アンリツ株式会社

アンリツ株式会社とは

名称の「株式会社」について(β版)

アンリツ株式会社の基本情報

項目	内容
商号又は名称	アンリツ株式会社
商号又は名称（読み仮名）フリガナ	アンリツ
法人番号	2021001021865
会社法人等番号	0210-01-021865
登記所	横浜地方法務局湘南支局 ※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号 ※2024年08月31日更新 インボイス番号	T2021001021865 ※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。 (2024年08月31日現在)
法人種別	株式会社
郵便番号	〒243-0032 ※地方自治体コードは 14212
国内所在地（都道府県）都道府県	神奈川県 ※神奈川県の法人数は 366,358件
国内所在地（市区町村）市区町村	厚木市 ※厚木市の法人数は 9,631件
国内所在地（丁目番地等）丁目番地	恩名5丁目1番1号
国内所在地（1行表示）1行表示	神奈川県厚木市恩名5丁目1番1号
国内所在地（読み仮名）読み仮名	カナガワケンアツギシオンナ5チョウメ
英語表記	ANRITSU CORPORATION
国内所在地（英語表示）英語表示	5-1-1 Onna, Atsugi-shi, Kanagawa
代表者	代表取締役 濱田 宏一
設立日	1950年10月06日
資本金	192億1,900万円 (2024年06月26日現在)
従業員数	1,067人 (2024年09月16日現在)
ホームページHP	https://www.anritsu.com/
更新年月日更新日	2020年06月12日
変更年月日変更日	2020年04月03日
法人番号指定年月日指定日	2015年10月05日 ※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局	神奈川労働局 〒231-8434 神奈川県横浜市中区北仲通5丁目57番地横浜第2合同庁舎
管轄の労働基準監督署労働基準監督署	厚木労働基準監督署 〒243-0018 神奈川県厚木市中町3-2-6厚木Tビル5階

アンリツ株式会社の場所

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アンリツ株式会社の補足情報

項目	内容
企業名 読み仮名	アンリツカブシキガイシャ
企業名 英語	ANRITSU CORPORATION
上場・非上場	上場
資本金	191億9,000万円
業種	電気機器
証券コード	67540

アンリツ株式会社の登録履歴

日付	内容
2020年04月03日	【吸収合併】 令和2年4月1日神奈川県厚木市恩名五丁目1番1号アンリツネットワークス株式会社(2021001021568)を合併 令和2年4月1日神奈川県厚木市恩名五丁目1番1号アンリツエンジニアリング株式会社(4021001019362)を合併 令和2年4月1日神奈川県厚木市恩名五丁目1番1号株式会社アンリツプロアソシエ(9021001021859)を合併
2015年10月05日	【新規登録】 名称が「アンリツ株式会社」で、「神奈川県厚木市恩名5丁目1番1号」に新規登録されました。

アンリツ株式会社の関連情報

項目	内容
情報名	アンリツ株式会社
情報名 読み	アンリツ
住所	神奈川県厚木市恩名5丁目1-1
電話番号	046-223-1111

アンリツ株式会社の法人活動情報

アンリツ株式会社の調達情報(100件)

期間 公表組織	活動名称 / 活動対象 / 金額
2023年09月05日 防衛省	ベクトル信号発生器 1,925,000円
2022年09月22日 防衛省	ネットワーク分析器GAY-170 1,206,700円
2022年09月15日 総務省	5Gシステムの測定に関する専門的知識の習得を目的とした測定実習の業務請負 2,365,000円
2022年09月14日 防衛省	光パルス試験器GTS-319 1,329,900円
2022年09月02日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q37-B 2,802,800円
2022年08月30日 国土交通省	精密周波数標準装置(SDIT03A)の修理 8,184,000円
2022年08月22日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q204 4,962,100円
2022年07月26日 防衛省	シグナルアナライザ 17,545,000円
2022年07月26日 防衛省	信号発生器(20GHz) 16,720,000円
2022年06月15日 防衛省	シグナル・アナライザ(20GHz) 3,184,500円
2022年04月01日 総務省	第5世代移動通信システムの更なる高度化に向けた研究開発 75,349,164円
2022年03月31日 防衛省	シグナルアナライザ 16,806,900円
2022年03月01日 防衛省	周波数カウンタ 1,180,300円
2022年01月28日 防衛省	信号発生器(20GHz) 8,580,000円
2022年01月26日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 4,379,100円
2022年01月17日 防衛省	ケーブル障害アナライザJAY-Q42 924,000円
2021年12月16日 防衛省	測定器N-TS-683 55,624,800円
2021年12月07日 防衛省	IP計測器 16,473,600円
2021年11月29日 防衛省	アクセスマスタ 3,920,400円
2021年10月27日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 8,758,200円
2021年10月27日 防衛省	シグナル・アナライザ(20GHz) 24,508,000円
2021年10月26日 防衛省	周波計G/FR-Q15-C 616,000円
2021年10月15日 防衛省	電力計G/WM-Q21-C 1,161,600円
2021年09月27日 総務省	無線設備(5Gシステム)の測定に関する講義及び測定実習 の業務請負 3,465,000円
2021年09月21日 防衛省	シグナル・アナライザ(20GHz) 18,381,000円
2021年07月26日 総務省	電波測定に関する専門的知識の習得を目的とした講義・測定実習の業務請負 990,000円
2021年04月06日 総務省	第5世代移動通信システムの更なる高度化に向けた研究開発 99,739,757円
2021年03月31日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 26,089,800円
2021年02月25日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q39 3,186,700円
2021年02月25日 防衛省	周波計 G/FR-Q15-C 2,499,200円
2021年02月18日 防衛省	測定器N-TS-683 73,779,200円
2021年02月05日 防衛省	光パルス試験器 G/TS-Q176-B 5,821,200円
2021年01月22日 防衛省	シグナルアナライザ1 個(台) 2,742,300円
2020年12月17日 防衛省	シグナルアナライザ 3,059,100円
2020年12月01日 防衛省	電力計 JWM-Q21-C 1,728,100円
2020年11月12日 防衛省	IP計測器 15,867,500円
2020年10月16日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q39 3,059,100円
2020年10月16日 防衛省	シグナル・アナライザ(20GHZ) 12,324,400円
2020年03月31日 防衛省	シグナルアナライザ 49,012,700円
2020年02月03日 防衛省	シグナルアナライザ 7,091,700円
2020年01月16日 防衛省	シグナル・アナライザ(26.5GHZ) 外3件 8,063,000円
2019年12月19日 防衛省	スペクトラムマスタ 5,371,300円
2019年11月28日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 17,652,800円
2019年11月28日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 4,413,200円
2019年11月21日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q39 2,970,000円
2019年11月21日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q39 11,880,000円
2019年11月20日 防衛省	測定器N-TS-683 41,857,200円
2019年08月29日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q39 2,970,000円
2019年08月29日 防衛省	シグナル・アナライザ(20GHz) 2,993,100円
2019年07月30日 防衛省	シグナルアナライザ 3,005,200円
2019年01月23日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 194,983,200円
2019年01月23日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 4,332,960円
2019年01月23日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 8,665,920円
2019年01月23日 防衛省	光パルス試験器 JTS-Q202 48,794,400円
2019年01月16日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q48 7,534,080円
2018年12月04日 防衛省	シグナル・アナライザ 3,767,040円
2018年11月08日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q39 5,832,000円
2018年03月22日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q39 115,227,360円
2018年03月22日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 43,448,400円
2018年03月06日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 221,586,840円
2018年03月06日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 4,344,840円
2018年02月14日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q39 8,748,000円
2018年01月24日 国土交通省	精密周波数標準装置の移設及び水素吸蔵合金タンク取り外し作業 4,363,200円
2017年10月27日 防衛省	シグナル・アナライザ(20GHz) 6,663,600円
2017年10月26日 防衛省	電力校正装置 GTS-315-B 24,624,000円
2017年10月25日 防衛省	シグナル・アナライザ(6GHz) 1,901,880円
2017年10月19日 防衛省	周波数カウンタ 2,412,720円
2017年07月27日 防衛省	無線機用汎用計測器 78,728,760円
2017年03月23日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 8,624,880円
2017年03月22日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q37 5,515,560円
2017年03月22日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q38 8,523,144円
2017年02月27日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 30,058,560円
2016年12月19日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 4,294,080円
2016年11月21日 防衛省	周波計 JFR-Q16-C 1,893,456円
2016年10月06日 防衛省	無線機用汎用計測器 70,318,800円
2016年10月06日 防衛省	電力計 JWM-Q21-E 5,221,800円
2016年10月06日 防衛省	周波計 JFR-Q15-C 4,294,080円
2016年09月28日 防衛省	標準信号発生器 JSG-Q45-B 17,155,800円
2016年09月21日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 20,800,800円
2016年09月06日 防衛省	パワーメータ 1,086,480円
2016年08月05日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 56,216,160円
2016年08月05日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 129,729,600円
2016年08月04日 防衛省	光ロステストセット 339,120円
2016年04月01日 総務省	300GHz帯無線信号の広帯域・高感度測定技術の研究開発 301,999,500円
2016年03月24日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 34,905,600円
2016年03月24日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 8,726,400円
2016年03月03日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q39 16,675,200円
2016年02月22日 防衛省	標準信号発生器 JSG-Q50-C 1,470,960円
2016年02月22日 防衛省	光パルス試験器 JTS-Q176-B 1,431,000円
2016年02月19日 防衛省	光パルス試験器 JTS-Q175-B 3,019,680円
2015年12月22日 防衛省	周波数カウンタ(衛星通信固定局装置用) 1,354,320円
2015年12月21日 防衛省	光ロステストセット 766,800円
2015年11月12日 防衛省	周波計 JFR-Q15-C 1,226,880円
2015年11月12日 防衛省	スペクトラム分析器 JAY-Q38 2,017,440円
2015年11月12日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 4,206,600円
2015年09月07日 防衛省	総合無線試験器 JTS-Q200 99,633,240円
2015年08月19日 防衛省	シグナル・アナライザ 6,791,040円
2015年08月07日 防衛省	ベクトルネットワークアナライザー 28,069,200円
2015年08月07日 防衛省	データクオリティアナライザ 2,401,920円
2015年06月29日 国家公安委員会（警察庁）	B-1D形受信機点検業務 2,008,469円

アンリツ株式会社の表彰情報(8件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2020
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2018
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2015
2024年09月16日 厚生労働省	えるぼし-認定
2017年12月05日 厚生労働省	ポジティブ・アクション
2017年12月05日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2015年
2017年12月04日 厚生労働省	女性の活躍推進企業
2017年12月04日 厚生労働省	両立支援のひろば 一般事業主行動計画公表

アンリツ株式会社の届出情報(1件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
- デジタル庁	代表者:代表取締役 濱田 宏一 全省庁統一資格 / -

