旭化成エレクトロニクス株式会社

旭化成エレクトロニクス株式会社とは

名称の「株式会社」について(β版)

旭化成エレクトロニクス株式会社の基本情報

項目	内容
商号又は名称	旭化成エレクトロニクス株式会社
商号又は名称（読み仮名）フリガナ	アサヒカセイエレクトロニクス
法人番号	4010001121591
会社法人等番号	0100-01-121591
登記所	東京法務局 ※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号 ※2024年08月31日更新 インボイス番号	T4010001121591 ※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。 (2024年08月31日現在)
法人種別	株式会社
郵便番号	〒100-0006 ※地方自治体コードは 13101
国内所在地（都道府県）都道府県	東京都 ※東京都の法人数は 1,322,146件
国内所在地（市区町村）市区町村	千代田区 ※千代田区の法人数は 99,160件
国内所在地（丁目番地等）丁目番地	有楽町1丁目1番2号
国内所在地（1行表示）1行表示	東京都千代田区有楽町1丁目1番2号
国内所在地（読み仮名）読み仮名	-
代表者	代表取締役社長 篠宮 秀行
従業員数	753人
更新年月日更新日	2018年09月12日
変更年月日変更日	2018年09月07日
法人番号指定年月日指定日	2015年10月05日 ※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局	東京労働局 〒102-8305～〒102-8307 東京都千代田区九段南1丁目2番1号 九段第3合同庁舎12階～14階
管轄の労働基準監督署労働基準監督署	中央労働基準監督署 〒112-8573 東京都文京区後楽1-9-20飯田橋合同庁舎6・7階

旭化成エレクトロニクス株式会社の場所

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旭化成エレクトロニクス株式会社の登録履歴

日付	内容
2018年09月07日	【住所変更】 国内所在地が「東京都千代田区有楽町1丁目1番2号」に変更されました。
2015年10月05日	【新規登録】 名称が「旭化成エレクトロニクス株式会社」で、「東京都千代田区神田神保町1丁目105番地」に新規登録されました。

旭化成エレクトロニクス株式会社の法人活動情報

旭化成エレクトロニクス株式会社の表彰情報(8件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「プラチナくるみん」特例認定 2016
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2016
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2013
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2010
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2007
2017年12月05日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「プラチナくるみん」特例認定 2016年
2017年12月05日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2007年・2010年・2013年・2016年
2017年12月04日 厚生労働省	両立支援のひろば 一般事業主行動計画公表

旭化成エレクトロニクス株式会社の届出情報(3件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2017年11月29日 経済産業省	支店:旭化成エレクトロニクス株式会社 生産センターFP製造部 PRTR届出データ / PRTR - 電気機械器具製造業(経済産業大臣)
2017年11月29日 経済産業省	支店:旭化成エレクトロニクス株式会社 生産センター第二製造部 PRTR届出データ / PRTR - 電気機械器具製造業(経済産業大臣)
2017年11月29日 経済産業省	支店:旭化成エレクトロニクス株式会社 生産センター第一製造部 PRTR届出データ / PRTR - 電気機械器具製造業(経済産業大臣)

