01M 15/02, FI分類-G01M 17/007 Z
2018年05月01日 特許庁 / 特許	無人航空機 FI分類-B64C 25/10, FI分類-B64C 39/02, FI分類-G01N 23/223
2018年04月17日 特許庁 / 特許	ガス分析装置、ガス分析装置用プログラム、及びガス分析方法 FI分類-G01N 21/3504, FI分類-G01N 21/27 ZABF
2018年04月06日 特許庁 / 特許	粒子径分布測定装置、粒子径分布測定方法および粒子径分布測定用プログラム FI分類-G01N 15/02 C, FI分類-G01N 15/02 D
2018年03月19日 特許庁 / 特許	分光装置、ハイパースペクトル測定システム、及び、分光方法 FI分類-G01J 3/04, FI分類-G01J 3/18
2018年02月07日 特許庁 / 特許	検査オーダー処理装置、そのためのコンピュータープログラム、および、検査システム FI分類-G01N 35/00 A
2017年12月27日 特許庁 / 特許	排ガスサンプリング装置、排ガス分析システム、排ガスサンプリング方法、及び排ガスサンプリング用プログラム FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/00 101 T
2017年12月20日 特許庁 / 特許	分析装置、分析システム、分析方法、及びプログラム FI分類-G01N 23/223
2017年12月15日 特許庁 / 特許	検査装置、検査方法及び検査システム FI分類-G01M 15/10, FI分類-F01M 11/10 A, FI分類-F02B 77/08 G, FI分類-F02B 77/08 N
2017年12月15日 特許庁 / 特許	半導体レーザ装置及びその製造方法並びにガス分析装置 FI分類-H01S 5/343, FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 21/3504, FI分類-H01S 5/026 650
2017年12月11日 特許庁 / 特許	分析装置 FI分類-G01N 1/00 C, FI分類-G01N 1/22 J, FI分類-G01N 1/22 R, FI分類-G01N 1/22 T, FI分類-G01N 1/28 K, FI分類-G01N 31/12 A, FI分類-G01N 1/00 101 R, FI分類-G01N 1/00 101 S
2017年12月11日 特許庁 / 特許	尿素水のアルカリ度評価方法 FI分類-F01N 3/08 B, FI分類-G01N 33/18 Z, FI分類-G01N 27/416 341 M, FI分類-G01N 27/416 353 Z
2017年12月04日 特許庁 / 特許	粒子物性測定用セル及びこれを用いた粒子物性測定装置 FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 21/03 Z
2017年12月04日 特許庁 / 特許	車両性能評価システム、車両性能評価システム用情報処理装置、車両性能評価方法、及び車両性能評価システム用記録媒体 FI分類-G01M 13/02, FI分類-G01M 17/007 Z
2017年11月28日 特許庁 / 特許	放射線検出装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/225
2017年11月27日 特許庁 / 特許	放射線検出装置及びコンピュータプログラム FI分類-G01N 23/223
2017年11月27日 特許庁 / 特許	放射線検出装置 FI分類-G01N 23/223
2017年11月08日 特許庁 / 特許	ラマンイメージング装置、ラマンイメージングシステム、ラマンイメージング方法、及び、ラマンイメージング装置用プログラム FI分類-G01N 21/65
2017年11月06日 特許庁 / 特許	ガス分析装置の校正方法、ガス分析システム、及び、圧力変動装置 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 1/00 101 R, FI分類-G01N 1/00 101 T, FI分類-G01N 1/00 102 D
2017年10月30日 特許庁 / 特許	粒子径分布測定装置、粒子径分布測定方法、及び粒子径分布測定装置用プログラム FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 15/04 A
2017年10月27日 特許庁 / 特許	放射線検出器及び放射線検出装置 FI分類-G01T 1/24, FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 1/36 D, FI分類-G01T 7/00 A
2017年10月27日 特許庁 / 特許	車両試験システム、車両試験システム用制御装置、車両試験システム制御方法、及び車両試験システム用プログラム FI分類-G01M 17/007 Z
2017年10月26日 特許庁 / 特許	車両走行試験システム、車両走行試験システム用プログラム、及び車両速度パターン表示方法 FI分類-G01M 17/007 A
2017年10月20日 特許庁 / 特許	比較電極ユニット FI分類-G01N 27/28 321 F, FI分類-G01N 27/30 311 Z
