法人番号:4010401021648
株式会社日立ハイテク
情報更新日:2024年08月31日
株式会社日立ハイテクとは
株式会社日立ハイテク（ヒタチハイテク）は、法人番号:4010401021648で東京都港区虎ノ門1丁目17番1号に所在する法人として東京法務局港出張所で法人登録され、2015年10月05日に法人番号が指定されました。代表者は、代表取締役飯泉孝。設立日は1947年04月12日。資本金は79億3,800万円。従業員数は5,695人。登録情報として、調達情報が5件、表彰情報が10件、届出情報が1件、特許情報が1,811件、商標情報が52件、意匠情報が86件、職場情報が1件が登録されています。なお、2022年04月14日に法人番号公表サイトでは登録情報が変更されています。法人番号公表サイトでの最終更新日は2022年05月02日です。
インボイス番号:T4010401021648については、2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されています。
この地域の労働局は東京労働局。三田労働基準監督署が所轄の労働基準監督署です。
名称の「株式会社」について(β版)
株式会社は、法人格を持つ組織形態の一つであり、株主が出資することによって設立されます。株式会社は、株主の出資額に応じた株式を発行し、経営を行います。株主は株式を所有することで、会社の経営に参加する権利を持ちます。また、株式会社は独立した法的存在であり、株主の責任は出資額に限定されます。株式会社は、経営の安定性や資金調達の容易さなどの利点を持ち、多くの企業がこの形態を選択しています。
株式会社日立ハイテクの基本情報
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 商号又は名称 | 株式会社日立ハイテク |
| 商号又は名称（読み仮名）フリガナ | ヒタチハイテク |
| 法人番号 | 4010401021648 |
| 会社法人等番号 | 0104-01-021648 |
| 登記所 | 東京法務局港出張所 ※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。 |
| インボイス登録番号 ※2024年08月31日更新 インボイス番号 |
T4010401021648 ※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。 (2024年08月31日現在) |
| 法人種別 | 株式会社 |
| 郵便番号 | 〒105-0001 ※地方自治体コードは 13103 |
| 国内所在地（都道府県）都道府県 | 東京都 ※東京都の法人数は 1,322,146件 |
| 国内所在地（市区町村）市区町村 | 港区 ※港区の法人数は 155,681件 |
| 国内所在地（丁目番地等）丁目番地 | 虎ノ門1丁目17番1号 |
| 国内所在地（1行表示）1行表示 | 東京都港区虎ノ門1丁目17番1号 |
| 国内所在地（読み仮名）読み仮名 | トウキョウトミナトクトラノモン1チョウメ |
| 代表者 | 代表取締役 飯泉 孝 |
| 設立日 | 1947年04月12日 |
| 資本金 | 79億3,800万円 (2019年06月22日現在) |
| 従業員数 | 5,695人 (2024年09月16日現在) |
| ホームページHP | http://www.hitachi-hightech.com/jp/ |
| 更新年月日更新日 | 2022年05月02日 |
| 変更年月日変更日 | 2022年04月14日 |
| 法人番号指定年月日指定日 | 2015年10月05日 ※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。 |
| 管轄の労働局労働局 | 東京労働局 〒102-8305～〒102-8307 東京都千代田区九段南1丁目2番1号 九段第3合同庁舎12階～14階 |
| 管轄の労働基準監督署労働基準監督署 | 三田労働基準監督署 〒108-0014 東京都港区芝5-35-2安全衛生総合会館3階 |
株式会社日立ハイテクの場所
株式会社日立ハイテクの補足情報
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 企業名 読み仮名 | カブシキガイシャヒタチハイテク |
| 企業名 英語 | Hitachi High-Tech Corporation |
| 上場・非上場 | 非上場 |
| 資本金 | 79億3,800万円 |
| 業種 | 卸売業 |
株式会社日立ハイテクの登録履歴
| 日付 | 内容 |
|---|---|
| 2022年04月14日 | 【吸収合併】 令和4年4月1日埼玉県児玉郡上里町嘉美1600番地株式会社日立ハイテクファインシステムズ(5030001091972)を合併 |
| 2020年02月12日 | 【名称変更】 名称が「株式会社日立ハイテク」に変更されました。 |
| 2020年02月12日 | 【住所変更】 国内所在地が「東京都港区虎ノ門1丁目17番1号」に変更されました。 |
| 2015年10月05日 | 【新規登録】 名称が「株式会社日立ハイテクノロジーズ」で、「東京都港区西新橋1丁目24番14号」に新規登録されました。 |
株式会社日立ハイテクの法人活動情報
株式会社日立ハイテクの調達情報(5件)
| 期間 公表組織 |
活動名称 / 活動対象 / 金額 |
|---|---|
2021年11月30日 | 電界放出形走査型電子顕微鏡 1式 41,173,000円 |
2018年07月04日 | 省エネ製品開発の加速化に向けた複合計測分析システム研究開発事業省エネ製品開発の加速化に向けた複合計測分析システム研究開発事業 109,034,640円 |
2017年02月20日 | デジタルフォレンジックソフトウェア等の供給 一式 35,639,978円 |
2016年10月19日 | 小型プローブ顕微鏡 6,501,600円 |
2015年09月01日 | 臨床検査データ処置装置 10,368,000円 |
株式会社日立ハイテクの表彰情報(10件)
| 日付 公表組織 |
活動名称 / 活動対象 |
|---|---|
2024年09月16日 | なでしこ銘柄-認定 2016 |
2024年09月16日 | 次世代育成支援対策推進法に基づく「プラチナくるみん」特例認定 2022 |
2024年09月16日 | 次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2022 |
2024年09月16日 | 次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2011 |
2024年09月16日 | えるぼし-認定 |
2017年12月05日 | ポジティブ・アクション |
2017年12月05日 | 次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2011年 |
2017年12月04日 | 女性の活躍推進企業 |
2017年12月04日 | 両立支援のひろば 一般事業主行動計画公表 |
2014年03月17日 | GNT企業100選 キャピラリ電気泳動型DNA解析装置 |
株式会社日立ハイテクの届出情報(1件)
| 日付 公表組織 |
活動名称 / 活動対象 |
|---|---|
- | 代表者:代表取締役 飯泉 孝 全省庁統一資格 / - |
株式会社日立ハイテクの特許情報(1811件)
| 日付 公表組織 / 種類 |
活動対象 / 分類等 |
|---|---|
2022年06月17日 特許庁 / 特許 | プロセスレシピ探索装置 FI分類-G06N 20/00, FI分類-H01L 21/02 Z, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2022年05月19日 特許庁 / 特許 | 電池管理装置 FI分類-H02J 7/00 Y, FI分類-H02J 7/04 L, FI分類-H01M 10/42 P, FI分類-H01M 10/44 P, FI分類-H01M 10/48 P |
2022年03月16日 特許庁 / 特許 | 温度検出装置および半導体処理装置 FI分類-H01L 21/66 T |
2022年03月14日 特許庁 / 特許 | 診断装置、半導体製造装置システム、半導体装置製造システムおよび診断方法 FI分類-G01N 25/18 A |
2022年03月09日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2022年03月09日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2022年03月04日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置 FI分類-C23F 4/00 A, FI分類-H01L 21/302 103 |
2022年02月24日 特許庁 / 特許 | 診断装置及び診断方法並びに半導体製造装置システム及び半導体装置製造システム FI分類-H01L 21/02 Z, FI分類-G05B 23/02 302 Z |
2022年02月14日 特許庁 / 特許 | エッチング処理方法 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2022年02月07日 特許庁 / 特許 | 診断装置、診断方法、半導体製造装置システム及び半導体装置製造システム FI分類-G05B 23/02 Z, FI分類-H01L 21/02 Z |
2022年02月02日 特許庁 / 特許 | エッチング方法 FI分類-H01L 21/302 201 A |
2022年01月25日 特許庁 / 特許 | 装置診断装置、半導体製造装置システムおよび半導体装置製造システム FI分類-H01L 21/02 Z, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2022年01月17日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置とその制御方法 FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/02 200, FI分類-H01J 49/42 150 |
2021年12月17日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置の制御方法 FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/06 700, FI分類-H01J 49/16 500, FI分類-H01J 49/42 150 |
2021年12月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 21/59 Z, FI分類-G01N 35/00 Z |
2021年12月10日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および分析方法 FI分類-G01N 21/82, FI分類-G01N 21/49 A, FI分類-G01N 21/78 Z, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 35/10 B, FI分類-G01N 35/10 D |
2021年12月07日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフのカラム接続方法及び液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 Q, FI分類-G01N 30/86 T |
2021年12月07日 特許庁 / 特許 | 電解質分析装置 FI分類-G01N 27/28 321 F, FI分類-G01N 27/28 321 Z, FI分類-G01N 27/28 341 Z, FI分類-G01N 27/416 351 A, FI分類-G01N 27/416 351 J |
2021年12月06日 特許庁 / 特許 | 蒸発濃縮機構、これを備えた分析装置、および、蒸発濃縮機構の制御方法 FI分類-G01N 1/40 |
2021年12月06日 特許庁 / 特許 | イオン源およびこれを備えた質量分析計 FI分類-H01J 49/14, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/04 040, FI分類-H01J 49/04 450, FI分類-H01J 49/04 680, FI分類-H01J 49/14 500 |
2021年11月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析装置における試薬の保管方法 FI分類-G01N 35/00 C |
2021年11月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム、および自動分析システムでの情報引き継ぎ方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2021年11月10日 特許庁 / 特許 | 検体搬送装置、および検体の搬送方法 FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 G |
2021年11月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 A |
2021年10月22日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 104 Z, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2021年10月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および試料保管装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/04 H |
2021年10月13日 特許庁 / 特許 | 検体搬送システム、および検体の搬送方法 FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/02 G |
2021年09月24日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B |
2021年09月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 G |
2021年08月23日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置用保護皮膜の洗浄方法 FI分類-H01L 21/302 101 G, FI分類-H01L 21/302 101 H |
2021年08月23日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2021年08月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C |
2021年08月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H01L 21/302 103 |
2021年07月19日 特許庁 / 特許 | 半導体製造装置のクリーニング方法 FI分類-H01L 21/302 101 H |
2021年07月14日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-C23F 4/00 A, FI分類-H01L 21/302 101 H |
2021年07月14日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2021年07月14日 特許庁 / 特許 | 輪郭線解析装置、加工寸法抽出システム、処理条件決定システム及び半導体装置製造システム FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J |
2021年07月14日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置、データ解析装置及び半導体装置製造システム FI分類-H01L 21/302 103 |
2021年07月13日 特許庁 / 特許 | 診断装置及び診断方法並びにプラズマ処理装置及び半導体装置製造システム FI分類-H01L 21/205, FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-G01M 99/00 Z, FI分類-G05B 23/02 T, FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 101 M |
2021年06月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2021年06月28日 特許庁 / 特許 | 内壁部材の再生方法 FI分類-C23C 4/02, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2021年06月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2021年06月23日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置および真空処理方法 FI分類-H01L 21/68 A, FI分類-H01L 21/302 103 |
2021年06月21日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2021年06月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法および半導体装置の製造方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2021年06月14日 特許庁 / 特許 | コンピュータシステム、寸法計測方法、および記憶媒体 FI分類-G06T 7/70 Z, FI分類-G01B 21/00 D, FI分類-G06F 3/04845, FI分類-G06T 7/00 350 B |
2021年06月09日 特許庁 / 特許 | 半導体製造方法及び半導体製造装置 FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 104 Z |
2021年05月27日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/455, FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2021年05月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置の制御方法 FI分類-G01N 35/10 A |
2021年05月17日 特許庁 / 特許 | 高電圧絶縁構造体、荷電粒子銃および荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/065 |
2021年05月13日 特許庁 / 特許 | 半導体装置製造システムおよび半導体装置製造方法 FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 101 B, FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 H |
2021年04月16日 特許庁 / 特許 | 電子ビーム応用装置 FI分類-H01J 37/073 |
2021年03月31日 特許庁 / 特許 | 電子線応用装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-G01N 23/227, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/147 Z, FI分類-H01J 37/153 Z |
2021年03月29日 特許庁 / 特許 | ガス供給制御装置 FI分類-F15B 11/06 Z, FI分類-F16K 27/00 B |
2021年03月29日 特許庁 / 特許 | 検査システム FI分類-H01J 37/20 F, FI分類-H01J 37/20 H, FI分類-H01L 21/66 C, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 F |
2021年03月25日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2021年03月24日 特許庁 / 特許 | 遠心ろ過カートリッジ及び微生物検査方法 FI分類-C12M 1/12, FI分類-C12M 1/26, FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C12Q 1/22, FI分類-C12Q 1/24, FI分類-G01N 1/10 B |
2021年03月24日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2021年03月23日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置の制御方法、質量分析システム及び電圧制御装置 FI分類-H01J 49/02 200, FI分類-H01J 49/06 300, FI分類-H01J 49/42 150, FI分類-H01J 49/42 900 |
2021年03月16日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、作業支援装置および自動分析システム FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 G |
2021年03月15日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 103 |
2021年03月11日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 Z |
2021年03月11日 特許庁 / 特許 | 検体搬送装置 FI分類-G01N 35/04 G |
2021年03月11日 特許庁 / 特許 | イオンセンサの製造方法 FI分類-G01N 27/333 331 E, FI分類-G01N 27/333 331 Z |
2021年03月11日 特許庁 / 特許 | 電解質分析装置 FI分類-G01N 35/02 G |
2021年03月09日 特許庁 / 特許 | 分析装置、検体作製装置、検査装置、検体作製装置の動作方法、検査装置の動作方法 FI分類-G01N 35/00 E |
2021年03月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 G |
2021年03月05日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ装置および液体クロマトグラフ装置の気泡除去方法 FI分類-B01D 15/16, FI分類-G01N 30/26 H, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/32 C |
2021年03月05日 特許庁 / 特許 | 送液装置および送液方法 FI分類-G01N 30/32 C, FI分類-G01N 30/34 A, FI分類-F04B 49/08 311, FI分類-F04B 49/06 321 Z |
2021年03月05日 特許庁 / 特許 | 検体搬送装置および検体搬送用キャリア FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/04 G |
2021年03月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G |
2021年03月04日 特許庁 / 特許 | 半導体装置製造方法およびプラズマ処理方法 FI分類-H01L 27/092 A, FI分類-H01L 27/092 G, FI分類-H01L 29/78 301 X, FI分類-H01L 29/78 301 Y |
2021年03月02日 特許庁 / 特許 | 電磁弁異常検出装置、それを用いた医用自動分析装置および電磁弁異常検出方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-F16K 31/06 320 A |
2021年03月02日 特許庁 / 特許 | 電解質分析装置 FI分類-G01N 35/02 B, FI分類-G01N 27/28 321 Z, FI分類-G01N 27/416 351 A, FI分類-G01N 27/416 351 J |
2021年03月02日 特許庁 / 特許 | 検体ラック移送装置およびそれを用いた自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 H |
2021年03月01日 特許庁 / 特許 | 実験ポイント推薦装置、実験ポイント推薦方法及び半導体装置製造システム FI分類-G06N 3/02, FI分類-G06N 20/00, FI分類-H01L 21/02 Z |
2021年02月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 35/08 E |
2021年02月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 F |
2021年02月25日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/205, FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2021年02月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、および自動分析装置の保守方法 FI分類-G01N 35/00 F |
2021年02月24日 特許庁 / 特許 | ロボットハンド FI分類-B25J 15/08 C, FI分類-B25J 15/08 P |
2021年02月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C |
2021年02月19日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2021年02月19日 特許庁 / 特許 | エッチング方法およびエッチング装置 FI分類-H01L 21/302 105 A, FI分類-H01L 21/302 201 A |
2021年02月17日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 C |
2021年02月16日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2021年02月15日 特許庁 / 特許 | キャピラリアレイユニット及び電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 315 D, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 G |
2021年02月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2021年02月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 Z |
2021年02月10日 特許庁 / 特許 | 輪郭線解析装置、処理条件決定システム、形状推定システム、半導体装置製造システム、探索装置およびそれらに用いるデータ構造 FI分類-G01B 15/04 K |
2021年02月10日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/06 100, FI分類-H01J 49/06 300, FI分類-H01J 49/06 500 |
2021年02月10日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 A, FI分類-G01N 35/04 G |
2021年02月10日 特許庁 / 特許 | データ処理装置および自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2021年02月09日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C |
2021年02月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2021年02月08日 特許庁 / 特許 | ガス供給装置、真空処理装置及びガス供給方法 FI分類-F17D 1/02, FI分類-C23C 16/455, FI分類-F16K 7/12 Z, FI分類-H01L 21/205, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2021年02月08日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2021年02月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び分析方法 FI分類-G01N 35/02 D |
2021年02月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B |
2021年02月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および反応容器の挿入方法 FI分類-G01N 35/04 G |
2021年02月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析装置におけるメンテナンス方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/04 H |
2021年02月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 A |
2021年02月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 Z |
2021年02月03日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 D |
2021年02月03日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/10 A |
2021年02月03日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及びその組立支援システム FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/10 B |
2021年02月02日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/08 A |
2021年02月01日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置および荷電粒子ビーム装置のキャリブレーション方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 Z |
2021年01月29日 特許庁 / 特許 | 電池診断装置、電池診断方法、電池診断プログラム FI分類-G01R 31/367, FI分類-G01R 31/389, FI分類-G01R 31/392, FI分類-H02J 7/00 Y, FI分類-H01M 10/48 P, FI分類-H01M 10/48 301 |
2021年01月27日 特許庁 / 特許 | 高電圧モジュール FI分類-H01J 49/02 200, FI分類-H01J 49/42 100 |
2021年01月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析装置での分離カラムの設置方法 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/86 Q |
2021年01月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B |
2021年01月22日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/02 200, FI分類-H01J 49/42 150 |
2021年01月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 Z |
2021年01月21日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2021年01月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E |
2021年01月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C |
2021年01月19日 特許庁 / 特許 | 管理装置および依頼方法 FI分類-G06Q 10/06 |
2021年01月19日 特許庁 / 特許 | 粒子分離装置 FI分類-B04C 9/00, FI分類-B01D 45/12 |
2021年01月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析方法 FI分類-G01N 35/02 G |
2021年01月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2021年01月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2021年01月12日 特許庁 / 特許 | 収差補正装置及び電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/153 A |
2021年01月07日 特許庁 / 特許 | 検体搬送システム、および検体の搬送方法 FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-H02K 41/03 A |
2020年12月28日 特許庁 / 特許 | イオン源、質量分析計及びキャピラリーの挿入方法 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/04 450, FI分類-H01J 49/16 700 |
2020年12月24日 特許庁 / 特許 | 検体搬送装置 FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 G |
2020年12月24日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2020年12月24日 特許庁 / 特許 | 静電チャック及び処理装置 FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H02N 13/00 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2020年12月23日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2020年12月22日 特許庁 / 特許 | 電子銃および電子線応用装置 FI分類-H01J 3/02, FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/28 A |
2020年12月18日 特許庁 / 特許 | キャピラリアレイ電気泳動装置 FI分類-G01N 21/64 Z |
2020年12月18日 特許庁 / 特許 | キャピラリアレイ電気泳動装置 FI分類-G01N 21/64 Z |
2020年12月16日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/316 X, FI分類-H01L 21/318 B, FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2020年12月16日 特許庁 / 特許 | パターン計測装置、パターン計測方法、パターン計測プログラム FI分類-G01B 15/04 K |
2020年12月15日 特許庁 / 特許 | 流路切替バルブおよび液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 M |
2020年12月14日 特許庁 / 特許 | 半導体装置の製造方法 FI分類-H05H 1/46 B, FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2020年12月14日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A |
2020年12月10日 特許庁 / 特許 | 半導体製造方法 FI分類-H01L 21/302 201 A |
2020年12月09日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 F |
2020年12月08日 特許庁 / 特許 | オブジェクト分類装置、オブジェクト分類システム及びオブジェクト分類方法 FI分類-G06T 7/00 300 F |
2020年12月03日 特許庁 / 特許 | 電解質分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 27/416 351 B, FI分類-G01N 27/416 351 K |
2020年12月02日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2020年12月01日 特許庁 / 特許 | 検体搬送装置、および検体の搬送方法 FI分類-G01N 35/02 G |
2020年12月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 B |
2020年11月16日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置およびレポート作成方法 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/28 B |
2020年11月11日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、自動分析装置の表示システム、および自動分析装置における表示方法 FI分類-G01N 35/00 A |
2020年11月10日 特許庁 / 特許 | 電子線応用装置 FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/28 B |
2020年11月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム、制御装置及び洗浄方法 FI分類-G01N 35/10 F |
2020年11月02日 特許庁 / 特許 | 生物活性を持つ化合物の探索システム FI分類-G06Q 50/10 |
2020年10月28日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年10月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び自動分析装置用の制御プログラム FI分類-G01N 35/02 G |
2020年10月26日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/20 H, FI分類-H01J 37/28 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 C, FI分類-H01J 37/22 502 Z |
2020年10月21日 特許庁 / 特許 | 接続装置及び検体検査自動化システム FI分類-G01N 35/04 A, FI分類-G01N 35/04 B |
2020年10月19日 特許庁 / 特許 | 搬送装置 FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/04 B, FI分類-G01N 35/04 G |
2020年10月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/10 F |
2020年10月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/10 C |
2020年10月09日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、及び制御方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年10月06日 特許庁 / 特許 | 試料処理デバイス、試料処理装置及び試料の処理方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 37/00 101 |
2020年09月29日 特許庁 / 特許 | 超音波洗浄機及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F, FI分類-G01N 1/00 101 N |
2020年09月29日 特許庁 / 特許 | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 FI分類-H01L 21/302 201 A |
2020年09月29日 特許庁 / 特許 | 画質改善システム及び画質改善方法 FI分類-H01J 37/22 502 G, FI分類-H01J 37/22 502 Z |
2020年09月29日 特許庁 / 特許 | 半導体検査装置および半導体試料の検査方法 FI分類-G01R 31/302, FI分類-G01R 31/28 L |
2020年09月28日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G16H 50/20, FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 C |
2020年09月28日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 Z |
2020年09月28日 特許庁 / 特許 | 解析システム FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-H01L 21/66 N, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年09月28日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年09月25日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置およびキャピラリユニット FI分類-G01N 27/447 331 H |
2020年09月25日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置の運転方法 FI分類-H01L 21/68 A |
2020年09月24日 特許庁 / 特許 | 電気泳動回収装置、及び核酸前処理装置 FI分類-G01N 27/447 315 C, FI分類-G01N 27/447 321 Z, FI分類-G01N 27/447 325 B |
2020年09月23日 特許庁 / 特許 | 電子源とその製造方法およびそれを用いた電子線装置 FI分類-H01J 1/30, FI分類-H01J 9/02 B, FI分類-H01J 37/06 A |
2020年09月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01B 21/22, FI分類-G01B 21/02 A, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 A |
2020年09月18日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置の異物測定方法 FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 101 H |
2020年09月18日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および試料観察方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/147 B |
2020年09月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 103 |
2020年09月17日 特許庁 / 特許 | エラー要因の推定装置及び推定方法 FI分類-G06N 20/00 |
2020年09月11日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および試薬の分注方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 C |
2020年09月10日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 H, FI分類-G01N 35/10 B |
2020年09月08日 特許庁 / 特許 | 半導体処理装置 FI分類-G01N 1/28 Z, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01L 21/68 A, FI分類-G03F 7/20 501, FI分類-G03F 7/20 504, FI分類-G03F 7/20 521, FI分類-G01N 1/00 101 C, FI分類-H01L 21/30 541 Z |
2020年09月04日 特許庁 / 特許 | 検査システム、及び非一時的コンピュータ可読媒体 FI分類-G01N 23/2251 |
2020年09月04日 特許庁 / 特許 | 保冷庫、及び分析装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-F25D 25/00 E, FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/08 A |
2020年09月02日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2020年09月02日 特許庁 / 特許 | 温度制御装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12Q 1/686 Z |
2020年09月01日 特許庁 / 特許 | 半導体製造方法 FI分類-C23F 1/12, FI分類-H01L 21/302 104 C |
2020年08月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B |
2020年08月27日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2020年08月24日 特許庁 / 特許 | 組織構造評価システムおよびサンプル画像撮像方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-G06T 1/00 430 B, FI分類-G06T 7/00 300 F, FI分類-H01J 37/22 502 C, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年08月24日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/248 Z |
2020年08月21日 特許庁 / 特許 | 分注装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 A |
2020年08月20日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-G01N 23/2204, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H02N 13/00 D |
2020年08月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 F |
2020年08月13日 特許庁 / 特許 | 検量線生成方法、自動分析装置、検量線生成プログラム FI分類-G01N 21/27 F, FI分類-G01N 21/59 Z, FI分類-G01N 35/00 A |
2020年08月13日 特許庁 / 特許 | キャピラリ電気泳動装置 FI分類-G01N 21/17 D, FI分類-G01N 27/447 331 K |
2020年08月05日 特許庁 / 特許 | 画像処理システム FI分類-G06T 7/50, FI分類-G06T 7/00 C, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G06T 7/00 350 C, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 Z |
2020年07月31日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および電気ノイズの計測方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 G, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年07月31日 特許庁 / 特許 | キャピラリ電気泳動装置 FI分類-G01N 21/33, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 K |
2020年07月29日 特許庁 / 特許 | 電池管理装置、電池管理方法 FI分類-G01R 31/367, FI分類-G01R 31/389, FI分類-G01R 31/392, FI分類-H02J 7/00 Y, FI分類-H01M 10/48 P, FI分類-H01M 10/48 301 |
2020年07月27日 特許庁 / 特許 | 超音波振動子ホルダ、容器、並びにこれらを用いた分析システム FI分類-G01N 21/03 Z, FI分類-G01N 21/59 Z |
2020年07月22日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置およびこれを制御する方法 FI分類-H01J 49/24 |
2020年07月20日 特許庁 / 特許 | エネルギーフィルタ、およびそれを備えたエネルギーアナライザおよび荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/12, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B |
2020年07月17日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析装置のギヤポンプ状況取得方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 F |
2020年07月17日 特許庁 / 特許 | 検体分析装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/04 P, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 J, FI分類-G01N 30/86 V |
2020年07月17日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法及び質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 ZABD |
2020年07月16日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、自動分析システム及び安全データシートの表示方法 FI分類-G01N 35/00 A |
2020年07月16日 特許庁 / 特許 | 補正係数計算装置、補正係数計算方法、補正係数計算プログラム FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年07月14日 特許庁 / 特許 | 試料像観察装置、及びその方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年07月13日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、およびスキャン波形生成方法 FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2020年07月10日 特許庁 / 特許 | 基板搬送装置 FI分類-F24F 7/06 C, FI分類-H01L 21/68 A |
2020年07月10日 特許庁 / 特許 | 分析装置及び認証方法 FI分類-G06F 21/31, FI分類-G06F 21/62 |
2020年07月09日 特許庁 / 特許 | 掃除ユニット及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C |
2020年07月09日 特許庁 / 特許 | 開閉蓋装置およびそれを備えた自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 Z |
2020年07月09日 特許庁 / 特許 | パターンマッチング装置、パターン測定システム、パターンマッチングプログラム FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 E, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年07月03日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置における撮像条件調整方法 FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/22 502 C, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年07月02日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 1/40, FI分類-G01N 35/00 E |
2020年07月02日 特許庁 / 特許 | カセットスタンド、反応ユニット及び遺伝子検査装置 FI分類-C12M 1/00 A |
2020年07月01日 特許庁 / 特許 | 搬送容器および搬送方法 FI分類-B65D 61/00 J, FI分類-G01N 35/04 H |
2020年06月30日 特許庁 / 特許 | 超音波霧化装置及び超音波霧化方法 FI分類-B05B 17/06 |
2020年06月30日 特許庁 / 特許 | 微小液滴形成装置および分析装置 FI分類-B01J 19/10, FI分類-G01N 1/28 T, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 30/72 G, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2020年06月30日 特許庁 / 特許 | エッチング処理方法およびエッチング処理装置 FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 201 A |