旭化成エレクトロニクス株式会社の特許情報(360件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2023年09月25日 特許庁 / 特許	認証システム、認証方法、及びプログラム FI分類-B60R 25/24, FI分類-B60R 25/25, FI分類-B60W 40/08, FI分類-B60W 50/08
2023年01月10日 特許庁 / 特許	情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム FI分類-G06Q 50/10
2022年12月27日 特許庁 / 特許	認証装置、認証方法、及びプログラム FI分類-G06Q 50/26, FI分類-G08C 15/00 D
2022年10月24日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/20 C
2022年10月04日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/20 C
2022年10月04日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/20 C
2022年10月04日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/20 C
2022年07月07日 特許庁 / 特許	二酸化炭素濃度予測システム、二酸化炭素濃度予測方法および二酸化炭素濃度予測プログラム FI分類-F24F 11/52, FI分類-F24F 11/74, FI分類-G06Q 10/04, FI分類-G08B 21/12, FI分類-F24F 11/523, FI分類-F24F 110:70, FI分類-F24F 120:14, FI分類-G01N 33/00 C
2022年06月30日 特許庁 / 特許	半導体パッケージ、及び駆動装置 FI分類-G01R 33/07, FI分類-G03B 30/00, FI分類-G03B 5/00 J, FI分類-G01R 33/02 U, FI分類-H01L 25/04 Z
2022年05月31日 特許庁 / 特許	カメラモジュールおよびICチップ FI分類-G03B 17/02, FI分類-G03B 30/00, FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-G03B 5/00 J, FI分類-H04N 5/225 700, FI分類-G01B 7/00 103 R
2022年03月23日 特許庁 / 特許	校正指示装置、センサ、センサシステム、校正指示方法、及びプログラム FI分類-H04M 1/72, FI分類-G01N 21/3504
2022年03月23日 特許庁 / 特許	認証システム、及び認証サーバ FI分類-G08C 15/06 H, FI分類-G08C 25/00 H, FI分類-G06F 21/60 360, FI分類-H04M 11/00 301
2022年03月23日 特許庁 / 特許	認証システム、及び認証サーバ FI分類-G06F 21/86, FI分類-G06Q 50/10, FI分類-G08C 15/06 H, FI分類-G08C 25/00 H, FI分類-G06F 21/62 318, FI分類-H04M 11/00 302, FI分類-H04Q 9/00 301 B, FI分類-H04Q 9/00 311 H
2022年03月11日 特許庁 / 特許	感染リスク判定システム、感染リスク判定方法および感染リスク判定プログラム FI分類-A61B 5/083, FI分類-A61B 5/113, FI分類-G16H 50/80, FI分類-A61B 5/1171, FI分類-G01V 8/10 S, FI分類-A61B 5/22 100, FI分類-A61B 5/00 102 B, FI分類-G06T 7/00 660 Z
2022年03月11日 特許庁 / 特許	リスク情報提供装置、リスク情報提供システム、リスク情報提供方法およびリスク情報提供プログラム FI分類-G06Q 50/10, FI分類-G08B 21/02, FI分類-G08B 25/04 K
2021年11月15日 特許庁 / 特許	カメラモジュール、ポータブル電子機器、および、位置制御システム FI分類-G03B 13/36, FI分類-G03B 30/00, FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-G02B 7/08 B, FI分類-G02B 7/08 C, FI分類-G02B 7/28 N, FI分類-G03B 5/00 J, FI分類-H04N 5/225 100, FI分類-H04N 5/232 480
2020年12月08日 特許庁 / 特許	駆動制御装置、駆動制御方法、および駆動制御プログラム FI分類-H02P 29/00, FI分類-H04N 5/232, FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-G02B 7/08 C, FI分類-G03B 5/00 J
2020年12月02日 特許庁 / 特許	設計支援装置、設計支援方法、設計支援システムおよび設計支援プログラム FI分類-H05K 3/00 D, FI分類-G06F 17/50 666 T, FI分類-G06F 17/50 672 Z
2020年11月05日 特許庁 / 特許	車内異常検出装置及び車内異常検出方法 FI分類-G08B 21/02, FI分類-G08B 21/22, FI分類-G08B 25/04 K
2020年09月18日 特許庁 / 特許	受発光装置 FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 21/3504
2020年09月18日 特許庁 / 特許	窒化物半導体素子 FI分類-H01L 33/32, FI分類-H01L 33/38, FI分類-H01L 33/40
2020年06月24日 特許庁 / 特許	チャージポンプ装置 FI分類-H02M 3/07
2020年05月29日 特許庁 / 特許	半導体装置および半導体装置の製造方法 FI分類-H01L 21/56 R, FI分類-H01L 23/28 A, FI分類-H01L 23/28 J, FI分類-H01L 25/14 Z, FI分類-H01L 31/02 B
2020年05月13日 特許庁 / 特許	タイミング同期回路 FI分類-H04L 7/033, FI分類-G06F 1/06 510, FI分類-H03L 7/00 210, FI分類-H04L 7/00 080, FI分類-G06F 1/04 303 A
2020年05月12日 特許庁 / 特許	電流センサおよび電流センサの製造方法 FI分類-G01R 15/20 C
2020年03月24日 特許庁 / 特許	紫外線発光素子 FI分類-H01L 33/32, FI分類-H01L 33/38
2020年03月16日 特許庁 / 特許	受発光装置及び劣化診断方法 FI分類-G01R 31/00, FI分類-G01J 1/00 C, FI分類-G01R 31/26 F, FI分類-G01R 35/00 L
2020年01月31日 特許庁 / 特許	磁場計測装置、磁場計測方法、および、磁場計測プログラム FI分類-G01R 33/09, FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/02 R, FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-G01R 35/00 M
2020年01月28日 特許庁 / 特許	光学式濃度測定装置および光導波路 FI分類-G02B 6/124, FI分類-G01N 21/552
2020年01月17日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 33/09, FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/02 L, FI分類-G01R 33/02 R, FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-G01R 33/02 X
2020年01月15日 特許庁 / 特許	光学式濃度測定装置および光導波路 FI分類-G01N 21/552
2019年12月25日 特許庁 / 特許	磁場計測装置 FI分類-G01R 33/09, FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/02 R
2019年12月25日 特許庁 / 特許	磁場計測装置 FI分類-A61B 5/243, FI分類-G01R 33/02 L, FI分類-G01R 33/02 R
2019年12月09日 特許庁 / 特許	気体濃度算出装置の製造方法、気体濃度算出装置 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01J 1/04 K
2019年12月05日 特許庁 / 特許	NDIRガスセンサ及び光学デバイス FI分類-G02B 5/28, FI分類-G01N 21/61, FI分類-H01L 33/30, FI分類-G01N 21/3504, FI分類-H01L 31/10 A
2019年12月04日 特許庁 / 特許	ガスセンサ FI分類-G01N 21/53 Z
2019年11月14日 特許庁 / 特許	カメラモジュール FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-G03B 5/00 J, FI分類-H02K 33/16 A, FI分類-G01B 7/00 102 M
2019年10月31日 特許庁 / 特許	デバイスおよびシステム FI分類-H02M 3/07, FI分類-H04L 25/02 F, FI分類-G05F 1/56 310 D
2019年10月18日 特許庁 / 特許	磁気センサの検査装置、磁気センサの検査方法 FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-G01R 35/00 M
2019年10月17日 特許庁 / 特許	温度制御回路、発振制御回路及び温度制御方法 FI分類-H03B 5/32 A, FI分類-G05D 23/00 Z, FI分類-G05D 23/19 Z
2019年09月25日 特許庁 / 特許	逐次比較AD変換器 FI分類-H03M 1/38
2019年08月30日 特許庁 / 特許	レンズ駆動装置、レンズ駆動方法、およびプログラム FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-G03B 5/00 J
2019年08月21日 特許庁 / 特許	磁場計測装置、磁場計測方法、磁場計測プログラム FI分類-G01R 33/09, FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/025, FI分類-G01R 33/02 R, FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-G01R 35/00 M, FI分類-H01L 43/08 U
2019年08月21日 特許庁 / 特許	磁場計測装置、磁場計測方法、磁場計測プログラム FI分類-G01R 33/09, FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/02 L, FI分類-G01R 33/02 R, FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-G01R 35/00 M, FI分類-H01L 29/82 Z, FI分類-H01L 43/08 Z
2019年08月21日 特許庁 / 特許	磁場計測装置、磁場計測方法、磁場計測プログラム FI分類-G01R 33/09, FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/02 R, FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-G01R 35/00 M
2019年08月14日 特許庁 / 特許	光デバイス FI分類-G01J 1/04 A
2019年08月14日 特許庁 / 特許	光デバイス FI分類-G02B 3/08, FI分類-G01J 1/02 H, FI分類-G01J 1/02 Q, FI分類-H01L 31/02 D
2019年08月13日 特許庁 / 特許	半導体素子 FI分類-H01L 23/50 R
2019年08月07日 特許庁 / 特許	心磁計測装置、心磁計測方法、および、心磁計測プログラム FI分類-G01R 33/10, FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/02 R, FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-G01R 35/00 M