2017年10月13日 特許庁 / 特許	排ガス分析装置、排ガス計測方法、排ガス分析装置用プログラム、及び、排ガス分析装置の校正方法 FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/22 M, FI分類-G01N 15/06 D
2017年10月12日 特許庁 / 特許	分光器、及び、それを備えた顕微鏡 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/36, FI分類-G01J 3/02 C, FI分類-G02B 17/08 A
2017年10月11日 特許庁 / 特許	粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定装置用プログラム FI分類-G01N 15/02 A
2017年10月06日 特許庁 / 特許	粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定装置用プログラム FI分類-G01N 15/02 C
2017年10月03日 特許庁 / 特許	分析装置、分析装置用プログラム及び分析方法 FI分類-G01N 21/39, FI分類-G01N 21/3504
2017年10月03日 特許庁 / 特許	多重反射セル及びガス分析装置 FI分類-G01N 21/03 B, FI分類-G01N 21/3504
2017年09月28日 特許庁 / 特許	模擬ガス発生装置、評価装置及び模擬ガス発生方法 FI分類-B01J 35/04 301, FI分類-G01N 1/00 101 S, FI分類-G01N 1/00 101 T, FI分類-G01N 1/00 102 D
2017年09月22日 特許庁 / 特許	元素分析装置及び元素分析方法 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 V
2017年09月14日 特許庁 / 特許	流体分析装置及び流体分析方法 FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/00 101 R, FI分類-G01N 1/00 101 T
2017年09月14日 特許庁 / 特許	ガス分析装置及びガス分析方法 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/3504
2017年09月12日 特許庁 / 特許	免疫凝集反応を用いた濃度測定における被験物質濃度の適正性の判定方法およびそのための処理部を有する試料分析装置 FI分類-G01N 21/82, FI分類-G01N 21/49 A, FI分類-G01N 21/75 A, FI分類-G01N 33/543 581 V
2017年09月12日 特許庁 / 特許	粒子計数装置 FI分類-G01N 15/12 B
2017年09月01日 特許庁 / 特許	排ガス分析装置、排ガス分析方法及び排ガス分析用プログラム FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 15/06 D
2017年08月31日 特許庁 / 特許	分光分析装置及び分光分析方法 FI分類-G01N 21/27 F, FI分類-G01N 21/3504
2017年08月14日 特許庁 / 特許	ガス分析装置及びガス分析方法 FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/22 R, FI分類-G01N 1/00 101 R
2017年08月09日 特許庁 / 特許	車両試験システム、車両試験システム用管理装置、車両試験システム用プログラム、及び車両試験方法 FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01M 17/007 A
2017年08月08日 特許庁 / 特許	有機化合物分析装置、抗体分析装置、抗体分析方法、及び、抗体分析装置用プログラム FI分類-C07K 16/00, FI分類-G01N 21/65, FI分類-A61K 39/395 D, FI分類-A61K 39/395 M, FI分類-A61P 43/00 111
2017年07月20日 特許庁 / 特許	植物育成システム、植物育成方法および植物育成システム用プログラム FI分類-A01G 7/00 603, FI分類-A01G 31/00 612, FI分類-A01G 7/00 601 A
2017年07月14日 特許庁 / 特許	恒温槽、試験システム、及び試験方法 FI分類-G01N 17/00, FI分類-G01M 17/007 A, FI分類-G01M 17/007 P
2017年07月14日 特許庁 / 特許	ガス分析装置、ガス分析装置用プログラム、及びガス分析方法 FI分類-G01N 21/27 F, FI分類-G01N 21/3504
2017年07月14日 特許庁 / 特許	粒子分析装置における光照射を調整するためのモニター装置 FI分類-G01N 15/14 B, FI分類-G01N 21/64 Z
2017年07月14日 特許庁 / 特許	分析装置 FI分類-G01N 35/00 E
2017年07月14日 特許庁 / 特許	検体分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F
2017年07月14日 特許庁 / 特許	車両駆動系試験システム及び車両駆動系試験方法 FI分類-G01M 17/007 A
2017年07月12日 特許庁 / 特許	放射線検出装置、放射線検出方法及びコンピュータプログラム FI分類-G01N 23/223
