株式会社キーエンス

株式会社キーエンスとは

名称の「株式会社」について(β版)

株式会社キーエンスの基本情報

項目	内容
商号又は名称	株式会社キーエンス
商号又は名称（読み仮名）フリガナ	キーエンス
法人番号	4120001051530
会社法人等番号	1200-01-051530
登記所	大阪法務局 ※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号 ※2024年08月31日更新 インボイス番号	T4120001051530 ※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。 (2024年08月31日現在)
法人種別	株式会社
郵便番号	〒533-0033 ※地方自治体コードは 27114
国内所在地（都道府県）都道府県	大阪府 ※大阪府の法人数は 472,067件
国内所在地（市区町村）市区町村	大阪市東淀川区 ※大阪市東淀川区の法人数は 7,944件
国内所在地（丁目番地等）丁目番地	東中島1丁目3番14号
国内所在地（1行表示）1行表示	大阪府大阪市東淀川区東中島1丁目3番14号
国内所在地（読み仮名）読み仮名	オオサカフオオサカシヒガシヨドガワクヒガシナカジマ1チョウメ
英語表記	KEYENCE CORPORATION
国内所在地（英語表示）英語表示	1-3-14, Higashinakajima, Higashiyodogawa ku Osaka shi, Osaka
代表者	代表取締役 中田 有
設立日	1974年05月27日
資本金	306億3,700万円 (2024年07月12日現在)
従業員数	3,042人 (2024年07月12日現在)
ホームページHP	http://www.keyence.co.jp
更新年月日更新日	2023年06月01日
変更年月日変更日	2023年05月30日
法人番号指定年月日指定日	2015年10月05日 ※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局	大阪労働局 〒540-8527 大阪府大阪市中央区大手前4丁目1番67号大阪合同庁舎第2号館8F(総務・雇均)・9F(基準)
管轄の労働基準監督署労働基準監督署	淀川労働基準監督署 〒532-8507 大阪府大阪市淀川区西三国4-1-12

株式会社キーエンスの場所

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株式会社キーエンスの補足情報

項目	内容
企業名 読み仮名	カブシキガイシャキーエンス
企業名 英語	KEYENCE CORPORATION
上場・非上場	上場
資本金	306億3,700万円
業種	電気機器
証券コード	68610

株式会社キーエンスの登録履歴

日付	内容
2023年05月30日	【吸収合併】 令和5年5月21日大阪市東淀川区東中島一丁目3番14号株式会社エスコ(4120001094249)を合併
2015年10月05日	【新規登録】 名称が「株式会社キーエンス」で、「大阪府大阪市東淀川区東中島1丁目3番14号」に新規登録されました。

株式会社キーエンスの法人活動情報

株式会社キーエンスの調達情報(5件)

期間 公表組織	活動名称 / 活動対象 / 金額
2022年02月28日 国土交通省	デジタルマイクロスコープ装置1式の購入 10,494,000円
2021年12月08日 総務省	ライニング劣化評価用高精度3D形状測定装置(一式) 9,658,000円
2021年11月05日 防衛省	変位計 2,956,800円
2021年10月26日 防衛省	三次元測定機 8,448,000円
2020年01月24日 原子力規制委員会	令和元年度デジタルマイクロスコープの導入 9,141,000円

株式会社キーエンスの表彰情報(2件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2017年12月04日 厚生労働省	女性の活躍推進企業
2017年12月04日 厚生労働省	両立支援のひろば 一般事業主行動計画公表

株式会社キーエンスの届出情報(1件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
- デジタル庁	代表者:代表取締役 中田 有 全省庁統一資格 / -

