日置電機株式会社

日置電機株式会社とは

名称の「株式会社」について(β版)

日置電機株式会社の基本情報

項目	内容
商号又は名称	日置電機株式会社
商号又は名称（読み仮名）フリガナ	ヒオキデンキ
法人番号	6100001010247
会社法人等番号	1000-01-010247
登記所	長野地方法務局 ※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号 ※2024年08月31日更新 インボイス番号	T6100001010247 ※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。 (2024年08月31日現在)
法人種別	株式会社
郵便番号	〒386-1106 ※地方自治体コードは 20203
国内所在地（都道府県）都道府県	長野県 ※長野県の法人数は 79,951件
国内所在地（市区町村）市区町村	上田市 ※上田市の法人数は 5,584件
国内所在地（丁目番地等）丁目番地	小泉81番地
国内所在地（1行表示）1行表示	長野県上田市小泉81番地
国内所在地（読み仮名）読み仮名	ナガノケンウエダシコイズミ
代表者	代表取締役社長 岡澤 尊宏
資本金	32億9,946万3,000円 (2024年03月01日現在)
従業員数	762人 (2024年09月16日現在)
電話番号TEL	0268-28-0555
FAX番号FAX	0268-28-0559
ホームページHP	http://www.hioki.co.jp/
更新年月日更新日	2019年03月13日
変更年月日変更日	2015年10月05日
法人番号指定年月日指定日	2015年10月05日 ※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局	長野労働局 〒380-8572 長野県長野市中御所1丁目22-1
管轄の労働基準監督署労働基準監督署	上田労働基準監督署 〒386-0025 長野県上田市天神2-4-70上田労働総合庁舎

日置電機株式会社の場所

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日置電機株式会社の補足情報

項目	内容
企業名 読み仮名	ヒオキデンキカブシキガイシャ
企業名 英語	HIOKI E.E.CORPORATION
上場・非上場	上場
資本金	32億9,900万円
業種	電気機器
証券コード	68660

日置電機株式会社の登録履歴

日付	内容
2015年10月05日	【新規登録】 名称が「日置電機株式会社」で、「長野県上田市小泉81番地」に新規登録されました。

日置電機株式会社の関連情報

項目	内容
情報名	日置電機株式会社 本社
情報名 読み	ヒオキデンキホンシャ
住所	長野県上田市小泉81
電話番号	0268-28-0555

日置電機株式会社の法人活動情報

日置電機株式会社の表彰情報(5件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「プラチナくるみん」特例認定 2020
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2018
2024年09月16日 厚生労働省	えるぼし-認定
2017年12月04日 厚生労働省	女性の活躍推進企業
2017年12月04日 厚生労働省	両立支援のひろば 一般事業主行動計画公表

日置電機株式会社の届出情報(1件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2017年01月12日 経済産業省	計量法届出製造事業者 - 照度計