2017年07月12日 特許庁 / 特許	粒子分析装置、粒子分析システム、及び、粒子分析方法 FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 15/02 F
2017年07月07日 特許庁 / 特許	放射線検出素子、放射線検出器及び放射線検出装置 FI分類-G01T 1/24, FI分類-H01L 31/00 A
2017年06月30日 特許庁 / 特許	探針の製造方法及び探針 FI分類-C23C 18/42, FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01Q 70/18, FI分類-C23C 18/31 A
2017年06月15日 特許庁 / 特許	光検出器の出力補正用演算式の算出方法、及び光検出器の出力補正方法 FI分類-G01J 3/02 C, FI分類-G01N 21/3504
2017年06月15日 特許庁 / 特許	除去部材、校正装置、及びガス分析装置 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/01 Z, FI分類-G01N 21/27 F
2017年06月02日 特許庁 / 特許	軸合わせモジュール、供試体試験装置、及び軸合わせ方法 FI分類-G01M 15/02
2017年05月24日 特許庁 / 特許	排ガス分析装置及び排ガス分析方法 FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/22 Q
2017年05月24日 特許庁 / 特許	プローブデバイス、及び、排ガス分析装置 FI分類-G01N 1/00 C, FI分類-G01N 1/22 D, FI分類-G01N 1/22 E, FI分類-G01N 27/416 331
2017年05月19日 特許庁 / 特許	車両走行試験システム、車両走行試験システム用プログラム、及び車両走行試験方法 FI分類-G01M 17/007 A, FI分類-G01M 17/007 B
2017年05月19日 特許庁 / 特許	車両試験システム、車両試験システム用プログラム、車両試験方法、及び走行抵抗設定装置 FI分類-G01M 15/02, FI分類-G01M 17/007 A, FI分類-G01M 17/007 Z
2017年05月09日 特許庁 / 特許	粒子分析装置、及び、粒子分析システム FI分類-G01N 15/02 C, FI分類-G01N 21/47 Z
2017年04月21日 特許庁 / 特許	信号分析装置、信号分析方法、コンピュータプログラム、測定装置及び測定方法 FI分類-G01N 23/2252
2017年04月11日 特許庁 / 特許	放射線検出装置及び放射線検出用信号処理装置 FI分類-G01T 1/24, FI分類-G01T 1/17 F, FI分類-G01T 1/17 G, FI分類-G01T 1/36 B
2017年04月11日 特許庁 / 特許	放射線検出装置及び放射線検出用信号処理装置 FI分類-G01T 1/24, FI分類-G01T 1/17 C, FI分類-G01T 1/17 F, FI分類-G01T 1/36 B, FI分類-G01T 1/36 D
2017年03月31日 特許庁 / 特許	分光分析装置及び分光分析方法 FI分類-G01N 21/03 B, FI分類-G01N 21/3504
2017年03月31日 特許庁 / 特許	ガス分析装置及びガスサンプリング装置 FI分類-G01N 30/68, FI分類-G01N 1/22 R, FI分類-G01N 1/00 101 T
2017年03月30日 特許庁 / 特許	ガス分析装置 FI分類-G01N 21/72, FI分類-G01N 27/62 103 A
2017年03月15日 特許庁 / 特許	作成方法、グロー放電発光分析方法、器具、及びグロー放電発光分析装置 FI分類-G01N 21/67 C
2017年02月14日 特許庁 / 特許	濃度測定方法、濃度測定用プログラム、濃度測定システム、及び濃度測定装置 FI分類-G01N 27/26 371 A, FI分類-G01N 27/26 371 D, FI分類-G01N 27/26 371 F, FI分類-G01N 27/26 371 G, FI分類-G01N 27/416 351 A
2017年02月01日 特許庁 / 特許	粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定方法 FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 21/49 Z
2017年01月27日 特許庁 / 特許	試料分析装置及び試料分析装置用集光ミラーユニット FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 21/62 A, FI分類-G01N 23/2254, FI分類-G01N 23/2255, FI分類-H01J 37/20 H, FI分類-H01J 37/28 B
2017年01月19日 特許庁 / 特許	測定機器のための管理装置 FI分類-G01N 35/00 A
2017年01月19日 特許庁 / 特許	測定機器のための管理装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F
2016年12月22日 特許庁 / 特許	半導体検出器、放射線検出器及び放射線検出装置 FI分類-G01T 1/24, FI分類-G01T 1/36 D, FI分類-H01L 31/08 F