株式会社キーエンスの特許情報(504件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2020年11月20日 特許庁 / 特許	光学測定装置 FI分類-G01B 11/02 H
2020年09月28日 特許庁 / 特許	光学式情報読取装置及び光学式情報読取方法 FI分類-G02B 7/36, FI分類-G03B 13/36, FI分類-G03B 15/00 H, FI分類-G03B 15/02 G, FI分類-G01C 3/06 140, FI分類-G06K 7/10 372, FI分類-G06K 7/10 408, FI分類-G06K 7/10 416, FI分類-G06K 7/10 436, FI分類-G06K 7/14 013, FI分類-G01C 3/06 110 B
2020年08月07日 特許庁 / 特許	白色干渉顕微鏡 FI分類-G01B 9/04, FI分類-G01B 11/24 D
2020年06月29日 特許庁 / 特許	設定装置およびPLCシステム FI分類-G05B 19/05 A
2020年06月29日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラおよびPLCシステム FI分類-G05B 19/05 A
2020年06月29日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラ FI分類-G05B 19/05 L
2020年06月19日 特許庁 / 特許	データ収集装置 FI分類-G05B 19/042, FI分類-H04L 12/28 400
2020年05月29日 特許庁 / 特許	画像寸法測定装置 FI分類-G01B 11/14 H
2020年05月29日 特許庁 / 特許	画像寸法測定装置 FI分類-G01B 11/14 H
2020年05月29日 特許庁 / 特許	画像寸法測定装置 FI分類-G01B 11/14 H
2020年05月25日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラ FI分類-G05B 19/05 D
2020年05月22日 特許庁 / 特許	撮像装置及び画像検査システム FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G06T 1/00 300, FI分類-G06T 7/00 610
2020年05月22日 特許庁 / 特許	画像検査システム FI分類-G06T 17/20, FI分類-G06F 3/0484, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G06F 3/0481 150, FI分類-G06F 3/0484 150
2020年04月10日 特許庁 / 特許	レーザ光電センサ FI分類-H01S 5/022, FI分類-H01S 5/0683, FI分類-H01S 5/323 610, FI分類-G01C 3/06 110 A
2020年04月10日 特許庁 / 特許	光電スイッチ FI分類-G01V 8/12 Z, FI分類-H01H 35/00 V
2020年04月10日 特許庁 / 特許	変位スイッチ FI分類-G01V 8/10 T, FI分類-H01H 35/00 E, FI分類-G01C 3/00 120, FI分類-H03K 17/945 E, FI分類-G01C 3/06 110 A
2020年04月10日 特許庁 / 特許	光学式センサ用光軸調整装置 FI分類-G02B 7/00 B
2020年04月07日 特許庁 / 特許	変位測定装置 FI分類-G01B 11/00 B
2020年03月19日 特許庁 / 特許	光学読取装置 FI分類-G06K 7/10 388, FI分類-G06K 7/10 428, FI分類-G06K 7/10 456
2020年03月19日 特許庁 / 特許	光学読取装置 FI分類-G06T 7/12, FI分類-G06K 7/10 388, FI分類-G06K 7/10 428, FI分類-G06K 7/14 043
2020年03月19日 特許庁 / 特許	光学読取装置 FI分類-G06K 7/10 428, FI分類-G06K 7/14 043, FI分類-G06K 19/06 093
2020年03月19日 特許庁 / 特許	定置式コードリーダの設置支援装置、設置支援方法及びコンピュータプログラム FI分類-G03B 15/00 U, FI分類-G06K 7/10 412, FI分類-H04N 5/232 220
2020年03月19日 特許庁 / 特許	光学式情報読取装置、光学式情報読取方法、光学式情報読取プログラム及びコンピュータで読取可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-H04N 5/243, FI分類-G06K 7/10 276, FI分類-G06K 7/10 372, FI分類-G06K 7/14 078
2020年03月19日 特許庁 / 特許	光学式情報読取装置、光学式情報読取方法、光学式情報読取プログラム及びコンピュータで読取可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G06K 7/10 428, FI分類-G06K 7/14 060
2020年03月16日 特許庁 / 特許	マーキングシステム、診断支援装置、診断支援方法、診断支援プログラム及び記憶媒体 FI分類-B23K 26/03, FI分類-B23K 26/082, FI分類-B23K 26/00 B, FI分類-B23K 26/00 M, FI分類-B23K 26/00 Q
2020年03月16日 特許庁 / 特許	マーキングシステム、診断支援装置、診断支援方法、診断支援プログラム及び記憶媒体 FI分類-B23K 26/03, FI分類-B23K 26/082, FI分類-B23K 26/00 B, FI分類-B23K 26/00 M, FI分類-B23K 26/00 Q
2020年01月29日 特許庁 / 特許	プログラマブル表示器及びこれを備えるプログラマブルロジックコントローラシステム FI分類-G05B 19/05 D
2020年01月23日 特許庁 / 特許	データ中継装置および表示装置 FI分類-G05B 19/05 S
2019年12月26日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03, FI分類-B23K 26/00 B, FI分類-B23K 26/00 M
2019年12月26日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03, FI分類-B23K 26/082, FI分類-B23K 26/00 M
2019年12月26日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03
2019年12月26日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03
2019年12月26日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03
2019年12月26日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03
2019年12月26日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03, FI分類-B23K 26/082
2019年12月26日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03
2019年12月12日 特許庁 / 特許	インクジェット記録システム FI分類-B41J 2/02, FI分類-B41J 2/18, FI分類-B41J 2/165 201, FI分類-B41J 2/165 401
2019年12月12日 特許庁 / 特許	インクジェット記録システム FI分類-B41J 2/02, FI分類-B41J 2/18, FI分類-B41J 2/165 201, FI分類-B41J 2/165 401
2019年12月12日 特許庁 / 特許	インクジェット記録システム FI分類-B41J 2/18, FI分類-B41J 2/035, FI分類-B41J 2/01 401, FI分類-B41J 2/01 451, FI分類-B41J 2/17 203, FI分類-B41J 2/165 207, FI分類-B41J 2/165 401
2019年12月12日 特許庁 / 特許	インクジェット記録システム FI分類-B41J 2/02, FI分類-B41J 2/08, FI分類-B41J 2/01 451, FI分類-B41J 2/165 401
2019年12月12日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置 FI分類-B41J 2/09, FI分類-B41J 2/01 401, FI分類-B41J 2/01 451, FI分類-B41J 2/165 401
2019年12月12日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置 FI分類-B41J 2/18, FI分類-B41J 2/01 401, FI分類-B41J 2/165 201, FI分類-B41J 2/165 401, FI分類-B41J 2/175 133
2019年12月12日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置 FI分類-B41J 2/01 401, FI分類-B41J 2/01 403, FI分類-B41J 2/165 401, FI分類-B41J 2/165 505, FI分類-B41J 2/175 501
2019年12月12日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置 FI分類-B41J 2/02, FI分類-B41J 2/08, FI分類-B41J 2/18, FI分類-B41J 2/01 451, FI分類-B41J 2/165 401
2019年12月12日 特許庁 / 特許	インクジェット記録システム FI分類-B41J 2/01 401, FI分類-B41J 2/01 451, FI分類-B41J 2/165 401, FI分類-B41J 2/185 101
2019年12月12日 特許庁 / 特許	インクジェット記録システム FI分類-B41J 2/09, FI分類-B41J 2/085, FI分類-B41J 2/175, FI分類-B41J 2/01 301, FI分類-B41J 2/01 401, FI分類-B41J 2/01 451, FI分類-B41J 2/165 201
2019年11月28日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G06T 7/60 150, FI分類-G06T 7/60 180
2019年11月19日 特許庁 / 特許	安全コントローラ FI分類-G05B 9/02 B
2019年11月19日 特許庁 / 特許	安全コントローラおよび履歴表示装置 FI分類-G05B 9/02 B, FI分類-G05B 23/02 301 V
2019年11月19日 特許庁 / 特許	安全コントローラおよび履歴表示装置 FI分類-G05B 9/02 B, FI分類-G05B 23/02 301 V
2019年11月19日 特許庁 / 特許	安全コントローラ FI分類-G05B 9/02 B, FI分類-G05B 23/02 301 P
2019年11月19日 特許庁 / 特許	プログラム作成支援装置 FI分類-G05B 19/05 N
2019年11月19日 特許庁 / 特許	プログラム作成支援装置 FI分類-G05B 19/05 N
2019年11月08日 特許庁 / 特許	光学式変位計 FI分類-G01B 11/25 H
2019年10月03日 特許庁 / 特許	データ活用システム FI分類-G05B 19/05 L
2019年10月03日 特許庁 / 特許	データ活用機器 FI分類-G05B 19/05 D, FI分類-G05B 19/05 F, FI分類-G05B 23/02 301 P
2019年09月19日 特許庁 / 特許	除電器 FI分類-H01T 19/00, FI分類-H01T 23/00, FI分類-H05F 3/04 E
2019年09月17日 特許庁 / 特許	光学式情報読取装置 FI分類-G06T 7/586, FI分類-G06K 7/10 376, FI分類-G06K 7/10 416, FI分類-G06K 7/10 436, FI分類-G06K 7/10 456, FI分類-G06K 7/14 039, FI分類-G06T 1/00 315, FI分類-G06T 1/00 400 M
2019年09月10日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置 FI分類-B41J 2/105, FI分類-B41J 2/165, FI分類-B41J 2/01 401, FI分類-B41J 2/01 451, FI分類-B41J 2/165 401, FI分類-B41J 2/165 501
2019年09月10日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置 FI分類-B41J 2/035, FI分類-B41J 2/095, FI分類-B41J 29/38 D, FI分類-B41J 29/46 H, FI分類-B41J 2/01 401, FI分類-B41J 2/165 201
2019年08月29日 特許庁 / 特許	画像計測システム FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01N 21/88 J
2019年08月29日 特許庁 / 特許	画像計測システム FI分類-G06F 11/34 176
2019年08月06日 特許庁 / 特許	三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法 FI分類-G01B 11/24 A
2019年08月06日 特許庁 / 特許	三次元形状測定装置、三次元形状測定方法、三次元形状測定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/25 H
2019年08月06日 特許庁 / 特許	三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/24 A
2019年08月06日 特許庁 / 特許	三次元形状測定装置 FI分類-G01B 11/25 H
2019年08月06日 特許庁 / 特許	三次元形状測定装置 FI分類-G01B 11/25 H
2019年08月06日 特許庁 / 特許	三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法 FI分類-G01B 11/25 H
2019年07月29日 特許庁 / 特許	ロボットピッキングシミュレーション装置及びロボットピッキングシミュレーション方法 FI分類-B25J 9/22 A
2019年07月29日 特許庁 / 特許	ロボット設定装置及びロボット設定方法 FI分類-B25J 9/22 A, FI分類-G05B 19/4069
2019年07月09日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置 FI分類-B41J 2/08, FI分類-B41J 2/01 301
2019年07月09日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置 FI分類-B41J 2/01 301, FI分類-B41J 2/185 101
2019年07月09日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03, FI分類-B23K 26/04, FI分類-B23K 26/082
2019年06月27日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G01B 11/02 H
2019年06月27日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/30 A
2019年06月27日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G01B 11/25 H
2019年05月17日 特許庁 / 特許	三次元座標測定装置 FI分類-G01B 11/00 H
2019年05月16日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G06N 3/04, FI分類-G06N 3/08, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 300 B, FI分類-G06T 7/00 350 C, FI分類-G06T 7/00 610 C
2019年05月16日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G06N 3/04, FI分類-G06N 3/08, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 300 B, FI分類-G06T 7/00 350 C, FI分類-G06T 7/00 610 C
2019年05月16日 特許庁 / 特許	画像検査装置及び画像検査装置の設定方法 FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 600, FI分類-G06T 1/00 200 D
2019年05月16日 特許庁 / 特許	画像検査装置及び画像検査装置の設定方法 FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 350 C, FI分類-G06T 7/00 610 C
2019年05月16日 特許庁 / 特許	画像検査装置及び画像検査装置の設定方法 FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 350 C, FI分類-G06T 7/00 610 C
2019年05月16日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 610
2019年05月16日 特許庁 / 特許	画像検査装置及び画像検査装置の設定方法 FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 610 Z
2019年05月16日 特許庁 / 特許	画像検査装置及び画像検査装置の設定方法 FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 610
2019年04月26日 特許庁 / 特許	光学式変位計 FI分類-G01B 11/24 K