日置電機株式会社の特許情報(347件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2022年02月08日 特許庁 / 特許	検査装置、検査方法、学習済みモデル生成装置、検査用プログラム、および学習済みモデル生成用プログラム。 FI分類-G01R 27/26 Q, FI分類-G01R 35/00 J
2022年02月08日 特許庁 / 特許	データ処理制御装置、検査装置、データ処理制御方法、およびデータ処理制御用プログラム。 FI分類-G01R 27/02 R, FI分類-G01R 35/00 J
2021年06月17日 特許庁 / 特許	状態推定装置 FI分類-G01R 31/00
2020年11月26日 特許庁 / 特許	測定システム及び測定器 FI分類-G08C 15/00 G, FI分類-G08C 19/00 H
2020年10月13日 特許庁 / 特許	センサ FI分類-G01R 15/16
2020年09月14日 特許庁 / 特許	測定装置及び結線設定表示方法 FI分類-G01R 21/06 Z
2020年07月16日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 1/06 E
2020年07月16日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 1/06 E
2020年07月16日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 1/06 E
2020年06月16日 特許庁 / 特許	配線割り振り装置および配線割り振り方法 FI分類-G01R 31/50, FI分類-G01R 31/52, FI分類-G01R 31/54, FI分類-H05K 3/00 T
2020年05月14日 特許庁 / 特許	検査データ作成装置および検査データ作成方法 FI分類-G01R 31/52, FI分類-G01R 31/54, FI分類-H05K 3/00 T
2020年04月03日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 15/12 Z
2020年03月24日 特許庁 / 特許	フレキシブルセンサ及び測定装置 FI分類-G01R 15/18 A
2020年02月07日 特許庁 / 特許	電流供給回路および抵抗測定装置 FI分類-G01R 27/08, FI分類-G01R 27/02 R
2020年01月31日 特許庁 / 特許	クランプセンサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/22 A, FI分類-G01R 15/18 A, FI分類-G01R 15/18 B
2020年01月28日 特許庁 / 特許	測定装置及び蓄電デバイスの測定方法 FI分類-H02J 7/00 Q, FI分類-H01M 10/48 P, FI分類-G01R 19/165 M
2020年01月23日 特許庁 / 特許	均一性出力装置、均一性出力方法及びプログラム FI分類-G01N 27/02 Z
2020年01月23日 特許庁 / 特許	均一度測定装置、均一度測定方法及びプログラム FI分類-G01N 27/02 Z
2020年01月23日 特許庁 / 特許	均一度評価装置、均一度評価方法及びプログラム FI分類-G01N 27/02 Z
2020年01月22日 特許庁 / 特許	センサ FI分類-G01R 15/04, FI分類-G01R 15/16, FI分類-G01R 19/00 B
2020年01月17日 特許庁 / 特許	蓄電デバイスの測定装置及び測定方法 FI分類-G01R 31/367, FI分類-H02J 7/00 Q, FI分類-G01R 19/00 B, FI分類-H01M 10/44 Q, FI分類-H01M 10/48 P
2019年12月26日 特許庁 / 特許	部分放電検出装置および部分放電検出方法 FI分類-G01R 31/06, FI分類-G01R 31/12 A, FI分類-G01R 31/34 D
2019年12月24日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定方法 FI分類-G01N 27/02 Z, FI分類-G01R 27/22 Z
2019年11月14日 特許庁 / 特許	ゼロアジャスト補正方法及びインピーダンス測定方法 FI分類-G01R 27/02 A, FI分類-G01R 35/00 J
2019年10月30日 特許庁 / 特許	データ処理装置、データ管理システムおよびデータ処理用プログラム FI分類-G06F 16/185, FI分類-H04Q 9/00 311 H
2019年09月10日 特許庁 / 特許	信号生成装置および信号読取システム FI分類-G01R 31/02
2019年09月05日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 1/06 E, FI分類-G01R 31/28 K
2019年09月05日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 1/06 E, FI分類-G01R 31/28 K
2019年08月09日 特許庁 / 特許	センサ FI分類-G01R 15/16, FI分類-F16B 7/18 A
2019年08月09日 特許庁 / 特許	センサ FI分類-G01R 15/16, FI分類-F16B 7/18 A
2019年08月07日 特許庁 / 特許	コンデンサおよび抵抗部材の実装構造、入力ユニット並びに測定装置 FI分類-G01R 19/00 A, FI分類-G01R 19/00 D
2019年08月05日 特許庁 / 特許	電気的特性測定装置 FI分類-G01R 1/04 A, FI分類-G01R 1/06 A, FI分類-G01R 1/06 E
2019年07月30日 特許庁 / 特許	蓄電デバイスの検査装置及び検査方法 FI分類-H02J 7/00 Q, FI分類-G01R 31/3835, FI分類-H01M 10/44 Q, FI分類-H01M 10/48 P
2019年07月30日 特許庁 / 特許	蓄電デバイスの測定装置及び測定方法 FI分類-G01R 31/382, FI分類-G01R 31/389, FI分類-G01R 31/396, FI分類-H02J 7/00 Y, FI分類-H01M 10/44 P, FI分類-H01M 10/48 P
2019年07月19日 特許庁 / 特許	信号生成装置 FI分類-H04L 25/02 V, FI分類-H04L 25/02 303 Z
2019年07月19日 特許庁 / 特許	信号生成装置および信号読取システム FI分類-H04L 25/02 301 Z, FI分類-H04L 25/02 303 Z
2019年07月19日 特許庁 / 特許	波形整形回路、信号生成装置および信号読取システム FI分類-H04L 25/06, FI分類-H04L 25/02 303 Z
2019年07月19日 特許庁 / 特許	信号生成装置および信号読取システム FI分類-G01R 31/02, FI分類-H04L 25/02 301 Z, FI分類-H04L 25/02 303 Z
2019年07月08日 特許庁 / 特許	信号読取システムおよび信号読取方法 FI分類-H04L 25/02 V, FI分類-H04L 25/02 303 Z
2019年06月24日 特許庁 / 特許	電流センサ FI分類-G01R 15/18 C, FI分類-G01R 15/20 C
2019年06月03日 特許庁 / 特許	センサ FI分類-G01R 15/16
2019年05月29日 特許庁 / 特許	信号生成装置および信号読取システム FI分類-H03K 5/08 R, FI分類-H04L 25/02 V, FI分類-H04L 25/03 Z, FI分類-H03K 19/0175 280, FI分類-H04L 25/02 303 Z
2019年05月16日 特許庁 / 特許	測定用プローブ及び測定装置 FI分類-G01R 1/067 N
2019年05月10日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定システム及びインピーダンス測定方法 FI分類-G01R 31/389, FI分類-G01R 27/02 A
2019年04月26日 特許庁 / 特許	プローブ装置 FI分類-G01R 1/06 D
2019年03月29日 特許庁 / 特許	データ送信システム FI分類-H04W 4/38, FI分類-H04W 4/44, FI分類-G08G 1/09 H, FI分類-B60R 16/023 P, FI分類-H04W 84/00 110
2019年03月12日 特許庁 / 特許	電流センサ及び測定装置 FI分類-G01R 15/18 B
2019年03月06日 特許庁 / 特許	測定システム FI分類-G01D 9/00 A, FI分類-G08C 15/00 E, FI分類-G08C 15/06 G
2019年02月25日 特許庁 / 特許	データ処理装置および測定システム FI分類-G06F 11/30 158, FI分類-G06F 11/30 175, FI分類-G06F 11/30 140 A
2019年02月22日 特許庁 / 特許	電力演算装置および電力演算方法 FI分類-G01R 21/00 P
2019年02月12日 特許庁 / 特許	信号読取装置 FI分類-H04L 12/40 M, FI分類-H04L 25/02 V
2018年12月26日 特許庁 / 特許	接触抵抗測定装置 FI分類-G01R 27/02 R, FI分類-G01R 31/26 J
2018年12月20日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 27/28 Z, FI分類-G01R 35/00 J
2018年12月18日 特許庁 / 特許	回路基板検査装置 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T
2018年11月28日 特許庁 / 特許	積分型の電流電圧変換回路、電流測定装置および抵抗測定装置 FI分類-G01R 19/00 B, FI分類-G01R 27/02 R
2018年11月09日 特許庁 / 特許	フレキシブルセンサ及び測定装置 FI分類-G01R 15/18 A
2018年11月06日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定装置 FI分類-G01R 27/02 A, FI分類-G01R 27/02 R
2018年11月06日 特許庁 / 特許	測定データ処理装置、測定システムおよび測定データ処理用プログラム FI分類-G01D 7/00 E, FI分類-G06F 3/0484, FI分類-G01D 7/00 301 M
2018年11月06日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定装置 FI分類-G01R 27/02 A, FI分類-G01R 27/02 R
2018年10月24日 特許庁 / 特許	インパルス試験装置 FI分類-G01R 31/12 A, FI分類-G01R 31/12 Z
2018年10月16日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定装置における負帰還回路の調整方法 FI分類-G01R 27/02 A
2018年10月16日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定装置における負帰還回路の調整方法 FI分類-G01R 27/02 A
2018年10月16日 特許庁 / 特許	処理装置および処理方法 FI分類-G01R 27/02 A
2018年10月16日 特許庁 / 特許	電圧測定装置 FI分類-G01R 19/00 B, FI分類-G01R 31/36 A
2018年10月12日 特許庁 / 特許	測定システムおよびデータ処理用プログラム FI分類-G01R 31/02
2018年09月28日 特許庁 / 特許	波形記録装置 FI分類-G01R 13/20 N, FI分類-G01R 13/20 R
2018年09月26日 特許庁 / 特許	処理装置および処理方法 FI分類-G01N 27/04 Z
2018年09月25日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01R 27/02 R
2018年09月19日 特許庁 / 特許	支援装置、検査システムおよび支援処理用プログラム FI分類-G01R 31/00, FI分類-G01R 31/02, FI分類-G01R 31/08, FI分類-H02J 13/00 301 D
2018年09月19日 特許庁 / 特許	電流測定装置および電流測定方法 FI分類-G01R 31/02, FI分類-G01R 19/165 P
2018年09月14日 特許庁 / 特許	車載用測距装置の試験装置 FI分類-G01S 7/497, FI分類-G01C 3/00 120, FI分類-G01C 3/06 120 Q