2016年12月22日 特許庁 / 特許	半導体検出器、放射線検出器及び放射線検出装置 FI分類-G01T 1/24, FI分類-G01T 1/36 D, FI分類-H01L 31/00 A
2016年12月22日 特許庁 / 特許	半導体検出器、放射線検出器及び放射線検出装置 FI分類-G01T 1/24, FI分類-H01L 31/00 A
2016年12月16日 特許庁 / 特許	元素分析装置及び元素分析方法 FI分類-G01N 1/00 C, FI分類-G01N 1/22 R, FI分類-G01N 31/00 C, FI分類-G01N 31/12 A, FI分類-G01N 1/00 101 X
2016年12月16日 特許庁 / 特許	元素分析装置及び元素分析方法 FI分類-G01N 31/00 C, FI分類-G01N 31/00 F, FI分類-G01N 31/12 B
2016年12月14日 特許庁 / 特許	車載型排ガス分析システム、車載型排ガス分析システムの検査システム、及び、車載型排ガス分析システムの検査方法 FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01N 1/00 E, FI分類-G01N 5/00 Z, FI分類-G01M 17/00 Z, FI分類-G01N 1/00 101 R, FI分類-G01N 1/00 101 T
2016年12月13日 特許庁 / 特許	X線管、及び、X線分析装置 FI分類-H01J 35/18, FI分類-G01N 23/223, FI分類-H01J 35/00 Z, FI分類-H01J 35/08 F, FI分類-G01N 23/04 330
2016年12月13日 特許庁 / 特許	分光器、光学検査装置、及び、OCT装置 FI分類-G01J 3/18, FI分類-A61B 3/10 R, FI分類-G01N 21/17 630
2016年12月13日 特許庁 / 特許	粒子分析装置及び粒子分析方法 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/08 H, FI分類-G01N 15/10 Z, FI分類-G01N 27/26 P
2016年12月12日 特許庁 / 特許	排ガス流量測定装置、燃費測定装置、排ガス流量測定装置用プログラム、及び排ガス流量測定方法 FI分類-G01F 1/66 101
2016年12月12日 特許庁 / 特許	担体に固相化された抗体から微生物、細胞、該微生物もしくは該細胞が分泌する小胞またはウイルスを除去する方法 FI分類-C12M 1/40 Z, FI分類-C12Q 1/00 C, FI分類-G01N 33/569, FI分類-G01N 33/53 Y, FI分類-G01N 33/543 525 W
2016年12月09日 特許庁 / 特許	バーコード位置特定装置およびそのためのコンピュータプログラム FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G06K 7/10 428, FI分類-G06K 7/14 013, FI分類-G06K 7/14 065
2016年12月09日 特許庁 / 特許	対象物を回転させる装置 FI分類-B65G 47/24 H, FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 G
2016年12月08日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01N 27/26 381 C, FI分類-G01N 27/416 353 Z
2016年12月07日 特許庁 / 特許	分析装置 FI分類-F27B 14/06, FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 31/00 P, FI分類-G01N 31/12 A, FI分類-F27D 17/00 104 G
2016年11月29日 特許庁 / 特許	排ガス測定装置、排ガス測定装置に搭載されるプログラム及び排ガス測定装置の制御方法 FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/22 M, FI分類-G01N 1/00 101 R
2016年11月29日 特許庁 / 特許	多重反射型セル、分析装置、排ガス分析装置、及び、光の入射方法 FI分類-G01N 21/03 B, FI分類-G01N 21/3504
2016年11月25日 特許庁 / 特許	排ガス計測システム FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/00 101 R
2016年11月08日 特許庁 / 特許	試料分析装置及び試料分析プログラム FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 21/49 Z
2016年10月25日 特許庁 / 特許	検査オーダー処理装置およびそれを用いた検査システム FI分類-G06Q 50/22
2016年10月21日 特許庁 / 特許	粒子分析装置、及び、粒子分析方法 FI分類-G01N 27/72, FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 15/02 D, FI分類-G01N 27/26 P
2016年10月21日 特許庁 / 特許	磁化率測定装置、及び、磁化率測定方法 FI分類-G01N 27/76