2019年04月26日 特許庁 / 特許	光学式変位計 FI分類-G01B 11/24 K
2019年04月26日 特許庁 / 特許	光学式変位計 FI分類-G01B 11/25 H
2019年04月26日 特許庁 / 特許	光学式変位計 FI分類-G01B 11/24 A
2019年04月26日 特許庁 / 特許	三次元測定装置及び三次元測定方法 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/25 H
2019年04月15日 特許庁 / 特許	光学式情報読取装置 FI分類-G06K 7/10 376, FI分類-G06K 7/10 404, FI分類-G06K 7/10 416, FI分類-G06K 7/10 436, FI分類-G06K 7/10 476
2019年04月15日 特許庁 / 特許	光学式情報読取装置及び光学式情報読取方法 FI分類-G06K 7/10 372, FI分類-G06K 7/10 416, FI分類-G06K 7/10 428, FI分類-G06K 7/10 436, FI分類-G06K 7/10 456, FI分類-G06K 7/14 043
2019年04月05日 特許庁 / 特許	画像検査システム及び画像検査方法 FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 J
2019年04月05日 特許庁 / 特許	画像検査システム及び画像検査方法 FI分類-H04N 7/18 B, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 610 Z
2019年04月05日 特許庁 / 特許	画像検査システム及び画像検査方法 FI分類-H04N 7/18 B, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G06T 7/00 610 Z
2019年04月05日 特許庁 / 特許	画像検査システム及び画像検査方法 FI分類-H04N 7/18 B, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G06T 7/00 610 Z
2019年04月05日 特許庁 / 特許	画像検査システム FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G05B 19/418 Z
2019年04月05日 特許庁 / 特許	画像検査システム及び画像検査方法 FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 J
2019年04月03日 特許庁 / 特許	手持ち式光学情報読取装置 FI分類-G06K 7/10 376, FI分類-G06K 7/10 436, FI分類-G06K 7/10 456, FI分類-G06K 7/14 065, FI分類-G06K 19/06 159
2019年03月27日 特許庁 / 特許	画像処理装置 FI分類-G01B 11/25 H
2019年03月27日 特許庁 / 特許	画像処理装置 FI分類-G01B 11/25 H
2019年03月18日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 9/04, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01B 11/02 H
2019年03月18日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 9/04, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G03B 15/00 Q, FI分類-G03B 15/00 T, FI分類-G06T 7/00 610
2019年03月18日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 11/00 H
2019年03月18日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 11/06 H
2019年03月18日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 9/04, FI分類-G01B 11/02 H
2019年03月18日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 11/00 H
2019年03月11日 特許庁 / 特許	三次元座標測定装置 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/26 H
2019年03月11日 特許庁 / 特許	三次元座標測定装置 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/26 H
2019年02月15日 特許庁 / 特許	画像処理装置 FI分類-G01B 11/02 H
2019年02月15日 特許庁 / 特許	画像処理装置 FI分類-G01B 11/02 H
2019年02月15日 特許庁 / 特許	画像処理装置 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/25 H
2019年02月13日 特許庁 / 特許	データ分析装置及びデータ分析方法 FI分類-G06F 16/25
2019年02月13日 特許庁 / 特許	データ分析装置及びデータ分析方法 FI分類-G06F 16/906, FI分類-G06F 16/2457
2019年02月13日 特許庁 / 特許	データ分析装置及びデータ分析方法 FI分類-G06F 16/906, FI分類-G06F 16/2457
2019年02月13日 特許庁 / 特許	データ分析装置 FI分類-G06F 17/30 220 Z
2019年02月13日 特許庁 / 特許	データ分析装置 FI分類-G06F 17/30 220 Z
2019年02月12日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラ及びそのログデータ保存方法 FI分類-G05B 19/05 W
2019年02月12日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラ及びカメラ入力拡張ユニット FI分類-G05B 19/05 L
2019年02月12日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラ用プログラム作成支援装置 FI分類-G05B 19/05 A
2019年02月08日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G06T 7/00 610 Z
2019年02月08日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/25 H
2019年02月08日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/25 H
2019年02月08日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G01B 11/02 H
2019年02月01日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01N 21/88 Z, FI分類-G06N 99/00 153, FI分類-G06T 7/00 350 C
2019年02月01日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01N 21/88 Z, FI分類-G06T 7/00 250, FI分類-G06N 99/00 153, FI分類-G06T 7/00 350 C, FI分類-G06T 7/00 610 C
2019年02月01日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 350 C, FI分類-G06T 7/00 610 C
2019年01月29日 特許庁 / 特許	三次元計測装置 FI分類-G06T 7/586, FI分類-G01B 11/25 H
2018年12月28日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03, FI分類-B23K 26/046
2018年12月28日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03
2018年12月28日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03, FI分類-B23K 26/066
2018年12月28日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03, FI分類-B23K 26/00 Q
2018年12月28日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03
2018年12月28日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03
2018年12月28日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03
2018年12月28日 特許庁 / 特許	気体流量計 FI分類-G01F 1/00 Y, FI分類-G01F 1/66 101
2018年12月28日 特許庁 / 特許	流量計 FI分類-G01F 1/00 Y, FI分類-G01F 1/66 101
2018年12月28日 特許庁 / 特許	流量計 FI分類-G01F 1/00 T, FI分類-G01F 1/00 Y, FI分類-G01F 1/66 101
2018年12月28日 特許庁 / 特許	流体流量の監視装置 FI分類-G01F 1/00 Y, FI分類-G01F 1/66 101
2018年12月28日 特許庁 / 特許	超音波式気体流量計 FI分類-G01F 1/66 A
2018年11月29日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01N 21/84 D, FI分類-G01N 21/88 J
2018年11月29日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01N 21/84 D, FI分類-G01N 21/88 J
2018年11月29日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/24, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G03B 15/05, FI分類-G03B 17/02, FI分類-G03B 17/14, FI分類-G03B 17/55, FI分類-G03B 15/02 G, FI分類-G03B 15/02 Q, FI分類-H04N 5/225 100, FI分類-H04N 5/225 400
2018年11月29日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/36
2018年11月09日 特許庁 / 特許	変位測定装置 FI分類-G06T 7/557, FI分類-G01B 11/00 H
2018年11月09日 特許庁 / 特許	変位測定装置 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/00 B
2018年11月09日 特許庁 / 特許	変位測定装置 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/00 B
2018年11月09日 特許庁 / 特許	変位測定装置 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/00 B
2018年11月09日 特許庁 / 特許	変位測定装置 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/00 B
2018年11月09日 特許庁 / 特許	変位測定装置 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/00 B
2018年11月09日 特許庁 / 特許	変位測定装置 FI分類-G01B 11/00 A
2018年11月09日 特許庁 / 特許	プロファイル測定装置 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/25 H
2018年10月23日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラシステム、プログラム作成支援装置およびコンピュータプログラム FI分類-G05B 19/05 A
2018年10月23日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラシステム、プログラム作成支援装置およびコンピュータプログラム FI分類-G05B 19/05 A
2018年10月23日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラおよびメインユニット FI分類-G05B 19/05 F
2018年10月23日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラおよびプログラム作成支援装置 FI分類-G05B 19/05 A, FI分類-G05B 23/02 301 V
2018年10月23日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラ用のエンジニアリングツール FI分類-G05B 19/05 B
2018年10月23日 特許庁 / 特許	外部設定機器およびプログラム FI分類-G05B 19/05 J
2018年10月23日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラ FI分類-G05B 19/05 Z
2018年10月23日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラおよびメインユニット FI分類-G05B 19/05 L
2018年10月23日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラおよびメインユニット FI分類-G05B 19/05 A, FI分類-G05B 19/05 F, FI分類-G05B 19/05 Z
2018年10月23日 特許庁 / 特許	外部設定機器、ロギング設定方法およびプログラム FI分類-G05B 19/05 L
2018年10月11日 特許庁 / 特許	クランプオン式超音波流量計 FI分類-G01F 1/66 A
2018年09月21日 特許庁 / 特許	三次元形状測定装置および三次元形状測定プログラム FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G06T 1/00 315
2018年08月31日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 11/02 H
2018年08月31日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/27 H
2018年08月30日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 7/28 J
2018年08月30日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G02B 7/28 J
2018年08月30日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/00
2018年08月30日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/24, FI分類-G02B 21/36
2018年08月30日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/06
2018年08月14日 特許庁 / 特許	シリアルカスケードコネクタシステム及びこれに含まれるコネクタ部材並びにコネクタ部材と中継コネクタ部材との組み合わせ並びに安全コンポーネント FI分類-H01R 31/08 M
2018年08月13日 特許庁 / 特許	光学式変位計 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01B 11/24 A
2018年08月13日 特許庁 / 特許	光学式変位計 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01B 11/24 A
2018年08月07日 特許庁 / 特許	データ分析装置及びデータ分析方法 FI分類-G06F 17/30 210 D, FI分類-G06F 17/30 220 Z, FI分類-G06F 17/30 360 Z
2018年08月07日 特許庁 / 特許	データ分析装置及びデータ分析方法 FI分類-G06F 17/30 210 D, FI分類-G06F 17/30 220 Z, FI分類-G06F 17/30 360 Z
2018年08月07日 特許庁 / 特許	データ分析装置及びデータ分析方法 FI分類-G06F 19/00 130, FI分類-G06F 17/30 220 Z
2018年08月01日 特許庁 / 特許	三次元座標測定装置 FI分類-G01B 11/00 H
2018年08月01日 特許庁 / 特許	三次元座標測定装置 FI分類-G01B 11/00 H
2018年07月31日 特許庁 / 特許	ロック機構付き安全スイッチ FI分類-H01H 9/20, FI分類-H01H 9/16 A, FI分類-E05B 41/00 F, FI分類-E05B 47/04 B, FI分類-E05B 47/06 C, FI分類-H01H 27/00 B, FI分類-H01H 27/00 G
2018年07月26日 特許庁 / 特許	三次元測定装置 FI分類-G01B 5/02, FI分類-G01B 11/03
2018年07月23日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G06T 7/00 U, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 300 F, FI分類-G06T 7/00 610 C
2018年07月17日 特許庁 / 特許	形状測定装置、形状測定方法及び形状測定プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/25 H
2018年07月11日 特許庁 / 特許	除電装置 FI分類-H01T 19/04, FI分類-H01T 23/00, FI分類-H05F 3/04 J