2019年06月21日 特許庁 / 特許	復調装置 FI分類-H04L 27/22 F
2019年06月12日 特許庁 / 特許	電流センサ、検出装置、検出方法、およびプログラム FI分類-G01R 19/00 M
2019年06月07日 特許庁 / 特許	位相調整回路及び位相調整方法 FI分類-H03H 11/16 Z, FI分類-H04B 7/06 150
2019年06月07日 特許庁 / 特許	光導波路及び光学式濃度測定装置 FI分類-G02B 6/12, FI分類-G02B 6/125, FI分類-G01N 21/552
2019年06月03日 特許庁 / 特許	NDIRガスセンサ及び光学デバイス FI分類-G02B 5/28, FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/3504
2019年06月03日 特許庁 / 特許	光学デバイス FI分類-G02B 5/28, FI分類-G01N 21/61, FI分類-H01L 31/02 D
2019年05月24日 特許庁 / 特許	ガス検出装置 FI分類-G01N 21/61
2019年05月24日 特許庁 / 特許	センサ装置およびシステムならびに生体センシング方法およびシステム FI分類-G01S 13/34, FI分類-A61B 5/11 110, FI分類-G01S 13/93 220
2019年05月23日 特許庁 / 特許	光導波路及び光学式濃度測定装置 FI分類-G01N 21/552, FI分類-G01N 21/3504, FI分類-G01N 21/3577
2019年05月16日 特許庁 / 特許	磁場測定装置、磁場測定方法、および磁場測定プログラム FI分類-G01R 33/09, FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-G01R 35/00 M, FI分類-H01L 43/08 A, FI分類-H01L 43/08 Z
2019年05月08日 特許庁 / 特許	磁気センサ及び磁気センサモジュール FI分類-G01R 33/07, FI分類-G01R 33/02 L, FI分類-H01L 43/06 Z
2019年04月17日 特許庁 / 特許	不揮発性記憶素子 FI分類-H01L 27/04 F, FI分類-H01L 27/088 H, FI分類-H01L 27/11521, FI分類-H01L 27/11531, FI分類-H01L 29/78 371
2019年04月11日 特許庁 / 特許	回転角検出装置、回転角検出方法およびプログラム FI分類-G01D 5/244 B, FI分類-G01D 5/245 110 L
2019年03月27日 特許庁 / 特許	心磁計測装置 FI分類-G01R 33/09, FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-G01R 35/00 M
2019年03月25日 特許庁 / 特許	制御装置、制御システム、および開閉部材 FI分類-E05B 47/00 H, FI分類-E05B 47/00 Z
2019年03月25日 特許庁 / 特許	音声処理装置、音声処理方法、および音声処理システム FI分類-H04R 3/02, FI分類-H04R 3/04, FI分類-H04R 3/00 320
2019年03月25日 特許庁 / 特許	情報通信装置および情報通信方法 FI分類-G01N 33/497 A
2019年03月25日 特許庁 / 特許	制御装置、制御システム、および開閉部材 FI分類-E05B 47/00 H, FI分類-E05B 47/00 Z
2019年03月25日 特許庁 / 特許	情報通信装置および情報通信方法 FI分類-G01N 33/497 A, FI分類-G06F 3/01 510
2019年03月22日 特許庁 / 特許	学習処理装置、学習処理方法、化合物半導体の製造方法およびプログラム FI分類-C23C 14/54 F, FI分類-H01L 21/203 M
2019年03月19日 特許庁 / 特許	学習処理装置、学習処理方法、化合物半導体の製造方法およびプログラム FI分類-G06N 20/00, FI分類-H01L 21/205, FI分類-C23C 14/22 Z, FI分類-C23C 14/54 F
2019年02月28日 特許庁 / 特許	測定装置、信号処理装置、信号処理方法、および、信号処理プログラム FI分類-G01R 33/09, FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/02 L
2019年02月18日 特許庁 / 特許	発振器制御回路及び集積回路 FI分類-H03B 5/32 J
2019年02月06日 特許庁 / 特許	赤外線発光素子 FI分類-H01L 33/30, FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 21/3504
2019年01月30日 特許庁 / 特許	制御装置および制御方法 FI分類-F03G 7/06 E, FI分類-F03G 7/06 F, FI分類-G05D 3/00 C
2019年01月22日 特許庁 / 特許	心磁計測装置、較正方法、および較正プログラム FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/02 R, FI分類-G01R 33/02 X
2019年01月21日 特許庁 / 特許	磁気検出装置 FI分類-G01R 33/09, FI分類-G01D 5/16 G, FI分類-G01R 33/02 L, FI分類-H01L 43/08 Z
2019年01月21日 特許庁 / 特許	磁気検出装置 FI分類-A61B 5/243, FI分類-A61B 5/245, FI分類-G01R 33/09, FI分類-G01R 33/10, FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-H01L 43/02 Z, FI分類-H01L 43/08 Z
2018年12月26日 特許庁 / 特許	磁気センサモジュール及びこれに用いるICチップ FI分類-G01R 33/02 L, FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-G01R 35/00 M
2018年12月12日 特許庁 / 特許	磁気センサ装置 FI分類-G01R 33/07, FI分類-G01R 33/09, FI分類-G01R 33/02 L, FI分類-G01R 33/02 U, FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-G01R 35/00 M, FI分類-H01L 43/08 Z
2018年12月12日 特許庁 / 特許	光学式濃度測定装置および光学式濃度測定装置の制御方法 FI分類-G01N 21/3504, FI分類-G01N 21/59 Z
2018年12月06日 特許庁 / 特許	デルタシグマ変調器およびデルタシグマ変換器 FI分類-H03M 3/02
2018年12月04日 特許庁 / 特許	復調装置 FI分類-H04L 27/22 F, FI分類-H04L 27/227 100
2018年11月14日 特許庁 / 特許	カメラモジュール FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-G02B 7/08 Z, FI分類-G03B 5/00 J, FI分類-H04N 5/225 100, FI分類-H04N 5/225 700
2018年11月12日 特許庁 / 特許	光導波路及び光学式濃度測定装置 FI分類-G02B 6/34, FI分類-G02B 6/42, FI分類-G02B 6/124, FI分類-G01N 21/552, FI分類-G01N 21/3504, FI分類-G01N 21/3577
2018年11月05日 特許庁 / 特許	温度補償電圧生成回路、発振モジュール、及び、システム FI分類-H03B 5/32 A
2018年10月29日 特許庁 / 特許	赤外線検出素子 FI分類-G01J 1/02 B, FI分類-G01J 1/02 C, FI分類-H01L 31/10 A
2018年10月24日 特許庁 / 特許	半導体パッケージ及びカメラモジュール FI分類-G02B 7/08 A, FI分類-G03B 5/00 J, FI分類-H04N 5/225 700, FI分類-H01L 23/12 501 P
2018年10月23日 特許庁 / 特許	光デバイス FI分類-H01L 33/22, FI分類-H01L 33/54, FI分類-H01L 33/62, FI分類-H01L 23/30 F, FI分類-H01L 25/14 Z, FI分類-H01L 31/02 B, FI分類-H01L 31/10 A, FI分類-H01L 23/12 501 P
2018年10月15日 特許庁 / 特許	回転角検出装置、回転角検出方法およびプログラム FI分類-G01D 5/244 B
2018年10月11日 特許庁 / 特許	磁気センサ装置 FI分類-G01R 33/09, FI分類-G01R 33/02 L, FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-G01R 35/00 M, FI分類-H01L 43/08 Z
2018年10月02日 特許庁 / 特許	光導波路および光学式濃度測定装置 FI分類-G01N 21/17 N
2018年09月19日 特許庁 / 特許	光導波路、光学式濃度測定装置、および製造方法 FI分類-G02B 6/124, FI分類-G02B 6/136, FI分類-G01N 21/552, FI分類-G02B 6/122 311
2018年08月31日 特許庁 / 特許	充電装置 FI分類-H02J 50/20, FI分類-H02J 50/80, FI分類-H02J 7/00 Y, FI分類-H02J 7/10 B, FI分類-H02J 7/10 H, FI分類-H02J 7/00 301 D
2018年08月30日 特許庁 / 特許	赤外線検出素子 FI分類-H01L 31/10 A
2018年08月29日 特許庁 / 特許	検出装置および検出システム FI分類-G01D 5/16 M, FI分類-G01D 5/245 110 B
2018年08月24日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01R 33/09, FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/02 R
2018年08月24日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01R 33/09, FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/025, FI分類-G01R 33/02 R
2018年08月08日 特許庁 / 特許	窓開閉検出装置 FI分類-G08B 13/08 A
2018年07月31日 特許庁 / 特許	データ出力装置およびAD変換装置 FI分類-H03M 1/08 A, FI分類-H03M 1/12 C
2018年07月25日 特許庁 / 特許	学習処理装置、学習処理方法、化合物半導体の製造方法、および、プログラム FI分類-C23C 14/22 Z, FI分類-C23C 14/54 F, FI分類-H01L 21/203 M
2018年07月24日 特許庁 / 特許	学習処理装置、学習処理方法、化合物半導体の製造方法およびプログラム FI分類-C23C 14/54, FI分類-C30B 23/08 M, FI分類-H01L 21/203 M
2018年07月18日 特許庁 / 特許	ホール素子及び磁気センサ FI分類-H01L 43/06 D
2018年06月27日 特許庁 / 特許	検出装置、方法、システム、算出装置、および算出方法 FI分類-G01D 5/244 J
2018年06月27日 特許庁 / 特許	検出装置、方法、システム、算出装置、および算出方法 FI分類-G01D 5/244 F, FI分類-G01D 5/245 B
2018年06月19日 特許庁 / 特許	赤外線発光ダイオード FI分類-H01L 33/20, FI分類-H01L 33/30, FI分類-H01L 33/52, FI分類-H01L 21/205
2018年05月11日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-G01R 33/09, FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-H01L 43/02 Z, FI分類-H01L 43/08 P, FI分類-H01L 43/08 Z