2018年08月20日 特許庁 / 特許	光測定装置 FI分類-G01J 3/51, FI分類-G01J 1/04 B, FI分類-G01J 1/44 A
2018年08月09日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 31/02, FI分類-G01R 1/22 D, FI分類-G01R 19/00 A
2018年08月09日 特許庁 / 特許	クランプメータ FI分類-G01R 1/22 A, FI分類-G01R 15/12 B, FI分類-G01R 19/00 A, FI分類-G01R 19/00 L, FI分類-G01R 19/165 C
2018年07月26日 特許庁 / 特許	信号生成装置および信号読取システム FI分類-H04L 25/02 V, FI分類-H04L 25/02 303 Z
2018年07月26日 特許庁 / 特許	信号生成装置および信号読取システム FI分類-H03F 3/34 A, FI分類-H04L 25/02 303 Z
2018年07月26日 特許庁 / 特許	抵抗発生装置 FI分類-G05F 1/10 R
2018年07月18日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定方法 FI分類-G01R 27/02 A
2018年07月17日 特許庁 / 特許	貫通型電流センサ FI分類-G01R 15/18 B
2018年06月28日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-H02J 50/10, FI分類-H02J 50/90, FI分類-G01R 21/00 P
2018年06月27日 特許庁 / 特許	測定器の保護ケース FI分類-G01R 1/04 B
2018年06月26日 特許庁 / 特許	測定器の保護ケース FI分類-G01R 1/04 B, FI分類-G01R 15/12 A
2018年06月26日 特許庁 / 特許	データ処理装置、測定システムおよびデータ処理用プログラム FI分類-G08C 15/00 E, FI分類-H04M 11/00 301
2018年06月18日 特許庁 / 特許	信号発生装置及びその制御方法 FI分類-G01R 19/00 B, FI分類-G01N 27/26 371, FI分類-G01N 27/48 301, FI分類-G01N 27/416 341 B
2018年06月07日 特許庁 / 特許	測定装置および測定システム FI分類-G01R 13/02, FI分類-G01R 13/20 M, FI分類-G01R 13/20 R
2018年05月24日 特許庁 / 特許	データ処理装置、測定システムおよびデータ処理用プログラム FI分類-G01R 13/02, FI分類-G01R 31/00, FI分類-G01R 31/06, FI分類-G01R 31/12 A
2018年05月09日 特許庁 / 特許	電流センサ及び測定装置 FI分類-G01R 15/18 A
2018年04月10日 特許庁 / 特許	波形データ生成装置、電力演算システム、波形データ生成方法および電力演算方法 FI分類-G01R 13/02, FI分類-G01R 21/06 Z, FI分類-B60R 16/023 P, FI分類-G01R 21/133 Z
2018年04月10日 特許庁 / 特許	波形データ生成装置、電力演算システム、波形データ生成方法および電力演算方法 FI分類-G01R 13/02, FI分類-G01R 15/24 D, FI分類-G01R 21/06 Z, FI分類-B60R 16/023 P, FI分類-G01R 21/133 Z
2018年04月04日 特許庁 / 特許	表示装置及び表示用プログラム FI分類-G01R 13/20 P, FI分類-G01R 13/20 U, FI分類-G09G 5/00 510 D, FI分類-G09G 5/00 510 H, FI分類-G09G 5/00 530 T, FI分類-G09G 5/36 520 F, FI分類-G09G 5/36 520 G
2018年04月03日 特許庁 / 特許	分散度判定装置および分散度判定方法 FI分類-H01M 4/62 Z, FI分類-G01N 27/00 Z, FI分類-G01N 27/04 Z
2018年03月20日 特許庁 / 特許	表示装置およびプログラム FI分類-G01R 13/20 P, FI分類-G01R 13/20 U
2018年03月06日 特許庁 / 特許	CANフレーム中継装置、測定システム、記録システムおよびCANフレーム中継方法 FI分類-H04L 12/46 D, FI分類-H04L 12/46 Z, FI分類-B60R 16/023 P
2018年02月28日 特許庁 / 特許	測定システム FI分類-G08C 15/00 E, FI分類-G08C 17/00 Z
2018年02月27日 特許庁 / 特許	波形表示装置および波形表示方法 FI分類-G01D 7/00 S, FI分類-G01R 13/30 D, FI分類-G01D 7/00 303 B
2018年02月19日 特許庁 / 特許	クランプセンサおよび測定装置 FI分類-G01R 19/15, FI分類-G01R 1/22 A, FI分類-G01R 15/12 A
2018年02月09日 特許庁 / 特許	プローブピン、プローブユニットおよび検査装置 FI分類-G01R 1/06 D, FI分類-G01R 31/28 K
2018年01月25日 特許庁 / 特許	バス側コネクタ、装置側コネクタおよび読取システム FI分類-G06F 3/00 C, FI分類-G06F 3/00 V, FI分類-B60R 16/02 621 J, FI分類-B60R 16/02 621 Z
2018年01月24日 特許庁 / 特許	吸着プローブおよび測定装置 FI分類-H01R 11/30, FI分類-G01R 1/067 P
2018年01月15日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 15/12 A
2017年12月27日 特許庁 / 特許	クランプセンサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/22 A, FI分類-G01R 15/18 A
2017年12月25日 特許庁 / 特許	センサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/07, FI分類-G01R 15/16, FI分類-G01R 15/06 A, FI分類-G01R 19/00 A
2017年12月25日 特許庁 / 特許	吸着プローブおよび測定装置 FI分類-H01R 11/30, FI分類-G01R 1/06 Z, FI分類-H01R 13/639 A
2017年12月18日 特許庁 / 特許	回路基板および測定装置 FI分類-H05K 1/02 P, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 27/02 R
2017年12月12日 特許庁 / 特許	センサ FI分類-G01R 15/06 A, FI分類-H01H 36/00 D
2017年12月11日 特許庁 / 特許	絶縁抵抗計およびその測定方法 FI分類-G01R 27/02 R
2017年12月06日 特許庁 / 特許	処理装置および処理方法 FI分類-G01R 27/02 R
2017年12月04日 特許庁 / 特許	測定条件設定方法および光測定装置 FI分類-G01J 1/42 K, FI分類-H04N 17/04 C
2017年12月04日 特許庁 / 特許	ロギング装置およびロギング方法、ならびにプログラム FI分類-G01D 9/00 A
2017年11月29日 特許庁 / 特許	試験装置 FI分類-G01R 31/06
2017年11月28日 特許庁 / 特許	データ処理装置、測定システムおよびデータ処理用プログラム FI分類-G01R 31/06, FI分類-G01R 31/12 A
2017年11月28日 特許庁 / 特許	データ処理装置、測定システムおよびデータ処理用プログラム FI分類-G01R 31/06, FI分類-G01R 31/12 A
2017年11月16日 特許庁 / 特許	処理装置、検査装置および処理方法 FI分類-G01R 27/26 Q, FI分類-G01R 35/00 J
2017年11月09日 特許庁 / 特許	検査装置および検査方法 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T
2017年11月09日 特許庁 / 特許	処理装置、検査装置および処理方法 FI分類-G01R 27/26 Q, FI分類-G01R 35/00 J
2017年11月09日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定システムおよびインピーダンス測定方法 FI分類-G01R 27/02 A, FI分類-G01R 27/02 R
2017年10月23日 特許庁 / 特許	波形表示制御装置および波形記録システム FI分類-G01R 13/20 S, FI分類-G01R 13/20 T
2017年10月16日 特許庁 / 特許	データ記録装置および測定システム FI分類-G01D 9/00 A
2017年10月13日 特許庁 / 特許	解析装置および解析方法 FI分類-G01R 23/16 B, FI分類-G01R 23/16 D, FI分類-G01R 23/20 C
2017年10月13日 特許庁 / 特許	データ生成装置、基板検査装置およびデータ生成方法 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T
2017年09月28日 特許庁 / 特許	遠隔操作システム、測定システムおよび遠隔操作システム用プログラム FI分類-G08C 15/06 F, FI分類-H04M 11/00 301, FI分類-H04Q 9/00 311 J, FI分類-H04Q 9/00 321 D
2017年09月20日 特許庁 / 特許	回路基板検査装置 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 31/28 K
2017年09月07日 特許庁 / 特許	光測定装置、検査装置および光測定方法 FI分類-H01S 5/042
2017年08月24日 特許庁 / 特許	電流検出センサおよび電流測定装置 FI分類-G01R 15/20 Z
2017年08月24日 特許庁 / 特許	表示処理装置、表示装置、測定装置および表示プログラム FI分類-G01D 9/00 F, FI分類-G01R 19/175, FI分類-G09G 5/14 Z, FI分類-G01D 7/00 302 B, FI分類-G09G 5/00 510 D, FI分類-G09G 5/00 530 M, FI分類-G09G 5/00 530 T, FI分類-G09G 5/36 520 M
2017年08月22日 特許庁 / 特許	波形表示装置および波形表示用プログラム FI分類-G09G 5/08 A, FI分類-G09G 5/38 A, FI分類-G01R 13/20 S, FI分類-G01R 13/20 U, FI分類-G09G 5/00 510 D, FI分類-G09G 5/00 510 H, FI分類-G09G 5/00 530 T, FI分類-G09G 5/36 520 E
2017年08月10日 特許庁 / 特許	基板検査装置 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 31/28 K
2017年08月10日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定装置 FI分類-G01R 27/02 A, FI分類-G01R 31/36 A
2017年08月07日 特許庁 / 特許	検査装置および閾値算出方法 FI分類-G01R 31/06, FI分類-G01R 19/00 C
2017年08月07日 特許庁 / 特許	検査用データ生成装置、検査システムおよび検査用データ生成処理用プログラム FI分類-G01R 31/00, FI分類-G01R 31/06
2017年08月07日 特許庁 / 特許	検査用データ生成装置、検査システムおよび検査用データ生成処理用プログラム FI分類-G01R 31/00, FI分類-G01R 31/06
2017年08月07日 特許庁 / 特許	処理装置、基板検査装置、処理方法および基板検査方法 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 31/28 K
2017年08月04日 特許庁 / 特許	波形表示装置および波形表示用プログラム FI分類-G01R 13/20 S
2017年08月04日 特許庁 / 特許	波形表示装置および波形表示用プログラム FI分類-G01R 13/20 S
2017年07月11日 特許庁 / 特許	処理装置、基板検査装置、処理方法および基板検査方法 FI分類-G01R 31/28 K
