法人番号:6130001021068
株式会社島津製作所
情報更新日:2024年08月31日
株式会社島津製作所とは
株式会社島津製作所（シマヅセイサクショ）は、法人番号:6130001021068で京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地に所在する法人として京都地方法務局で法人登録され、2015年10月05日に法人番号が指定されました。代表者は、代表取締役山本靖則。設立日は1917年09月01日。資本金は266億4,800万円。従業員数は3,154人。登録情報として、調達情報が1512件、補助金情報が1件、表彰情報が8件、届出情報が9件、特許情報が2,535件、商標情報が219件、意匠情報が120件、職場情報が1件が登録されています。法人番号公表サイトでの最終更新日は2018年04月11日です。
インボイス番号:T6130001021068については、2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されています。
この地域の労働局は京都労働局。京都上労働基準監督署が所轄の労働基準監督署です。
名称の「株式会社」について(β版)
株式会社は、法人格を持つ組織形態の一つであり、株主が出資することによって設立されます。株式会社は、株主の出資額に応じた株式を発行し、経営を行います。株主は株式を所有することで、会社の経営に参加する権利を持ちます。また、株式会社は独立した法的存在であり、株主の責任は出資額に限定されます。株式会社は、経営の安定性や資金調達の容易さなどの利点を持ち、多くの企業がこの形態を選択しています。
株式会社島津製作所の基本情報
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 商号又は名称 | 株式会社島津製作所 |
| 商号又は名称（読み仮名）フリガナ | シマヅセイサクショ |
| 法人番号 | 6130001021068 |
| 会社法人等番号 | 1300-01-021068 |
| 登記所 | 京都地方法務局 ※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。 |
| インボイス登録番号 ※2024年08月31日更新 インボイス番号 |
T6130001021068 ※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。 (2024年08月31日現在) |
| 法人種別 | 株式会社 |
| 郵便番号 | 〒604-8442 ※地方自治体コードは 26104 |
| 国内所在地（都道府県）都道府県 | 京都府 ※京都府の法人数は 112,390件 |
| 国内所在地（市区町村）市区町村 | 京都市中京区 ※京都市中京区の法人数は 11,874件 |
| 国内所在地（丁目番地等）丁目番地 | 西ノ京桑原町1番地 |
| 国内所在地（1行表示）1行表示 | 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 |
| 国内所在地（読み仮名）読み仮名 | キョウトフキョウトシナカギョウクニシノキョウクワバラチョウ |
| 英語表記 | SHIMADZU CORPORATION |
| 国内所在地（英語表示）英語表示 | 1, Nishinokyo Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto |
| 代表者 | 代表取締役 山本 靖則 |
| 設立日 | 1917年09月01日 |
| 資本金 | 266億4,800万円 (2024年06月28日現在) |
| 従業員数 | 3,154人 (2024年09月16日現在) |
| 電話番号TEL | 075-823-0077 |
| ホームページHP | http://www.shimadzu.co.jp/ |
| 更新年月日更新日 | 2018年04月11日 |
| 変更年月日変更日 | 2015年10月05日 |
| 法人番号指定年月日指定日 | 2015年10月05日 ※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。 |
| 管轄の労働局労働局 | 京都労働局 〒604-0846 京都府京都市中京区両替町通御池上ル金吹町451 |
| 管轄の労働基準監督署労働基準監督署 | 京都上労働基準監督署 〒604-8467 京都府京都市中京区西ノ京大炊御門町19-19 |
株式会社島津製作所の場所
株式会社島津製作所の補足情報
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 企業名 読み仮名 | カブシキガイシャ シマヅセイサクショ |
| 企業名 英語 | Shimadzu Corporation |
| 上場・非上場 | 上場 |
| 資本金 | 266億4,800万円 |
| 業種 | 精密機器 |
| 証券コード | 77010 |
株式会社島津製作所の登録履歴
| 日付 | 内容 |
|---|---|
| 2015年10月05日 | 【新規登録】 名称が「株式会社島津製作所」で、「京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地」に新規登録されました。 |
株式会社島津製作所と同じ名称の法人
| 件数 | リンク |
|---|---|
| 2件 | ※「株式会社島津製作所」と同じ名称の法人を探す |
株式会社島津製作所の関連情報
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 情報名 | 株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION |
| 情報名 読み | カブシキガイシャシマヅセイサクショ シマズ コーポレーション |
| 住所 | 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 |
| 電話番号 | 075-823-1111 |
株式会社島津製作所の関連情報
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 情報名 | 株式会社島津製作所 本社お客様相談室 |
| 情報名 読み | シマヅセイサクショホンシャオキャクサマソウダンシツ |
| 住所 | 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1 |
| 電話番号 | 075-823-0077 |
株式会社島津製作所の法人活動情報
株式会社島津製作所の調達情報(1512件)
| 期間 公表組織 |
活動名称 / 活動対象 / 金額 |
|---|---|
2023年09月29日 | BASE,STRAP外7品目1式 20,031,000円 |
2023年09月28日 | EXCHANGER外2品目 120,846,990円 |
2023年09月28日 | SPACER外20品目 10,474,992円 |
2023年09月28日 | 航空機部品(機器修理用)NOZZLE ASSY ほか 113,766,950円 |
2023年09月27日 | 航空機部品(機器修理用)COVER ほか 100,970,650円 |
2023年09月27日 | 航空機部品(機器修理用)MOTOR 39,646,200円 |
2023年09月27日 | 航空機部品(エンジンO/H用)VALVE 14,645,400円 |
2023年09月27日 | 航空機部品(機器修理用)BODY ASSY ほか 307,165,650円 |
2023年09月26日 | GEAR BOX 3,274,700円 |
2023年09月21日 | TURBINE外1品目 57,735,700円 |
2023年09月21日 | WHEEL 22EA 17,787,000円 |
2023年09月21日 | EXTRACTOR 14EA 100,562,000円 |
2023年09月20日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 14EA 84,700,000円 |
2023年09月20日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 6EA 11,353,100円 |
2023年09月19日 | VALVE,PNEUMATIC等 オーバーホール作業 52,987,000円 |
2023年09月19日 | GEARBOX 172,953,000円 |
2023年09月19日 | VALVE,CROSS オーバーホール作業 35,862,750円 |
2023年09月15日 | ACTUATOR,MECHANICAL,AIRCRAFT オーバーホール作業 6,008,200円 |
2023年09月08日 | VALVE外1品目 17,686,900円 |
2023年09月06日 | RESTRICTOR外47品目 275,985,578円 |
2023年09月06日 | VALVE外1品目 36,067,900円 |
2023年08月31日 | NUT,PLAIN,HEXAGON外13品目1式 33,990,000円 |
2023年08月31日 | TURBINE外2品目 6,360,200円 |
2023年08月31日 | BODY 29EA 13,142,800円 |
2023年08月30日 | CONTROLLER,AIR PRESS オーバーホール作業 16,298,700円 |
2023年08月30日 | ACTUATOR,MECHANICAL,AIRCRAFT オーバーホール作業 3,154,800円 |
2023年08月29日 | 航空機部品(機器修理用)COMPRESSOR ASSY 361,757,000円 |
2023年08月29日 | PUMP AND GOVERNOR AS外2品目 14,746,600円 |
2023年08月28日 | CONDENSER 3,322,000円 |
2023年08月28日 | CONDENSER 1,364,880円 |
2023年08月25日 | REGULATOR外1品目 2,864,400円 |
2023年08月25日 | 第2補給処システム管理業務の会社技術利用(F-15用VALVE)1式 17,325,000円 |
2023年08月24日 | 航空機部品(機器修理用)CRT 12,963,500円 |
2023年08月24日 | NOZZLE 25EA 25,135,000円 |
2023年08月24日 | NOZZLE 5EA 5,621,000円 |
2023年08月23日 | HOUSING ASSY 20EA 212,938,000円 |
2023年08月23日 | HOUSING ASSY 5EA 53,718,500円 |
2023年08月14日 | MOTOR外9品目 63,559,100円 |
2023年08月14日 | PIN,STRAIGHT,HEAD外7品目 287,266,925円 |
2023年08月14日 | HOUSING ASSY外4品目 23,047,200円 |
2023年08月14日 | FILTER外6品目 47,181,948円 |
2023年08月14日 | NUT外11品目 73,386,060円 |
2023年08月10日 | 航空機部品(機器修理用)GEAR 21,436,800円 |
2023年08月10日 | 航空機部品(機器修理用)GEAR 10,841,600円 |
2023年08月09日 | REGULATOR,FLUID オーバーホール作業 19,852,800円 |
2023年08月08日 | MOUNT,RESILIENT外4品目1式 4,441,800円 |
2023年08月08日 | STARTER CONT VALVE オーバーホール作業 2,737,900円 |
2023年08月08日 | TRANSMITTER,PRESSURE オーバーホール作業 30,201,600円 |
2023年08月07日 | CONTROLLER外1品目 2,267,100円 |
2023年08月07日 | CYLINDER ASSY外6品目 40,436,000円 |
2023年08月04日 | VALVE ASSY外1品目 4,477,000円 |
2023年08月04日 | VALVE,MODULATING オーバーホール作業 2,306,700円 |
2023年08月04日 | VALVE,PNEUMATIC等 分解検査作業 25,025,000円 |
2023年08月04日 | ACTUATOR,ELECTRO MECHANICAL,LINEAR等 分解検査作業 68,319,350円 |
2023年08月03日 | レーザー保護バイザー 7,023,720円 |
2023年08月02日 | VALVE,EJECTOR SHUT オーバーホール作業 2,634,500円 |
2023年07月31日 | VALVE ASSY 4,261,620円 |
2023年07月26日 | オイル分光分析装置の定期点検整備 1,419,638円 |
2023年07月25日 | VALVE,MODULATING オーバーホール作業 40,480,000円 |
2023年07月25日 | LOUVER外1品目1式 22,616,000円 |
2023年07月25日 | VALVE,ANTI-ICE オーバーホール作業 26,554,000円 |
2023年07月25日 | ACTUATOR,ELECTRO MECHANICAL,LINEAR等 オーバーホール作業 40,274,300円 |
2023年07月20日 | COMPRESSOR,ROTARY 分解検査作業 2,310,000円 |
2023年07月20日 | STARTER ASSY オーバーホール作業 45,764,400円 |
2023年07月20日 | BALL SCREW ACTUATOR等 分解検査作業 7,933,200円 |
2023年07月19日 | ACTUATOR,ELECTRO MECHANICAL,LINEAR等 分解検査作業 19,351,200円 |
2023年07月14日 | RETAINER外10品目 3,916,000円 |
2023年07月12日 | グリーンイノベーション基金事業/バイオものづくり技術によるCO2を直接原料としたカーボンリサイクルの推進有用微生物の開発を加速する微生物等改変プラットフォーム技術の高度化、CO2を原料に物質生産できる微生物等の開発・改良、CO2を原料に物質生産できる微生物等による製造技術等の開発・実証CO2からの微生物による直接ポリマー生産技術開発 1,908,671,000円 |
2023年06月30日 | SEPARATOR 5,282,200円 |
2023年06月29日 | ACTUATOR,ELECTRO MECHANICAL,LINEAR オーバーホール作業 12,804,000円 |
2023年06月29日 | BRAKE,WING FLAP 分解検査作業 7,326,000円 |
2023年06月28日 | VALVE,MODULATING 分解検査作業 1,724,800円 |
2023年06月28日 | FLAP CONTROL UNIT オーバーホール作業 5,585,800円 |
2023年06月26日 | VALVE外4品目 14,912,700円 |
2023年06月26日 | ACTUATOR ASSY外3品目 2,171,400円 |
2023年06月21日 | DC MOTOR300EA 512,435,000円 |
2023年06月21日 | TUBE ASSY 8,397,840円 |
2023年06月19日 | DAMPENER 6,072,000円 |
2023年06月19日 | VALVE外1品目 11,209,000円 |
2023年06月19日 | VALVE 1,808,400円 |
2023年06月15日 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 118,580,000円 |
2023年06月02日 | ACTUATOR ASSY TRIM R 分解検査作業 2,554,200円 |
2023年05月26日 | DAMPENER外2品目 11,187,000円 |
2023年05月22日 | DAMPENER外1品目 2,105,400円 |
2023年05月10日 | DADC試験装置の修理 4,512,200円 |
2023年03月30日 | HEAT EXCHANGER 3,626,700円 |
2023年03月30日 | HEAT EXCHANGER外1品目 5,163,400円 |
2023年03月29日 | 目標位置指示装置テストベンチのシミュレータの換装 50,949,800円 |
2023年03月29日 | HOUSING 80EA 48,576,000円 |
2023年03月29日 | EXCHANGER 28EA 391,714,400円 |
2023年03月28日 | TUBE ASSY,METAL外13品目1式 10,231,100円 |
2023年03月27日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( )構成品修理 21,916,400円 |
2023年03月27日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( )構成品修理 9,235,600円 |
2023年03月27日 | WASHER外50品目 286,388,201円 |
2023年03月22日 | DC MOTOR100EA 165,880,000円 |
2023年03月17日 | ELBOW,PIPE外1品目1式 5,054,258円 |
2023年03月14日 | PIN外25品目 46,527,866円 |
2023年03月10日 | 航空機部品(エンジンO/H用)VALVE,SOLENOID 11,983,400円 |
2023年03月10日 | 航空機部品(部隊整備用)COALESCER 97,317,000円 |
2023年03月03日 | 航空機部品(官給用)CLEVIS ほか 6,505,510円 |