アンリツ株式会社の特許情報(794件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2022年11月14日 特許庁 / 特許	格子センサーネットワークシステム、及び信号源位置推定方法 FI分類-G01S 5/04
2022年09月15日 特許庁 / 特許	プラズマエッチング装置及びグラフェン薄膜製造方法 FI分類-C01B 32/194, FI分類-H01L 21/302 101 F
2022年09月09日 特許庁 / 特許	試験装置及び試験方法 FI分類-H01Q 3/04, FI分類-H01Q 19/13, FI分類-G01R 29/10 E
2022年07月28日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのSRSのEVM測定結果表示方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 72/04 136, FI分類-H04W 88/02 150
2022年06月03日 特許庁 / 特許	シールド構造 FI分類-G21F 5/12 D, FI分類-H05K 5/06 D, FI分類-H05K 9/00 Q, FI分類-H01L 23/00 C, FI分類-H02G 3/08 080, FI分類-G21F 9/36 501 C
2022年06月03日 特許庁 / 特許	可変減衰器、信号解析装置、及びインピーダンス調整方法 FI分類-H01P 1/22, FI分類-H01P 11/00 100
2022年05月12日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/29 200
2022年04月26日 特許庁 / 特許	導波管接続構造及びそれを用いた導波管スイッチ FI分類-H01P 1/04, FI分類-H01P 1/12
2022年03月31日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-H04W 24/06
2022年03月28日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とその移動端末の位置補正方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04B 17/29 200
2022年03月28日 特許庁 / 特許	移動端末試験システム及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04B 17/29 200
2022年03月25日 特許庁 / 特許	移動端末試験システム及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 24/06
2022年03月25日 特許庁 / 特許	可搬型測定装置および電源制御方法 FI分類-G06F 1/26, FI分類-G08C 19/00 G, FI分類-G06F 1/04 510
2022年03月24日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G06F 13/14 310 F
2022年03月24日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G06F 3/0481, FI分類-G01D 21/00 M, FI分類-G06F 11/34 138
2022年03月23日 特許庁 / 特許	可搬型測定装置 FI分類-H05K 7/20 E, FI分類-H01L 23/40 E
2022年03月14日 特許庁 / 特許	可搬型測定装置およびホールドオーバー制御方法 FI分類-H03L 7/14
2022年03月14日 特許庁 / 特許	非線形伝送線路およびそれを用いたサンプリングオシロスコープ FI分類-G01R 13/20 N, FI分類-H01L 21/90 N, FI分類-H01L 27/04 D
2022年02月18日 特許庁 / 特許	アンテナ装置及び性能試験方法 FI分類-H01Q 19/12, FI分類-H01Q 21/06, FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-G01R 29/10 E
2022年02月07日 特許庁 / 特許	信号発生装置、レベル補正値算出システム、レベル補正値算出方法 FI分類-H03G 3/12 D, FI分類-H04B 17/00 Z
2022年02月03日 特許庁 / 特許	信号発生装置、レベル補正値算出システム、レベル補正値算出方法 FI分類-H04B 17/13, FI分類-H03G 3/30 E
2022年01月25日 特許庁 / 特許	電波干渉モニター装置、及び電波干渉モニター方法 FI分類-H04W 16/18, FI分類-H04W 24/08, FI分類-H04B 17/345, FI分類-H04B 17/391, FI分類-G01R 29/08 B
2022年01月25日 特許庁 / 特許	アンテナ装置及びアンテナ装置の製造方法 FI分類-H01P 5/103 D, FI分類-H01P 5/103 F, FI分類-H01P 11/00 103
2022年01月24日 特許庁 / 特許	波形取得装置及び波形取得方法 FI分類-G01R 13/34 A
2022年01月21日 特許庁 / 特許	信号発生装置、レベル補正値算出システム、レベル補正値算出方法 FI分類-H04B 17/13, FI分類-G01R 31/28 Q
2022年01月17日 特許庁 / 特許	信号解析装置および信号解析方法 FI分類-G01R 23/173 F, FI分類-G01R 23/173 J
2022年01月17日 特許庁 / 特許	信号解析装置および信号解析方法 FI分類-G01R 23/173 J, FI分類-G01R 23/173 Z
2021年12月27日 特許庁 / 特許	電波干渉モニター装置、及び電波干渉モニター方法 FI分類-G01S 3/58, FI分類-H04B 17/336, FI分類-H04W 16/18 110
2021年12月20日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのパラメータ設定方法 FI分類-H04Q 1/20, FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04W 88/02 150
2021年12月14日 特許庁 / 特許	導波管接続構造、その決定方法、その製造方法、及びそれを用いた導波管スイッチ FI分類-H01P 1/04, FI分類-H01P 1/12, FI分類-H01P 11/00 101
2021年12月08日 特許庁 / 特許	電波干渉モニター装置、及び電波干渉モニター方法 FI分類-G01S 3/04 Z, FI分類-H04B 17/345
2021年12月08日 特許庁 / 特許	電波干渉モニター装置、及び電波干渉モニター方法 FI分類-G01S 3/04 Z, FI分類-H04B 17/345
2021年12月07日 特許庁 / 特許	回転装置及び試験装置 FI分類-G01R 31/00
2021年12月02日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とその制御メッセージ送信方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04B 17/29 200
2021年11月26日 特許庁 / 特許	光電気変換モジュールおよびそれを用いた光サンプリングオシロスコープ FI分類-H03F 1/42, FI分類-H03F 3/08, FI分類-G01J 11/00, FI分類-G01R 13/22, FI分類-G01J 1/44 A, FI分類-H01L 31/10 G
2021年11月26日 特許庁 / 特許	トランスインピーダンスアンプおよびそれを用いた測定装置 FI分類-H03F 3/08
2021年11月18日 特許庁 / 特許	移動端末試験システム FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 24/06
2021年11月18日 特許庁 / 特許	移動端末試験システムとそのパラメータ設定方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 24/06
2021年11月16日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのBand filter設定方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 24/00, FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04B 17/29 200, FI分類-H04W 88/02 150
2021年11月09日 特許庁 / 特許	電波干渉モニター装置、及び電波干渉モニター方法 FI分類-G01S 3/16, FI分類-H04B 17/00, FI分類-H04W 16/28, FI分類-H04W 24/08, FI分類-G01S 5/02 Z, FI分類-H04B 17/345, FI分類-H04W 16/18 110
2021年11月08日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのパラメータ設定方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 16/32
2021年11月05日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのポート接続方法 FI分類-H04M 1/24, FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04W 88/06, FI分類-H04W 88/02 150
2021年10月15日 特許庁 / 特許	誤り測定装置および誤り測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 43/0823
2021年10月11日 特許庁 / 特許	誤り検出装置および誤り検出方法 FI分類-H04L 1/00 A, FI分類-H04L 43/0823, FI分類-G06F 11/32 140
2021年10月05日 特許庁 / 特許	誤り検出装置および誤り検出方法 FI分類-H04L 13/00 315 A
2021年09月30日 特許庁 / 特許	伝送線路変換構造造、その調整方法、及びその製造方法 FI分類-H01P 5/08 B, FI分類-H01P 5/08 C, FI分類-H01P 11/00 100
2021年09月21日 特許庁 / 特許	信号発生装置及び信号発生方法 FI分類-H03K 5/133
2021年09月09日 特許庁 / 特許	波形観測装置及び透過特性取得方法 FI分類-G01R 13/20 L
2021年09月08日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及びコードワードエラー表示方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04L 25/02 301 K
2021年09月08日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及びUncorrectableコードワード検索方法 FI分類-H04L 1/00 C
2021年09月06日 特許庁 / 特許	エンファシス付加回路、エンファシス付加方法、それを用いた信号発生装置及び信号発生方法 FI分類-H04B 3/04 C, FI分類-H04L 25/03 C
2021年09月06日 特許庁 / 特許	ネットワーク測定装置、及びネットワーク測定方法 FI分類-G01S 19/14, FI分類-H04B 17/30, FI分類-H04W 24/00, FI分類-H04W 64/00 120
2021年09月06日 特許庁 / 特許	測定装置、及び測定方法 FI分類-G01S 19/23, FI分類-H04B 17/30, FI分類-H04B 17/29 200
2021年09月02日 特許庁 / 特許	金属検出機及び金属検出機のバランス調整方法 FI分類-G01N 27/72, FI分類-G01V 3/10 F, FI分類-G01R 33/02 Q
2021年08月02日 特許庁 / 特許	試験装置及び試験方法 FI分類-H01Q 3/16, FI分類-H01Q 19/12, FI分類-H04B 17/17, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-H04B 17/29 200
2021年07月26日 特許庁 / 特許	受信装置及び受信方法、並びに該受信装置を備えた移動端末試験装置 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04L 27/26 410
2021年07月09日 特許庁 / 特許	生産管理システム及び生産管理プログラム FI分類-G05B 19/418 Z
2021年07月07日 特許庁 / 特許	無線端末のアンテナ指向特性の測定システムおよび測定方法 FI分類-H01Q 3/36, FI分類-H01Q 21/24, FI分類-G01R 29/10 D
2021年07月07日 特許庁 / 特許	信号発生装置とそのフロアノイズ低減方法 FI分類-H04B 17/16
2021年07月02日 特許庁 / 特許	電波暗箱および該電波暗箱を用いた試験装置 FI分類-G01R 29/10 E
2021年07月01日 特許庁 / 特許	選別装置および物品選別システム FI分類-B07C 5/36, FI分類-B65G 43/08 D, FI分類-B65G 47/46 A, FI分類-B65G 47/46 B, FI分類-B65G 47/82 A, FI分類-B65G 47/82 C, FI分類-F15B 11/06 D
2021年06月30日 特許庁 / 特許	信号発生装置とその直線性補正方法 FI分類-H04B 17/11, FI分類-G01R 29/08 Z, FI分類-G01R 35/00 K
2021年06月24日 特許庁 / 特許	移動端末試験システム及び移動端末試験方法 FI分類-H04Q 1/20, FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04M 3/26 B
2021年06月21日 特許庁 / 特許	信号処理装置、及び信号処理方法 FI分類-H04L 13/00 315 A
2021年06月18日 特許庁 / 特許	移動端末試験システム及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04B 17/29 200
2021年06月09日 特許庁 / 特許	電子機器用筐体 FI分類-H05K 5/03 D
2021年06月09日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置および誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-G06F 11/34 176
2021年05月28日 特許庁 / 特許	電子計測器用筐体 FI分類-H05K 5/02 D
2021年05月28日 特許庁 / 特許	電子計測器用筐体 FI分類-H05K 5/02 D
2021年05月27日 特許庁 / 特許	電子機器用筐体 FI分類-H02G 3/08, FI分類-H02G 3/14, FI分類-H02G 3/16, FI分類-H05K 5/03 D, FI分類-H05K 9/00 G
2021年05月24日 特許庁 / 特許	生産管理システム及び生産管理プログラム FI分類-G05B 19/418 Z
2021年05月24日 特許庁 / 特許	生産管理システム及び生産管理プログラム FI分類-G05B 19/418 Z
2021年05月13日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 21/27 B
2021年04月14日 特許庁 / 特許	ジッタ耐力測定装置及びジッタ耐力測定方法 FI分類-H04L 1/00 D, FI分類-G01R 29/02 L
2021年04月09日 特許庁 / 特許	電子機器の収容構造 FI分類-B65D 59/00 A, FI分類-B65D 81/107 Z
2021年04月05日 特許庁 / 特許	X線検査装置およびX線検査方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G06T 7/00 350 C, FI分類-G06T 7/00 610 C
2021年04月01日 特許庁 / 特許	誤り検出装置および誤り検出方法 FI分類-H04L 1/14, FI分類-H03M 13/15, FI分類-H04L 1/00 D, FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04L 7/04 100, FI分類-H04L 25/02 301 K
2021年04月01日 特許庁 / 特許	光信号波形測定装置及び光信号波形測定方法 FI分類-G01J 11/00
2021年04月01日 特許庁 / 特許	光信号波形測定装置及び光信号波形測定方法 FI分類-G01J 11/00
2021年04月01日 特許庁 / 特許	光信号波形測定装置及び光信号波形測定方法 FI分類-G01J 11/00
2021年03月31日 特許庁 / 特許	信号資源情報管理装置、及び信号資源情報管理方法 FI分類-G01S 3/46, FI分類-H04B 17/23, FI分類-H04B 17/309, FI分類-H04B 7/08 980
2021年03月29日 特許庁 / 特許	リットマン型分光器及び折り返しミラー FI分類-G01J 3/18
2021年03月29日 特許庁 / 特許	光スペクトラムアナライザ及びパルス変調光測定方法 FI分類-G01J 3/18
2021年03月29日 特許庁 / 特許	光スペクトラムアナライザ及びパルス変調光測定方法 FI分類-G01J 3/18
2021年03月26日 特許庁 / 特許	コプレーナ線路とコネクタとの接続構造及び接続方法、並びにそれを用いたサンプリングオシロスコープ FI分類-H01R 24/44, FI分類-H01P 5/08 B, FI分類-H01R 13/6474, FI分類-H01P 3/00 100
2021年03月26日 特許庁 / 特許	光スペクトラムアナライザ及び波長校正制御方法 FI分類-G01J 3/26, FI分類-G01J 3/02 C
2021年03月26日 特許庁 / 特許	光スペクトラムアナライザ及び波長校正制御方法 FI分類-G01J 3/26, FI分類-G01J 3/02 C
2021年03月26日 特許庁 / 特許	光スペクトラムアナライザ及び波長校正制御方法 FI分類-G01J 3/26, FI分類-G01J 3/02 C
2021年03月26日 特許庁 / 特許	信号解析装置及び信号解析方法 FI分類-H04L 27/26 410
2021年03月24日 特許庁 / 特許	ネットワーク測定装置とそのフレームロス測定方法 FI分類-H04L 12/70 100 Z, FI分類-H04L 13/00 315 Z
2021年03月24日 特許庁 / 特許	光スペクトラムアナライザ FI分類-G01J 3/04, FI分類-G01J 3/18
2021年03月24日 特許庁 / 特許	光測定器用光源装置および光スペクトラムアナライザ FI分類-G01J 3/10, FI分類-G01J 3/18, FI分類-G02B 6/42, FI分類-G01J 3/02 C
2021年03月24日 特許庁 / 特許	波形観測装置及び違反サンプルのシンボル推移の表示方法 FI分類-G01R 13/20 P, FI分類-G01R 13/20 Q, FI分類-G01R 13/20 T
2021年03月24日 特許庁 / 特許	波形観測装置及びマスクマージンの計算方法 FI分類-G01R 13/20 T
2021年03月23日 特許庁 / 特許	スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H03K 5/156 A, FI分類-G06F 13/38 350, FI分類-G06F 13/42 350 C, FI分類-H04L 25/02 301 J
2021年03月23日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B07C 5/36, FI分類-B65G 47/46 B, FI分類-B65G 47/82 C
2021年03月19日 特許庁 / 特許	物品排除装置および物品検査装置 FI分類-B65G 47/46 H
2021年03月18日 特許庁 / 特許	チップ実装構造及びチップ実装方法、並びにそれを用いたサンプリングオシロスコープ FI分類-H01L 21/60 311 S
2021年03月17日 特許庁 / 特許	信号解析装置、及び信号解析結果表示方法 FI分類-H04J 1/00, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04L 27/34, FI分類-H04L 27/26 100, FI分類-H04L 27/26 113
2021年03月17日 特許庁 / 特許	信号解析装置、及び信号解析結果表示方法 FI分類-H04J 1/00, FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04L 27/26 100
2021年03月16日 特許庁 / 特許	短パルス発生回路及び短パルス発生方法、並びにそれを用いたサンプリングオシロスコープ FI分類-H03K 5/153, FI分類-G01R 13/34 A
2021年03月15日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 21/59 Z, FI分類-G01N 21/85 A, FI分類-B65G 47/14 102 B
2021年03月15日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 21/59 Z, FI分類-G01N 21/85 A, FI分類-B65G 47/14 102 B
2021年03月15日 特許庁 / 特許	物品搬送装置 FI分類-A61J 3/06 R, FI分類-B65G 47/14 M, FI分類-B65G 47/24 H, FI分類-B65G 47/80 C, FI分類-G01N 21/85 A
2021年03月15日 特許庁 / 特許	物品搬送装置及び物品検査装置 FI分類-B65G 47/14 102 B
2021年03月15日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B65G 47/14 102 B
2021年03月12日 特許庁 / 特許	可変減衰器、信号解析装置、及び誘電体ブロックの固定方法 FI分類-H01P 1/22
2021年03月12日 特許庁 / 特許	可変減衰器、信号解析装置、及び誘電体ブロックの固定方法 FI分類-H01P 1/22
2021年03月09日 特許庁 / 特許	信号解析装置及び信号解析方法 FI分類-H04J 1/00, FI分類-G01R 13/20 L, FI分類-G01R 23/16 A, FI分類-G01R 23/16 D, FI分類-H04L 27/26 100
2021年03月08日 特許庁 / 特許	スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04B 1/7073, FI分類-G06F 1/04 512
2021年03月05日 特許庁 / 特許	物品排除装置および物品検査システム FI分類-B07C 5/36, FI分類-B65G 47/46 H
2021年03月04日 特許庁 / 特許	物品搬送装置及び物品検査装置 FI分類-B65G 47/86 G
2021年03月04日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-A61J 3/06 R, FI分類-G01N 21/85 A
2021年03月03日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及びエラー分布表示方法 FI分類-H04L 1/00 B, FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-G01R 13/28 Q, FI分類-G01R 13/28 R
2021年03月01日 特許庁 / 特許	伝送線結合構造 FI分類-H01P 5/103 B, FI分類-H01P 5/103 F
2021年02月25日 特許庁 / 特許	スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04B 1/707, FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29
2021年02月19日 特許庁 / 特許	光検査装置及び光検査方法 FI分類-G01J 9/00, FI分類-G01J 11/00, FI分類-G01M 11/00 T
2021年02月19日 特許庁 / 特許	物品排除装置および物品検査システム FI分類-B07C 5/36, FI分類-B65G 47/46 H
2021年02月19日 特許庁 / 特許	物品排除装置および物品検査システム FI分類-B07C 5/36, FI分類-B65G 47/46 H
2021年02月18日 特許庁 / 特許	物品搬送装置、物品選別装置および物品検査装置 FI分類-B65G 43/00 D
2021年02月16日 特許庁 / 特許	信号発生装置とその減衰量補正方法 FI分類-H04B 17/29 200
2021年02月15日 特許庁 / 特許	検査装置、検査方法、プログラム、及び記録媒体 FI分類-G01N 21/27 A, FI分類-G01N 21/89 Z
2021年02月15日 特許庁 / 特許	信号発生装置とその減衰量補正方法 FI分類-H04B 17/21
2021年02月15日 特許庁 / 特許	信号発生装置、信号調整システムと、その信号調整方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29
2021年02月15日 特許庁 / 特許	信号発生装置とその減衰量補正方法 FI分類-H04B 17/21
2021年02月12日 特許庁 / 特許	誤り検出装置および誤り検出方法 FI分類-H04B 3/46, FI分類-H04L 1/14, FI分類-H04L 1/00 D, FI分類-H04L 25/02 301 K
2021年02月12日 特許庁 / 特許	試験装置及び試験方法 FI分類-H01Q 19/12, FI分類-G01R 29/10 E
2021年02月12日 特許庁 / 特許	誤り検出装置および誤り検出方法 FI分類-H04L 1/00 C
2021年02月10日 特許庁 / 特許	スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04B 1/707, FI分類-H04L 1/00 C
2021年02月08日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04B 17/318, FI分類-H05K 9/00 N, FI分類-G01R 29/10 E
2021年02月05日 特許庁 / 特許	温度試験装置及び温度試験方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H05K 9/00 N, FI分類-G01R 29/10 E
2021年02月01日 特許庁 / 特許	物品排除装置および物品検査システム FI分類-B07C 5/36, FI分類-B65G 47/34
2021年01月28日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法 FI分類-H04W 24/06
2021年01月28日 特許庁 / 特許	誤り検出装置および誤り検出方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2021年01月27日 特許庁 / 特許	薄膜基板回路 FI分類-H01P 1/203, FI分類-H05K 1/02 P, FI分類-H01P 3/08 200, FI分類-H01P 3/12 100, FI分類-H01P 5/02 603 F
2021年01月25日 特許庁 / 特許	信号発生装置及び信号発生装置の制御方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29
2021年01月22日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04M 1/24 J, FI分類-H04B 17/29 200, FI分類-H04W 88/02 150
2021年01月19日 特許庁 / 特許	アンテナ及びそれを備えたアンテナ装置 FI分類-H01P 11/00, FI分類-H01Q 13/02, FI分類-G01R 29/10 E
2021年01月19日 特許庁 / 特許	アンテナ及びそれを備えたアンテナ装置 FI分類-H01P 11/00, FI分類-H01Q 13/02, FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-H01P 5/103 F
2021年01月15日 特許庁 / 特許	信号発生装置とその減衰量補正方法 FI分類-H04B 17/11, FI分類-H04B 17/29, FI分類-G01R 31/28 Q
