法人番号:1130001025049
ニデックアドバンステクノロジー株式会社
情報更新日:2024年08月31日
ニデックアドバンステクノロジー株式会社とは
ニデックアドバンステクノロジー株式会社（ニデックアドバンステクノロジー）は、法人番号:1130001025049で京都府向日市森本町東ノ口1番地1に所在する法人として京都地方法務局で法人登録され、2015年10月05日に法人番号が指定されました。代表者は、代表取締役社長執行役員山崎秀和。従業員数は374人。登録情報として、表彰情報が1件、特許情報が21件、職場情報が1件が登録されています。なお、2023年04月03日に法人番号公表サイトでは登録情報が変更されています。法人番号公表サイトでの最終更新日は2023年04月10日です。
インボイス番号:T1130001025049については、2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されています。
この地域の労働局は京都労働局。京都下労働基準監督署が所轄の労働基準監督署です。
名称の「株式会社」について(β版)
株式会社は、法人格を持つ組織形態の一つであり、株主が出資することによって設立されます。株式会社は、株主の出資額に応じた株式を発行し、経営を行います。株主は株式を所有することで、会社の経営に参加する権利を持ちます。また、株式会社は独立した法的存在であり、株主の責任は出資額に限定されます。株式会社は、経営の安定性や資金調達の容易さなどの利点を持ち、多くの企業がこの形態を選択しています。
ニデックアドバンステクノロジー株式会社の基本情報
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 商号又は名称 | ニデックアドバンステクノロジー株式会社 |
| 商号又は名称（読み仮名）フリガナ | ニデックアドバンステクノロジー |
| 法人番号 | 1130001025049 |
| 会社法人等番号 | 1300-01-025049 |
| 登記所 | 京都地方法務局 ※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。 |
| インボイス登録番号 ※2024年08月31日更新 インボイス番号 |
T1130001025049 ※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。 (2024年08月31日現在) |
| 法人種別 | 株式会社 |
| 郵便番号 | 〒617-0003 ※地方自治体コードは 26208 |
| 国内所在地（都道府県）都道府県 | 京都府 ※京都府の法人数は 112,243件 |
| 国内所在地（市区町村）市区町村 | 向日市 ※向日市の法人数は 1,388件 |
| 国内所在地（丁目番地等）丁目番地 | 森本町東ノ口1番地1 |
| 国内所在地（1行表示）1行表示 | 京都府向日市森本町東ノ口1番地1 |
| 国内所在地（読み仮名）読み仮名 | キョウトフムコウシモリモトチョウヒガシノクチ |
| 代表者 | 代表取締役社長執行役員 山崎 秀和 |
| 従業員数 | 374人 |
| 電話番号TEL | 075-315-8001 |
| FAX番号FAX | 075-315-9539 |
| ホームページHP | https://www.nidec.com/jp/nidec-advancetechnology/ |
| 更新年月日更新日 | 2023年04月10日 |
| 変更年月日変更日 | 2023年04月03日 |
| 法人番号指定年月日指定日 | 2015年10月05日 ※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。 |
| 管轄の労働局労働局 | 京都労働局 〒604-0846 京都府京都市中京区両替町通御池上ル金吹町451 |
| 管轄の労働基準監督署労働基準監督署 | 京都下労働基準監督署 〒600-8009 京都府京都市下京区四条通室町東入 函谷鉾町101 アーバンネット四条烏丸ビル5階 |
ニデックアドバンステクノロジー株式会社の場所
ニデックアドバンステクノロジー株式会社の補足情報
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 企業名 読み仮名 | ニホンデンサンリードカブシキガイシャ |
| 資本金 | 9億3,800万円 |
ニデックアドバンステクノロジー株式会社の登録履歴
| 日付 | 内容 |
|---|---|
| 2023年04月03日 | 【名称変更】 名称が「ニデックアドバンステクノロジー株式会社」に変更されました。 |
| 2022年09月05日 | 【住所変更】 国内所在地が「京都府向日市森本町東ノ口1番地1」に変更されました。 |
| 2015年10月05日 | 【新規登録】 名称が「日本電産リード株式会社」で、「京都府京都市右京区西京極堤外町10番地」に新規登録されました。 |
ニデックアドバンステクノロジー株式会社の法人活動情報
ニデックアドバンステクノロジー株式会社の表彰情報(1件)
| 日付 公表組織 |
活動名称 / 活動対象 |
|---|---|
2017年12月04日 | 女性の活躍推進企業 |
ニデックアドバンステクノロジー株式会社の特許情報(21件)
| 日付 公表組織 / 種類 |
活動対象 / 分類等 |