2020年06月29日 特許庁 / 特許 | 電子源、電子銃、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/065, FI分類-H01J 37/073 |
2020年06月26日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 B, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 101 B |
2020年06月26日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 315 D, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2020年06月25日 特許庁 / 特許 | 真空処理方法 FI分類-H01L 21/302 106 |
2020年06月25日 特許庁 / 特許 | ロボット教示装置及び作業教示方法 FI分類-B25J 9/22 A |
2020年06月24日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/455, FI分類-C23C 16/511, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 B |
2020年06月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置が備える分注プローブを洗浄する方法、自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2020年06月22日 特許庁 / 特許 | 寸法計測装置、半導体製造装置及び半導体装置製造システム FI分類-G01B 21/02 Z, FI分類-G01B 21/20 Z |
2020年06月22日 特許庁 / 特許 | 遠赤外分光装置 FI分類-G01N 21/3586 |
2020年06月19日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-C23C 16/50, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2020年06月18日 特許庁 / 特許 | 自動化学分析装置および電気インピーダンススペクトル測定器 FI分類-B01F 11/02, FI分類-B01F 15/00 Z, FI分類-G01N 27/02 Z, FI分類-G01N 35/02 D |
2020年06月16日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 301 S |
2020年06月16日 特許庁 / 特許 | 画像処理方法、形状検査方法、画像処理システム及び形状検査システム FI分類-G01N 23/2251 |
2020年06月15日 特許庁 / 特許 | 電解質測定装置 FI分類-G01N 27/26 371 A, FI分類-G01N 27/333 331 Z, FI分類-G01N 27/416 366 B |
2020年06月12日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および試料観察方法 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年06月10日 特許庁 / 特許 | 検体搬送装置 FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/04 G |
2020年06月10日 特許庁 / 特許 | シンチレータ及び荷電粒子線装置 FI分類-C09K 11/54, FI分類-C09K 11/55, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 49/02 500 |
2020年06月08日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、およびそのフォーカス調整方法 FI分類-H01J 37/21 B |
2020年06月05日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡および電子顕微鏡のフォーカス調整方法 FI分類-H01J 37/21 B |
2020年06月04日 特許庁 / 特許 | 微粒子回収システム及び微粒子回収方法 FI分類-G01N 1/02 A, FI分類-G01N 27/62 F |
2020年06月03日 特許庁 / 特許 | 画像診断方法、画像診断支援装置、及び計算機システム FI分類-G01N 15/14 C, FI分類-G01N 33/48 M, FI分類-G06T 7/00 630 |
2020年06月02日 特許庁 / 特許 | ステージ装置、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 D |
2020年06月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C |
2020年05月29日 特許庁 / 特許 | ろ過カートリッジ及び微生物検査方法 FI分類-C12M 1/26, FI分類-C12Q 1/04 |
2020年05月29日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置において試料の位置を制御する方法、プログラム、記憶媒体、制御装置および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/20 D |
2020年05月27日 特許庁 / 特許 | 核酸分析装置 FI分類-C12Q 1/68, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 35/02 Z |
2020年05月25日 特許庁 / 特許 | 基板保持装置及び基板処理装置 FI分類-H01L 21/68 N |
2020年05月19日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/18 |
2020年05月18日 特許庁 / 特許 | 透過電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244 |
2020年05月15日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置の検査方法 FI分類-H01L 21/302 101 M |
2020年05月13日 特許庁 / 特許 | 燃料電池セルおよびその製造方法 FI分類-H01M 8/0206, FI分類-H01M 8/1097, FI分類-H01M 8/1213, FI分類-H01M 8/1226, FI分類-H01M 8/12 101 |
2020年05月13日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、荷電粒子線装置の制御方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 Z |
2020年05月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、自動分析方法 FI分類-C12Q 1/06, FI分類-G01N 33/48 B |
2020年05月12日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置及び分析方法 FI分類-G01N 27/447 325 D, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2020年05月01日 特許庁 / 特許 | ピンセット、搬送装置および試料片の搬送方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/317 D, FI分類-G01N 1/00 101 B |
2020年04月30日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2020年04月30日 特許庁 / 特許 | 放射線分析システム、荷電粒子ビームシステム及び放射線分析方法 FI分類-G01T 1/26, FI分類-G01N 23/203, FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/2206, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01N 23/2252, FI分類-H01J 37/28 B |
2020年04月24日 特許庁 / 特許 | 分注装置、自動分析装置、分注方法 FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 35/10 D |
2020年04月24日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、分注装置および分注制御方法 FI分類-G01N 35/10 D |
2020年04月23日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子銃および荷電粒子ビームシステム FI分類-H01J 1/46, FI分類-H01J 3/02, FI分類-H01J 37/073 |
2020年04月21日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2020年04月21日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/205, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2020年04月21日 特許庁 / 特許 | 分析装置および分析方法 FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 21/59 Z, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 27/447 331 K |
2020年04月17日 特許庁 / 特許 | カンチレバーおよび走査プローブ顕微鏡ならびに走査プローブ顕微鏡による測定方法 FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/17 N, FI分類-G01Q 60/22 101 |
2020年04月16日 特許庁 / 特許 | 電気泳動システム FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 K |
2020年04月15日 特許庁 / 特許 | 搬送装置および解析システム FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/22 501 Z |
2020年04月13日 特許庁 / 特許 | 液滴搬送デバイス、分析システム及び分析方法 FI分類-G01N 35/08 B, FI分類-B01J 19/00 321, FI分類-G01N 37/00 101 |
2020年04月10日 特許庁 / 特許 | エッチング方法 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2020年04月09日 特許庁 / 特許 | 生体検体解析装置 FI分類-G06T 7/62, FI分類-G06T 7/90 A, FI分類-G01N 35/02 C |
2020年04月07日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子銃、荷電粒子ビームシステム、およびロックナット FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/06 A |
2020年04月03日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2020年04月01日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年03月31日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 F |
2020年03月31日 特許庁 / 特許 | エラー要因の推定装置及び推定方法 FI分類-G06N 20/00 |
2020年03月31日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B |
2020年03月30日 特許庁 / 特許 | 診断システム FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/28 B |
2020年03月30日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置およびラフネス指標算出方法 FI分類-G01B 15/04 K |
2020年03月27日 特許庁 / 特許 | ウェーハ搬送装置 FI分類-H01L 21/02 Z, FI分類-H01L 21/68 A, FI分類-H01L 21/68 L |
2020年03月26日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 L |
2020年03月26日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線システム FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年03月25日 特許庁 / 特許 | 電子銃及び電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/147 B |
2020年03月24日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-H01L 21/68 A |
2020年03月24日 特許庁 / 特許 | 検体搬送装置 FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/04 G |
2020年03月24日 特許庁 / 特許 | 光フィルタリングデバイス、光学顕微鏡及び欠陥観察装置 FI分類-B81B 3/00, FI分類-G02B 26/02 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G01N 21/956 A |
2020年03月19日 特許庁 / 特許 | 複合型自動分析装置、システム、及び異常判定方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2020年03月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、及びその洗浄方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 F |
2020年03月18日 特許庁 / 特許 | 検体搬送装置 FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/04 G |
2020年03月18日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年03月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、及びその洗浄方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 F |
2020年03月17日 特許庁 / 特許 | 粒子定量装置 FI分類-G01N 15/02 B, FI分類-G01N 21/17 A |
2020年03月17日 特許庁 / 特許 | 粒子定量装置 FI分類-C12Q 1/06, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 D, FI分類-G01N 15/02 C, FI分類-G01N 21/17 A |
2020年03月17日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム及びアラーム対処方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2020年03月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び分析方法 FI分類-G01N 35/00 E |
2020年03月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、および自動分析装置の運転方法 FI分類-G01N 35/00 E |
2020年03月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/49 A, FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2020年03月12日 特許庁 / 特許 | 質量分析システム、および質量分析装置の性能を判定する方法 FI分類-H01J 49/02, FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/02 500 |
2020年03月11日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 103 |
2020年03月11日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 A |
2020年03月11日 特許庁 / 特許 | 検体検査自動化システム、及び検体検査方法 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 H |
2020年03月11日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および試料の自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 27/26 381 C, FI分類-G01N 27/416 351 B, FI分類-G01N 27/416 351 K |
2020年03月11日 特許庁 / 特許 | 検体搬送システム FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/02 G |
2020年03月10日 特許庁 / 特許 | 液面検知装置、及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C |
2020年03月10日 特許庁 / 特許 | データ解析方法、データ解析システム、および計算機 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2020年03月10日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 A |
2020年03月10日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置およびその水平出し方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 C |
2020年03月09日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C |
2020年03月09日 特許庁 / 特許 | 電解質濃度測定装置 FI分類-G01N 27/416 366 B |
2020年03月09日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E |
2020年03月09日 特許庁 / 特許 | 微粒子充填方法及び微粒子充填装置 FI分類-C12M 1/00 ZNAA |
2020年03月09日 特許庁 / 特許 | 顕微鏡画像撮像方法および顕微鏡画像撮像装置 FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 21/36 |
2020年03月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 F |
2020年03月06日 特許庁 / 特許 | 試料観察システム及び画像処理方法 FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G06T 7/00 610, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 J |
2020年03月06日 特許庁 / 特許 | ホルダおよび荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 B, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/22 501 Z |
2020年03月06日 特許庁 / 特許 | 計測システム、および送液制御方法 FI分類-G01N 27/447 315 D, FI分類-G01N 27/447 315 K |
2020年03月05日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置および質量分析方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-H01J 49/00 090, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/42 150 |
2020年03月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 A |
2020年03月04日 特許庁 / 特許 | 自動定容装置及び自動定容方法、並びに自動定容システム FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 35/10 K, FI分類-G01F 13/00 311 A |
2020年03月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、保冷庫、および自動分析装置における試薬の保冷方法 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C |
2020年03月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析装置におけるメンテナンスガイド方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 G |
2020年03月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 A |
2020年03月03日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、および異常検知方法 FI分類-G01N 35/00 C |
2020年03月02日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子検出器、荷電粒子線装置、放射線検出器および放射線検出装置 FI分類-H01J 37/28, FI分類-G01T 1/20 C, FI分類-H01J 37/244 |
2020年02月28日 特許庁 / 特許 | 脱気装置及び電解質測定システム FI分類-G01N 1/38, FI分類-G01N 1/44, FI分類-G01N 1/10 J, FI分類-G01N 27/416 351 A, FI分類-G01N 27/416 351 J |
2020年02月27日 特許庁 / 特許 | イオン源、質量分析計、イオン源制御方法 FI分類-H01J 49/04, FI分類-G01N 27/62 G |
2020年02月27日 特許庁 / 特許 | 分析装置のカラムオーブン FI分類-G01N 30/54 E, FI分類-G01N 30/60 P |
2020年02月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析装置の表示装置の表示方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2020年02月27日 特許庁 / 特許 | 半導体解析システム FI分類-H01J 37/26, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/32 B, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/317 D, FI分類-H01J 37/22 501 Z |
2020年02月27日 特許庁 / 特許 | 半導体解析システム FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/22 501 Z |
2020年02月26日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ分析装置、及びその制御方法 FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/32 Z, FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/86 T |
2020年02月26日 特許庁 / 特許 | イオン選択性電極及び電解質濃度測定装置 FI分類-G01N 27/333 331 E, FI分類-G01N 27/333 331 Z |
2020年02月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2020年02月26日 特許庁 / 特許 | 検体観察装置、検体観察方法 FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 21/36 |
2020年02月25日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 30/04 P, FI分類-G01N 30/32 Z, FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/86 M, FI分類-G01N 30/86 V |
2020年02月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G |
2020年02月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 A, FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 35/10 J |
2020年02月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B |
2020年02月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/08 A |
2020年02月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C |
2020年02月21日 特許庁 / 特許 | 情報処理装置、および判断結果出力方法 FI分類-A61B 5/11 230, FI分類-A61B 5/107 100, FI分類-G06T 7/20 300 Z |
2020年02月21日 特許庁 / 特許 | 液体分注装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/10 A |
2020年02月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 C |
2020年02月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A |
2020年02月21日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 315 D, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2020年02月20日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2020年02月20日 特許庁 / 特許 | 凹面回折格子の製造方法 FI分類-G02B 5/18 |
2020年02月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2020年02月18日 特許庁 / 特許 | 搬送装置及び搬送装置を有する検体分析システム FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/04 G |
2020年02月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C |
2020年02月12日 特許庁 / 特許 | 機械学習方法および機械学習用情報処理装置 FI分類-G06N 20/00 130, FI分類-G06T 7/00 350 B |
2020年02月12日 特許庁 / 特許 | 画像分類装置及び方法 FI分類-G06T 7/00 300 F |
2020年02月10日 特許庁 / 特許 | コイルボビン、分布巻ラジアルギャップ型回転電機の固定子コア及び分布巻ラジアルギャップ型回転電機 FI分類-H02K 1/18 B, FI分類-H02K 1/18 C, FI分類-H02K 15/085, FI分類-H02K 3/04 E, FI分類-H02K 3/34 C |
2020年02月10日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 101 H |
2020年02月10日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 101 G, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2020年02月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C |
2020年02月07日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2020年02月07日 特許庁 / 特許 | 学習処理装置及び方法 FI分類-G06N 3/08 120 |
2020年02月06日 特許庁 / 特許 | 計算機、識別器の学習方法、および分析システム FI分類-G06N 3/08, FI分類-G06N 20/10, FI分類-G06N 20/00 130, FI分類-G06T 7/00 350 B |
2020年02月06日 特許庁 / 特許 | 膜厚検査装置 FI分類-G01B 11/06 101 G |
2020年02月06日 特許庁 / 特許 | 制御システムおよび当該制御システムを搭載した自動分析装置 FI分類-H02P 29/00, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 A |
2020年02月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-E05B 65/00 F, FI分類-G01N 35/00 Z |
2020年02月05日 特許庁 / 特許 | 検体処理システム FI分類-G01N 35/02 B |
2020年02月05日 特許庁 / 特許 | 医材搬送システム FI分類-B64D 1/02, FI分類-B64C 27/08, FI分類-B64C 39/02, FI分類-B64D 45/00 Z, FI分類-B65G 61/00 500 |
2020年02月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/10 B |
2020年02月05日 特許庁 / 特許 | 計測システム、および荷電粒子線装置のパラメータ設定方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/22 502 E, FI分類-H01J 37/22 502 F |
2020年02月04日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/62 B, FI分類-G01N 30/86 P |
2020年02月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2020年02月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/04 H |
2020年02月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-F25D 23/00 302 A, FI分類-F25D 23/00 302 M, FI分類-F25D 23/00 302 Z |
2020年02月03日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置および質量分析方法 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 G |
2020年02月03日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 101 G |
2020年01月30日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2020年01月30日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置、およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2020年01月30日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2020年01月30日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び振動抑制機構 FI分類-H01J 37/16, FI分類-F16F 15/02 A, FI分類-F16F 15/02 C, FI分類-H01J 37/09 Z |
2020年01月30日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置、およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2020年01月29日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置 FI分類-H01J 27/04, FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/305 A |
2020年01月27日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/205, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2020年01月23日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置および荷電粒子ビームの調整方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 Z, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年01月23日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理装置の運転方法 FI分類-H01L 21/302 101 G |
2020年01月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F |
2020年01月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 F |
2020年01月22日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び検査装置 FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年01月20日 特許庁 / 特許 | 送液ポンプ及び送液方法 FI分類-F04B 23/06, FI分類-G01N 30/32 C, FI分類-G01N 30/34 A, FI分類-G01N 30/34 E, FI分類-F04B 49/06 311 |
2020年01月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 C |
2020年01月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/02 E |
2020年01月17日 特許庁 / 特許 | 細胞の分化状態の評価方法及び細胞培養システム FI分類-C12Q 1/02, FI分類-C12N 5/073, FI分類-C12M 1/00 D, FI分類-C12N 1/00 A |
2020年01月16日 特許庁 / 特許 | DNA検出方法およびDNA検出システム FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12Q 1/6837 Z |
2020年01月10日 特許庁 / 特許 | パターン検査装置 FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2020年01月09日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 B |
2020年01月09日 特許庁 / 特許 | 画像を生成するシステム、及び非一時的コンピュータ可読媒体 FI分類-G06N 3/02, FI分類-G06T 1/40, FI分類-G06N 20/00, FI分類-G06V 10/82, FI分類-G06T 7/00 350 C |
2019年12月27日 特許庁 / 特許 | 遠赤外分光装置、遠赤外分光方法 FI分類-G01N 21/3581 |
2019年12月26日 特許庁 / 特許 | 計測装置及び計測方法 FI分類-A61B 5/117, FI分類-G01B 11/00 A, FI分類-A61B 5/11 120, FI分類-G06T 7/00 660 B |
2019年12月24日 特許庁 / 特許 | シンチレータ、計測装置、質量分析装置および電子顕微鏡 FI分類-C09K 11/62, FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 37/244, FI分類-C09K 11/00 E |
2019年12月24日 特許庁 / 特許 | 電子源、電子線装置および電子源の製造方法 FI分類-H01J 1/304, FI分類-H01J 37/06, FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 9/02 B |
2019年12月24日 特許庁 / 特許 | 欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G06T 7/00 614 |
2019年12月24日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/305 A |
2019年12月24日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/305 A |
2019年12月24日 特許庁 / 特許 | 基板検査装置 FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01L 21/68 N |
2019年12月23日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置の部品の製造方法及び部品の検査方法 FI分類-C23C 4/134, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2019年12月23日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法およびプラズマ処理に用いる波長選択方法 FI分類-H01L 21/302 103 |
2019年12月23日 特許庁 / 特許 | 多段連結多極子、多段多極子ユニット、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/10, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2019年12月23日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 A |
2019年12月20日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびウエハ処理方法 FI分類-H01L 21/302 103 |
2019年12月20日 特許庁 / 特許 | 電気泳動用分子量マーカー、核酸分画方法及び核酸のサイズ分析方法 FI分類-G01N 27/447 ZNA, FI分類-G01N 27/447 301 B |
2019年12月19日 特許庁 / 特許 | 半導体素子の製造方法及びプラズマ処理装置 FI分類-H01L 27/092 C, FI分類-H01L 29/78 301 B, FI分類-H01L 29/78 301 X, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2019年12月19日 特許庁 / 特許 | イオン源および質量分析計 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 G |
2019年12月18日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 101 B, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2019年12月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2019年12月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理装置の運転方法 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2019年12月16日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B |
2019年12月13日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理装置の運転方法 FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 H |
2019年12月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2019年12月13日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子銃、荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/248 B |
2019年12月12日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線絞りへの入射角調整機構、および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2019年12月11日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置およびステージ FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/20 F, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/68 N |
2019年12月11日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置およびホルダ FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/20 F, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/68 N |
2019年12月09日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2019年12月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 D |
2019年12月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び分注方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 J |
2019年12月03日 特許庁 / 特許 | 化学分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 D |
2019年12月03日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/08 A |
2019年12月03日 特許庁 / 特許 | 探索装置、探索プログラム及びプラズマ処理装置 FI分類-G06N 99/00 180 |
2019年12月02日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析システム、ならびに検体の自動分析方法 FI分類-G01N 35/02 G |
2019年12月02日 特許庁 / 特許 | 自動分析システムおよび検体の搬送方法 FI分類-G01N 35/04 H |
2019年11月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 E |
2019年11月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、及び分析方法 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 H |
2019年11月22日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線システム及び荷電粒子線装置の制御システムにより実行される方法 FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/153 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年11月21日 特許庁 / 特許 | 走査電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/28 B |
2019年11月21日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び収差補正方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2019年11月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/33, FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 21/03 Z, FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 35/00 B |
2019年11月20日 特許庁 / 特許 | ラメラの作製方法、解析システムおよび試料の解析方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-G01N 1/32 B, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-G01N 1/00 101 B |
2019年11月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 35/00 B |
2019年11月19日 特許庁 / 特許 | 複数の液体クロマトグラフを有する分析装置およびその分析方法 FI分類-G01N 30/24 L, FI分類-G01N 30/24 M, FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/86 F |
2019年11月19日 特許庁 / 特許 | 分光光度計および分光分析装置、ならびに分光光度計の製造方法 FI分類-G01J 3/20, FI分類-G01J 3/36, FI分類-G02B 5/18, FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-H01L 31/02 B, FI分類-H01L 31/02 D |
2019年11月14日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F |
2019年11月13日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-C23C 16/44 B, FI分類-H01L 21/302 101 M |
2019年11月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F |
2019年11月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び保守支援方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2019年11月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C |
2019年11月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A |
2019年11月11日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置及び異物の検知方法 FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2019年11月08日 特許庁 / 特許 | 燃料電池セル、燃料電池セル製造方法 FI分類-H01M 4/92, FI分類-H01M 8/126, FI分類-H01M 4/90 M, FI分類-H01M 8/1226, FI分類-H01M 8/1253, FI分類-H01M 8/1286, FI分類-H01M 8/12 101, FI分類-H01M 8/12 102 Z |
2019年11月07日 特許庁 / 特許 | 燃料電池セル、燃料電池セル製造方法 FI分類-H01M 8/0271, FI分類-H01M 8/1286, FI分類-H01M 8/12 101, FI分類-H01M 8/12 102 Z |
2019年11月07日 特許庁 / 特許 | 燃料電池セル、燃料電池システム、燃料電池セル製造方法 FI分類-H01M 8/124, FI分類-H01M 4/86 T, FI分類-H01M 4/86 U, FI分類-H01M 4/88 T, FI分類-H01M 8/1213, FI分類-H01M 8/1226, FI分類-H01M 8/1286, FI分類-H01M 8/2465, FI分類-H01M 8/12 101, FI分類-H01M 8/12 102 Z |
2019年11月07日 特許庁 / 特許 | 燃料電池アレイ、燃料電池検査方法 FI分類-H01M 8/24, FI分類-H01M 8/0202, FI分類-H01M 8/0206, FI分類-H01M 8/0215, FI分類-H01M 8/0228, FI分類-H01M 8/0232, FI分類-H01M 8/0245, FI分類-H01M 8/1286, FI分類-H01M 8/2404, FI分類-H01M 8/2418, FI分類-H01M 8/2428, FI分類-H01M 8/12 101, FI分類-H01M 8/12 102 A |
2019年11月05日 特許庁 / 特許 | 試料分析装置 FI分類-G01N 1/22 T, FI分類-G01N 1/00 101 R |
2019年10月31日 特許庁 / 特許 | 検体容器把持装置及び検体搬送装置、接続装置 FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 35/10 A |
2019年10月31日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年10月31日 特許庁 / 特許 | 電子銃および電子線応用装置 FI分類-H01J 1/34, FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 37/28 B |
2019年10月30日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析システム、ならびに試料の自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 27/416 351 B, FI分類-G01N 27/416 351 K |
2019年10月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C |
2019年10月28日 特許庁 / 特許 | 被搬送体、容器キャリア及び搬送装置 FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/04 G |
2019年10月25日 特許庁 / 特許 | 電解質分析装置 FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 1/00 101 K, FI分類-G01N 27/416 351 B, FI分類-G01N 27/416 351 K, FI分類-G01N 27/416 361 A |
2019年10月18日 特許庁 / 特許 | 電源モジュールおよび質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/42, FI分類-H02M 3/28 Y |
2019年10月18日 特許庁 / 特許 | 欠陥分類装置、欠陥分類プログラム FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G06T 7/00 300 F |
2019年10月18日 特許庁 / 特許 | アライメントシステム及び位置合わせ用シール FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 J |
2019年10月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/10 F |
2019年10月17日 特許庁 / 特許 | 流路切替バルブシステムおよび液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 M |
2019年10月16日 特許庁 / 特許 | 貼付方法、観察方法、貼付条件推定システム、切片作製装置およびサーバ FI分類-G02B 21/34, FI分類-G01N 1/28 U, FI分類-H01J 37/20 A |