2018年06月22日 特許庁 / 特許	光学式読取装置、該光学式読取装置を用いる光学式読取方法、及びコンピュータプログラム FI分類-G06K 9/20 340 K, FI分類-G06K 9/62 620 B
2018年05月25日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01B 11/06 Z
2018年04月20日 特許庁 / 特許	形状測定装置、形状測定方法、形状測定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G06T 1/00 315
2018年04月20日 特許庁 / 特許	形状測定装置、形状測定方法、形状測定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G06T 7/571, FI分類-G01B 11/25 H
2018年04月20日 特許庁 / 特許	画像観察装置、画像観察方法及び画像観察プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G06T 7/00 610 B
2018年04月20日 特許庁 / 特許	形状測定装置 FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/25 H
2018年04月20日 特許庁 / 特許	形状測定装置、形状測定方法及び形状測定プログラム FI分類-G01B 11/25 H
2018年04月13日 特許庁 / 特許	安全スイッチ FI分類-E05B 9/02, FI分類-E05B 41/00 E, FI分類-E05B 41/00 F, FI分類-E05B 47/06 C
2018年04月13日 特許庁 / 特許	安全スイッチ FI分類-E05B 9/02, FI分類-E05B 41/00 E, FI分類-E05B 41/00 F, FI分類-E05B 47/00 J, FI分類-E05B 47/06 C
2018年04月13日 特許庁 / 特許	安全ドアスイッチ FI分類-E06B 7/28 A
2018年04月13日 特許庁 / 特許	安全スイッチ FI分類-E05B 9/02, FI分類-E05B 41/00 E, FI分類-E05B 41/00 F, FI分類-E05B 47/06 C
2018年03月22日 特許庁 / 特許	画像処理装置 FI分類-G01B 11/06 H, FI分類-G01B 11/25 H
2018年03月22日 特許庁 / 特許	画像処理装置 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/25 H
2018年03月14日 特許庁 / 特許	クランプオン式超音波流量センサ FI分類-G01F 1/66 A, FI分類-G01F 1/66 101
2018年03月14日 特許庁 / 特許	クランプオン式超音波流量センサ FI分類-G01F 1/66 A, FI分類-G01F 1/66 101
2018年03月14日 特許庁 / 特許	クランプオン式超音波流量センサ FI分類-G01F 1/66 A, FI分類-G01F 1/66 101
2018年03月14日 特許庁 / 特許	クランプオン式超音波流量センサ FI分類-G01F 1/66 A, FI分類-G01F 1/66 101
2018年03月14日 特許庁 / 特許	クランプオン式超音波流量センサ FI分類-G01F 1/66 Z, FI分類-G01F 1/66 101
2018年03月14日 特許庁 / 特許	クランプオン式超音波流量センサ FI分類-G01F 1/66 Z, FI分類-G01F 1/66 101
2018年03月14日 特許庁 / 特許	流量計 FI分類-G01F 1/00 F, FI分類-G01F 1/66 101
2018年01月23日 特許庁 / 特許	プログラマブル・ロジック・コントローラ、データロガーおよび制御方法 FI分類-G05B 19/05 L, FI分類-G06F 13/00 520 A
2017年12月14日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置及びレーザ発振器 FI分類-G02F 1/37, FI分類-H01S 3/02, FI分類-H01S 3/11, FI分類-H01S 3/042, FI分類-H01S 3/109, FI分類-H01S 3/00 B, FI分類-B23K 26/00 M
2017年12月14日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置及びレーザ発振器 FI分類-G02F 1/37, FI分類-H01S 3/02, FI分類-B23K 26/70, FI分類-H01S 3/042, FI分類-H01S 3/109, FI分類-H01S 3/00 B, FI分類-H01S 3/10 Z, FI分類-B23K 26/00 M
2017年12月14日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置及びレーザ加工方法 FI分類-G02F 1/37, FI分類-H01S 3/11, FI分類-H01S 3/102, FI分類-H01S 3/109, FI分類-B23K 26/062, FI分類-B23K 26/082, FI分類-H01S 3/00 B, FI分類-B23K 26/00 B, FI分類-B23K 26/00 M, FI分類-B23K 26/00 N
2017年12月14日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/03, FI分類-B23K 26/046, FI分類-B23K 26/082, FI分類-H01S 3/00 B, FI分類-H01S 3/10 Z, FI分類-B23K 26/00 B
2017年12月14日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/70, FI分類-H01S 3/101, FI分類-B23K 26/082, FI分類-H01S 3/00 B, FI分類-H01S 3/0941, FI分類-B23K 26/00 B, FI分類-B23K 26/00 M
2017年12月14日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置及びガルバノスキャナ FI分類-B23K 26/70, FI分類-B23K 26/082, FI分類-G02B 26/10 104 Z
2017年12月14日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/70, FI分類-B23K 26/082, FI分類-B23K 26/00 A
2017年11月29日 特許庁 / 特許	光学読取装置 FI分類-G03B 13/36, FI分類-G06K 7/015, FI分類-G02B 7/04 Z, FI分類-G02B 7/28 H, FI分類-G06K 7/10 372, FI分類-G06K 7/10 400, FI分類-G06K 7/10 408, FI分類-G06K 7/10 416, FI分類-G06K 7/10 436, FI分類-G01C 3/06 110 A
2017年11月21日 特許庁 / 特許	設定サポートシステム、データサーバ、制御方法およびプログラム FI分類-G01N 21/88 Z, FI分類-G05B 19/418 Z, FI分類-G06T 1/00 300
2017年11月21日 特許庁 / 特許	設定サポートシステム、データサーバ、制御方法およびプログラム FI分類-G01N 21/88 Z, FI分類-G05B 19/418 Z, FI分類-G06T 1/00 300
2017年11月21日 特許庁 / 特許	画像処理システム FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06F 11/14 651, FI分類-G06T 7/00 300 E, FI分類-G06T 7/00 610 C
2017年10月18日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G01B 9/04, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 7/04 C, FI分類-G02B 7/08 A, FI分類-G01B 11/24 A
2017年10月17日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G02B 7/28 J, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G03B 15/00 T
2017年10月17日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G02B 7/28 J, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G03B 15/00 T
2017年10月17日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G02B 7/28 J, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G03B 15/00 T
2017年10月17日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G02B 7/28 J, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G03B 15/00 T
2017年10月17日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 7/04 C, FI分類-G02B 7/08 A, FI分類-G01B 11/24 K
2017年09月27日 特許庁 / 特許	光電スイッチおよびセンサユニット FI分類-H01H 35/00 E, FI分類-H01H 35/00 N, FI分類-H01H 35/00 R
2017年09月27日 特許庁 / 特許	光電スイッチおよびセンサユニット FI分類-H01H 35/00 E, FI分類-H01H 35/00 N, FI分類-H01H 35/00 R
2017年09月27日 特許庁 / 特許	光電スイッチおよびセンサユニット FI分類-H01H 35/00 E, FI分類-H01H 35/00 N, FI分類-H01H 35/00 R
2017年09月27日 特許庁 / 特許	センサユニット FI分類-H01H 35/00 A, FI分類-H03K 17/78 D
2017年09月27日 特許庁 / 特許	ファイバセンサ、受光ファイバおよび拡散部材 FI分類-H01H 9/16 C, FI分類-H01H 35/00 R, FI分類-H01H 35/00 V
2017年09月27日 特許庁 / 特許	センサユニット用の補助ユニット FI分類-H01H 35/00 N, FI分類-H03K 17/78 D
2017年09月27日 特許庁 / 特許	センサユニット FI分類-H01H 9/02 B, FI分類-H01H 35/00 C
2017年09月27日 特許庁 / 特許	光電スイッチ FI分類-H01H 35/00 V
2017年09月27日 特許庁 / 特許	光電スイッチ FI分類-H01H 35/00 E
2017年09月27日 特許庁 / 特許	光電スイッチおよびセンサユニット FI分類-H01H 9/18 B, FI分類-H01H 35/00 G
2017年09月27日 特許庁 / 特許	センサユニット FI分類-H01H 35/00 E, FI分類-H01H 35/00 R
2017年09月27日 特許庁 / 特許	光電スイッチおよびセンサユニット FI分類-H01H 35/00 B
2017年07月31日 特許庁 / 特許	ロボットシミュレーション装置及びロボットシミュレーション方法 FI分類-B25J 9/22 A, FI分類-G06T 19/00 A
2017年07月31日 特許庁 / 特許	画像処理装置 FI分類-B25J 19/04, FI分類-G06T 7/521, FI分類-G06T 7/00 C, FI分類-G06T 7/70 Z, FI分類-G06T 1/00 300, FI分類-G06T 1/00 315
2017年07月31日 特許庁 / 特許	形状測定装置及び形状測定方法 FI分類-B25J 19/04, FI分類-G06T 7/521, FI分類-B25J 13/08 A, FI分類-G01B 11/24 K
2017年07月31日 特許庁 / 特許	形状測定装置及び形状測定方法 FI分類-G01B 11/25 H
2017年07月11日 特許庁 / 特許	プログラマブル・ロジック・コントローラ、プログラマブル・ロジック・コントローラシステムおよびデータ収集装置 FI分類-G05B 19/05 F
2017年07月11日 特許庁 / 特許	プログラマブル・ロジック・コントローラシステムおよびデータ収集装置 FI分類-G05B 19/05 F
2017年07月11日 特許庁 / 特許	プログラマブル・ロジック・コントローラ、データ収集装置およびプログラム作成支援装置 FI分類-G05B 19/05 F
2017年07月04日 特許庁 / 特許	超音波流量計 FI分類-G01F 1/00 Y, FI分類-G01F 1/66 101
2017年07月04日 特許庁 / 特許	流量計 FI分類-G01F 1/66 Z
2017年06月13日 特許庁 / 特許	共焦点変位計測システム FI分類-G01B 11/00 B
2017年06月13日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B
2017年06月13日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B
2017年06月13日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B
2017年06月13日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B
2017年05月31日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G01N 21/89 Z
2017年05月31日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G06T 7/181, FI分類-G01B 11/00 A, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 1/00 300, FI分類-G06T 7/00 610 B
2017年05月31日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/89 Z, FI分類-G06T 1/00 300, FI分類-G06T 7/00 610
2017年05月31日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G01N 21/88 J
2017年05月31日 特許庁 / 特許	画像検査装置、画像検査方法、画像検査装置の設定方法、画像検査プログラム、画像装置の設定検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/89 Z
2017年05月31日 特許庁 / 特許	画像検査装置、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G01N 21/93, FI分類-G01N 21/88 Z
2017年05月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01J 3/10, FI分類-G01J 3/46 Z, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/28 H, FI分類-G01N 21/84 E
2017年05月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01B 11/28 H, FI分類-G01N 21/84 E, FI分類-G01N 21/88 J
2017年05月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G06T 7/70 A, FI分類-G06T 7/90 A, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/85 A, FI分類-G06T 1/00 300, FI分類-G06T 7/00 610 C
2017年05月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G06T 7/90 A, FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/84 E, FI分類-G01N 21/88 Z, FI分類-G06T 1/00 300, FI分類-G06T 7/00 610 C
2017年05月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G06T 7/90 D, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 610
2017年05月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01J 3/46 Z, FI分類-H04N 1/46 Z, FI分類-G06T 1/00 300
2017年05月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置および画像検査方法 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01N 21/88 Z
2017年05月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01J 3/46 Z, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01N 21/27 A, FI分類-G06T 1/00 300
2017年05月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 610
2017年04月29日 特許庁 / 特許	照明装置用アタッチメント FI分類-F21V 3/02, FI分類-F21Y 103:33, FI分類-F21Y 115:10, FI分類-F21S 2/00 350, FI分類-F21V 3/00 320, FI分類-F21V 17/00 150
2017年03月29日 特許庁 / 特許	光電センサ FI分類-H01L 31/12 D