2016年09月30日 特許庁 / 特許	車両速度パターン表示装置、この装置に用いられるプログラム、走行試験方法、及び自動運転装置 FI分類-G01M 17/00 A
2016年09月02日 特許庁 / 特許	ラマン散乱光測定装置 FI分類-G01N 21/65
2016年08月31日 特許庁 / 特許	分析装置、水銀の除去方法、焼却炉システム、及び、プログラム FI分類-G01N 21/15, FI分類-G01N 21/33, FI分類-G01N 21/59 H, FI分類-G01N 21/59 Z
2016年08月31日 特許庁 / 特許	流量計検査システム及び流量計検査方法 FI分類-G01F 25/00 D
2016年07月04日 特許庁 / 特許	放射温度計 FI分類-G01J 5/06, FI分類-G01J 1/02 C
2016年05月24日 特許庁 / 特許	排ガス分析システム、排ガス分析システム用プログラム、及び排ガス分析方法 FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01N 1/00 B, FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01M 17/00 A
2016年04月19日 特許庁 / 特許	放射線検出器及び放射線検出装置 FI分類-G01T 1/24, FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 7/00 A
2016年04月01日 特許庁 / 特許	多重反射型セル及び分析装置 FI分類-G01N 21/03 B, FI分類-G01N 21/3504
2016年03月17日 特許庁 / 特許	試料導入装置 FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 1/00 101 G
2016年03月01日 特許庁 / 特許	排ガス計測装置 FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/22 M
2016年03月01日 特許庁 / 特許	排ガス計測装置及び排ガス計測方法 FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/22 M
2016年02月22日 特許庁 / 特許	車両試験装置、車両試験方法及び車両試験装置用プログラム FI分類-G01M 17/00 A
2016年02月22日 特許庁 / 特許	模擬運転システム及び制御装置 FI分類-G01M 17/007 A, FI分類-G01M 17/007 B
2016年01月22日 特許庁 / 特許	粒子分析装置、粒子分析方法及び粒子分析プログラム FI分類-G01N 15/00 A, FI分類-G01N 15/02 A
2015年12月15日 特許庁 / 特許	車両試験装置及び車両試験装置に用いられる模擬車輪 FI分類-G01M 17/00 A, FI分類-G01M 17/00 R
2015年12月15日 特許庁 / 特許	燃料タンク温調装置及び蒸散ガス測定システム FI分類-G01M 17/00 P
2015年12月15日 特許庁 / 特許	燃料電池車試験システム FI分類-B60L 3/00 L, FI分類-H01M 8/00 A, FI分類-H01M 8/00 Z, FI分類-H01M 8/04 Z, FI分類-B60L 11/18 G
2015年12月15日 特許庁 / 特許	燃料電池車試験システム FI分類-B60L 50/70, FI分類-B60L 58/30, FI分類-B60L 3/00 L, FI分類-H01M 8/00 Z, FI分類-H01M 8/04 Z, FI分類-H01M 8/04858, FI分類-G01M 17/007 A
2015年12月14日 特許庁 / 特許	吸光度計 FI分類-G01N 21/27 Z
2015年12月14日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01N 27/46 353, FI分類-G01N 27/46 356
2015年12月14日 特許庁 / 特許	比較電極 FI分類-G01N 27/30 301 A, FI分類-G01N 27/30 301 B, FI分類-G01N 27/30 301 C
2015年12月11日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G21F 9/04 D, FI分類-G01T 1/167 A
2015年12月11日 特許庁 / 特許	分析装置、分析方法、及びプログラム FI分類-G01N 1/02 D, FI分類-G01N 1/02 G, FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/22 310
2015年12月01日 特許庁 / 特許	比較電極システム FI分類-G01N 27/30 311 Z
2015年11月26日 特許庁 / 特許	液体分析計、液体分析システム FI分類-G01N 27/26 391 Z, FI分類-G01N 27/333 331 Z, FI分類-G01N 27/416 351 A, FI分類-G01N 27/416 351 B
2015年10月22日 特許庁 / 特許	移動体搭載型の排ガス分析システム FI分類-G01N 1/22 G
2015年09月30日 特許庁 / 特許	ガス分析装置 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/3504