2019年10月11日 特許庁 / 特許 | 細菌叢捕集装置及び細菌叢捕集方法 FI分類-C12M 1/12, FI分類-C12M 1/28, FI分類-C12N 1/02, FI分類-C12Q 1/24, FI分類-C12N 1/20 Z |
2019年10月11日 特許庁 / 特許 | 異常判定方法、および自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2019年10月10日 特許庁 / 特許 | 試料ホルダ、膜間距離調整機構、および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 D |
2019年10月10日 特許庁 / 特許 | 薄膜破損検知機能、および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/20 D |
2019年10月09日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C |
2019年10月09日 特許庁 / 特許 | 検体ラック、検体ラック用アダプタおよび自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 H |
2019年10月08日 特許庁 / 特許 | 試料ステージ及び光学式検査装置 FI分類-H01L 21/66 D, FI分類-H01L 21/68 P |
2019年10月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/10 C |
2019年10月07日 特許庁 / 特許 | 電源供給モジュールおよび荷電粒子ビーム装置 FI分類-H02M 3/08, FI分類-H02M 7/10 Z, FI分類-H01J 37/248 B |
2019年10月04日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び検査方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 B |
2019年10月01日 特許庁 / 特許 | 機械学習装置 FI分類-A61B 8/00, FI分類-G06N 20/00, FI分類-G06T 7/00 614, FI分類-A61B 5/055 380, FI分類-G06T 7/00 350 B |
2019年10月01日 特許庁 / 特許 | 搬送装置、および分析システム FI分類-B65G 54/02, FI分類-H02P 25/064, FI分類-G01N 35/04 G |
2019年10月01日 特許庁 / 特許 | 搬送装置、および分析システム FI分類-H02P 25/064 |
2019年09月25日 特許庁 / 特許 | 試料ホルダ、試料ホルダの使用方法、突出量調整治具、突出量の調整方法および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/30 Z |
2019年09月24日 特許庁 / 特許 | 検体搬送装置、システム、及び方法 FI分類-G01N 35/04 Z |
2019年09月24日 特許庁 / 特許 | 試料観察装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年09月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 F |
2019年09月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2019年09月20日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年09月20日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子顕微鏡装置およびその視野調整方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年09月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/15, FI分類-G01N 21/03 Z, FI分類-G01N 21/77 B, FI分類-G01N 21/78 Z, FI分類-G01N 35/04 A |
2019年09月18日 特許庁 / 特許 | アダプター分子、当該アダプター分子と生体分子とが結合した生体分子-アダプター分子複合体、生体分子分析装置及び生体分子分析方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/00 Z, FI分類-C12Q 1/6869 Z, FI分類-C12Q 1/6876 Z, FI分類-C12N 15/11 ZNAZ |
2019年09月17日 特許庁 / 特許 | イオンビーム装置 FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/28 Z, FI分類-H01J 37/317 D, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年09月17日 特許庁 / 特許 | 生体試料分析装置、生体試料分析方法 FI分類-G01N 27/26 381 Z, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 325 A, FI分類-G01N 27/447 325 D |
2019年09月13日 特許庁 / 特許 | 半導体装置の製造方法及びプラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 29/58 G, FI分類-H01L 21/285 C, FI分類-H01L 27/088 C, FI分類-H01L 29/78 301 G, FI分類-H01L 29/78 301 X, FI分類-H01L 29/78 301 Y, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2019年09月12日 特許庁 / 特許 | パターン高さ情報補正システム及びパターン高さ情報の補正方法 FI分類-G01Q 30/06, FI分類-G01Q 60/24 |
2019年09月09日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置の調整方法及び荷電粒子線装置システム FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 E, FI分類-H01J 37/22 502 F |
2019年09月06日 特許庁 / 特許 | レシピ情報提示システム、レシピエラー推定システム FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01L 21/66 Z |
2019年09月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 G |
2019年09月04日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年09月04日 特許庁 / 特許 | 試料画像表示システムおよび荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/22 501 J, FI分類-H01J 37/22 502 A |
2019年09月04日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01N 23/2252, FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年09月02日 特許庁 / 特許 | キャピラリアレイユニット FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2019年08月30日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/28 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年08月30日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年08月30日 特許庁 / 特許 | 計測システム、所定の構造を含む半導体の画像計測を行う際に用いる学習モデルを生成する方法、およびコンピュータに、所定の構造を含む半導体の画像計測を行う際に用いる学習モデルを生成する処理を実行させるためのプログラムを格納する記憶媒体 FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01L 21/66 Z, FI分類-G06T 7/00 350 C |
2019年08月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 D |
2019年08月28日 特許庁 / 特許 | 表示装置、情報端末、およびプログラムとそれを記録する記録媒体 FI分類-G16H 10/60, FI分類-G06F 21/62 345 |
2019年08月28日 特許庁 / 特許 | イオンガン及びイオンミリング装置 FI分類-H01J 27/04, FI分類-H01J 37/08 |
2019年08月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム制御装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01B 15/00 B, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J |
2019年08月27日 特許庁 / 特許 | 透過型電子顕微鏡および撮像方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/09 Z, FI分類-H01J 37/22 501 B, FI分類-H01J 37/22 501 G |
2019年08月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 D |
2019年08月23日 特許庁 / 特許 | オーバーレイ計測システム及びオーバーレイ計測装置 FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年08月23日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置及びそれを用いたミリング加工方法 FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/30 Z |
2019年08月22日 特許庁 / 特許 | 液面検知装置 FI分類-G01N 35/02 Z, FI分類-G01F 23/292 A |
2019年08月21日 特許庁 / 特許 | 検体ホルダ搬送ライン及び検体検査自動化システム FI分類-B65G 43/08 A, FI分類-B65G 47/52 D, FI分類-G01N 35/04 B |
2019年08月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 C |
2019年08月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び光計測方法 FI分類-G01J 1/42 G, FI分類-G01N 35/00 F |
2019年08月09日 特許庁 / 特許 | 分光測定装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01B 11/16 G, FI分類-G01N 21/27 A |
2019年08月09日 特許庁 / 特許 | 移動体情報解析装置および移動体情報解析方法 FI分類-G01C 21/28, FI分類-B65G 1/137 E |
2019年08月08日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年08月08日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線検査システム FI分類-H01J 37/28 A, FI分類-H01L 21/66 C |
2019年08月08日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/28 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年08月08日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/28 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年08月07日 特許庁 / 特許 | 電気特性を導出するシステム及び非一時的コンピューター可読媒体 FI分類-H01L 21/66 J |
2019年08月07日 特許庁 / 特許 | 走査電子顕微鏡及びパタン計測方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J |
2019年08月07日 特許庁 / 特許 | 寸法計測装置、寸法計測方法及び半導体製造システム FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01L 21/302 103 |
2019年08月07日 特許庁 / 特許 | 超音波洗浄器およびこれを用いた自動分析装置 FI分類-B08B 3/12 B, FI分類-G01N 35/10 F |
2019年08月07日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年08月07日 特許庁 / 特許 | 電気特性を導出するシステム及び非一時的コンピューター可読媒体 FI分類-H01J 37/24, FI分類-G01R 31/265, FI分類-G01R 31/305, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01R 31/28 L, FI分類-H01L 21/66 C, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01L 21/66 S, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01L 29/78 301 Z |
2019年08月06日 特許庁 / 特許 | 磁気抵抗効果素子および磁気抵抗効果デバイス FI分類-G01R 33/09, FI分類-H01L 43/10, FI分類-H01L 43/08 Z |
2019年08月05日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2019年08月05日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/302 101 D |
2019年08月05日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2019年07月31日 特許庁 / 特許 | 生体分子分析方法および生体分子分析装置 FI分類-G01N 21/76 |
2019年07月30日 特許庁 / 特許 | 装置診断装置、プラズマ処理装置及び装置診断方法 FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2019年07月29日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 101 B |
2019年07月26日 特許庁 / 特許 | データ処理装置、方法、及び半導体製造装置 FI分類-G06N 20/00, FI分類-G06F 17/18 Z |
2019年07月25日 特許庁 / 特許 | 電気特性を導出するシステム及び非一時的コンピューター可読媒体 FI分類-H01J 37/04 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 S, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 J |
2019年07月25日 特許庁 / 特許 | カラム、クロマトグラフ装置 FI分類-G01N 30/60 B |
2019年07月24日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置および質量分析方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/04 310 |
2019年07月24日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフを有する分析装置および液体クロマトグラフの分析方法 FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 F, FI分類-G01N 30/86 T, FI分類-G01N 30/86 Z |
2019年07月19日 特許庁 / 特許 | 分析装置及び分析方法 FI分類-G01N 27/416 351 B, FI分類-G01N 27/416 351 K, FI分類-G01N 27/416 366 D |
2019年07月19日 特許庁 / 特許 | 採血装置 FI分類-A61B 5/151 200 |
2019年07月18日 特許庁 / 特許 | データ分析装置、データ分析方法及びデータ分析プログラム FI分類-G06N 20/20, FI分類-G06Q 10/04, FI分類-G16H 50/20, FI分類-A61B 5/11 120, FI分類-A61B 5/11 200, FI分類-A61B 5/11 230 |
2019年07月18日 特許庁 / 特許 | 爆発物検査装置 FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 V |
2019年07月18日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2019年07月18日 特許庁 / 特許 | 撮像機構並びに撮像機構を備えた試料分析装置 FI分類-G02B 21/24, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 21/28, FI分類-G02B 21/30, FI分類-G01N 21/64 F |
2019年07月10日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/04 950, FI分類-H01J 49/16 500, FI分類-H01J 49/42 150 |
2019年07月10日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置用シンチレータおよび荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 49/02 500 |
2019年07月09日 特許庁 / 特許 | 電源回路及び質量分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H02M 7/48 A, FI分類-H02M 7/48 Z |
2019年07月08日 特許庁 / 特許 | 事故リスク診断方法、事故リスク診断装置、及び事故リスク診断システム FI分類-G06Q 40/00, FI分類-G06Q 50/30, FI分類-G08G 1/00 D, FI分類-G08G 1/09 F |
2019年07月08日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2019年07月04日 特許庁 / 特許 | 寸法計測装置、寸法計測プログラム及び半導体製造システム FI分類-G06N 20/00, FI分類-H01L 21/66 J |
2019年07月04日 特許庁 / 特許 | 三次元形状検出装置、方法、及びプラズマ処理装置 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/24 D, FI分類-H01L 21/66 J |
2019年07月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 F |
2019年07月03日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、及びその方法 FI分類-G01N 35/00 E |
2019年07月02日 特許庁 / 特許 | 搬送装置 FI分類-B65G 54/02, FI分類-H02P 25/064, FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-H02K 41/03 A |
2019年07月02日 特許庁 / 特許 | ステッピングモータ制御装置、ステッピングモータ制御方法 FI分類-H02P 8/38 |
2019年07月02日 特許庁 / 特許 | 凹面回折格子の製造方法、製造装置及び凹面回折格子 FI分類-G02B 5/18, FI分類-B29C 59/02 Z |
2019年07月02日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および洗浄方法 FI分類-G01N 35/10 F |
2019年07月02日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビームシステム FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/28 B |
2019年07月02日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/04 Z, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B |
2019年07月02日 特許庁 / 特許 | 電子線装置 FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/28 B |
2019年07月02日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/147 B |
2019年06月27日 特許庁 / 特許 | イオン源異常検出装置、およびそれを用いた質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 G |
2019年06月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 Z |
2019年06月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム FI分類-G01N 35/10 C |
2019年06月26日 特許庁 / 特許 | ウェハ観察装置およびウェハ観察方法 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G06T 7/00 300 D, FI分類-G06T 7/00 610 C |
2019年06月26日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2019年06月21日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/76 L, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2019年06月20日 特許庁 / 特許 | 生体物質回収方法 FI分類-G01N 27/447 315 C, FI分類-G01N 27/447 315 G |
2019年06月20日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2019年06月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置用反応容器 FI分類-G01N 35/02 A |
2019年06月20日 特許庁 / 特許 | 物質分析装置及び物質分析方法 FI分類-G01N 27/62 D |
2019年06月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/02 A |
2019年06月18日 特許庁 / 特許 | 搬送装置および搬送方法 FI分類-B65G 54/02, FI分類-H02P 25/064, FI分類-G01N 35/04 H |
2019年06月14日 特許庁 / 特許 | ウエハ搬送装置 FI分類-B65G 49/00 A, FI分類-B65G 49/07 C, FI分類-H01L 21/68 A |
2019年06月13日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 27/11582, FI分類-H01L 29/78 371, FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2019年06月13日 特許庁 / 特許 | 画像処理プログラム、画像処理装置および画像処理方法 FI分類-G06T 7/00 350 C, FI分類-G06T 7/00 610 C |
2019年06月13日 特許庁 / 特許 | 画像処理プログラム、画像処理装置、画像処理方法および欠陥検出システム FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G06T 7/00 610 C |
2019年06月12日 特許庁 / 特許 | 搬送装置 FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/04 G |
2019年06月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C |
2019年06月06日 特許庁 / 特許 | ウエハ搬送装置 FI分類-F24F 7/06 C, FI分類-B01D 46/10 B, FI分類-H01L 21/68 A |
2019年06月06日 特許庁 / 特許 | マルチキャピラリ電気泳動装置、及びサンプル分析方法 FI分類-G01N 27/447 331 K |
2019年06月06日 特許庁 / 特許 | 走査電子顕微鏡 FI分類-G01N 23/2251 |
2019年05月31日 特許庁 / 特許 | ビーム偏向デバイス、収差補正器、モノクロメータ、および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2019年05月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 35/10 G |
2019年05月29日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/24 |
2019年05月29日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 1/38, FI分類-B01F 11/00 C, FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/04 G |
2019年05月28日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析システム FI分類-G01N 35/00 E |
2019年05月27日 特許庁 / 特許 | 光源および生化学分析装置 FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 21/59 Z |
2019年05月27日 特許庁 / 特許 | 分散制御システム、自動分析装置、および自動分析システム FI分類-G01N 35/00 F |
2019年05月27日 特許庁 / 特許 | 試料保持器および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B |
2019年05月23日 特許庁 / 特許 | 細胞検出装置及び細胞検出方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C12Q 1/66, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-C12M 1/34 D |
2019年05月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E |
2019年05月23日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の制御方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/22 501 Z |
2019年05月23日 特許庁 / 特許 | 細胞検出装置 FI分類-C12N 9/02, FI分類-C12Q 1/26, FI分類-G01N 21/76, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-C12N 1/14 A, FI分類-C12N 1/20 A |
2019年05月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析システム FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 C |
2019年05月21日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 F |
2019年05月21日 特許庁 / 特許 | 電子銃および電子銃を備えた荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 37/09 A |
2019年05月17日 特許庁 / 特許 | 接続装置およびこれを備えた検体検査自動化システム FI分類-G01N 35/04 G |
2019年05月15日 特許庁 / 特許 | 検体用トレイと検体検査自動化システム FI分類-G01N 35/04 G |
2019年05月15日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/153, FI分類-H01J 37/09 A |
2019年05月15日 特許庁 / 特許 | 検査装置調整システムおよび検査装置調整方法 FI分類-H01L 21/66 J |
2019年05月13日 特許庁 / 特許 | パターン評価システム及びパターン評価方法 FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-H01L 21/66 J |
2019年05月08日 特許庁 / 特許 | パターン計測装置および計測方法 FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年05月08日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビームシステム、および荷電粒子線装置における観察条件を決定する方法 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年04月26日 特許庁 / 特許 | 画像処理方法、画像処理装置及び画像処理システム FI分類-G06T 7/11 |
2019年04月26日 特許庁 / 特許 | 情報処理装置、画像解析方法 FI分類-G06T 7/00 350 B |
2019年04月26日 特許庁 / 特許 | 透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡を用いた検査方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/22 501 J, FI分類-H01J 37/22 502 A |
2019年04月26日 特許庁 / 特許 | 燃料電池セル、燃料電池システム、リーク検出方法 FI分類-H01M 8/02, FI分類-H01M 8/1286, FI分類-H01M 8/04537, FI分類-H01M 8/04664, FI分類-H01M 8/04746, FI分類-H01M 8/04858, FI分類-H01M 8/04955, FI分類-H01M 8/12 101, FI分類-H01M 8/12 102 A, FI分類-H01M 8/12 102 Z |
2019年04月24日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、及び方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 C |
2019年04月24日 特許庁 / 特許 | 生体ポリマ分析装置及び生体ポリマ分析方法 FI分類-G01N 27/00 Z, FI分類-G01N 27/02 D |
2019年04月24日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B |
2019年04月23日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の制御方法 FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年04月22日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 101 R, FI分類-H01L 21/302 104 C |
2019年04月19日 特許庁 / 特許 | 欠陥観察装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 J |
2019年04月19日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2019年04月19日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/145, FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/153 B |
2019年04月18日 特許庁 / 特許 | 電子源、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/06 A |
2019年04月18日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年04月11日 特許庁 / 特許 | インターロックユニットおよびそれを備えた自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 Z |
2019年04月08日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置、自動分析システム及び画像処理方法 FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G06T 7/00 612 |
2019年04月08日 特許庁 / 特許 | パターン断面形状推定システム、およびプログラム FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年03月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム FI分類-G01N 35/00 F |
2019年03月28日 特許庁 / 特許 | イオン検出装置 FI分類-H01J 43/06, FI分類-H01J 49/06, FI分類-G01N 27/62 E |
2019年03月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 F |
2019年03月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2019年03月26日 特許庁 / 特許 | 電解質分析装置 FI分類-G01N 35/10 E |
2019年03月22日 特許庁 / 特許 | 電子ビーム装置及び画像処理方法 FI分類-G06T 7/168, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G06T 1/00 305 C, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年03月22日 特許庁 / 特許 | 微生物検査キット、微生物検査方法及び微生物検査装置 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C12Q 1/66, FI分類-G01N 21/11, FI分類-G01N 21/76, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 1/10 B, FI分類-G01N 1/10 F, FI分類-G01N 1/00 101 H |
2019年03月22日 特許庁 / 特許 | 発光計測装置、及び発光計測方法 FI分類-C12Q 1/22, FI分類-C12Q 1/24, FI分類-C12Q 1/28, FI分類-C12M 1/34 B |
2019年03月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2019年03月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 G |
2019年03月20日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 L |
2019年03月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/10 A |
2019年03月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 F |
2019年03月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 35/10 C |
2019年03月14日 特許庁 / 特許 | 薬剤感受性の検査方法 FI分類-C12Q 1/06 |
2019年03月12日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/22, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/22 502 L |
2019年03月12日 特許庁 / 特許 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法並びにこれを備えた欠陥観察装置 FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G01N 21/956 A |
2019年03月11日 特許庁 / 特許 | 電解質分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/10 C |
2019年03月08日 特許庁 / 特許 | 温度調整装置及び核酸増幅装置 FI分類-C12M 1/38, FI分類-C12M 1/00 ZNAA |
2019年03月08日 特許庁 / 特許 | 搬送装置、およびそれを備えた検体分析システム、検体前処理装置、ならびに被搬送体の搬送方法 FI分類-B65G 54/02, FI分類-H02P 25/064, FI分類-G01N 35/04 G |
2019年03月08日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2019年03月07日 特許庁 / 特許 | 流路切替バルブ及びそれを有する液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-F16K 11/074 Z |
2019年03月07日 特許庁 / 特許 | 温度制御装置用送液カートリッジ FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 37/00 101 |
2019年03月06日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法、ECR高さモニタ FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2019年03月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-A61L 2/10, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 C |
2019年03月05日 特許庁 / 特許 | 遺伝子型解析装置及び方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-C12N 15/09 Z, FI分類-C12Q 1/6809 Z |
2019年03月05日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフィー質量分析方法およびクロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 M |
2019年03月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2019年03月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 D |
2019年03月04日 特許庁 / 特許 | 検査装置および検査方法 FI分類-C12M 1/34 D |
2019年03月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/76 |
2019年03月01日 特許庁 / 特許 | 送液ポンプ、液体クロマトグラフ装置 FI分類-F04B 23/06, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/32 C, FI分類-F04B 49/02 311, FI分類-F04B 49/06 321 Z |
2019年02月28日 特許庁 / 特許 | 複数サンプルを独立して電気泳動可能な電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2019年02月27日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 H |
2019年02月26日 特許庁 / 特許 | 細胞内における化合物の動態解析法 FI分類-C12Q 1/02, FI分類-C12N 5/071 |
2019年02月22日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年02月21日 特許庁 / 特許 | ラテックス凝集法による目的物質の測定方法、およびその試薬 FI分類-G01N 21/82, FI分類-G01N 33/544, FI分類-G01N 21/47 B, FI分類-G01N 21/59 Z, FI分類-G01N 33/543 581 B |
2019年02月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F |
2019年02月18日 特許庁 / 特許 | 培養容器ラック及び分析装置 FI分類-C12M 1/00 Z |
2019年02月18日 特許庁 / 特許 | 培養容器ラック及び分析装置 FI分類-C12M 1/00 C, FI分類-C12N 1/00 A |
2019年02月18日 特許庁 / 特許 | 培養容器ラック及び分析装置 FI分類-C12Q 1/02, FI分類-C12M 1/00 C, FI分類-C12N 1/00 A |
2019年02月15日 特許庁 / 特許 | 細胞検出装置及び細胞検出方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C12Q 1/22, FI分類-C12Q 1/66, FI分類-C12M 1/34 B |
2019年02月15日 特許庁 / 特許 | ガス成分のモニタ方法及びその装置並びにそれを用いた処理装置 FI分類-G01N 21/73, FI分類-C23C 16/44 E, FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 103 |
2019年02月14日 特許庁 / 特許 | 半導体製造装置 FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 104 C |
2019年02月08日 特許庁 / 特許 | エッチング処理装置、エッチング処理方法および検出器 FI分類-H01L 21/302 103 |
2019年02月08日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2019年02月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、及び分析方法 FI分類-G01N 35/00 F |
2019年02月07日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置の運転方法 FI分類-B65G 49/07 C, FI分類-H01L 21/68 A |
2019年02月05日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/06, FI分類-H01J 37/248 |
2019年02月04日 特許庁 / 特許 | イオン濃度測定装置 FI分類-G01N 27/28 R, FI分類-G01N 27/416 351 B, FI分類-G01N 27/416 351 K |
2019年02月01日 特許庁 / 特許 | 搬送装置および被搬送物の搬送方法 FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/04 G |
2019年02月01日 特許庁 / 特許 | 試料の処理方法およびプラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/302 104 C |
2019年01月31日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/455, FI分類-H01L 21/205, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2019年01月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び分析方法 FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 33/543 501 J |
2019年01月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/10 D, FI分類-G01F 23/292 A |
2019年01月28日 特許庁 / 特許 | 検体検査装置、及びシステム FI分類-G01N 35/00 Z |
2019年01月28日 特許庁 / 特許 | 電子線応用装置 FI分類-H01J 1/34, FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 37/06 A |
2019年01月25日 特許庁 / 特許 | 生体試料検出装置 FI分類-G06F 16/50, FI分類-G06T 7/90 A, FI分類-G01N 21/27 A, FI分類-G01N 35/02 C |
2019年01月24日 特許庁 / 特許 | 検体検査自動化システムおよび空検体キャリア管理方法 FI分類-G01N 35/02 G |
2019年01月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析装置の流路詰まり検出方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 F |
2019年01月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 E, FI分類-G01N 35/10 F |
2019年01月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 E |
2019年01月23日 特許庁 / 特許 | 電子ビーム観察装置、電子ビーム観察システム、電子ビーム観察装置における画像補正方法及び画像補正のための補正係数算出方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年01月23日 特許庁 / 特許 | 電子ビーム観察装置、電子ビーム観察システム、電子ビーム観察装置における画像補正方法及び画像補正のための補正係数算出方法 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年01月22日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡及び3次元構造の深さ算出方法 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2019年01月22日 特許庁 / 特許 | 画像評価装置及び方法 FI分類-G06T 7/00 350 B, FI分類-G06T 7/00 610 C |
2019年01月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/04 A |
2019年01月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 B, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 A |
2019年01月21日 特許庁 / 特許 | 空間位相変調した電子波の発生装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 37/295 |
2019年01月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C |
2019年01月21日 特許庁 / 特許 | 燃料電池セル及び燃料電池モジュール FI分類-H01M 4/92, FI分類-H01M 8/124, FI分類-H01M 8/126, FI分類-H01M 4/90 M, FI分類-H01M 4/90 X, FI分類-H01M 8/1213, FI分類-H01M 8/1253, FI分類-H01M 8/12 101 |
2019年01月15日 特許庁 / 特許 | 検体キャリア FI分類-G01N 35/04 B |
2019年01月15日 特許庁 / 特許 | 電磁界遮蔽板、その製造方法、電磁界遮蔽構造、および半導体製造環境 FI分類-H05K 9/00 T, FI分類-H05K 9/00 W |
2019年01月11日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及びその制御方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/22 501 J, FI分類-H01J 37/22 501 Z |
2019年01月07日 特許庁 / 特許 | 磁気抵抗素子の製造方法 FI分類-H01L 43/12, FI分類-H01L 43/08 Z, FI分類-H01L 27/105 447, FI分類-H01L 21/302 104 C, FI分類-H01L 21/302 105 A, FI分類-H01L 21/302 201 B |
2018年12月27日 特許庁 / 特許 | 搬送装置、およびそれを備えた検体分析システム、検体前処理装置 FI分類-B65G 54/02, FI分類-G01N 35/04 G |
2018年12月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B |
2018年12月26日 特許庁 / 特許 | ウェーハ搬送装置 FI分類-H01L 21/68 A, FI分類-H01L 21/68 M |
2018年12月26日 特許庁 / 特許 | 高電圧増幅器、高電圧電源装置及び質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H03K 17/687 F, FI分類-H01J 49/02 200, FI分類-H01J 49/02 500 |
2018年12月25日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/22 502 F, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2018年12月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、自動分析方法 FI分類-G01N 27/26 371 A, FI分類-G01N 27/26 371 F, FI分類-G01N 27/26 381 A, FI分類-G01N 27/416 351 B, FI分類-G01N 27/416 351 K |
2018年12月18日 特許庁 / 特許 | 測定装置、及び信号処理方法 FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 F, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 G |
2018年12月18日 特許庁 / 特許 | 撮像装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2018年12月17日 特許庁 / 特許 | ウェーハ搬送装置 FI分類-H01L 21/68 A |
2018年12月11日 特許庁 / 特許 | 適応型R744最小量冷却潤滑システム FI分類-B23C 5/28, FI分類-C10N 30:06, FI分類-C10N 40:22, FI分類-C10M 101/02, FI分類-C10M 105/10, FI分類-C10M 107/32, FI分類-C10M 107/34, FI分類-B23B 29/12 Z, FI分類-B23B 47/00 B, FI分類-B23B 51/06 Z |
2018年12月10日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/72 G, FI分類-G01N 30/86 V |
2018年12月06日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、静電レンズ FI分類-H01J 37/12, FI分類-H01J 37/145, FI分類-H01J 37/04 B |
2018年12月06日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2018年12月05日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子源、荷電粒子線装置 FI分類-H01J 1/304, FI分類-H01J 37/06 A |
2018年12月05日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子源、荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/065, FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 37/06 A |