2018年04月17日 特許庁 / 特許	磁気検出装置、電流検出装置、磁気検出装置の製造方法、及び電流検出装置の製造方法 FI分類-G01R 33/07, FI分類-G01R 33/09, FI分類-H01L 43/04, FI分類-G01R 15/20 C, FI分類-G01R 33/02 U, FI分類-H01L 25/00 B
2018年04月13日 特許庁 / 特許	駆動制御装置、デバイス、光学モジュール、駆動制御方法、およびプログラム FI分類-G02B 7/08 C, FI分類-G03B 5/00 J, FI分類-G05B 11/36 D
2018年03月29日 特許庁 / 特許	受発光装置及び光学式濃度測定装置 FI分類-G01N 21/3504
2018年03月23日 特許庁 / 特許	赤外線発光素子 FI分類-H01L 33/30
2018年02月28日 特許庁 / 特許	人体検出装置、人体検出システム、プログラムおよび人体検出方法 FI分類-G01V 8/20 P, FI分類-G01V 8/20 Q
2018年02月23日 特許庁 / 特許	不揮発性記憶素子および基準電圧生成回路 FI分類-G05F 3/24 B, FI分類-H01L 27/11558, FI分類-H01L 29/78 371
2018年02月23日 特許庁 / 特許	基準電圧生成回路 FI分類-G05F 3/24 B, FI分類-H01L 27/11526, FI分類-H01L 27/11558, FI分類-G11C 16/04 143, FI分類-H01L 29/78 371
2018年02月23日 特許庁 / 特許	不揮発性記憶素子および基準電圧生成回路 FI分類-H10B 41/40, FI分類-H10B 41/60, FI分類-G05F 3/24 B, FI分類-H01L 27/04 G, FI分類-H01L 27/04 V, FI分類-H01L 27/088 C, FI分類-G11C 16/04 140, FI分類-H01L 29/78 371, FI分類-H01L 27/088 311 A
2018年01月31日 特許庁 / 特許	光導波路及び光学式濃度測定装置 FI分類-G02B 6/122, FI分類-G01N 21/552
2018年01月25日 特許庁 / 特許	光学式濃度測定装置および光学式濃度測定装置の製造方法 FI分類-G02B 6/124, FI分類-G01N 21/552, FI分類-G02B 6/122 311
2018年01月24日 特許庁 / 特許	光導波路及び光学式濃度測定装置 FI分類-G01N 21/552
2018年01月09日 特許庁 / 特許	磁気センサ装置、電流センサ装置、および、システム FI分類-G01R 15/20, FI分類-G01R 33/07
2017年12月28日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-G01R 33/07, FI分類-G01R 33/02 A, FI分類-G01R 33/02 L, FI分類-H01L 43/06 A, FI分類-H01L 43/06 P, FI分類-H01L 43/06 Z
2017年12月28日 特許庁 / 特許	光電変換装置及び光電変換装置の製造方法 FI分類-H01L 33/54, FI分類-H01L 33/62, FI分類-H01L 31/02 B
2017年12月27日 特許庁 / 特許	半導体装置及び半導体装置の製造方法 FI分類-H01L 27/088 B, FI分類-H01L 29/78 301 C, FI分類-H01L 29/78 301 H, FI分類-H01L 29/78 301 S
2017年12月19日 特許庁 / 特許	受光装置及び受発光装置 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01J 1/02 C, FI分類-G01J 1/42 N, FI分類-G01J 1/44 D
2017年12月19日 特許庁 / 特許	発光装置及び受発光装置 FI分類-G01N 21/61, FI分類-H01L 31/12 D, FI分類-H01L 33/00 J
2017年12月19日 特許庁 / 特許	ブレ量算出装置、ブレ量補正装置、撮像装置、方法、およびプログラム FI分類-G03B 5/00 J
2017年12月18日 特許庁 / 特許	光学式濃度測定装置 FI分類-G01N 21/552, FI分類-H01L 31/12 B
2017年12月14日 特許庁 / 特許	光デバイス及び光デバイスの製造方法 FI分類-H01L 33/58, FI分類-G01J 1/06 A, FI分類-H01L 31/02 B, FI分類-H01L 31/02 D
2017年12月05日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/20 A, FI分類-G01R 15/20 C
2017年11月29日 特許庁 / 特許	光導波路及び光学式濃度測定装置 FI分類-G02B 6/42, FI分類-G02B 6/122, FI分類-G01N 21/17 N
2017年11月22日 特許庁 / 特許	光デバイス及びその製造方法 FI分類-H01L 33/56, FI分類-H01L 33/58, FI分類-H01L 31/02 B
2017年11月15日 特許庁 / 特許	ダイレクトコンバージョン受信機 FI分類-H04B 1/30, FI分類-H04B 1/10 N, FI分類-H04B 1/16 R, FI分類-H04L 27/14 J
2017年10月16日 特許庁 / 特許	角度検出装置、角度検出方法、およびプログラム FI分類-G01D 5/244 B
2017年09月27日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-H01L 43/04, FI分類-G01R 33/02 U, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 Z
2017年09月12日 特許庁 / 特許	受光装置及び受光装置の補償方法 FI分類-H05B 37/02 J
2017年09月12日 特許庁 / 特許	受発光装置及び受発光装置の補償方法 FI分類-H05B 37/02 Z
2017年08月31日 特許庁 / 特許	赤外線発光素子 FI分類-H01L 33/20, FI分類-H01L 33/30, FI分類-H01L 33/52
2017年08月31日 特許庁 / 特許	デバイス、システム、設定方法、およびプログラム FI分類-G06F 13/14 320 A
2017年08月31日 特許庁 / 特許	設定装置、デバイス、および設定方法 FI分類-H04L 12/40 A, FI分類-G06F 13/14 320 A
2017年07月19日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/20 A, FI分類-G01R 19/00 B, FI分類-G01R 19/00 N
2017年07月07日 特許庁 / 特許	駆動装置、デバイス、駆動システム、プログラムおよび駆動方法 FI分類-G03B 5/00 J, FI分類-G05B 11/36 D, FI分類-H04N 5/232 480
2017年07月06日 特許庁 / 特許	検知装置、セキュリティ機器、音声認識装置、および照明機器 FI分類-G01S 15/04, FI分類-G01S 7/527, FI分類-G08B 13/16 B
2017年06月30日 特許庁 / 特許	駆動装置および駆動システム FI分類-G03B 5/00 J, FI分類-H02P 5/52 A, FI分類-G06F 13/14 320 D
2017年06月22日 特許庁 / 特許	受発光装置及び光検出方法 FI分類-H01L 27/15 D, FI分類-H01L 31/12 B, FI分類-H01L 31/12 F, FI分類-H01L 27/146 A
2017年06月02日 特許庁 / 特許	駆動装置、デバイス、駆動システム、駆動方法、およびプログラム FI分類-G02B 7/08 C, FI分類-G03B 5/00 J
2017年05月15日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/20 A
2017年04月05日 特許庁 / 特許	センサ出力処理装置およびセンサ出力処理方法 FI分類-G01J 1/46, FI分類-G01J 1/44 D, FI分類-G01V 9/04 J
2017年04月05日 特許庁 / 特許	センサ出力処理装置およびセンサ出力処理方法 FI分類-G01J 1/46, FI分類-G01J 1/44 D
2017年03月31日 特許庁 / 特許	光デバイス FI分類-H01L 23/28 D, FI分類-H01L 31/02 B
2017年03月29日 特許庁 / 特許	半導体装置 FI分類-H01L 23/30 F, FI分類-H01L 23/50 K
2017年03月29日 特許庁 / 特許	半導体装置及びその製造方法 FI分類-H01L 21/316 S, FI分類-H01L 21/324 Z, FI分類-H01L 29/78 301 G, FI分類-H01L 29/78 301 H, FI分類-H01L 21/265 602 B
2017年03月28日 特許庁 / 特許	検知装置および検知方法 FI分類-G01J 1/42 B, FI分類-G01V 9/04 J
2017年03月27日 特許庁 / 特許	信号処理装置およびアクティブノイズキャンセルシステム FI分類-G10K 11/178 130, FI分類-H04R 1/10 101 Z
2017年03月27日 特許庁 / 特許	温度制御装置および発振装置 FI分類-H03B 5/32 A, FI分類-G05D 23/19 G
2017年03月23日 特許庁 / 特許	ホール素子 FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 P
2017年03月23日 特許庁 / 特許	ホール素子 FI分類-H01L 43/04, FI分類-G01R 33/02 U, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 D
2017年03月23日 特許庁 / 特許	ホール素子およびホール素子の製造方法 FI分類-H01L 43/14, FI分類-H01L 43/06 D
2017年03月23日 特許庁 / 特許	ホール素子及びホール素子の製造方法 FI分類-H01L 43/04
2017年03月23日 特許庁 / 特許	ホール素子及びホール素子の製造方法 FI分類-H01L 43/06 D, FI分類-H01L 43/06 Z
2017年03月23日 特許庁 / 特許	ホール素子 FI分類-H01L 43/04, FI分類-H01L 21/92 602 J, FI分類-H01L 21/92 604 J
2017年03月23日 特許庁 / 特許	ホール素子 FI分類-H01L 43/04, FI分類-H01L 29/44 L
2017年03月23日 特許庁 / 特許	ホール素子 FI分類-H01L 43/04, FI分類-H01L 21/60 301 N
2017年02月28日 特許庁 / 特許	オーディオシステム FI分類-H03F 3/181 Z, FI分類-H04R 3/00 310
2017年02月28日 特許庁 / 特許	オーディオシステム FI分類-H03M 1/66 C, FI分類-H03F 3/181 A
2017年02月24日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/20 C
2017年02月20日 特許庁 / 特許	ガスセンサ FI分類-G01N 21/61, FI分類-H01L 31/12 E
2017年02月16日 特許庁 / 特許	半導体装置及び半導体装置の製造方法 FI分類-H01L 21/76 L, FI分類-H01L 29/78 301 H
2017年02月16日 特許庁 / 特許	発振制御装置および発振装置 FI分類-H03B 5/32 A
2017年01月31日 特許庁 / 特許	インクリメンタル型デルタシグマAD変換器およびAD変換方法 FI分類-H03M 1/40, FI分類-H03M 3/02
2017年01月31日 特許庁 / 特許	インクリメンタル型デルタシグマAD変換器および調整方法 FI分類-H03M 1/40, FI分類-H03M 3/02
2017年01月24日 特許庁 / 特許	角度検出装置および方法 FI分類-G01D 5/12 N, FI分類-G01D 5/244 F
2017年01月23日 特許庁 / 特許	ヒステリシスコンパレータ回路 FI分類-H03K 5/08 J
2017年01月19日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-G11B 5/39, FI分類-G01R 33/06 R, FI分類-H01L 29/82 Z, FI分類-H01L 43/08 Z
2016年12月28日 特許庁 / 特許	電流センサIC、電流センシングシステムおよびモーター駆動システム FI分類-G01R 19/00 L, FI分類-G01R 19/00 U