2021年01月15日 特許庁 / 特許	測定装置とその補間方法 FI分類-G01R 13/20 T, FI分類-G01R 23/14 A, FI分類-G01R 23/173 A
2021年01月15日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/18
2021年01月13日 特許庁 / 特許	温度試験装置及び温度試験方法 FI分類-G01N 17/00, FI分類-G01N 25/00 Q, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E
2021年01月13日 特許庁 / 特許	温度試験装置及び温度試験方法 FI分類-G01N 17/00, FI分類-G01N 25/00 Q, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E
2021年01月13日 特許庁 / 特許	温度試験装置及び温度試験方法 FI分類-G01N 17/00, FI分類-G01N 25/00 Q, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E
2021年01月13日 特許庁 / 特許	温度試験装置及び温度試験方法 FI分類-G01N 17/00, FI分類-G01N 25/00 Q, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E
2021年01月07日 特許庁 / 特許	測定装置、及び測定方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 24/00, FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04B 17/29 200
2020年12月24日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及びエラー数表示方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2020年12月23日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及びコードワード位置表示方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2020年12月17日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/12, FI分類-G01N 23/18
2020年12月14日 特許庁 / 特許	PAM波形解析装置及びPAM波形解析方法 FI分類-G01R 13/20 S, FI分類-G01R 13/20 X, FI分類-G01R 13/28 B
2020年12月14日 特許庁 / 特許	誤り検出装置および誤り検出方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2020年12月08日 特許庁 / 特許	波形観測装置、及び波形観測方法 FI分類-G01J 11/00, FI分類-G01R 13/00, FI分類-H04B 10/07
2020年12月03日 特許庁 / 特許	信号発生装置及び信号発生方法 FI分類-H04L 25/49 T
2020年11月25日 特許庁 / 特許	測定装置、測定システム及び測定装置の制御方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04B 17/29 200, FI分類-H04W 88/02 150
2020年11月18日 特許庁 / 特許	通信端末測定システム、通信端末測定装置、及び通信端末試験方法 FI分類-H04L 27/02 A, FI分類-H04L 27/26 100, FI分類-H04L 27/26 114
2020年11月02日 特許庁 / 特許	搬送装置、物品検査装置および振分け装置 FI分類-B65G 43/00 D, FI分類-B65G 43/08 D
2020年10月30日 特許庁 / 特許	OTDR測定装置およびOTDRの測定方法 FI分類-G01M 11/00 R
2020年10月26日 特許庁 / 特許	カプセル選別装置 FI分類-B07C 5/06, FI分類-A61J 3/07 R, FI分類-B07B 13/04 A
2020年10月20日 特許庁 / 特許	自動測定装置及び自動測定方法 FI分類-G01R 31/00, FI分類-H04B 17/15
2020年10月19日 特許庁 / 特許	OTDR測定装置および測定器制御方法 FI分類-H04B 10/071, FI分類-H04B 10/272, FI分類-G01M 11/00 R
2020年10月16日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とその異常時処理選択方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04B 17/29 200
2020年10月13日 特許庁 / 特許	フレーム同期装置及びそれを備えた測定装置及び測定システム、並びにフレーム同期方法及び測定方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04L 7/04 100, FI分類-H04L 27/26 114, FI分類-H04L 27/26 420
2020年10月13日 特許庁 / 特許	波形データ転送装置及びそれを備えた測定装置及び測定システム、並びに波形データ転送方法及び測定方法 FI分類-H04B 17/15
2020年10月07日 特許庁 / 特許	受信装置、該受信装置を備えた移動端末試験装置、及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-G01R 23/16 B, FI分類-G01R 23/16 D
2020年10月07日 特許庁 / 特許	受信装置、該受信装置を備えた移動端末試験装置、及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-G01R 23/16 B, FI分類-G01R 23/16 D
2020年10月01日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置、及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 25/34, FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-G01R 29/02 L, FI分類-H04L 25/49 T, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2020年09月30日 特許庁 / 特許	信号解析装置及び信号解析方法 FI分類-H04B 1/26 Q, FI分類-G01R 23/173 D, FI分類-G01R 23/173 F
2020年09月28日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 24/06
2020年09月25日 特許庁 / 特許	信号解析装置及び信号解析方法 FI分類-H04B 1/26 B, FI分類-G01R 23/173 B, FI分類-G01R 23/173 Z
2020年09月24日 特許庁 / 特許	組合せ計量装置 FI分類-G01G 19/387 C
2020年09月18日 特許庁 / 特許	物品検査装置および物品検査システム FI分類-G01G 11/00 H, FI分類-G01G 23/42 D, FI分類-G05B 19/418 Z
2020年09月09日 特許庁 / 特許	端末保持具、端末回転装置、及び移動端末試験装置 FI分類-H04B 17/17, FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-H04B 17/29 200
2020年09月09日 特許庁 / 特許	通信アンテナ及びそれを備えたアンテナ装置 FI分類-H01Q 13/02, FI分類-H01Q 19/17, FI分類-H01Q 21/24, FI分類-H01Q 21/30, FI分類-H01Q 1/12 Z, FI分類-G01R 29/10 E
2020年09月04日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置、及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-G01R 29/02 L, FI分類-H04L 25/02 302 A
2020年09月04日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置および誤り率測定方法 FI分類-H04L 25/03, FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 13/00 315
2020年09月03日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置、及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-G01R 29/02 L, FI分類-H04L 13/00 315 A, FI分類-H04L 25/02 302 A
2020年09月03日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置、及び誤り率測定方法 FI分類-G01R 13/20 R, FI分類-G01R 13/20 T, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2020年08月31日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B07C 5/02, FI分類-B07C 5/342, FI分類-G01N 21/3563, FI分類-G01N 21/84 C, FI分類-G01N 21/85 A
2020年08月31日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置およびパラメータ取得方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04B 17/309 100, FI分類-H04L 12/70 100 Z
2020年08月28日 特許庁 / 特許	アンテナデバイス、それを備えたアンテナ装置、及びそれの製造方法 FI分類-H01P 1/161, FI分類-H01Q 19/17, FI分類-H04B 17/12, FI分類-H01P 5/08 D, FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-H01P 1/213 D
2020年08月19日 特許庁 / 特許	光測定装置 FI分類-G01J 1/02 A, FI分類-G01J 3/02 Z, FI分類-H05K 7/20 H, FI分類-G01M 11/00 R
2020年08月17日 特許庁 / 特許	パルス変調光計測方法、パルス変調光計測プログラム、及び光スペクトラムアナライザ FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/28
2020年07月31日 特許庁 / 特許	回路素子及び薄膜基板実装方法 FI分類-H05K 1/02 Q, FI分類-H05K 3/36 A, FI分類-H05K 3/36 B
2020年07月30日 特許庁 / 特許	基板間接続構造および基板間接続方法 FI分類-H05K 1/02 J, FI分類-H05K 1/02 N, FI分類-H05K 1/02 P, FI分類-H05K 1/14 E
2020年07月28日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04L 25/02 302
2020年07月27日 特許庁 / 特許	回路基板、保護カバーおよび回路基板の製造方法 FI分類-H05K 1/02 C, FI分類-H01L 23/12 Z
2020年07月22日 特許庁 / 特許	受信装置及び受信方法、並びに該受信装置を備えた移動端末試験装置 FI分類-H04B 17/00, FI分類-H04L 27/00 A, FI分類-H04L 27/26 410
2020年07月20日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/36, FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 21/85 A, FI分類-G01N 21/89 Z
2020年07月20日 特許庁 / 特許	分光測定装置 FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 21/85 A
2020年07月20日 特許庁 / 特許	スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04B 3/46, FI分類-H03K 5/156 A, FI分類-G06F 1/04 512
2020年07月09日 特許庁 / 特許	伝送線路変換構造及び同軸型エンドランチコネクタ FI分類-H01P 5/08 B
2020年07月02日 特許庁 / 特許	エンドランチコネクタ及び空洞共振抑制方法 FI分類-H01R 24/54, FI分類-H01P 5/08 B, FI分類-H05K 1/02 N
2020年07月01日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/26, FI分類-H04B 17/29
2020年06月23日 特許庁 / 特許	受信装置及び受信方法、並びに該受信装置を備えた移動端末試験装置 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04L 7/00 970, FI分類-H04L 27/26 420
2020年06月18日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-G01R 29/10 E
2020年05月25日 特許庁 / 特許	回路素子、回路素子の製造方法、及び電気信号伝送方法 FI分類-H01P 1/04, FI分類-H05K 1/14 E, FI分類-H05K 3/36 B, FI分類-H05K 3/46 E, FI分類-H05K 3/46 N, FI分類-H05K 3/46 Q, FI分類-H01P 3/08 100
2020年05月22日 特許庁 / 特許	試験装置及び試験方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-G01R 29/10 B, FI分類-G01R 29/10 E
2020年05月20日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E
2020年04月27日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置及び移動端末試験システム FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 72/04 111, FI分類-H04W 88/02 150
2020年04月27日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置及び移動端末試験方法 FI分類-H04W 8/24, FI分類-H04B 17/16, FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 88/06, FI分類-H04B 17/29 100, FI分類-H04B 17/29 200, FI分類-H04W 72/04 111, FI分類-H04W 88/02 150
2020年04月24日 特許庁 / 特許	ケーブル評価システム及びケーブル評価方法 FI分類-H04B 3/48, FI分類-G01R 27/28 Z
2020年04月21日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/23, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04W 88/18, FI分類-H04B 17/10 100
2020年04月20日 特許庁 / 特許	製品検査装置 FI分類-B07C 5/18, FI分類-B07C 5/30, FI分類-G01G 19/62, FI分類-G01G 11/00 H
2020年04月17日 特許庁 / 特許	信号発生装置及び信号発生方法 FI分類-H04B 17/29 200
2020年04月10日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置及び移動端末試験方法 FI分類-H04W 8/24, FI分類-H04B 17/16, FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04B 17/29 100, FI分類-H04B 17/29 200, FI分類-H04W 88/02 150
2020年04月03日 特許庁 / 特許	伝送線路変換構造 FI分類-H01P 5/08 B, FI分類-H01P 3/00 101, FI分類-H01P 3/08 100
2020年04月02日 特許庁 / 特許	物品選別装置および物品検査装置 FI分類-B65G 47/82 C
2020年03月31日 特許庁 / 特許	信号処理装置とその信号測定方法 FI分類-H04B 17/309, FI分類-H04L 27/26 410, FI分類-H04L 27/26 420
2020年03月31日 特許庁 / 特許	ネットワーク試験器 FI分類-H04L 7/00 990, FI分類-H04L 12/70 100 Z, FI分類-H04L 13/00 315 Z
2020年03月27日 特許庁 / 特許	温度試験装置及び温度試験方法 FI分類-G01N 17/00, FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H05K 9/00 N, FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-G01R 29/10 Z
2020年03月26日 特許庁 / 特許	電波伝播測定装置とその同期信号探索方法 FI分類-H04W 16/18, FI分類-H04W 24/08, FI分類-H04B 17/309, FI分類-H04W 56/00 130
2020年03月26日 特許庁 / 特許	電波伝播測定装置とその同期信号探索方法 FI分類-H04W 16/18, FI分類-H04W 24/08, FI分類-H04B 17/309, FI分類-H04W 56/00 130
2020年03月25日 特許庁 / 特許	温度試験装置及び温度試験方法 FI分類-G01R 29/10 E
2020年03月25日 特許庁 / 特許	パターン同期回路、それを用いた誤り率測定装置、及びパターン同期方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-G01R 29/02 P, FI分類-G01R 29/02 Z, FI分類-H04L 7/04 200
2020年03月25日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置、及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 13/00 313, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2020年03月25日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置および連続エラー検索方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2020年03月24日 特許庁 / 特許	ネットワーク試験装置およびネットワーク試験方法 FI分類-H04L 12/70 100 Z
2020年03月24日 特許庁 / 特許	ネットワーク試験装置およびネットワーク試験方法 FI分類-H04L 12/70 100 Z, FI分類-H04L 13/00 315 Z
2020年03月24日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び設定画面表示方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2020年03月23日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置及び試験方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/29 200, FI分類-H04W 72/04 111
2020年03月19日 特許庁 / 特許	温度試験装置及び温度試験方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H05K 9/00 N, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E
2020年03月19日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及びデータ分割表示方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2020年03月19日 特許庁 / 特許	測定システム及び測定方法 FI分類-G01R 35/00 A
2020年03月17日 特許庁 / 特許	X線検査装置およびX線検査方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/087
2020年03月16日 特許庁 / 特許	信号発生装置及び信号発生方法 FI分類-H04B 17/29
2020年03月16日 特許庁 / 特許	ビット誤り率測定装置、及び、それにおける判定帰還型等化器の校正方法 FI分類-H04B 17/309, FI分類-H04B 3/06 Z, FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-G01R 29/02 Z, FI分類-H04L 25/03 C, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2020年03月13日 特許庁 / 特許	クロック再生装置、誤り率測定装置、クロック再生方法、及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 7/02, FI分類-H04L 25/49 L
2020年03月13日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及びエラーカウント方法 FI分類-H04L 1/00 C
2020年03月11日 特許庁 / 特許	パターン同期回路、それを用いた誤り率測定装置、及びパターン同期方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 7/04 100, FI分類-H04L 7/08 500
2020年03月11日 特許庁 / 特許	計量装置 FI分類-G01G 11/00 D, FI分類-G01G 11/00 H
2020年03月06日 特許庁 / 特許	プローブホルダ及び固定治具 FI分類-A61B 18/20, FI分類-A61B 90/50
2020年03月04日 特許庁 / 特許	ネットワーク試験装置およびネットワーク試験方法 FI分類-H04L 25/49, FI分類-H04L 1/00 A
2020年03月04日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-G01R 13/20 U, FI分類-G01R 13/22 E, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/08 B
2020年03月04日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04B 17/23, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/29 200
2020年03月04日 特許庁 / 特許	信号処理装置とそのインデックス情報推測方法 FI分類-H04W 16/28, FI分類-H04B 7/06 950, FI分類-H04L 7/04 100, FI分類-H04L 27/26 420
2020年02月28日 特許庁 / 特許	ネットワーク試験装置及びネットワーク試験方法 FI分類-H04L 1/20, FI分類-H04L 1/00 D
2020年02月28日 特許庁 / 特許	ネットワーク試験装置及びネットワーク試験方法 FI分類-H04L 1/20
2020年02月26日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法 FI分類-H04B 17/13, FI分類-H04W 88/02 150
2020年02月25日 特許庁 / 特許	測定装置、及び測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 7/033 100, FI分類-H04L 13/00 315 Z
2020年02月20日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、移動端末試験システムとNSAの試験方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04W 92/20
2020年02月17日 特許庁 / 特許	移動端末測定システム、及び通信管理情報表示方法 FI分類-H04W 24/00, FI分類-H04W 88/02 150
2020年02月14日 特許庁 / 特許	ブロック自動検出装置、それを備えた信号解析装置、ブロック自動検出方法、及び信号解析方法 FI分類-H04J 3/06 A, FI分類-H04L 7/04 200, FI分類-H04L 27/26 420
2020年02月06日 特許庁 / 特許	試験装置及び試験方法 FI分類-H04B 17/16, FI分類-H04B 17/17, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-H04B 17/29 100, FI分類-H04B 17/29 200
2020年02月06日 特許庁 / 特許	試験装置及び試験方法 FI分類-H04B 17/16, FI分類-H04B 17/17, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-H04B 17/29 100, FI分類-H04B 17/29 200
2020年01月31日 特許庁 / 特許	移動端末試験システム、移動端末試験装置及び移動端末試験システムの制御方法 FI分類-H04M 3/22, FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 24/00, FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04B 17/29 200, FI分類-H04W 88/02 150
2020年01月31日 特許庁 / 特許	誤り率測定システム及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 13/00 315
2020年01月30日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/087
2020年01月27日 特許庁 / 特許	信号発生装置及び信号発生方法 FI分類-H04B 17/29
2020年01月27日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 88/02 150
2020年01月22日 特許庁 / 特許	箱詰検査システム及び箱詰検査方法 FI分類-G01G 19/62, FI分類-B65B 57/00 A, FI分類-B65B 57/10 A, FI分類-G01G 11/00 H, FI分類-G01G 19/42 Z
2020年01月17日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とその圏外試験制御方法 FI分類-H04W 8/02, FI分類-H04W 24/06
2020年01月10日 特許庁 / 特許	イメージ読み取り装置およびイメージ読み取り方法 FI分類-H04N 1/191, FI分類-H04N 1/401, FI分類-H04N 1/028 Z, FI分類-H04N 5/365 100, FI分類-H04N 5/369 200, FI分類-G06T 1/00 460 D
2020年01月06日 特許庁 / 特許	誤り率測定システム及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2019年12月27日 特許庁 / 特許	周波数変換装置とその周波数変換方法 FI分類-H03D 7/16, FI分類-G01R 23/173 D, FI分類-G01R 23/173 F
2019年12月26日 特許庁 / 特許	製品検査装置及び製品検査方法 FI分類-G01G 19/62, FI分類-G01G 11/00 H, FI分類-G01G 19/42 Z