2018年12月04日 特許庁 / 特許 | ステージ装置、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01L 21/68 F |
2018年11月30日 特許庁 / 特許 | 複数のクロマトグラフを有する分析装置 FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/34 A, FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/86 Q |
2018年11月30日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 Z, FI分類-H01L 21/66 J |
2018年11月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 D |
2018年11月28日 特許庁 / 特許 | 光画像計測装置、光画像計測方法 FI分類-G02B 21/00, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 A, FI分類-G01N 21/17 A |
2018年11月28日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F |
2018年11月27日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びそれを用いた試料の処理方法 FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/02 Z, FI分類-H01L 21/26 Q, FI分類-H01L 21/26 T, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2018年11月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子銃及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/065, FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/06 A |
2018年11月26日 特許庁 / 特許 | 検体処理システム FI分類-G01N 35/00 F |
2018年11月21日 特許庁 / 特許 | 検体処理システム FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 C, FI分類-G01N 35/04 H |
2018年11月19日 特許庁 / 特許 | 検体処理システム FI分類-G01N 35/02 G |
2018年11月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および分析方法 FI分類-G01N 30/50, FI分類-B01J 20/283, FI分類-B01J 20/285, FI分類-G01N 30/88 E, FI分類-B01J 20/281 R |
2018年11月16日 特許庁 / 特許 | 放射線分析装置 FI分類-G01T 1/12, FI分類-G01T 1/26, FI分類-G01N 23/20008, FI分類-G01T 1/24 ZAA |
2018年11月15日 特許庁 / 特許 | 広帯域光源装置、及び生化学分析装置 FI分類-H01L 33/50, FI分類-G01N 21/01 D |
2018年11月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G |
2018年11月14日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びそれを用いた被処理試料の処理方法 FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2018年11月14日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 35/10 G |
2018年11月13日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および試料観察方法 FI分類-H01J 37/244 |
2018年11月12日 特許庁 / 特許 | 画像形成方法及び画像形成システム FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/305 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2018年11月12日 特許庁 / 特許 | 欠陥の発生を推定するシステム、及びコンピューター可読媒体 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G03F 7/20 521 |
2018年11月08日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 101 B, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年11月08日 特許庁 / 特許 | 電子線装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/29, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/252 Z |
2018年11月08日 特許庁 / 特許 | イオン源 FI分類-H01J 49/10 |
2018年11月07日 特許庁 / 特許 | 凹面回折格子の製造方法 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G02B 5/18, FI分類-B29C 33/38, FI分類-B29C 59/02 B |
2018年11月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/10 F |
2018年11月05日 特許庁 / 特許 | パターン計測方法、計測システム、及びコンピュータ可読媒体 FI分類-G01B 21/18, FI分類-G01B 15/00 B, FI分類-H01J 37/22 502 E |
2018年11月05日 特許庁 / 特許 | パターン計測方法、計測システム、及びコンピュータ可読媒体 FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01J 37/28 B |
2018年10月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G |
2018年10月29日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2018年10月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 G |
2018年10月29日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 315 D, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 E, FI分類-G01N 27/447 331 G |
2018年10月29日 特許庁 / 特許 | 検体容器の搬送方法 FI分類-G01N 35/02 G |
2018年10月26日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 27/11582, FI分類-H01L 29/78 371, FI分類-H01L 21/302 101 B, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2018年10月25日 特許庁 / 特許 | 試料判別システム及びそれを用いた試料自動処理装置、並びに試料判別方法 FI分類-G01N 35/02 C |
2018年10月25日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、荷電粒子線装置のオートフォーカス処理方法、及び検出器 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 F |
2018年10月19日 特許庁 / 特許 | 生化学用カートリッジ及び生化学分析装置 FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 37/00 101, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2018年10月17日 特許庁 / 特許 | 生化学用カートリッジ及び生化学分析装置 FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 37/00 101 |
2018年10月12日 特許庁 / 特許 | 燃料電池セル FI分類-H01M 4/92, FI分類-H01M 4/88 T, FI分類-H01M 4/90 M, FI分類-H01M 8/1226, FI分類-H01M 8/1286, FI分類-H01M 8/12 101, FI分類-H01M 8/12 102 A |
2018年10月10日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線システム FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2018年10月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置およびプローブの洗浄方法 FI分類-G01N 35/10 F |
2018年10月03日 特許庁 / 特許 | 分析装置のシミュレーション方法及び装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G09B 19/00 H |
2018年09月28日 特許庁 / 特許 | 電解質測定装置 FI分類-G01N 27/416 346, FI分類-G01N 27/26 391 Z |
2018年09月28日 特許庁 / 特許 | サーマルサイクラーおよびそれを備えたリアルタイムPCR装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-F25B 21/02 F, FI分類-F25B 21/02 M |
2018年09月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/12, FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2018年09月27日 特許庁 / 特許 | 試料処理デバイスおよび装置 FI分類-B81B 3/00, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-B01J 19/00 321, FI分類-G01N 37/00 101 |
2018年09月25日 特許庁 / 特許 | パターン形状評価装置、パターン形状評価システム及びパターン形状評価方法 FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01L 21/66 J |
2018年09月25日 特許庁 / 特許 | 試験方法、分注装置 FI分類-G01N 35/02 E, FI分類-G01N 35/10 E, FI分類-G01N 35/10 Z |
2018年09月25日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置及び電気泳動方法 FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2018年09月25日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置に用いるキャピラリカートリッジ FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2018年09月25日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 315 D, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2018年09月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 B |
2018年09月21日 特許庁 / 特許 | セキュリティシステム FI分類-G06F 21/55, FI分類-H04L 12/46 M, FI分類-H04L 12/66 B |
2018年09月21日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B |
2018年09月21日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-G01T 1/20 C, FI分類-G01T 1/20 D, FI分類-H01J 37/244 |
2018年09月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 Z, FI分類-G06Q 10/00 300 |
2018年09月19日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビームシステム FI分類-H01J 19/78, FI分類-H01J 37/24, FI分類-G01R 31/12 A |
2018年09月18日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/07, FI分類-H01J 37/06 A |
2018年09月13日 特許庁 / 特許 | 電解質濃度測定装置 FI分類-G01N 27/333, FI分類-G01N 27/26 371 C, FI分類-G01N 27/26 371 D, FI分類-G01N 27/26 371 F, FI分類-G01N 27/26 381 A, FI分類-G01N 27/26 391 Z, FI分類-G01N 27/416 351 B, FI分類-G01N 27/416 351 K |
2018年09月11日 特許庁 / 特許 | 電子線装置 FI分類-H01J 37/28 B |
2018年09月10日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C |
2018年09月10日 特許庁 / 特許 | スペクトル校正装置及びスペクトル校正方法 FI分類-C12Q 1/68, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-C12Q 1/6869 Z |
2018年09月10日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置に用いる試薬搬送システム FI分類-G05D 1/10, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 G |
2018年09月10日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-A61L 2/10, FI分類-C02F 1/32, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/10 K |
2018年09月06日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年09月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 J |
2018年09月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 J |
2018年09月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 F |
2018年09月06日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-C23C 4/06, FI分類-C23C 4/11, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年09月05日 特許庁 / 特許 | 細胞解析装置及び細胞解析方法 FI分類-C12N 5/09, FI分類-C12Q 1/02, FI分類-C12N 5/071, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 A, FI分類-G01N 33/48 M |
2018年09月04日 特許庁 / 特許 | 材料仕様情報サーバ、材料選択支援方法及び材料選択支援システム FI分類-G06F 16/30, FI分類-G06Q 50/04 |
2018年08月31日 特許庁 / 特許 | パターン検査システム FI分類-G06T 7/00 610 A |
2018年08月31日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 35/04 H |
2018年08月31日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置 FI分類-H01J 37/30 Z |
2018年08月31日 特許庁 / 特許 | パターン検査システム FI分類-G06V 10/774, FI分類-G06T 7/00 350 B, FI分類-G06T 7/00 610 A |
2018年08月29日 特許庁 / 特許 | 凹面回折格子及びその製造方法 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G02B 5/18 |
2018年08月29日 特許庁 / 特許 | 凹面回折格子の製造方法 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G02B 5/18, FI分類-B29C 53/04 |
2018年08月27日 特許庁 / 特許 | 電子源とその製造方法およびそれを用いた電子線装置 FI分類-H01J 1/15, FI分類-H01J 1/148, FI分類-H01J 9/04 C, FI分類-H01J 37/06 A |
2018年08月23日 特許庁 / 特許 | 接続モジュール及び干渉回避方法 FI分類-G01N 35/04 A, FI分類-G01N 35/04 H |
2018年08月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 E, FI分類-G01N 35/02 G |
2018年08月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置の動作方法 FI分類-G01N 35/02 E, FI分類-G01N 35/02 G |
2018年08月22日 特許庁 / 特許 | 分析システム FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 Z |
2018年08月21日 特許庁 / 特許 | 状態予測装置及び半導体製造装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2018年08月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G |
2018年08月02日 特許庁 / 特許 | 生体ポリマー分析方法、および生体ポリマー分析装置 FI分類-C12Q 1/68, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 33/50 P, FI分類-C12Q 1/6869 Z, FI分類-G01N 27/447 ZNA, FI分類-G01N 27/447 325 E |
2018年08月02日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 L, FI分類-H01J 37/22 502 Z |
2018年07月30日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡を用いた微小電子デバイス特性評価装置及びそのプローブユニット FI分類-G01R 1/06, FI分類-G01R 31/26 G, FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/28 K |
2018年07月26日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置および大気開放方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/68 N, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年07月26日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置における撮像条件調整方法 FI分類-H01J 37/141, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/141 Z, FI分類-H01J 37/22 502 C, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2018年07月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 33/543 501 F, FI分類-G01N 33/543 541 A |
2018年07月26日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/68 N, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年07月25日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/24, FI分類-G06F 3/0481, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 J, FI分類-H01J 37/22 502 Z |
2018年07月24日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2018年07月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析装置の漏水検知方法 FI分類-G01N 35/00 F |
2018年07月23日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2018年07月20日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年07月20日 特許庁 / 特許 | 光計測装置および試料観察方法 FI分類-G01N 21/17 630 |
2018年07月19日 特許庁 / 特許 | 磁気トンネル接合素子、それを用いた磁気メモリおよび磁気トンネル接合素子の製造方法 FI分類-H01L 43/08 Z, FI分類-H01L 27/105 447 |
2018年07月19日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244 |
2018年07月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/04 G |
2018年07月13日 特許庁 / 特許 | 細胞解析方法 FI分類-C12Q 1/6851 Z |
2018年07月12日 特許庁 / 特許 | 電気泳動方法、電気泳動システム及び電気泳動ゲル FI分類-G01N 27/447 315 C, FI分類-G01N 27/447 315 E |
2018年07月09日 特許庁 / 特許 | 機械学習装置、画像診断支援装置、機械学習方法及び画像診断支援方法 FI分類-G01N 33/48 Z, FI分類-G06N 99/00 150, FI分類-G06T 7/00 350 C |
2018年07月06日 特許庁 / 特許 | 基板保持具及び走査型電子顕微鏡装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 D, FI分類-H01L 21/68 G, FI分類-H01L 21/68 N |
2018年07月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2018年07月03日 特許庁 / 特許 | 磁界計測装置 FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/035, FI分類-G01R 33/02 R |
2018年07月03日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 A |
2018年07月02日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 B, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2018年06月29日 特許庁 / 特許 | 化学分析装置 FI分類-B01F 11/02, FI分類-G01N 35/02 D |
2018年06月29日 特許庁 / 特許 | 血流解析装置、血流解析プログラム、血流解析システム FI分類-A61B 5/11 230, FI分類-A61B 5/22 100, FI分類-A61B 5/026 120 |
2018年06月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 35/10 F |
2018年06月28日 特許庁 / 特許 | エッチング処理方法およびエッチング処理装置 FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 201 A, FI分類-H01L 21/304 645 C, FI分類-H01L 21/304 648 G, FI分類-H01L 21/304 651 M |
2018年06月28日 特許庁 / 特許 | 半導体ワーク搬送装置 FI分類-B25J 19/00 G, FI分類-H01L 21/68 A |
2018年06月28日 特許庁 / 特許 | 半導体検査装置 FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-G01R 31/28 L, FI分類-H01L 21/66 A, FI分類-H01L 21/66 B, FI分類-H01L 21/66 S |
2018年06月27日 特許庁 / 特許 | 核酸分析用基板、核酸分析用フローセル、及び解析方法 FI分類-C12N 15/09 Z, FI分類-C12Q 1/6874 Z, FI分類-C12M 1/00 ZNAA |
2018年06月26日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 B, FI分類-H01L 21/68 N, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2018年06月26日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2018年06月22日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/32 B, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/30 Z, FI分類-H01J 37/305 A |
2018年06月22日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置 FI分類-G01N 21/17 D, FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 325 A, FI分類-G01N 27/447 331 K |
2018年06月22日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/17 D, FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 325 A |
2018年06月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/10 B |
2018年06月20日 特許庁 / 特許 | 観察装置 FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 7/28 J |
2018年06月18日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2018年06月12日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム制御装置 FI分類-H01J 37/248 C, FI分類-G05F 1/56 310 T |
2018年06月12日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B |
2018年06月07日 特許庁 / 特許 | ステージ装置、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01L 21/68 K |
2018年06月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および試料の搬送方法 FI分類-G01N 35/02 G |
2018年06月06日 特許庁 / 特許 | 分光測定装置、及び分光測定方法 FI分類-G02F 1/39, FI分類-G01N 21/3581 |
2018年06月04日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 35/10 C |
2018年06月04日 特許庁 / 特許 | 電子線装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 Z, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/153 B |
2018年05月31日 特許庁 / 特許 | イオン源、分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 G |
2018年05月31日 特許庁 / 特許 | 検体容器を投入または収納するユニット、およびこれを備えた検体検査自動化システム FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/04 H |
2018年05月31日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E |
2018年05月30日 特許庁 / 特許 | ウエハ検査装置およびウエハ検査方法 FI分類-H01J 37/29, FI分類-G01N 23/203, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G01N 21/956 A |
2018年05月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年05月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 Z |
2018年05月22日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及びその軸調整方法 FI分類-H01J 37/15, FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 A |
2018年05月22日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の検出器位置調整方法 FI分類-H01J 37/145, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2018年05月22日 特許庁 / 特許 | スピン分析装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/18, FI分類-G01N 23/225, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B |
2018年05月22日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 35/04 G |
2018年05月21日 特許庁 / 特許 | 電子線応用装置 FI分類-H01J 1/34, FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/06 Z |
2018年05月16日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2018年05月15日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、試料加工方法及び観察方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 F, FI分類-H01J 37/317 D |
2018年05月11日 特許庁 / 特許 | 撹拌装置、分析装置、分注方法 FI分類-G01N 35/02 D |
2018年05月11日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/10 B, FI分類-G01N 35/10 K |
2018年05月10日 特許庁 / 特許 | 多極子レンズ及びそれを用いた収差補正器、荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/153 B |
2018年04月26日 特許庁 / 特許 | 歩行態様表示方法、歩行態様表示システム及び歩行態様分析装置 FI分類-A61B 5/11 200 |
2018年04月25日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置の照射条件決定方法、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 E, FI分類-H01J 37/22 502 F, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2018年04月20日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理装置用部材、またはプラズマ処理装置の製造方法およびプラズマ処理装置用部材の製造方法 FI分類-C23C 4/04, FI分類-C23C 4/134, FI分類-C04B 35/553, FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-C04B 41/87 J, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年04月20日 特許庁 / 特許 | 高さ検出装置および荷電粒子線装置 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-H01J 37/21 Z, FI分類-H01J 37/28 B |
2018年04月20日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置の運転方法およびプラズマ処理装置用部材 FI分類-C23C 4/04, FI分類-C23C 4/18, FI分類-C23C 4/134, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年04月17日 特許庁 / 特許 | 顕微鏡用スライドの製造方法、観察方法及び分析方法 FI分類-G02B 21/34, FI分類-G01N 1/28 U |
2018年04月16日 特許庁 / 特許 | 分析システム及びイオン流路部洗浄方法 FI分類-H01J 49/04, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 102 |
2018年04月16日 特許庁 / 特許 | アクティブ磁気シールドシステムおよびそれを用いた心磁計システム FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/02 W |
2018年04月10日 特許庁 / 特許 | 半導体装置 FI分類-H01L 21/56 T, FI分類-H01L 23/28 J, FI分類-H01L 27/10 461, FI分類-G01N 27/28 321 F, FI分類-G01N 27/333 331 Z, FI分類-G01N 27/416 351 A, FI分類-G01N 27/416 351 J |
2018年04月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および分析方法 FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/10 D |
2018年04月04日 特許庁 / 特許 | 細菌検査装置および細菌検査方法 FI分類-C12Q 1/06, FI分類-C12M 1/34 C, FI分類-G01N 21/17 A |
2018年04月04日 特許庁 / 特許 | 受動静電CO2複合スプレー塗布器 FI分類-B05B 7/08, FI分類-B05B 5/047, FI分類-B05D 1/02 Z, FI分類-B05D 1/04 H, FI分類-B05D 3/00 B, FI分類-B05D 3/00 C, FI分類-B05D 3/00 D, FI分類-B05D 3/04 Z, FI分類-B05B 5/025 A, FI分類-B05B 5/03 ZNM, FI分類-B05D 7/24 301 E, FI分類-B05D 7/24 303 A |
2018年04月04日 特許庁 / 特許 | 細菌検査装置および細菌検査方法 FI分類-C12Q 1/06, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 33/48 Z |
2018年04月02日 特許庁 / 特許 | 温度制御装置、及び遺伝子検査装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/38 Z, FI分類-G01N 35/00 B |
2018年04月02日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/04 A |
2018年03月30日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 F, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 D |
2018年03月30日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線応用装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/29, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B |
2018年03月29日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/141, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/28 C |
2018年03月29日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2018年03月29日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/28 B |
2018年03月27日 特許庁 / 特許 | 走査電子顕微鏡及び2次電子スピン偏極度を解析する方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/28 B |
2018年03月26日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年03月23日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置の運転方法 FI分類-H01L 21/02 Z, FI分類-H01L 21/68 A, FI分類-H01L 21/302 101 G, FI分類-H01L 21/302 101 M |
2018年03月23日 特許庁 / 特許 | 走査電子顕微鏡及びその撮像方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 E |
2018年03月23日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z |
2018年03月20日 特許庁 / 特許 | 探索装置、探索方法及びプラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/02 Z, FI分類-G03F 7/20 521, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年03月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 35/10 D, FI分類-G01N 35/10 K |
2018年03月19日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/205, FI分類-C23C 14/00 B, FI分類-C23C 16/44 J, FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 101 H, FI分類-H01L 21/304 645 C, FI分類-H01L 21/304 645 Z |
2018年03月15日 特許庁 / 特許 | 光音響計測装置 FI分類-A61B 8/13, FI分類-A61B 5/145, FI分類-G01N 29/24 |
2018年03月14日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、断面形状推定プログラム FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01N 23/2255, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2018年03月14日 特許庁 / 特許 | 探索装置、探索方法及びプラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/02 Z, FI分類-G06N 99/00 150, FI分類-G06N 99/00 180, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年03月14日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C |
2018年03月09日 特許庁 / 特許 | 分散制御システム及びその通信制御方法 FI分類-H04L 12/42 Z |
2018年03月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 A |
2018年03月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G |
2018年02月28日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置及びイオンミリング装置のイオン源調整方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/04 A, FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/30 Z, FI分類-H01J 37/305 A |
2018年02月28日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置及びイオンミリング装置のイオン源調整方法 FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/32 B, FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/30 Z, FI分類-H01J 37/305 A |
2018年02月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び分析方法 FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 35/10 E |
2018年02月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2018年02月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム FI分類-G06F 3/0481, FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2018年02月27日 特許庁 / 特許 | 試料容器移載装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2018年02月27日 特許庁 / 特許 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥観察装置 FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G01N 21/956 A |
2018年02月26日 特許庁 / 特許 | ウェハ観察装置 FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G06T 7/00 300 D, FI分類-G06T 7/00 610 C |
2018年02月23日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-H01L 21/302 101 M |
2018年02月20日 特許庁 / 特許 | ステージ装置、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 D |
2018年02月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/02 E |
2018年02月16日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/10 C |
2018年02月16日 特許庁 / 特許 | メンテナンス装置 FI分類-G01N 35/00 F |
2018年02月16日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、自動分析システム、および分析方法 FI分類-G01N 35/02 D |
2018年02月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析装置における洗浄機構 FI分類-G01N 35/02 E |
2018年02月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 D |
2018年02月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2018年02月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 F |
2018年02月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A |
2018年02月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F |
2018年02月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A |
2018年02月14日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 D |
2018年02月08日 特許庁 / 特許 | 検査システム、画像処理装置、および検査方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01L 21/66 S, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 Z |
2018年02月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2018年02月07日 特許庁 / 特許 | クリーニング装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 1/13 500 |
2018年02月06日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年02月06日 特許庁 / 特許 | 半導体装置の評価装置 FI分類-G01R 1/073 D, FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/28 J, FI分類-H01L 21/66 B |
2018年02月06日 特許庁 / 特許 | 半導体装置の製造方法 FI分類-G01R 1/073 D, FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/28 K, FI分類-H01L 21/66 B, FI分類-H01L 21/66 D, FI分類-H01L 21/66 E, FI分類-H01L 21/66 Y |
2018年02月06日 特許庁 / 特許 | プローブ FI分類-H01L 21/66 B |
2018年02月05日 特許庁 / 特許 | 分注装置、チップ装着方法およびチップ除去方法 FI分類-G01N 35/10 G |
2018年02月05日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 14/34 K, FI分類-C23C 14/50 A, FI分類-H01L 21/68 N, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年01月31日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法、及びプラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2018年01月31日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 H, FI分類-G01N 35/04 H |
2018年01月30日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及び状態予測装置 FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年01月30日 特許庁 / 特許 | 光画像計測装置 FI分類-G01N 21/17 630 |
2018年01月30日 特許庁 / 特許 | 計測検査装置 FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/147 B |
2018年01月30日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2018年01月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、及び自動分析装置の制御方法 FI分類-G01N 35/00 F |
2018年01月26日 特許庁 / 特許 | 医療成果を達成するための制御デバイス FI分類-G16H 20/00 |
2018年01月24日 特許庁 / 特許 | 試料処理装置 FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 37/00 101 |
2018年01月24日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 F, FI分類-G01N 35/10 G |
2018年01月24日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 B, FI分類-G01N 35/02 C |
2018年01月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2018年01月22日 特許庁 / 特許 | 画像評価方法及び画像評価装置 FI分類-G03F 1/84, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01L 21/66 Z, FI分類-G06T 7/00 350 C, FI分類-G06T 7/00 610 B |
2018年01月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B |
2018年01月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B |
2018年01月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年01月17日 特許庁 / 特許 | 化学分析装置、及び、当該化学分析装置に用いる音波攪拌機構 FI分類-B01F 11/02, FI分類-B01F 11/00 A, FI分類-G01N 35/02 D |
2018年01月16日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 A |
2018年01月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 D |
2018年01月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 E, FI分類-G01N 35/02 G |
2018年01月11日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年01月05日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2017年12月27日 特許庁 / 特許 | ウエハ処理方法およびウエハ処理装置 FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 R |
2017年12月26日 特許庁 / 特許 | 検出装置および測長SEM FI分類-G01B 11/26 Z, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01L 21/68 F |
2017年12月25日 特許庁 / 特許 | 光学分析装置 FI分類-G01N 21/65, FI分類-G02B 21/00 |