2017年03月29日 特許庁 / 特許	光電センサ FI分類-H03K 17/78 N
2017年03月29日 特許庁 / 特許	光電センサ FI分類-G01J 1/06 B, FI分類-G01J 1/42 N, FI分類-G01V 9/04 R, FI分類-H01H 35/00 R, FI分類-H01L 31/12 G, FI分類-H03K 17/78 D, FI分類-H03K 17/78 P
2017年03月03日 特許庁 / 特許	画像処理装置、画像処理方法、及びコンピュータプログラム FI分類-G06T 7/50, FI分類-B25J 13/08 A, FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G01B 11/26 H, FI分類-G01B 11/245 H, FI分類-G06T 7/00 610 Z
2017年03月03日 特許庁 / 特許	ロボットシミュレーション装置、ロボットシミュレーション方法、ロボットシミュレーションプログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-B25J 13/08 A, FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G01B 21/20 C
2017年03月03日 特許庁 / 特許	ロボットシミュレーション装置、ロボットシミュレーション方法、ロボットシミュレーションプログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-B25J 13/00 Z
2017年03月03日 特許庁 / 特許	ロボットシミュレーション装置、ロボットシミュレーション方法、ロボットシミュレーションプログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-B25J 13/00 Z
2017年03月03日 特許庁 / 特許	ロボット設定装置、ロボットシステム、ロボット設定方法、ロボット設定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G06T 7/00 C, FI分類-G06T 7/70 Z, FI分類-B25J 13/08 A
2017年03月03日 特許庁 / 特許	ロボット設定装置、ロボット設定方法、ロボット設定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-B25J 9/22 A, FI分類-B25J 13/00 Z, FI分類-G06T 19/00 A
2017年03月03日 特許庁 / 特許	ロボット設定装置、ロボット設定方法、ロボット設定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-B25J 9/22 A
2017年03月03日 特許庁 / 特許	ロボット設定装置、ロボット設定方法、ロボット設定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-B25J 9/22 A
2017年03月03日 特許庁 / 特許	画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体 FI分類-B25J 19/04, FI分類-B25J 13/08 A, FI分類-G01B 11/00 A, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/26 H, FI分類-G06T 1/00 300
2017年03月03日 特許庁 / 特許	画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-B25J 19/04, FI分類-B25J 9/22 A
2017年03月03日 特許庁 / 特許	画像処理装置 FI分類-B25J 19/04, FI分類-B25J 9/22 A
2017年02月24日 特許庁 / 特許	外観検査装置及び外観検査用照明装置 FI分類-G01J 1/00 C, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/84 E
2017年02月23日 特許庁 / 特許	光学的情報読取装置 FI分類-H04N 5/243, FI分類-G06K 7/10 384, FI分類-G06K 7/10 456, FI分類-G06K 7/14 060, FI分類-H04N 5/232 290, FI分類-H04N 5/235 600
2017年02月23日 特許庁 / 特許	光学的情報読取装置 FI分類-H04N 5/235, FI分類-G02B 7/28 H, FI分類-H04N 5/225 A, FI分類-H04N 5/225 C, FI分類-H04N 5/232 Z, FI分類-G06K 7/10 384, FI分類-G06K 7/10 408, FI分類-G06K 7/10 424, FI分類-G06K 7/14 017, FI分類-G06K 7/14 065
2017年02月23日 特許庁 / 特許	光学的情報読取装置 FI分類-G02B 7/34, FI分類-G02B 7/36, FI分類-G03B 13/36, FI分類-G03B 7/091, FI分類-G06K 7/10 384, FI分類-G06K 7/10 404, FI分類-G06K 7/14 017, FI分類-G06K 7/14 039, FI分類-H04N 5/225 400, FI分類-H04N 5/232 290, FI分類-H04N 5/235 300
2017年02月14日 特許庁 / 特許	プログラマブルロジックコントローラシステム、プログラマブルロジックコントローラ、通信テスト支援装置、通信テスト支援方法、及び通信テスト支援装置で実行することが可能なコンピュータプログラム FI分類-G05B 19/05 L
2017年01月26日 特許庁 / 特許	超音波流量センサ及びその取付方法 FI分類-G01F 1/66 A, FI分類-G01F 1/66 101
2017年01月26日 特許庁 / 特許	超音波流量センサ及び超音波流量センサ用の取付装置 FI分類-G01F 1/66 A, FI分類-G01F 1/66 101
2017年01月26日 特許庁 / 特許	超音波流量センサ及びその取付方法 FI分類-G01F 1/66 A
2017年01月26日 特許庁 / 特許	超音波流量センサ及びこれを用いた温度測定方法 FI分類-G01K 17/00, FI分類-G01F 1/66 A, FI分類-G01F 1/66 101
2016年12月28日 特許庁 / 特許	光走査高さ測定装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/02 G, FI分類-G01B 11/24 D
2016年12月28日 特許庁 / 特許	光走査高さ測定装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/02 G, FI分類-G01B 11/24 D
2016年12月28日 特許庁 / 特許	光走査高さ測定装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/02 G, FI分類-G01B 11/24 D
2016年12月28日 特許庁 / 特許	光走査高さ測定装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/02 G, FI分類-G01B 11/24 D
2016年12月28日 特許庁 / 特許	光走査高さ測定装置 FI分類-G01B 11/02 G
2016年12月28日 特許庁 / 特許	三次元測定装置 FI分類-G01B 11/02 H
2016年12月21日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 P
2016年12月21日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 P
2016年12月21日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 P
2016年12月21日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 P
2016年11月08日 特許庁 / 特許	脱着可能な超音波流量計 FI分類-G01F 1/66 A
2016年11月08日 特許庁 / 特許	脱着可能な超音波流量計 FI分類-G01F 1/66 A
2016年11月02日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 5/00 A, FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 21/00 A, FI分類-G06T 1/00 315
2016年11月02日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 5/012, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 21/00 A, FI分類-G06T 1/00 315
2016年11月02日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 21/00 A, FI分類-G06T 1/00 315
2016年10月21日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/00
2016年10月21日 特許庁 / 特許	画像計測装置 FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G06T 1/00 305 A
2016年10月21日 特許庁 / 特許	拡大観察装置および拡大観察装置の制御方法 FI分類-G02B 21/24, FI分類-G02B 7/28 J, FI分類-H04N 5/225 F, FI分類-H04N 5/232 Z
2016年10月19日 特許庁 / 特許	コンソールおよびそれを備える拡大観察装置 FI分類-G02B 21/36
2016年10月12日 特許庁 / 特許	形状測定装置 FI分類-G01B 11/24 D
2016年10月12日 特許庁 / 特許	形状測定装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/24 D
2016年10月12日 特許庁 / 特許	形状測定装置 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/24 K
2016年09月06日 特許庁 / 特許	画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G01N 21/93, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 1/00 305 A
2016年08月26日 特許庁 / 特許	校正具の製造方法及び三次元測定装置 FI分類-G01B 11/00 Z, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/24 K
2016年08月26日 特許庁 / 特許	三次元測定装置 FI分類-G01B 11/00 A, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/24 K
2016年08月26日 特許庁 / 特許	三次元測定装置 FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G01B 21/20 C, FI分類-G06T 1/00 315, FI分類-G06T 7/60 150 J
2016年08月26日 特許庁 / 特許	三次元測定装置 FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G06T 1/00 315
2016年07月22日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/06
2016年07月22日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/24, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G03B 13/36, FI分類-G03B 15/05, FI分類-G02B 7/28 J, FI分類-G03B 15/00 H, FI分類-G03B 15/02 G, FI分類-H04N 5/232 Z, FI分類-H04N 5/238 Z
2016年07月22日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G03B 7/08, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G03B 7/093, FI分類-G02B 7/28 J, FI分類-H04N 5/225 C, FI分類-H04N 5/232 Z, FI分類-G06T 5/00 740
2016年07月22日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 21/10, FI分類-G02B 21/36, FI分類-H04N 5/225 C, FI分類-H04N 5/225 F, FI分類-H04N 5/232 Z
2016年07月22日 特許庁 / 特許	拡大観察装置 FI分類-G02B 7/36, FI分類-G02B 21/10, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G03B 13/36, FI分類-G03B 15/05, FI分類-G02B 7/28 J, FI分類-G03B 15/02 E, FI分類-G03B 15/02 G, FI分類-H04N 5/225 C, FI分類-H04N 5/232 Z, FI分類-H04N 5/238 Z
2016年07月04日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置、レーザ加工データ設定装置、レーザ加工装置の設定方法、レーザ加工条件設定プログラム、コンピュータで読み取り可能な記録媒体及び記録した機器 FI分類-B23K 26/04, FI分類-B23K 26/082, FI分類-B23K 26/00 M
2016年07月04日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置、レーザ加工データ設定装置、レーザ加工装置の設定方法、レーザ加工条件設定プログラム、コンピュータで読み取り可能な記録媒体及び記録した機器 FI分類-B23K 26/082, FI分類-B23K 26/00 B, FI分類-B23K 26/00 M, FI分類-B23K 26/02 A, FI分類-G02B 26/10 C
2016年07月04日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置、レーザ加工装置の操作方法、レーザ加工装置の操作プログラム、コンピュータで読み取り可能な記録媒体及び記録した機器 FI分類-B23K 26/082, FI分類-B23K 26/00 B, FI分類-B23K 26/00 M, FI分類-G02B 26/10 104 Z
2016年07月04日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置、レーザ加工装置の加工パターン調整方法、レーザ加工装置の加工パターン調整プログラム、コンピュータで読み取り可能な記録媒体及び記録した機器 FI分類-B23K 26/04, FI分類-B23K 26/082, FI分類-B23K 26/00 M, FI分類-G02B 26/08 F
2016年07月04日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 5/004, FI分類-G01B 11/00 H
2016年07月04日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 5/004, FI分類-G01B 11/00 H
2016年07月01日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置、レーザ増幅器、レーザ共振器、主発振器出力増幅器 FI分類-H01S 3/23, FI分類-B23K 26/082, FI分類-H01S 3/00 B, FI分類-H01S 3/10 D
2016年06月27日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G06T 1/00 315
2016年06月27日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01B 11/25 H
2016年06月27日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01B 11/25 H
2016年06月27日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01B 11/25 H
2016年06月27日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G06T 7/00 300 F
2016年06月24日 特許庁 / 特許	三次元測定装置及びその制御方法 FI分類-G06T 7/00 C, FI分類-G01B 11/25 H
2016年06月24日 特許庁 / 特許	三次元測定装置 FI分類-G01B 21/20 C, FI分類-G01B 11/255 H, FI分類-G06T 1/00 315, FI分類-G06T 7/00 300 E
2016年06月13日 特許庁 / 特許	画像処理センサ、画像処理方法及び画像処理プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 FI分類-G06T 7/00 T, FI分類-G06T 1/00 300, FI分類-G06T 7/00 300 E
2016年06月13日 特許庁 / 特許	画像処理センサ、画像処理方法、画像処理プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-H04N 5/225 A, FI分類-H04N 5/225 C, FI分類-H04N 5/225 F, FI分類-G06T 7/00 300 F
2016年06月13日 特許庁 / 特許	画像処理センサ、画像処理方法、画像処理プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-H04N 5/225 C, FI分類-H04N 5/232 Z, FI分類-G06T 1/00 305 A
