株式会社サキコーポレーションとは

株式会社サキコーポレーション(サキコーポレーション)は、法人番号:6010701021841で東京都江東区枝川3丁目1番4号に所在する法人として東京法務局品川出張所で法人登録され、2015年10月05日に法人番号が指定されました。登録情報として、特許情報が12件商標情報が4件が登録されています。なお、2018年05月31日に法人番号公表サイトでは登録情報が変更されています。法人番号公表サイトでの最終更新日は2018年06月04日です。
インボイス番号:T6010701021841については、2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されています。
この地域の労働局は東京労働局。亀戸労働基準監督署が所轄の労働基準監督署です。
 

名称の「株式会社」について(β版)

株式会社は、法人格を持つ組織形態の一つであり、株主が出資することによって設立されます。株式会社は、株主の出資額に応じた株式を発行し、経営を行います。株主は株式を所有することで、会社の経営に参加する権利を持ちます。また、株式会社は独立した法的存在であり、株主の責任は出資額に限定されます。株式会社は、経営の安定性や資金調達の容易さなどの利点を持ち、多くの企業がこの形態を選択しています。

株式会社サキコーポレーションの基本情報

項目 内容
商号又は名称 株式会社サキコーポレーション
商号又は名称(読み仮名)フリガナ サキコーポレーション
法人番号 6010701021841
会社法人等番号 0107-01-021841
登記所 東京法務局品川出張所
※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号
※2024年08月31日更新
インボイス番号
T6010701021841
※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。
(2024年08月31日現在)
法人種別 株式会社
郵便番号 〒135-0051
※地方自治体コードは 13108
国内所在地(都道府県)都道府県 東京都
※東京都の法人数は 1,322,388件
国内所在地(市区町村)市区町村 江東区
※江東区の法人数は 35,045件
国内所在地(丁目番地等)丁目番地 枝川3丁目1番4号
国内所在地(1行表示)1行表示 東京都江東区枝川3丁目1番4号
国内所在地(読み仮名)読み仮名 トウキョウトコウトウクエダガワ3チョウメ
更新年月日更新日 2018年06月04日
変更年月日変更日 2018年05月31日
法人番号指定年月日指定日 2015年10月05日
※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局 東京労働局
〒102-8305~〒102-8307 東京都千代田区九段南1丁目2番1号 九段第3合同庁舎12階~14階
管轄の労働基準監督署労働基準監督署 亀戸労働基準監督署
〒136-8513 東京都江東区亀戸2-19-1 カメリアプラザ8階

株式会社サキコーポレーションの場所

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株式会社サキコーポレーションの登録履歴

日付 内容
2018年05月31日
【住所変更】
国内所在地が「東京都江東区枝川3丁目1番4号」に変更されました。
2015年10月05日
【新規登録】
名称が「株式会社サキコーポレーション」で、「東京都品川区中延4丁目14番7号」に新規登録されました。

株式会社サキコーポレーションと同じ名称の法人

件数 リンク
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株式会社サキコーポレーションの法人活動情報

株式会社サキコーポレーションの特許情報(12件)

日付
公表組織 / 種類
活動対象 / 分類等
2021年03月03日
特許庁 / 特許
基板検査方法
FI分類-G01N 21/956 B
2020年04月22日
特許庁 / 特許
検査装置
FI分類-G01N 23/046
2020年02月27日
特許庁 / 特許
検査装置
FI分類-G01N 21/956 B
2019年06月28日
特許庁 / 特許
形状測定装置、形状測定装置の形状測定方法および形状測定装置の形状測定プログラム
FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/25 H
2018年01月16日
特許庁 / 特許
検査装置の高さ情報の取得方法及び検査装置
FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/02 H
2018年01月16日
特許庁 / 特許
検査装置の調整方法及び検査装置
FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/26 H
2017年11月13日
特許庁 / 特許
検査装置の投射ユニットにおける液晶表示素子の位置決定方法
FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G01N 21/956 B
2017年11月10日
特許庁 / 特許
検査装置の高さ情報の取得方法及び検査装置
FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G06T 7/60 180 B
2017年09月28日
特許庁 / 特許
検査位置の特定方法及び検査装置
FI分類-G01N 23/04 320
2017年04月10日
特許庁 / 特許
検査方法及び検査装置
FI分類-G06T 7/586, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G01N 21/956 B, FI分類-G06T 1/00 305 B, FI分類-G06T 7/00 610 C
2016年07月28日
特許庁 / 特許
回路基板の検査方法及び検査装置
FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G01N 21/956 B
2016年01月06日
特許庁 / 特許
画像生成方法及び検査装置
FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G01B 11/26 H, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G01N 21/956 B, FI分類-G06T 1/00 300

株式会社サキコーポレーションの商標情報(4件)

日付
公表組織 / 種類
活動対象 / 分類等
2022年03月16日
特許庁 / 商標
QD Suite
09類
2022年03月16日
特許庁 / 商標
§Q
09類
2022年03月16日
特許庁 / 商標
QD Analyzer
09類
2018年05月08日
特許庁 / 商標
SaKI
09類

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