2017年12月21日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2017年12月21日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置の運転方法 FI分類-H05H 1/46 B, FI分類-H01L 21/302 101 M |
2017年12月21日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 G, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年12月19日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/455, FI分類-C23C 16/511, FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2017年12月19日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2017年12月19日 特許庁 / 特許 | 信号処理装置及び信号処理方法 FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 35/00 A |
2017年12月19日 特許庁 / 特許 | 計測装置および計測データ処理方法 FI分類-G06Q 50/24, FI分類-G01D 9/00 L, FI分類-G06F 21/62 354, FI分類-A61B 5/00 102 C |
2017年12月18日 特許庁 / 特許 | ハンドリングアーム、搬送装置および局所クリーン化装置 FI分類-B65G 49/00 A, FI分類-B65G 49/07 E, FI分類-H01L 21/68 A, FI分類-H01L 21/304 648 A |
2017年12月18日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/511, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2017年12月13日 特許庁 / 特許 | 細菌検査用抗菌剤導入プレート、および透明プレート FI分類-C12M 1/34 C, FI分類-G01N 35/02 A |
2017年12月13日 特許庁 / 特許 | 遠赤外光源、遠赤外分光装置 FI分類-G02F 1/35, FI分類-G02F 1/37, FI分類-G02F 1/39, FI分類-G01N 21/3586 |
2017年12月12日 特許庁 / 特許 | 搬送システム FI分類-B65G 35/06 G, FI分類-B65G 47/24 E, FI分類-B65G 47/24 G, FI分類-B65G 47/24 J, FI分類-G01N 35/04 G |
2017年12月08日 特許庁 / 特許 | ノズル洗浄器およびこれを用いた自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2017年12月07日 特許庁 / 特許 | 磁気分離方法および自動分析装置 FI分類-B03C 1/00 A, FI分類-B03C 1/00 B, FI分類-B03C 1/00 H, FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-G01N 35/02 Z, FI分類-B03C 1/28 107 |
2017年12月05日 特許庁 / 特許 | 孔形成方法及び孔形成装置 FI分類-G01N 27/00 Z, FI分類-H01L 21/306 L |
2017年12月01日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置における撮像条件調整方法 FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 C, FI分類-H01J 37/22 502 D, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年12月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C |
2017年12月01日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 315 D, FI分類-G01N 27/447 315 K |
2017年11月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 101 G |
2017年11月28日 特許庁 / 特許 | 超音波洗浄器およびこれを用いた自動分析装置 FI分類-B08B 3/12 B, FI分類-G01N 35/10 F |
2017年11月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置およびそれを用いた試料観察方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 F |
2017年11月17日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置および真空処理装置の運転方法 FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 M |
2017年11月13日 特許庁 / 特許 | 採血装置および採血装置の作動方法 FI分類-A61B 5/02 800 D, FI分類-A61B 5/14 300 D |
2017年11月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 H, FI分類-G01N 35/04 H |
2017年11月13日 特許庁 / 特許 | 分析方法 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 H, FI分類-G01N 35/04 H |
2017年11月13日 特許庁 / 特許 | 分析方法 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2017年11月10日 特許庁 / 特許 | パターン計測装置および計測方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年11月08日 特許庁 / 特許 | DNAシーケンサ FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 37/00 101 |
2017年11月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 Z |
2017年11月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/10 D |
2017年11月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/10 D |
2017年11月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び自動分析方法 FI分類-G01N 35/02 E, FI分類-G01N 35/10 C |
2017年11月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び自動分析方法 FI分類-G01N 35/02 E, FI分類-G01N 35/10 F |
2017年10月31日 特許庁 / 特許 | 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 FI分類-H01L 21/302 201 |
2017年10月31日 特許庁 / 特許 | 分注装置および検体分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/10 Z |
2017年10月30日 特許庁 / 特許 | 評価用半導体基板およびそれを用いた検査装置の欠陥検出感度評価方法 FI分類-G01N 23/203, FI分類-H01L 21/66 L, FI分類-G01N 23/20008 |
2017年10月25日 特許庁 / 特許 | 生物組織試料の作成方法、及び生物組織片試料の観察方法 FI分類-G01N 1/30, FI分類-G01N 1/06 D, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 J |
2017年10月24日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、断面形状推定プログラム FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年10月17日 特許庁 / 特許 | 電解質濃度測定装置 FI分類-G01N 27/28 M, FI分類-G01N 35/08 B, FI分類-G01N 35/08 F, FI分類-G01N 27/416 351 B, FI分類-G01N 27/416 351 K |
2017年10月16日 特許庁 / 特許 | 撮像装置 FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01N 23/203, FI分類-H04N 7/18 V, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 J |
2017年10月13日 特許庁 / 特許 | パターン計測装置およびパターン計測方法 FI分類-G01B 15/00 K |
2017年10月13日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置およびパターン計測方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年10月13日 特許庁 / 特許 | パターン計測方法、パターン計測装置、およびパターン計測プログラム FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年10月12日 特許庁 / 特許 | ピストン及びシリンジ FI分類-A61M 5/315 512 |
2017年09月29日 特許庁 / 特許 | 搬送装置 FI分類-B25J 19/00 G, FI分類-B65G 49/07 G, FI分類-H01L 21/68 B |
2017年09月29日 特許庁 / 特許 | 局所クリーン基板搬送装置 FI分類-F24F 7/06 C, FI分類-B65G 49/00 A, FI分類-F24F 7/007 B, FI分類-H01L 21/68 A |
2017年09月29日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年09月29日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 325 B, FI分類-G01N 27/447 331 E, FI分類-G01N 27/447 331 K |
2017年09月29日 特許庁 / 特許 | 走査電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B |
2017年09月27日 特許庁 / 特許 | システム、特定検査向け支援方法およびプログラム FI分類-G06N 99/00 153, FI分類-G01N 23/225 312 |
2017年09月22日 特許庁 / 特許 | 反応液保持装置、および自動分析装置 FI分類-F28D 15/02 K, FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-F28D 15/02 101 A |
2017年09月21日 特許庁 / 特許 | 生体磁気計測装置 FI分類-A61B 5/05 A |
2017年09月21日 特許庁 / 特許 | 磁気トンネル接合素子の製造方法およびプラズマ処理装置 FI分類-H01L 43/12, FI分類-C23F 4/00 A, FI分類-H01L 43/08 Z, FI分類-H01L 27/105 447, FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 104 Z, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2017年09月20日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2017年09月20日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理装置状態予測方法 FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 103 |
2017年09月20日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2017年09月20日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/29, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年09月15日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 101 H |
2017年09月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及びリモート保守システム並びに保守方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2017年09月15日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置 FI分類-H01J 37/30 Z |
2017年09月14日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2017年09月14日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 A |
2017年09月14日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子顕微鏡装置および広視野画像生成方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-G06T 3/00 750, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年09月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 Z, FI分類-G01N 35/10 G |
2017年09月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、消耗品供給装置および消耗品供給方法 FI分類-G01N 35/00 Z, FI分類-G01N 35/04 H, FI分類-G01N 35/10 G |
2017年09月08日 特許庁 / 特許 | 指採血装置 FI分類-A61B 5/14 300 D |
2017年09月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 F |
2017年09月07日 特許庁 / 特許 | 分光測定装置 FI分類-G01N 21/27 B, FI分類-G01N 21/3581 |
2017年09月07日 特許庁 / 特許 | 電子銃および電子ビーム応用装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/28 B |
2017年09月05日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2017年09月04日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/141 Z, FI分類-H01J 37/317 D |
2017年09月04日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 Z |
2017年09月01日 特許庁 / 特許 | 走査電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/29, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B |
2017年08月30日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28, FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/147 B |
2017年08月28日 特許庁 / 特許 | 多極子レンズ及びそれを用いた収差補正器、荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/153 B, FI分類-H01J 37/153 Z |
2017年08月24日 特許庁 / 特許 | 分注システムおよびこれを備えた自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 D |
2017年08月24日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置およびそれを用いた観察方法、元素分析方法 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/252 Z |
2017年08月23日 特許庁 / 特許 | 化学分析装置 FI分類-B01F 11/02, FI分類-G01N 1/28 Y, FI分類-G01N 35/02 D |
2017年08月23日 特許庁 / 特許 | エッチング方法およびエッチング装置 FI分類-H01L 21/28 E, FI分類-H01L 21/88 D, FI分類-H01L 21/88 M, FI分類-H01L 27/11556, FI分類-H01L 27/11582, FI分類-H01L 29/78 371, FI分類-H01L 21/28 301 R, FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 104 C |
2017年08月23日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置、方法、及び荷電粒子顕微鏡 FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年08月22日 特許庁 / 特許 | 遠赤外分光装置、および遠赤外分光方法 FI分類-G01N 21/3581 |
2017年08月10日 特許庁 / 特許 | 分散制御装置、自動分析装置及び制御デバイスの計測方法 FI分類-G05B 19/042, FI分類-H04L 12/44 107 |
2017年08月08日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及び半導体装置製造システム FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2017年08月08日 特許庁 / 特許 | 磁気トンネル接合素子の製造方法 FI分類-H01L 43/10, FI分類-H01L 43/12, FI分類-H01L 29/82 Z, FI分類-H01L 43/08 M, FI分類-H01L 43/08 Z, FI分類-H01L 27/105 447 |
2017年08月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2017年08月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および情報処理装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/02 C |
2017年08月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E |
2017年08月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/10 F |
2017年08月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/82, FI分類-G01N 35/00 F |
2017年08月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析システム並びに試薬リストの表示方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 C |
2017年08月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2017年08月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C |
2017年08月03日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム FI分類-G01N 35/00 A |
2017年08月02日 特許庁 / 特許 | 生体試料分析装置、及び方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12Q 1/68 Z, FI分類-G01N 27/00 Z |
2017年07月31日 特許庁 / 特許 | 装置、試料における気泡の状態の判別方法、及び分析システム FI分類-C12M 1/34 F, FI分類-G01N 21/17 A, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 Z, FI分類-G06T 7/00 614, FI分類-G06T 7/00 350 C |
2017年07月31日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 H, FI分類-G01N 35/10 B |
2017年07月31日 特許庁 / 特許 | キャピラリ電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2017年07月28日 特許庁 / 特許 | 収差補正装置及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/153 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年07月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/10 C |
2017年07月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 C |
2017年07月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および画像処理方法 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 G |
2017年07月21日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡用の収差補正装置およびこのような装置を備えた電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/153 B |
2017年07月18日 特許庁 / 特許 | イオン選択性電極、電解質測定装置、及び電解質測定システム FI分類-G01N 27/26 371 G, FI分類-G01N 27/333 331 K, FI分類-G01N 27/333 331 Z, FI分類-G01N 27/416 351 B, FI分類-G01N 27/416 351 K |
2017年07月18日 特許庁 / 特許 | 診断デバイス FI分類-G01M 13/02, FI分類-G01N 35/00 F |
2017年07月18日 特許庁 / 特許 | 検体検査自動化システム FI分類-G01N 35/04 B |
2017年07月14日 特許庁 / 特許 | 検体検査自動化システムおよびその制御方法 FI分類-G01N 35/02 G |
2017年07月13日 特許庁 / 特許 | 栓処理装置およびそれを備えた検体検査自動化システム FI分類-G01N 35/02 B |
2017年07月07日 特許庁 / 特許 | 薄膜デバイス保管装置,保管方法及び生体分子計測方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 27/00 Z |
2017年07月05日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年07月03日 特許庁 / 特許 | 磁界計測装置および計測磁界表示方法 FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-G01R 33/02 R, FI分類-G01R 33/02 W |
2017年06月28日 特許庁 / 特許 | 泳動媒体容器 FI分類-G01N 27/447 315 E, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 315 Z, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2017年06月26日 特許庁 / 特許 | 試料処理装置 FI分類-B81B 3/00, FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 37/00 101 |
2017年06月21日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置およびクリーニング方法 FI分類-H01J 37/20 G |
2017年06月16日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び自動分析方法 FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 21/78 Z, FI分類-G01N 35/00 E |
2017年06月14日 特許庁 / 特許 | 試験キット、試験方法、分注装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 E |
2017年06月13日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び試料の厚さ測定法 FI分類-G01N 23/225 |
2017年06月12日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフィー質量分析方法及びクロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 G |
2017年06月09日 特許庁 / 特許 | 細胞状態の解析装置および解析方法 FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/34, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01N 21/17 620 |
2017年06月08日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置およびノズル部材 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/42 |
2017年06月07日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 Z |
2017年06月02日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/295, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B |
2017年05月31日 特許庁 / 特許 | 陰イオン選択性電極及びその製造方法 FI分類-G01N 27/333 331 C, FI分類-G01N 27/333 331 F, FI分類-G01N 27/333 331 K |
2017年04月25日 特許庁 / 特許 | 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 FI分類-H01L 21/302 201 A |
2017年04月21日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置における条件設定方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 F |
2017年04月14日 特許庁 / 特許 | 撮像装置および形態特徴データ表示方法 FI分類-G06T 7/00 630, FI分類-G06T 7/00 300 F |
2017年04月14日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および細胞評価方法 FI分類-C12Q 1/02, FI分類-C12M 1/34 B |
2017年04月07日 特許庁 / 特許 | 画像診断支援装置及び画像診断支援システム、並びに画像診断支援方法 FI分類-G01N 33/48 M, FI分類-G06T 1/00 295, FI分類-G06T 7/00 630, FI分類-G06T 7/00 350 C |
2017年04月05日 特許庁 / 特許 | 核酸増幅方法および核酸解析用装置 FI分類-C12M 1/34, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12N 15/09 Z, FI分類-C12Q 1/686 Z, FI分類-C12Q 1/6848 Z, FI分類-C12Q 1/6869 Z |
2017年03月30日 特許庁 / 特許 | 検体処理システム FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 B |
2017年03月30日 特許庁 / 特許 | 半導体ワーク搬送装置 FI分類-H01L 21/68 A |
2017年03月30日 特許庁 / 特許 | 磁場データ処理システム FI分類-A61B 5/05 A |
2017年03月29日 特許庁 / 特許 | キャピラリ電気泳動装置および恒温槽 FI分類-G01N 27/447 315 D, FI分類-G01N 27/447 315 K |
2017年03月29日 特許庁 / 特許 | 容器搬送機構およびこれを備えた分析装置 FI分類-G01N 35/04 G |
2017年03月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 E, FI分類-G01N 35/10 F |
2017年03月29日 特許庁 / 特許 | 検体保持具搬送装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2017年03月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C |
2017年03月29日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/12, FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/141, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/147 B |
2017年03月29日 特許庁 / 特許 | キャピラリ電気泳動装置および恒温槽 FI分類-G01N 27/447 315 D, FI分類-G01N 27/447 315 K |
2017年03月28日 特許庁 / 特許 | 部材調達支援システム、部材調達支援方法およびプログラム FI分類-G06Q 30/06, FI分類-G05B 19/418 Z |
2017年03月28日 特許庁 / 特許 | 閉栓装置及びシステム FI分類-B67B 1/04, FI分類-G01N 35/02 B |
2017年03月28日 特許庁 / 特許 | 取引支援システム、方法、及びプログラム FI分類-G06Q 30/06 330 |
2017年03月28日 特許庁 / 特許 | 検査装置 FI分類-G01N 21/15, FI分類-C12M 1/34 A, FI分類-G01N 21/03 Z, FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/02 B |
2017年03月27日 特許庁 / 特許 | 画像処理システム及び画像処理を行うためのコンピュータープログラム FI分類-G06T 7/00 350 B |
2017年03月27日 特許庁 / 特許 | 画像処理システムおよび画像処理方法 FI分類-G06T 7/00 350 B |
2017年03月24日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 35/10 F |
2017年03月24日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置の調整方法 FI分類-H01J 37/29, FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/20 H, FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年03月24日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/147 B |
2017年03月24日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/147 B |
2017年03月24日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年03月23日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 101 G |
2017年03月23日 特許庁 / 特許 | 分離カラム収納ホルダ、分離カラム交換装置及び交換方法 FI分類-G01N 30/60 A, FI分類-G01N 30/60 Q, FI分類-G01N 30/60 Z |
2017年03月21日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 103 |
2017年03月21日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2017年03月17日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C |
2017年03月17日 特許庁 / 特許 | エッチング方法及びプラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2017年03月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-A61L 2/10, FI分類-A61L 2/24, FI分類-A61L 101:10, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-A61L 2/20 100 |
2017年03月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び自動分析方法 FI分類-G01N 21/51, FI分類-G01N 35/00 A |
2017年03月03日 特許庁 / 特許 | 生体分子分析装置および生体分子分析方法 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 21/78 C, FI分類-G01N 33/53 T, FI分類-G01N 37/00 101, FI分類-G01N 33/543 575, FI分類-G01N 33/543 525 E, FI分類-G01N 33/543 541 A |
2017年03月01日 特許庁 / 特許 | 試薬保冷装置、自動分析装置及び保冷システム FI分類-F25D 21/04 Z, FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C |
2017年03月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G |
2017年02月28日 特許庁 / 特許 | 電子源およびそれを用いた電子線装置 FI分類-H01J 1/15 E, FI分類-H01J 1/16 D, FI分類-H01J 1/18 D, FI分類-H01J 37/06 A |
2017年02月27日 特許庁 / 特許 | ステージ装置、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 D |
2017年02月24日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/10 B |
2017年02月24日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 H, FI分類-G01N 35/10 C |
2017年02月24日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/68 R |
2017年02月24日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H02N 13/00 D |
2017年02月23日 特許庁 / 特許 | 計測装置及び観測条件の設定方法 FI分類-G01N 23/225 310, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年02月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-B01F 11/02, FI分類-B01F 3/08 Z, FI分類-G01N 1/28 Y, FI分類-G01N 35/02 D |
2017年02月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C |
2017年02月22日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B |
2017年02月20日 特許庁 / 特許 | 試料観察装置および試料観察方法 FI分類-G01N 23/225, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G06T 3/40 730, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 J |
2017年02月20日 特許庁 / 特許 | 分析システム及び分析方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-C12Q 1/6869 Z, FI分類-G01N 27/447 325 E |
2017年02月20日 特許庁 / 特許 | 画像推定方法およびシステム FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G06T 3/40 730, FI分類-G06T 7/00 350 B, FI分類-H01J 37/22 502 G |
2017年02月20日 特許庁 / 特許 | キャピラリ電気泳動装置 FI分類-G01J 3/51, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2017年02月13日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/22 502 L |
2017年02月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01C 9/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2017年01月31日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子検出器及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 49/02, FI分類-G01T 1/20 B, FI分類-G21K 4/00 A, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-G01N 23/225 324 |
2017年01月31日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2017年01月31日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2017年01月31日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 B, FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 35/10 C |
2017年01月31日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および洗浄方法 FI分類-G01N 35/10 F |
2017年01月31日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 E, FI分類-G01N 35/10 F |
2017年01月31日 特許庁 / 特許 | 検体搬送システムおよび検体搬送方法 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 J |
2017年01月31日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2017年01月30日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2017年01月30日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2017年01月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 C, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年01月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年01月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 C |
2017年01月24日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01F 23/26 A, FI分類-G01N 35/10 C |
2017年01月23日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-H01L 21/02 Z, FI分類-H01L 21/68 R |
2017年01月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2017年01月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C |
2017年01月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、自動分析装置における廃液方法、及び、三方電磁弁 FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 35/10 B |
2017年01月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G08B 25/00 510 H |
2017年01月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/08 E |
2017年01月19日 特許庁 / 特許 | 検体検査自動化システム FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2017年01月17日 特許庁 / 特許 | 走査電子顕微鏡および走査電子顕微鏡による試料観察方法 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 H, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/147 B |
2017年01月16日 特許庁 / 特許 | 検体搬送システム FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 H |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 B, FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/10 D |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/12, FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/141 Z, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年01月10日 特許庁 / 特許 | ナノポアを用いた電流計測装置及び電流計測方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12N 15/09 Z, FI分類-G01N 27/00 Z, FI分類-C12Q 1/6869 Z |
2016年12月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01J 3/10, FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 21/59 Z, FI分類-G01N 35/00 F |
2016年12月23日 特許庁 / 特許 | 体外診断システムの吸引プローブの洗浄方法、体外診断方法及び体外診断システム FI分類-G01N 35/10 F |
2016年12月22日 特許庁 / 特許 | 観察装置 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-G06T 7/12, FI分類-C12M 1/34 A, FI分類-G01N 21/17 A, FI分類-G06T 7/00 630 |
2016年12月22日 特許庁 / 特許 | カラム及び交換装置 FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/60 P, FI分類-G01N 30/60 Z |
2016年12月20日 特許庁 / 特許 | 超音波洗浄器およびこれを用いた自動分析装置 FI分類-B08B 3/12 B, FI分類-G01N 35/10 F |
2016年12月14日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G, FI分類-H01L 21/302 101 R |
2016年12月14日 特許庁 / 特許 | 培養機器 FI分類-C12M 1/34 A |
2016年12月09日 特許庁 / 特許 | ナノポア形成方法、ナノポア形成装置及び生体分子計測装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 D, FI分類-B01J 19/08 F, FI分類-G01N 27/00 Z |
2016年12月09日 特許庁 / 特許 | 生体試料分析装置 FI分類-G01N 21/27 A, FI分類-G01N 21/59 Z, FI分類-G01N 35/02 C |
2016年12月02日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及びその制御方法 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 G |
2016年12月01日 特許庁 / 特許 | 配線ガイド機構および電子機器 FI分類-H02G 11/00, FI分類-H05K 5/03 C, FI分類-H05K 7/00 B |
2016年11月29日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-C23C 16/509, FI分類-H01L 21/205, FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 101 B |
2016年11月29日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置およびその制御方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/28 B |
2016年11月29日 特許庁 / 特許 | 生体分子測定装置 FI分類-C12Q 1/68, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12N 15/09 Z, FI分類-G01N 27/00 Z, FI分類-C12Q 1/6837 Z, FI分類-C12N 15/09 200 |
2016年11月25日 特許庁 / 特許 | 分析処理システム及び分析処理方法 FI分類-G01N 35/00 F |
2016年11月24日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 G, FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/28 B |
2016年11月22日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および試料観察方法 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 C, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2016年11月02日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2016年11月01日 特許庁 / 特許 | 画像診断支援装置及びシステム、画像診断支援方法 FI分類-C12N 5/09, FI分類-G01N 15/00 A, FI分類-G01N 33/48 M |
2016年10月31日 特許庁 / 特許 | プラズマエッチング方法 FI分類-C23F 4/00 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/28 E, FI分類-H01L 21/88 D, FI分類-H01L 21/88 R, FI分類-H01L 21/28 301 R, FI分類-H01L 21/302 104 C, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2016年10月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 103 |
2016年10月20日 特許庁 / 特許 | 生体分子の処理方法および分析方法 FI分類-C12Q 1/68 |
2016年10月14日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-C02F 1/00 J, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2016年10月13日 特許庁 / 特許 | 電子線装置 FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 9/02 B, FI分類-H01J 37/06 A |
2016年09月29日 特許庁 / 特許 | パターン評価装置及びコンピュータープログラム FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G06T 1/00 305 A |
2016年09月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置の運転方法 FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 H |
2016年09月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-A61L 2/10, FI分類-A61L 2/24, FI分類-A61L 101:10, FI分類-G01F 23/00 Z, FI分類-G01F 23/30 Z, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-A61L 2/20 100 |
2016年09月26日 特許庁 / 特許 | 欠陥検出装置及び欠陥観察装置 FI分類-G01N 21/84 E, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G01N 21/956 A |
2016年09月23日 特許庁 / 特許 | サーバ、制御システム、制御方法、及び、制御プログラム FI分類-F24F 11/02 Z, FI分類-G06Q 10/06 302, FI分類-H04M 11/00 301, FI分類-H04Q 9/00 301 C, FI分類-F24F 11/02 103 D, FI分類-G06F 13/00 358 D |
2016年09月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 H |
2016年09月23日 特許庁 / 特許 | 駆動ねじ装置、送液機構、及び送液方法 FI分類-G01N 27/447 301 C, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2016年09月23日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/06 A |
2016年09月21日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 B, FI分類-H01L 21/302 101 H |
2016年09月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 C |
2016年09月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 D, FI分類-G01N 35/10 F |
2016年09月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 B, FI分類-G01N 35/10 C |
2016年09月16日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2016年09月16日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 H, FI分類-H01L 21/304 645 Z |