2023年03月01日 | TEST EQUIPMENT,AIR HARMONIZING オーバーホール1EA 69,916,000円 |
2023年03月01日 | VALVE,BUTTERFLY 組立作業 21,498,400円 |
2023年02月28日 | DAMPER ASSY,MAIN 分解検査作業 3,663,000円 |
2023年02月27日 | ディスプレー・テストセット J/USM-148( ) 修理 1SE 5,940,000円 |
2023年02月24日 | COMBINER GLASS ASSEMBLY 7EA 67,872,200円 |
2023年02月20日 | CADCベンチ・テスター J/USM-155( )構成品修理 1EA 3,921,500円 |
2023年02月17日 | 航空機部品(官給用)SCROLL ASSY ほか 32,562,200円 |
2023年02月17日 | CIRCUIT CARD ASSY 8EA 12,519,100円 |
2023年02月16日 | 航空機部品(部隊整備用)COALESCER 64,922,000円 |
2023年02月16日 | 航空機部品(官給用)COMPRESSOR ASSY 306,842,800円 |
2023年02月15日 | ガスクロマトフラフ 56,661,000円 |
2023年02月14日 | DAMPER ASSY,MAIN オーバーホール作業 5,296,500円 |
2023年02月14日 | VALVE 3,886,080円 |
2023年02月13日 | 航空機部品(官給用)GEAR 12,601,600円 |
2023年02月10日 | TURBINE,AIRCRAFT 分解検査作業 1,228,700円 |
2023年01月27日 | COMPRESSOR,ROTARY 組立作業 140,201,600円 |
2023年01月27日 | VALVE PRESSURE RGLTR オーバーホール作業 9,619,500円 |
2023年01月27日 | VALVE PRESSURE RGLTR 組立作業 3,694,900円 |
2023年01月27日 | VALVE ASSY外1品目 5,458,200円 |
2023年01月20日 | 水中光無線通信の多重化に関するデータ取得役務 70,426,400円 |
2023年01月17日 | ACTUATOR ASSY外3品目 7,172,000円 |
2023年01月16日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 5EA 20,394,000円 |
2022年12月28日 | COUPLING,V-BAND外24品目 52,879,739円 |
2022年12月28日 | COVER ASSY外5品目 591,693,300円 |
2022年12月28日 | GEAR外20品目 523,253,720円 |
2022年12月28日 | VALVE 9EA 16,592,400円 |
2022年12月28日 | MOTOR外5品目 237,898,100円 |
2022年12月28日 | UNION ASSY外4品目 19,709,250円 |
2022年12月28日 | COVER ASSY,VALVE外11品目 74,464,390円 |
2022年12月28日 | VALVE 6EA 30,619,600円 |
2022年12月28日 | COUPLING外2品目 16,568,640円 |
2022年12月27日 | BUTTERFLY ASSY 10EA 5,973,000円 |
2022年12月27日 | HOUSING外14品目 113,086,050円 |
2022年12月27日 | HOUSING外5品目 39,093,780円 |
2022年12月26日 | GEAR SHAFT 13EA 4,404,400円 |
2022年12月26日 | WHEEL外2品目 141,335,700円 |
2022年12月26日 | BEARING外6品目 350,936,300円 |
2022年12月22日 | DESICCANT CONTAINER外4品目 479,159,736円 |
2022年12月22日 | EDGE LIGHT PANEL ASSY外4品目 182,655,770円 |
2022年12月22日 | DADC試験装置の修理の変更 1,606,000円 |
2022年12月20日 | RETAINER外21品目 127,033,632円 |
2022年12月15日 | AIR CYCLE MACHINE外3品目 139,755,000円 |
2022年12月12日 | 航空機部品(官給用)SHAFT,COMPRESSOR ほか 92,220,700円 |
2022年12月08日 | COUPLING外3品目 215,647,300円 |
2022年12月01日 | 航空機部品(官給用)VALVE ほか 124,432,000円 |
2022年12月01日 | 航空機部品(定期修理用)PIN ほか 25,630,000円 |
2022年11月30日 | TEST SET,AIR DATA 22,247,500円 |
2022年11月30日 | TURBINE外1品目 50,600,000円 |
2022年11月29日 | DUCT ASSY 7EA 7,746,200円 |
2022年11月28日 | 航空機部品(官給用)SHAFT ほか 12,783,100円 |
2022年11月28日 | RETAINER外16品目 7,630,876円 |
2022年11月28日 | HOUSING ASSY外2品目 8,211,500円 |
2022年11月22日 | BEARING 32EA 6,828,800円 |
2022年11月21日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用)BEARING ほか 50,435,000円 |
2022年11月21日 | 航空機部品(官給用)RETAINER ほか 144,233,100円 |
2022年11月17日 | VALVE外3品目 9,935,200円 |
2022年11月17日 | GEARBOX 22,499,180円 |
2022年10月25日 | TURBINE,AIRCRAFT 組立作業 10,411,500円 |
2022年10月25日 | GEARBOX外5品目 164,395,000円 |
2022年10月25日 | VALVE,SHUT OFF 組立作業 1,776,500円 |
2022年10月20日 | TRANSMITTER,PRESSURE オーバーホール作業 20,642,600円 |
2022年10月20日 | REGULATOR,FLUID 組立作業 10,903,200円 |
2022年10月20日 | VALVE,PRESS 組立作業 3,133,900円 |
2022年10月11日 | ARM COMBINER ASSEMBLY外3品目 63EA 5,149,914円 |
2022年10月07日 | FCU等 オーバーホール作業 177,845,250円 |
2022年10月07日 | VALVE,SHUTOFF ENG オーバーホール作業 4,114,000円 |
2022年10月07日 | HOUSING ASSY外1品目 3,599,200円 |
2022年10月07日 | COMPRESSOR,ROTARY オーバーホール作業 206,006,900円 |
2022年10月04日 | NUT 980EA 3,848,460円 |
2022年09月30日 | SWITCH 10EA 6,897,000円 |
2022年09月30日 | HOUSING ASSY外7品目 25,381,400円 |
2022年09月30日 | NOZZLE 96EA 15,100,800円 |
2022年09月30日 | GASKET外2品目 15,507,943円 |
2022年09月30日 | NOZZLE外10品目 117,991,830円 |
2022年09月30日 | COUPLING外5品目 112,735,040円 |
2022年09月30日 | VALVE 16EA 6,413,440円 |
2022年09月30日 | RING外1品目 159,399,900円 |
2022年09月30日 | VALVE,TEMPERATURE 13EA 33,933,900円 |
2022年09月29日 | DAMPENER 23,765,280円 |
2022年09月29日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( )構成品修理 7EA 9,187,200円 |
2022年09月28日 | DAMPENER外3品目 24,612,500円 |
2022年09月28日 | HANDLE外32品目 214,681,049円 |
2022年09月27日 | SEAL ASSY 30EA 3,894,000円 |
2022年09月27日 | OUTER外4品目 2,750,000円 |
2022年09月27日 | CARRIER ASSY外5品目 31,084,482円 |
2022年09月27日 | MOTOR外4品目 46,075,106円 |
2022年09月27日 | SWITCH外9品目 27,929,330円 |
2022年09月26日 | EXCHANGER 20EA 261,668,000円 |
2022年09月26日 | GEAR SHAFT 91EA 39,339,300円 |
2022年09月26日 | EXCHANGER 34EA 444,760,800円 |
2022年09月26日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( )構成品修理 11EA 17,585,700円 |
2022年09月26日 | AIR CYCLE MACHINE外4品目 48,972,000円 |
2022年09月26日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 8EA 31,334,600円 |
2022年09月26日 | SEAL ASSY 29EA 3,764,200円 |
2022年09月26日 | DUCT ASSY,COMPRESSOR外4品目 13,233,000円 |
2022年09月26日 | CLUTCH 13EA 125,353,800円 |
2022年09月26日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 1EA 1,372,800円 |
2022年09月26日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 33EA 58,898,400円 |
2022年09月21日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( )構成品修理 6EA 12,615,900円 |
2022年09月20日 | GEAR外7品目 170,644,320円 |
2022年09月20日 | HARNESS ASSY外2品目 3,236,310円 |
2022年09月20日 | BODY 84EA 47,586,000円 |
2022年09月16日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 16EA 90,868,800円 |
2022年09月15日 | HVPS 13EA 173,559,100円 |
2022年09月14日 | CONTROL BOX外6品目 5,880,600円 |
2022年09月13日 | GASKET外5品目 12,234,816円 |
2022年09月13日 | VALVE 15EA 11,847,000円 |
2022年09月13日 | LIGHT 52EA 8,580,000円 |
2022年09月13日 | EXCHANGER 28EA 364,518,000円 |
2022年09月13日 | COUPLING外10品目 8,814,520円 |
2022年09月12日 | GEARBOX 12,577,400円 |
2022年09月12日 | COD全りん全窒素自動測定装置 14,850,000円 |
2022年09月09日 | オイル分光分析装置の定期点検整備 1,182,500円 |
2022年09月08日 | PLATE 745,800円 |
2022年09月08日 | BEARING 1,638,780円 |
2022年09月06日 | VALVE, SOLENOID, 3-WAYのオーバーホール 2,915,000円 |
2022年09月06日 | ACTUATOR ASSY,ELECTRO-MECHANICAL,LCT,FWDのオーバーホール 4,132,975円 |
2022年08月31日 | LEE PLUG外10品目 30,712,429円 |
2022年08月30日 | ACTUATOR ASSY,ELECTRO-MECHANICAL,LCT,FWDのオーバーホール 9,240,000円 |
2022年08月25日 | CONTROL外1品目 5,659,500円 |
2022年08月25日 | VALVE 2,372,700円 |
2022年08月24日 | LENS,OPTICAL INSTRUMENT外3品目 93EA 86,874,700円 |
2022年08月24日 | BEAM SPLITTER,OPTICAL外1品目 66EA 106,246,800円 |
2022年08月23日 | VALVE 282,810円 |
2022年08月02日 | レーザー保護バイザー 2,926,550円 |
2022年07月25日 | X線撮影装置(検診用) 4,213,000円 |
2022年07月15日 | GEAR外15品目 106,332,908円 |
2022年07月13日 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 136,620,000円 |
2022年07月07日 | PISTON外6品目 2,910,820円 |
2022年07月07日 | SLEEVE外2品目 9,646,450円 |
2022年07月05日 | SEAL ASSY外1品目 9,734,890円 |
2022年07月05日 | WASHER外9品目 9,346,656円 |
2022年07月05日 | NUT外1品目 29,128,440円 |
2022年07月05日 | CARRIER外2品目 9,285,650円 |
2022年07月05日 | BELLOWS ASSY外1品目 3,539,360円 |
2022年06月20日 | X線撮影装置(検診用) 12,628,000円 |
2022年05月18日 | 第2補給処システム管理業務の会社技術利用(F-15用AMAD部品 レイシャフト・ベベルギア)1 10,294,900円 |
2022年03月31日 | 航空機部品(官給用)PLANET ASSY,ACT ほか 159,839,900円 |
2022年03月31日 | 携帯用磁気探知機RSX-3 21,835,000円 |
2022年03月31日 | 磁探信号処理装置HSA-105() 18,539,400円 |
2022年03月31日 | 磁探信号処理装置用テストベンチ付加器 N-TS-681/HRM-145 17,292,000円 |
2022年03月30日 | SOLENOID ASSY外1品目 40,156,600円 |
2022年03月28日 | F-15航空機用維持部品(国産・その4) 425,905,920円 |
2022年03月28日 | F-15航空機用維持部品(国産・その2) 504,134,400円 |
2022年03月28日 | COVER 40EA 50,908,000円 |
2022年03月28日 | 航空機部品(官給用)SCROLL ASSY 154,748,000円 |
2022年03月28日 | EJECTOR LH外2品目 84,152,200円 |
2022年03月25日 | DUCT ASSY 19EA 21,025,400円 |
2022年03月25日 | EXCHANGER 6EA 78,157,200円 |
2022年03月23日 | EDGE LIGHT PANEL ASSY外1品目 91EA 31,860,400円 |
2022年03月17日 | SET SCREW 17,058,635円 |
2022年03月17日 | REFLECTOR外1品目 142EA 62,089,500円 |
2022年03月17日 | BOLT SPECIAL外2品目 86EA 5,182,254円 |
2022年03月17日 | ELEMENT 30EA 25,817,000円 |
2022年03月17日 | TEST SET,AIR DATA 2EA 43,535,800円 |
2022年03月11日 | HOUSING外7品目 21,262,890円 |
2022年03月10日 | COMPRESSOR等 組立作業 115,874,550円 |
2022年03月10日 | COVER外6品目 60,090,800円 |
2022年03月10日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( )構成品修理 7EA 4,335,100円 |
2022年03月10日 | EXTRACTOR 5EA 26,537,500円 |
2022年03月10日 | COALESCER外4品目 227,777,550円 |
2022年03月09日 | EVAPORATOR UNIT 分解検査作業 3,883,000円 |
2022年03月08日 | ディスプレー・テストセット J/USM-148( )構成品修理 1EA 7,938,700円 |
2022年03月07日 | 航空機部品(官給用)GEAR,INPUT SPUR ほか 22,987,800円 |
2022年03月04日 | NOZZLE外3品目 8,456,910円 |
2022年03月01日 | CONNECTOR,RECEPTACLE,ELECTRICA外2品目 24EA 4,616,480円 |
