日本分光株式会社

日本分光株式会社とは

名称の「株式会社」について(β版)

日本分光株式会社の基本情報

項目	内容
商号又は名称	日本分光株式会社
商号又は名称（読み仮名）フリガナ	ニホンブンコウ
法人番号	2010101002925
会社法人等番号	0101-01-002925
登記所	東京法務局八王子支局 ※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号 ※2025年07月31日更新 インボイス番号	T2010101002925 ※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。 (2025年07月31日現在)
法人種別	株式会社
郵便番号	〒192-0032 ※地方自治体コードは 13201
国内所在地（都道府県）都道府県	東京都 ※東京都の法人数は 1,330,646件
国内所在地（市区町村）市区町村	八王子市 ※八王子市の法人数は 21,750件
国内所在地（丁目番地等）丁目番地	石川町2967番地の5
国内所在地（1行表示）1行表示	東京都八王子市石川町2967番地の5
国内所在地（読み仮名）読み仮名	トウキョウトハチオウジシイシカワマチ
代表者	代表取締役 佐藤 賢治
設立日	1958年04月01日
従業員数	287人
電話番号TEL	042-666-1321
FAX番号FAX	042-665-6512
ホームページHP	http://www.jascoint.co.jp/
更新年月日更新日	2019年09月30日
変更年月日変更日	2016年02月01日
法人番号指定年月日指定日	2015年10月05日 ※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局	東京労働局 〒102-8305～〒102-8307 東京都千代田区九段南1丁目2番1号 九段第3合同庁舎12階～14階
管轄の労働基準監督署労働基準監督署	八王子労働基準監督署 〒192-0046 東京都八王子市明神町3-8-10

日本分光株式会社の場所

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日本分光株式会社の登録履歴

日付	内容
2016年02月01日	【吸収合併】 平成28年2月1日東京都八王子市石川町2967番地の5ジャスコオプト株式会社(8010101001797)を合併
2015年10月05日	【新規登録】 名称が「日本分光株式会社」で、「東京都八王子市石川町2967番地の5」に新規登録されました。

日本分光株式会社の関連情報

項目	内容
情報名	日本分光株式会社 総務部
情報名 読み	ニホンブンコウソウムブ
住所	東京都八王子市石川町2967-5
電話番号	042-646-4111

日本分光株式会社の関連情報

項目	内容
情報名	日本分光株式会社 西東京サービスセンター
情報名 読み	ニホンブンコウニシトウキョウサービスセンター
住所	東京都八王子市石川町2963-3
電話番号	042-646-7001

日本分光株式会社の法人活動情報

日本分光株式会社の調達情報(7件)

期間 公表組織	活動名称 / 活動対象 / 金額
2024年02月09日 厚生労働省	HPLC分取システム 一式 購入 4,544,100円
2024年02月05日 厚生労働省	UPLCシステム 一式 購入 5,740,900円
2023年11月15日 厚生労働省	紫外可視分光光度計システム 一式 購入 2,842,400円
2022年08月29日 原子力規制委員会	令和4年度加熱ステージによるラマン分析システムの導入 5,575,460円
2016年04月01日 防衛省	分光光度計年間保守1式 1,792,800円
2015年09月29日 防衛省	分光光度計修理1式 1,257,120円
2015年04月01日 防衛省	分光光度計年間保守1式 1,792,800円

日本分光株式会社の表彰情報(1件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2017年12月04日 厚生労働省	両立支援のひろば 一般事業主行動計画公表

日本分光株式会社の届出情報(3件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2025年01月20日 中小企業庁	事業継続力強化計画認定 -
- デジタル庁	代表者:代表取締役 佐藤 賢治 全省庁統一資格 / -
- デジタル庁	代表者:代表取締役 佐藤 賢治 全省庁統一資格 / -