|---|---|
2020年03月27日 特許庁 / 特許 | 検査治具、および検査装置 FI分類-G01R 1/073 E, FI分類-G01R 31/28 K, FI分類-H01L 21/66 B |
2020年03月25日 特許庁 / 特許 | 検査装置、及び検査方法 FI分類-G01R 31/50, FI分類-H05K 3/00 T |
2020年02月28日 特許庁 / 特許 | 較正治具 FI分類-G01R 27/02 R, FI分類-G01R 35/00 J |
2020年02月20日 特許庁 / 特許 | 検査治具 FI分類-G01R 1/067 C, FI分類-G01R 1/073 D, FI分類-H01L 21/66 B |
2020年02月15日 特許庁 / 特許 | 測定方法、及び検査装置 FI分類-G01R 27/02 A |
2020年01月28日 特許庁 / 特許 | ソケット、接触子ユニット、ソケットの集合体、及び接触子ユニットを備えた多極コネクタ FI分類-H01R 13/24, FI分類-H01R 43/16, FI分類-G01R 1/067 C, FI分類-G01R 1/073 D, FI分類-H01R 13/10 A, FI分類-H01R 13/42 F, FI分類-H01R 13/42 G, FI分類-H01R 13/46 B, FI分類-H01R 33/76 Z |
2019年12月19日 特許庁 / 特許 | 接触端子、検査治具、及び検査装置 FI分類-G01R 1/067 C, FI分類-G01R 1/073 E, FI分類-H01L 21/66 B |
2019年11月26日 特許庁 / 特許 | 検査装置、検査方法、及び検査装置用プログラム FI分類-G01R 31/70, FI分類-G01R 31/28 R |
2019年10月31日 特許庁 / 特許 | 検査指示情報生成装置、基板検査システム、検査指示情報生成方法、及び検査指示情報生成プログラム FI分類-G01R 31/54, FI分類-H05K 3/00 U |
2019年08月08日 特許庁 / 特許 | 検査治具、検査装置、及び接触端子 FI分類-G01R 1/067 C, FI分類-G01R 31/26 J |
2019年07月18日 特許庁 / 特許 | 検査指示情報生成装置、基板検査システム、検査指示情報生成方法、及び検査指示情報生成プログラム FI分類-G01R 31/50, FI分類-G01R 31/54, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 27/02 R |
2019年06月17日 特許庁 / 特許 | 検査装置 FI分類-G01R 31/00, FI分類-G01R 31/28 K, FI分類-G02F 1/13 101 |
2019年05月27日 特許庁 / 特許 | 検査治具、及び検査装置 FI分類-G01R 1/073 E |
2019年05月27日 特許庁 / 特許 | プローブ、検査治具、検査装置、及びプローブの製造方法 FI分類-G01R 1/067 G, FI分類-G01R 1/073 E, FI分類-H01L 21/66 B |
2019年05月21日 特許庁 / 特許 | MIセンサ、及び、MIセンサの製造方法 FI分類-G01R 33/02 D, FI分類-G01R 33/02 L |
2019年03月12日 特許庁 / 特許 | 電気標準器 FI分類-G01R 27/02 R, FI分類-G01R 27/26 C, FI分類-G01R 35/00 J |
2019年01月28日 特許庁 / 特許 | キャパシタ検査装置、及びキャパシタ検査方法 FI分類-G01R 31/00, FI分類-G01R 31/02, FI分類-G01R 27/26 C, FI分類-H01G 13/00 361 D |
2018年11月27日 特許庁 / 特許 | 検査治具 FI分類-G01R 31/54, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 31/28 J |
2018年11月26日 特許庁 / 特許 | MI素子の製造方法、及び、MI素子 FI分類-H01L 43/00, FI分類-H01L 43/12, FI分類-G01R 33/02 D |
2018年11月12日 特許庁 / 特許 | 基板検査装置、検査位置補正方法、位置補正情報生成方法、及び位置補正情報生成システム FI分類-G01R 31/54, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 31/28 K |
2017年09月19日 特許庁 / 特許 | 接触端子、検査治具、及び検査装置 FI分類-G01R 1/067 C, FI分類-G01R 1/073 D |
ニデックアドバンステクノロジー株式会社の職場情報
| 項目 | データ |
|---|---|
事業概要 | 1. 半導体パッケージ検査装置
2. プリント基板検査装置
3. 検査用治具
4. 光学式外観検査装置
5. FPD関連検査装置
6. その他各種自動計測機器、特殊検査装置
上記に関わるハード・ソフトの開発・設計、製造、販売 |
企業規模 | 374人 |
女性労働者の割合 範囲 正社員 | 26.3% |
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