2019年12月18日 特許庁 / 特許	到来方向推定システム、及び到来方向推定方法 FI分類-H01Q 3/04, FI分類-H01Q 9/16, FI分類-H01Q 9/26, FI分類-H01Q 21/24, FI分類-G01S 3/04 Z
2019年12月16日 特許庁 / 特許	クロック再生回路、波形観測装置、クロック再生方法及び波形観測方法 FI分類-H03L 7/10, FI分類-H04L 7/033, FI分類-G01R 13/20 N, FI分類-H03L 7/08 107
2019年12月16日 特許庁 / 特許	クロック再生回路、波形観測装置、クロック再生方法及び波形観測方法 FI分類-H03L 7/10, FI分類-H03L 7/095, FI分類-H04L 7/033, FI分類-G01R 13/20 N, FI分類-H03L 7/08 107
2019年12月03日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/10
2019年12月03日 特許庁 / 特許	信号解析装置及び信号解析方法 FI分類-H04L 7/027, FI分類-G01R 23/16 D, FI分類-G01R 23/173 J
2019年12月03日 特許庁 / 特許	信号解析装置および信号解析方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04W 88/08, FI分類-H04L 27/26 100
2019年12月03日 特許庁 / 特許	信号解析装置および信号解析方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04L 27/26 100
2019年12月02日 特許庁 / 特許	通信端末測定システム、通信端末測定装置及び測定関連情報表示方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/23, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 24/00, FI分類-H04B 17/10 100
2019年11月28日 特許庁 / 特許	クロック再生回路を備えた波形観測装置及びクロック再生方法 FI分類-H03L 7/093, FI分類-H04L 7/033, FI分類-G01R 13/20 N, FI分類-G01R 13/28 L, FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H03L 7/08 107
2019年11月28日 特許庁 / 特許	クロック再生回路を備えた波形観測装置及びクロック再生方法 FI分類-H04L 7/033, FI分類-G01R 13/20 N, FI分類-G01R 13/28 L, FI分類-H03L 7/08 107, FI分類-H03L 7/08 210, FI分類-H04L 25/02 302 B
2019年11月20日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2019年11月12日 特許庁 / 特許	箱詰めシステム及び箱詰め方法 FI分類-B65B 5/04, FI分類-B65B 35/24, FI分類-G01G 15/02, FI分類-B65B 57/10 B, FI分類-G01G 11/00 H
2019年11月07日 特許庁 / 特許	パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法 FI分類-H03K 5/13, FI分類-G06F 1/06 510, FI分類-H04L 7/00 370, FI分類-H04L 7/00 410
2019年10月25日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-G01R 13/28 J, FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04L 25/02 301 K, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2019年10月25日 特許庁 / 特許	誤り率測定器及びエラー検索方法 FI分類-H04L 1/00 A
2019年10月25日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04B 17/23, FI分類-H04L 1/00 C
2019年10月15日 特許庁 / 特許	誤り率測定器のデータ表示装置及びエラーカウント方法 FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04L 13/00 315 A, FI分類-H04L 25/02 302 B
2019年10月09日 特許庁 / 特許	アンテナ装置及び測定方法 FI分類-H01Q 19/17, FI分類-H01Q 21/06, FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-G01R 29/00 G, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E
2019年09月30日 特許庁 / 特許	移動端末試験システム FI分類-H04B 17/391, FI分類-H04L 9/00 685, FI分類-H04W 88/02 150
2019年09月30日 特許庁 / 特許	エンファシス付加装置、エンファシス付加方法及び誤り率測定装置 FI分類-H04B 3/04 C
2019年09月30日 特許庁 / 特許	通信端末測定システム及び測定関連情報表示方法 FI分類-H04W 24/00, FI分類-G06F 3/0481, FI分類-H04B 17/391, FI分類-G06F 3/14 320 B
2019年09月26日 特許庁 / 特許	PAM3信号発生装置及びPAM3信号発生方法 FI分類-H03K 3/84 Z, FI分類-H04L 25/49 K, FI分類-G06F 7/58 620
2019年09月19日 特許庁 / 特許	周波数変換器、及び高周波信号の供給方法 FI分類-H03D 7/00, FI分類-H03H 11/34, FI分類-H03H 11/36
2019年09月05日 特許庁 / 特許	信号発生装置とそのスプリアス除去方法 FI分類-H04B 17/21
2019年09月05日 特許庁 / 特許	電波暗箱、測定装置及び被試験対象姿勢監視方法 FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-G01R 31/24 Z
2019年09月03日 特許庁 / 特許	金属検出装置 FI分類-G01N 27/72, FI分類-G01V 3/10 F, FI分類-G01V 3/11 C, FI分類-G01R 33/02 B, FI分類-G01R 33/02 Q
2019年08月06日 特許庁 / 特許	測定装置、通信端末測定システム、及び測定関連情報表示方法 FI分類-H04B 17/23, FI分類-H04W 16/18, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/391, FI分類-H04B 17/10 100, FI分類-H04L 13/00 313
2019年08月06日 特許庁 / 特許	測定装置、通信端末測定システム、及び測定関連情報表示方法 FI分類-H04W 24/06
2019年07月29日 特許庁 / 特許	測定装置とその測定対象表示方法 FI分類-H04B 17/23, FI分類-H04W 24/00, FI分類-H04W 84/12, FI分類-H04B 17/10 100
2019年07月26日 特許庁 / 特許	金属検出装置 FI分類-G01N 27/72, FI分類-G01V 3/10 F
2019年07月17日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B65G 43/02 Z, FI分類-B65G 43/08 E, FI分類-G01M 99/00 Z
2019年07月16日 特許庁 / 特許	クロックエラー補正装置、それを備えた測定装置、クロックエラー補正方法、及び測定方法 FI分類-H04L 7/08, FI分類-H04L 7/00 970, FI分類-H04L 27/26 114, FI分類-H04L 27/26 420
2019年07月04日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04W 28/04, FI分類-H04B 17/29 200, FI分類-H04W 84/10 110
2019年06月27日 特許庁 / 特許	金属検出装置 FI分類-G01N 27/72, FI分類-G01V 3/10 F
2019年06月27日 特許庁 / 特許	金属検出装置 FI分類-G01N 27/72, FI分類-G01V 3/10 F, FI分類-G01V 3/11 C
2019年06月26日 特許庁 / 特許	信号処理装置とその同期信号検出方法 FI分類-H04L 7/04 200
2019年06月26日 特許庁 / 特許	信号測定装置とそのクロック同期方法 FI分類-H04B 17/00 Z, FI分類-H04L 7/00 120
2019年05月29日 特許庁 / 特許	信号試験装置とそのセルフテスト方法 FI分類-H04B 17/11, FI分類-H04B 17/21, FI分類-H04W 24/04, FI分類-H04W 24/10
2019年05月27日 特許庁 / 特許	位相特性校正装置および位相特性校正方法 FI分類-G01J 9/04, FI分類-G01J 11/00, FI分類-G01R 23/173 D
2019年05月23日 特許庁 / 特許	物品検査装置及び物品検査方法 FI分類-G01N 21/23, FI分類-G01J 4/04 A, FI分類-G01N 21/88 H, FI分類-G01N 21/892 A
2019年05月23日 特許庁 / 特許	高周波スイッチ、シグナルジェネレータ、及びスペクトラムアナライザ FI分類-H01P 1/15, FI分類-G01R 23/165, FI分類-H01P 1/30 Z, FI分類-H01L 23/36 Z, FI分類-H03K 17/74 A
2019年05月22日 特許庁 / 特許	伝送線路回路及び無線測定装置 FI分類-H05K 1/02 P, FI分類-H01P 3/08 100, FI分類-H01P 3/08 201, FI分類-H01P 3/12 100
2019年05月22日 特許庁 / 特許	試験体とそれを用いた診断システム FI分類-G01M 99/00 Z
2019年05月17日 特許庁 / 特許	光パルス試験装置 FI分類-G01D 5/353 B
2019年05月09日 特許庁 / 特許	物品検査装置及び物品検査方法 FI分類-G01N 21/3563, FI分類-G01N 21/85 Z, FI分類-G01N 21/89 Z
2019年04月11日 特許庁 / 特許	組合せ計量装置 FI分類-G01G 19/387 C
2019年04月10日 特許庁 / 特許	クロック分配回路及びクロック分配方法と誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-G06F 1/06, FI分類-G06F 1/10, FI分類-H04L 1/00 C
2019年03月26日 特許庁 / 特許	誤り測定器及びそれを用いた応答時間の測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04B 17/309 100, FI分類-H04L 13/00 315 A
2019年03月20日 特許庁 / 特許	金属検出機 FI分類-G01V 3/10 F
2019年03月19日 特許庁 / 特許	半導体光増幅器 FI分類-H01S 5/50 610
2019年03月14日 特許庁 / 特許	供給装置 FI分類-B65G 15/42 Z, FI分類-B65G 47/28 Z
2019年03月14日 特許庁 / 特許	可変低減イコライザ及びそれを用いた損失補償方法と誤り率測定器及び誤り率測定方法 FI分類-H03H 7/24, FI分類-H03H 11/06, FI分類-H04B 3/04 A, FI分類-H03H 11/04 R, FI分類-H04L 25/03 C, FI分類-H04L 25/02 302 B
2019年03月13日 特許庁 / 特許	計量装置 FI分類-G01G 11/04, FI分類-G01G 11/00 H, FI分類-G01G 23/01 Z
2019年03月07日 特許庁 / 特許	重量選別システム FI分類-B07C 5/18, FI分類-B07C 5/36
2019年03月06日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2019年03月06日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2019年02月25日 特許庁 / 特許	導波管-伝送線路変換器 FI分類-H01P 5/107 D
2019年02月25日 特許庁 / 特許	導波管接続構造、それを用いた導波管スイッチ及びミリ波帯スペクトラムアナライザ FI分類-H01P 1/12, FI分類-G01R 23/173 A, FI分類-G01R 23/173 Z, FI分類-H01P 5/02 601 D, FI分類-H01P 5/02 601 E
2019年02月25日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのサポート組合せ取得方法 FI分類-H04W 8/22, FI分類-H04W 88/02 150
2019年02月22日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/18
2019年02月21日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B07C 5/346, FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/12
2019年02月19日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G21K 1/00 X, FI分類-G21K 5/00 S, FI分類-G21K 5/02 X
2019年02月18日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置および誤り率測定方法 FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2019年02月13日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-G01R 29/02 P, FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04B 17/309 100, FI分類-H04L 25/02 302 B
2019年02月13日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置および誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 13/00 315 A
2019年02月05日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B07C 5/18, FI分類-G01N 35/00 E
2019年02月04日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置および誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 13/00 315 A
2019年01月31日 特許庁 / 特許	伝送線路及びエアブリッジ構造 FI分類-H05K 1/02 N, FI分類-H01L 21/90 N, FI分類-H01P 3/00 100, FI分類-H01P 5/02 603 K
2019年01月31日 特許庁 / 特許	周波数特性表示装置および周波数特性表示方法 FI分類-H04B 3/46, FI分類-H04B 17/23, FI分類-H04B 17/10 100, FI分類-H03H 17/06 633 J
2019年01月29日 特許庁 / 特許	計量装置および計量値補正方法 FI分類-G01G 11/04, FI分類-G01G 23/01 A
2019年01月29日 特許庁 / 特許	アンテナ装置及び測定方法 FI分類-H01Q 3/08, FI分類-H01Q 19/19, FI分類-G01R 29/10 B, FI分類-G01R 29/10 E
2019年01月25日 特許庁 / 特許	光パルス試験装置及び光パルス試験方法 FI分類-H04B 10/071, FI分類-G01M 11/00 Q
2019年01月23日 特許庁 / 特許	FECエラー付加装置、それを用いた試験信号発生装置、及びFECエラー付加方法 FI分類-H04L 1/24
2019年01月23日 特許庁 / 特許	FECエラー付加装置、それを用いた試験信号発生装置、及びFECエラー付加方法 FI分類-H04L 1/24
2019年01月23日 特許庁 / 特許	バーストエラー付加装置、それを用いた試験信号発生装置、及びバーストエラー付加方法 FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04L 1/00 D, FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04L 13/00 315 Z
2019年01月18日 特許庁 / 特許	データ信号伝送装置およびデータ信号伝送方法 FI分類-H04L 25/02 J, FI分類-H04L 7/00 410, FI分類-G06F 13/38 340 E
2019年01月18日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/49 L
2019年01月18日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/49 L
2019年01月10日 特許庁 / 特許	誤り検出装置および誤り検出方法 FI分類-G01R 29/02 P, FI分類-G01R 29/02 Z, FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04L 25/02 302 D
2018年12月26日 特許庁 / 特許	PAM4シンボルエラー付加装置および方法と誤り率測定装置および方法 FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2018年12月20日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのテストケース抽出方法 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/391
2018年12月17日 特許庁 / 特許	重量測定装置 FI分類-B65G 15/26, FI分類-G01G 11/04, FI分類-G01G 11/00 G, FI分類-G01G 11/00 Z
2018年12月17日 特許庁 / 特許	計量装置 FI分類-B65G 23/12, FI分類-G01G 11/04, FI分類-G01G 11/00 G
2018年12月13日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01G 11/04, FI分類-G01G 23/01 Z
2018年12月13日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01G 11/12, FI分類-B65G 43/08 D, FI分類-G01G 11/00 D
2018年12月13日 特許庁 / 特許	周波数特性補正装置及び周波数特性補正方法 FI分類-G01R 23/167, FI分類-G01R 35/00 K, FI分類-G01R 23/173 D
2018年12月07日 特許庁 / 特許	信号発生装置とその温度変化に対する補正方法 FI分類-H03B 5/02 C, FI分類-H03B 5/04 B
2018年12月05日 特許庁 / 特許	物品検査情報管理装置、そのプログラム及び物品検査システム FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/04 340
2018年11月29日 特許庁 / 特許	アンテナ装置及び測定方法 FI分類-H01Q 19/12, FI分類-G01R 29/10 E
2018年11月27日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 13/00 313, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2018年11月27日 特許庁 / 特許	測定装置、測定システム及び測定方法 FI分類-G06F 11/30 172, FI分類-G06F 11/22 673 R, FI分類-G06F 13/00 510 A
2018年11月22日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、移動端末試験システムとNSAの試験方法 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/391, FI分類-H04W 88/02 150
2018年11月22日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01J 3/51, FI分類-G01J 3/02 C, FI分類-G01N 21/27 A, FI分類-G01N 21/27 F, FI分類-G01N 21/85 A
2018年11月15日 特許庁 / 特許	物質特性検査装置 FI分類-G01N 21/17 Z
2018年11月08日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置、移動端末試験システム及びデュアルコネクティビティの試験方法 FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04W 88/02 150
2018年11月07日 特許庁 / 特許	導波管接続構造、それを用いたミリ波帯フィルタバンク及びミリ波帯スペクトラムアナライザ FI分類-H01P 1/04, FI分類-H01P 1/207 Z, FI分類-G01R 23/165 B
2018年11月05日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置および誤り率測定方法 FI分類-H04L 7/033, FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04B 17/309 100, FI分類-H04L 25/02 301 K, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2018年10月17日 特許庁 / 特許	物品測定装置 FI分類-B07C 5/24, FI分類-G01G 11/04, FI分類-G01G 11/00 E
2018年10月17日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とその干渉状態擬似方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/391, FI分類-H04B 17/29 200, FI分類-H04W 88/02 150
2018年10月12日 特許庁 / 特許	ライセンス管理装置、移動端末試験システムとライセンス管理方法 FI分類-G06F 21/10, FI分類-G06Q 50/04, FI分類-G06Q 50/10
2018年10月12日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2018年10月12日 特許庁 / 特許	アンテナ装置及び測定方法 FI分類-H01Q 3/18, FI分類-H01Q 19/17, FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-G01R 29/10 Z
2018年10月05日 特許庁 / 特許	アンテナ装置および測定方法 FI分類-H01Q 21/06, FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-G01R 29/10 E
2018年09月27日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B07C 5/02, FI分類-B65G 43/08 D, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/02 Z, FI分類-G01G 11/00 Z
2018年09月25日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2018年09月25日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2018年09月20日 特許庁 / 特許	X線検査装置用の試験体およびその製造方法 FI分類-G01N 23/04
2018年09月19日 特許庁 / 特許	外観検査装置および外観検査方法 FI分類-G01N 21/89 Z
2018年09月12日 特許庁 / 特許	X線検査装置及びX線発生器高さ調整方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/083
2018年09月11日 特許庁 / 特許	PAMデコーダおよびPAMデコード方法と誤り検出装置および誤り検出方法 FI分類-H04L 25/02 F, FI分類-H04L 25/03 C, FI分類-H04L 25/49 T
2018年09月11日 特許庁 / 特許	PAMデコーダおよびPAMデコード方法と誤り検出装置および誤り検出方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/03 E, FI分類-H04L 25/49 T
2018年09月11日 特許庁 / 特許	パターン発生装置およびパターン発生方法と誤り率測定装置および誤り率測定方法 FI分類-H04B 3/46
2018年09月11日 特許庁 / 特許	パターン発生装置およびパターン発生方法と誤り率測定装置および誤り率測定方法 FI分類-H04B 3/46
2018年09月06日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-H04L 1/16, FI分類-H04W 84/12, FI分類-H04L 27/26 410, FI分類-H04W 88/02 150
2018年08月31日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/083
2018年08月24日 特許庁 / 特許	電磁波シールドボックス FI分類-H01Q 17/00, FI分類-H01Q 21/06, FI分類-H04B 17/17, FI分類-H05K 9/00 M, FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-H04B 17/29 200
2018年08月23日 特許庁 / 特許	信号解析装置及び信号解析方法並びに信号解析プログラム FI分類-G01H 17/00 Z, FI分類-G06N 99/00 153
2018年08月20日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B07C 5/18, FI分類-G01N 23/02, FI分類-G01G 11/00 H
2018年08月03日 特許庁 / 特許	平面アンテナ装置、それを備えた無線端末測定装置、及び無線端末測定方法 FI分類-H01Q 1/38, FI分類-H04B 5/02, FI分類-H01Q 11/08, FI分類-H01Q 17/00, FI分類-G01R 29/08 A
2018年07月30日 特許庁 / 特許	組合せ計量装置 FI分類-G01G 19/387 C, FI分類-G01G 19/387 E
2018年07月27日 特許庁 / 特許	信号発生装置および該装置を用いたPCIe用ISIキャリブレーションチャネルの実現方法 FI分類-H04B 3/48
2018年07月25日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-G01R 31/00, FI分類-G01R 13/20 N
2018年07月24日 特許庁 / 特許	供給規制装置、それを用いた搬送装置、及び該搬送装置を用いた組合せ計量装置 FI分類-G01G 19/387 C
2018年07月24日 特許庁 / 特許	信号発生装置および該装置を用いた周波数特性表示方法 FI分類-H04B 3/46, FI分類-G01R 23/18, FI分類-H04B 17/11, FI分類-H04B 17/21, FI分類-H04B 17/23, FI分類-H03H 17/00 601 C, FI分類-H03H 17/06 635 C
2018年07月23日 特許庁 / 特許	測定装置および該装置のパラメータ設定方法 FI分類-G01R 13/20 R, FI分類-G06F 3/0484 170
2018年07月19日 特許庁 / 特許	組合せ計量装置 FI分類-G01G 19/387 D