2016年09月14日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡装置及びそれを用いた傾斜ホールの測定方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2016年09月13日 特許庁 / 特許 | 画像診断支援装置、画像診断支援方法及び試料分析システム FI分類-G06T 7/00 G, FI分類-G01N 21/27 A, FI分類-G06T 1/00 295 |
2016年09月09日 特許庁 / 特許 | エッチング方法およびエッチング装置 FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 104 C |
2016年09月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 33/553, FI分類-G01N 21/75 Z, FI分類-G01N 33/543 575 |
2016年09月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F |
2016年09月06日 特許庁 / 特許 | 電子源および電子線照射装置 FI分類-H01J 1/30, FI分類-G21K 5/04 F, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 9/02 B, FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/28 B |
2016年09月05日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 B, FI分類-H01L 21/302 103 |
2016年09月05日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 C |
2016年09月02日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G |
2016年09月02日 特許庁 / 特許 | 文字列辞書の構築方法、文字列辞書の検索方法、および、文字列辞書の処理システム FI分類-G06F 19/22, FI分類-G06F 17/30 170 F |
2016年09月01日 特許庁 / 特許 | 検体検査装置用テストキット及び検体検査装置の校正方法 FI分類-G01N 21/27 F, FI分類-G01N 35/00 Z |
2016年08月31日 特許庁 / 特許 | 粒子計測方法および粒子計測装置 FI分類-G01Q 60/24, FI分類-G01N 23/225, FI分類-G01B 15/00 B, FI分類-G01N 15/00 Z, FI分類-G01N 23/2202 |
2016年08月30日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2016年08月30日 特許庁 / 特許 | イオン選択電極、その作製方法及びカートリッジ FI分類-G01N 27/333, FI分類-G01N 27/333 321 Z |
2016年08月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および検査室情報システム FI分類-G01N 35/02 G |
2016年08月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/04 B |
2016年08月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および試薬ボトルの搬入方法 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 G |
2016年08月23日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の収差補正方法 FI分類-H01J 37/153 B |
2016年08月22日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡および観察方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/295 |
2016年08月19日 特許庁 / 特許 | 検体検査自動化システム FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 B, FI分類-G01N 35/04 G |
2016年08月19日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 101 |
2016年08月09日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/15, FI分類-G01N 21/03 Z, FI分類-G01N 35/02 A |
2016年08月09日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/30 Z |
2016年08月08日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 B |
2016年08月03日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及び試料の離脱方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2016年08月01日 特許庁 / 特許 | 分散制御装置及び分散制御システム FI分類-H04L 12/44 107 |
2016年07月29日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 D |
2016年07月28日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A |
2016年07月28日 特許庁 / 特許 | 検体検査自動化システム FI分類-G01N 35/04 B, FI分類-G01N 35/04 G |
2016年07月27日 特許庁 / 特許 | 分散制御システム FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-H04L 12/44 M |
2016年07月27日 特許庁 / 特許 | 温度調整装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-F25B 21/02 F |
2016年07月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 D |
2016年07月26日 特許庁 / 特許 | 電解質濃度測定装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 27/26 371 A, FI分類-G01N 27/26 371 F |
2016年07月25日 特許庁 / 特許 | 気泡除去構造、及び気泡除去方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 37/00 101 |
2016年07月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 21/15, FI分類-G01N 21/01 B, FI分類-G01N 35/04 G |
2016年07月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び自動分析システム FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 E |
2016年07月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 33/86, FI分類-G01N 35/02 G |
2016年07月22日 特許庁 / 特許 | 回路検査方法および試料検査装置 FI分類-G01R 31/02, FI分類-G01R 31/28 K, FI分類-H01J 37/20 E |
2016年07月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C |
2016年07月22日 特許庁 / 特許 | パターン評価装置 FI分類-G01N 23/225, FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01L 21/66 J |
2016年07月21日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理データを解析する解析方法 FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 103 |
2016年07月21日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 B |
2016年07月14日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置 FI分類-H01J 27/04, FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/30 Z |
2016年07月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 B, FI分類-G01N 35/10 A |
2016年07月13日 特許庁 / 特許 | 発光分析用検出装置および自動分析装置 FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 21/78 C |
2016年07月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、自動分析方法、及び試薬登録システム FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 C |
2016年07月11日 特許庁 / 特許 | 分注装置及び自動分析装置 FI分類-B01J 4/02 B, FI分類-G01N 35/10 A |
2016年07月11日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 Z |
2016年07月11日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G |
2016年07月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 B |
2016年07月08日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および試料ステージのアライメント調整方法 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 A, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 L, FI分類-H01J 37/22 502 Z |
2016年07月07日 特許庁 / 特許 | 動的な応答解析プローバ装置 FI分類-G01R 31/26 G |
2016年07月01日 特許庁 / 特許 | イオン濃度測定装置 FI分類-G01N 27/26 371 D, FI分類-G01N 27/26 371 F, FI分類-G01N 27/26 371 G, FI分類-G01N 27/333 331 Z, FI分類-G01N 27/416 351 A, FI分類-G01N 27/416 351 J |
2016年07月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 C |
2016年07月01日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/30 Z |
2016年06月30日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 1/10 P, FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 27/416 361 A |
2016年06月29日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2016年06月28日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、自動分析システム及び自動分析方法 FI分類-G01N 21/82, FI分類-G01N 35/00 F |
2016年06月28日 特許庁 / 特許 | 保冷加温装置、及び分析装置 FI分類-C12M 1/38 Z, FI分類-F25B 21/02 H, FI分類-F25D 23/12 P, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-F25D 11/00 101 W |
2016年06月27日 特許庁 / 特許 | 超音波洗浄器およびこれを用いた自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2016年06月23日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 E, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 Z |
2016年06月22日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置およびその運転方法 FI分類-H01L 21/02 Z, FI分類-H01L 21/68 A |
2016年06月21日 特許庁 / 特許 | 採血装置および採血装置の作動方法 FI分類-A61B 5/14 300 Z |
2016年06月17日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置を用いた画像の生成方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2016年06月17日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 L |
2016年06月17日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 502 A |
2016年06月16日 特許庁 / 特許 | スフェロイド内部の細胞状態の解析方法 FI分類-C12M 1/34, FI分類-C12Q 1/02, FI分類-G01N 21/17 A, FI分類-G01N 21/17 620 |
2016年06月16日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置、及び制御方法 FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 Q |
2016年06月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および検体検査自動化システム FI分類-G01N 35/02 C |
2016年06月15日 特許庁 / 特許 | 検体情報提供方法 FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/02 J |
2016年06月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、検体検査自動化システム、および検体情報提供方法 FI分類-G01N 35/02 J |
2016年06月10日 特許庁 / 特許 | 生体分子の分析方法および分析装置 FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 27/02 D, FI分類-C12Q 1/6869 Z, FI分類-C12M 1/00 ZNAA |
2016年06月09日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-A61L 2/10, FI分類-C02F 1/32, FI分類-G01N 35/00 C |
2016年06月03日 特許庁 / 特許 | 生体分子計測装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 27/00 Z, FI分類-G01N 27/28 P, FI分類-G01N 27/28 Z |
2016年05月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/82, FI分類-G01N 21/77 B, FI分類-G01N 33/543 581 A |
2016年05月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置の試料加工方法 FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/32 B, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/30 Z |
2016年05月26日 特許庁 / 特許 | 試料液面位置計測装置及び試料液面位置計測方法 FI分類-G01B 11/00 A, FI分類-G01N 33/49 K, FI分類-G01N 35/00 Z |
2016年05月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 E |
2016年05月24日 特許庁 / 特許 | 異常診断システム、及び異常診断方法 FI分類-G05B 23/02 302 W |
2016年05月23日 特許庁 / 特許 | 観察方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-H01J 37/26, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 F |
2016年05月23日 特許庁 / 特許 | 試料保持装置、およびこれを備えた荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/20 F, FI分類-H01J 37/28 B |
2016年05月20日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2016年05月17日 特許庁 / 特許 | 分離カラム接続装置、接続方法及び分析システム FI分類-G01N 30/60 P, FI分類-G01N 30/60 Q |
2016年04月28日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A |
2016年04月28日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C |
2016年04月27日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびそれを用いたプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2016年04月27日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびそれを用いたプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2016年04月27日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2016年04月22日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子顕微鏡および試料撮像方法 FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 Z |
2016年04月15日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡装置 FI分類-G01N 23/225 310, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2016年04月13日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/22, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/28 B |
2016年04月13日 特許庁 / 特許 | パターン計測装置およびパターン計測方法 FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2016年04月13日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および試料ホルダ FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2016年04月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び方法 FI分類-G01N 35/10 D |
2016年03月31日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244 |
2016年03月31日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244 |
2016年03月30日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/08 D, FI分類-G01N 27/416 356, FI分類-G01N 27/30 311 C, FI分類-G01N 27/333 331 K, FI分類-G01N 27/416 361 A |
2016年03月29日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/073 |
2016年03月28日 特許庁 / 特許 | 感受性計測装置及び検査装置 FI分類-C12M 1/34 C |
2016年03月28日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置の調整方法 FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B |
2016年03月24日 特許庁 / 特許 | 検体容器搬送装置および検体容器ホルダ FI分類-G01N 35/02 B, FI分類-G01N 35/04 B, FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2016年03月24日 特許庁 / 特許 | 検体搬送システムおよび検体検査システム FI分類-G01N 35/04 H, FI分類-G01N 35/04 Z |
2016年03月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 27/22 B, FI分類-G01N 35/10 C |
2016年03月18日 特許庁 / 特許 | 標本の観察方法 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/26, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/20 F, FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-G01N 23/04 310, FI分類-H01J 37/22 501 J, FI分類-H01J 37/22 501 Z |
2016年03月18日 特許庁 / 特許 | 標本の観察方法 FI分類-G01N 23/04 |
2016年03月18日 特許庁 / 特許 | キャピラリ電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 315 K |
2016年03月18日 特許庁 / 特許 | キャピラリ電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 315 K |
2016年03月17日 特許庁 / 特許 | 検体搬送システム FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 G |
2016年03月16日 特許庁 / 特許 | 光量検出装置、それを用いた免疫分析装置および荷電粒子線装置 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/66, FI分類-G01J 1/42 G, FI分類-G01N 23/225 310 |
2016年03月16日 特許庁 / 特許 | 検体容器傾き矯正機構、およびこれらの制御方法 FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2016年03月16日 特許庁 / 特許 | 欠陥検査装置 FI分類-G01N 23/203, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01L 21/66 N, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2016年03月16日 特許庁 / 特許 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 FI分類-H01J 37/29, FI分類-G01N 23/203, FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01L 21/66 N |
2016年03月11日 特許庁 / 特許 | 異常診断装置および方法、並びに、異常診断システム FI分類-G05B 23/02 T, FI分類-G06F 11/22 675 E |
2016年03月11日 特許庁 / 特許 | 電子線式パターン検査装置 FI分類-G01N 23/203, FI分類-G01N 23/22 330, FI分類-G01N 23/225 310 |
2016年03月07日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 30/72 C |
2016年03月04日 特許庁 / 特許 | イオン移動度分離部を備える分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 102 |
2016年03月04日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、設置方法 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/09 Z, FI分類-H01J 37/28 B |
2016年03月01日 特許庁 / 特許 | 電界放出電子源、その製造方法および電子線装置 FI分類-H01J 1/30 F, FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 9/02 B, FI分類-H01J 37/06 A |
2016年02月29日 特許庁 / 特許 | 電解質分析装置 FI分類-G01N 27/28 M, FI分類-G01N 27/38 301, FI分類-G01N 27/26 371 C, FI分類-G01N 27/26 391 Z, FI分類-G01N 27/416 351 B, FI分類-G01N 27/416 351 K |
2016年02月26日 特許庁 / 特許 | ウェーハ搬送装置 FI分類-B25J 13/08 A, FI分類-H01L 21/68 A, FI分類-H01L 21/68 L |
2016年02月26日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置用制振ダンパ FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/29, FI分類-F16F 7/00 F, FI分類-F16F 15/04 A |
2016年02月26日 特許庁 / 特許 | 核酸分子の構築方法 FI分類-C12P 19/30, FI分類-C12Q 1/68 Z, FI分類-C12N 15/00 A, FI分類-C12N 15/00 ZNA |
2016年02月26日 特許庁 / 特許 | 検体搬送装置および検体搬送方法 FI分類-G01N 35/02 C |
2016年02月26日 特許庁 / 特許 | 検体搬送装置および検体処理システム FI分類-G01N 35/02 H, FI分類-G01N 35/04 G |
2016年02月26日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置、及びイオンミリング方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/30 Z |
2016年02月26日 特許庁 / 特許 | イオンミリング方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/30 Z |
2016年02月26日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置、及びイオンミリング方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 H, FI分類-G01N 1/32 A, FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/30 Z |
2016年02月25日 特許庁 / 特許 | 欠陥観察装置 FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01L 21/66 S |
2016年02月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 35/10 C |
2016年02月22日 特許庁 / 特許 | 発光検出装置 FI分類-G01N 21/15, FI分類-G02B 21/00, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G02B 3/00 A, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 27/447 331 K |
2016年02月22日 特許庁 / 特許 | ダイクロイックミラーアレイ FI分類-G01J 3/36, FI分類-G01J 3/51, FI分類-G02B 5/26, FI分類-G02B 27/10 |
2016年02月22日 特許庁 / 特許 | 発光検出装置 FI分類-G01N 21/15, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 27/447 331 K |
2016年02月22日 特許庁 / 特許 | 発光検出装置 FI分類-G01N 21/17 A, FI分類-G01N 21/64 Z |
2016年02月19日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2016年02月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 E |
2016年02月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2016年02月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、及び搬送ラインの異常検出方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/04 H |
2016年02月19日 特許庁 / 特許 | 透明容器用ラベル及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 A, FI分類-G01N 35/04 G |
2016年02月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 C |
2016年02月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 B, FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/04 G |
2016年02月17日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及びその洗浄方法 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/10 F |
2016年02月17日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-G01F 25/00 L, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2016年02月17日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-C12M 1/34, FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 35/08 B, FI分類-G01N 37/00 101 |
2016年02月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び自動分析方法 FI分類-C12Q 1/37, FI分類-C12Q 1/56, FI分類-G01N 33/86, FI分類-G01N 33/96, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/02 H |
2016年02月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び自動分析方法 FI分類-C12Q 1/37, FI分類-C12Q 1/56, FI分類-G01N 33/86, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 21/17 Z, FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/02 H, FI分類-G01N 35/04 H |
2016年02月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び自動分析方法 FI分類-C12Q 1/37, FI分類-C12Q 1/56, FI分類-G01N 33/86, FI分類-G01N 33/96, FI分類-C12M 1/00 Z, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 35/02 G |
2016年02月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び自動分析方法 FI分類-G01N 33/86, FI分類-G01N 35/00 E |
2016年02月10日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2016年02月10日 特許庁 / 特許 | 分析装置およびその分析方法 FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 21/47 Z, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 33/50 P, FI分類-G01N 35/00 F |
2016年02月10日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 C |
2016年02月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C |
2016年02月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 D |
2016年02月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 G |
2016年02月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2016年02月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 G |
2016年02月03日 特許庁 / 特許 | 試料ホルダ、イオンミリング装置、試料加工方法、試料観察方法、及び試料加工・観察方法 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/305 Z, FI分類-H01J 37/317 D |
2016年02月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E |
2016年02月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E |
2016年02月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 A |
2016年02月01日 特許庁 / 特許 | 点検デバイス FI分類-G01N 35/00 F |
2016年02月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置の分析方法 FI分類-G01N 35/02 J, FI分類-G01N 35/04 H |
2016年01月29日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子検出器、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 37/244, FI分類-C09K 11/00 E, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-C09K 11/62 CQF |
2016年01月29日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2016年01月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/11, FI分類-G01N 21/03 Z, FI分類-G01N 35/02 A, FI分類-G01N 35/10 D |
2016年01月29日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置およびその光軸調整方法 FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2016年01月29日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 501 J, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2016年01月28日 特許庁 / 特許 | 塩基配列決定装置、キャピラリアレイ電気泳動装置及び方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-C12Q 1/6869 Z |
2016年01月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及びその散乱光測定光学系評価用標準液 FI分類-G01N 21/03 Z, FI分類-G01N 21/27 F, FI分類-G01N 21/49 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2016年01月21日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置用部材の製造方法 FI分類-H01J 37/12, FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/147 Z, FI分類-H01J 37/153 Z |
2016年01月21日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及びそのイオン検出方法 FI分類-H01J 49/06, FI分類-G01N 27/62 B |
2016年01月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/02 G |
2016年01月08日 特許庁 / 特許 | 液面検査装置、自動分析装置および処理装置 FI分類-G01N 35/10 C |
2016年01月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び蓋開閉機構 FI分類-G01N 35/02 B |
2016年01月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析装置用液体容器 FI分類-G01N 35/02 E |
2016年01月04日 特許庁 / 特許 | 試料の離脱方法およびプラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2016年01月04日 特許庁 / 特許 | 磁気抵抗素子の製造方法および真空処理装置 FI分類-H01L 43/12, FI分類-H01L 29/82 Z, FI分類-H01L 43/08 Z, FI分類-H01L 27/10 447 |
2016年01月04日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 43/12, FI分類-H01L 43/08 Z, FI分類-H01L 27/10 447, FI分類-H01L 21/302 101 H, FI分類-H01L 21/302 104 C |
2016年01月04日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2015年12月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年12月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/517, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2015年12月24日 特許庁 / 特許 | 生体ポリマを分析するための測定試薬及び分析デバイス FI分類-G01N 33/483 F, FI分類-G01N 37/00 101 |
2015年12月22日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 C |
2015年12月18日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理装置の運転方法 FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 B, FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 103 |
2015年12月18日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理装置の運転方法 FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H01L 21/302 103 |
2015年12月17日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2015年12月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理装置の運転方法 FI分類-H01L 21/302 103 |
2015年12月09日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び自動分析装置の異常判定方法 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 A |
2015年12月08日 特許庁 / 特許 | 高電圧電源装置および、荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/248 B |
2015年12月07日 特許庁 / 特許 | サンプリングノズルおよびこれを用いた自動分析装置並びにサンプリングノズルの製造方法 FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 1/00 101 K |
2015年12月04日 特許庁 / 特許 | ドライエッチング方法 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2015年12月04日 特許庁 / 特許 | 分析方法、及び分析装置 FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/53 U, FI分類-G01N 33/543 545 A |
2015年12月02日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 101 H |
2015年12月01日 特許庁 / 特許 | 細胞解析デバイス、装置およびそれを用いた細胞解析方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 B |
2015年11月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置における画像処理方法 FI分類-H01J 37/22 502 E, FI分類-H01J 37/22 502 G |
2015年11月26日 特許庁 / 特許 | 保存容器、流動カートリッジ、および吐出機構 FI分類-G01N 35/02 A, FI分類-G01N 35/02 B, FI分類-G01N 37/00 101 |
2015年11月25日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、荷電粒子線装置を用いた観察方法、及び、プログラム FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 C, FI分類-H01J 37/22 502 D, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2015年11月24日 特許庁 / 特許 | 生体試料分析装置および生体試料分析方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 27/00 Z, FI分類-C12Q 1/6869 Z |
2015年11月17日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-C23C 16/46, FI分類-F16L 59/18, FI分類-B01J 3/02 J, FI分類-F16L 59/065, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年11月11日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 101 H |
2015年11月11日 特許庁 / 特許 | 多色蛍光分析装置 FI分類-G01N 21/64 F |
2015年10月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/68 N, FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 101 G, FI分類-H01L 21/302 101 R |
2015年10月15日 特許庁 / 特許 | テンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法 FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G06T 1/00 305 A, FI分類-G06T 7/00 300 D |
2015年10月15日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/28 B |
2015年10月15日 特許庁 / 特許 | テンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法 FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G06T 7/00 610, FI分類-G06T 1/00 305 C, FI分類-G06T 7/00 300 D |
2015年10月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C |
2015年10月09日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H02N 13/00 D, FI分類-H01L 21/302 101 B, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年10月09日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 G |
2015年09月30日 特許庁 / 特許 | 試料搬送装置 FI分類-B25J 15/00 F, FI分類-B65G 49/07 E, FI分類-H01L 21/68 A |
2015年09月30日 特許庁 / 特許 | 光学式表面検査装置及び光学式表面検査方法 FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G01N 21/95 A, FI分類-G01N 21/956 A |
2015年09月30日 特許庁 / 特許 | 光学式表面検査装置及び光学式表面検査方法 FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G01N 21/95 A, FI分類-G01N 21/956 A |
2015年09月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 F |
2015年09月29日 特許庁 / 特許 | 電子線エネルギー損失分光装置を備えた走査透過型電子顕微鏡およびその観察方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 C |
2015年09月28日 特許庁 / 特許 | 計測装置、計測装置の校正方法および校正部材 FI分類-G01B 15/04 K |
2015年09月28日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および自動分析装置における試料分注方法 FI分類-G01N 35/10 A |
2015年09月25日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及びパターン測定装置 FI分類-G01N 23/203, FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G01N 23/225 310, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2015年09月25日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置 FI分類-H01J 27/04, FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/305 A |
2015年09月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 E |
2015年09月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 A |
2015年09月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A |
2015年09月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/04 A |
2015年09月16日 特許庁 / 特許 | 曲面回折格子の型の製造方法、曲面回折格子の製造方法、曲面回折格子、および光学装置 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G02B 5/18, FI分類-B29C 33/38, FI分類-B29C 59/02 B |
2015年09月11日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/455, FI分類-C23C 16/511, FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-C23C 14/54 B, FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年09月11日 特許庁 / 特許 | 検体検査システム FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 G |
2015年09月10日 特許庁 / 特許 | 検査装置 FI分類-H01L 21/66 J |
2015年09月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 F |
2015年08月31日 特許庁 / 特許 | ステージ装置およびそれを用いた荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2015年08月27日 特許庁 / 特許 | 検体搬送システム FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 G |
2015年08月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E |
2015年08月25日 特許庁 / 特許 | 検体処理システム FI分類-G01N 35/04 H |
2015年08月25日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2015年08月21日 特許庁 / 特許 | 観察支援ユニットおよびこれを用いた試料観察方法、荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/18, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 F, FI分類-H01J 37/28 B |
2015年08月20日 特許庁 / 特許 | イオンビーム装置およびガス電界電離イオン源の洗浄方法 FI分類-H01J 27/26, FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/28 Z |
2015年08月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 E |
2015年08月03日 特許庁 / 特許 | 電子線装置および電子線装置用ガス供給装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/20 F |
2015年08月03日 特許庁 / 特許 | 透過型電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/20 F |
