日本分光株式会社とは

日本分光株式会社(ニホンブンコウ)は、法人番号:2010101002925で東京都八王子市石川町2967番地の5に所在する法人として東京法務局八王子支局で法人登録され、2015年10月05日に法人番号が指定されました。代表者は、代表取締役佐藤賢治。設立日は1958年04月01日。従業員数は287人。登録情報として、調達情報が4件表彰情報が1件届出情報が1件特許情報が29件商標情報が4件意匠情報が1件職場情報が1件が登録されています。なお、2016年02月01日に法人番号公表サイトでは登録情報が変更されています。法人番号公表サイトでの最終更新日は2019年09月30日です。
インボイス番号:T2010101002925については、2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されています。
この地域の労働局は東京労働局。八王子労働基準監督署が所轄の労働基準監督署です。
 

名称の「株式会社」について(β版)

株式会社は、法人格を持つ組織形態の一つであり、株主が出資することによって設立されます。株式会社は、株主の出資額に応じた株式を発行し、経営を行います。株主は株式を所有することで、会社の経営に参加する権利を持ちます。また、株式会社は独立した法的存在であり、株主の責任は出資額に限定されます。株式会社は、経営の安定性や資金調達の容易さなどの利点を持ち、多くの企業がこの形態を選択しています。

日本分光株式会社の基本情報

項目 内容
商号又は名称 日本分光株式会社
商号又は名称(読み仮名)フリガナ ニホンブンコウ
法人番号 2010101002925
会社法人等番号 0101-01-002925
登記所 東京法務局八王子支局
※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号
※2024年08月31日更新
インボイス番号
T2010101002925
※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。
(2024年08月31日現在)
法人種別 株式会社
郵便番号 〒192-0032
※地方自治体コードは 13201
国内所在地(都道府県)都道府県 東京都
※東京都の法人数は 1,316,849件
国内所在地(市区町村)市区町村 八王子市
※八王子市の法人数は 21,609件
国内所在地(丁目番地等)丁目番地 石川町2967番地の5
国内所在地(1行表示)1行表示 東京都八王子市石川町2967番地の5
国内所在地(読み仮名)読み仮名 トウキョウトハチオウジシイシカワマチ
代表者 代表取締役 佐藤 賢治
設立日 1958年04月01日
従業員数 287人
電話番号TEL 042-666-1321
FAX番号FAX 042-665-6512
ホームページHP http://www.jascoint.co.jp/
更新年月日更新日 2019年09月30日
変更年月日変更日 2016年02月01日
法人番号指定年月日指定日 2015年10月05日
※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局 東京労働局
〒102-8305~〒102-8307 東京都千代田区九段南1丁目2番1号 九段第3合同庁舎12階~14階
管轄の労働基準監督署労働基準監督署 八王子労働基準監督署
〒192-0046 東京都八王子市明神町3-8-10

日本分光株式会社の場所

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日本分光株式会社の登録履歴

日付 内容
2016年02月01日
【吸収合併】
平成28年2月1日東京都八王子市石川町2967番地の5ジャスコオプト株式会社(8010101001797)を合併
2015年10月05日
【新規登録】
名称が「日本分光株式会社」で、「東京都八王子市石川町2967番地の5」に新規登録されました。

日本分光株式会社の関連情報

項目内容
情報名日本分光株式会社 総務部
情報名 読みニホンブンコウソウムブ
住所東京都八王子市石川町2967-5
電話番号042-646-4111

日本分光株式会社の関連情報

項目内容
情報名日本分光株式会社 西東京サービスセンター
情報名 読みニホンブンコウニシトウキョウサービスセンター
住所東京都八王子市石川町2963-3
電話番号042-646-7001

日本分光株式会社の法人活動情報

日本分光株式会社の調達情報(4件)

期間
公表組織
活動名称 / 活動対象 / 金額
2022年08月29日
令和4年度加熱ステージによるラマン分析システムの導入
5,575,460円
2016年04月01日
分光光度計年間保守1式
1,792,800円
2015年09月29日
分光光度計修理1式
1,257,120円
2015年04月01日
分光光度計年間保守1式
1,792,800円

日本分光株式会社の表彰情報(1件)

日付
公表組織
活動名称 / 活動対象
2017年12月04日
両立支援のひろば 一般事業主行動計画公表

日本分光株式会社の届出情報(1件)

日付
公表組織
活動名称 / 活動対象
-
代表者:代表取締役 佐藤 賢治
全省庁統一資格 / -

日本分光株式会社の特許情報(29件)