2022年03月01日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( )構成品修理 6EA 9,847,200円 |
2022年03月01日 | CRT ASSY外2品目 40EA 17,017,000円 |
2022年02月28日 | PISTON外11品目 8,214,976円 |
2022年02月28日 | GEAR SHAFT外1品目 16,522,000円 |
2022年02月25日 | TEST SET,ENVIRONMENTAL CONTROL 診断外3品目1式 32,857,000円 |
2022年02月22日 | TEST STAND,AIR CONDITIONER 改修1SE 266,929,300円 |
2022年02月21日 | APU 部分組立作業 22,770,000円 |
2022年02月17日 | DUCT ASSY外10品目 11,441,441円 |
2022年02月17日 | APU等 オーバーホール作業 233,330,240円 |
2022年02月17日 | POINTER外1品目 5,547,740円 |
2022年02月17日 | BODY外3品目 14,902,800円 |
2022年02月17日 | SENSOR,TEMPERATURE 28EA 20,728,400円 |
2022年02月17日 | ENGINE 6,296,400円 |
2022年02月17日 | RELIEF VALVE外9品目 9,763,820円 |
2022年02月10日 | VALVE,SHUTOFF ENG等 オーバーホール作業 9,058,720円 |
2022年02月09日 | HEAT EXCHANGER外2品目 1,827,100円 |
2022年02月08日 | VALVE 1,544,400円 |
2022年02月04日 | OIL PUMP等 オーバーホール作業 137,736,170円 |
2022年02月03日 | VALVE,MODULATING等 組立作業 35,418,240円 |
2022年01月26日 | DAMPENER外2品目 35,222,000円 |
2022年01月26日 | GEARBOX 5,830,000円 |
2022年01月25日 | 令和3年度遠心分離システムの購入 29,799,000円 |
2022年01月19日 | VALVE 1,721,500円 |
2022年01月19日 | 移動型デジタル式汎用一体型X線透視診断装置 6,930,000円 |
2022年01月19日 | TURBINE 1,940,400円 |
2022年01月14日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 11EA 18,587,800円 |
2022年01月12日 | 電子管A06A0788-12 89,840,300円 |
2022年01月11日 | BOOT PROTECTIVE外8品目1式 16,211,954円 |
2021年12月28日 | COUPLING外5品目 16,311,130円 |
2021年12月28日 | HOUSING ASSY外3品目 6,849,920円 |
2021年12月28日 | EXCHANGER外22品目 626,392,228円 |
2021年12月28日 | ACM外1品目 66,154,000円 |
2021年12月27日 | ACM 6EA 86,763,600円 |
2021年12月27日 | NUT外1品目 3,681,260円 |
2021年12月27日 | GEAR外1品目 18,476,810円 |
2021年12月27日 | BELLOWS ASSY外2品目 55,114,400円 |
2021年12月27日 | VALVE 6EA 24,532,200円 |
2021年12月27日 | SHAFT外4品目 38,919,430円 |
2021年12月27日 | RING外12品目 54,587,610円 |
2021年12月24日 | CONTROL外3品目 116,820,000円 |
2021年12月24日 | TURBINE外2品目 52,052,000円 |
2021年12月24日 | HOUSING外2品目 137,566,000円 |
2021年12月24日 | ディスプレー・テストセット J/USM-148( ) 構成品修理 2EA 15,870,800円 |
2021年12月24日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 7EA 12,993,200円 |
2021年12月24日 | GEARBOX外5品目 242,110,000円 |
2021年12月24日 | CRT ASSEMBLY外2品目 34EA 54,514,350円 |
2021年12月24日 | LENS,OPTICAL INSTRUMENT外1品目 39EA 11,123,200円 |
2021年12月24日 | CLUTCH 93EA 661,956,900円 |
2021年12月23日 | SENSOR,TEMPERATURE外3品目 8,902,817円 |
2021年12月23日 | BODY 59EA 7,333,700円 |
2021年12月22日 | VALVE外1品目 53,944,000円 |
2021年12月22日 | ADAPTER ASSY外4品目 20,285,991円 |
2021年12月22日 | SENSOR外1品目 1,148,400円 |
2021年12月22日 | GEARBOX外3品目 118,140,000円 |
2021年12月21日 | VALVE外2品目 4,151,400円 |
2021年12月21日 | VALVE外15品目 14,817,000円 |
2021年12月21日 | STARTER外1品目 47,960,000円 |
2021年12月21日 | DAMPERのオーバーホール 27,027,000円 |
2021年12月17日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 6EA 18,506,400円 |
2021年12月16日 | HEAT EXCHANGER外3品目 66,341,000円 |
2021年12月16日 | VALVE7EA 1,849,540円 |
2021年12月15日 | SHOCK 46EA 2,949,980円 |
2021年12月15日 | CARRIER,PAWL外8品目 8,226,790円 |
2021年12月15日 | LM2500型ガスタービン用スタータ試験装置修理 1,218,800円 |
2021年12月15日 | VALVE,ANTI-ICINGのオーバーホール 30,190,600円 |
2021年12月15日 | DUCT 10EA 5,907,000円 |
2021年12月10日 | GEARBOX外1品目 63,745,000円 |
2021年12月10日 | 航空機部品(官給用)HOUSING,TURBINE ほか 19,818,700円 |
2021年12月10日 | STARTER CONT VALVE等 オーバーホール作業 13,822,600円 |
2021年12月10日 | GEARBOX52EA 13,899,600円 |
2021年12月09日 | 航空機部品(官給用)CLEVIS ほか 13,431,000円 |
2021年12月08日 | HEAT EXCHANGER,AIR 検査修理作業 10,914,200円 |
2021年12月08日 | FAN ASSY,HEAT EXT その他の作業 4,257,000円 |
2021年12月08日 | COMPRESSOR,ROTARY オーバーホール作業 281,230,400円 |
2021年12月07日 | STARTER外3品目 27,769,500円 |
2021年12月07日 | VALVE 5EA 4,796,000円 |
2021年12月07日 | FAN ASSY,HEAT EXT等 組立作業 10,946,100円 |
2021年12月07日 | SHAFT 20EA 9,944,000円 |
2021年12月01日 | RELIEF VALVE外1品目 3,327,500円 |
2021年11月30日 | STARTER 1,900,800円 |
2021年11月26日 | BOLT SPECIAL外8品目 142EA 82,045,370円 |
2021年11月26日 | GENERATOR外6品目 16,890,500円 |
2021年11月25日 | VALVE外2品目 8,508,500円 |
2021年11月24日 | DAMPER ASSYのオーバーホール 53,988,000円 |
2021年11月18日 | VALVE外1品目 17,765,000円 |
2021年11月17日 | PIN 994,840円 |
2021年11月17日 | VALVE 6EA 2,970,000円 |
2021年11月17日 | BODY 5,483,610円 |
2021年11月17日 | HOUSING ASSY外1品目 7,906,800円 |
2021年11月17日 | VALVE ASSY,CHK 7,918,020円 |
2021年11月17日 | FAN 3,230,700円 |
2021年11月17日 | NOZZLE 29EA 4,178,900円 |
2021年11月17日 | STARTER 5,418,600円 |
2021年11月17日 | BODY ASSY外4品目 13,673,000円 |
2021年11月17日 | WHEEL ASSY 25EA 3,685,000円 |
2021年11月16日 | GEARBOX外1品目 55,187,000円 |
2021年11月16日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 改修 4EA 2,286,900円 |
2021年11月16日 | AIR CYCLE MACHINE外3品目 10,710,700円 |
2021年11月15日 | F-15航空機用維持部品(国産・その1) 946,145,200円 |
2021年11月11日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用)SEAL ほか 44,648,780円 |
2021年11月09日 | FAN ASSY,HEAT EXT 部分組立作業 1,056,000円 |
2021年11月09日 | FAN ASSY,HEAT EXT オーバーホール作業 5,705,040円 |
2021年11月08日 | 航空機部品(官給用)VALVE ASSY ほか 36,324,750円 |
2021年11月05日 | SEAT 607,871円 |
2021年11月04日 | PLATE ASSY外2品目 21,217,680円 |
2021年11月04日 | CRT ASSEMBLY 22EA 52,998,000円 |
2021年11月02日 | 航空機部品(官給用)SCROLL ASSY 139,819,680円 |
2021年10月28日 | CYLINDER 修理11EA 2,432,100円 |
2021年10月28日 | レーザー保護バイザー 7,023,720円 |
2021年10月27日 | 航空機部品(官給用)BALLSCREW AND NUT 11,143,000円 |
2021年10月26日 | REGULATOR,FLUID等 分解検査作業 3,783,450円 |
2021年10月26日 | CHAMBER 検査修理作業 1,232,000円 |
2021年10月25日 | CONTROLLER,AIR PRESS等 組立作業 53,930,800円 |
2021年10月25日 | AFMS CONT DSPL UNIT 分解検査作業 1,575,420円 |
2021年10月25日 | FRONT PANEL ASSEMBLY オーバーホール作業 1,689,600円 |
2021年10月22日 | AIR CYCLE MACHINE外2品目 17,231,500円 |
2021年10月22日 | VALVE外1品目 4,180,000円 |
2021年10月20日 | APU その他の作業 35,689,500円 |
2021年10月15日 | 鹿児島刑務所直接X線撮影装置システム等更新整備一式 3,718,000円 |
2021年10月15日 | AFMS CONT DSPL UNIT等 組立作業 4,473,700円 |
2021年10月15日 | CRT ASSY 20EA 8,316,000円 |
2021年10月15日 | COMBINER GLASS ASSEMBLY 14EA 127,050,000円 |
2021年10月14日 | DAMPER ASSY,MAIN 組立作業 11,193,600円 |
2021年10月12日 | VALVE外6品目 31,174,000円 |
2021年10月07日 | AIR CYCLE MACHINE1EA 2,805,000円 |
2021年10月07日 | NUT,PLAIN,HEXAGON外4品目1式 6,985,000円 |
2021年09月21日 | OIL PUMP等 オーバーホール作業1式 86,082,700円 |
2021年09月15日 | 航空機部品(官給用)GEAR,INPUT SPUR ほか2件 36,961,595円 |
2021年09月15日 | BALL SCREW ACTUATOR 組立作業1式 3,773,000円 |
2021年09月08日 | VALVE,SHUTOFF ENG オーバーホール作業1式 5,441,700円 |
2021年09月08日 | 航空機部品(官給用)SCROLL HOUSING ほか4件 62,705,500円 |
2021年09月03日 | COMPRESSOR,ROTARY 分解検査作業1式 8,642,865円 |
2021年09月03日 | APU 組立作業1式 84,678,000円 |
2021年09月03日 | 航空機部品(官給用)WASHER ほか4件 11,952,380円 |
2021年09月03日 | APU 分解検査作業1式 16,845,400円 |
2021年08月23日 | 水中光無線通信の太陽光等の外乱光の影響低減及び多重化に関するデータ取得役務 99,288,200円 |
2021年07月30日 | オイル分光分析装置の定期点検整備1 式 1,164,955円 |
2021年07月28日 | オイル分光分析装置1式 42,460,000円 |
2021年07月12日 | 航空機部品(官給用)IMPELLER ほか3件 15,213,000円 |
2021年07月12日 | 航空機部品(官給用)BODY68個 44,580,800円 |
2021年07月05日 | AIR TURBINE STARTER等 組立作業1式 12,593,900円 |
2021年07月02日 | COMPRESSOR,ROTARY オーバーホール作業1式 11,330,000円 |
2021年07月02日 | 解析用検査装置の修繕 2,475,000円 |
2021年06月28日 | STARTER CONT VALVE等 オーバーホール作業1式 12,735,800円 |
2021年06月28日 | 航空機部品(官給用)HOUSING,TURBINE ほか3件 13,932,600円 |
2021年06月07日 | BALL SCREW ACTUATOR等 オーバーホール作業1式 16,951,000円 |
2021年05月19日 | SENSOR UNIT-R/H 組立作業 3,820,410円 |
2021年03月31日 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 47,520,000円 |
2021年03月29日 | 航空機部品(官給用)SCROLL ASSY24個 83,476,800円 |
2021年03月24日 | 電子管A06A0788-12 16,649,600円 |
2021年03月12日 | 移動型デジタル式汎用一体型X線診断装置,FPD搭載型 22,000,000円 |
2021年03月12日 | HOUSING ASSY 28,321,700円 |
2021年03月09日 | RETAINER 7,095,165円 |
2021年03月05日 | 航空機部品(官給用)WHEEL,TURB ほか4件 6,776,000円 |
2021年03月04日 | 航空機部品(官給用)CRT4個 6,815,600円 |
2021年03月02日 | OIL PUMP オーバーホール作業1式 28,105,000円 |
2021年03月02日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用)HEAT EXCHANGER2件 17,692,400円 |
2021年02月26日 | 航空機部品(官給用)HOUSING ほか18件 23,012,000円 |
2021年02月25日 | 磁探信号処理装置の改修1 式 7,920,000円 |
2021年02月24日 | 航空機部品(官給用)VALVE ASSY ほか11件 34,642,520円 |
2021年02月19日 | 航空機部品(官給用)NOZZLE ASSY ほか4件 112,501,400円 |
2021年02月19日 | 航空機部品(官給用)BODY ASSY ほか3件 12,881,000円 |
2021年02月17日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用)VALVE2個 11,330,000円 |
2021年02月16日 | BUSHING 4,185,841円 |
2021年02月16日 | STARTER ASSY,ENGINE 54,407,100円 |
2021年02月08日 | 航空機部品(官給用)SLEEVE ほか5件 5,847,820円 |
2021年02月05日 | 航空機部品(官給用)COVER,DIAPHRAGM ほか29件 71,060,000円 |
2021年02月04日 | 航空機部品(部隊整備用)CCA,CPU AND PWR2件 3,322,000円 |