2016年12月27日 特許庁 / 特許	温度特性調整回路 FI分類-G05F 3/24 Z, FI分類-H01L 27/10 434, FI分類-H01L 29/78 371, FI分類-G11C 17/00 632 Z
2016年12月21日 特許庁 / 特許	光電変換装置及び光電変換装置の製造方法 FI分類-G01J 1/02 B, FI分類-G01J 1/04 B, FI分類-H01L 31/02 D, FI分類-H01L 33/00 L
2016年12月15日 特許庁 / 特許	駆動装置、レンズユニット、デバイス、補正方法、およびプログラム FI分類-G02B 7/08 C, FI分類-G03B 5/00 J, FI分類-H04N 5/225 100, FI分類-H04N 5/225 400, FI分類-H04N 5/225 430, FI分類-H04N 5/232 480
2016年12月14日 特許庁 / 特許	インクリメンタル型デルタシグマAD変調器およびインクリメンタル型デルタシグマAD変換器 FI分類-H03M 3/02, FI分類-H03M 1/14 B
2016年12月07日 特許庁 / 特許	インクリメンタル型デルタシグマAD変調器およびインクリメンタル型デルタシグマAD変換器 FI分類-H03M 3/02, FI分類-H03H 19/00
2016年12月07日 特許庁 / 特許	磁気センサ装置および電流センサ装置 FI分類-G01R 33/06 H
2016年12月07日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-G01R 33/07, FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-H01L 43/06 Z
2016年11月29日 特許庁 / 特許	駆動装置、レンズユニット、デバイス、補正方法、およびプログラム FI分類-G02B 7/08 C, FI分類-G03B 5/00 F
2016年11月28日 特許庁 / 特許	無線システム及び受信回路 FI分類-B60R 16/023 Z, FI分類-B60R 16/02 645 Z
2016年11月01日 特許庁 / 特許	半導体装置 FI分類-H01L 23/30 R, FI分類-H01L 23/50 K, FI分類-H01L 23/50 R
2016年10月21日 特許庁 / 特許	信号検出装置 FI分類-G01B 7/30 M, FI分類-G01D 5/14 E
2016年10月19日 特許庁 / 特許	電流源 FI分類-G05F 3/24 A, FI分類-H01L 27/10 434, FI分類-H01L 27/10 481, FI分類-H01L 29/78 371, FI分類-G11C 17/00 601 Z, FI分類-G11C 17/00 621 B, FI分類-G11C 17/00 621 C
2016年10月19日 特許庁 / 特許	赤外線発光素子 FI分類-H01L 33/12, FI分類-H01L 33/30
2016年10月05日 特許庁 / 特許	赤外線センサ FI分類-H01L 31/10 A
2016年09月29日 特許庁 / 特許	磁気センサおよび磁気センサの製造方法 FI分類-G01R 33/02 L, FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-G01R 33/06 R, FI分類-H01L 43/08 Z
2016年09月29日 特許庁 / 特許	磁場検知装置および磁場検知方法 FI分類-G01R 33/07, FI分類-H01L 43/06 P
2016年09月26日 特許庁 / 特許	ハウリング抑制装置 FI分類-H04R 3/02
2016年09月21日 特許庁 / 特許	ホール素子及びホールセンサ、レンズモジュール FI分類-G01R 33/07, FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-G02B 7/08 B, FI分類-H01L 43/06 D
2016年09月05日 特許庁 / 特許	レギュレータ回路およびセンサ回路 FI分類-G05F 1/56 310 U, FI分類-G05F 1/56 320 A
2016年09月05日 特許庁 / 特許	レギュレータ回路およびセンサ回路 FI分類-G05F 1/56 310 U
2016年09月02日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/20 A, FI分類-G01R 15/20 B, FI分類-G01R 15/20 C
2016年08月31日 特許庁 / 特許	磁気センサ、電流センサおよび磁気センサの駆動方法 FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 A
2016年08月24日 特許庁 / 特許	電流インターフェース回路 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H04L 25/02 V, FI分類-H04L 25/02 301 C
2016年08月22日 特許庁 / 特許	復調装置 FI分類-H04B 1/10 L, FI分類-H04B 1/16 Z, FI分類-H04L 27/14 J
2016年08月22日 特許庁 / 特許	復調装置 FI分類-H04B 1/10 H, FI分類-H04B 1/10 L, FI分類-H04L 27/14 J
2016年08月18日 特許庁 / 特許	不揮発性記憶素子およびそれを備えるアナログ回路 FI分類-H01L 27/10 434, FI分類-H01L 29/78 371
2016年08月05日 特許庁 / 特許	電流センサおよび電流センサの過熱検出方法 FI分類-G01R 15/20 A, FI分類-H01L 43/06 A
2016年08月02日 特許庁 / 特許	ホールセンサおよびホールセンサの調整方法 FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-G01R 35/00 M, FI分類-H01L 43/06 A
2016年07月26日 特許庁 / 特許	装置 FI分類-G01R 33/06, FI分類-G01R 19/00 P, FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-H01L 43/06 A, FI分類-H01L 43/08 A
2016年07月25日 特許庁 / 特許	半導体装置、磁気検出装置、半導体装置の製造方法および電子コンパス FI分類-H01L 43/04, FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 21/88 T, FI分類-H01L 21/88 Z
2016年07月22日 特許庁 / 特許	電流センサおよび電流センサの制御方法 FI分類-G01R 15/20 A, FI分類-G01R 19/00 B, FI分類-G01R 19/00 N, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-G01R 35/00 E, FI分類-H01L 43/06 A
2016年07月05日 特許庁 / 特許	プログラム、コンピュータ可読媒体、端末装置、推定装置および推定方法 FI分類-G01V 9/04
2016年06月24日 特許庁 / 特許	プログラム、コンピュータ可読媒体、端末装置、推定装置および推定方法 FI分類-G01J 1/42 B, FI分類-G01V 9/04 J
2016年06月22日 特許庁 / 特許	赤外線デバイス FI分類-H01L 33/02, FI分類-G01J 1/02 H, FI分類-H01L 31/10 A, FI分類-G02B 6/12 301
2016年06月20日 特許庁 / 特許	制御回路および電流センサ FI分類-G01R 15/20 A, FI分類-G01R 33/06 H
2016年06月16日 特許庁 / 特許	赤外線受光素子 FI分類-G01J 1/02 B, FI分類-G01J 1/02 C, FI分類-H01L 31/10 A
2016年06月15日 特許庁 / 特許	検出装置、回転角度検出装置、検出方法、およびプログラム FI分類-G01B 7/30 H, FI分類-G01D 5/244 J
2016年05月26日 特許庁 / 特許	調整装置、調整方法、および発振装置 FI分類-H03B 5/32 A
2016年05月12日 特許庁 / 特許	回路設計装置 FI分類-G06F 17/50 662 G, FI分類-G06F 17/50 670 Z
2016年04月13日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-G01R 33/02 L, FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-H01L 43/08 Z
2016年04月12日 特許庁 / 特許	送信器、送信方法、位相調整装置、位相調整方法 FI分類-H04B 7/06 150, FI分類-H04B 7/06 982
2016年04月07日 特許庁 / 特許	レンズ駆動装置およびレンズユニット FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-H02K 11/215, FI分類-H02K 33/00 A
2016年03月31日 特許庁 / 特許	赤外線受光素子、ガスセンサ FI分類-H01L 31/10 A
2016年03月31日 特許庁 / 特許	電流センサ、シールド、および製造方法 FI分類-G01R 15/20 C
2016年03月29日 特許庁 / 特許	量子型赤外線センサ FI分類-H01L 31/08 N
2016年03月24日 特許庁 / 特許	量子型赤外線センサ FI分類-G01J 1/02 B, FI分類-H01L 31/10 A
2016年03月11日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-G01R 33/06 R, FI分類-H01L 43/08 P, FI分類-H01L 43/08 Z
2016年03月11日 特許庁 / 特許	フィルタ部材及び光センサ FI分類-G02B 5/28, FI分類-G01J 1/04 B, FI分類-H01L 31/02 D
2016年03月01日 特許庁 / 特許	異常診断装置、異常診断方法、およびプログラム FI分類-G01D 5/12 K, FI分類-G01D 5/16 E
2016年02月26日 特許庁 / 特許	ダイオード駆動回路およびダイオード駆動システム FI分類-G05F 3/26, FI分類-H01S 5/042 630
2016年02月26日 特許庁 / 特許	インクリメンタル型デルタシグマ変調器、変調方法、およびインクリメンタル型デルタシグマAD変換器 FI分類-H03M 3/02
2016年02月24日 特許庁 / 特許	光学式物理量測定装置及びその光源制御方法 FI分類-G01N 21/27 Z
2016年02月15日 特許庁 / 特許	オーディオ信号処理装置およびオーディオ信号処理装置の製造方法 FI分類-H01L 21/90 B
2016年02月12日 特許庁 / 特許	センサ装置及びその製造方法 FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-G01R 33/06 R, FI分類-H01L 43/06 D, FI分類-H01L 43/06 S, FI分類-H01L 43/08 D, FI分類-H01L 43/08 S
2016年02月10日 特許庁 / 特許	化合物半導体基板の製造方法及び化合物半導体基板、半導体装置 FI分類-C23C 16/18, FI分類-C23C 16/52, FI分類-H01L 21/205, FI分類-H01L 43/06 S
2015年12月18日 特許庁 / 特許	センサ装置および電流センサ FI分類-H01L 43/00, FI分類-H01L 43/04, FI分類-G01R 15/20 A, FI分類-G01R 15/20 C, FI分類-G01R 33/02 U, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/02 Z, FI分類-H01L 43/06 Z, FI分類-H01L 43/08 Z
2015年12月11日 特許庁 / 特許	ホールセンサ及びその製造方法 FI分類-H01L 43/14, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 H, FI分類-H01L 43/06 S
2015年11月27日 特許庁 / 特許	デバイス、駆動装置、およびシステム FI分類-H04L 7/00 080, FI分類-G06F 13/38 320 Z
2015年11月20日 特許庁 / 特許	駆動装置、レンズユニット、キャリブレーション装置、方法、およびプログラム FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-G03B 5/00 J