2018年07月11日 特許庁 / 特許	物品検査装置及び物品検査システム FI分類-G05B 19/418 Z, FI分類-G01N 23/04 340
2018年07月11日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定パラメータ設定方法 FI分類-H04W 24/00, FI分類-H04W 72/04 111
2018年07月03日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G06F 8/65, FI分類-G01N 35/00 Z
2018年06月19日 特許庁 / 特許	アンテナ測定装置及びアンテナ測定方法 FI分類-G01R 29/10 B, FI分類-G01R 29/10 E
2018年06月14日 特許庁 / 特許	信号発生装置および信号発生方法 FI分類-H04B 3/46, FI分類-H04B 3/04 C, FI分類-H03H 17/00 601 Z
2018年06月08日 特許庁 / 特許	物品検査装置、物品検査システム及びプログラム FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01V 3/10 F, FI分類-G01V 3/11 C, FI分類-G01V 5/00 A, FI分類-G01N 23/04 340
2018年06月08日 特許庁 / 特許	生産管理システム及び生産管理プログラム FI分類-G06Q 10/04, FI分類-G05B 19/418 Z
2018年06月08日 特許庁 / 特許	物品検査システム及びそのプログラム FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01V 5/00 A, FI分類-G01M 99/00 Z, FI分類-G06Q 10/00 300
2018年06月06日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/12, FI分類-G01N 23/18
2018年05月31日 特許庁 / 特許	近傍界測定装置及び近傍界測定方法 FI分類-G01R 29/10 B, FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-H04L 27/26 114
2018年05月25日 特許庁 / 特許	信号発生装置および信号発生方法と誤り率測定装置および誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2018年05月25日 特許庁 / 特許	X線ラインセンサ及びそれを用いたX線異物検出装置 FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/087
2018年05月22日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-H04L 1/16, FI分類-H04B 7/0413, FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 27/26 110
2018年05月22日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-H04L 1/16, FI分類-H04B 7/0413, FI分類-H04L 1/00 D, FI分類-H04L 27/26 110
2018年05月16日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び該装置のアイマージン測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/02 302 B
2018年05月16日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び該装置のパラメータ探索方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/03 E, FI分類-H04L 25/02 302 B
2018年05月16日 特許庁 / 特許	同期装置および同期方法 FI分類-H04L 27/26 420
2018年05月14日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01T 7/00 A
2018年04月27日 特許庁 / 特許	キャリブレーションシステム及びキャリブレーション方法 FI分類-H01Q 3/24, FI分類-H01Q 21/06, FI分類-G01R 29/10 B, FI分類-G01R 29/10 D, FI分類-H04B 7/06 982, FI分類-H04B 7/0413 300
2018年04月24日 特許庁 / 特許	位相特性校正装置及び位相特性校正方法 FI分類-G02F 1/01 Z
2018年04月19日 特許庁 / 特許	異物検出装置および異物検出方法 FI分類-G01V 8/10 S, FI分類-G01N 21/88 Z
2018年04月05日 特許庁 / 特許	3値信号発生装置及び3値信号発生方法とパルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法 FI分類-H04L 25/49 K
2018年04月05日 特許庁 / 特許	物品振分装置 FI分類-B07C 5/36, FI分類-B65G 47/46 A, FI分類-B65G 47/82 A
2018年03月30日 特許庁 / 特許	無線端末測定装置及び無線端末測定方法 FI分類-H01Q 9/42, FI分類-H01Q 21/24, FI分類-G01R 29/10 D
2018年03月29日 特許庁 / 特許	移動端末試験システムと移動端末試験方法 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04M 3/00 E, FI分類-H04M 3/26 C, FI分類-H04M 3/26 E, FI分類-H04W 88/02 150
2018年03月29日 特許庁 / 特許	波長掃引光源、それを用いたOFDR装置及び測定方法 FI分類-G02F 1/09, FI分類-G01B 11/00 G
2018年03月27日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-H04L 1/16, FI分類-H04B 17/18
2018年03月23日 特許庁 / 特許	平衡不平衡変換器及びそれを備えた半導体集積回路 FI分類-H03H 7/42, FI分類-H01P 5/10 C, FI分類-H01L 27/04 A, FI分類-H01L 27/04 L
2018年03月23日 特許庁 / 特許	平衡不平衡変換器及びそれを備えた半導体集積回路 FI分類-H01P 5/08 L, FI分類-H01P 5/10 C, FI分類-H03H 7/48 A, FI分類-H01L 27/04 A, FI分類-H01L 27/04 L
2018年03月14日 特許庁 / 特許	スペクトラム拡散クロック発生器およびパルスパターン発生装置とスペクトラム拡散クロック発生方法およびパルスパターン発生方法 FI分類-H03K 5/156 A, FI分類-G06F 1/04 512
2018年03月14日 特許庁 / 特許	冷却装置及び検査装置 FI分類-H05K 7/20 H
2018年03月12日 特許庁 / 特許	フィードフォワードイコライザ及びフィードフォワードイコライザの高周波特性改善方法 FI分類-H03H 15/00, FI分類-H04B 3/06 C, FI分類-H03H 11/04 Q, FI分類-H04L 25/03 C
2018年03月12日 特許庁 / 特許	PAM4分離回路及びPAM4分離方法とサンプリングオシロスコープ及びサンプリング方法 FI分類-G01R 13/00 Z
2018年03月12日 特許庁 / 特許	サンプリングオシロスコープ及びこれを用いた自動スケール方法 FI分類-G01R 13/00 Z, FI分類-G01R 13/20 K, FI分類-G01R 13/20 T, FI分類-G01R 13/20 U
2018年03月07日 特許庁 / 特許	スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法とパターン発生器及びパターン発生方法 FI分類-H04B 1/69, FI分類-G06F 1/04 512
2018年03月07日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/12, FI分類-G01N 23/18
2018年03月05日 特許庁 / 特許	フレーム同期装置及びそれを備えた信号解析装置並びにフレーム同期方法及び信号解析方法 FI分類-H04L 7/04 200, FI分類-H04W 56/00 150, FI分類-H04W 72/04 131, FI分類-H04W 72/04 136
2018年03月05日 特許庁 / 特許	フレーム同期装置及びそれを備えた測定装置並びにフレーム同期方法及び測定方法 FI分類-H04L 7/04 200, FI分類-H04L 27/26 420
2018年02月23日 特許庁 / 特許	アンテナ装置および該アンテナ装置を用いた測定装置 FI分類-H01Q 13/10, FI分類-H01Q 21/24, FI分類-G01R 29/10 A, FI分類-G01R 29/10 E
2018年02月15日 特許庁 / 特許	高周波用差動信号伝送線路及びそれを備えた信号伝送システム FI分類-H01P 1/02 A, FI分類-H05K 1/02 P, FI分類-H01P 3/00 100, FI分類-H01P 3/02 200
2018年02月07日 特許庁 / 特許	無線端末のアクティブアンテナ推定方法および無線端末測定装置 FI分類-H04B 17/15, FI分類-G01R 29/08 A
2018年02月05日 特許庁 / 特許	無線端末測定装置 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E
2018年02月02日 特許庁 / 特許	信号測定装置及び信号測定方法 FI分類-G01R 23/173 B, FI分類-G01R 23/173 D
2018年01月24日 特許庁 / 特許	トリガ生成回路及びトリガ生成方法とサンプリングオシロスコープ及びサンプリング方法 FI分類-G01R 13/20 N, FI分類-G01R 13/34 B
2018年01月22日 特許庁 / 特許	信号発生装置とその出力レベル調整方法 FI分類-H04B 17/29 200
2018年01月10日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/10
2018年01月10日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/10
2018年01月10日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/10
2017年12月21日 特許庁 / 特許	アンテナ測定システム及びアンテナ測定方法 FI分類-G01R 29/10 B
2017年12月21日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B07C 5/18, FI分類-B65G 43/08 C
2017年12月20日 特許庁 / 特許	光治療装置及び光治療装置の光出射方法 FI分類-A61N 5/06 Z
2017年12月20日 特許庁 / 特許	サンプリングオシロスコープ及びこれを用いたサンプリング方法 FI分類-G01R 13/20 M, FI分類-G01R 13/20 R, FI分類-G01R 13/24 D, FI分類-G01R 13/24 Z
2017年12月18日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-H04L 27/26 114, FI分類-H04L 27/26 412, FI分類-H04L 27/26 420
2017年12月14日 特許庁 / 特許	X線管およびX線発生装置 FI分類-H01J 35/20, FI分類-H05G 1/00 G, FI分類-H05G 1/26 T, FI分類-H01J 35/00 Z
2017年11月30日 特許庁 / 特許	フレーム同期装置及びそれを備えた測定装置並びにフレーム同期方法及び測定方法 FI分類-H04L 27/26 114, FI分類-H04L 27/26 420
2017年11月20日 特許庁 / 特許	無線端末測定装置及び無線端末測定方法 FI分類-H01Q 1/36, FI分類-H01Q 1/52, FI分類-H01Q 21/24, FI分類-H01Q 21/28
2017年11月06日 特許庁 / 特許	X線検査装置およびX線検査方法 FI分類-G01N 23/18
2017年11月06日 特許庁 / 特許	ミリ波帯フィルタバンクおよびそれを用いたミリ波帯スペクトラムアナライザ FI分類-H01P 1/04, FI分類-H01P 1/06, FI分類-H01P 1/207 Z, FI分類-G01R 23/173 Z
2017年10月31日 特許庁 / 特許	画面分割表示装置、それを備えた測定装置、及び画面分割表示方法 FI分類-G09G 5/08 E, FI分類-G09G 5/08 S, FI分類-G09G 5/10 D, FI分類-G09G 5/14 Z, FI分類-G09G 5/34 E, FI分類-H04L 1/00 A, FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-G09G 5/00 510 D, FI分類-G09G 5/00 510 H, FI分類-G09G 5/00 550 B, FI分類-G09G 5/36 510 M, FI分類-G09G 5/36 520 G
2017年10月30日 特許庁 / 特許	フィルタ係数算出装置を備えた信号発生装置及び信号発生方法 FI分類-H04B 3/04 C, FI分類-H04L 25/03 C, FI分類-H03H 17/06 633 Z
2017年10月26日 特許庁 / 特許	X線検査装置およびX線検査方法 FI分類-G01N 23/04
2017年10月20日 特許庁 / 特許	信号発生器およびその信号発生方法 FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04B 1/04 F, FI分類-H04B 1/04 R
2017年09月29日 特許庁 / 特許	異常検知装置及び異常検知方法並びに異常検知プログラム FI分類-G06N 99/00 153
2017年09月29日 特許庁 / 特許	信号解析装置及び信号解析方法並びに信号解析プログラム FI分類-G01H 17/00 Z
2017年09月28日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 27/72, FI分類-G01N 23/083
2017年09月22日 特許庁 / 特許	生産管理システム及び生産管理プログラム FI分類-G05B 19/418 Z
2017年09月14日 特許庁 / 特許	信号解析装置及び信号解析装置のダイナミックレンジ最適化方法 FI分類-H03M 1/18, FI分類-G01R 23/16 D, FI分類-G01R 23/173 A, FI分類-G01R 23/173 Z
2017年09月12日 特許庁 / 特許	ヘテロ接合バイポーラトランジスタおよびその製造方法 FI分類-H01L 29/72 H
2017年09月08日 特許庁 / 特許	物品検査装置及び物品検査システム FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 27/72, FI分類-G01N 23/083, FI分類-G01V 3/08 A, FI分類-G01V 3/10 A, FI分類-G01V 5/00 A
2017年09月01日 特許庁 / 特許	端末試験装置及び端末試験方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 24/00, FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04B 17/29 200
2017年08月29日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 23/04
2017年08月22日 特許庁 / 特許	NB-IoT端末試験装置及びNB-IoT端末試験方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/29 200, FI分類-H04W 52/02 110, FI分類-H04W 88/02 150
2017年08月21日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置および移動端末試験方法 FI分類-H04W 24/06
2017年08月02日 特許庁 / 特許	金属検出装置および金属検出方法 FI分類-G01N 27/82, FI分類-G01V 3/10 F
2017年08月01日 特許庁 / 特許	無線端末の受信特性測定システムおよび測定方法 FI分類-H04B 17/29, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E
2017年07月27日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのパラメータ変更方法 FI分類-H04B 17/14, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04W 72/04 111
2017年07月26日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04
2017年07月19日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/083
2017年07月14日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とその通信ログデータ表示方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/23, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/10 100, FI分類-H04W 88/02 151
2017年07月10日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2017年07月03日 特許庁 / 特許	変調方式検出装置及びそれを備えた測定装置並びに変調方式検出方法及び測定方法 FI分類-H04L 27/38
2017年07月03日 特許庁 / 特許	誤り検出装置および誤り検出方法 FI分類-H04L 25/03 E, FI分類-H04L 25/49 L
2017年06月30日 特許庁 / 特許	物品検査装置およびその校正方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/083
2017年06月30日 特許庁 / 特許	端末試験装置 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/00 Z
2017年06月28日 特許庁 / 特許	フレーム同期装置及びそれを備えた測定装置並びにフレーム同期方法及び測定方法 FI分類-H04L 7/08, FI分類-H04L 7/10, FI分類-H04L 7/04 200, FI分類-H04L 27/26 114, FI分類-H04L 27/26 420
2017年06月26日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04
2017年06月26日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 23/04
2017年06月22日 特許庁 / 特許	エンファシス発生器およびエンファシス発生方法 FI分類-H04B 3/04 C, FI分類-G01R 31/28 Q, FI分類-H04L 25/03 C
2017年06月20日 特許庁 / 特許	MIMO方式システムの試験装置および試験方法 FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04B 7/0413, FI分類-H04B 7/06 950, FI分類-H04B 7/08 800, FI分類-H04L 27/26 100, FI分類-H04L 27/26 312
2017年06月19日 特許庁 / 特許	信号発生装置および信号発生方法 FI分類-H04B 3/04 C, FI分類-H04L 25/03 C, FI分類-H03H 17/06 633 Z
2017年06月14日 特許庁 / 特許	物品振分装置 FI分類-B65G 47/46 A
2017年06月13日 特許庁 / 特許	近傍界測定装置及び近傍界測定方法 FI分類-G01R 29/10 B
2017年06月05日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-H04L 1/16, FI分類-H04L 1/24, FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04L 1/00 E, FI分類-H04L 27/00 Z, FI分類-H04B 17/29 200
2017年05月26日 特許庁 / 特許	金属検出装置 FI分類-G01N 27/72, FI分類-G01V 3/10 F
2017年05月25日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とその周波数情報設定方法 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/391, FI分類-H04W 72/04 111, FI分類-H04W 72/04 132
2017年05月25日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのアップリンク信号測定方法 FI分類-H04J 1/00, FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04L 27/26 100, FI分類-H04W 72/04 111
2017年05月15日 特許庁 / 特許	スペクトラムアナライザ及び信号分析方法 FI分類-G01R 13/20 N, FI分類-G01R 13/20 R, FI分類-G01R 23/173 H, FI分類-H04B 17/10 100
2017年05月15日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/10
2017年05月15日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/10
2017年05月11日 特許庁 / 特許	無線端末のアンテナ指向特性測定システムおよび測定方法 FI分類-H01Q 3/08, FI分類-G01R 29/10 A
2017年05月11日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B07C 5/36
2017年05月10日 特許庁 / 特許	物品処理装置 FI分類-B07C 5/20, FI分類-B65G 43/10
2017年04月27日 特許庁 / 特許	光周波数領域反射測定装置及び光周波数領域反射測定方法 FI分類-G01B 11/16 G, FI分類-G01D 5/353 A, FI分類-G01K 11/32 Z, FI分類-G01M 11/00 U
2017年04月27日 特許庁 / 特許	金属検出装置 FI分類-G01V 3/10 F, FI分類-G01V 3/11 C
2017年04月26日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とその周波数情報設定方法 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04W 72/04 111, FI分類-H04W 88/02 150
2017年03月31日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とその設定内容表示方法 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04W 52/02 110
2017年03月30日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-H04L 7/033, FI分類-H04L 25/02 V
2017年03月30日 特許庁 / 特許	選別装置および物品検査システム FI分類-B07C 5/36, FI分類-B65G 47/46 A, FI分類-B65G 47/82 A
2017年03月29日 特許庁 / 特許	光パルス試験装置及び光パルス試験方法 FI分類-G01M 11/00 R
2017年03月29日 特許庁 / 特許	光パルス試験装置及び光パルス試験方法 FI分類-G01M 11/00 F
2017年03月29日 特許庁 / 特許	光パルス試験装置及び光パルス試験方法 FI分類-G01M 11/00 F
2017年03月29日 特許庁 / 特許	光パルス試験装置及び光パルス試験方法 FI分類-G01M 11/00 F
2017年03月29日 特許庁 / 特許	光パルス試験装置及び光パルス試験方法 FI分類-G01M 11/00 R
2017年03月28日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 21/35, FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01V 9/04 A
2017年03月28日 特許庁 / 特許	選別装置 FI分類-B07C 5/16, FI分類-B65G 43/10
2017年03月28日 特許庁 / 特許	ミリ波帯信号測定回路の位相特性校正システムおよび位相特性校正方法 FI分類-G01J 11/00, FI分類-G01R 23/173 D
2017年03月27日 特許庁 / 特許	パルスパターン発生装置、それを用いた誤り率測定システム、及びパルスパターン発生方法 FI分類-H04L 25/49, FI分類-H03M 1/66 C
2017年03月27日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-H04W 24/08, FI分類-H04W 84/12
2017年03月27日 特許庁 / 特許	光コネクタ端面検査装置とその合焦画像データ取得方法 FI分類-G01N 21/95 Z
2017年03月23日 特許庁 / 特許	伝送線路-導波管変換器及びその製造方法 FI分類-H01P 5/107 B
2017年03月17日 特許庁 / 特許	測定装置、測定システム及び測定方法 FI分類-H04L 12/26, FI分類-H04W 24/10, FI分類-H04B 17/391, FI分類-H04L 12/70 100 Z
2017年03月17日 特許庁 / 特許	3値信号発生装置及び3値信号発生方法 FI分類-H04L 25/02 V, FI分類-H04L 25/49 K
2017年03月16日 特許庁 / 特許	信号発生装置、信号調整システム及び信号調整方法 FI分類-H03D 7/18, FI分類-H04L 27/36, FI分類-H04B 1/04 J
2017年03月16日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2017年03月15日 特許庁 / 特許	物品検査装置およびその検査条件切替方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/083
2017年03月15日 特許庁 / 特許	デスキュー回路及びデスキュー方法 FI分類-H04L 25/02 Z, FI分類-H04L 7/00 330
2017年03月14日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-H04B 17/23, FI分類-H04W 24/08, FI分類-H04W 84/20, FI分類-H04W 88/18, FI分類-H04B 17/10 100, FI分類-H04L 13/00 313
2017年03月13日 特許庁 / 特許	選別装置 FI分類-B07C 5/00, FI分類-B65G 43/08 A, FI分類-B65G 47/46 G
2017年03月09日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2017年03月09日 特許庁 / 特許	冷却装置 FI分類-H05K 7/20 G, FI分類-H01L 23/46 C
2017年03月09日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04 310
2017年03月08日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04
2017年03月07日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/083
2017年03月07日 特許庁 / 特許	物品検査装置およびその検査対象品種切替方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/083