2017年07月07日 特許庁 / 特許	照度表示制御装置および照度表示制御方法、ならびにプログラム FI分類-G01J 1/42 J, FI分類-G09G 5/00 510 H, FI分類-G09G 5/00 530 D, FI分類-G09G 5/00 530 T, FI分類-G09G 5/00 550 C, FI分類-G09G 5/00 555 D
2017年06月30日 特許庁 / 特許	基板検査装置および基板検査方法 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T
2017年06月30日 特許庁 / 特許	処理装置、基板検査装置、処理方法および基板検査方法 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 31/28 K
2017年06月30日 特許庁 / 特許	電流検出装置および測定装置 FI分類-G01R 15/18 C
2017年06月21日 特許庁 / 特許	巻線用ボビンおよび巻線部品 FI分類-H01F 5/02 J, FI分類-H01F 17/06 K, FI分類-H01F 27/32 B
2017年06月15日 特許庁 / 特許	高調波解析装置 FI分類-G01R 23/10 A, FI分類-G01R 23/10 B, FI分類-G01R 23/16 B, FI分類-G01R 23/20 C, FI分類-G01R 31/34 A
2017年06月07日 特許庁 / 特許	シールド体およびセンサ FI分類-H05K 9/00 C, FI分類-G01R 15/18 B
2017年05月24日 特許庁 / 特許	測定システムおよび測定システム用プログラム FI分類-G01R 22/06 130 A, FI分類-H02J 13/00 301 A
2017年05月24日 特許庁 / 特許	測定システムおよび測定システム用プログラム FI分類-G01R 22/06 130 A, FI分類-H02J 13/00 301 A
2017年05月19日 特許庁 / 特許	判別用情報生成装置、調整用情報生成装置、調整作業補助装置および調整装置 FI分類-G01J 3/50, FI分類-H04N 9/31 A
2017年05月17日 特許庁 / 特許	スキャナ装置および測定装置 FI分類-H05K 1/02 J, FI分類-H05K 3/46 Z, FI分類-G01R 27/02 A
2017年05月17日 特許庁 / 特許	トランス損失測定装置およびトランス損失測定方法 FI分類-G01R 31/00
2017年05月16日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 31/02, FI分類-G01R 31/28 K
2017年05月08日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G01R 31/00, FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-H01H 47/00 C, FI分類-H01H 47/00 E
2017年04月17日 特許庁 / 特許	測定データ処理装置および測定システム FI分類-G01D 18/00, FI分類-G08C 15/00 E, FI分類-H04M 11/00 301, FI分類-H04Q 9/00 311 J
2017年04月11日 特許庁 / 特許	電流センサおよび測定装置 FI分類-G01R 15/18 B, FI分類-G01R 19/00 B
2017年03月15日 特許庁 / 特許	太陽電池検査装置 FI分類-H02S 50/10, FI分類-G01R 31/26 F
2017年03月14日 特許庁 / 特許	太陽電池検査装置および太陽電池検査方法 FI分類-H02S 50/00
2017年02月27日 特許庁 / 特許	増幅回路 FI分類-H03F 1/34, FI分類-H03F 3/34 A
2017年02月20日 特許庁 / 特許	クランプセンサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/22 B
2017年02月16日 特許庁 / 特許	太陽電池検査装置および太陽電池検査方法 FI分類-H02S 50/10
2017年02月07日 特許庁 / 特許	検査用データ作成装置および検査用データ作成方法 FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-G01R 31/28 Q, FI分類-G06F 11/22 605 J, FI分類-G06F 11/22 673 M
2017年02月03日 特許庁 / 特許	接触状態改善装置 FI分類-G01R 27/02 R
2017年01月12日 特許庁 / 特許	検出プローブ FI分類-G01R 1/07
2017年01月06日 特許庁 / 特許	測定装置用の接続切替装置 FI分類-G01R 27/02 R
2016年11月30日 特許庁 / 特許	携帯型端末装置および処理プログラム FI分類-G01D 9/42, FI分類-G01D 9/00 A, FI分類-H04M 1/00 U
2016年11月25日 特許庁 / 特許	波形記録装置 FI分類-G01R 13/20 R
2016年11月21日 特許庁 / 特許	太陽電池特性測定装置および太陽電池特性測定方法 FI分類-H02S 50/10, FI分類-G01R 31/26 F
2016年11月17日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01N 27/02 Z, FI分類-G01R 27/02 A
2016年11月16日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 1/30, FI分類-G01R 19/00 V
2016年11月08日 特許庁 / 特許	電解メッキ液分析装置、電解メッキ液分析方法および電解メッキ液分析用プログラム FI分類-C25D 21/12 C, FI分類-G01N 27/48 311, FI分類-G01N 27/26 371 D, FI分類-G01N 27/416 341 B
2016年10月26日 特許庁 / 特許	基板検査装置 FI分類-G01R 31/28 K
2016年10月24日 特許庁 / 特許	光量測定装置 FI分類-G01J 3/51, FI分類-G01J 1/00 F, FI分類-G01J 1/04 B, FI分類-G01M 11/00 T
2016年10月18日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-H03M 1/18
2016年10月17日 特許庁 / 特許	処理装置および基板検査装置 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 31/28 R
2016年10月14日 特許庁 / 特許	処理装置および基板検査装置 FI分類-G01R 31/04, FI分類-G01R 31/28 H
2016年09月29日 特許庁 / 特許	検出センサおよび検査装置 FI分類-G01R 31/04, FI分類-G01R 31/28 L, FI分類-G01R 33/02 L
2016年09月28日 特許庁 / 特許	電流センサおよび電流検出装置 FI分類-G01R 15/18 A
2016年09月05日 特許庁 / 特許	処理装置、検査システムおよび処理プログラム FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 31/28 H
2016年08月29日 特許庁 / 特許	光パワーメータ FI分類-G01J 1/02 K
2016年08月26日 特許庁 / 特許	基板検査装置 FI分類-G01R 1/073 D
2016年08月23日 特許庁 / 特許	クランプセンサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/22 A
2016年08月19日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 15/12 Z
2016年08月10日 特許庁 / 特許	載置台および測定装置 FI分類-G01R 31/00, FI分類-H02J 50/10, FI分類-H02J 50/90
2016年08月10日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 31/00, FI分類-H02J 50/10, FI分類-H02J 50/70, FI分類-H02J 50/90
2016年08月09日 特許庁 / 特許	測定結果報知装置、測定システムおよび測定結果報知方法 FI分類-G01R 31/02
2016年08月04日 特許庁 / 特許	処理装置および測定装置 FI分類-G01D 1/14, FI分類-G01R 27/00
2016年07月15日 特許庁 / 特許	クランプ装置 FI分類-F16B 5/02 P
2016年07月12日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 15/09, FI分類-G01R 27/02 R
2016年07月01日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 15/12 Z, FI分類-G01R 19/00 H
2016年06月28日 特許庁 / 特許	センサおよび電流測定装置 FI分類-G01R 1/22 C, FI分類-G01R 15/20 C
2016年06月28日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-H02J 50/10, FI分類-G01R 21/00 P
2016年06月22日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定方法 FI分類-G01R 27/02 A
2016年06月22日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定方法 FI分類-G01R 27/02 A
2016年06月13日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01S 19/42, FI分類-H02S 50/00
2016年06月07日 特許庁 / 特許	太陽電池特性測定装置 FI分類-H02S 50/10, FI分類-G01R 31/26 F
2016年06月03日 特許庁 / 特許	太陽電池検査装置および太陽電池検査方法 FI分類-H02S 50/00, FI分類-G01R 31/26 F
2016年06月01日 特許庁 / 特許	テストプローブの電気測定用操作具 FI分類-G01R 1/06 E, FI分類-G01R 1/073 A, FI分類-G01R 15/12 A, FI分類-G01R 15/12 Z
2016年05月26日 特許庁 / 特許	調整用情報生成装置、調整作業補助装置および調整装置 FI分類-G01J 3/46 Z, FI分類-H04N 9/31 A, FI分類-H04N 9/73 B, FI分類-H04N 9/73 G, FI分類-H04N 17/04 C
2016年05月26日 特許庁 / 特許	コイル試験装置 FI分類-G01R 31/06, FI分類-H01F 41/00 E
2016年05月26日 特許庁 / 特許	調整用情報生成装置、調整作業補助装置および調整装置 FI分類-G01J 3/50, FI分類-H04N 9/73 B, FI分類-H04N 17/04 C, FI分類-H04N 9/31 820
2016年05月12日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定方法 FI分類-G01R 27/02 A
2016年05月10日 特許庁 / 特許	コイル試験装置 FI分類-G01R 31/00, FI分類-G01R 31/06, FI分類-G01R 31/12 Z
2016年05月09日 特許庁 / 特許	電圧検出プローブおよび測定装置 FI分類-G01R 15/16, FI分類-G01R 15/06 A, FI分類-G01R 19/00 A
2016年05月06日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01R 15/12 A
2016年04月13日 特許庁 / 特許	測定結果報知装置、測定システムおよび測定結果報知方法 FI分類-G01R 31/02
2016年04月08日 特許庁 / 特許	測定結果報知装置、測定システムおよび測定結果報知方法 FI分類-G01D 7/08, FI分類-G01R 31/02
2016年04月08日 特許庁 / 特許	処理装置、検査装置および処理方法 FI分類-G01R 31/02, FI分類-G01R 27/02 R
2016年04月01日 特許庁 / 特許	測定結果報知装置、測定システムおよび測定結果報知方法 FI分類-G01D 7/08, FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 V