2016年06月13日 特許庁 / 特許	画像処理センサ、画像処理方法 FI分類-G01N 21/93, FI分類-G03B 7/083, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-H04N 5/232 Z, FI分類-H04N 5/238 Z, FI分類-G06T 1/00 300
2016年06月13日 特許庁 / 特許	画像処理センサ、画像処理方法 FI分類-G01J 1/02 P, FI分類-G01N 21/84 Z, FI分類-G06T 1/00 300
2016年06月13日 特許庁 / 特許	画像処理センサ及び画像処理方法 FI分類-G01J 1/02 P, FI分類-G01N 21/84 Z, FI分類-G06T 1/00 300
2016年05月30日 特許庁 / 特許	デバイスモニタ装置、デバイスモニタ方法、デバイスモニタシステム、及びデバイスモニタ装置で実行することが可能なコンピュータプログラム FI分類-G05B 19/05 D
2016年05月27日 特許庁 / 特許	画像処理センサ FI分類-G01N 21/88 Z
2016年04月27日 特許庁 / 特許	光学式三次元座標測定器及びその計測方法 FI分類-G01B 11/00 A
2016年04月27日 特許庁 / 特許	三次元座標測定器 FI分類-G01B 11/00 A
2016年04月27日 特許庁 / 特許	三次元座標測定器 FI分類-G01B 5/004, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/26 H, FI分類-G01B 21/00 E
2016年04月27日 特許庁 / 特許	三次元座標測定器 FI分類-G01B 21/04, FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 11/00 H
2016年03月15日 特許庁 / 特許	プログラム開発支援装置、プログラム開発支援方法及びプログラム開発支援装置で実行することが可能なコンピュータプログラム FI分類-G06F 9/06 620 A
2016年02月26日 特許庁 / 特許	画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01N 21/88 J
2016年02月26日 特許庁 / 特許	三次元画像検査装置、三次元画像検査方法、三次元画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G01B 11/02 H
2016年02月22日 特許庁 / 特許	安全スキャナ FI分類-G01S 7/481 A, FI分類-H01H 35/00 V
2016年02月22日 特許庁 / 特許	安全スキャナ及び光学安全システム FI分類-G08B 21/00 A, FI分類-H01H 35/00 V
2016年02月22日 特許庁 / 特許	光学安全システム、安全スキャナ用の設定支援装置及び設定支援プログラム FI分類-G01S 7/51, FI分類-G01S 17/89, FI分類-G08B 13/196, FI分類-H04N 7/18 D, FI分類-H04N 5/225 C, FI分類-H04N 5/225 F, FI分類-G08B 25/00 510 M
2016年02月22日 特許庁 / 特許	安全スキャナ、光学安全システム及び安全スキャナ用の設定支援装置 FI分類-G01S 17/42, FI分類-H04N 7/18 D, FI分類-H04N 7/18 N
2016年02月22日 特許庁 / 特許	光学安全センサ用の設定支援装置、設定支援プログラム、光学安全システム及び光学安全センサ FI分類-G01J 1/02 W, FI分類-G01V 9/04 T, FI分類-H04N 7/18 D
2016年02月22日 特許庁 / 特許	光学安全システム FI分類-G01S 17/88, FI分類-G01S 7/497
2016年02月22日 特許庁 / 特許	安全スキャナ FI分類-H04N 7/18 D
2016年02月22日 特許庁 / 特許	安全スキャナ FI分類-H04N 7/18 D, FI分類-H04N 5/232 930
2016年02月17日 特許庁 / 特許	プログラマブル表示器及びこれを備えるプログラマブルシステム、プログラマブル表示器の操作方法、プログラマブル表示器操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記憶した機器 FI分類-G05B 19/05 D
2016年01月08日 特許庁 / 特許	外観検査装置、外観検査方法及び該外観検査装置に用いるコントローラで実行することが可能なコンピュータプログラム FI分類-G01N 21/88 J
2015年12月25日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 P
2015年12月25日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 P
2015年12月25日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 P
2015年12月25日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 P
2015年12月25日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 P
2015年12月14日 特許庁 / 特許	光電スイッチ FI分類-G01J 3/50, FI分類-G01V 9/04 Q, FI分類-H01H 35/00 C
2015年12月14日 特許庁 / 特許	光電スイッチ FI分類-G01J 3/50, FI分類-G01V 9/04 F, FI分類-G01V 9/04 Q, FI分類-H01H 35/00 R
2015年11月24日 特許庁 / 特許	位置決め方法、外観検査装置、プログラム、コンピュータ可読記録媒体および外観検査方法 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/26 H, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G01N 21/89 Z, FI分類-G06T 7/00 300 E
2015年11月24日 特許庁 / 特許	位置決め方法、位置決め装置、プログラムおよびコンピュータ可読記録媒体 FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01N 21/89 Z, FI分類-G06T 1/00 300, FI分類-G06T 7/60 150 B
2015年11月13日 特許庁 / 特許	携帯型光学読取装置 FI分類-G06K 7/10 416, FI分類-G06K 7/10 436
2015年11月13日 特許庁 / 特許	携帯型光学読取装置 FI分類-G06K 7/10 436
2015年10月21日 特許庁 / 特許	プログラマブル・ロジック・コントローラ、拡張ユニット、制御方法、プログラム作成支援装置、プログラム作成支援方法およびプログラム FI分類-G05B 19/05 J
2015年10月21日 特許庁 / 特許	プログラマブル・ロジック・コントローラ FI分類-G05B 19/05 F
2015年10月16日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/60 250 A
2015年10月13日 特許庁 / 特許	画像処理センサ、画像処理方法及びコンピュータプログラム FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 1/00 305 A, FI分類-G06T 7/60 250 A
2015年10月09日 特許庁 / 特許	光電スイッチ FI分類-H01H 35/00 C, FI分類-H03K 17/78 Q
2015年10月08日 特許庁 / 特許	光電スイッチ FI分類-G01J 3/51, FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-H01H 35/00 A, FI分類-H03K 17/78 R, FI分類-G06T 1/00 400 C
2015年10月08日 特許庁 / 特許	光電スイッチ FI分類-G01J 3/46 Z, FI分類-H01H 35/00 A, FI分類-H03K 17/78 R
2015年10月08日 特許庁 / 特許	光電スイッチ FI分類-H01H 35/00 C
2015年08月28日 特許庁 / 特許	三次元造形装置及び三次元造形方法 FI分類-B29C 67/00, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00
2015年07月30日 特許庁 / 特許	三次元画像検査装置、三次元画像検査方法及び三次元画像検査プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G06T 1/00 305 Z
2015年07月30日 特許庁 / 特許	画像検査装置、画像検査方法および画像検査プログラム FI分類-G01B 11/02 H
2015年07月30日 特許庁 / 特許	測定対象物計測プログラム、測定対象物計測方法および拡大観察装置 FI分類-G01B 11/25 H
2015年06月23日 特許庁 / 特許	多波長共焦点測定装置 FI分類-G01J 3/10, FI分類-G01J 3/46 Z, FI分類-G01B 11/00 G, FI分類-G01B 11/00 Z
2015年06月23日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01B 11/06 Z
2015年06月23日 特許庁 / 特許	共焦点変位計 FI分類-G01B 11/00 Z, FI分類-G01B 11/06 Z
2015年05月27日 特許庁 / 特許	プログラム作成支援装置、プログラムおよび判別方法 FI分類-G05B 19/05 B
2015年05月27日 特許庁 / 特許	プログラム作成支援装置、制御方法およびプログラム FI分類-G05B 19/05 B
2015年05月15日 特許庁 / 特許	固定式の光学的情報読取装置およびそれを用いた光学的情報読取方法 FI分類-G06K 7/10 376, FI分類-G06K 7/10 380, FI分類-G06K 7/10 416, FI分類-G06K 7/14 017
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/66 A, FI分類-H01H 35/00 P
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/66 A, FI分類-G01F 1/66 101
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/00 G, FI分類-G01F 1/00 Y, FI分類-G01F 1/66 A
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/66 101
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/66 Z, FI分類-G01F 1/66 101
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-H01H 35/24, FI分類-H01H 35/00 P, FI分類-G01F 1/66 101
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/66 101
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/66 A
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/66 A
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/66 A, FI分類-G01F 1/66 101
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/66 A, FI分類-G01F 1/66 101
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/66 A, FI分類-G01F 1/66 101
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/66 A
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/66 A, FI分類-G01F 1/66 101
2015年05月14日 特許庁 / 特許	超音波流量スイッチ FI分類-G01F 1/667 A, FI分類-G01F 1/66 101
2015年04月02日 特許庁 / 特許	インクジェット光造形法における光造形品形成用モデル材及び光造形品の製造方法 FI分類-B29C 67/00, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 70/00, FI分類-B33Y 80/00, FI分類-C08F 290/06
2015年03月20日 特許庁 / 特許	レーザマーキング装置、該レーザマーキング装置を用いて印字結果を確認する印字確認方法及びコンピュータプログラム FI分類-B23K 26/03, FI分類-B23K 26/00 B, FI分類-B23K 26/00 M
2015年03月20日 特許庁 / 特許	レーザマーキング装置、該レーザマーキング装置を用いた印字方法及びコンピュータプログラム FI分類-B23K 26/00 B, FI分類-B23K 26/00 M
2015年03月19日 特許庁 / 特許	光学式ロータリーエンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 B
2015年03月19日 特許庁 / 特許	リニアアクチュエータ FI分類-G02B 7/04 E, FI分類-H02K 41/035
2015年03月04日 特許庁 / 特許	光学式変位計測システム、撮像条件最適化方法および撮像条件最適化プログラム FI分類-G01B 11/24 K
2015年03月04日 特許庁 / 特許	光学式変位計測システム、測定シミュレーション方法および測定シミュレーションプログラム FI分類-G01B 11/00 A, FI分類-G01B 11/24 K
2014年12月26日 特許庁 / 特許	表示器システム FI分類-G06F 3/048 651 C
2014年12月26日 特許庁 / 特許	プログラマブル表示器及びPLC表示システム FI分類-G05B 19/05 Z, FI分類-G06F 3/16 330 C
2014年12月26日 特許庁 / 特許	プログラマブル表示器 FI分類-G05B 19/05 L
2014年12月25日 特許庁 / 特許	画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法及びコンピュータプログラム FI分類-B25J 9/22 A
2014年12月25日 特許庁 / 特許	画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法及びコンピュータプログラム FI分類-B25J 9/22 A
2014年12月25日 特許庁 / 特許	画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法及びコンピュータプログラム FI分類-B25J 19/04, FI分類-B25J 3/00 Z
2014年12月25日 特許庁 / 特許	画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法及びコンピュータプログラム FI分類-B25J 9/10 A
2014年12月09日 特許庁 / 特許	監視システム FI分類-H04N 7/18 D, FI分類-H04N 7/18 K, FI分類-H04N 7/18 U, FI分類-G08B 21/00 A
2014年12月09日 特許庁 / 特許	監視システム FI分類-G08B 21/02, FI分類-H04N 7/18 D, FI分類-G08B 25/00 510 M
2014年12月09日 特許庁 / 特許	監視システム、エリア監視センサ及び設定データ作成装置 FI分類-G08B 21/22, FI分類-H04N 7/18 D, FI分類-H04N 7/18 U, FI分類-G08B 23/00 510 D
2014年12月08日 特許庁 / 特許	プログラマブル・ロジック・コントローラ、基本ユニット、制御方法およびプログラム FI分類-G05B 19/05 J
2014年12月08日 特許庁 / 特許	プログラマブルコントローラ及びプログラマブルコントローラの拡張ユニット FI分類-G05B 19/05 F, FI分類-G05B 19/05 L
2014年12月02日 特許庁 / 特許	プログラマブル・ロジック・コントローラおよびその制御方法 FI分類-G05B 19/05 F
2014年12月01日 特許庁 / 特許	エリア監視センサ FI分類-G01S 17/42, FI分類-G01S 7/497, FI分類-G08B 21/02, FI分類-G01V 9/04 J, FI分類-G08B 21/00 A
2014年12月01日 特許庁 / 特許	エリア監視センサ FI分類-G08B 13/19, FI分類-G08B 21/02, FI分類-G08B 13/196, FI分類-H04N 7/18 D, FI分類-G08B 25/00 510 M
2014年12月01日 特許庁 / 特許	エリア監視センサ FI分類-G01S 7/51, FI分類-G01S 17/06, FI分類-G01S 17/88, FI分類-G08B 21/02, FI分類-G01S 7/481 Z, FI分類-H01H 35/00 V, FI分類-G01C 3/06 120 Q
2014年10月20日 特許庁 / 特許	プログラマブル・ロジック・コントローラおよび変換ユニット FI分類-G05B 19/05 L
2014年09月30日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置 FI分類-B41J 2/18, FI分類-B41J 2/025, FI分類-B41J 2/14 603, FI分類-B41J 2/17 101
2014年08月27日 特許庁 / 特許	画像測定器 FI分類-G01B 11/03 H
2014年08月08日 特許庁 / 特許	レーザ印字装置 FI分類-B23K 26/00 B, FI分類-B23K 26/00 M
2014年08月08日 特許庁 / 特許	レーザ印字装置及びその印字処理制御方法並びに設定プログラム FI分類-B23K 26/00 B, FI分類-B23K 26/00 M
2014年08月08日 特許庁 / 特許	読取機能付きレーザ印字装置及びワークに印字したキャラクタの読取方法 FI分類-B23K 26/00 B, FI分類-B23K 26/00 M