2015年09月01日 特許庁 / 特許	蛍光X線分析装置、蛍光X線分析方法及びコンピュータプログラム FI分類-G01N 23/223
2015年08月28日 特許庁 / 特許	シャシダイナモ装置 FI分類-F16C 13/00 Z, FI分類-G01M 17/00 A, FI分類-H05B 6/10 331
2015年08月28日 特許庁 / 特許	低濃度BHF溶液の濃度測定装置及び測定方法 FI分類-G01N 27/46 351 K, FI分類-G01N 27/46 353 Z
2015年08月27日 特許庁 / 特許	放射線分析装置及び放射線分析装置用プログラム FI分類-G01T 1/16 A, FI分類-G01T 1/17 A, FI分類-G01T 1/20 F
2015年08月21日 特許庁 / 特許	電動モータ試験システム FI分類-G01M 17/00 Z, FI分類-H02K 15/02 A
2015年08月11日 特許庁 / 特許	高度検出装置、負荷・駆動装置および高度検出方法 FI分類-G01C 5/06, FI分類-G01S 19/42, FI分類-G01M 17/00 Z
2015年07月24日 特許庁 / 特許	分光分析器に用いられる光検出器の出力補正方法 FI分類-G01J 3/45, FI分類-G01J 3/02 C
2015年06月30日 特許庁 / 特許	放射線測定ユニット及び放射能濃度測定装置 FI分類-G01T 1/167 A
2015年06月17日 特許庁 / 特許	グロー放電発光分析装置、試料ホルダ及びグロー放電発生方法 FI分類-G01N 21/67 C
2015年06月04日 特許庁 / 特許	CO2濃度計用ゼロガス精製器及びCO2濃度計測システム FI分類-G01N 21/3504
2015年05月18日 特許庁 / 特許	車両試験システム FI分類-G01M 17/00 Z
2015年05月15日 特許庁 / 特許	排ガス採取機構及び排ガス分析装置 FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/22 P
2015年05月12日 特許庁 / 特許	車両試験システム、試験管理装置、試験管理プログラム及び車両試験方法 FI分類-G01M 15/02, FI分類-G01M 17/00 B, FI分類-G01M 17/00 Z, FI分類-G09B 29/00 A
2015年05月01日 特許庁 / 特許	路上走行試験装置 FI分類-G01M 17/00 Z
2015年05月01日 特許庁 / 特許	路上走行試験装置、記録媒体、及び路上走行試験方法 FI分類-G08G 1/00 D, FI分類-G01M 17/007 Z
2015年04月30日 特許庁 / 特許	排ガス分析装置 FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/00 101 R
2015年04月23日 特許庁 / 特許	放射線検出器及び放射線検出装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 7/00 A, FI分類-G01N 23/225 312
2015年04月23日 特許庁 / 特許	放射線検出装置及び放射線検出器 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 7/00 A, FI分類-G01N 23/225 312
2015年04月22日 特許庁 / 特許	オイルミスト検出装置、オイルミスト検出方法 FI分類-G01N 15/06 C, FI分類-G01N 21/53 Z
2015年04月14日 特許庁 / 特許	試料分散装置、試料分散方法 FI分類-G02B 21/34, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 15/00 C, FI分類-G01N 15/00 Z
2015年03月31日 特許庁 / 特許	比較電極、その比較電極を用いた測定方法及び測定システム、複合電極、液体分析計 FI分類-C12M 1/00 D, FI分類-G01N 27/30 315, FI分類-G01N 27/30 313 B
2015年03月20日 特許庁 / 特許	排ガスサンプリング装置 FI分類-G01N 1/22 M, FI分類-G01N 1/00 101 T
2015年02月04日 特許庁 / 特許	検出器及び電子検出装置 FI分類-G01N 23/203, FI分類-G01T 7/00 A, FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/207 320, FI分類-G01N 23/225 312
2015年02月04日 特許庁 / 特許	X線分析装置及びコンピュータプログラム FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/225 312
2015年01月30日 特許庁 / 特許	光学分析用セル及びこれを用いた粒子径分布測定装置 FI分類-G01N 15/02 A
2014年12月26日 特許庁 / 特許	分析装置 FI分類-G01N 1/22 T, FI分類-G01N 1/00 101 R, FI分類-G01N 1/00 101 X
2014年12月17日 特許庁 / 特許	試料分析システム FI分類-G01N 31/12 Z, FI分類-G01N 1/00 101 A
2014年11月17日 特許庁 / 特許	吸光分析装置及びその検量線作成方法 FI分類-G01N 21/359