2016年03月29日 特許庁 / 特許	電圧検出プローブおよび測定装置 FI分類-G01R 15/04, FI分類-G01R 15/16, FI分類-G01R 19/00 B
2016年03月29日 特許庁 / 特許	電圧検出プローブおよび測定装置 FI分類-G01R 15/06, FI分類-G01R 15/16, FI分類-G01R 19/00 B
2016年03月25日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定装置 FI分類-G01R 27/02 A
2016年03月22日 特許庁 / 特許	測定データ処理装置、測定システムおよび測定データ処理用プログラム FI分類-G01D 9/00 A, FI分類-G01D 9/00 U, FI分類-G06F 17/24 630
2016年03月22日 特許庁 / 特許	蓄電装置の測定装置 FI分類-G01R 1/073 A, FI分類-G01R 27/02 R, FI分類-H01M 10/44 Q, FI分類-H01M 10/48 P, FI分類-H01M 10/46 101
2016年03月11日 特許庁 / 特許	測定用治具および補正値測定方法 FI分類-G01B 5/02
2016年03月02日 特許庁 / 特許	装着部品、検出装置、および測定装置 FI分類-G01R 15/20 C
2016年03月02日 特許庁 / 特許	測定用治具 FI分類-G01R 31/00
2015年12月28日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-H02J 17/00 B
2015年12月28日 特許庁 / 特許	輻射熱計測装置 FI分類-G01J 1/04 D, FI分類-G01J 1/06 B, FI分類-G01J 5/10 C
2015年12月25日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 27/26 L, FI分類-H02J 17/00 B
2015年12月24日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-B60M 7/00 X, FI分類-B60L 11/18 C, FI分類-H02J 17/00 B
2015年12月14日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 27/02 A
2015年12月11日 特許庁 / 特許	データ生成装置およびデータ生成方法 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 31/28 K
2015年11月30日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01R 27/02 R
2015年11月26日 特許庁 / 特許	コネクタ FI分類-G01R 1/04 A, FI分類-G01R 15/12 A
2015年11月24日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01R 27/02 A
2015年11月24日 特許庁 / 特許	カレントセンサ FI分類-G01R 1/22 A, FI分類-G01R 15/18 B
2015年11月13日 特許庁 / 特許	検出プローブおよび測定装置 FI分類-G01R 15/06 A
2015年11月10日 特許庁 / 特許	処理装置、検査装置および位置ずれ量特定方法 FI分類-G01R 1/06 Z, FI分類-G01R 31/28 K
2015年11月04日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 19/25, FI分類-G01R 19/00 N, FI分類-G01R 35/00 E
2015年11月02日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01D 3/02 N, FI分類-G01D 3/02 R
2015年10月30日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01D 3/00 C, FI分類-G01D 3/02 R
2015年10月30日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定方法 FI分類-G01R 27/02 A, FI分類-H01M 10/48 P
2015年10月27日 特許庁 / 特許	測定用治具 FI分類-G01R 31/00, FI分類-G01R 27/02 R, FI分類-G01R 31/26 J
2015年10月26日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 21/133 E, FI分類-G01R 22/00 110 C, FI分類-G01R 22/00 110 K
2015年10月26日 特許庁 / 特許	電流センサおよび測定装置 FI分類-G01R 15/18 C, FI分類-G01R 19/00 A, FI分類-G01R 19/00 N
2015年10月05日 特許庁 / 特許	接触判定装置および測定装置 FI分類-G01R 31/02, FI分類-G01R 27/02 R
2015年10月05日 特許庁 / 特許	接触判定装置および測定装置 FI分類-G01R 27/02 R
2015年09月15日 特許庁 / 特許	インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定方法 FI分類-G01R 27/02 A
2015年09月11日 特許庁 / 特許	電流センサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/22 A, FI分類-G01R 15/18 Z
2015年09月08日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 15/09, FI分類-G01R 15/12 B
2015年09月04日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 15/12, FI分類-G01R 19/00 N
2015年09月02日 特許庁 / 特許	表示制御装置および表示制御方法 FI分類-G06F 3/0484, FI分類-G09G 5/14 A, FI分類-G01R 13/20 S, FI分類-G01R 23/16 D, FI分類-G01R 23/16 E, FI分類-G09G 5/00 510 D, FI分類-G09G 5/36 510 A, FI分類-G09G 5/36 520 B, FI分類-G09G 5/36 520 P
2015年09月02日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 15/12 B, FI分類-G01R 19/00 Q
2015年08月28日 特許庁 / 特許	混合度測定装置および混合度測定方法 FI分類-G01N 27/02 Z, FI分類-G01R 27/02 A
2015年08月28日 特許庁 / 特許	混合度測定装置および混合度測定方法 FI分類-G01N 27/02 Z
2015年08月25日 特許庁 / 特許	判定装置、基板検査装置および判定方法 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 31/28 K
2015年08月25日 特許庁 / 特許	判定装置、基板検査装置および判定方法 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 V, FI分類-G01R 31/28 K
2015年08月20日 特許庁 / 特許	処理装置、基板検査装置、処理方法および基板検査方法 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 P, FI分類-G01R 31/28 K
2015年08月20日 特許庁 / 特許	電解メッキ液分析装置および電解メッキ液分析方法 FI分類-G01N 27/48 311, FI分類-G01N 27/26 371 Z
2015年08月19日 特許庁 / 特許	電圧検出センサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/22 D, FI分類-G01R 15/06 Z, FI分類-G01R 19/00 A
2015年08月06日 特許庁 / 特許	電圧検出センサおよび測定装置 FI分類-G01R 19/00 A, FI分類-G01R 19/00 N
2015年07月23日 特許庁 / 特許	電気測定器 FI分類-G01R 27/02 A, FI分類-G01R 35/00 J
2015年07月21日 特許庁 / 特許	クランプセンサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/22 A, FI分類-G01R 15/20 C
2015年07月14日 特許庁 / 特許	加算平均ユニットおよび測定装置 FI分類-G01R 19/00 A
2015年07月13日 特許庁 / 特許	クランプセンサ FI分類-G01R 1/22 B
2015年06月30日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01J 3/50, FI分類-H04N 17/04 C
2015年06月22日 特許庁 / 特許	フレキシブルセンサ FI分類-G01R 15/18 A
2015年06月19日 特許庁 / 特許	クランプセンサおよび測定装置 FI分類-G01R 15/20 C
2015年06月18日 特許庁 / 特許	検出装置および測定装置 FI分類-H01F 40/06
2015年06月18日 特許庁 / 特許	検出装置および測定装置 FI分類-H01F 40/06
2015年06月17日 特許庁 / 特許	電流測定装置 FI分類-G01R 15/18 A, FI分類-G01R 19/00 A
2015年06月16日 特許庁 / 特許	フレキシブルセンサ FI分類-G01R 15/18 A
2015年06月15日 特許庁 / 特許	測定装置および補間処理プログラム FI分類-G01D 3/02, FI分類-G01R 27/02 A
2015年06月15日 特許庁 / 特許	抵抗測定装置 FI分類-G01R 15/09, FI分類-G01R 27/02 R
2015年05月29日 特許庁 / 特許	電圧検出プローブおよび測定装置 FI分類-G01R 15/06, FI分類-G01R 19/00 A
2015年05月25日 特許庁 / 特許	プローブユニット、プローブユニット製造方法および検査方法 FI分類-G01R 1/06 D, FI分類-H01L 21/66 B
2015年05月25日 特許庁 / 特許	プローブユニット、プローブユニット製造方法および検査方法 FI分類-G01R 1/06 D, FI分類-H01L 21/66 B
2015年05月14日 特許庁 / 特許	クランプ式センサおよび測定装置 FI分類-G01R 15/16, FI分類-G01R 1/22 A, FI分類-G01R 15/18 B
2015年05月13日 特許庁 / 特許	クランプ式センサ FI分類-G01R 15/06, FI分類-G01R 1/22 A, FI分類-G01R 15/18 A
2015年05月08日 特許庁 / 特許	太陽電池検査装置および太陽電池検査方法 FI分類-H02S 50/10
2015年04月20日 特許庁 / 特許	プローブユニットおよびプローブユニット製造方法 FI分類-G01R 1/06 D, FI分類-G01R 31/28 K
2015年04月20日 特許庁 / 特許	プローブユニットおよびプローブユニット製造方法 FI分類-G01R 1/06 D, FI分類-G01R 1/073 A, FI分類-H01L 21/66 B
2015年04月10日 特許庁 / 特許	クランプ式センサ FI分類-G01R 1/22 A, FI分類-G01R 15/06 A, FI分類-G01R 15/20 C
2015年04月07日 特許庁 / 特許	測定用治具 FI分類-G01R 1/06 A, FI分類-G01R 31/26 J
2015年03月31日 特許庁 / 特許	測定量判定装置 FI分類-G01R 27/02 A
2015年03月31日 特許庁 / 特許	クランプセンサ FI分類-G01R 1/22 B, FI分類-G01R 15/20 C
2015年03月19日 特許庁 / 特許	電流測定装置 FI分類-G01R 15/20 A, FI分類-G01R 19/00 N
2015年03月17日 特許庁 / 特許	4探針測定プローブのゼロアジャスト補正治具 FI分類-G01R 27/02 R, FI分類-G01R 35/00 J
2015年03月11日 特許庁 / 特許	製造装置及びプログラム FI分類-H05K 3/00 D, FI分類-H05K 13/04 Z, FI分類-G06F 17/50 614 Z, FI分類-G06F 17/50 652 K, FI分類-G06F 17/50 658 E, FI分類-G06F 17/50 658 J