2015年11月12日 特許庁 / 特許	光センサ装置 FI分類-H05K 1/18 K, FI分類-H01L 27/14 A, FI分類-H01L 31/02 B
2015年11月04日 特許庁 / 特許	インクリメンタル型デルタシグマAD変調器及びAD変換器 FI分類-H03M 3/02
2015年10月21日 特許庁 / 特許	半導体装置及びその製造方法 FI分類-H01L 21/88 T, FI分類-H01L 21/90 M, FI分類-H01L 27/04 C, FI分類-H01L 21/316 G, FI分類-H01L 21/316 X
2015年10月20日 特許庁 / 特許	半導体装置の製造方法 FI分類-H01L 21/76 J, FI分類-H01L 29/78 301 D
2015年10月16日 特許庁 / 特許	ホール素子及びホールセンサ、レンズモジュール FI分類-H01L 43/04, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 25/00 B, FI分類-H01L 43/06 P
2015年10月16日 特許庁 / 特許	ホール素子 FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 P
2015年10月06日 特許庁 / 特許	ガス濃度測定装置 FI分類-G01N 21/3504
2015年09月30日 特許庁 / 特許	センサ出力回路、装置、及び故障検出方法 FI分類-G01D 5/244 K
2015年09月30日 特許庁 / 特許	ガス濃度測定装置 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/3504
2015年09月30日 特許庁 / 特許	磁性体検出装置 FI分類-G07D 7/04, FI分類-G01R 33/02 Q, FI分類-G01R 33/06 H
2015年09月25日 特許庁 / 特許	ホール起電力信号検出回路及び電流センサ FI分類-G01R 19/00 L, FI分類-G01R 19/00 N, FI分類-G01R 33/06 H
2015年09月25日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-G01R 33/06 R, FI分類-H01L 43/08 B, FI分類-H01L 43/08 P
2015年09月25日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-G01R 33/02 L, FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-G01R 33/06 R, FI分類-H01L 43/08 Z
2015年09月24日 特許庁 / 特許	ホールセンサ FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 P
2015年09月18日 特許庁 / 特許	ホールセンサ及びレンズモジュール FI分類-H01L 43/04, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 23/12 501 T
2015年09月18日 特許庁 / 特許	ホールセンサの製造方法及びホールセンサ並びにレンズモジュール FI分類-H01L 43/04, FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-G03B 5/00 J, FI分類-H01L 43/06 S
2015年09月16日 特許庁 / 特許	位置検出装置 FI分類-G03B 5/00 J, FI分類-H04N 5/225 D, FI分類-H04N 5/232 Z
2015年09月11日 特許庁 / 特許	生成装置、および、生成方法 FI分類-H04B 1/034 Z, FI分類-H04Q 9/00 301 Z, FI分類-G06F 3/023 310 J
2015年09月10日 特許庁 / 特許	電子機器及びその赤外線センサ FI分類-G01J 1/02 C
2015年09月04日 特許庁 / 特許	磁気検出装置及び方法ならびに集積回路 FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 A, FI分類-H01L 43/06 Z
2015年08月28日 特許庁 / 特許	受発光装置 FI分類-G01N 21/3504
2015年08月27日 特許庁 / 特許	差動増幅器 FI分類-H03F 3/45 Z
2015年08月26日 特許庁 / 特許	ガスセンサ較正装置、ガスセンサ較正方法及びガスセンサ FI分類-G01N 21/3504
2015年08月17日 特許庁 / 特許	IC FI分類-H02M 3/07, FI分類-H01L 27/04 H
2015年08月12日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-G01R 33/06 R, FI分類-H01L 43/08 Z
2015年08月06日 特許庁 / 特許	検出装置、検出方法、検出プログラム、およびレンズ駆動システム FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-G03B 5/00 J
2015年08月04日 特許庁 / 特許	受信機 FI分類-H04B 1/30, FI分類-H04L 27/14 A, FI分類-H04L 27/14 J
2015年07月30日 特許庁 / 特許	化合物半導体基板、半導体装置及び化合物半導体基板の製造方法 FI分類-C23C 16/30, FI分類-C23C 16/455, FI分類-H01L 21/205, FI分類-C30B 29/40 A, FI分類-H01L 21/66 L, FI分類-H01L 43/06 S, FI分類-C30B 29/40 502 E
2015年07月29日 特許庁 / 特許	光源の駆動条件調整方法 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/01 D
2015年07月29日 特許庁 / 特許	ガス濃度測定装置 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/3504
2015年07月28日 特許庁 / 特許	ガス濃度測定装置 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/01 D
2015年07月16日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-G01R 33/06 R, FI分類-H01L 43/08 Z
2015年07月15日 特許庁 / 特許	センサ装置および電流センサ FI分類-G01R 15/20 C
2015年07月15日 特許庁 / 特許	ガス濃度測定装置 FI分類-G01N 21/3504
2015年07月10日 特許庁 / 特許	ガスセンサ FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/3504
2015年07月07日 特許庁 / 特許	検査装置、検査方法、駆動システム、および検査プログラム FI分類-G02B 7/28 Z, FI分類-G01M 99/00 Z, FI分類-G05B 11/36 503 C
2015年07月01日 特許庁 / 特許	受発光装置 FI分類-G01J 1/02 P, FI分類-G01N 21/3504, FI分類-H01L 31/02 D, FI分類-H01L 33/00 L, FI分類-H01L 33/00 432
2015年07月01日 特許庁 / 特許	ガスセンサ FI分類-G01N 21/3504
2015年06月30日 特許庁 / 特許	赤外線センサ素子及びその製造方法 FI分類-G01J 1/02 B, FI分類-H01L 31/10 A
2015年06月30日 特許庁 / 特許	ガス濃度測定装置 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/3504
2015年06月30日 特許庁 / 特許	ガスセンサ FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 21/3504
2015年06月26日 特許庁 / 特許	ガスセンサ回路、ガスセンサ装置及びガス濃度検知方法 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/3504
2015年06月26日 特許庁 / 特許	検出装置および電流センサ FI分類-G01R 15/20 A, FI分類-G01R 19/00 N, FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-G01R 33/06 H
2015年06月26日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/20 C
2015年06月09日 特許庁 / 特許	半導体装置 FI分類-H01L 27/04 C
2015年06月05日 特許庁 / 特許	ホールセンサ FI分類-H01L 43/04, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 Z
2015年06月05日 特許庁 / 特許	検出装置、磁気センサ、検出方法、およびプログラム FI分類-G01D 5/244 Z, FI分類-G01D 5/245 H, FI分類-G01R 33/02 N, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 A, FI分類-H01L 43/06 Z
2015年05月01日 特許庁 / 特許	データ加重平均化回路、インクリメンタルデルタシグマAD変換器、及びデータ加重平均化方法 FI分類-H03M 3/02
2015年05月01日 特許庁 / 特許	データ加重平均化回路、インクリメンタルデルタシグマAD変換器、及びデータ加重平均化方法 FI分類-H03M 3/02
2015年04月15日 特許庁 / 特許	電流ドライバ回路 FI分類-H03K 17/10, FI分類-H01L 33/00 J, FI分類-H03K 17/60 H, FI分類-H03K 17/78 E, FI分類-H05B 37/02 J, FI分類-H03K 17/687 H
2015年03月31日 特許庁 / 特許	カメラモジュール FI分類-H01L 43/04, FI分類-G01D 5/12 Q, FI分類-G01D 5/14 H, FI分類-G01R 33/02 Q, FI分類-G01R 33/06 H
2015年03月30日 特許庁 / 特許	ガス濃度測定装置 FI分類-G01N 21/3504
2015年03月30日 特許庁 / 特許	光デバイス及び光デバイスの測定方法 FI分類-G01J 1/42 B, FI分類-G01J 1/44 D, FI分類-H01L 31/08 N, FI分類-H01L 31/10 A, FI分類-H01L 31/10 G
2015年03月27日 特許庁 / 特許	制御装置及び駆動装置 FI分類-H02P 8/12
2015年03月27日 特許庁 / 特許	制御装置及び駆動装置 FI分類-H02P 8/12
2015年03月27日 特許庁 / 特許	制御装置及び駆動装置 FI分類-H02P 8/12
2015年03月12日 特許庁 / 特許	ホールセンサ FI分類-H01L 43/04, FI分類-G01R 33/02 U, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 S
2015年03月12日 特許庁 / 特許	ホールセンサ FI分類-H01L 43/04, FI分類-G01R 33/02 U, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 S
2015年03月12日 特許庁 / 特許	ホールセンサ FI分類-G01R 33/07, FI分類-H01L 43/04, FI分類-H01L 43/06 S
2015年03月09日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-G01R 33/02 L, FI分類-G01R 33/06 H
2015年03月06日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-H01L 43/06 Z
2015年03月05日 特許庁 / 特許	赤外線発光素子 FI分類-H01L 33/00 184
2015年02月23日 特許庁 / 特許	量子型赤外線デバイスの製造方法及び量子型赤外線デバイス製造用のエッチャント FI分類-H01L 31/10 A, FI分類-H01L 33/00 170, FI分類-H01L 33/00 184
2015年02月19日 特許庁 / 特許	化合物半導体積層体 FI分類-H01L 21/20, FI分類-H01L 43/06 S