2017年03月06日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-H04W 24/00, FI分類-H04W 84/12
2017年03月06日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-H04L 1/16, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04L 12/28 200 M
2017年02月28日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/087
2017年02月28日 特許庁 / 特許	X線検査装置及びX線検査方法 FI分類-G01N 23/18
2017年02月27日 特許庁 / 特許	金属検出機 FI分類-G01V 3/10 H
2017年02月27日 特許庁 / 特許	金属検出機 FI分類-G01V 3/10 F, FI分類-G01R 33/02 B, FI分類-G01R 33/02 Q
2017年02月24日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/083
2017年02月23日 特許庁 / 特許	トリガ回路及びトリガ発生方法とサンプリングオシロスコープ及びサンプリング方法 FI分類-G01R 13/20 K, FI分類-G01R 13/20 N, FI分類-G06F 1/08 520
2017年02月23日 特許庁 / 特許	トリガ回路及びトリガ発生方法とサンプリングオシロスコープ及びサンプリング方法 FI分類-G01R 13/20 N, FI分類-G01R 13/34 A, FI分類-H03K 23/64 C
2017年02月21日 特許庁 / 特許	測定結果表示装置及び測定結果表示方法 FI分類-G01D 7/08, FI分類-G01D 7/00 E, FI分類-G01D 7/00 R, FI分類-G06F 3/0481
2017年02月21日 特許庁 / 特許	測定結果表示装置及び測定結果表示方法 FI分類-G01D 7/08, FI分類-G01D 7/00 J, FI分類-G06F 3/0481, FI分類-G01D 7/00 301 M, FI分類-G01D 7/00 302 P
2017年02月21日 特許庁 / 特許	測定結果表示装置及び測定結果表示方法 FI分類-G01D 7/08, FI分類-G01D 7/00 J, FI分類-G06F 3/0481, FI分類-G01D 7/00 301 M, FI分類-G01D 7/00 302 P
2017年02月16日 特許庁 / 特許	D/A変換装置 FI分類-H03M 1/78, FI分類-H03K 19/013, FI分類-H03K 19/092, FI分類-H03K 17/16 G, FI分類-H03K 19/00 101 F
2017年02月15日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/04 310
2017年02月15日 特許庁 / 特許	周波数逓倍器及びそれを備えた測定装置 FI分類-H03B 19/16, FI分類-H03B 19/18, FI分類-G01R 23/173 B
2017年02月15日 特許庁 / 特許	多列搬送コンベアおよび選別装置 FI分類-B07C 5/36, FI分類-B65G 15/12, FI分類-B65G 23/22, FI分類-B65G 21/14 C
2017年02月10日 特許庁 / 特許	測定モジュール、測定システム及び測定方法 FI分類-G01R 31/00, FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04B 17/00 N
2017年02月08日 特許庁 / 特許	画面分割表示装置、それを備えた測定装置、及び画面分割表示方法 FI分類-G06F 3/0484 120
2017年02月08日 特許庁 / 特許	画面分割表示装置、それを備えた測定装置、及び画面分割表示方法 FI分類-H04L 1/20, FI分類-G06F 3/0482, FI分類-G06F 3/0484, FI分類-G06F 3/0488, FI分類-G09G 5/14 A, FI分類-H04L 1/00 D, FI分類-G01R 13/00 A, FI分類-G01R 13/20 R, FI分類-G06F 3/14 350 B, FI分類-G09G 5/00 510 X, FI分類-G09G 5/00 530 M, FI分類-G09G 5/36 520 L
2017年02月03日 特許庁 / 特許	光サンプリングオシロスコープ及びその感度改善方法 FI分類-G01J 11/00
2017年02月02日 特許庁 / 特許	偏光解析装置および光スペクトラムアナライザ FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/28, FI分類-G01J 4/04 Z
2017年02月02日 特許庁 / 特許	偏光解析装置および光スペクトラムアナライザ FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/28, FI分類-G01J 4/04 Z
2017年02月02日 特許庁 / 特許	偏光解析装置および光スペクトラムアナライザ FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/28, FI分類-G01J 4/04 Z
2017年01月31日 特許庁 / 特許	光通信システム評価装置 FI分類-G01M 11/00 R
2017年01月20日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2017年01月16日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2016年12月27日 特許庁 / 特許	デジタル信号オフセット調整装置及びデジタル信号オフセット調整方法 FI分類-H04L 25/06
2016年12月19日 特許庁 / 特許	MIMO方式システムの試験装置および試験方法 FI分類-H04B 7/04, FI分類-H04J 15/00, FI分類-H04B 17/309, FI分類-H04L 27/00 A, FI分類-H04L 27/26 311
2016年12月14日 特許庁 / 特許	測定装置及び該装置のパラメータ設定方法 FI分類-G01D 3/024, FI分類-G06F 3/02 340 Z, FI分類-G06F 3/02 360 E, FI分類-G06F 3/02 370 A, FI分類-G06F 3/0484 170
2016年11月28日 特許庁 / 特許	端面検査装置とその合焦画像データ取得方法 FI分類-G01N 21/95 Z
2016年11月28日 特許庁 / 特許	光コネクタ端面検査装置とその合焦画像データ取得方法 FI分類-G02B 6/36, FI分類-G01N 21/88 Z
2016年11月28日 特許庁 / 特許	近傍界測定装置及び近傍界測定方法 FI分類-G01R 29/10 B
2016年11月08日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04
2016年11月02日 特許庁 / 特許	測定装置及び該装置を用いたパラメータ設定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-G01D 21/00 M, FI分類-H04B 17/00 Z
2016年10月26日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置および誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C
2016年10月21日 特許庁 / 特許	光ファイバ障害点特定システムとその光ファイバ障害点特定方法 FI分類-H04B 10/071, FI分類-G01M 11/00 R
2016年10月12日 特許庁 / 特許	アンテナ測定装置 FI分類-G01R 29/10 B, FI分類-G01R 29/10 Z
2016年10月06日 特許庁 / 特許	広帯域信号解析装置及び広帯域信号解析方法 FI分類-G01R 29/06 Z, FI分類-G01R 23/173 J, FI分類-G01R 23/173 Z, FI分類-G01S 7/40 108, FI分類-G01S 7/40 156
2016年10月06日 特許庁 / 特許	アンテナ測定システム及びアンテナ測定方法 FI分類-G01R 29/10 B
2016年10月06日 特許庁 / 特許	X線検査装置及びX線検査方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/083
2016年09月28日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2016年09月20日 特許庁 / 特許	位相測定装置及び位相測定方法 FI分類-H01Q 3/30, FI分類-H04B 7/06, FI分類-H04B 17/16, FI分類-H04B 7/10 A, FI分類-G01R 29/10 D
2016年09月15日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01M 3/00 Z, FI分類-G01N 23/083
2016年08月31日 特許庁 / 特許	信号解析装置及び信号解析方法 FI分類-H04J 15/00
2016年08月31日 特許庁 / 特許	判定帰還型等化器及び判定帰還型等化方法と誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04B 3/02, FI分類-H04B 3/10 C, FI分類-H04L 25/03 C
2016年08月26日 特許庁 / 特許	非線形PAM4信号発生装置及び非線形PAM4信号発生方法 FI分類-H04L 27/04 Z
2016年08月23日 特許庁 / 特許	緊急通報システム用車載器試験装置および試験方法 FI分類-H04W 4/22, FI分類-G08B 29/12, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04M 1/24 A, FI分類-G08B 21/00 U, FI分類-G08B 25/08 A, FI分類-G08B 25/10 D
2016年08月18日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-G01D 9/00 A, FI分類-G01D 9/00 U, FI分類-G01R 13/20 R, FI分類-G01R 23/173 J
2016年07月26日 特許庁 / 特許	信号解析装置及び信号解析方法 FI分類-H04B 7/04, FI分類-H04B 17/16, FI分類-H04J 15/00
2016年07月21日 特許庁 / 特許	測定システム FI分類-G01M 11/00 Q
2016年07月12日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/10, FI分類-G01N 23/18
2016年07月12日 特許庁 / 特許	電界強度分布測定装置及び電界強度分布測定方法 FI分類-G01R 29/10 B, FI分類-G01R 29/10 D
2016年07月08日 特許庁 / 特許	映像信号復号装置、映像表示システム、映像表示方法 FI分類-H04N 21/431, FI分類-H04N 7/18 D, FI分類-H04N 7/18 U, FI分類-G09G 5/00 510 D, FI分類-G09G 5/00 510 V, FI分類-G09G 5/00 510 X, FI分類-G09G 5/00 550 C, FI分類-G09G 5/00 550 H, FI分類-G09G 5/36 510 C, FI分類-G09G 5/36 520 E, FI分類-G09G 5/36 520 P, FI分類-G08B 25/00 510 M
2016年07月04日 特許庁 / 特許	信号解析装置及び信号解析方法 FI分類-G01R 23/16 E
2016年07月04日 特許庁 / 特許	信号分析装置及び信号分析方法 FI分類-G01R 23/173 J
2016年07月04日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/083
2016年06月29日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/10
2016年06月27日 特許庁 / 特許	分配器およびそれを用いた信号発生システム FI分類-H01P 1/22, FI分類-H01P 5/19, FI分類-H01P 1/36 A
2016年06月17日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置および送信アンテナ試験方法 FI分類-H04B 7/06, FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 88/02 140, FI分類-H04W 88/02 150
2016年06月06日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2016年06月06日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04L 25/02 302 B
2016年05月23日 特許庁 / 特許	電界強度分布測定装置及び電界強度分布測定方法 FI分類-G01R 29/10 B, FI分類-G01R 29/10 Z
2016年05月12日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B07C 5/36
2016年04月27日 特許庁 / 特許	移動体端末試験装置および試験方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04B 1/00 250, FI分類-H04B 17/29 200
2016年04月07日 特許庁 / 特許	位相調整システム及び位相調整方法 FI分類-H01Q 3/30, FI分類-G01R 29/10 D, FI分類-G01R 29/10 E
2016年03月30日 特許庁 / 特許	異物検出装置および異物検出方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/083, FI分類-G01T 1/17 F
2016年03月30日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置および該装置の自動補正方法 FI分類-H04B 3/46, FI分類-H04B 3/04 A, FI分類-H04L 1/00 C
2016年03月30日 特許庁 / 特許	異物検出装置および異物検出方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2016年03月30日 特許庁 / 特許	異物検出装置および異物検出方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2016年03月29日 特許庁 / 特許	異物検出装置および異物検出方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2016年03月29日 特許庁 / 特許	重量測定装置 FI分類-G01G 11/00 H, FI分類-G01G 17/04 C, FI分類-G01G 23/01 Z
2016年03月29日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置及び移動端末試験方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 24/08, FI分類-H04M 1/24 B
2016年03月28日 特許庁 / 特許	電界強度分布測定装置及び電界強度分布測定方法 FI分類-H04B 17/318, FI分類-G01R 29/10 B, FI分類-G01R 29/10 Z
2016年03月28日 特許庁 / 特許	信号調整システム及び信号調整方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04L 27/00 A
2016年03月28日 特許庁 / 特許	重量選別装置 FI分類-B07C 5/18, FI分類-B07C 5/36, FI分類-G01G 11/00 H, FI分類-G01G 17/00 C
2016年03月28日 特許庁 / 特許	重量測定装置 FI分類-G01G 23/48, FI分類-G01G 11/00 H, FI分類-G01G 17/04 C, FI分類-G01G 23/36 B
2016年03月28日 特許庁 / 特許	信号生成装置、信号生成方法及び信号生成プログラム FI分類-H04B 1/04 J, FI分類-H04J 11/00 Z, FI分類-H04L 27/00 F
2016年03月25日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのコンポーネントキャリア割り当て方法 FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04W 72/04 111, FI分類-H04W 88/02 150
2016年03月25日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01G 11/00 H, FI分類-G06F 17/40 330 A
2016年03月25日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01G 7/02, FI分類-G01G 11/00 H
2016年03月24日 特許庁 / 特許	発振回路及び発振方法 FI分類-H03L 7/095, FI分類-H03L 7/185
2016年03月24日 特許庁 / 特許	ESD保護回路およびESD保護方法 FI分類-H01L 27/04 H
2016年03月22日 特許庁 / 特許	発振回路及び発振方法 FI分類-H03L 7/22, FI分類-H03L 7/185
2016年03月22日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び該装置を用いた自動位相調整方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 7/00 370
2016年03月18日 特許庁 / 特許	トランスインピーダンスアンプおよび光信号受信装置 FI分類-H03F 3/08
2016年03月18日 特許庁 / 特許	パラメータ設定装置、パラメータ設定方法及び移動端末試験装置 FI分類-G06F 3/0482, FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-G06F 3/0484 170
2016年03月15日 特許庁 / 特許	OSNR測定装置および測定方法 FI分類-G01J 4/04 A, FI分類-H04B 9/00 E, FI分類-G01M 11/00 T, FI分類-H04B 9/00 179
2016年03月11日 特許庁 / 特許	移動体端末試験装置および試験方法 FI分類-H04B 17/16, FI分類-H04B 17/29 100, FI分類-H04W 88/02 151
2016年03月10日 特許庁 / 特許	異物検出装置および異物検出方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/087
2016年03月09日 特許庁 / 特許	発振回路及び発振方法 FI分類-H03L 7/22, FI分類-H03L 7/185
2016年03月09日 特許庁 / 特許	位相雑音最適化装置及び位相雑音最適化方法 FI分類-G01R 29/26, FI分類-H03L 7/093, FI分類-G01R 29/02 L, FI分類-H03L 7/08 220
2016年03月08日 特許庁 / 特許	重量測定装置 FI分類-G01G 7/04, FI分類-G01G 21/24 A, FI分類-G01G 23/02 B
2016年02月29日 特許庁 / 特許	信号解析装置及び信号解析方法 FI分類-H03L 7/093, FI分類-G01R 23/173 A
2016年02月23日 特許庁 / 特許	移動体端末試験装置とその通信経路確立方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04B 17/29 200, FI分類-H04W 88/02 150
2016年02月18日 特許庁 / 特許	位相誤差測定装置及び方法 FI分類-H04L 7/00 160, FI分類-H04L 7/00 810
2016年02月16日 特許庁 / 特許	移動通信端末試験装置及び移動通信端末試験方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04M 1/24 A, FI分類-H04W 88/02 150
2016年02月16日 特許庁 / 特許	計量装置 FI分類-G01G 7/04, FI分類-G01G 11/04, FI分類-G01G 11/00 H, FI分類-G01G 19/52 J, FI分類-G01G 23/02 B
2016年02月10日 特許庁 / 特許	半導体集積回路および半導体集積回路の製造方法 FI分類-H01L 29/72 H, FI分類-H01L 29/93 Z, FI分類-H01L 27/06 101 D
2016年02月08日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-G01R 31/00, FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29
2016年02月08日 特許庁 / 特許	アイダイアグラム表示装置およびアイダイアグラム表示方法 FI分類-G01R 13/20 R, FI分類-G01R 13/20 T, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2016年02月05日 特許庁 / 特許	重量測定装置 FI分類-G01G 11/00 Z, FI分類-G01G 23/01 Z
2016年02月03日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2016年02月02日 特許庁 / 特許	ジッタ耐力測定装置およびジッタ耐力測定方法 FI分類-G01R 29/02 L
2016年01月29日 特許庁 / 特許	Massive-MIMOアンテナ測定装置およびその指向性測定方法 FI分類-H01Q 3/08, FI分類-H04B 7/04, FI分類-G01R 29/10 B, FI分類-G01R 29/10 E
2016年01月28日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのスループット測定方法 FI分類-H04B 17/391, FI分類-H04W 88/02 150
2016年01月27日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのスループット測定方法 FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04B 17/309, FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04W 88/02 150, FI分類-H04L 13/00 307 C
2015年12月21日 特許庁 / 特許	シーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法 FI分類-H04L 13/00 315 A
2015年12月21日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-G06F 3/0488, FI分類-G06F 3/0489, FI分類-G01R 23/173 A, FI分類-G01R 23/173 J, FI分類-G06F 3/0484 170
2015年12月17日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とその試験系の確認方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04B 17/29 200, FI分類-H04W 88/02 150
2015年12月17日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのフロー制御閾値の設定方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04W 88/02 151
2015年12月11日 特許庁 / 特許	マルチバンドイコライザ、それを用いた誤り率測定システム、誤り率測定装置、及び経路選択方法 FI分類-H03F 3/189, FI分類-H04B 3/04 A
2015年12月09日 特許庁 / 特許	ビット同期回路及びビット同期方法 FI分類-H04L 7/08, FI分類-H04L 7/04 100
2015年12月08日 特許庁 / 特許	MIMO方式システムの試験装置および試験方法 FI分類-H04B 7/04, FI分類-H04J 15/00, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/391, FI分類-H04J 11/00 Z, FI分類-H04W 16/28 130
2015年12月08日 特許庁 / 特許	光パルス試験器及び光パルス試験器の表示方法 FI分類-G01J 11/00, FI分類-G01J 1/44 B, FI分類-G06F 3/0485, FI分類-G01M 11/00 R, FI分類-G06F 3/0481 170
2015年12月08日 特許庁 / 特許	光パルス試験器及び光パルス試験器の表示方法 FI分類-G06F 3/0488, FI分類-G01M 11/00 R, FI分類-G06F 3/0481 170, FI分類-G06F 3/0484 120
2015年11月18日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04B 17/309 100, FI分類-H04L 13/00 315 A
2015年10月30日 特許庁 / 特許	帰還増幅回路およびその周波数特性制御方法 FI分類-H03F 1/34, FI分類-H03F 1/42, FI分類-H03F 3/45 B
2015年10月29日 特許庁 / 特許	光コネクタのフェルール端面検査装置および検査用のプログラム FI分類-G01B 11/00 D, FI分類-G01M 11/00 R
2015年10月26日 特許庁 / 特許	移動体端末試験装置およびそのダウンリンク信号位相調整方法 FI分類-H04B 7/04, FI分類-H04B 17/12, FI分類-H04J 15/00, FI分類-H04J 11/00 Z, FI分類-H04W 16/28 130, FI分類-H04W 88/02 150
2015年10月16日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置の過電流保護回路及び過電流保護方法 FI分類-H02H 3/08 T
2015年10月02日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置および移動端末試験装置用局部発振周波数検出方法 FI分類-H04B 17/17, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/29 200, FI分類-H04W 72/04 111, FI分類-H04W 88/02 150
2015年10月01日 特許庁 / 特許	ホッパ及び組合せ計量装置 FI分類-G01G 19/387 E
2015年09月30日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 21/89 Z
2015年09月29日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 21/90 Z
2015年09月18日 特許庁 / 特許	電波伝播測定装置及びそのアンテナ補正値設定方法 FI分類-H04B 17/23, FI分類-H04B 17/29 100
2015年09月16日 特許庁 / 特許	電波伝播測定装置及びその受信タイミング表示方法 FI分類-H04B 17/23, FI分類-H04W 16/18, FI分類-H04W 24/08, FI分類-H04B 17/391
2015年09月09日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのコンポーネントキャリア割り当て方法 FI分類-H04W 24/08, FI分類-H04W 72/04 111
2015年07月27日 特許庁 / 特許	信号処理装置及び信号処理方法 FI分類-H04L 27/00 C, FI分類-G01R 23/165 B, FI分類-H03H 17/00 601 F, FI分類-H03H 17/00 621 J
2015年07月17日 特許庁 / 特許	フェージングシミュレータ及びフェージング信号生成方法 FI分類-H04J 15/00, FI分類-H04B 17/391, FI分類-H04J 11/00 Z
2015年07月15日 特許庁 / 特許	ノイズフロアレベル低減装置及びノイズフロアレベル低減方法 FI分類-H04B 17/345, FI分類-G01R 29/26 D, FI分類-G01R 23/173 J