2021年01月28日 | VALVE,ANTI-ICING 7,150,000円 |
2021年01月26日 | レーザー保護バイザー84 個 24,583,020円 |
2021年01月18日 | 携帯用磁気探知機RSX-3 18,766,000円 |
2021年01月12日 | 移動型デジタル式汎用X線診断装置,FPD搭載型,札幌病院用 22,000,000円 |
2021年01月12日 | 移動型デジタル式汎用一体型X線診断装置,FPD搭載型 44,000,000円 |
2021年01月12日 | 据置型デジタル式汎用X線診断装置,トモシンセシス撮影機能付 50,600,000円 |
2021年01月12日 | 移動型デジタル式汎用一体型X線診断装置,FPD搭載型,DICOM画像検像システム付 19,250,000円 |
2020年12月08日 | DAMPER 22,968,000円 |
2020年11月19日 | リード・ラグ・ダンパー 14,493,600円 |
2020年11月19日 | ALCT ACTUATOR 66,527,945円 |
2020年10月30日 | HOUSING ASSY 4,722,300円 |
2020年10月30日 | DAMPER 11,484,000円 |
2020年10月29日 | 移動型デジタル式汎用一体型X線透視診断装置,DSA付 13,068,000円 |
2020年10月06日 | VALVE, SOLENOID, 3-WAY 8,306,100円 |
2020年10月05日 | 水中光無線通信試験機材の光ビーム幅広域化データ取得役務 98,890,000円 |
2020年10月01日 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 128,667,000円 |
2020年09月30日 | COUPLING外1品目 14,839,000円 |
2020年09月30日 | SEAL ASSY外1品目 14,110,360円 |
2020年09月30日 | AIR CONDITIONER 定期修理(診断)1EA 12,578,500円 |
2020年09月30日 | LIGHT外1品目 3,432,000円 |
2020年09月30日 | EDGE LIGHT PANEL ASSY外4品目 119EA 33,609,510円 |
2020年09月30日 | ALCT ACTUATOR 10,216,800円 |
2020年09月30日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 7EA 14,566,200円 |
2020年09月29日 | VALVE,FULID PRESS 組立作業 1,408,000円 |
2020年09月29日 | VALVE外2品目 1,750,100円 |
2020年09月29日 | RING外3品目 10,598,500円 |
2020年09月29日 | SEPARATOR外7品目 40,689,000円 |
2020年09月29日 | VALVE ASSY 2,970,000円 |
2020年09月29日 | GASKET外7品目 7,785,437円 |
2020年09月29日 | FCU等 オーバーホール作業 52,690,000円 |
2020年09月29日 | COMPRESSOR,ROTARY オーバーホール作業 265,408,000円 |
2020年09月29日 | 航空機部品(官給用)HOUSING ほか 3,674,000円 |
2020年09月29日 | DAMPER ASSY オーバーホール作業 5,368,000円 |
2020年09月29日 | VALVE PRESSURE RGLTR等 組立作業 6,655,000円 |
2020年09月29日 | アンテナ駆動装置 J/USM-32 構成品修理 1EA 8,530,500円 |
2020年09月28日 | PUMP ASSY外9品目 66,550,000円 |
2020年09月25日 | VALVE,BUTTERFLY等 オーバーホール作業 40,150,000円 |
2020年09月25日 | BOLT外21品目 4,817,032円 |
2020年09月25日 | FLCT ACTUATOR 27,588,000円 |
2020年09月25日 | BOOT 1000EA 2,794,000円 |
2020年09月25日 | HEAT EXCH ASSY 19,373,200円 |
2020年09月25日 | COVER ASSY外1品目 7,844,320円 |
2020年09月25日 | STARTER ASSY オーバーホール作業 36,465,000円 |
2020年09月25日 | CRT ASSEMBLY 4EA 10,718,400円 |
2020年09月24日 | SHAFT外3品目 9,514,340円 |
2020年09月24日 | BODY外4品目1式 3,031,600円 |
2020年09月24日 | アンテナ駆動装置 J/USM-32 構成品修理 1EA 7,447,000円 |
2020年09月24日 | ACTUATOR 3,480,400円 |
2020年09月17日 | X線テレビ装置 10,120,000円 |
2020年09月17日 | 移動型デジタル式汎用X線診断装置,FPD搭載型 33,550,000円 |
2020年09月14日 | VALVE 1,082,400円 |
2020年09月11日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( ) 構成品修理 3EA 4,400,000円 |
2020年09月11日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 32EA 156,783,000円 |
2020年09月09日 | SPOOL 14,512,960円 |
2020年09月08日 | ACM 3EA 43,197,000円 |
2020年09月07日 | VALVE外4品目 28,600,000円 |
2020年09月04日 | STARTER外1品目 9,673,400円 |
2020年09月01日 | K/C-130H APUの分解検査 2,453,000円 |
2020年08月31日 | VALVE外4品目 71,500,000円 |
2020年08月31日 | VALVE ASSY外1品目 12,089,000円 |
2020年08月31日 | DAMPENER外1品目 10,593,000円 |
2020年08月26日 | ANGLE GEAR BOX外2品目 4,870,800円 |
2020年08月25日 | CHAMBER,DECOMPRESSION ALTITUDE 定期修理1SE 21,488,500円 |
2020年08月24日 | ACTUATOR外2品目 12,650,000円 |
2020年08月24日 | VALVE 2,505,800円 |
2020年08月20日 | CONTROL BOX外15品目 72,358,000円 |
2020年08月18日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( ) 構成品修理 5EA 8,802,200円 |
2020年08月18日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 1EA 2,871,000円 |
2020年08月06日 | 航空機部品(官給用)HOUSING ほか 9,394,000円 |
2020年07月29日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 定期修理外1品目1式 68,992,000円 |
2020年07月29日 | ACTUATOR外1品目 3,524,400円 |
2020年07月29日 | AIR TURBINE STARTER等 分解検査作業 1,100,000円 |
2020年07月28日 | FLAP CONTROL UNIT 機能検査作業 2,409,000円 |
2020年07月21日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 定期修理1SE 5,736,500円 |
2020年07月21日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 定期修理1EA 3,597,000円 |
2020年07月15日 | VALVE 8,107,000円 |
2020年07月10日 | VALVE 5,843,200円 |
2020年07月09日 | REEL外1品目 3,146,000円 |
2020年07月09日 | VALVE ASSY外1品目 31,205,900円 |
2020年06月30日 | 解析用検査装置の修繕 431,123円 |
2020年06月24日 | 警備システム用機器 搭載 25,916,000円 |
2020年06月24日 | 移動型デジタル式汎用X線診断装置,FPD搭載型 19,250,000円 |
2020年06月18日 | 規制の精緻化に向けたデジタル技術の開発高精度センサーを用いたエレベーターの定期検査に係る技術開発 129,993,600円 |
2020年06月09日 | CONTROLLER,AIR PRESS 組立作業 4,136,000円 |
2020年03月31日 | RETAINER外114品目 36,190,000円 |
2020年03月31日 | RETAINER外29品目 12,457,698円 |
2020年03月31日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 1EA 5,412,000円 |
2020年03月31日 | REGULATOR外11品目 61,105,000円 |
2020年03月30日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用)VALVE ほか 116,820,000円 |
2020年03月30日 | CADCベンチ・テスター J/USM-155( )構成品修理 2EA 3,781,800円 |
2020年03月30日 | CONTROLLER外1品目 25,938,000円 |
2020年03月27日 | HOUSING外23品目 70,125,000円 |
2020年03月27日 | ACM 2EA 27,651,800円 |
2020年03月27日 | EXCHANGER 21EA 251,559,000円 |
2020年03月27日 | 空気系統試験装置の修理 16,203,000円 |
2020年03月27日 | GEARBOX 3,874,200円 |
2020年03月26日 | 検知器2用ケーブル外5件 21,634,800円 |
2020年03月26日 | F-15航空機用維持部品(国産・その5) 48,345,000円 |
2020年03月26日 | REGULATOR外9品目 33,825,000円 |
2020年03月26日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 定期修理(診断後)1EA 27,797,000円 |
2020年03月25日 | GEAR SHAFT 6EA 2,917,200円 |
2020年03月24日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( )構成品修理 3EA 2,670,800円 |
2020年03月24日 | GEAR外26品目 240,252,760円 |
2020年03月24日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( )構成品修理 9EA 13,686,200円 |
2020年03月24日 | 航空武器等用部品(官給用)CRT ASSY ほか 6,985,000円 |
2020年03月24日 | GASKET外10品目 28,554,801円 |
2020年03月23日 | GEAR外1品目 18,701,100円 |
2020年03月23日 | VALVE外2品目 9,737,200円 |
2020年03月19日 | APU試運転装置の修理 9,509,500円 |
2020年03月19日 | APU試運転装置の不具合調査 2,194,500円 |
2020年03月18日 | NAME PLATE外5品目 4,067,580円 |
2020年03月18日 | GEAR外33品目 41,976,110円 |
2020年03月18日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 12EA 67,254,000円 |
2020年03月17日 | DUCT ASSY 12EA 26,149,200円 |
2020年03月17日 | TUBE 15EA 2,722,500円 |
2020年03月17日 | SWITCH外1品目 6,457,000円 |
2020年03月17日 | PEDESTAL 50EA 3,129,500円 |
2020年03月11日 | BARREL 24,794,495円 |
2020年03月11日 | GEAR外1品目 6,208,730円 |
2020年03月11日 | 武器等用部品(専用品)「移動式船体磁気測定装置3形用HEAD,DETECTING,MAGNETIC ANOMALY」外 19,583,300円 |
2020年03月11日 | DUCT 8EA 9,451,200円 |
2020年03月10日 | RETAINER外25品目 5,694,799円 |
2020年03月10日 | PLATE ASSY外11品目 15,133,690円 |
2020年03月10日 | VALVE 4,231,700円 |
2020年03月10日 | 航空機部品(官給用)SHAFT ほか 13,200,000円 |
2020年03月09日 | GEAR外4品目 21,284,340円 |
2020年03月06日 | NIPPLE ASSY 8,256,600円 |
2020年03月05日 | 警備システム 装備工事 665,500,000円 |
2020年03月05日 | DUCT 6EA 6,725,400円 |
2020年03月03日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用)VALVE ほか 4,884,000円 |
2020年02月27日 | 航空機部品(官給用)CARRIER ほか 4,598,000円 |
2020年02月27日 | 航空機部品(官給用)COVER ほか 6,534,000円 |
2020年02月27日 | WINGUSHAFT 35,159,135円 |
2020年02月26日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用)MOTOR ほか 2,077,900円 |
2020年02月21日 | PRESSURE外7品目 6,338,046円 |
2020年02月21日 | ACM MODULE 組立作業 7,106,000円 |
2020年02月21日 | CONTROLLER外12品目 21,560,000円 |
2020年02月21日 | VALVE外6品目 13,970,000円 |
2020年02月20日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 定期修理1EA 45,397,000円 |
2020年02月20日 | GASKET外2品目 8,802,123円 |
2020年02月20日 | VALVE 6EA 6,553,800円 |
2020年02月17日 | REGULATOR外11品目 43,175,000円 |
2020年02月17日 | CONTROLLER外13品目 21,010,000円 |
2020年02月14日 | CONTROLLER,AIR PRESS 分解検査作業 1,422,850円 |
2020年02月13日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用)MOTOR ほか 2,728,000円 |
2020年02月05日 | REEL 4,383,500円 |
2020年02月04日 | 航空機部品(官給用)SOLENOID ほか 2,510,200円 |
2020年01月29日 | VALVE,ANTI-ICING 16,478,000円 |
2020年01月27日 | VALVE,PNEUMATIC等 オーバーホール作業 18,359,000円 |
2020年01月27日 | STARTER ENGINE-BLC オーバーホール作業 5,197,500円 |
2020年01月27日 | VALVE,ENG OIL SHUT等 分解検査作業 2,926,000円 |
2020年01月24日 | EVAPORETOR試験装置 撤去1式 7,678,000円 |
2020年01月23日 | VALVE,MODULATING 分解検査作業 2,824,800円 |
2020年01月23日 | MONITOR 分解検査作業 12,262,800円 |
2020年01月21日 | SOLENOID 38,250,300円 |
2020年01月21日 | SWITCH 14EA 4,158,000円 |
2020年01月21日 | RING外1品目 8,783,060円 |
2020年01月15日 | DAMPER ASSY オーバーホール作業 24,531,100円 |
2020年01月10日 | DAMPER 7,326,000円 |
2020年01月08日 | DAMPER 13,632,300円 |
2020年01月07日 | AFMS CONT DSPL UNIT 分解検査作業 3,935,800円 |
2019年12月26日 | DUCT外1品目 73,586,700円 |
2019年12月26日 | HOUSING SET 84EA 43,428,000円 |
2019年12月26日 | COVER ASSY外32品目 271,480,000円 |