2014年08月08日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置及びワーキングディスタンス測定方法 FI分類-B23K 26/082, FI分類-B23K 26/00 B, FI分類-B23K 26/00 M, FI分類-B23K 26/00 Q, FI分類-G01C 3/06 110 A
2014年08月01日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/046, FI分類-B23K 26/082, FI分類-B23K 26/00 M
2014年07月31日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/06, FI分類-B23K 26/082, FI分類-H01S 3/00 B, FI分類-B23K 26/00 N
2014年07月31日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/062, FI分類-B23K 26/082, FI分類-H01S 3/00 B
2014年07月31日 特許庁 / 特許	光学的情報読取装置、光学的情報読取装置の制御方法およびプログラム FI分類-G06K 7/00 K, FI分類-G06K 7/10 H, FI分類-G06K 7/10 U, FI分類-G06K 7/015 C, FI分類-H04N 5/225 C, FI分類-H04N 5/232 A
2014年07月31日 特許庁 / 特許	光学的情報読取装置、光学的情報読取方法およびプログラム FI分類-G06K 7/00 K, FI分類-G06K 7/10 U
2014年07月31日 特許庁 / 特許	光学的情報読取装置 FI分類-G06K 7/00 L, FI分類-G06K 7/10 H
2014年07月31日 特許庁 / 特許	光学的情報読取装置 FI分類-G06K 7/10 C, FI分類-G06K 7/10 N, FI分類-H04N 5/225 C, FI分類-H04N 5/225 F
2014年07月31日 特許庁 / 特許	コード読取装置 FI分類-G06K 7/10 316
2014年07月31日 特許庁 / 特許	光学的情報読取装置 FI分類-G06K 7/10 316
2014年07月31日 特許庁 / 特許	光学的情報読取装置、光学的情報読取方法およびプログラム FI分類-G06K 7/10 424, FI分類-G06K 7/10 428, FI分類-G06K 7/14 060
2014年07月31日 特許庁 / 特許	光学的情報読取装置 FI分類-G06K 7/10 376, FI分類-G06K 7/10 416
2014年06月27日 特許庁 / 特許	三次元形状測定装置、測定データ処理ユニット、測定データ処理方法、及びコンピュータプログラム FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01B 21/20 Z, FI分類-G06T 1/00 300
2014年06月27日 特許庁 / 特許	三次元形状測定装置、測定データ処理ユニット、測定データ処理方法、及びコンピュータプログラム FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01B 21/20 C, FI分類-G06T 1/00 300
2014年06月23日 特許庁 / 特許	拡大観察装置、拡大画像観察方法、拡大画像観察プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体 FI分類-G02B 21/00, FI分類-H04N 5/225 C, FI分類-H04N 5/225 F, FI分類-H04N 5/232 Z
2014年06月13日 特許庁 / 特許	三次元形状測定装置、測定データ処理ユニット、測定データ処理方法、及びコンピュータプログラム FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01B 11/24 F, FI分類-G01B 11/30 Z
2014年06月13日 特許庁 / 特許	三次元形状測定装置、測定データ処理ユニット、測定データ処理方法、及びコンピュータプログラム FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/30 Z
2014年06月09日 特許庁 / 特許	検査装置、検査方法およびプログラム FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 1/00 300
2014年06月09日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 1/00 300
2014年06月09日 特許庁 / 特許	検査装置、検査方法およびプログラム FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 1/00 300
2014年06月09日 特許庁 / 特許	検査装置、検査方法およびプログラム FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01N 21/84 E, FI分類-G01N 21/88 J
2014年06月09日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G01N 21/84 E, FI分類-G01N 21/85 Z
2014年06月09日 特許庁 / 特許	検査装置、検査方法およびプログラム FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G01B 11/245 H
2014年06月09日 特許庁 / 特許	検査装置、検査方法およびプログラム FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 J
2014年06月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G06T 7/00 C, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 1/00 310 A
2014年06月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G01B 11/26 H, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 1/00 300
2014年06月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G01B 11/26 H, FI分類-G01N 21/84 E, FI分類-G01N 21/85 Z, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 1/00 315, FI分類-G06T 1/00 430 G
2014年06月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 1/00 300, FI分類-G06T 7/60 150 J, FI分類-G06T 7/60 150 P, FI分類-G06T 7/60 150 S
2014年06月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G01B 11/26 H, FI分類-G01N 21/84 E, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 1/00 300
2014年06月09日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G06T 7/586, FI分類-G06T 7/70 B, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/26 H, FI分類-G01N 21/84 E, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G01N 21/89 Z
2014年06月09日 特許庁 / 特許	検査装置、検査方法およびプログラム FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G06T 1/00 300
2014年06月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01N 21/88 Z, FI分類-G06T 7/00 610 Z
2014年06月09日 特許庁 / 特許	画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 FI分類-G06T 7/586, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G06T 7/00 610 Z
2014年06月09日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G06T 5/50, FI分類-G06T 7/586, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G06T 1/00 300, FI分類-G06T 7/00 610 Z
2014年06月09日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G01N 21/84 E, FI分類-G01N 21/89 Z
2014年06月09日 特許庁 / 特許	検査装置、検査方法およびプログラム FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01N 21/88 Z
2014年06月09日 特許庁 / 特許	検査装置およびその制御方法 FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 1/00 300
2014年05月30日 特許庁 / 特許	座標測定装置 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 21/00 A
2014年05月27日 特許庁 / 特許	光学式座標測定装置 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/03 H, FI分類-G01B 21/00 E, FI分類-G01B 21/00 P
2014年05月27日 特許庁 / 特許	光学式座標測定装置 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/03 H, FI分類-G01B 21/00 E, FI分類-G01B 21/00 P
2014年05月27日 特許庁 / 特許	光学式座標測定装置およびプローブ FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/03 H, FI分類-G01B 21/00 E, FI分類-G01B 21/00 P
2014年04月23日 特許庁 / 特許	携帯型光学式読取装置、該携帯型光学式読取装置を用いる光学式読取方法、及びコンピュータプログラム FI分類-G06K 9/22, FI分類-H04N 1/393
2014年04月23日 特許庁 / 特許	携帯型光学式読取装置、該携帯型光学式読取装置を用いる光学式読取方法、及びコンピュータプログラム FI分類-G06K 9/03 Z, FI分類-G06K 9/20 340 C
2014年04月23日 特許庁 / 特許	携帯型光学式読取装置、該携帯型光学式読取装置を用いる光学式読取方法、及びコンピュータプログラム FI分類-G06K 9/03 Z
2014年04月18日 特許庁 / 特許	光学式座標測定装置 FI分類-G01B 5/004, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 21/00 E
2014年04月11日 特許庁 / 特許	形状測定装置、形状測定方法および形状測定プログラム FI分類-G01B 11/24 K
2014年04月01日 特許庁 / 特許	三次元画像処理装置、三次元画像処理方法及び三次元画像処理プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体及び記録した機器 FI分類-H04N 13/00, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 J
2014年04月01日 特許庁 / 特許	三次元画像処理装置、三次元画像処理方法及び三次元画像処理プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体及び記録した機器 FI分類-G01N 21/88 J
2014年04月01日 特許庁 / 特許	三次元画像処理装置及び三次元画像処理方法 FI分類-G01N 21/88 J
2014年03月28日 特許庁 / 特許	光学式座標測定装置 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 11/00 H
2014年03月28日 特許庁 / 特許	光学式座標測定装置 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 11/00 H
2014年03月07日 特許庁 / 特許	接触式変位計 FI分類-G01D 5/347 110 L
2014年03月07日 特許庁 / 特許	接触式変位計 FI分類-G01B 5/00 B, FI分類-G01D 5/347 C
2014年03月05日 特許庁 / 特許	形状検査装置及び形状検査方法 FI分類-G06T 7/00 C, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G06T 1/00 300, FI分類-G06T 1/00 315
2014年02月28日 特許庁 / 特許	検査装置、制御方法およびプログラム FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01N 21/88 Z
2014年02月28日 特許庁 / 特許	検査システム、検査装置、制御方法およびプログラム FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 21/20 C, FI分類-G01N 21/88 J
2014年02月28日 特許庁 / 特許	画像測定器 FI分類-G01B 9/04, FI分類-G01B 11/02 H
2014年02月27日 特許庁 / 特許	画像測定器 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G06T 1/00 300
2014年02月27日 特許庁 / 特許	画像測定器 FI分類-G01B 9/04, FI分類-G01B 11/02 H
2014年02月27日 特許庁 / 特許	画像測定器 FI分類-G01B 11/02 H
2014年02月27日 特許庁 / 特許	画像測定器 FI分類-G06T 7/13, FI分類-G01B 11/02 H
2014年01月31日 特許庁 / 特許	画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/25 H
2014年01月31日 特許庁 / 特許	画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/24 K
2014年01月31日 特許庁 / 特許	画像検査装置 FI分類-G01B 11/24 K
2014年01月24日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置及び長期休止のための準備方法 FI分類-B41J 3/04 102 H, FI分類-B41J 3/04 102 N, FI分類-B41J 3/04 103 E, FI分類-B41J 3/04 104 A
2014年01月24日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置及びそのヘッド洗浄方法 FI分類-B41J 3/04 102 H, FI分類-B41J 3/04 102 N, FI分類-B41J 3/04 103 E, FI分類-B41J 3/04 104 A
2014年01月16日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置、インクジェット記録装置のカートリッジ及びボトル FI分類-B41J 3/04 102 Z
2014年01月16日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置のカートリッジの一部を構成する記録媒体ユニット FI分類-B41J 3/04 102 Z
2014年01月16日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置 FI分類-B41J 3/04 102 R, FI分類-B41J 3/04 102 Z, FI分類-B41J 3/04 104 A
2014年01月16日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置用のインク又は溶剤のカートリッジ FI分類-B41J 2/175 143, FI分類-B41J 2/175 151, FI分類-B41J 2/175 161, FI分類-B41J 2/175 169, FI分類-B41J 2/175 175
2014年01月16日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置用のインク又は溶剤のカートリッジ FI分類-B41J 2/175 119, FI分類-B41J 2/175 143, FI分類-B41J 2/175 153, FI分類-B41J 2/175 161, FI分類-B41J 2/175 167, FI分類-B41J 2/175 169, FI分類-B41J 2/175 175
2014年01月16日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置用のインク又は溶剤のカートリッジ FI分類-B41J 2/175 119, FI分類-B41J 2/175 143, FI分類-B41J 2/175 153, FI分類-B41J 2/175 161, FI分類-B41J 2/175 167, FI分類-B41J 2/175 169, FI分類-B41J 2/175 175
2014年01月16日 特許庁 / 特許	インクジェット記録装置用のインク又は溶剤のカートリッジ FI分類-B41J 2/175 119, FI分類-B41J 2/175 143, FI分類-B41J 2/175 153, FI分類-B41J 2/175 161, FI分類-B41J 2/175 169, FI分類-B41J 2/175 175