2014年11月07日 特許庁 / 特許	干渉計、干渉計を用いた分光光度計及び干渉計の制御プログラム FI分類-G01N 21/35, FI分類-G01J 3/02 Z
2014年11月07日 特許庁 / 特許	干渉計、干渉計を用いた分光光度計及び干渉計の制御プログラム FI分類-G01J 3/45
2014年10月29日 特許庁 / 特許	分析装置 FI分類-F27B 14/06, FI分類-G01N 31/12 A, FI分類-G01N 1/00 101 X, FI分類-F27D 17/00 104 G, FI分類-F27D 17/00 105 A
2014年10月27日 特許庁 / 特許	排ガス分析システム及びポンプ装置 FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01N 1/22 G
2014年09月24日 特許庁 / 特許	運転モード表示装置、運転モード表示用プログラム及び車両試験システム FI分類-G01M 17/00 A
2014年09月02日 特許庁 / 特許	光学分析装置 FI分類-G01N 21/01 B, FI分類-G01N 21/35 Z
2014年09月02日 特許庁 / 特許	液体分析計及び液体分析システム FI分類-G01N 27/28 341 A, FI分類-G01N 27/30 331 E, FI分類-G01N 27/46 351 A
2014年07月18日 特許庁 / 特許	粒子分析装置 FI分類-G01N 15/14 C, FI分類-G01N 15/14 D, FI分類-G01N 21/59 Z
2014年06月20日 特許庁 / 特許	比較電極 FI分類-G01N 27/30 313 A, FI分類-G01N 27/30 313 C, FI分類-G01N 27/30 313 D
2014年06月11日 特許庁 / 特許	光学測定セル及び光学分析計 FI分類-G01N 21/09
2014年05月29日 特許庁 / 特許	ガス分析用前処理装置 FI分類-G01N 1/22 P
2014年05月20日 特許庁 / 特許	分析装置及び校正方法 FI分類-G01N 23/223
2014年05月20日 特許庁 / 特許	分析装置及び校正方法 FI分類-G01N 23/223
2014年05月19日 特許庁 / 特許	車両試験システム、試験条件データ生成装置及び試験条件データ生成プログラム FI分類-G01M 15/10, FI分類-G01M 17/00 A, FI分類-G01M 17/00 Z
2014年05月16日 特許庁 / 特許	排ガス分析システム、排ガス分析装置及び加熱管ユニット FI分類-G01N 21/33, FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 1/22 G, FI分類-G01N 1/28 K
2014年05月12日 特許庁 / 特許	分析装置 FI分類-G01N 21/35 104, FI分類-G01N 21/35 107
2014年04月18日 特許庁 / 特許	測定システム FI分類-G01N 27/30 313 C, FI分類-G01N 27/30 315 Z
2014年04月18日 特許庁 / 特許	比較電極 FI分類-G01N 27/30 311 C, FI分類-G01N 27/30 315 Z
2014年04月18日 特許庁 / 特許	電極装置 FI分類-G01N 27/46 351 Z, FI分類-G01N 27/46 353 Z
2014年03月31日 特許庁 / 特許	グロー放電発光分析方法 FI分類-G01N 21/67 C
2014年02月18日 特許庁 / 特許	放射線透過窓、放射線検出器及び放射線検出装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 7/00 A, FI分類-G21K 5/00 W
2014年01月30日 特許庁 / 特許	グロー放電分光分析装置、試料支持体及び試料押圧電極 FI分類-G01N 21/67 C

株式会社堀場製作所の商標情報(58件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2022年02月21日 特許庁 / 商標	Intelligent Lab 42類
2022年01月12日 特許庁 / 商標	HyEVO 09類
2021年12月06日 特許庁 / 商標	PD Xpadion 09類
2021年12月03日 特許庁 / 商標	SmartColumn 01類, 09類
2021年11月24日 特許庁 / 商標	Antsense DUO VET 10類
2021年11月08日 特許庁 / 商標	Fluorolog 09類
2021年09月17日 特許庁 / 商標	ジョバンイボン 09類, 37類
2021年05月20日 特許庁 / 商標	§NNN 07類, 09類, 10類
2021年05月10日 特許庁 / 商標	HORIBA TESTWORK 09類
2021年04月20日 特許庁 / 商標	§LR 09類
2021年04月20日 特許庁 / 商標	LiChRa 09類
2020年12月15日 特許庁 / 商標	X-HVE 09類
2020年11月02日 特許庁 / 商標	LAQUA-PH-SE 09類
2020年10月12日 特許庁 / 商標	EMICLEAN 03類
2020年07月22日 特許庁 / 商標	XLA 09類
2020年04月01日 特許庁 / 商標	PLGA 09類
2020年03月09日 特許庁 / 商標	TrueData 09類
2020年03月09日 特許庁 / 商標	X-OPS 09類