2019年12月26日 | BODY ASSY外2品目 18,887,000円 |
2019年12月26日 | VALVE,MODULATING オーバーホール作業 41,210,400円 |
2019年12月26日 | TUBE外3品目 33,234,300円 |
2019年12月26日 | BEARING外9品目 123,761,000円 |
2019年12月25日 | LIGHTPLATE外2品目 4,807,000円 |
2019年12月25日 | SOLENOID外9品目 25,113,000円 |
2019年12月25日 | BELLOWS ASSY 11EA 8,724,100円 |
2019年12月25日 | ADAPTER外2品目 13,178,000円 |
2019年12月25日 | CHECK VALVE 22EA 4,668,180円 |
2019年12月25日 | CLUTCH 86EA 514,800,000円 |
2019年12月23日 | COMPRESSOR,ROTARY オーバーホール作業 291,654,000円 |
2019年12月23日 | 航空機部品(官給用)COVER ほか 29,260,000円 |
2019年12月23日 | VALVE外29品目 196,900,000円 |
2019年12月20日 | ガバナー試験装置の修理 5,005,000円 |
2019年12月20日 | SPRING外8品目1式 2,546,500円 |
2019年12月20日 | SENSOR外1品目 12,001,000円 |
2019年12月19日 | 航空武器等用部品(官給用)CRT ASSY 14,058,000円 |
2019年12月16日 | EVAPORATOR UNIT その他の作業 1,276,000円 |
2019年12月16日 | VALVE外3品目 40,700,000円 |
2019年12月16日 | 航空機部品(官給用)HOUSING ほか 59,334,000円 |
2019年12月16日 | DAMPENER外6品目 141,460,000円 |
2019年12月12日 | STARTER外1品目 10,744,800円 |
2019年12月12日 | CONTROL BOX 15,301,000円 |
2019年12月12日 | VALVE外4品目 19,800,000円 |
2019年12月12日 | VALVE 3,842,300円 |
2019年12月11日 | CONTROL BOX 9,174,000円 |
2019年12月09日 | APU 小修理作業 2,849,000円 |
2019年12月06日 | E-2C クーリング・タービンの分解検査 1,146,200円 |
2019年12月06日 | PISTON 35EA 6,302,120円 |
2019年12月06日 | VALVE外6品目 1,045,000円 |
2019年12月04日 | 航空機部品(官給用)BODY ほか 3,718,000円 |
2019年12月04日 | 航空機部品(官給用)HOUSING ほか 14,938,000円 |
2019年12月04日 | VALVE,BUTTERFLY等 オーバーホール作業 71,945,170円 |
2019年12月03日 | SENSOR,TEMPERATURE 5EA 3,509,000円 |
2019年11月28日 | CONTROLLER外3品目 50,215,000円 |
2019年11月27日 | CONTROLLER,AIR PRESS等 オーバーホール作業 36,630,000円 |
2019年11月26日 | CAGE外9品目 45,025,200円 |
2019年11月25日 | 第2補給処システム管理業務の会社技術利用(T-4用 VALVE) 7,183,000円 |
2019年11月22日 | STARTER ASSY オーバーホール作業 89,606,000円 |
2019年11月22日 | 航空機部品(官給用)HOUSING ほか 32,846,000円 |
2019年11月22日 | BALL SCREW ACTUATOR等 オーバーホール作業 65,362,000円 |
2019年11月22日 | DAMPER ASSY,MAIN 分解検査作業 5,166,700円 |
2019年11月20日 | 航空機部品(官給用)BODY ほか 18,436,000円 |
2019年11月19日 | TEST STAND,ENGINE,SEMITRAILER MOUNTED 定期修理1EA 21,175,000円 |
2019年11月18日 | 磁探信号処理装置の改修 2,291,300円 |
2019年11月13日 | CONTROLLER外3品目 9,988,000円 |
2019年11月13日 | 航空機部品(官給用)GEAR ほか 20,680,000円 |
2019年11月13日 | PUMP ASSY外3品目 93,280,000円 |
2019年11月13日 | DAMPER ASSY 組立作業 50,688,000円 |
2019年11月01日 | COMPRESSOR,ROTARY オーバーホール作業 648,560,000円 |
2019年11月01日 | TRANSMITTER,PRESSURE オーバーホール作業 49,324,000円 |
2019年11月01日 | FCU オーバーホール作業 75,904,400円 |
2019年11月01日 | APU等 オーバーホール作業 268,125,000円 |
2019年11月01日 | CHAMBER,DECOMPRESSION ALTITUDE 定期修理1SE 14,765,300円 |
2019年10月30日 | DAMPER 25,880,800円 |
2019年10月30日 | VALVE外1品目 1,087,900円 |
2019年10月30日 | VALVE 8,787,900円 |
2019年10月30日 | GEARBOX 10,025,400円 |
2019年10月30日 | STARTER外6品目 27,720,000円 |
2019年10月30日 | SCREW 110,135,300円 |
2019年10月30日 | SEPARATOR外2品目 4,763,000円 |
2019年10月29日 | ELBOW,PIPE外7品目1式 6,702,190円 |
2019年10月29日 | CHAMBER 検査修理作業 1,465,200円 |
2019年10月29日 | VALVE, SHUT OFF等 組立作業 35,310,000円 |
2019年10月29日 | 航空機部品(部隊整備用)CAP ほか 4,642,000円 |
2019年10月24日 | L-PLATE 1,947,000円 |
2019年10月24日 | WASHER 3,405,600円 |
2019年10月24日 | VALVE ASSY外1品目 14,850,000円 |
2019年10月24日 | TUBE ASSY外1品目 52,823,100円 |
2019年10月23日 | 航空機部品(官給用)IMPELLER ほか 45,331,000円 |
2019年10月18日 | HSA-106テストベンチHRM-130の修理前調査 1,555,400円 |
2019年10月11日 | VALVE 1,287,000円 |
2019年10月09日 | CONTROLLER, AIR PRESS等 組立作業 9,460,000円 |
2019年10月09日 | VALVE,SHUTOFF 組立作業 2,128,500円 |
2019年10月09日 | TURBINE,AIRCRAFT オーバーホール作業 18,766,000円 |
2019年10月08日 | BOOSTER ASSY外3品目 5,010,500円 |
2019年10月08日 | VALVE ASSY 17,810,100円 |
2019年10月07日 | ACTUATOR,ELECTRO MECHANICAL,LINEAR等 分解検査作業 3,064,600円 |
2019年10月07日 | 航空機部品(部隊整備用)RETAINER ほか 2,860,000円 |
2019年10月04日 | COMPRESSOR,ROTARY 分解検査作業 5,127,980円 |
2019年10月02日 | VALVE, CROSS 組立作業 109,879,000円 |
2019年10月01日 | リード・ラグ・ダンパー 5,999,400円 |
2019年09月30日 | GASKET外7品目 10,552,234円 |
2019年09月30日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM COMPONENTS 修理1SE 1,606,000円 |
2019年09月27日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 4EA 8,122,400円 |
2019年09月27日 | HOUSING ASSY 33EA 228,072,900円 |
2019年09月27日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 6EA 14,231,800円 |
2019年09月27日 | TEST STAND,GEARBOX,AIRCRAFT 修理(診断後)外2品目1式 12,309,000円 |
2019年09月27日 | EXCHANGER外4品目 643,000,600円 |
2019年09月27日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 2EA 5,453,800円 |
2019年09月27日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( ) 構成品修理 13EA 19,702,100円 |
2019年09月26日 | 航空機部品(エンジンO/H用)VALVE, SOLENOID 22,281,600円 |
2019年09月26日 | OIL PUMP AND GOVERNOR外1品目 4,065,600円 |
2019年09月25日 | AIR CYCLE MACHINE 132,869,000円 |
2019年09月25日 | ACTUATOR ASSY外18品目 68,530,000円 |
2019年09月24日 | DUCT ASSY 15EA 12,045,000円 |
2019年09月24日 | BODY外1品目 4,772,350円 |
2019年09月24日 | GEAR ASSY外3品目 3,735,600円 |
2019年09月24日 | DUCT 23EA 24,490,400円 |
2019年09月24日 | SWITCH外2品目 19,817,600円 |
2019年09月20日 | DC MOTOR48EA 43,348,800円 |
2019年09月18日 | VALVE外1品目 12,958,000円 |
2019年09月18日 | REGULATOR外1品目 14,707,000円 |
2019年09月18日 | VALVE外8品目 246,510,000円 |
2019年09月18日 | DAMPENER外1品目 36,400,100円 |
2019年09月17日 | VALVE外10品目 48,510,000円 |
2019年09月11日 | ANGLE GEAR BOX外3品目 15,730,000円 |
2019年09月11日 | GEARBOX外1品目 65,656,800円 |
2019年09月11日 | TURBINE 22,387,200円 |
2019年09月10日 | GEAR SHAFT外2品目 10,612,800円 |
2019年09月10日 | ACTUATOR外3品目 32,010,000円 |
2019年09月10日 | SOLENOID 7EA 2,533,300円 |
2019年09月09日 | STARTER外1品目 2,076,800円 |
2019年09月09日 | 携帯用磁力計RSM-1 5,313,000円 |
2019年09月09日 | GEARBOX外9品目 512,600,000円 |
2019年09月09日 | STARTER 1,881,000円 |
2019年09月09日 | FILTER ELEMENT,FLUID,PRESSURE1000EA 26,818,000円 |
2019年09月06日 | VALVE外3品目 16,885,000円 |
2019年09月06日 | BARREL 38,535,967円 |
2019年09月06日 | VALVE ASSY外4品目 11,264,000円 |
2019年09月04日 | CONTROLLER 4,841,100円 |
2019年09月03日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 定期修理1EA 23,166,000円 |
2019年08月30日 | AIR CONDITIONER 定期修理外3品目1式 82,225,000円 |
2019年08月28日 | BODYASSY 8,580,600円 |
2019年08月26日 | GEAR BOX外5品目 6,556,000円 |
2019年08月26日 | TURBINE外1品目 2,224,200円 |
2019年08月26日 | GEAR BOX ASSY外1品目 2,679,600円 |
2019年08月21日 | HEATEXCHAGER 2,690,280円 |
2019年08月08日 | AIR CONDITIONER 定期修理1EA 18,997,000円 |
2019年08月05日 | VALVE ASSY外2品目 1,844,700円 |
2019年08月05日 | VALVE, SHUT OFF 分解検査作業 2,772,000円 |
2019年08月02日 | AIR CYCLE MACHINE 2,519,000円 |
2019年07月31日 | AIR CONDITIONER 定期修理1EA 18,667,000円 |
2019年07月31日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 定期修理外1品目1式 70,444,000円 |
2019年07月31日 | VALVE外3品目 4,164,600円 |
2019年07月30日 | AIR CONDITIONER 定期修理(診断後)1EA 31,009,000円 |
2019年07月26日 | PNEUMATIC COMPONENT 修理22EA 57,063,600円 |
2019年07月25日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 4EA 10,923,000円 |
2019年07月25日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 56EA 127,097,300円 |
2019年07月18日 | VALVE外4品目 1,012,000円 |
2019年07月17日 | ACTUATOTR ASSY外14品目 20,443,500円 |
2019年07月12日 | APU 分解検査作業 13,002,000円 |
2019年07月12日 | CONTROLLER,AIR PRESS等 分解検査作業 2,431,000円 |
2019年07月10日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 定期修理1EA 7,763,800円 |
2019年07月10日 | STARTER外4品目 2,530,000円 |
2019年07月04日 | EVAPORATOR UNIT 組立作業 1,665,400円 |
2019年06月20日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 定期修理1SE 6,415,200円 |
2019年06月03日 | BODY ASSY外5品目 91,182,240円 |
2019年05月27日 | BODY ASSY外1品目 15,164,820円 |
2019年05月21日 | 補正磁場検出器の購入(地磁気観測所) 1式 9,354,400円 |
2019年04月23日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 改修 8EA 6,780,400円 |
2019年03月29日 | VALVE外2品目 16,152,480円 |
2019年03月29日 | VALVE,DUCKFLOW 組立作業 16,329,600円 |
2019年03月29日 | エアー・データ・システム ADS-81/82( )構成品修理 3EA 3,197,880円 |
2019年03月29日 | COMPRESSOR,ROTARY 部分組立作業 38,404,800円 |
2019年03月29日 | APU その他の作業 84,996,000円 |
2019年03月29日 | ACTUATOR外4品目 16,372,800円 |
2019年03月29日 | EXCHANGER 13EA 146,872,440円 |
2019年03月29日 | CADCベンチ・テスタ- J/USM-155( ) 構成品修理 2EA 3,628,800円 |
2019年03月29日 | COMPRESSOR等 その他の作業 37,584,000円 |
2019年03月29日 | REGULATOR AIR PRESSURE外12品目 32,628,960円 |
2019年03月29日 | ENGINE 2,147,040円 |
2019年03月28日 | TRANSMITTER 1,262,520円 |
2019年03月28日 | DAMPER ASSY,MAIN 組立作業 9,579,600円 |
2019年03月28日 | APU 部分組立作業 45,792,000円 |
2019年03月28日 | EXCHANGER 20EA 225,957,600円 |
2019年03月28日 | 航空機部品(官給用)BODY ほか 37,158,804円 |
2019年03月28日 | 航空機部品(官給用)HOUSING ほか 50,760,000円 |