株式会社キーエンスの商標情報(15件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2023年06月22日 特許庁 / 商標	Makerz 06類, 07類, 08類, 09類, 11類, 17類, 35類, 37類, 42類
2023年06月22日 特許庁 / 商標	メイカーズ 06類, 07類, 08類, 09類, 11類, 17類, 35類, 37類, 42類
2020年05月13日 特許庁 / 商標	フィルムファイバ 09類
2019年03月12日 特許庁 / 商標	KI 09類, 42類
2018年10月02日 特許庁 / 商標	KEYENCE FOUNDATION 16類, 36類, 41類, 42類
2018年08月24日 特許庁 / 商標	Opt-SEM 09類
2018年05月11日 特許庁 / 商標	APISTE 07類
2018年05月11日 特許庁 / 商標	§Apiste 07類
2017年11月24日 特許庁 / 商標	OLINAS 07類, 09類, 37類, 42類
2017年11月24日 特許庁 / 商標	オリナス 07類, 09類, 35類, 37類, 42類
2017年07月06日 特許庁 / 商標	OLINAS.NET 09類, 35類
2016年11月30日 特許庁 / 商標	§KEYENCE 03類, 04類, 05類, 10類, 12類, 13類, 14類, 15類, 16類, 17類, 18類, 19類, 20類, 21類, 22類, 23類, 24類, 25類, 26類, 27類, 29類, 30類, 31類, 32類, 33類, 34類, 36類, 38類, 39類, 40類, 41類, 43類, 44類, 45類
2016年11月30日 特許庁 / 商標	§KEYENCE 28類
2015年03月11日 特許庁 / 商標	PatternTrax 09類
2014年07月08日 特許庁 / 商標	LumiTrax 09類

株式会社キーエンスの意匠情報(10件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2023年02月28日 特許庁 / 意匠	流量計 意匠新分類-J13200
2023年02月28日 特許庁 / 意匠	流量計 意匠新分類-J13200
2020年09月24日 特許庁 / 意匠	光電センサ用センサヘッド 意匠新分類-H15540
2020年09月24日 特許庁 / 意匠	光電センサ用センサヘッド 意匠新分類-H15540
2020年03月31日 特許庁 / 意匠	光電スイッチ 意匠新分類-H15540
2020年03月31日 特許庁 / 意匠	光電スイッチの中継アンプ 意匠新分類-H15590
2019年04月25日 特許庁 / 意匠	携帯用スキャナ 意匠新分類-H7133
2019年04月25日 特許庁 / 意匠	携帯用スキャナ 意匠新分類-H7133
2017年12月08日 特許庁 / 意匠	光電センサ 意匠新分類-H15540
2017年12月08日 特許庁 / 意匠	光電センサ 意匠新分類-H15540

株式会社キーエンスの職場情報

項目	データ
事業概要	電子応用機器の開発・製造・販売
企業規模	2,700人
女性労働者の割合 範囲 正社員	12.7%

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