2020年02月18日 特許庁 / 商標	LabRAM Soleil 09類
2019年09月26日 特許庁 / 商標	DAR 09類
2018年08月07日 特許庁 / 商標	TILS 09類, 37類, 42類
2018年07月31日 特許庁 / 商標	FTX 09類
2018年07月31日 特許庁 / 商標	FTX-ONE 09類
2018年05月18日 特許庁 / 商標	Test in the Loop 09類, 37類, 42類
2018年02月16日 特許庁 / 商標	スマートID連携 09類, 10類, 42類
2017年09月12日 特許庁 / 商標	IRLAM 07類, 09類, 10類
2017年09月06日 特許庁 / 商標	i―CLUE 09類
2017年09月06日 特許庁 / 商標	F―CLUE 09類
2017年09月06日 特許庁 / 商標	H―CLUE 09類
2017年09月06日 特許庁 / 商標	R―CLUE 09類
2017年08月24日 特許庁 / 商標	EMIA―Step 09類
2017年05月19日 特許庁 / 商標	RDE+ 07類, 09類, 12類, 37類, 42類
2016年09月07日 特許庁 / 商標	はかるLAB 07類, 09類, 10類, 37類, 42類
2016年08月23日 特許庁 / 商標	Imaging CL 09類
2016年06月24日 特許庁 / 商標	§HELQ 05類, 09類, 10類, 35類, 37類, 42類
2016年06月02日 特許庁 / 商標	HORIBA FLEET LINKAGE 37類
2016年06月02日 特許庁 / 商標	FLEET LINKAGE 37類
2016年06月02日 特許庁 / 商標	§S 37類
2016年06月02日 特許庁 / 商標	HORIBA AQUA LINKAGE 37類
2016年06月02日 特許庁 / 商標	AQUA LINKAGE 37類
2016年06月02日 特許庁 / 商標	HAL 37類
2016年05月19日 特許庁 / 商標	FLEET CONNECT 09類, 35類, 37類, 39類, 41類, 42類
2016年04月15日 特許庁 / 商標	ITFM 09類
2016年01月20日 特許庁 / 商標	HORIBA MEDISIDE LINKAGE 05類, 09類, 10類, 37類, 42類
2016年01月20日 特許庁 / 商標	MEDISIDE LINKAGE 05類, 09類, 10類, 37類, 42類
2015年12月15日 特許庁 / 商標	BLI 07類, 09類
2015年09月25日 特許庁 / 商標	E-HARBOR 37類
2015年09月25日 特許庁 / 商標	§EBEH＼§HBEH 37類
2015年09月25日 特許庁 / 商標	E-ISLAND 37類
2015年08月28日 特許庁 / 商標	E-LAB 09類, 37類
2015年08月04日 特許庁 / 商標	E-ISLAND 09類
2015年07月15日 特許庁 / 商標	§EBEH 09類
2015年07月03日 特許庁 / 商標	HORIBA AQUA LINKAGE 09類, 35類, 42類
2015年07月03日 特許庁 / 商標	AQUA LINKAGE 09類, 35類, 42類
2015年07月03日 特許庁 / 商標	HAL 09類, 35類, 42類
2015年03月18日 特許庁 / 商標	GATELINK 09類, 10類
2014年12月24日 特許庁 / 商標	CONCEPT 41類
2014年05月09日 特許庁 / 商標	E-HARBOR 09類

株式会社堀場製作所の意匠情報(11件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2022年03月23日 特許庁 / 意匠	差圧式流量計用の圧力測定管 意匠新分類-J13200
2020年03月16日 特許庁 / 意匠	温度表示機能付き電子計算機 意匠新分類-H7725 W12
2020年03月16日 特許庁 / 意匠	温度表示機能付き電子計算機 意匠新分類-H7725 W12
2019年11月29日 特許庁 / 意匠	オイルミストセンサ 意匠新分類-H15500
2019年11月29日 特許庁 / 意匠	オイルミストセンサ 意匠新分類-H15500
2018年06月29日 特許庁 / 意匠	ガス分析計 意匠新分類-J1500
2018年02月13日 特許庁 / 意匠	エックス線分析計 意匠新分類-J1500
2017年09月13日 特許庁 / 意匠	血液分析器 意匠新分類-J151
2015年06月12日 特許庁 / 意匠	血液分析器 意匠新分類-J151
2015年04月08日 特許庁 / 意匠	排ガス分析計 意匠新分類-J1500
2015年04月08日 特許庁 / 意匠	排ガス分析計 意匠新分類-J1500

株式会社堀場製作所の職場情報

項目	データ
事業概要	環境・分析、自動車、メディカル、ナノテク、バイオ、ＩＴ、ユーティリティなど、あらゆる産業を支える分析・計測機器の総合メーカー。 自動車排ガス測定装置では圧倒的世界シェア８０％。
企業規模	1,814人 男性 1,195人 / 女性 591人
平均勤続年数 範囲 その他	男性 16.8年 / 女性 13.3年
管理職全体人数	214人 男性 193人 / 女性 21人
役員全体人数	12人 男性 10人 / 女性 2人

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