2019年03月28日 | DAMPER ASSY 組立作業 13,197,600円 |
2019年03月28日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用)COOLING TURBINE 34,128,000円 |
2019年03月28日 | 航空機部品(官給用)HOUSING ほか 16,092,000円 |
2019年03月28日 | 航空機部品(官給用)SCROLL ASSY ほか 347,220,000円 |
2019年03月28日 | APU 小修理作業 2,862,000円 |
2019年03月28日 | VALVE ASSY 11,549,520円 |
2019年03月26日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 15EA 27,831,600円 |
2019年03月26日 | アンテナ駆動装置 J/USM-32 構成品修理 1EA 8,391,600円 |
2019年03月26日 | CONTROL外2品目 102,498,480円 |
2019年03月26日 | VALVE ASSY 16,175,160円 |
2019年03月26日 | ACTUATOR ASSY外22品目 39,962,160円 |
2019年03月26日 | ACTUATOR,ELECTRO MECHANICAL,LINEAR等 オーバーホール作業 28,458,000円 |
2019年03月25日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 2EA 9,882,000円 |
2019年03月25日 | 航空機部品(官給用)SCROLL ほか 130,407,840円 |
2019年03月25日 | STARTER ASSY等 オーバーホール作業1式 18,954,000円 |
2019年03月25日 | FCU等 オーバーホール作業 78,192,000円 |
2019年03月25日 | APU等 オーバーホール作業 201,420,000円 |
2019年03月22日 | 航空武器等用部品(部隊整備用)MARK SWITCH 5,112,720円 |
2019年03月22日 | DISPLAY UNIT,AFMS 組立作業 1,785,240円 |
2019年03月22日 | VALVE,MODULATING オーバーホール作業 21,708,000円 |
2019年03月20日 | VALVE外5品目 1,558,440円 |
2019年03月20日 | DAMPENER外5品目 108,126,360円 |
2019年03月20日 | VALVE ASSY 4,074,840円 |
2019年03月20日 | CLUTCH 105EA 582,989,400円 |
2019年03月20日 | FUEL CONTROL UNIT 8,528,760円 |
2019年03月20日 | AFMS CONT DSPL UNIT オーバーホール作業 1,076,760円 |
2019年03月20日 | AFMS CONT DSPL UNIT 組立作業 1,842,480円 |
2019年03月20日 | VALVE,SHUTOFF OIL等 オーバーホール作業 19,732,680円 |
2019年03月20日 | ACTUATOR,ELECTRO MECHANICAL,LINEAR等 オーバーホール作業 28,775,520円 |
2019年03月20日 | VALVE,CROSS等 オーバーホール作業 53,730,000円 |
2019年03月20日 | CHAMBER 検査修理作業 1,340,280円 |
2019年03月14日 | COOLER外1品目 83,280,960円 |
2019年03月11日 | F-2航空機用維持部品(国産・その2) 44,539,200円 |
2019年03月11日 | RATCHET 17EA 2,552,040円 |
2019年03月08日 | 航空機部品(官給用)DRUM ASSY ほか 7,992,000円 |
2019年03月08日 | 航空機部品(官給用)BODY ほか 38,880,000円 |
2019年03月07日 | DESICCANT CONTAINER 13EA 3,776,760円 |
2019年03月06日 | ADAPTER ASSY外13品目 97,438,680円 |
2019年02月28日 | VALVE,ANTI-ICINGほか3品目 15,369,480円 |
2019年02月25日 | 電子管A06A0788-12 18,642,960円 |
2019年02月25日 | インテグレーテッド・ロワー・コントロール・アクチュエータ(ILCA)ほか1品目 16,264,800円 |
2019年02月25日 | VALVE ASSY外25品目 157,783,680円 |
2019年02月22日 | WHEEL ASSYほか4品目 26,453,520円 |
2019年02月22日 | 航空機部品(官給用)SCROLL ASSY 27,786,240円 |
2019年02月22日 | 航空機部品(官給用)SCROLL ASSY 37,830,240円 |
2019年02月20日 | SHAFT/BUTTERFLYほか25品目 55,807,920円 |
2019年02月18日 | 携帯用磁気探知機RSX-3 11,286,000円 |
2019年02月14日 | PUMP ASSY外10品目 41,990,400円 |
2019年02月13日 | 航空機部品(機器修理用)FRONT PANEL ASSEMBLY 5,864,400円 |
2019年02月12日 | DAMPER ASSY 分解検査作業 7,282,440円 |
2019年02月07日 | 航空機用磁探信号処理装置の改修 3,234,600円 |
2019年02月05日 | TURBINE 5EA 85,698,000円 |
2019年02月01日 | F-15航空機用維持部品(国産・その6) 1,213,039,800円 |
2019年02月01日 | VALVE,ANTI-ICINGほか1品目 7,125,840円 |
2019年01月25日 | VALVE外4品目 29,112,480円 |
2019年01月25日 | 目標位置指示装置 HKX-1 101,929,320円 |
2019年01月18日 | 燃料シャットオフ・バルブほか5品目 13,554,000円 |
2019年01月11日 | BEARINGほか2品目 12,282,192円 |
2019年01月11日 | FANほか2品目 5,501,520円 |
2019年01月11日 | EVAPORATOR UNIT その他の作業 44,010,000円 |
2019年01月10日 | VALVE 25EA 59,832,000円 |
2018年12月26日 | ACTUATOR外8品目 49,456,440円 |
2018年12月26日 | VALVE外8品目 41,466,600円 |
2018年12月25日 | 航空機部品(官給用)SCROLL ASSY 13,770,000円 |
2018年12月21日 | PRECOOLER 167,699,160円 |
2018年12月20日 | EXCHANGER 5EA 56,494,800円 |
2018年12月20日 | LCD ASSEMBLY 機能検査作業 2,872,800円 |
2018年12月20日 | COALESCER外8品目 9,659,844円 |
2018年12月18日 | CYLINDER外4品目 4,993,704円 |
2018年12月18日 | THERMOSTAT外7品目 66,742,920円 |
2018年12月18日 | AIR CYCLE MACHINE外5品目 173,247,120円 |
2018年12月18日 | BLANKET外24品目 49,634,964円 |
2018年12月18日 | GEARBOX外4品目 539,478,360円 |
2018年12月13日 | ACTUATOR ASSY外19品目 20,414,160円 |
2018年12月11日 | PLUG外30品目 211,690,692円 |
2018年12月11日 | SWITCH 4EA 2,484,000円 |
2018年12月05日 | GEARBOX外3品目 165,160,944円 |
2018年12月05日 | VALVE ASSY外7品目 293,954,400円 |
2018年12月05日 | DUCT ASSY外2品目 83,026,080円 |
2018年12月04日 | インテグレーテッド・ロワー・コントロール・アクチュエータ(ILCA) 30,726,000円 |
2018年11月28日 | GEAR BOX ASSY外5品目 4,672,944円 |
2018年11月28日 | VALVE外7品目 32,597,640円 |
2018年11月26日 | HOSE ASSY外3品目1式 18,269,280円 |
2018年11月21日 | FILTER ELEMENT,FLUID,PRESSURE200EA 5,248,800円 |
2018年11月21日 | REGULATOR外5品目 24,470,640円 |
2018年11月20日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( ) 構成品修理 6EA 17,506,800円 |
2018年11月20日 | エアー・データ・システム ADS-81/82( )構成品修理 9EA 12,661,920円 |
2018年11月19日 | BEARING 45,712,404円 |
2018年11月16日 | CHAMBER,DECOMPRESSION ALTITUDE 定期修理1SE 28,468,800円 |
2018年11月08日 | DUCT ASSY外1品目 23,109,840円 |
2018年11月08日 | NOZZLE ASSY外1品目 107,593,920円 |
2018年11月07日 | DISPLAY UNIT 8,994,240円 |
2018年11月07日 | リード・ラグ・ダンパー 3,173,040円 |
2018年11月07日 | AIR CONDITIONER 定期修理外3品目1式 70,140,600円 |
2018年11月05日 | MOTOR外8品目 52,618,680円 |
2018年11月05日 | TEST STAND,AIRCRAFT HYDRAULIC 定期修理1EA 26,762,400円 |
2018年10月30日 | SEPARATOR外1品目 1,861,920円 |
2018年10月30日 | 航空機部品(官給用)TORUS ASSY ほか 14,299,200円 |
2018年10月30日 | 航空機部品(官給用)CONTROL PANEL ほか 12,992,400円 |
2018年10月30日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用)VALVE 15,984,000円 |
2018年10月30日 | TUBE ASSY外2品目 2,777,760円 |
2018年10月29日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 5EA 8,823,600円 |
2018年10月29日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 2EA 4,017,600円 |
2018年10月26日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 1EA 4,816,800円 |
2018年10月26日 | F-15航空機用維持部品(国産・その1) 9,353,880円 |
2018年10月24日 | BARREL 5,649,480円 |
2018年10月17日 | HOUSING 29EA 235,776,960円 |
2018年10月11日 | VALVE 25,345,440円 |
2018年10月11日 | TEST EQUIPMENT,AIR HARMONIZING 限定修理1EA 8,562,240円 |
2018年10月10日 | VALVE ASSY外1品目 18,479,772円 |
2018年10月05日 | US-2型航空機用FCU機能確認試験 1,624,320円 |
2018年10月03日 | VALVE ASSY外2品目 1,736,640円 |
2018年10月03日 | スタビライザ・アクチュエータ・センサ位置測定器材 6,990,840円 |
2018年10月03日 | MAGNETIC BRAKE 6,026,400円 |
2018年10月03日 | VALVE外2品目 24,389,640円 |
2018年10月01日 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 60,480,000円 |
2018年09月28日 | MAIN GEARDOOR JACK 2,535,840円 |
2018年09月27日 | VALVE外7品目 19,150,560円 |
2018年09月26日 | SPACER外5品目 26,364,960円 |
2018年09月26日 | STATOR,ENGINE STARTE外2品目 14,545,440円 |
2018年09月26日 | RESISTOR外5品目 6,760,800円 |
2018年09月26日 | CLUTCH外6品目 658,723,536円 |
2018年09月25日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( ) 構成品修理 2EA 5,685,120円 |
2018年09月25日 | TUBE ASSEMBLY,METAL外9品目1式 22,944,708円 |
2018年09月25日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 3EA 4,849,200円 |
2018年09月20日 | VALVE外7品目 94,554,000円 |
2018年09月19日 | BODY29EA 2,915,892円 |
2018年09月19日 | CAP外6品目1式 4,208,328円 |
2018年09月14日 | LINER外3品目 13,884,480円 |
2018年09月14日 | GEARSHAFT,PUMP外8品目 35,448,840円 |
2018年09月10日 | EXCHANGER 59EA 686,391,840円 |
2018年09月10日 | GEAR外9品目 51,254,640円 |
2018年09月10日 | VALVE外8品目 20,517,840円 |
2018年09月07日 | 水密電線 ほか 10,216,800円 |
2018年09月07日 | 油圧機(20GPM)の修理 1,104,840円 |
2018年09月06日 | 航空機部品(エンジンO/H用)VALVE 22,086,000円 |
2018年09月06日 | 航空機部品(官給用)BODY,VALVE ほか 18,792,000円 |
2018年09月06日 | 航空機部品(官給用)NOZZLE 5,832,000円 |
2018年09月05日 | SENSOR外3品目 9,772,920円 |
2018年08月31日 | HOSE ASSY外1品目1式 7,685,280円 |
2018年08月31日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 2EA 3,385,800円 |
2018年08月30日 | ディスプレー・テストセット J/USM-148( ) 修理 1SE 5,886,000円 |
2018年08月30日 | VALVE ASSY外6品目 4,480,704円 |
2018年08月28日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 限定修理1EA 1,611,360円 |
2018年08月23日 | COUPLING外2品目 19,377,360円 |
2018年08月22日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 定期修理1EA 5,675,400円 |
2018年08月22日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 定期修理1SE 3,704,400円 |
2018年08月21日 | COALESCER外9品目 15,254,913円 |
2018年08月21日 | COVER ASSY外1品目 6,307,502円 |
2018年08月09日 | DAMPER 44,973,468円 |
2018年08月09日 | US-2型航空機用FCU機能確認試験 1,624,320円 |
2018年08月08日 | HOUSING外9品目 41,572,872円 |
2018年08月02日 | 航空機の夜間低高度任務能力向上に関する調査研究 11,633,760円 |
2018年08月01日 | 磁探信処理装置テストベンチの修理 1,158,840円 |
2018年07月31日 | APU試運転装置修理前調査 1,587,600円 |
2018年07月31日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 4EA 15,940,800円 |
2018年07月31日 | TRANSFORMER外14品目 107EA 68,167,818円 |
2018年07月31日 | TRANSFORMER外12品目 21EA 55,551,614円 |
2018年07月30日 | エアー・データ・システム ADS-81/82( )構成品修理 8EA 10,108,800円 |
2018年07月30日 | エアー・データ・システム ADS-81/82( )構成品修理 6EA 6,998,400円 |
2018年07月30日 | エアー・データ・システム ADS-81/82( )構成品修理 16EA 19,546,920円 |