2015年03月11日 特許庁 / 特許	測定装置および測定結果表示方法 FI分類-G01D 7/00 F, FI分類-G01R 13/22 J, FI分類-G01R 13/22 L
2015年03月10日 特許庁 / 特許	光量測定装置 FI分類-G01J 3/36
2015年03月09日 特許庁 / 特許	測定データ処理装置、測定システムおよび測定データ処理用プログラム FI分類-G01D 9/00 A, FI分類-G01D 9/00 U, FI分類-G01D 21/00 M, FI分類-G06F 3/048 651 A, FI分類-G06F 3/048 652 B, FI分類-G08C 19/00 301 B
2015年03月02日 特許庁 / 特許	端子ユニットおよび抵抗装置 FI分類-G01R 1/04 A, FI分類-H01R 13/10 A, FI分類-G01R 15/00 500
2015年03月02日 特許庁 / 特許	コアセンサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/22 A
2015年02月03日 特許庁 / 特許	クランプセンサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/22 C
2015年01月28日 特許庁 / 特許	ホール素子駆動回路およびセンサ回路 FI分類-G01R 33/06 H
2015年01月13日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01R 27/02 R, FI分類-H01M 10/48 P
2015年01月13日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01R 27/02 R, FI分類-G01R 31/36 A, FI分類-H01M 10/48 P
2015年01月06日 特許庁 / 特許	プローブユニットおよび検査装置 FI分類-G01R 1/06 D, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 1/073 A
2014年12月26日 特許庁 / 特許	測定データ処理装置および測定データ処理方法 FI分類-G10L 25/18, FI分類-G01H 3/00 A
2014年12月18日 特許庁 / 特許	測定システム FI分類-G01R 13/20 R, FI分類-G01R 13/20 T
2014年12月18日 特許庁 / 特許	測定装置および測定システム FI分類-G01R 1/22 D, FI分類-G01R 19/00 A, FI分類-G08C 17/00 Z
2014年12月18日 特許庁 / 特許	電流センサおよび測定装置 FI分類-G01R 15/18 C
2014年12月17日 特許庁 / 特許	電流センサおよび測定装置 FI分類-G01R 15/20 A
2014年12月17日 特許庁 / 特許	電圧入力抵抗部の周波数特性補正構造および部品搭載基板ならびに測定装置 FI分類-G01R 19/00 D, FI分類-G01R 35/00 E
2014年12月04日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 23/16 D
2014年12月04日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 23/165 B
2014年12月02日 特許庁 / 特許	電圧検出装置 FI分類-G01R 29/12 D, FI分類-G01R 29/12 G
2014年11月25日 特許庁 / 特許	絶縁抵抗測定装置 FI分類-G01R 27/18, FI分類-H02S 50/10
2014年11月21日 特許庁 / 特許	絶縁抵抗測定装置 FI分類-G01R 27/18
2014年11月19日 特許庁 / 特許	測定データ処理装置および測定データ処理方法 FI分類-G01H 17/00 Z, FI分類-G01R 23/16 D
2014年11月14日 特許庁 / 特許	回路基板および測定装置 FI分類-H05K 1/02 C, FI分類-H01L 23/12 F
2014年11月14日 特許庁 / 特許	物理量検出装置および物理量検出方法 FI分類-G01R 19/00 B, FI分類-G01R 29/12 D
2014年10月31日 特許庁 / 特許	プロービング装置、回路基板検査装置およびプロービング方法 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-G01R 31/28 K
2014年10月30日 特許庁 / 特許	回路素子測定装置 FI分類-G01R 27/00, FI分類-G01R 27/02 A
2014年10月28日 特許庁 / 特許	太陽光パネルの特性測定方法およびその装置 FI分類-H02S 50/10, FI分類-G05F 1/67 A, FI分類-G01R 31/26 F
2014年10月27日 特許庁 / 特許	位置決め用治具および測定用治具 FI分類-G01R 31/00, FI分類-H01G 13/00 331 D
2014年10月27日 特許庁 / 特許	測定用治具および測定用具 FI分類-G01R 27/00, FI分類-G01R 31/00, FI分類-G01R 35/00 J
2014年10月24日 特許庁 / 特許	回路素子測定装置における配線ケーブル長の判別方法 FI分類-G01R 27/02 A
2014年10月22日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法ならびにプログラム FI分類-G01R 27/02 A, FI分類-G01R 31/36 A, FI分類-H01M 10/04 Z
2014年10月20日 特許庁 / 特許	電気部品ユニット、部品搭載基板および電子機器 FI分類-H05K 9/00 G, FI分類-H05K 9/00 R
2014年10月20日 特許庁 / 特許	接触状態判別装置、二次電池の検査装置、および接触状態判別方法 FI分類-H01M 10/058, FI分類-H01M 10/04 Z
2014年10月17日 特許庁 / 特許	電圧検出方法 FI分類-G01R 19/00 B
2014年10月15日 特許庁 / 特許	波形表示装置 FI分類-G01D 7/00 R, FI分類-G01R 13/20 N, FI分類-G01R 13/20 Q, FI分類-G01R 13/20 S
2014年10月09日 特許庁 / 特許	データ生成装置、測定装置およびデータ生成方法 FI分類-G01R 13/20 R
2014年10月09日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法ならびにプログラム FI分類-G01R 27/02 A
2014年10月06日 特許庁 / 特許	実効値測定方法およびその装置 FI分類-G01R 19/02, FI分類-G01R 19/25, FI分類-G01R 19/175, FI分類-G01R 19/00 A
2014年10月02日 特許庁 / 特許	電気化学センサおよび電気化学測定装置 FI分類-G01N 27/28 341 A
2014年09月30日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 19/155, FI分類-G01R 15/12 A
2014年09月29日 特許庁 / 特許	データ生成装置、測定装置およびデータ生成方法 FI分類-G01R 13/20 L, FI分類-G01R 13/22 L, FI分類-G06F 3/048 656 A
2014年09月26日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法、ならびにプログラム FI分類-G01R 27/02 A
2014年09月17日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 15/08 A, FI分類-G01R 22/00 130 K
2014年09月05日 特許庁 / 特許	測定装置および信号種類判別方法 FI分類-G01R 19/02
2014年08月29日 特許庁 / 特許	波形記録装置 FI分類-G01D 9/00 E, FI分類-G01R 13/20 R, FI分類-G01R 13/20 T
2014年08月28日 特許庁 / 特許	積算電力値出力方法および測定装置 FI分類-G01R 22/00 110 J, FI分類-G01R 22/00 120 G
2014年08月20日 特許庁 / 特許	センサ部品、電流センサおよび電流測定装置 FI分類-G01R 15/02 B
2014年08月06日 特許庁 / 特許	測定システム FI分類-G01R 27/08, FI分類-G01D 7/00 A, FI分類-H04N 7/18 C
2014年07月14日 特許庁 / 特許	プローブユニットおよび測定装置 FI分類-G01R 1/06 D, FI分類-G01R 1/073 A
2014年07月14日 特許庁 / 特許	プローブユニットおよび測定装置 FI分類-G01R 1/073 A, FI分類-G01R 31/28 K
2014年07月14日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01D 7/00 D, FI分類-G01R 15/08 Z
2014年06月30日 特許庁 / 特許	クランプセンサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/22 A
2014年06月18日 特許庁 / 特許	測定用クリップおよび測定装置 FI分類-F16B 2/20 D, FI分類-G01R 1/073 A, FI分類-G01R 1/073 B
2014年06月18日 特許庁 / 特許	検査装置 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T
2014年06月18日 特許庁 / 特許	非接触型電圧検出装置 FI分類-G01R 19/00 A
2014年06月18日 特許庁 / 特許	非接触型電圧検出装置 FI分類-G01R 19/00 A
2014年06月13日 特許庁 / 特許	絶縁抵抗測定装置 FI分類-G01R 27/02 R
2014年06月09日 特許庁 / 特許	絶縁抵抗測定装置 FI分類-G01R 27/02 R
2014年05月22日 特許庁 / 特許	電流センサおよび測定装置 FI分類-G01R 15/02 A
2014年05月13日 特許庁 / 特許	表示制御装置、基板検査装置および表示方法 FI分類-G01R 31/28 Q
2014年04月30日 特許庁 / 特許	電圧生成回路 FI分類-H01L 41/04, FI分類-H01L 41/107, FI分類-H02M 3/24 H
2014年04月17日 特許庁 / 特許	電流センサおよび測定装置 FI分類-G01R 15/02 B, FI分類-G01R 19/00 C
2014年03月27日 特許庁 / 特許	クランプセンサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/22 B, FI分類-G01R 15/02 B
2014年03月27日 特許庁 / 特許	クランプセンサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/22 A, FI分類-G01R 15/02 E
2014年03月05日 特許庁 / 特許	抵抗測定装置および基板検査装置 FI分類-G01R 31/02, FI分類-G01R 27/02 R
2014年02月28日 特許庁 / 特許	交流インピーダンス測定装置および交流インピーダンス測定方法 FI分類-G01R 27/02 A, FI分類-G01R 31/36 A
2014年02月07日 特許庁 / 特許	基板挟持機構、基板固定装置および基板検査装置 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-H05K 13/08 D
2014年01月31日 特許庁 / 特許	零磁束制御型電流センサおよび零磁束制御型電流センサに対する零調整方法 FI分類-G01R 19/00 B, FI分類-G01R 19/00 N
2014年01月28日 特許庁 / 特許	検出センサおよび測定装置 FI分類-G01R 1/22 A
2014年01月22日 特許庁 / 特許	光量測定用センサおよび光量測定装置 FI分類-G01J 1/02 S, FI分類-G01J 1/04 A
2014年01月22日 特許庁 / 特許	光量測定用センサおよび光量測定装置 FI分類-G01J 1/04 A, FI分類-G01J 1/04 B, FI分類-G01J 1/06 A
2014年01月17日 特許庁 / 特許	基板固定装置および基板検査装置 FI分類-G01R 31/02, FI分類-H05K 3/00 T, FI分類-H05K 3/00 V