日付
公表組織 / 種類
活動対象 / 分類等
2023年02月09日
特許庁 / 特許
スペクトル解析方法、解析装置および解析プログラム
FI分類-G01N 21/19, FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 21/64 A
2020年09月28日
特許庁 / 特許
赤外域の円二色性測定装置
FI分類-G01N 21/19
2020年04月15日
特許庁 / 特許
顕微分光測定装置
FI分類-G01N 21/65, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01N 21/27 E
2020年01月10日
特許庁 / 特許
異物分析方法、異物分析プログラムおよび異物分析装置
FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/27 E, FI分類-G01N 21/3563
2019年12月17日
特許庁 / 特許
蛍光観察機能を備えるラマン顕微装置
FI分類-G01N 21/65, FI分類-G02B 21/16, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01N 21/64 E
2019年12月16日
特許庁 / 特許
反射型の偏光分離回折素子、および、これを備えた光学測定装置
FI分類-G01J 4/00, FI分類-G02B 5/18, FI分類-G02B 5/30
2019年12月12日
特許庁 / 特許
液体クロマトグラフィー用スタティックミキサー
FI分類-B01F 5/00 D
2019年10月24日
特許庁 / 特許
気泡測定装置および方法
FI分類-G01N 21/65
2019年09月03日
特許庁 / 特許
自動位置合わせ機能を有する偏光測定装置
FI分類-G01N 21/65, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01N 21/21 Z, FI分類-G01N 21/27 E
2019年04月05日
特許庁 / 特許
示差屈折率の測定方法、測定装置、および、測定プログラム
FI分類-B01J 20/291, FI分類-G01N 21/41 B, FI分類-G01N 30/74 Z
2019年03月15日
特許庁 / 特許
円二色性測定装置および円二色性測定方法
FI分類-G01N 21/19, FI分類-G01J 4/04 Z
2019年02月15日
特許庁 / 特許
位置補正機能を有する顕微分光装置
FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/27 E
2019年02月15日
特許庁 / 特許
自動サンプル検出機能を有する顕微分光装置
FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/27 E
2018年12月26日
特許庁 / 特許
試料注入装置
FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/20 A, FI分類-G01N 30/26 M
2018年08月10日
特許庁 / 特許
スペクトルの高速分類を利用したリアルタイムスペクトル解析
FI分類-G06N 3/08, FI分類-G01N 21/27 Z
2018年04月11日
特許庁 / 特許
全反射光学部材およびこれを備えた全反射測定装置
FI分類-G02B 5/04, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G01N 21/552
2018年02月26日
特許庁 / 特許
位相差制御装置
FI分類-G01J 4/04 Z
2017年08月24日
特許庁 / 特許
機械学習を用いた未知化合物の分類方法
FI分類-G06N 3/08, FI分類-G01N 21/27 Z
2017年05月18日
特許庁 / 特許
全反射測定装置
FI分類-G02B 17/06, FI分類-G01N 21/552
2017年05月08日
特許庁 / 特許
スペクトルの判定装置および判定方法
FI分類-G01N 21/19, FI分類-G01N 21/27 Z
2017年04月19日
特許庁 / 特許
赤外顕微鏡
FI分類-H04N 5/33, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/36
2017年02月02日
特許庁 / 特許
フーリエ変換型分光装置を用いたスペクトル測定方法
FI分類-G01J 3/45
2016年10月24日
特許庁 / 特許
0度入射絶対反射率測定装置
FI分類-G01N 21/55
2016年09月26日
特許庁 / 特許
共焦点ラマン顕微鏡
FI分類-G02B 21/00
2016年03月28日
特許庁 / 特許
全反射吸収スペクトル測定用光学器具、および、測定装置
FI分類-G01N 21/552, FI分類-G01N 21/3563
2015年03月25日
特許庁 / 特許
顕微分光装置
FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/27 E, FI分類-G01N 21/64 E
2015年03月25日
特許庁 / 特許
顕微分光装置
FI分類-G01N 21/65
2014年09月16日
特許庁 / 特許
分析システム
FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F
2014年04月08日
特許庁 / 特許
分析装置
FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F

日本分光株式会社の商標情報(4件)

日付
公表組織 / 種類
活動対象 / 分類等
2021年11月04日
特許庁 / 商標
§FT/IR-4X
09類
2021年11月04日
特許庁 / 商標
§FT/IR‐6X
09類
2021年11月04日
特許庁 / 商標
§FT/IR‐8X
09類
2014年10月01日
特許庁 / 商標
Jasco
37類

日本分光株式会社の意匠情報(1件)

日付
公表組織 / 種類
活動対象 / 分類等
2021年11月04日
特許庁 / 意匠
分光光度計
意匠新分類-J1500

日本分光株式会社の職場情報

項目 データ
事業概要
分析機器製造・販売
企業規模
287人

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