2018年07月26日 | TEST STAND,PNEUMATIC SYSTEM 点検修理外1品目1式 10,260,000円 |
2018年07月25日 | BEARIN 12,510,720円 |
2018年07月25日 | SHAFT/BUTTERFLY 16,326,360円 |
2018年07月18日 | 佐世保磁気測定所 船体磁気測定装置 改造 34,884,000円 |
2018年07月12日 | 不具合の調査・検討等役務 1 3,867,480円 |
2018年07月07日 | DAMPER ASSY 分解検査作業 2,818,800円 |
2018年07月06日 | 航空機部品(官給用)GEAR,INPUT SPUR ほか 72,360,000円 |
2018年07月04日 | 省エネ製品開発の加速化に向けた複合計測分析システム研究開発事業省エネ製品開発の加速化に向けた複合計測分析システム研究開発事業 113,357,880円 |
2018年07月03日 | COMPRESSOR等 分解検査作業 24,246,000円 |
2018年06月29日 | HEAT EXCHANGER 32EA 380,160,000円 |
2018年06月29日 | DUCT ASSY外2品目 53,006,400円 |
2018年06月29日 | CLUTCH 75EA 380,619,000円 |
2018年06月29日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 25EA 39,013,920円 |
2018年06月28日 | エアー・データ・システム ADS-81/82( )構成品修理 6EA 5,814,720円 |
2018年06月28日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( ) 構成品修理 3EA 8,678,880円 |
2018年06月28日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 5EA 20,792,160円 |
2018年06月28日 | エアー・データ・システム ADS-81/82( )構成品修理 12EA 8,696,160円 |
2018年06月28日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 改修 9EA 7,280,280円 |
2018年06月27日 | DAMPER 17,311,320円 |
2018年06月21日 | 対気諸元計算装置 J/A24G-1( ) 構成品修理 1EA 7,648,560円 |
2018年06月15日 | 地磁気三成分検出器の購入(地磁気観測所) 1式 3,853,008円 |
2018年06月15日 | DAMPER 13,316,400円 |
2018年06月09日 | 航空機部品(官給用)IMPELLER ASSY 87,048,000円 |
2018年06月08日 | 航空機部品(定期修理用)HARNESS ASSY ほか 6,577,200円 |
2018年05月31日 | GENERATING EQUIPMENT CENTRIFUGE 定期修理1SE 9,065,520円 |
2018年04月02日 | GENERATING EQUIPMENT CENTRIFUGE 現地整備1SE 3,488,400円 |
2018年03月30日 | VALVE ASSY外26品目 221,832,000円 |
2018年03月30日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( )構成品修理 45EA 55,998,000円 |
2018年03月30日 | LINER外3品目 15,117,840円 |
2018年03月30日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 1EA 4,444,200円 |
2018年03月30日 | 高揚力システム駆動系統調整用器材 12,960,000円 |
2018年03月30日 | CAP外21品目 58,440,236円 |
2018年03月30日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( )構成品修理 1EA 2,640,600円 |
2018年03月30日 | CADCベンチ・テスター J/USM-155( )現地改修 13SE 52,272,000円 |
2018年03月30日 | VALVE外13品目 172,438,524円 |
2018年03月30日 | HOUSING外2品目 4,178,736円 |
2018年03月30日 | PANEL,INDICATING,LIGHT外2品目 73EA 14,781,960円 |
2018年03月30日 | 対気諸元計算装置 J/A24G-1( ) 構成品修理 5EA 37,800,000円 |
2018年03月30日 | SFCC/ST-ACCリギング器材 17,280,000円 |
2018年03月30日 | 磁探信号処理装置用テストベンチ付加器N-TS-681/HRM-145 5,616,000円 |
2018年03月29日 | STARTER外4品目 1,846,800円 |
2018年03月29日 | VALVE外9品目 27,270,000円 |
2018年03月29日 | AIR CYCLE MACHINE 99,360,000円 |
2018年03月29日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 5EA 5,346,000円 |
2018年03月29日 | HVPS 6EA 38,510,640円 |
2018年03月29日 | SPACER外18品目 189,461,160円 |
2018年03月29日 | PUMP ASSY外12品目 51,840,000円 |
2018年03月28日 | THERMOSTAT外15品目 64,931,760円 |
2018年03月28日 | BEAM SPLITTER,OPTICAL 25EA 38,610,000円 |
2018年03月28日 | F-2用及びF-2A用 フライト・シミュレータ 構成品修理 2EA 9,504,000円 |
2018年03月28日 | BODY外10品目 79,617,600円 |
2018年03月28日 | HOUSING ASSY 23EA 13,115,520円 |
2018年03月28日 | SHAFT外7品目 80,983,800円 |
2018年03月28日 | PISTON外2品目 16,139,520円 |
2018年03月28日 | BOOT外1品目 2,803,777円 |
2018年03月28日 | DUCT外2品目 147,844,440円 |
2018年03月28日 | GEAR外11品目 57,047,760円 |
2018年03月27日 | 携帯用磁気探知機RSX-3 7,986,600円 |
2018年03月27日 | F-2航空機用維持部品(国産)その2 30,342,600円 |
2018年03月27日 | SHROUD外22品目 123,923,736円 |
2018年03月27日 | AIR CYCLE MACHINE外3品目 84,132,000円 |
2018年03月27日 | F-15航空機用維持部品(国産・その5) 232,524,000円 |
2018年03月27日 | VALVE外4品目 102,146,400円 |
2018年03月27日 | GEARBOX外1品目 48,708,000円 |
2018年03月27日 | 不具合の調査・検討等役務 1 3,024,000円 |
2018年03月27日 | ENGINE外10品目 61,074,000円 |
2018年03月23日 | ACTUATOR外4品目 36,612,000円 |
2018年03月23日 | VALVE外3品目 9,136,800円 |
2018年03月23日 | F-15航空機用維持部品(国産・その4) 191,948,400円 |
2018年03月23日 | RELIEF VALVE外1品目 3,723,300円 |
2018年03月23日 | DAMPENER 19,980,000円 |
2018年03月23日 | VALVE 4EA 5,214,240円 |
2018年03月23日 | FUEL CONTROL UNIT外2品目 5,670,000円 |
2018年03月22日 | TUBE ASSY外5品目 15,432,336円 |
2018年03月19日 | BARREL 7,649,856円 |
2018年03月19日 | CRT & YOKE COIL ASSY 16,434,468円 |
2018年03月16日 | リード・ラグ・ダンパー 12,623,040円 |
2018年03月14日 | HOUSING ASSY外1品目 19,166,760円 |
2018年03月13日 | ECU 13,622,040円 |
2018年03月12日 | GEAR外5品目 159,840,000円 |
2018年03月09日 | 航空機部品(官給用)HOUSING ASSY ほか 27,240,300円 |
2018年03月09日 | 航空機部品(官給用)WHEEL,TURB ほか 53,460,000円 |
2018年03月09日 | 電子管A06A0788-12 40,230,000円 |
2018年03月09日 | DUCT ASSY外2品目 22,847,400円 |
2018年03月09日 | 航空機部品(官給用)CONTROL PANEL ほか 18,175,320円 |
2018年03月08日 | CARRIER 31EA 41,850,000円 |
2018年03月08日 | 航空機部品(官給用)HOUSING SUPPORT ほか 19,726,200円 |
2018年03月06日 | 航空機部品(官給用)SCREW AND NUT ほか 8,128,080円 |
2018年03月05日 | 航空機部品(官給用)GEAR,SPUR ほか 7,448,112円 |
2018年03月05日 | CARRIER 25EA 11,043,000円 |
2018年03月04日 | 航空機部品(官給用)NIPPLE ほか 44,169,840円 |
2018年03月04日 | 航空機部品(官給用)HOUSING ほか 13,988,160円 |
2018年03月03日 | 航空機部品(官給用)VALVE 3,615,840円 |
2018年03月02日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用) VALVE,FUELほか 61,399,836円 |
2018年03月02日 | VALVE 12EA 20,088,000円 |
2018年03月02日 | FLCT ACTUATOR 55,744,200円 |
2018年03月02日 | STARTER外4品目 9,992,700円 |
2018年03月02日 | 航空機部品(部隊整備用)COOLING TURBINE ほか 25,797,960円 |
2018年03月02日 | VALVE 16,515,360円 |
2018年03月02日 | FLCT ACTUATOR 94,388,760円 |
2018年03月02日 | DISPLAY UNIT 4,486,320円 |
2018年03月02日 | 航空機部品(エンジンO/H用)VALVE 8,121,600円 |
2018年03月02日 | リード・ラグ・ダンパー 5,365,440円 |
2018年03月02日 | 航空機部品(部隊整備用)VALVE 2,745,252円 |
2018年03月02日 | 航空機部品(部隊整備用)VALVE SHUTOFF ほか 19,604,160円 |
2018年03月02日 | LINER外7品目 25,160,954円 |
2018年03月02日 | GEAR外3品目 31,609,440円 |
2018年02月28日 | 航空機部品(部隊整備用)HEAT EXCHANGER ほか 18,837,360円 |
2018年02月28日 | TUBE外12品目 47,528,424円 |
2018年02月28日 | MOTOR 5EA 6,728,400円 |
2018年02月27日 | VALVE 12EA 43,234,560円 |
2018年02月22日 | PLATE外7品目 13,956,300円 |
2018年02月21日 | VALVE外1品目 4,190,400円 |
2018年02月21日 | HEAT EX 9,972,720円 |
2018年02月14日 | EXCHANGER 37EA 373,546,080円 |
2018年02月09日 | 航空機部品(官給用)SCROLL ASSY 9,263,160円 |
2018年02月09日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用)WHEEL ほか 2,898,288円 |
2018年02月08日 | 航空機部品(官給用)ADAPTER ほか 11,365,920円 |
2018年02月08日 | VALVE,BUTTERFLY 部分組立作業 7,710,120円 |
2018年02月07日 | BRAKE,WING FLAP等 オーバーホール作業 47,458,440円 |
2018年02月07日 | DAMPER 19,578,240円 |
2018年02月05日 | 高速液体自動分析装置 9,194,040円 |
2018年02月05日 | TRANSMITTER,PRESSURE オーバーホール作業 7,846,200円 |
2018年02月04日 | 航空機部品(官給用)NIPPLE ほか 62,826,408円 |
2018年02月03日 | 航空機部品(官給用)SCROLL ほか 104,393,448円 |
2018年02月03日 | WATER SEPARATOR等 組立作業 7,560,000円 |
2018年02月03日 | 航空機部品(エンジンO/H用)VALVE 5,511,240円 |
2018年02月03日 | VALVE,SHUTOFF ENG等 オーバーホール作業 41,050,800円 |
2018年02月03日 | VALVE,SHUTOFF オーバーホール作業 1,369,440円 |
2018年02月02日 | 航空機用磁探信処理装置の改修 12,528,000円 |
2018年01月31日 | VALVE,PRESS オーバーホール作業 4,348,080円 |
2018年01月31日 | DAMPER ASSY,MAIN オーバーホール作業 12,769,920円 |
2018年01月31日 | VALVE,DUCKFLOW等 組立作業 11,999,880円 |
2018年01月29日 | VALVE外7品目 92,340,000円 |
2018年01月26日 | 内側フラップ・システム・ラインテスタの不具合調査 1,676,160円 |
2018年01月25日 | BOOSTER ASSY外4品目 43,416,000円 |
2018年01月08日 | WATER SEPARATOR等 オーバーホール作業 9,488,880円 |
2018年01月08日 | FAN,AVIONICS COOLING等 オーバーホール作業 14,785,200円 |
2018年01月08日 | BLAKE,WING FLAP等 オーバーホール作業 19,644,120円 |
2018年01月06日 | VALVE,MODULATING等 オーバーホール作業 13,072,320円 |
2018年01月02日 | CONTROLLER,AIR PRESS等 組立作業 77,741,640円 |
2017年12月28日 | COOLER外4品目 199,494,576円 |
2017年12月28日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 定期修理1EA 14,428,800円 |
2017年12月27日 | COLLAR外26品目 78,344,031円 |
2017年12月27日 | VALVE ASSY外7品目 13,354,524円 |
2017年12月27日 | HOUSING ASSY外2品目 4,188,240円 |
2017年12月27日 | EXCHANGER外15品目 66,436,092円 |
2017年12月27日 | SHAFT外4品目 3,278,880円 |
2017年12月27日 | インバータ外18品目1式 8,888,400円 |
2017年12月26日 | COVER外14品目 188,557,092円 |
2017年12月26日 | GEARBOX外10品目 312,984,000円 |
2017年12月26日 | ガバナー試験装置修理前調査 1,749,600円 |
2017年12月26日 | HOUSING ASSY外6品目 57,355,560円 |
2017年12月26日 | PISTON外1品目 2,658,528円 |
2017年12月26日 | STARTER外16品目 63,504,000円 |
2017年12月26日 | GEARBOX外13品目 281,340,000円 |
2017年12月26日 | SCROLL ASSY外2品目 91,608,840円 |
2017年12月26日 | VALVE ASSY外2品目 58,581,360円 |
2017年12月26日 | SPACER外7品目 54,804,556円 |
2017年12月25日 | KEY外13品目 21,209,536円 |
2017年12月25日 | GEAR外30品目 92,127,456円 |
2017年12月22日 | SOLENOID外7品目 3,889,080円 |
2017年12月22日 | 防爆試験装置の点検整備等 26,997,840円 |
2017年12月22日 | MOTOR AC外1品目 3,782,160円 |
2017年12月22日 | PLUG外4品目 3,527,820円 |
2017年12月21日 | AIR CONDITIONER 定期修理1EA 11,100,240円 |
2017年12月20日 | BEARING 6,461,856円 |