日置電機株式会社の商標情報(21件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2021年09月22日 特許庁 / 商標	§G 09類, 37類, 42類
2021年08月03日 特許庁 / 商標	ALDAS 09類, 42類
2021年06月01日 特許庁 / 商標	Sequence Maker 09類, 42類
2020年07月02日 特許庁 / 商標	HIOKI 07類, 09類, 37類
2020年04月07日 特許庁 / 商標	非接触CANセンサ 09類
2019年10月16日 特許庁 / 商標	GENNECT 09類, 37類, 42類
2019年10月15日 特許庁 / 商標	HIOKI 09類, 37類, 42類
2019年10月15日 特許庁 / 商標	HIOKI 09類, 37類, 42類
2017年09月07日 特許庁 / 商標	HiTESTER 09類, 16類
2017年09月07日 特許庁 / 商標	ハイテスタ 09類, 16類
2017年07月21日 特許庁 / 商標	D-site 09類, 16類, 35類
2017年06月30日 特許庁 / 商標	バーチャルオーバサンプリング 09類, 16類
2017年06月27日 特許庁 / 商標	COGNITIVE.それは、人間になじむデザイン。 09類, 16類
2017年04月14日 特許庁 / 商標	分離重心波長 09類
2017年01月26日 特許庁 / 商標	ソリッドシールド 09類
2016年09月28日 特許庁 / 商標	§X 09類, 16類, 38類, 42類
2016年05月25日 特許庁 / 商標	PQ ONE 09類, 16類
2015年10月07日 特許庁 / 商標	メモリハイコーダ 09類
2015年10月07日 特許庁 / 商標	MEMORY HiCORDER 09類
2015年04月02日 特許庁 / 商標	AUTO-ZERO 09類, 16類
2015年03月12日 特許庁 / 商標	Gennect 09類, 16類, 35類, 42類