2015年07月31日 特許庁 / 特許 | 半導体デバイスの評価条件設定方法、及び評価条件設定装置 FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G03F 7/20 521 |
2015年07月31日 特許庁 / 特許 | フロー型電解質濃度測定装置及びそれを用いた電解質濃度測定方法 FI分類-G01N 27/28 321 F, FI分類-G01N 27/30 313 Z, FI分類-G01N 27/46 351 B, FI分類-G01N 27/46 351 K |
2015年07月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 C |
2015年07月24日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置、遺伝子検査装置及び温度制御方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 F, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 35/00 B |
2015年07月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C |
2015年07月22日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2015年07月22日 特許庁 / 特許 | 遠赤外分光装置 FI分類-G01J 3/10, FI分類-G02F 1/37, FI分類-G02F 1/39, FI分類-G01N 21/3581 |
2015年07月22日 特許庁 / 特許 | 遠赤外分光装置 FI分類-G01J 3/10, FI分類-G02F 1/37, FI分類-G02F 1/39, FI分類-G01J 3/42 U, FI分類-G01N 21/3581 |
2015年07月22日 特許庁 / 特許 | 遠赤外分光装置 FI分類-G01J 3/10, FI分類-G02F 1/37, FI分類-G02F 1/39, FI分類-G01J 3/42 U, FI分類-G01N 21/3581 |
2015年07月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 B |
2015年07月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 C |
2015年07月17日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 H, FI分類-G01N 35/04 H |
2015年07月14日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/46, FI分類-H01L 21/205, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年07月10日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 E |
2015年07月09日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年07月09日 特許庁 / 特許 | レール検査装置、および、レール検査システム FI分類-G01N 27/83 |
2015年07月09日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/46, FI分類-C23C 16/50, FI分類-H01L 21/68 N, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年07月08日 特許庁 / 特許 | 細胞分散計測機構及びそれを用いた細胞継代培養システム FI分類-C12M 3/02, FI分類-C12Q 1/06, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 D |
2015年07月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 1/00 101 K |
2015年07月02日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置およびそれに用いる分電ユニット FI分類-H02B 1/08 H, FI分類-H02B 1/08 N, FI分類-H02B 1/10 A, FI分類-H02B 9/00 D, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 M |
2015年07月01日 特許庁 / 特許 | キャピラリカートリッジ、及び電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 301 C, FI分類-G01N 27/447 301 Z, FI分類-G01N 27/447 315 D, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 325 A |
2015年07月01日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 315 K |
2015年06月30日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/82, FI分類-G01N 21/49 A |
2015年06月29日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F, FI分類-G01N 35/10 Z |
2015年06月29日 特許庁 / 特許 | 粒子吸引捕捉機構及び粒子吸引捕捉機構を備えた開栓装置 FI分類-B67B 7/10, FI分類-G01N 35/02 B, FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 35/10 E |
2015年06月26日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびそのデータ解析装置 FI分類-H01L 21/302 103 |
2015年06月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および撮像方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 D |
2015年06月23日 特許庁 / 特許 | マルチチャンネル分析装置,照射方法,及びマイクロチップ FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 37/00 101, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 K |
2015年06月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 C |
2015年06月19日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/302 101 M |
2015年06月17日 特許庁 / 特許 | 採血装置 FI分類-A61B 5/02 D, FI分類-A61B 5/02 332 C, FI分類-A61B 5/14 300 D |
2015年06月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 M |
2015年06月17日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2015年06月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 H |
2015年06月17日 特許庁 / 特許 | パターン測定条件設定装置、及びパターン測定装置 FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01L 21/66 Z, FI分類-G03F 7/20 521 |
2015年06月17日 特許庁 / 特許 | 分析装置および分析方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/53 H, FI分類-G01N 35/10 B, FI分類-G01N 33/543 531, FI分類-G01N 33/543 541 A |
2015年06月17日 特許庁 / 特許 | 温度調整容器 FI分類-C12M 1/00 C, FI分類-C12M 3/00 Z, FI分類-G01N 21/03 Z |
2015年06月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/54, FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 M |
2015年06月15日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/50, FI分類-H01L 21/205, FI分類-C23C 16/44 B |
2015年06月15日 特許庁 / 特許 | 液体攪拌方法 FI分類-G01N 35/10 A |
2015年06月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 B, FI分類-G01N 35/02 J, FI分類-G01N 35/04 H |
2015年06月11日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の制御方法 FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 A, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2015年06月10日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 H |
2015年06月10日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 C |
2015年06月08日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡、及び、試料の観察方法 FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z |
2015年06月04日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H01L 21/302 103 |
2015年06月04日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G01N 23/225 310 |
2015年06月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/82, FI分類-G01N 21/03 Z |
2015年06月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 E |
2015年06月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置の反応容器 FI分類-G01N 35/02 A |
2015年05月29日 特許庁 / 特許 | 検体前処理方法及び検体前処理装置 FI分類-G01N 35/00 A |
2015年05月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-C23C 16/50, FI分類-C23C 16/52, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年05月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/205, FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年05月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-C23C 16/511, FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年05月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2015年05月27日 特許庁 / 特許 | 血液凝固検査装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2015年05月25日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 103 |
2015年05月25日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置、及びイオンミリング方法 FI分類-H01J 27/04, FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/30 Z, FI分類-H01J 37/305 A |
2015年05月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C |
2015年05月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2015年05月20日 特許庁 / 特許 | 核酸分析装置、および核酸分析装置の装置診断方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 Z |
2015年05月19日 特許庁 / 特許 | 試料断片化装置 FI分類-G01N 30/30, FI分類-G01N 30/32, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/88 J |
2015年05月18日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び試料昇降装置 FI分類-H01J 37/20 D |
2015年05月15日 特許庁 / 特許 | 検体分注装置および検体分注装置用ノズルチップ FI分類-G01N 35/10 G, FI分類-G01N 1/00 101 K |
2015年05月13日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置およびその運転方法 FI分類-B65G 49/00 C, FI分類-B65G 49/07 C, FI分類-H01L 21/02 Z, FI分類-H01L 21/68 A, FI分類-H01L 21/302 101 G, FI分類-H01L 21/302 101 H |
2015年05月12日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H02N 13/00 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年05月12日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-C23C 16/52, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2015年05月12日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置、データ処理装置およびデータ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年05月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 F |
2015年05月12日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/68 N, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年05月12日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置、データ処理装置およびデータ処理方法 FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年05月12日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置、データ処理装置およびデータ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-G06F 17/10 M, FI分類-H01L 21/302 103 |
2015年05月11日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/42 |
2015年05月11日 特許庁 / 特許 | パターン測定方法、及びパターン測定装置 FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01L 21/66 V |
2015年05月07日 特許庁 / 特許 | イオンセンサ FI分類-G01N 27/28 P, FI分類-G01N 27/46 346, FI分類-G01N 27/28 321 F, FI分類-G01N 27/30 331 E |
2015年05月01日 特許庁 / 特許 | イオンポンプを備えた荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 41/18, FI分類-H01J 37/244 |
2015年04月28日 特許庁 / 特許 | マスク、マスクの使用方法及びマスクを備えたイオンミリング装置 FI分類-H01J 37/30 Z, FI分類-H01J 37/305 A |
2015年04月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び当該装置を用いた試料の観察方法 FI分類-H01J 37/295, FI分類-G01N 23/20 350, FI分類-H01J 37/22 501 A |
2015年04月24日 特許庁 / 特許 | 検体検査自動化システムおよび検体チェックモジュール FI分類-G01F 23/26 A, FI分類-G01N 35/04 G |
2015年04月24日 特許庁 / 特許 | イオン液体を用いた試料の観察方法及び標本の生産方法 FI分類-H01J 37/20 H, FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-G01N 23/225 310 |
2015年04月22日 特許庁 / 特許 | 電子線装置 FI分類-H01J 37/145, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/09 Z, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 A |
2015年04月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 D |
2015年04月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C |
2015年04月21日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/455, FI分類-C23C 16/511, FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年04月17日 特許庁 / 特許 | 成分分析装置、薬剤成分分析装置、成分分析方法及び薬剤成分分析方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 33/15 Z |
2015年04月17日 特許庁 / 特許 | プラズマエッチング方法 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2015年04月15日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、およびその真空排気方法 FI分類-H01J 37/18 |
2015年04月14日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び試料観察方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 J |
2015年04月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2015年04月02日 特許庁 / 特許 | クライオステーションシステム FI分類-F25D 3/10 A, FI分類-G01N 1/28 K, FI分類-G01N 1/00 101 A |
2015年03月31日 特許庁 / 特許 | ピンチバルブおよびピンチバルブを備えた自動分析装置 FI分類-F16K 7/04 Z, FI分類-G01N 35/10 D |
2015年03月31日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、荷電粒子線装置のアライメント方法、アライメントプログラム、及び記憶媒体 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 L |
2015年03月30日 特許庁 / 特許 | 分注ノズル洗浄方法および自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2015年03月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E |
2015年03月27日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置および電気泳動方法 FI分類-G01N 27/447 315 D, FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2015年03月26日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 B, FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 301 S |
2015年03月26日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 B, FI分類-H01L 21/302 103 |
2015年03月25日 特許庁 / 特許 | 細胞診断支援装置、細胞診断支援方法、遠隔診断支援システム、及びサービス提供システム FI分類-G01N 33/48 M, FI分類-G06T 1/00 295 |
2015年03月24日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C |
2015年03月23日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年03月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G06K 7/14 060 |
2015年03月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び自動分析方法並びに自動分析システム FI分類-G01N 35/00 C |
2015年03月18日 特許庁 / 特許 | 蛍光分析器 FI分類-G01N 21/64 Z |
2015年03月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 E |
2015年03月13日 特許庁 / 特許 | ステージ装置、ラマンナノポアDNAシーケンサ、および光学顕微鏡装置 FI分類-G02B 21/24, FI分類-H01J 37/20 D |
2015年03月13日 特許庁 / 特許 | 検体検査自動化システムおよびチェックモジュールならびに試料のチェック方法 FI分類-G01N 35/10 C |
2015年03月12日 特許庁 / 特許 | 顕微鏡観察容器および観察装置 FI分類-G02B 21/34 |
2015年03月11日 特許庁 / 特許 | 光計測装置及び光計測方法 FI分類-G01N 21/65 |
2015年03月10日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C |
2015年03月10日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年03月10日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年03月10日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年03月05日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2015年03月03日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ用遠紫外吸光度検出装置 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/42, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/74 E |
2015年03月03日 特許庁 / 特許 | テラヘルツ波発生装置及びそれを用いた分光装置 FI分類-G02F 1/03, FI分類-G02F 1/37, FI分類-G02F 1/39, FI分類-G01N 21/3581 |
2015年02月27日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2015年02月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び試料希釈攪拌方法 FI分類-G01N 35/02 H, FI分類-G01N 35/10 K |
2015年02月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び試料希釈攪拌方法 FI分類-G01N 35/02 D |
2015年02月24日 特許庁 / 特許 | 検体検査自動化システムおよび検体のチェック方法 FI分類-G01N 35/00 E |
2015年02月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム FI分類-G01N 35/00 E |
2015年02月23日 特許庁 / 特許 | 核酸分析装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12Q 1/68 A |
2015年02月23日 特許庁 / 特許 | コントロール運用方法、および自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2015年02月23日 特許庁 / 特許 | イオンガイド及びそれを用いた質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/42 |
2015年02月23日 特許庁 / 特許 | 多重極イオンガイド FI分類-H01J 49/06 |
2015年02月23日 特許庁 / 特許 | イオンガイド及びそれを用いた質量分析装置 FI分類-H01J 49/06 300 |
2015年02月13日 特許庁 / 特許 | プラズマイオン源および荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 27/16, FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/305 A, FI分類-H01J 37/317 D |
2015年02月13日 特許庁 / 特許 | プラズマイオン源および荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 27/16, FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/305 A, FI分類-H01J 37/317 D |
2015年02月06日 特許庁 / 特許 | 複合荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 H, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/30 A, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/317 D |
2015年02月03日 特許庁 / 特許 | 多色検出装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 21/64 F |
2015年02月03日 特許庁 / 特許 | 多色検出装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 21/64 F |
2015年02月02日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および収差補正方法 FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2015年02月02日 特許庁 / 特許 | 多色蛍光分析装置 FI分類-G01N 21/64 Z |
2015年01月30日 特許庁 / 特許 | 検体検査自動化システム FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 J |
2015年01月30日 特許庁 / 特許 | 稼働データ分類装置 FI分類-G05B 23/02 T, FI分類-G05B 23/02 301 V, FI分類-G05B 23/02 302 Y |
2015年01月30日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法並びに解析方法 FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 103 |
2015年01月30日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-B01J 3/02 L, FI分類-C23C 16/455, FI分類-F15B 20/00 B, FI分類-H01L 21/31 B |
2015年01月30日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置を備えた電子顕微鏡、および三次元再構築方法 FI分類-H01J 37/20 F, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/305 A, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2015年01月30日 特許庁 / 特許 | イオンミリングのマスク位置調整方法、電子顕微鏡およびマスク調整装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/30 Z |
2015年01月28日 特許庁 / 特許 | 検体移載装置及び検体搬送システム FI分類-G01N 35/04 B, FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2015年01月28日 特許庁 / 特許 | 樹脂粉末材料、レーザ粉末造形方法及びその装置 FI分類-C08K 3/00, FI分類-B29C 67/00, FI分類-B29K 67:00, FI分類-B33Y 70/00, FI分類-C08L 67/02, FI分類-C08L 69/00, FI分類-C08G 63/183 |
2015年01月27日 特許庁 / 特許 | 検査装置 FI分類-C12Q 1/08, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-C12M 1/34 D, FI分類-G06T 1/00 295 |
2015年01月27日 特許庁 / 特許 | 細菌または真菌の同定検査や薬剤感受性検査の判定を行う方法、および検査装置 FI分類-C12M 1/34 C |
2015年01月26日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2015年01月26日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 C |
2015年01月26日 特許庁 / 特許 | 光学的分析装置 FI分類-G01N 21/41 101 |
2015年01月26日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2015年01月23日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/02 D, FI分類-H01L 21/68 A, FI分類-H01L 21/302 101 M |
2015年01月23日 特許庁 / 特許 | パターン測定装置及び欠陥検査装置 FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-H01L 21/66 J |
2015年01月23日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/68 A, FI分類-H01L 21/68 N, FI分類-H01L 21/302 101 M |
2015年01月22日 特許庁 / 特許 | フロー型イオン選択性電極およびそれを用いた電解質濃度測定装置、並びに生化学自動分析装置 FI分類-G01N 27/333, FI分類-G01N 27/333 331, FI分類-G01N 27/28 321 F, FI分類-G01N 27/403 371 A |
2015年01月21日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/16 |
2015年01月19日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 B, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2015年01月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 G |
2015年01月16日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 35/10 K |
2015年01月16日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 E, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 Z, FI分類-G01N 1/00 101 N |
2015年01月16日 特許庁 / 特許 | 顕微分光装置 FI分類-G02B 7/36, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G02B 7/28 J |
2015年01月14日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2015年01月13日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A |
2015年01月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2015年01月09日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 27/28 H, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 27/30 357, FI分類-G01N 27/46 336 G |
2015年01月09日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 35/10 D |
2015年01月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 35/10 C |
2015年01月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 35/10 C |
2014年12月26日 特許庁 / 特許 | ビーム条件設定装置、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G01N 23/225 310, FI分類-H01J 37/22 502 B |
2014年12月26日 特許庁 / 特許 | 複合荷電粒子線装置およびその制御方法 FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 Z, FI分類-H01J 37/317 D |
2014年12月26日 特許庁 / 特許 | 核酸分析装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 21/64 F |
2014年12月24日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/24, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 102 |
2014年12月19日 特許庁 / 特許 | 液体混合装置、および液体クロマトグラフ装置 FI分類-B01F 5/06, FI分類-B01D 15/12, FI分類-B01F 3/08 Z, FI分類-B01F 5/00 A, FI分類-B01F 5/00 D, FI分類-B01F 15/02 A, FI分類-G01N 30/34 A |
2014年12月16日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2014年12月15日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年12月11日 特許庁 / 特許 | 分析機器の試薬容器ホルダ、分析機器の試薬供給システム、及び分析機器 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/04 H |
2014年12月10日 特許庁 / 特許 | 検体搬送装置、検体前処理システム、分析システムおよび、検体検査自動化システム FI分類-B65G 23/28 A, FI分類-G01N 35/04 B |
2014年12月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び分析方法 FI分類-G01N 21/82, FI分類-G01N 33/86, FI分類-G01N 35/00 E |
2014年12月05日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C |
2014年12月05日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置による観察方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/22 502 L |
2014年12月05日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、チャンバースコープ、及び対象物検出方法 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/22, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B |
2014年12月04日 特許庁 / 特許 | 生体分子測定装置及び生体分子測定方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-C12Q 1/68 A, FI分類-G01N 27/00 Z |
2014年12月04日 特許庁 / 特許 | 生体分子測定方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 27/00 Z |
2014年12月01日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-C23C 16/455, FI分類-C23C 16/507, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2014年12月01日 特許庁 / 特許 | パターン測定装置、及びコンピュータプログラム FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01L 21/66 J |
2014年11月28日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-G01N 23/04 310, FI分類-H01J 37/22 501 A |
2014年11月27日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/205, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2014年11月26日 特許庁 / 特許 | 処理装置およびその据え付け方法 FI分類-H01L 21/02 Z, FI分類-H01L 21/68 A |
2014年11月26日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 F, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年11月20日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および検査方法 FI分類-H01J 37/04 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年11月19日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 43/12, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2014年11月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2014年11月11日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2014年11月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 J, FI分類-G01N 35/04 B, FI分類-G01N 35/04 H |
2014年10月31日 特許庁 / 特許 | 故障原因分類装置 FI分類-G05B 23/02 301 Y |
2014年10月31日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/22 501 J |
2014年10月31日 特許庁 / 特許 | 検体検査自動化システムおよび生体試料チェックモジュールならびに生体試料のチェック方法 FI分類-G01N 35/02 A, FI分類-G01N 35/02 G |
2014年10月28日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び情報処理装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 G |
2014年10月27日 特許庁 / 特許 | 検体移載装置及び検体処理システム FI分類-G01N 35/04 B, FI分類-G01N 35/04 H |
2014年10月24日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 E |
2014年10月24日 特許庁 / 特許 | 核酸搬送制御デバイス及びその製造方法、並びに核酸シーケンシング装置 FI分類-B82Y 5/00, FI分類-B82Y 40/00, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 27/00 Z |
2014年10月22日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 33/86, FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/10 C |
2014年10月22日 特許庁 / 特許 | 細胞計測機構及びそれを有する細胞培養装置並びに細胞計測方法 FI分類-C12M 1/34 D |
2014年10月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 D |
2014年10月20日 特許庁 / 特許 | 走査電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 37/04 Z, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/317 D |
2014年10月16日 特許庁 / 特許 | 定位置制御装置、及び方法 FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/64 Z |
2014年10月10日 特許庁 / 特許 | 検体検査自動化システムおよび容量チェックモジュールならびに生体試料のチェック方法 FI分類-G01F 23/26 A, FI分類-G01N 35/00 Z, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01F 23/292 A |
2014年10月09日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、電子顕微鏡、試料の観察方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-G01N 23/22 320, FI分類-G01N 23/22 330, FI分類-G01N 23/225 310, FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年10月08日 特許庁 / 特許 | イオンビーム装置およびエミッタティップの調整方法 FI分類-H01J 27/26, FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/317 D |
2014年10月07日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、荷電粒子線装置の制御方法 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年10月01日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及びその補正フィルタ設定方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年09月30日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 A |
2014年09月26日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 H |
2014年09月19日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2014年09月18日 特許庁 / 特許 | 流路一体型センサ FI分類-G01N 27/28 321 F, FI分類-G01N 27/28 321 G, FI分類-G01N 27/46 351 B, FI分類-G01N 27/46 351 K |
2014年09月18日 特許庁 / 特許 | アンチコンタミネーショントラップおよび真空応用装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/20 G, FI分類-H01J 37/28 B |
2014年09月12日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2014年09月12日 特許庁 / 特許 | 異常傾向検出方法およびシステム FI分類-G05B 23/02 302 Y |
2014年09月12日 特許庁 / 特許 | 生体ポリマ分析デバイス及び分析システム FI分類-G01N 27/00 Z |
2014年09月12日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置およびドライ洗浄方法 FI分類-H01L 21/304 645 A, FI分類-H01L 21/304 645 C |
2014年09月11日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 H |
2014年09月01日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 106 |
2014年08月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 E |
2014年08月26日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/46, FI分類-C23C 16/50, FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 101 R, FI分類-H01L 21/304 645 C |
2014年08月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 21/33, FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 35/00 F |
2014年08月11日 特許庁 / 特許 | X線透過検査装置及び異物検出方法 FI分類-G01T 1/20, FI分類-G01N 23/04, FI分類-G21K 1/02 C |
2014年08月08日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子装置および試料ホルダ FI分類-H01J 37/20 B, FI分類-H01J 37/20 C |
2014年08月08日 特許庁 / 特許 | 液体分析装置 FI分類-G01N 21/33, FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 30/74 E |
2014年08月06日 特許庁 / 特許 | イオンビーム装置およびイオンビーム照射方法 FI分類-H01J 27/26, FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/28 Z |
2014年07月31日 特許庁 / 特許 | 高さ測定装置 FI分類-G01B 11/02 H |
2014年07月31日 特許庁 / 特許 | 走査荷電粒子顕微鏡画像の高画質化方法およびその装置 FI分類-H01J 37/147, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年07月30日 特許庁 / 特許 | イオンガン及びイオンミリング装置、イオンミリング方法 FI分類-H01J 27/02, FI分類-H01J 27/04, FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/305 A |
2014年07月30日 特許庁 / 特許 | イオンガン及びイオンミリング装置、イオンミリング方法 FI分類-H01J 27/02, FI分類-H01J 27/04, FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/305 A |
2014年07月30日 特許庁 / 特許 | 分析方法及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 33/543 501 J |
2014年07月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/458, FI分類-H01L 21/205, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2014年07月28日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、シミュレーション方法およびシミュレーション装置 FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年07月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F |
2014年07月24日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2014年07月24日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理装置の運転方法 FI分類-H05H 1/46 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/304 646, FI分類-H01L 21/302 101 H, FI分類-H01L 21/304 645 C |
2014年07月24日 特許庁 / 特許 | 蛍光観察装置、および蛍光観察方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 21/64 F |
2014年07月24日 特許庁 / 特許 | コントラスト・ブライトネス調整方法、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 E, FI分類-H01J 37/22 502 F, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年07月24日 特許庁 / 特許 | ノズル洗浄方法及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 35/10 F |
2014年07月24日 特許庁 / 特許 | 核酸分析装置、および核酸分析方法 FI分類-G02B 5/20, FI分類-G02B 5/26, FI分類-G02B 5/28, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-C12Q 1/6869 Z |
2014年07月23日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2014年07月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F |
2014年07月18日 特許庁 / 特許 | 細胞培養装置および画像解析装置 FI分類-C12M 1/34 D, FI分類-C12M 3/00 A |
2014年07月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2014年07月17日 特許庁 / 特許 | データ解析方法及びプラズマエッチング方法並びにプラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2014年07月15日 特許庁 / 特許 | 欠陥観察方法及びその装置 FI分類-G01N 21/956 A |