2015年06月30日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B07C 5/36, FI分類-G01G 11/04, FI分類-G01G 11/00 H, FI分類-G01N 21/89 T
2015年06月29日 特許庁 / 特許	計量装置 FI分類-G01G 11/00 H, FI分類-G01G 23/01 D
2015年06月29日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B07C 5/36
2015年06月29日 特許庁 / 特許	ESD保護回路 FI分類-H04B 3/50, FI分類-H01L 27/04 H
2015年06月29日 特許庁 / 特許	重量測定装置 FI分類-G01G 11/00 M, FI分類-G01G 17/00 Z
2015年06月25日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-B07C 5/36
2015年06月19日 特許庁 / 特許	重量測定装置 FI分類-G01G 21/23, FI分類-G01G 21/30
2015年06月11日 特許庁 / 特許	サンプリング回路およびサンプリング方法とサンプリングオシロスコープ並びに波形表示方法 FI分類-G01R 23/12, FI分類-G01R 13/34 A, FI分類-G01R 13/34 E
2015年05月29日 特許庁 / 特許	パケット転送システム、中継装置、パケット転送方法及びプログラム FI分類-H04L 1/00 B, FI分類-H04L 13/00 307 Z
2015年05月22日 特許庁 / 特許	金属検出機 FI分類-G01V 3/11 C
2015年05月22日 特許庁 / 特許	金属検出機 FI分類-G01V 3/10 F
2015年05月15日 特許庁 / 特許	レーザ治療装置および食道癌用光線力学的治療装置 FI分類-A61N 5/06 E, FI分類-A61N 5/06 Z
2015年05月15日 特許庁 / 特許	出力測定装置用アダプタセット FI分類-A61N 5/06 E, FI分類-A61N 5/06 Z, FI分類-A61B 17/36 350
2015年05月15日 特許庁 / 特許	内視鏡用光線力学的治療装置 FI分類-C03C 13/04, FI分類-A61N 5/06 E, FI分類-C03C 25/02 B, FI分類-A61B 1/00 300 B, FI分類-A61B 1/00 334 D
2015年04月16日 特許庁 / 特許	計量装置 FI分類-B07C 5/18, FI分類-G01G 11/00 H, FI分類-G01G 23/01 Z
2015年04月01日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置及び移動端末試験方法 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04M 1/24 B
2015年03月31日 特許庁 / 特許	測定装置とその測定方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29
2015年03月31日 特許庁 / 特許	フェージングシミュレータ及びフェージングシミュレーション方法 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/391, FI分類-H04W 88/02 150
2015年03月30日 特許庁 / 特許	データ信号発生装置及びデータ信号発生方法 FI分類-H03K 5/135, FI分類-H03L 7/08 J, FI分類-H03L 7/08 M, FI分類-H04L 7/00 370
2015年03月27日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とその干渉状態擬似方法 FI分類-H04W 16/22, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/391, FI分類-G01R 29/08 Z
2015年03月27日 特許庁 / 特許	信号測定装置、信号測定システム及び信号測定方法 FI分類-G01R 23/173 B, FI分類-G01R 23/173 D
2015年03月27日 特許庁 / 特許	信号解析装置及び方法 FI分類-G01R 23/173 D, FI分類-G01R 23/173 J
2015年03月27日 特許庁 / 特許	通信障害監視装置、通信障害監視方法及び通信システム FI分類-H04B 17/23, FI分類-H04W 24/08, FI分類-H04L 12/70 Z, FI分類-H04B 17/10 100
2015年03月25日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2015年03月25日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 23/18
2015年03月24日 特許庁 / 特許	移動体端末試験システムおよび移動体端末のスループット試験方法 FI分類-H04W 24/06
2015年03月24日 特許庁 / 特許	移動体端末試験システム FI分類-H04L 13/00 315 Z
2015年03月24日 特許庁 / 特許	フェージングシミュレータ及び移動体端末試験システム FI分類-H04B 17/391
2015年03月23日 特許庁 / 特許	IC回路 FI分類-H05K 1/02 P, FI分類-H01P 3/00 101
2015年03月20日 特許庁 / 特許	MIMOシステム試験装置およびそのチャネル相関情報設定方法 FI分類-H04B 7/04, FI分類-H04J 15/00, FI分類-H04B 17/391
2015年03月20日 特許庁 / 特許	グランド導通治具およびグランド導通方法 FI分類-H01R 24/40
2015年03月19日 特許庁 / 特許	測定装置及び方法、並びに測定システム FI分類-G01R 13/20 L, FI分類-G01R 13/20 R
2015年03月12日 特許庁 / 特許	マルチユーザ管理装置及び方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04L 12/26, FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/391
2015年03月11日 特許庁 / 特許	重量選別装置 FI分類-B07C 5/16, FI分類-G01G 11/00 H
2015年03月10日 特許庁 / 特許	多段階選別システム FI分類-B07C 5/22, FI分類-B07C 5/30, FI分類-B07C 5/36, FI分類-G01G 9/00, FI分類-B07C 5/346, FI分類-G01G 13/06, FI分類-G01G 13/08 A
2015年03月10日 特許庁 / 特許	分光装置及び分光方法並びに分析装置 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 4/04 A
2015年03月04日 特許庁 / 特許	プリント基板および当該基板を用いたプリント基板連結構造 FI分類-H05K 1/02 C, FI分類-H05K 1/14 G, FI分類-H05K 7/14 A
2015年02月26日 特許庁 / 特許	利用帯域決定装置及び方法 FI分類-G06F 13/00 351 N, FI分類-H04L 12/70 100 Z
2015年02月20日 特許庁 / 特許	OFDR装置および方法 FI分類-G01B 11/16 G, FI分類-G01D 5/353 C, FI分類-G01K 11/32 D
2015年02月18日 特許庁 / 特許	アース接続不良検出装置及びアース接続不良検出方法 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H02H 3/16 B
2015年02月12日 特許庁 / 特許	デューティ比調整装置及びデューティ比調整方法 FI分類-H03K 7/08 A
2015年02月10日 特許庁 / 特許	OCT装置 FI分類-G01N 21/17 630
2015年02月09日 特許庁 / 特許	高周波用チョークコイルおよびその製造方法 FI分類-H03H 7/06, FI分類-H01F 17/00 B, FI分類-H01F 41/04 C
2015年02月06日 特許庁 / 特許	誤り率測定装置及び誤り率測定方法 FI分類-H04B 17/15, FI分類-H04B 17/29, FI分類-H04L 1/00 C, FI分類-H04L 25/49 L, FI分類-H04L 25/02 302 B
2015年02月04日 特許庁 / 特許	通信システム及び通信方法 FI分類-H04L 12/893, FI分類-H04L 12/46 E, FI分類-H04L 12/70 D
2015年01月26日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのシナリオ情報設定方法 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/00 D
2015年01月26日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とその状態表示方法 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/00 D
2015年01月23日 特許庁 / 特許	ミリ波帯フィルタ FI分類-H01P 1/04, FI分類-H01P 1/12, FI分類-H01P 1/212, FI分類-H01P 1/207 Z
2015年01月21日 特許庁 / 特許	OFDR装置 FI分類-G01D 5/26 D, FI分類-G01B 11/16 G, FI分類-G01D 5/353 C, FI分類-G01K 11/32 D
2015年01月19日 特許庁 / 特許	エンファシス付加装置及びエンファシス付加方法 FI分類-H04L 25/03 C, FI分類-H04L 25/02 302 Z
2015年01月07日 特許庁 / 特許	濾波装置および濾波方法 FI分類-H03M 1/10 A, FI分類-H03M 1/12 B, FI分類-H03H 17/02 601 Z, FI分類-H03H 17/02 671 Z
2015年01月06日 特許庁 / 特許	パラメータ設定装置及びパラメータ設定方法 FI分類-G05B 23/02 301 J, FI分類-G06F 3/048 654 B
2015年01月05日 特許庁 / 特許	ミリ波帯スペクトラムアナライザ FI分類-H01P 1/12, FI分類-H01P 1/207 C, FI分類-G01R 23/165 B, FI分類-G01R 23/173 F
2014年12月18日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのアップリンク信号試験方法 FI分類-H04W 24/06
2014年12月16日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置及び移動端末試験方法 FI分類-G01D 7/04, FI分類-H04M 1/00 U, FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04W 88/02 150
2014年12月12日 特許庁 / 特許	導波管スイッチ FI分類-H01P 1/12
2014年12月12日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04 310
2014年12月12日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04
2014年12月12日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04
2014年12月12日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2014年12月10日 特許庁 / 特許	電圧設定装置、それを備えたPLLシンセサイザ、信号分析装置及び信号発生装置並びに電圧設定方法 FI分類-H03L 7/10 D, FI分類-H03L 7/16 A
2014年12月09日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18
2014年12月05日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置とそのパラメータ入替方法 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04W 36/08, FI分類-H04W 72/04 111, FI分類-H04W 88/02 150
2014年12月04日 特許庁 / 特許	ミリ波帯伝送路変換構造 FI分類-H01P 5/107 Z
2014年12月03日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-H05K 7/20 B
2014年12月02日 特許庁 / 特許	無線端末測定装置及び無線端末測定方法 FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-H04B 17/00 D, FI分類-H04B 17/00 K
2014年10月31日 特許庁 / 特許	ミリ波帯伝送路変換構造 FI分類-H01P 5/107 Z
2014年10月22日 特許庁 / 特許	移動体端末試験装置および試験方法 FI分類-H04W 24/00, FI分類-H04M 1/00 R
2014年10月16日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 27/72
2014年10月07日 特許庁 / 特許	芯線検査装置および芯線検査方法 FI分類-G01M 11/00 G, FI分類-G01M 11/00 Q
2014年10月07日 特許庁 / 特許	光ファイバ試験装置及び光ファイバ試験システム FI分類-G01M 11/00 R, FI分類-H04B 9/00 171, FI分類-H04B 9/00 272
2014年10月03日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 23/04
2014年10月02日 特許庁 / 特許	金属検出機 FI分類-G01N 27/72, FI分類-G01V 3/10 F, FI分類-G01V 3/11 C
2014年09月30日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 23/04
2014年09月30日 特許庁 / 特許	除電装置及び除電方法 FI分類-H05F 3/02 K, FI分類-H05F 3/04 H
2014年09月30日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01N 23/04
2014年09月26日 特許庁 / 特許	移動体端末試験装置 FI分類-H04M 1/24 B
2014年09月25日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04
2014年09月24日 特許庁 / 特許	移動体端末試験装置 FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-G06F 3/048 620, FI分類-G06F 3/048 652 B, FI分類-G06F 3/048 655 B, FI分類-G06F 3/048 656 A
2014年09月24日 特許庁 / 特許	移動体端末試験装置 FI分類-G01R 13/20 S, FI分類-G01R 13/22 N
2014年09月19日 特許庁 / 特許	パラメータ設定装置、パラメータ設定方法及び移動端末試験装置 FI分類-G06F 3/048 620, FI分類-G06F 3/048 653 A, FI分類-G06F 3/048 654 D
2014年09月19日 特許庁 / 特許	画像表示装置及び画像表示方法 FI分類-G06F 3/048 620, FI分類-G06F 3/048 654 D, FI分類-G06F 3/048 656 D
2014年09月19日 特許庁 / 特許	パラメータ設定装置、パラメータ設定方法及び移動端末試験装置 FI分類-G05B 23/02 302 J, FI分類-G06F 3/048 654 D
2014年09月19日 特許庁 / 特許	移動端末試験装置 FI分類-G05B 23/02 301 J, FI分類-G06F 3/048 652 A
2014年09月19日 特許庁 / 特許	パラメータ設定装置、パラメータ設定方法及び移動端末試験装置 FI分類-G05B 23/02 301 J, FI分類-G06F 3/048 654 A
2014年09月19日 特許庁 / 特許	パラメータ設定装置、パラメータ設定方法及び移動端末試験装置 FI分類-G05B 23/02 301 J, FI分類-G06F 3/048 652 A, FI分類-G06F 3/048 654 B
2014年09月19日 特許庁 / 特許	パラメータ設定機能付き試験装置 FI分類-G06F 3/048, FI分類-G09G 5/38 Z, FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-G09G 5/22 680 L, FI分類-G09G 5/32 610 C
2014年09月17日 特許庁 / 特許	試験装置及びその校正方法 FI分類-H04B 7/04, FI分類-H04B 17/00 D
2014年09月02日 特許庁 / 特許	レーザ治療装置 FI分類-A61N 5/06 E, FI分類-A61B 19/00 506
2014年09月01日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-G01R 23/20 E, FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-H04B 17/00 J
2014年09月01日 特許庁 / 特許	濾波装置および濾波方法 FI分類-G01D 3/04 Z, FI分類-H03H 17/08 A, FI分類-H03H 17/02 655 Z
2014年08月18日 特許庁 / 特許	測定器保護装置および測定器保護方法 FI分類-H01R 24/40, FI分類-G01R 1/04 A, FI分類-G01R 23/173 Z
2014年08月04日 特許庁 / 特許	出力測定装置用アダプタ FI分類-G02B 6/38, FI分類-G02B 6/42, FI分類-A61N 5/06 Z, FI分類-G01J 1/02 M
2014年08月04日 特許庁 / 特許	出力測定装置用アダプタセット FI分類-A61N 5/06 E, FI分類-A61B 17/36 350
2014年08月04日 特許庁 / 特許	出力測定装置用アダプタ FI分類-G02B 6/36, FI分類-A61N 5/06 E, FI分類-G01M 11/02 F, FI分類-A61B 17/36 350
2014年07月31日 特許庁 / 特許	ミリ波帯スペクトラム解析装置およびそれに用いるミリ波帯フィルタの制御情報補正方法 FI分類-H01P 1/207 Z, FI分類-G01R 23/165 A, FI分類-G01R 23/173 F
2014年07月18日 特許庁 / 特許	ミリ波帯フィルタ FI分類-H01P 1/06, FI分類-H01P 1/207 Z
2014年07月09日 特許庁 / 特許	ネットワーク試験装置及びネットワーク試験方法 FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-H04L 13/00 315 Z
2014年07月03日 特許庁 / 特許	試験装置及び試験方法 FI分類-G06F 3/048 656 A, FI分類-G06F 3/048 657 A
2014年07月03日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-G06F 9/06 630 A, FI分類-G06F 9/06 630 D
2014年07月02日 特許庁 / 特許	ネットワーク試験装置及びネットワーク試験方法 FI分類-H04L 12/26, FI分類-H04L 12/70 100 A
2014年06月17日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04
2014年06月10日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 L, FI分類-G01T 1/167 E
2014年06月05日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04
2014年05月28日 特許庁 / 特許	ミリ波帯フィルタ FI分類-H01P 1/04, FI分類-H01P 1/06, FI分類-H01P 7/06, FI分類-H01P 1/208 Z
2014年04月24日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01T 1/20 A, FI分類-G01T 1/20 E
2014年04月17日 特許庁 / 特許	ミリ波帯用電波ハーフミラーおよびその透過係数平坦化方法 FI分類-H01P 1/207 Z
2014年04月10日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01B 15/08, FI分類-G01N 23/04
2014年04月07日 特許庁 / 特許	ミリ波帯フィルタ FI分類-H01P 1/06, FI分類-H01P 1/207 Z
2014年04月07日 特許庁 / 特許	レーザ治療装置 FI分類-A61N 5/06 E
2014年03月31日 特許庁 / 特許	ネットワーク試験装置およびネットワーク試験方法 FI分類-H04J 3/14 A, FI分類-H04L 13/00 313
2014年03月31日 特許庁 / 特許	金属検出装置 FI分類-G01V 3/10 F, FI分類-G01V 3/11 C
2014年03月28日 特許庁 / 特許	試験装置及び試験方法 FI分類-H04M 1/24 A, FI分類-H04B 17/00 D
2014年03月28日 特許庁 / 特許	干渉波電力測定装置及び干渉波電力測定方法並びにSIR測定装置及びSIR測定方法 FI分類-H04J 1/00, FI分類-H04B 17/00 R, FI分類-H04J 11/00 Z
2014年03月28日 特許庁 / 特許	試験装置及び試験方法 FI分類-H04M 1/24 B, FI分類-H04B 17/00 D, FI分類-G06F 11/28 340 C
2014年03月28日 特許庁 / 特許	光周波数領域反射測定方法、光周波数領域反射測定装置およびそれを用いた位置または形状を測定する装置 FI分類-G02B 6/16, FI分類-G02B 6/26, FI分類-G02B 6/04 C, FI分類-G02B 6/10 C, FI分類-G01D 5/353 C, FI分類-A61B 1/00 320 Z
2014年03月28日 特許庁 / 特許	光周波数領域反射測定方法、光周波数領域反射測定装置およびそれを用いた位置または形状を測定する装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/00 G, FI分類-G01B 11/24 D, FI分類-G01M 11/00 Q, FI分類-G01M 11/00 U, FI分類-G01M 11/02 F
2014年03月28日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04
2014年03月26日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04
2014年03月26日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04
2014年03月26日 特許庁 / 特許	測定時の競合検出装置及び競合検出方法 FI分類-H04L 13/00 315 Z
2014年03月26日 特許庁 / 特許	測定時の競合検出装置及び競合検出方法 FI分類-H04L 13/00 315
2014年03月25日 特許庁 / 特許	表示装置および物品検査システム FI分類-B65B 57/00 A, FI分類-B65B 57/10 B
2014年03月24日 特許庁 / 特許	表示装置およびそれを備えた重量検査システム FI分類-G01D 7/00 F, FI分類-G01G 23/37 J, FI分類-G01G 23/42 B
2014年03月20日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-H04Q 1/20
2014年03月20日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-G01D 21/00 N, FI分類-G06F 3/048 651 A, FI分類-G06F 3/048 654 B, FI分類-G06F 3/048 656 A, FI分類-H04L 12/28 200 M
2014年03月20日 特許庁 / 特許	物品検査装置 FI分類-G01V 3/10 A, FI分類-B65G 43/08 C
2014年03月19日 特許庁 / 特許	パケット中継装置 FI分類-H04L 12/865
2014年03月18日 特許庁 / 特許	電源制御装置および電源制御方法ならびに測定装置 FI分類-G06F 1/00 320 J, FI分類-G06F 1/00 334 B
2014年03月14日 特許庁 / 特許	ミリ波帯フィルタ FI分類-H01P 1/207 B
2014年03月13日 特許庁 / 特許	金属検出装置 FI分類-G01N 27/72, FI分類-G01V 3/10 F, FI分類-G01V 3/10 H, FI分類-G01R 33/02 Q
2014年03月12日 特許庁 / 特許	電気特性調整装置及び電気特性調整方法 FI分類-H03B 1/00 D, FI分類-G01R 23/16 E, FI分類-G09G 5/00 510 D, FI分類-G09G 5/00 510 H, FI分類-G09G 5/36 510 A, FI分類-G06F 3/048 654 A, FI分類-G06F 3/048 658 A, FI分類-G06F 3/048 658 B
2014年03月04日 特許庁 / 特許	重量測定装置 FI分類-G01G 21/26, FI分類-G01G 23/01 K
2014年02月28日 特許庁 / 特許	重量測定装置 FI分類-B65G 25/02 Z, FI分類-G01G 11/00 H, FI分類-G01G 11/00 M, FI分類-G01G 17/04 C
2014年02月27日 特許庁 / 特許	フレーム信号発生装置およびフレーム信号発生方法 FI分類-H04M 3/26 Z, FI分類-H04L 13/00 315 Z
2014年02月24日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01T 7/00 A
2014年02月24日 特許庁 / 特許	X線検査装置 FI分類-G01N 23/04
2014年02月17日 特許庁 / 特許	重量測定装置 FI分類-B07C 5/18, FI分類-G01G 21/28, FI分類-G01G 17/04 C
2014年02月17日 特許庁 / 特許	搬送装置及び該搬送装置を用いた検査装置 FI分類-B65G 25/02 C, FI分類-G01G 11/00 M, FI分類-G01G 17/00 Z
2014年02月14日 特許庁 / 特許	重量測定装置 FI分類-G01G 3/14, FI分類-G01G 21/30
2014年02月13日 特許庁 / 特許	重量測定装置 FI分類-B07C 5/16, FI分類-G01G 15/00 A, FI分類-G01G 17/04 C
2014年02月03日 特許庁 / 特許	シナリオ生成装置、シナリオ生成方法及びシナリオ生成プログラム FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/00 D
2014年02月03日 特許庁 / 特許	シナリオ生成装置、シナリオ生成方法及びシナリオ生成プログラム FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04M 1/24 B
2014年01月31日 特許庁 / 特許	信号解析装置および信号解析方法 FI分類-G01R 23/16 D, FI分類-G01R 23/173 Z
2014年01月31日 特許庁 / 特許	信号解析装置および信号解析方法 FI分類-G01R 23/16 D, FI分類-G01R 23/173 Z
2014年01月31日 特許庁 / 特許	光パルス試験装置および光パルス試験装置の光強度安定化方法 FI分類-G01M 11/00 R
2014年01月30日 特許庁 / 特許	移動体端末試験装置および試験方法 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/00 D
2014年01月29日 特許庁 / 特許	移動体端末試験装置および試験方法 FI分類-H04W 24/06, FI分類-H04B 17/00 D