日置電機株式会社の意匠情報(42件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2023年06月09日 特許庁 / 意匠	リレーボックス 意匠新分類-H1610
2022年07月27日 特許庁 / 意匠	クランプセンサ 意匠新分類-J193
2021年05月20日 特許庁 / 意匠	デジタルマルチメータ 意匠新分類-J1400
2021年04月30日 特許庁 / 意匠	電気測定器 意匠新分類-J1400
2021年03月05日 特許庁 / 意匠	クランプセンサ 意匠新分類-J193
2020年06月22日 特許庁 / 意匠	クランプメーター 意匠新分類-J1400
2019年07月12日 特許庁 / 意匠	クランプメーター 意匠新分類-J1400
2019年05月20日 特許庁 / 意匠	電気測定器 意匠新分類-J1400
2019年05月20日 特許庁 / 意匠	電気測定器用入力ユニット 意匠新分類-J14500
2018年09月07日 特許庁 / 意匠	電流センサ 意匠新分類-H2222
2018年06月12日 特許庁 / 意匠	クランプセンサ 意匠新分類-J193
2018年06月12日 特許庁 / 意匠	クランプセンサ 意匠新分類-J193
2017年12月21日 特許庁 / 意匠	クランプメーター 意匠新分類-J1400
2017年08月22日 特許庁 / 意匠	電流センサ 意匠新分類-H15500
2017年03月17日 特許庁 / 意匠	梱包箱 意匠新分類-F4711
2016年09月15日 特許庁 / 意匠	電気測定器 意匠新分類-J1400
2016年09月05日 特許庁 / 意匠	電圧検出用プローブ 意匠新分類-J193
2016年09月05日 特許庁 / 意匠	電圧検出用プローブ 意匠新分類-J193
2016年08月22日 特許庁 / 意匠	クランプセンサ 意匠新分類-J193
2015年11月27日 特許庁 / 意匠	包装用箱 意匠新分類-F472
2015年11月27日 特許庁 / 意匠	包装用箱 意匠新分類-F472
2015年11月27日 特許庁 / 意匠	包装用箱 意匠新分類-F472
2015年11月27日 特許庁 / 意匠	クランプメーター 意匠新分類-J1400
2015年10月29日 特許庁 / 意匠	計器用プローブ 意匠新分類-J193
2015年07月27日 特許庁 / 意匠	クランプセンサ 意匠新分類-J193
2015年07月27日 特許庁 / 意匠	クランプセンサ 意匠新分類-J193
2015年07月22日 特許庁 / 意匠	クランプセンサ 意匠新分類-J193
2015年07月17日 特許庁 / 意匠	クランプセンサ 意匠新分類-J193
2015年07月09日 特許庁 / 意匠	電気測定器 意匠新分類-J1400
2015年06月19日 特許庁 / 意匠	電気測定器 意匠新分類-J1400
2015年04月17日 特許庁 / 意匠	プローブ 意匠新分類-J193
2015年04月17日 特許庁 / 意匠	プローブ 意匠新分類-J193
2015年04月07日 特許庁 / 意匠	クランプメーター 意匠新分類-J1400
2015年04月07日 特許庁 / 意匠	クランプメーター 意匠新分類-J1400
2014年10月29日 特許庁 / 意匠	電気測定治具 意匠新分類-J1400
2014年10月22日 特許庁 / 意匠	電気計測機 意匠新分類-J1400
2014年10月06日 特許庁 / 意匠	電気計測機 意匠新分類-J1400
2014年09月08日 特許庁 / 意匠	データロガー 意匠新分類-J14500
2014年05月19日 特許庁 / 意匠	インピーダンス測定器 意匠新分類-J1400
2014年04月17日 特許庁 / 意匠	照度計 意匠新分類-J1340
2014年03月17日 特許庁 / 意匠	接地抵抗計 意匠新分類-J1400
2014年03月13日 特許庁 / 意匠	クランプセンサ 意匠新分類-J193

日置電機株式会社の職場情報

項目	データ
事業概要	電気計測器の開発、製造、販売・サービス
企業規模	762人 男性 540人 / 女性 212人
平均勤続年数 範囲 正社員	男性 21.7年 / 女性 17.5年
女性労働者の割合 範囲 正社員	33.3%
役員全体人数	15人 男性 14人 / 女性 1人

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