2014年07月14日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 H, FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 H, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01L 21/68 R |
2014年07月11日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置、及びイオンミリング装置を用いた加工方法 FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/30 Z |
2014年07月11日 特許庁 / 特許 | 走査電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B |
2014年07月10日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/507, FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 C |
2014年07月09日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2014年07月09日 特許庁 / 特許 | ハイブリッドイオン源及び質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 G |
2014年07月08日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 B, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2014年07月08日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C |
2014年07月07日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/09 Z |
2014年07月07日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置およびステージ制御方法 FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01L 21/68 K, FI分類-H01L 21/30 502 V, FI分類-H01L 21/30 541 L |
2014年07月07日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 G |
2014年07月07日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置および収差補正器 FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/153 B |
2014年07月04日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2014年07月03日 特許庁 / 特許 | 核酸分析装置およびその装置診断方法 FI分類-G01N 21/47 Z, FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 35/00 F |
2014年06月30日 特許庁 / 特許 | 電気泳動媒体容器および電気泳動装置 FI分類-G01N 27/26 315 D, FI分類-G01N 27/26 315 K, FI分類-G01N 27/26 331 E |
2014年06月27日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2014年06月27日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 X |
2014年06月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C |
2014年06月25日 特許庁 / 特許 | 検出装置 FI分類-G01N 35/00 A |
2014年06月24日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2014年06月24日 特許庁 / 特許 | 分析装置及び分析方法 FI分類-G01N 1/10 F, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 G |
2014年06月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/06 A |
2014年06月18日 特許庁 / 特許 | 核酸増幅検出装置及びそれを用いた核酸検査装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12Q 1/68 A |
2014年06月16日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線応用装置 FI分類-H01J 37/145, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2014年06月13日 特許庁 / 特許 | 核酸増幅装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 21/64 F |
2014年06月12日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置及びその制御方法 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 H |
2014年06月11日 特許庁 / 特許 | キャピラリ電気泳動装置 FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 27/26 315 D, FI分類-G01N 27/26 315 K, FI分類-G01N 27/26 325 A, FI分類-G01N 27/26 325 E |
2014年06月11日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/20 H, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 E, FI分類-H01J 37/22 502 F, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年06月10日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、三次元画像の再構成画像処理システム、方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-H01J 37/26, FI分類-G01N 23/225, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z |
2014年06月06日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/04 G |
2014年06月03日 特許庁 / 特許 | 攪拌装置、攪拌方法および当該攪拌装置を備えた自動分析装置 FI分類-B01F 9/22, FI分類-B01F 15/02 C, FI分類-G01N 35/02 D |
2014年06月02日 特許庁 / 特許 | 免疫凝集測定法 FI分類-G01N 21/59 Z, FI分類-G01N 33/543 581 A, FI分類-G01N 33/543 581 L |
2014年05月30日 特許庁 / 特許 | データ処理方法、データ処理装置および処理装置 FI分類-H01L 21/02 Z, FI分類-G06F 19/00 100, FI分類-H01L 21/302 103 |
2014年05月30日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-C23C 14/10, FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-C23C 14/08 A, FI分類-C23C 14/34 T, FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 101 H, FI分類-H01L 21/302 105 Z |
2014年05月30日 特許庁 / 特許 | データ処理方法、データ処理装置および処理装置 FI分類-H01L 21/302 103 |
2014年05月30日 特許庁 / 特許 | データ処理方法、データ処理装置および処理装置 FI分類-H01L 21/302 103 |
2014年05月30日 特許庁 / 特許 | データ処理方法、データ処理装置および処理装置 FI分類-G01N 21/67, FI分類-G01N 21/68, FI分類-H01L 21/302 103 |
2014年05月23日 特許庁 / 特許 | 電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/20 Z |
2014年05月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 H, FI分類-G01N 35/04 H |
2014年05月19日 特許庁 / 特許 | 検体前処理装置のシステム構築支援ツールおよびシステム情報構築ツール FI分類-G06Q 50/08, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G06Q 50/22 104 |
2014年05月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 H, FI分類-G01N 35/04 H |
2014年05月19日 特許庁 / 特許 | 試料観察装置用のテンプレート作成装置及び試料観察装置 FI分類-H01L 21/66 J |
2014年05月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 H |
2014年05月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 H |
2014年05月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 H |
2014年05月19日 特許庁 / 特許 | 検体搬送方法 FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/02 H, FI分類-G01N 35/04 H |
2014年05月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/02 H, FI分類-G01N 35/04 H |
2014年05月16日 特許庁 / 特許 | 弁状態診断システムおよび弁状態診断方法 FI分類-G01M 13/00, FI分類-F02D 41/22 325 M, FI分類-F02D 45/00 364 Q |
2014年05月15日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/06 D |
2014年05月13日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置および分析方法 FI分類-G01N 35/06 D |
2014年05月13日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 B |
2014年05月13日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び当該装置を用いる検査方法 FI分類-H01J 37/10, FI分類-H01J 37/28 B |
2014年05月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B |
2014年05月09日 特許庁 / 特許 | 核酸分析装置及びそれを用いた核酸分析方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12Q 1/68 A |
2014年05月09日 特許庁 / 特許 | 試料加工方法、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/317 D |
2014年05月09日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置、及び試料加工方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 B, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/30 Z |
2014年05月07日 特許庁 / 特許 | パターン形状評価装置及び方法 FI分類-G03F 7/20 521 |
2014年05月02日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/153 B |
2014年05月02日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/153 B |
2014年04月28日 特許庁 / 特許 | イオンミリング装置 FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/28 K, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/30 Z |
2014年04月25日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 E, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年04月25日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01L 21/302 101 C |
2014年04月25日 特許庁 / 特許 | 計測システムおよび計測方法 FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01L 21/30 502 V |
2014年04月25日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびドライエッチング方法 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2014年04月23日 特許庁 / 特許 | 核酸分析装置および核酸分析方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 27/00 Z |
2014年04月23日 特許庁 / 特許 | 核酸分析装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 35/00 B |
2014年04月23日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/18 |
2014年04月22日 特許庁 / 特許 | ドライエッチング方法 FI分類-H01L 21/302 301 S |
2014年04月21日 特許庁 / 特許 | 走査電子顕微鏡、及びその制御方法 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/12, FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B |
2014年04月21日 特許庁 / 特許 | 陰イオンセンサ FI分類-G01N 27/30 331 H, FI分類-G01N 27/30 331 K, FI分類-G01N 27/46 351 K |
2014年04月21日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/04 A |
2014年04月18日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-C12Q 1/68 Z, FI分類-C12N 15/00 A, FI分類-G01N 27/00 Z, FI分類-C12M 1/00 ZNMA |
2014年04月17日 特許庁 / 特許 | 試料観察装置 FI分類-G01N 23/203, FI分類-H01L 21/66 C, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G01N 23/225 310 |
2014年04月11日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び当該装置を用いる試料作製方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/28 K, FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-H01J 37/20 Z |
2014年04月08日 特許庁 / 特許 | 欠陥レビュー装置、欠陥レビュー方法 FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G01N 21/956 A |
2014年04月04日 特許庁 / 特許 | 三次元形状変化検出方法、及び三次元形状加工装置 FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01N 21/21 Z, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2014年04月03日 特許庁 / 特許 | 配列データ解析装置、DNA解析システムおよび配列データ解析方法 FI分類-G06F 19/22 |
2014年04月03日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 E |
2014年04月02日 特許庁 / 特許 | 孔形成方法及び測定装置 FI分類-B82Y 40/00, FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 21/64 G, FI分類-G01N 27/00 Z |
2014年04月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A |
2014年04月01日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/10 F |
2014年03月28日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/147 A |
2014年03月27日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/88 B, FI分類-H01L 21/30 502 D, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2014年03月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/153 B, FI分類-H01J 37/248 A, FI分類-H01J 37/248 B |
2014年03月25日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 B, FI分類-H01L 21/302 103 |
2014年03月25日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/00 A, FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/265 F, FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2014年03月24日 特許庁 / 特許 | プラントの状態診断方法およびシステム FI分類-G05B 23/02 T |
2014年03月24日 特許庁 / 特許 | 処理ガス流量の決定方法 FI分類-H01L 21/205, FI分類-C23C 16/44 J, FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/302 101 H |
2014年03月19日 特許庁 / 特許 | 検査装置 FI分類-C12M 1/34 A, FI分類-C12M 1/38 A |
2014年03月19日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置及び分析方法 FI分類-G01N 33/86, FI分類-G01N 35/00 A |
2014年03月19日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/09 Z, FI分類-H01J 37/20 B |
2014年03月19日 特許庁 / 特許 | 検査装置 FI分類-C12M 1/34 D |
2014年03月17日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H01L 21/68 A, FI分類-H01L 21/302 101 M |
2014年03月14日 特許庁 / 特許 | 静電チャック機構、及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/68 R |
2014年03月12日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、試料観察方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 E, FI分類-H01J 37/22 502 Z |
2014年03月12日 特許庁 / 特許 | 試料観察方法及び荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/317 D |
2014年03月10日 特許庁 / 特許 | 分注装置及び分注方法 FI分類-G01N 35/06 D, FI分類-G01N 1/00 101 K |
2014年03月10日 特許庁 / 特許 | 重ね合わせ計測装置、重ね合わせ計測方法、及び重ね合わせ計測システム FI分類-G03F 9/00 H, FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 F, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年03月10日 特許庁 / 特許 | 面形状計測方法およびその装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/24 D |
2014年03月10日 特許庁 / 特許 | 隔膜取付部材および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/28 B |
2014年03月07日 特許庁 / 特許 | 走査電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/04 A, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/28 B |
2014年03月05日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置およびフィルタ部材 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/28 B |
2014年02月28日 特許庁 / 特許 | 収差補正器及びそれを用いた荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/153 B |
2014年02月28日 特許庁 / 特許 | ステージ装置およびそれを用いた荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 L |
2014年02月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-C23C 16/50, FI分類-C23C 16/458, FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/265 F, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2014年02月27日 特許庁 / 特許 | 走査電子顕微鏡および画像生成方法 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/09 Z, FI分類-H01J 37/20 F, FI分類-H01J 37/28 B |
2014年02月27日 特許庁 / 特許 | パターン測定装置、及びパターン測定装置の管理装置 FI分類-G01B 15/04 K |
2014年02月26日 特許庁 / 特許 | 分析用試料前処理装置 FI分類-G01N 35/02 B, FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/06 A |
2014年02月24日 特許庁 / 特許 | 分析装置及びその方法 FI分類-G01N 35/06 F |
2014年02月21日 特許庁 / 特許 | 反応セル、及び生化学自動分析装置 FI分類-G01N 21/03 Z, FI分類-G01N 35/02 A |
2014年02月19日 特許庁 / 特許 | 試料ホルダ、観察システム、および画像生成方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 C |
2014年02月14日 特許庁 / 特許 | 遠赤外撮像装置、および遠赤外撮像方法 FI分類-G02F 1/37, FI分類-G02F 1/39, FI分類-G01N 21/27 A, FI分類-G01N 21/35 105 |
2014年02月14日 特許庁 / 特許 | 検体処理システム FI分類-G01N 35/04 B, FI分類-G01N 35/04 G |
2014年02月12日 特許庁 / 特許 | 流路切り替えバルブおよび当該バルブを用いた液体クロマトグフラフ装置 FI分類-F16K 3/04 A, FI分類-G01N 30/26 M |
2014年02月12日 特許庁 / 特許 | 半導体装置の製造方法 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/76 L, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2014年02月12日 特許庁 / 特許 | 走査荷電粒子顕微鏡画像の高画質化方法および走査荷電粒子顕微鏡装置 FI分類-H01J 37/22 502 C, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年02月07日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/141 Z |
2014年02月07日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 105 A |
2014年02月06日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、画像生成方法、観察システム FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B |
2014年02月05日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置及びFSVの制御方法 FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H01L 21/302 101 C |
2014年02月05日 特許庁 / 特許 | パターン測定装置、及び半導体計測システム FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-G01N 23/225 310 |
2014年02月05日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/28 B |
2014年02月04日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置及び画像生成方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年02月03日 特許庁 / 特許 | 生体分析デバイスおよび生体分子分析装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 33/553, FI分類-G01N 21/64 E, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 33/53 M, FI分類-G01N 33/543 575, FI分類-G01N 33/543 501 F, FI分類-G01N 33/543 541 A |
2014年01月31日 特許庁 / 特許 | ドライエッチング方法 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2014年01月30日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 Z |
2014年01月29日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 FI分類-H01L 21/68 R, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2014年01月29日 特許庁 / 特許 | パターン形状検査装置及びパターン形状検査方法 FI分類-G01B 15/04 K |
2014年01月29日 特許庁 / 特許 | オービトロンポンプ、およびオービトロンポンプを備えた電子線装置 FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 41/16, FI分類-F04B 37/02 B, FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/06 Z |
2014年01月28日 特許庁 / 特許 | プラズマ処理装置 FI分類-H05H 1/46 C, FI分類-H01L 21/302 103, FI分類-H01L 21/302 101 D |
2014年01月27日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-H01L 21/302 101 M |
2014年01月27日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置および荷電粒子線装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/225, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/305 B, FI分類-G06T 7/00 300 D, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年01月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 B |
2014年01月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、試料画像取得方法、およびプログラム記録媒体 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 C, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年01月27日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置、試料画像取得方法、およびプログラム記録媒体 FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/20 F, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年01月27日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-H01L 21/302 101 C, FI分類-H01L 21/302 101 D, FI分類-H01L 21/302 101 M |
2014年01月27日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置 FI分類-H01L 21/205, FI分類-C23C 16/44 J, FI分類-H01L 21/302 101 M |
2014年01月23日 特許庁 / 特許 | パターン評価装置および走査型電子顕微鏡 FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年01月22日 特許庁 / 特許 | パターン測定方法、荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置 FI分類-G01B 15/04 K |
2014年01月22日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置 FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年01月20日 特許庁 / 特許 | 血液凝固分析装置 FI分類-G01N 33/86, FI分類-G01N 21/77 B, FI分類-G01N 33/483 C |
2014年01月17日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 F |
2014年01月17日 特許庁 / 特許 | 遠心分離システム、検体前処理システム、制御方法 FI分類-B04B 13/00, FI分類-B04B 5/00 Z, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/02 H |
2014年01月14日 特許庁 / 特許 | 電気化学測定装置 FI分類-G01N 27/46 D, FI分類-G01N 27/26 371 C, FI分類-G01N 27/26 371 D, FI分類-G01N 27/28 321 F, FI分類-G01N 27/46 301 Z |
2014年01月10日 特許庁 / 特許 | 複合荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/04 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/30 Z, FI分類-H01J 37/22 502 G, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01L 21/302 201 B |
2014年01月10日 特許庁 / 特許 | 複合荷電粒子線装置および荷電粒子検出器 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 Z, FI分類-H01J 37/30 Z, FI分類-H01J 37/317 C, FI分類-G01N 23/225 310, FI分類-G01N 23/225 320, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2014年01月09日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/29 |
2014年01月09日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/29 |
2014年01月09日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B |
2014年01月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 G |
2014年01月07日 特許庁 / 特許 | プラズマエッチング方法 FI分類-H01L 21/302 105 A |
2014年01月07日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/00 Z |
株式会社日立ハイテクの商標情報(52件)
| 日付 公表組織 / 種類 |
活動対象 / 分類等 |
|---|---|
2023年06月26日 特許庁 / 商標 | Human Chromosome Explorer 09類, 42類 |
2023年04月03日 特許庁 / 商標 | LaboQ 09類, 42類 |
2023年03月14日 特許庁 / 商標 | CovisionVX 07類 |
2022年12月26日 特許庁 / 商標 | バッテリキューブ 09類, 37類, 40類, 42類 |
2022年12月26日 特許庁 / 商標 | モビでんち 37類, 40類, 42類 |
2022年12月06日 特許庁 / 商標 | LABOSPECT PlaNet 42類 |
2022年12月06日 特許庁 / 商標 | LABOSPECT 42類 |
2022年09月27日 特許庁 / 商標 | ExTOPE 10類 |
2022年09月02日 特許庁 / 商標 | HOT・STAMP∞ALUMINUM∞HOT・STAMP∞aluminum 06類, 40類 |
2022年09月01日 特許庁 / 商標 | ケミカルズ・インフォマティクス＼Chemicals Informatics 09類, 42類 |
2022年08月24日 特許庁 / 商標 | §H∞Healthcare Innovation Center Tokyo 09類, 10類, 35類, 41類, 42類 |
2022年01月26日 特許庁 / 商標 | らぼすこーぷ 09類, 10類, 16類, 35類, 41類, 42類, 44類 |
2021年12月13日 特許庁 / 商標 | §MartiPort 09類, 42類 |
2021年04月13日 特許庁 / 商標 | LabCircle 09類, 16類, 35類, 41類, 42類, 44類 |
2021年02月08日 特許庁 / 商標 | Copy Me Direct 07類, 09類, 10類, 42類 |
2020年06月22日 特許庁 / 商標 | Abscatter 05類, 09類, 10類 |
2020年06月16日 特許庁 / 商標 | Chemicals＼Informatics 09類, 42類 |
2020年04月08日 特許庁 / 商標 | Motor I(eye) 37類 |
2019年10月07日 特許庁 / 商標 | RAXIO 07類 |
2019年09月02日 特許庁 / 商標 | みんさく 35類, 36類, 37類, 39類, 40類, 42類 |
2019年09月02日 特許庁 / 商標 | minsaku 35類, 36類, 37類, 39類, 40類, 42類 |
2019年09月02日 特許庁 / 商標 | §minsaku 35類, 36類, 37類, 39類, 40類, 42類 |
2019年06月19日 特許庁 / 商標 | S.I.navi 09類, 35類, 37類, 41類, 42類 |
2018年09月25日 特許庁 / 商標 | つなぷー 09類, 16類, 35類, 38類, 41類, 42類 |
2018年09月04日 特許庁 / 商標 | D-PREX 01類, 05類, 42類 |
2018年06月27日 特許庁 / 商標 | ayamo 09類, 42類 |
2018年06月27日 特許庁 / 商標 | awina 09類, 42類 |
2018年05月23日 特許庁 / 商標 | VULCAN 09類 |
2017年09月21日 特許庁 / 商標 | みんなの試作広場 35類, 36類, 37類, 39類, 40類, 42類 |
2017年09月21日 特許庁 / 商標 | ラピッドプロトエキスパート 35類, 36類, 37類, 39類, 40類, 42類 |
2017年07月11日 特許庁 / 商標 | MI-Boost 09類 |
2017年05月29日 特許庁 / 商標 | Ethos 09類 |
2017年02月23日 特許庁 / 商標 | ExTOPE 09類, 37類, 42類 |
2017年02月22日 特許庁 / 商標 | IMPAct 37類 |
2016年10月26日 特許庁 / 商標 | §Cougars 16類, 25類, 28類 |
2016年10月26日 特許庁 / 商標 | §Cougars 16類, 25類, 28類 |
2016年09月15日 特許庁 / 商標 | Mirelis 09類 |
2016年04月28日 特許庁 / 商標 | §Cougars 16類, 28類 |
2016年04月28日 特許庁 / 商標 | §Cougars 16類, 28類, 41類 |
2016年04月28日 特許庁 / 商標 | Cougars＼95 16類, 25類, 28類 |
2016年04月27日 特許庁 / 商標 | Co-Zero 09類 |
2016年03月07日 特許庁 / 商標 | ArBlade 09類 |
2016年03月02日 特許庁 / 商標 | FlexSEM 09類 |
2016年01月22日 特許庁 / 商標 | 2DPWA 09類 |
2015年11月05日 特許庁 / 商標 | BIOLUMIONE 09類 |
2015年11月05日 特許庁 / 商標 | LUMIONE 09類 |
2015年05月18日 特許庁 / 商標 | AeroSurf 09類 |
2014年07月22日 特許庁 / 商標 | DesignGauge-Analyzer 09類, 42類 |
2014年07月09日 特許庁 / 商標 | ALLOVA 10類 |
2014年05月16日 特許庁 / 商標 | ES-Corrector 09類 |
2014年03月10日 特許庁 / 商標 | BD-CUBE 09類, 35類, 37類, 42類 |
2014年02月13日 特許庁 / 商標 | hiRecipe 09類, 42類 |
株式会社日立ハイテクの意匠情報(86件)
| 日付 公表組織 / 種類 |
活動対象 / 分類等 |
|---|---|
2023年07月28日 特許庁 / 意匠 | 分析情報表示用画像 意匠新分類-N310 W |
2023年05月30日 特許庁 / 意匠 | 残量表示用画像 意匠新分類-N310 W |
2023年05月30日 特許庁 / 意匠 | 状態表示用画像 意匠新分類-N310 W |
2023年04月13日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2023年03月10日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2023年01月31日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2023年01月31日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2023年01月31日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2023年01月31日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2022年09月01日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機用カートリッジ 意匠新分類-J1519 |
2022年09月01日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機用カートリッジ 意匠新分類-J1519 |
2022年06月10日 特許庁 / 意匠 | 反応容器 意匠新分類-J1519 |
2022年05月24日 特許庁 / 意匠 | 試薬搬送ロボット 意匠新分類-J02 |
2022年05月24日 特許庁 / 意匠 | 試薬搬送ロボット 意匠新分類-J02 |
2022年05月24日 特許庁 / 意匠 | 採血装置 意匠新分類-J7400 |
2022年03月31日 特許庁 / 意匠 | 試験管保持具 意匠新分類-K673 |
2022年03月31日 特許庁 / 意匠 | 試験管保持具 意匠新分類-K673 |
2022年03月10日 特許庁 / 意匠 | メンテナンス情報表示用画像 意匠新分類-N310 W |
2022年03月10日 特許庁 / 意匠 | 予測消費量表示用画像 意匠新分類-N310 W |
2022年02月10日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用リング 意匠新分類-K0790 |
2022年02月10日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用アッパーチャンバ 意匠新分類-K0790 |
2021年08月27日 特許庁 / 意匠 | 検体ラック 意匠新分類-J1519 |
2021年08月27日 特許庁 / 意匠 | 検体ラック 意匠新分類-J1519 |
2021年08月27日 特許庁 / 意匠 | 試薬ラック 意匠新分類-J1519 |
2021年08月27日 特許庁 / 意匠 | 試薬ラック 意匠新分類-J1519 |
2021年06月25日 特許庁 / 意匠 | 検体容器 意匠新分類-J1519 |
2021年04月26日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用イオンシールドプレート 意匠新分類-K0790 |
2021年04月19日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用サセプタリング 意匠新分類-K0790 |
2020年10月26日 特許庁 / 意匠 | 装置情報表示用画像 意匠新分類-N310 W |
2020年05月27日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用イオンシールドプレート 意匠新分類-K0790 |
2020年03月24日 特許庁 / 意匠 | 反応容器 意匠新分類-J1519 |
2020年03月24日 特許庁 / 意匠 | 反応容器 意匠新分類-J1519 |
2020年03月24日 特許庁 / 意匠 | 反応容器 意匠新分類-J1519 |
2020年03月24日 特許庁 / 意匠 | 反応容器 意匠新分類-J1519 |
2020年03月24日 特許庁 / 意匠 | 反応容器 意匠新分類-J1519 |
2020年03月24日 特許庁 / 意匠 | 反応容器 意匠新分類-J1519 |
2020年03月04日 特許庁 / 意匠 | 電気泳動装置用キャピラリカートリッジ 意匠新分類-J1519 |
2020年03月04日 特許庁 / 意匠 | 電気泳動装置用キャピラリカートリッジ 意匠新分類-J1519 |
2020年03月04日 特許庁 / 意匠 | 電気泳動装置用キャピラリカートリッジ 意匠新分類-J1519 |
2019年10月18日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用サセプタリング 意匠新分類-K0790 |
2019年05月14日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2019年05月14日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2019年05月14日 特許庁 / 意匠 | 分析機用検体投入回収機 意匠新分類-J151 |
2019年05月14日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2019年04月12日 特許庁 / 意匠 | 試薬搬送ロボット 意匠新分類-J02 |
2019年03月19日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用アース 意匠新分類-K0790 |
2019年01月29日 特許庁 / 意匠 | 電子顕微鏡 意匠新分類-J18 |
2019年01月29日 特許庁 / 意匠 | 電子顕微鏡用コントローラ 意匠新分類-H7120 |
2018年10月25日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用リング 意匠新分類-K0790 |
2018年07月24日 特許庁 / 意匠 | 半導体製造装置用イオンシールドプレート保持具 意匠新分類-K0790 |
2018年07月24日 特許庁 / 意匠 | 半導体製造装置用イオンシールドプレート 意匠新分類-K0790 |
2018年07月24日 特許庁 / 意匠 | 半導体製造装置用イオンシールド 意匠新分類-K0790 |
2017年11月10日 特許庁 / 意匠 | 半導体製造装置用赤外線ランプヒータ透過窓 意匠新分類-K0790 |
2017年11月06日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用ガス噴出板 意匠新分類-K0790 |
2017年08月31日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用電極板 意匠新分類-K0790 |
2017年08月31日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用電極板外周リング 意匠新分類-K0790 |
2017年08月31日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用サセプタ 意匠新分類-K0790 |
2017年07月31日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用ガスリング 意匠新分類-K0790 |
2017年05月31日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2017年05月31日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2017年05月31日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2017年05月31日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2017年05月31日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2017年05月31日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 W14 |
2017年05月31日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 W14 |
2017年03月22日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2017年03月22日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機用遮光カバー 意匠新分類-J1519 |
2017年01月31日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用サセプタ 意匠新分類-K0790 |
2017年01月31日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用サセプタ 意匠新分類-K0790 |
2017年01月31日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用リング 意匠新分類-K0790 |
2017年01月31日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用カバーリング 意匠新分類-K0790 |
2017年01月20日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用放電チャンバ 意匠新分類-K0790 |
2016年12月09日 特許庁 / 意匠 | 基板処理ユニット 意匠新分類-K070 |
2016年12月09日 特許庁 / 意匠 | 基板処理ユニット 意匠新分類-K070 |
2016年12月09日 特許庁 / 意匠 | 基板処理ユニット 意匠新分類-K070 |
2016年04月14日 特許庁 / 意匠 | 電子顕微鏡本体 意匠新分類-J18 |
2016年04月14日 特許庁 / 意匠 | 電子顕微鏡 意匠新分類-J18 |
2016年02月26日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用アッパーチャンバ 意匠新分類-K0790 |
2015年06月12日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用アッパーチャンバ 意匠新分類-K0790 |
2015年06月12日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用カバーリング 意匠新分類-K0790 |
2015年06月12日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用サセプタ 意匠新分類-K0790 |
2015年06月12日 特許庁 / 意匠 | プラズマ処理装置用ロアーチャンバ 意匠新分類-K0790 |
2014年09月26日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2014年09月26日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2014年09月26日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機 意匠新分類-J151 |
2014年09月26日 特許庁 / 意匠 | 自動分析機用蓋 意匠新分類-J1519 |
株式会社日立ハイテクの職場情報
| 項目 | データ |
|---|---|
事業概要 | 【ヘルスケアソリューション】主要製品：医用機器、ライフサイエンス製品、放射線治療システム
【ナノテクノロジーソリューション】主要製品：エッチング装置、計測装置・検査装置、製造関連装置・ソリューション
【バリューチェーンソリューション】主要製品：AI・ICTソリューション、OTソリューション(計測・制御・分析)、素材・部材
【コアテクノロジーソリューション】主要製品：電子顕微鏡/プローブ顕微鏡、分析装置 |
企業規模 | 5,695人 男性 4,671人 / 女性 1,024人 |
平均勤続年数 範囲 その他 | 男性 18.5年 / 女性 11.3年 |
女性労働者の割合 範囲 その他 | 22.5% |
管理職全体人数 | 1,391人 男性 1,319人 / 女性 72人 |
役員全体人数 | 20人 男性 19人 / 女性 1人 |
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