2015年02月16日 特許庁 / 特許	赤外線発光素子及び赤外線発光素子の製造方法 FI分類-H01L 33/00 184
2015年02月10日 特許庁 / 特許	赤外線発光ダイオード FI分類-H01L 33/00 120, FI分類-H01L 33/00 184
2015年01月23日 特許庁 / 特許	耳栓型電子機器及びその動作方法 FI分類-G04G 13/02 Z, FI分類-A61M 21/00 330 A
2015年01月09日 特許庁 / 特許	電圧検出器 FI分類-H03K 5/12, FI分類-H01L 27/04 B, FI分類-H01L 27/04 T, FI分類-H03K 19/00 A, FI分類-H01L 27/10 434, FI分類-H01L 29/78 371, FI分類-H01L 27/08 102 C, FI分類-H01L 27/08 102 H, FI分類-H01L 27/08 311 A
2015年01月07日 特許庁 / 特許	受発光装置及び濃度測定装置 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/3504
2015年01月07日 特許庁 / 特許	ダイオード型センサの出力電流検出ICチップ及びダイオード型センサ装置 FI分類-G01J 1/42 B, FI分類-G01J 1/44 E, FI分類-H01L 27/04 F, FI分類-H01L 27/04 H, FI分類-H01L 31/10 A
2014年12月26日 特許庁 / 特許	クロックデータ再生回路およびクロックデータ再生方法 FI分類-H04L 7/033, FI分類-H03L 7/00 A, FI分類-G06F 1/12 510
2014年12月05日 特許庁 / 特許	手振れ補正装置及び手振れ補正回路並びに手振れ補正方法 FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-G03B 5/00 J, FI分類-H04N 5/225 300, FI分類-H04N 5/225 400, FI分類-H04N 5/225 700, FI分類-H04N 5/232 480
2014年11月28日 特許庁 / 特許	カメラモジュールの調整方法及びレンズ位置制御装置並びに線形運動デバイスの制御装置及びその制御方法 FI分類-G02B 7/02 C, FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-G02B 7/08 B, FI分類-H04N 5/232 A
2014年11月27日 特許庁 / 特許	ホールセンサ及びホールセンサの製造方法 FI分類-H01L 43/04, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 D
2014年11月18日 特許庁 / 特許	半導体装置及び半導体装置の製造方法 FI分類-H01L 21/88 S, FI分類-H01L 27/04 P
2014年10月20日 特許庁 / 特許	発振器及びそのキャリブレーション方法 FI分類-H03B 5/32 A
2014年10月17日 特許庁 / 特許	ICチップ FI分類-G01R 31/28 B, FI分類-G01R 31/28 W, FI分類-G01R 19/165 Z, FI分類-G06F 1/00 333 D
2014年09月29日 特許庁 / 特許	磁気センサ FI分類-G01R 33/02 R, FI分類-G01R 33/02 V, FI分類-H01L 43/08 Z
2014年09月26日 特許庁 / 特許	ガスセンサ FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/03 B, FI分類-G01N 21/3504
2014年09月08日 特許庁 / 特許	位相検出器、位相調整回路、受信器及び送信器 FI分類-H03K 5/26 G, FI分類-H03L 7/08 A
2014年09月03日 特許庁 / 特許	周波数シンセサイザ FI分類-H03L 7/08 E, FI分類-H03L 7/18 Z
2014年08月29日 特許庁 / 特許	赤外線センサ装置 FI分類-G01J 1/02 B, FI分類-G01V 9/04 D, FI分類-G01V 9/04 K, FI分類-H01L 31/08 N, FI分類-H01L 31/10 A
2014年08月29日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/20 C, FI分類-G01R 15/20 D
2014年08月26日 特許庁 / 特許	受信信号処理装置、レーダ装置、および物標検知方法 FI分類-G01S 7/40 C
2014年08月22日 特許庁 / 特許	運動デバイス制御回路 FI分類-G03B 13/36, FI分類-G02B 7/08 A, FI分類-G02B 7/08 C, FI分類-G02B 7/08 Z, FI分類-G02B 7/28 Z, FI分類-G05B 11/36 D, FI分類-G05B 11/42 Z, FI分類-G05B 13/02 B
2014年08月13日 特許庁 / 特許	D/A変換器及びD/A変換器の制御方法 FI分類-H03M 1/08 A, FI分類-H03M 1/08 B, FI分類-H03M 1/12 C, FI分類-H03M 1/66 C
2014年07月31日 特許庁 / 特許	非接触回転角センサ FI分類-G01D 5/244 K, FI分類-G01D 5/245 H
2014年07月31日 特許庁 / 特許	線形運動デバイスの位置センサ及びその位置センサを用いた線形運動デバイスの位置制御装置 FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-G01B 7/00 102 M
2014年07月29日 特許庁 / 特許	磁気センサ、磁気検出装置及び磁気センサの製造方法 FI分類-G01R 33/06 R, FI分類-H01L 43/08 Z
2014年07月23日 特許庁 / 特許	逐次比較AD変換器及び逐次比較AD変換方法 FI分類-H03M 1/46
2014年07月17日 特許庁 / 特許	絶対角度検出装置及びその磁気エンコーダ FI分類-G01D 5/244 H, FI分類-G01D 5/245 R
2014年07月14日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/02 A
2014年06月17日 特許庁 / 特許	ホールセンサ FI分類-H01L 43/04, FI分類-G01R 33/02 U, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 23/36 A, FI分類-H01L 43/06 Z
2014年06月16日 特許庁 / 特許	ホールセンサ及びホール起電力検出方法 FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 A
2014年06月12日 特許庁 / 特許	位置制御装置及び位置制御方法 FI分類-G02B 7/08 C, FI分類-G05D 3/12 305 Z
2014年06月03日 特許庁 / 特許	生体感知器および省電力モード設定方法 FI分類-G01V 1/00 A, FI分類-G01V 3/12 A, FI分類-G01V 9/04 J, FI分類-G06F 1/00 334 E
2014年05月09日 特許庁 / 特許	受発光装置 FI分類-H01L 31/12 E
2014年04月28日 特許庁 / 特許	AD変換器及びAD変換方法 FI分類-H03M 1/46
2014年04月22日 特許庁 / 特許	アナログディザリングを用いる時間/デジタル変換 FI分類-H03M 1/54
2014年04月21日 特許庁 / 特許	レギュレータ回路 FI分類-G05F 1/56 310 D
2014年03月31日 特許庁 / 特許	センサ信号処理回路及び赤外線センサモジュール並びにセンサ信号処理方法 FI分類-G01J 1/46, FI分類-G01J 1/42 B
2014年03月31日 特許庁 / 特許	ホール起電力信号処理装置、電流センサ及びホール起電力信号処理方法 FI分類-G01R 15/02 A
2014年03月31日 特許庁 / 特許	赤外線センサ FI分類-G01J 1/02 C, FI分類-G01J 1/04 B, FI分類-G01V 9/04 A, FI分類-H01L 31/02 D
2014年03月28日 特許庁 / 特許	赤外線検出装置および視野制限ユニットの製造方法 FI分類-G01J 5/06, FI分類-G01J 1/02 H
2014年03月28日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/02 B
2014年03月28日 特許庁 / 特許	化合物半導体基板 FI分類-C23C 16/30, FI分類-H01L 21/20, FI分類-H01L 21/205, FI分類-C30B 25/02 Z, FI分類-C30B 29/40 A
2014年03月27日 特許庁 / 特許	信号出力回路 FI分類-H03F 3/45
2014年03月26日 特許庁 / 特許	赤外線発光素子 FI分類-H01L 33/00 210
2014年03月26日 特許庁 / 特許	半導体テスト回路及びICチップ FI分類-G01R 31/28 V, FI分類-H01L 27/04 T
2014年03月25日 特許庁 / 特許	化合物半導体積層体及び半導体装置 FI分類-C23C 16/30, FI分類-H01L 43/06 S, FI分類-C30B 29/40 502 H
2014年03月19日 特許庁 / 特許	デジタル-アナログ変換器及びデジタル-アナログ変換装置 FI分類-H03M 1/74
2014年03月13日 特許庁 / 特許	赤外線センサ装置 FI分類-G01J 1/06 A
2014年03月12日 特許庁 / 特許	電流信号生成回路、電流信号生成ICチップ FI分類-G05F 3/26
2014年03月11日 特許庁 / 特許	非接触回転角センサ FI分類-G01D 5/12 K, FI分類-G01D 5/14 H, FI分類-G01D 5/245 H
2014年03月10日 特許庁 / 特許	磁気データ補正装置 FI分類-G01C 17/30, FI分類-G01D 3/04 Z, FI分類-G01C 17/38 K, FI分類-G01C 17/38 S
2014年03月07日 特許庁 / 特許	過充電防止回路 FI分類-H02H 7/18, FI分類-H02J 7/00 S, FI分類-H02J 1/00 306 L
2014年03月06日 特許庁 / 特許	磁気検出装置、電流センサ及び磁気検出方法 FI分類-G01R 15/02 A, FI分類-G01R 33/06 H, FI分類-H01L 43/06 Z
2014年03月05日 特許庁 / 特許	ガス検出装置 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 21/35 Z
2014年03月05日 特許庁 / 特許	物理量データ補正装置及び物理量データ補正方法 FI分類-G01C 17/38 S, FI分類-G01D 21/00 M
2014年02月24日 特許庁 / 特許	半導体装置及びその製造方法 FI分類-H01L 29/72 H, FI分類-H01L 29/72 S, FI分類-H01L 21/28 301 A
2014年02月12日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/02 B
2014年02月10日 特許庁 / 特許	静止判定装置、姿勢角検出装置、携帯機器、静止判定方法およびプログラム FI分類-G01B 21/22, FI分類-G01P 21/02, FI分類-H04M 1/00 R, FI分類-G01P 13/00 B
2014年02月10日 特許庁 / 特許	姿勢算出装置、姿勢算出方法、携帯機器およびプログラム FI分類-G01C 15/00 101, FI分類-G06F 3/01 310 C
2014年02月06日 特許庁 / 特許	赤外線センサ及びその製造方法 FI分類-G02B 5/28, FI分類-G01J 1/02 H, FI分類-G01J 1/04 B
2014年01月27日 特許庁 / 特許	トリガ検出回路及びトリガ検出ICチップ FI分類-H03K 5/08 R, FI分類-G08C 19/02 301
2014年01月24日 特許庁 / 特許	回転角計測装置 FI分類-G01D 5/14 H, FI分類-G01D 5/245 H
2014年01月24日 特許庁 / 特許	回転角計測装置 FI分類-G01D 5/244 K
2014年01月17日 特許庁 / 特許	ホール起電力信号検出回路及びその電流センサ並びにホール素子の駆動方法 FI分類-G01R 33/06 H
2014年01月15日 特許庁 / 特許	磁気センサ及び回転角センサ FI分類-G01D 5/14 H