日本分光株式会社の特許情報(29件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2023年02月09日 特許庁 / 特許	スペクトル解析方法、解析装置および解析プログラム FI分類-G01N 21/19, FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 21/64 A
2020年09月28日 特許庁 / 特許	赤外域の円二色性測定装置 FI分類-G01N 21/19
2020年04月15日 特許庁 / 特許	顕微分光測定装置 FI分類-G01N 21/65, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01N 21/27 E
2020年01月10日 特許庁 / 特許	異物分析方法、異物分析プログラムおよび異物分析装置 FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/27 E, FI分類-G01N 21/3563
2019年12月17日 特許庁 / 特許	蛍光観察機能を備えるラマン顕微装置 FI分類-G01N 21/65, FI分類-G02B 21/16, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01N 21/64 E
2019年12月16日 特許庁 / 特許	反射型の偏光分離回折素子、および、これを備えた光学測定装置 FI分類-G01J 4/00, FI分類-G02B 5/18, FI分類-G02B 5/30
2019年12月12日 特許庁 / 特許	液体クロマトグラフィー用スタティックミキサー FI分類-B01F 5/00 D
2019年10月24日 特許庁 / 特許	気泡測定装置および方法 FI分類-G01N 21/65
2019年09月03日 特許庁 / 特許	自動位置合わせ機能を有する偏光測定装置 FI分類-G01N 21/65, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01N 21/21 Z, FI分類-G01N 21/27 E
2019年04月05日 特許庁 / 特許	示差屈折率の測定方法、測定装置、および、測定プログラム FI分類-B01J 20/291, FI分類-G01N 21/41 B, FI分類-G01N 30/74 Z
2019年03月15日 特許庁 / 特許	円二色性測定装置および円二色性測定方法 FI分類-G01N 21/19, FI分類-G01J 4/04 Z
2019年02月15日 特許庁 / 特許	位置補正機能を有する顕微分光装置 FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/27 E
2019年02月15日 特許庁 / 特許	自動サンプル検出機能を有する顕微分光装置 FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/27 E
2018年12月26日 特許庁 / 特許	試料注入装置 FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/20 A, FI分類-G01N 30/26 M
2018年08月10日 特許庁 / 特許	スペクトルの高速分類を利用したリアルタイムスペクトル解析 FI分類-G06N 3/08, FI分類-G01N 21/27 Z
2018年04月11日 特許庁 / 特許	全反射光学部材およびこれを備えた全反射測定装置 FI分類-G02B 5/04, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G01N 21/552
2018年02月26日 特許庁 / 特許	位相差制御装置 FI分類-G01J 4/04 Z
2017年08月24日 特許庁 / 特許	機械学習を用いた未知化合物の分類方法 FI分類-G06N 3/08, FI分類-G01N 21/27 Z
2017年05月18日 特許庁 / 特許	全反射測定装置 FI分類-G02B 17/06, FI分類-G01N 21/552
2017年05月08日 特許庁 / 特許	スペクトルの判定装置および判定方法 FI分類-G01N 21/19, FI分類-G01N 21/27 Z
2017年04月19日 特許庁 / 特許	赤外顕微鏡 FI分類-H04N 5/33, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/36
2017年02月02日 特許庁 / 特許	フーリエ変換型分光装置を用いたスペクトル測定方法 FI分類-G01J 3/45
2016年10月24日 特許庁 / 特許	0度入射絶対反射率測定装置 FI分類-G01N 21/55
2016年09月26日 特許庁 / 特許	共焦点ラマン顕微鏡 FI分類-G02B 21/00
2016年03月28日 特許庁 / 特許	全反射吸収スペクトル測定用光学器具、および、測定装置 FI分類-G01N 21/552, FI分類-G01N 21/3563
2015年03月25日 特許庁 / 特許	顕微分光装置 FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/27 E, FI分類-G01N 21/64 E
2015年03月25日 特許庁 / 特許	顕微分光装置 FI分類-G01N 21/65
2014年09月16日 特許庁 / 特許	分析システム FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F
2014年04月08日 特許庁 / 特許	分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F

日本分光株式会社の商標情報(4件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2021年11月04日 特許庁 / 商標	§FT/IR-4X 09類
2021年11月04日 特許庁 / 商標	§FT/IR‐6X 09類
2021年11月04日 特許庁 / 商標	§FT/IR‐8X 09類
2014年10月01日 特許庁 / 商標	Jasco 37類

日本分光株式会社の意匠情報(1件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2021年11月04日 特許庁 / 意匠	分光光度計 意匠新分類-J1500

日本分光株式会社の職場情報

項目	データ
事業概要	分析機器製造・販売
企業規模	287人

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