アンリツ株式会社の商標情報(20件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2023年04月17日 特許庁 / 商標	TestDeck 42類
2023年04月17日 特許庁 / 商標	TestDeck 42類
2023年02月24日 特許庁 / 商標	§Anritsu 35類
2023年02月10日 特許庁 / 商標	AccelVision 09類
2023年02月10日 特許庁 / 商標	Estinargy 09類
2022年12月15日 特許庁 / 商標	TestDeck 42類
2021年03月05日 特許庁 / 商標	§Anritsu＼Advancing beyond 09類, 10類, 37類, 42類
2021年03月05日 特許庁 / 商標	§Anritsu Advancing beyond 09類, 10類, 37類, 42類
2021年01月28日 特許庁 / 商標	Advancing beyond 09類, 10類, 37類, 42類
2018年08月28日 特許庁 / 商標	AdaptiveGateway 09類
2017年09月19日 特許庁 / 商標	§Channel Visualizer 09類
2017年09月19日 特許庁 / 商標	CHANNEL VISUALIZER 09類
2017年07月18日 特許庁 / 商標	SQA-R 09類
2017年05月31日 特許庁 / 商標	SQA 09類
2017年05月31日 特許庁 / 商標	SQA-R 09類
2015年12月18日 特許庁 / 商標	§Anritsu 10類
2015年10月23日 特許庁 / 商標	QUICCA 42類
2015年06月15日 特許庁 / 商標	§Anritsu 09類
2015年03月27日 特許庁 / 商標	Anritsu Infivis 09類
2014年01月17日 特許庁 / 商標	envision:ensure 09類

アンリツ株式会社の意匠情報(1件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2014年02月25日 特許庁 / 意匠	重量測定機 意匠新分類-J12100

アンリツ株式会社の職場情報

項目	データ
事業概要	電子計測器、精密計測機器、ＩＰネットワーク機器等の製造販売
企業規模	1,067人 男性 1,634人 / 女性 359人
平均勤続年数 範囲 その他	男性 20.7年 / 女性 15.8年
女性労働者の割合 範囲 その他	24.7%
管理職全体人数	318人 男性 310人 / 女性 8人
役員全体人数	26人 男性 24人 / 女性 2人

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