旭化成エレクトロニクス株式会社の商標情報(5件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2018年06月29日 特許庁 / 商標	Currentier 07類, 09類, 12類
2016年08月26日 特許庁 / 商標	VELVET＼SOUND＼VERITA 09類
2014年09月17日 特許庁 / 商標	VERITA＼ヴェリータ 09類
2014年05月15日 特許庁 / 商標	Fine Pattern Coil 09類
2014年05月15日 特許庁 / 商標	FP-Coil 09類

旭化成エレクトロニクス株式会社の意匠情報(7件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2022年09月07日 特許庁 / 意匠	電流測定モジュール 意匠新分類-H15500
2022年09月07日 特許庁 / 意匠	電流測定モジュール 意匠新分類-H15500
2018年10月31日 特許庁 / 意匠	半導体素子 意匠新分類-H1451
2018年10月31日 特許庁 / 意匠	半導体素子 意匠新分類-H1451
2018年10月31日 特許庁 / 意匠	半導体素子 意匠新分類-H1451
2017年04月18日 特許庁 / 意匠	ホールセンサ 意匠新分類-H15500
2017年04月18日 特許庁 / 意匠	ホールセンサ 意匠新分類-H15500

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項目	データ
事業概要	ホール素子、半導体集積回路などの製造、販売
企業規模	753人

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