2017年12月18日 | DUCT外2品目 218,968,920円 |
2017年12月14日 | 携帯用磁力計RSM-1 2,608,200円 |
2017年12月08日 | X線テレビ装置(一般撮影) 4,739,580円 |
2017年12月07日 | CLAMP外1品目 7,244,002円 |
2017年12月06日 | VALVE,ANTI ICE等 組立作業 7,336,440円 |
2017年12月05日 | 不具合の調査・検討等役務 1 4,266,000円 |
2017年12月05日 | FILLING MACHINE,HIGH PRESSURE 定期修理外2品目1式 21,272,760円 |
2017年11月30日 | BEAM SPLITTER,OPTICAL外1品目 51EA 71,053,200円 |
2017年11月30日 | PUMP ASSY外4品目 13,953,600円 |
2017年11月30日 | VALVE外5品目 18,900,000円 |
2017年11月30日 | VALVE ASSY外17品目 10,435,716円 |
2017年11月30日 | ヘッド・アップ・ディスプレ- AN/AVQ-20 構成品修理 16EA 66,722,400円 |
2017年11月30日 | VALVE外5品目 6,588,000円 |
2017年11月30日 | ヘッド・アップ・ディスプレ- AN/AVQ-20 構成品修理 10EA 54,000,000円 |
2017年11月30日 | VALVE外5品目 1,501,200円 |
2017年11月30日 | REFLECTOR外1品目 4EA 2,840,400円 |
2017年11月29日 | エアー・データ・システム ADS-81/82()構成品修理 6EA 6,907,680円 |
2017年11月28日 | VALVE外8品目 1,877,040円 |
2017年11月28日 | VALVE外2品目 2,170,800円 |
2017年11月22日 | 空気系統試験装置の修理 1,360,800円 |
2017年11月21日 | BEARING外9品目 149,675,904円 |
2017年11月20日 | HEAT EXCHANGER 28EA 85,095,360円 |
2017年11月17日 | CADCベンチ・テスター J/USM-155 構成品修理 1EA 4,961,520円 |
2017年11月16日 | TUBE外2品目 3,565,080円 |
2017年11月15日 | SHAFT外7品目 242,313,660円 |
2017年11月13日 | 機能分子同定定量システム点検1式 3,520,800円 |
2017年11月10日 | SHIM外8品目 29,630,718円 |
2017年11月09日 | ACTUATOR ASSY TRIM P 組立作業 1,479,600円 |
2017年11月08日 | 航空機部品(官給用)LCD ASSEMBLY ほか 10,669,320円 |
2017年11月08日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 定期修理外5品目1式 130,464,000円 |
2017年11月07日 | 航空機部品(官給用)IMPELLER ほか 55,818,720円 |
2017年11月07日 | 航空機部品(官給用)CONDENCER ほか 44,648,712円 |
2017年11月06日 | VALVE,ANTI ICE等 組立作業 13,018,320円 |
2017年11月02日 | LENS,OPTICAL INSTRUMENT外2品目 19EA 22,302,000円 |
2017年11月02日 | 航空機部品(官給用)COVER ほか 7,564,320円 |
2017年11月01日 | COMPRESSOR,ROTARY 分解検査作業 7,089,120円 |
2017年10月31日 | ACTUATOR外3品目 5,871,960円 |
2017年10月31日 | REDUCER外12品目 44,240,742円 |
2017年10月31日 | SHAFT外17品目 28,330,840円 |
2017年10月31日 | ACTUATOR ASSY外23品目 163,944,000円 |
2017年10月31日 | PUMP UNIT外6品目 4,680,720円 |
2017年10月31日 | STARTER外9品目 4,806,000円 |
2017年10月30日 | SEPARATOR外7品目 3,604,824円 |
2017年10月30日 | REGULATOR外11品目 7,134,480円 |
2017年10月30日 | STARTER外6品目 3,632,040円 |
2017年10月27日 | 次世代人工知能・ロボット中核技術開発次世代人工知能技術分野人工知能による診療科推論等の調査研究 4,999,320円 |
2017年10月25日 | TURBINE外1品目 16,362,000円 |
2017年10月06日 | APU等 オーバーホール作業 17,289,720円 |
2017年10月05日 | US-2型航空機用FCUの機能確認試験 5,178,600円 |
2017年05月29日 | PNEUMATIC COMPONENT 修理6EA 15,921,360円 |
2017年05月29日 | PNEUMATIC COMPONENT 修理9EA 23,882,040円 |
2017年05月25日 | PISTON外3品目1式 6,213,240円 |
2017年05月25日 | BODY外3品目1式 11,009,649円 |
2017年05月25日 | SLIDE BODY ASSY3EA 2,689,200円 |
2017年05月24日 | TEST SET,CONTROL 診断外2品目1式 3,564,000円 |
2017年05月19日 | CYLINDER 修理5EA 1,155,600円 |
2017年05月19日 | OUTRIGGER ASSY 修理外1品目1式 4,548,960円 |
2017年05月19日 | OUTRIGGER ASSY 修理外1品目1式 4,552,200円 |
2017年05月19日 | CYLINDER 修理外1品目1式 2,775,600円 |
2017年05月18日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( ) 構成品修理 16EA 25,801,200円 |
2017年05月18日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 3EA 13,099,320円 |
2017年05月18日 | エアー・データ・システム ADS-81/82( )構成品修理 3EA 3,642,840円 |
2017年05月18日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 20EA 69,433,200円 |
2017年05月18日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 13EA 33,485,400円 |
2017年05月18日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 改修 12EA 9,525,600円 |
2017年05月17日 | 航空機部品(官給用)CONTROL ほか2件 20,970,360円 |
2017年05月17日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1() 構成品修理 3EA 4,780,080円 |
2017年05月17日 | FCU等 オーバーホール作業1式 7,474,680円 |
2017年05月16日 | 対気諸元計算装置 J/A24G-1( ) 構成品修理 10EA 49,710,240円 |
2017年05月16日 | アウタ付ワイヤー・ロープ外7品目1式 3,054,240円 |
2017年05月16日 | 不具合の調査・検討等役務 1 2,646,000円 |
2017年05月11日 | DAMPER ASSY,MAIN オーバーホール作業1式 12,614,400円 |
2017年05月11日 | STARTER CONT VALVE等 オーバーホール作業1式 12,252,600円 |
2017年05月11日 | VALVE,MODULATING等 オーバーホール作業1式 7,202,520円 |
2017年05月11日 | BRAKE WING FLAP等 オーバーホール作業1式 57,099,600円 |
2017年05月09日 | BEAM SPLITTER,OPTICAL外1品目 22EA 31,363,200円 |
2017年05月09日 | SYNCHRO,CONTROL TRANSFORMER外2品目 184EA 41,643,720円 |
2017年05月09日 | BEAM SPLITTER,OPTICAL外1品目 21EA 30,067,200円 |
2017年05月09日 | DESICCANT CONTAINER 9EA 2,779,920円 |
2017年04月24日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 改修1SE 3,864,240円 |
2017年04月24日 | GENERATING EQUIPMENT CENTRIFUGE 定期修理1SE 36,525,600円 |
2017年04月24日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 定期修理1EA 6,264,000円 |
2017年04月24日 | CHAMBER,DECOMPRESSION ALTITUDE 定期修理1SE 13,554,000円 |
2017年04月21日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 定期修理1SE 8,424,000円 |
2017年04月21日 | GENERATING EQUIPMENT CENTRIFUGE 定期修理1SE 9,653,040円 |
2017年04月03日 | GENERATING EQUIPMENT CENTRIFUGE 現地整備1SE 7,506,000円 |
2017年03月31日 | 対気諸元計算装置 J/A24G-1() 構成品修理 14EA 104,660,640円 |
2017年03月29日 | BALL SCREW ACTUATOR等 その他の作業1式 11,903,760円 |
2017年03月28日 | STARTER,ENGINE,ELECTRICAL オーバーホール作業1式 16,227,000円 |
2017年03月28日 | SHAFT外24品目 29,693,196円 |
2017年03月27日 | 航空機部品(官給用)CCA SENSOR13個 34,945,560円 |
2017年03月27日 | 航空機部品(官給用)SCROLL15個 22,485,600円 |
2017年03月27日 | DUCT外2品目 25,466,400円 |
2017年03月27日 | SHELL ASSY 7EA 4,914,000円 |
2017年03月17日 | GEAR SHAFT外16品目 81,309,528円 |
2017年03月15日 | HEAT EXCHANGER外7品目 121,967,640円 |
2017年03月07日 | 目標位置指示装置(HKX-1・US-2用) 84,132,000円 |
2017年03月07日 | 目標位置指示装置(HKX-1・US-2用)(初度費) 323,356,320円 |
2017年03月02日 | DAMPER ASSY,MAIN オーバーホール作業1式 9,607,680円 |
2017年02月28日 | NOZZLE ASSY 7EA 6,546,960円 |
2017年02月28日 | RETAINER外7品目 27,422,496円 |
2017年02月27日 | VALVE,LEVEL CONTROL 組立作業1式 1,235,520円 |
2017年02月27日 | VALVE,PRIMARY HE BYP1式 1,636,200円 |
2017年02月20日 | 消磁用UEP低減装置の研究試作 733,320,000円 |
2017年02月20日 | EVAPORATOR UNIT 部分組立作業1式 1,886,760円 |
2017年02月09日 | GEAR外1品目 114,447,600円 |
2017年02月07日 | AIR COMPRESSOR 不具合調査1式 5,508,000円 |
2017年01月26日 | MOTOR外1品目 11,100,240円 |
2017年01月13日 | 医療用機器等供給契約 16,124,400円 |
2016年12月28日 | AIR CYCLE MACHINE 2EA 75,116,160円 |
2016年12月28日 | AIR CYCLE MACHINE 3EA 123,317,640円 |
2016年12月27日 | HOUSING 6EA 48,936,960円 |
2016年12月27日 | FILTER外11品目 131,989,176円 |
2016年12月27日 | COVER ASSY外8品目 31,041,360円 |
2016年12月26日 | GEAR外13品目 35,942,292円 |
2016年12月22日 | AIR CYCLE MACHINE外3品目 49,680,000円 |
2016年12月22日 | BODY ASSY外4品目 48,222,000円 |
2016年12月22日 | EXCHANGER外1品目 199,454,400円 |
2016年12月22日 | VALVE,BUTTERFLY 部分組立作業1式 1,030,320円 |
2016年12月20日 | ENGINE外3品目 14,742,000円 |
2016年12月20日 | 不具合の調査・検討等役務 5,923,800円 |
2016年12月16日 | BALL SCREW ACTUATOR その他の作業1式 1,966,680円 |
2016年12月16日 | 蛍光X線分析装置 9,936,000円 |
2016年12月16日 | VALVE,MODULATING 部分組立作業1式 1,404,000円 |
2016年12月13日 | COMPRESSOR等 組立作業1式 130,610,880円 |
2016年12月08日 | BODY ASSY 45EA 8,116,200円 |
2016年12月08日 | LIGHT外1品目 8,620,560円 |
2016年12月07日 | COMPRESSOR,ROTARY オーバーホール作業1式 57,304,800円 |
2016年12月07日 | SFCC/ST-ACCリギング器材 3,358,800円 |
2016年12月05日 | CHAMBER 検査修理作業1式 1,436,400円 |
2016年12月01日 | スタビライザ・アクチュエータ・センサ位置測定器材 5,114,880円 |
2016年12月01日 | VALVE,SHUT OFF 組立作業1式 1,088,640円 |
2016年11月30日 | PUMP 8EA 2,609,280円 |
2016年11月29日 | 航空機部品(部隊整備及び官給用)SOCKET ほか6件 6,302,448円 |
2016年11月28日 | FAN,AVIONICS COOLING オーバーホール作業1式 3,828,600円 |
2016年11月28日 | 高揚力システム駆動系統調整用器材 4,903,200円 |
2016年11月28日 | VALVE,PNEUMATIC等 組立作業1式 15,899,760円 |
2016年11月25日 | レンズ(レーザ防護) 2,635,588円 |
2016年11月24日 | APU等 オーバーホール作業1式 374,198,400円 |
2016年11月24日 | NOZZLE ASSY外1品目 16,454,880円 |
2016年11月22日 | VALVE,MODULATING等 オーバーホール作業1式 67,036,680円 |
2016年11月22日 | BRAKE,WING FLAP等 オーバーホール作業13件 105,186,600円 |
2016年11月22日 | APU等 オーバーホール作業1式 26,425,440円 |
2016年11月22日 | VALVE,BUTTERFLY オーバーホール作業1式 109,684,800円 |
2016年11月22日 | REGULATOR,FLUID等 オーバーホール作業1式 473,370,480円 |
2016年11月21日 | 磁探信号処理装置 HSA-105C 10,497,600円 |
2016年11月21日 | 磁探信号処理装置(HSA-105C・SH-60K用) 178,459,200円 |
2016年11月21日 | 航空機部品(官給用)SEPARATOR ほか3件 8,535,240円 |
2016年11月21日 | 航空機部品(官給用)NIPPLE ほか5件 17,200,080円 |
2016年11月21日 | 電子管A06A0788-12 40,159,800円 |
2016年11月18日 | F-15航空機用維持部品(国産・その1) 458,976,240円 |
2016年11月18日 | F-15航空機用維持部品(国産・その2) 211,582,800円 |
2016年11月18日 | F-4航空機用維持部品(国産・その1) 179,247,600円 |
2016年11月17日 | HOSE ASSY12件 1,868,400円 |
2016年11月10日 | DUCT 14EA 11,536,560円 |
2016年11月07日 | 航空機部品(官給用)GEAR,INPUT ほか3件 31,233,600円 |
2016年10月31日 | COMPRESSOR等 組立作業1式 71,686,080円 |
2016年10月31日 | ACTUATOR,ELECTRO MECHANICAL,LINEAR等 オーバーホール作業1式 41,076,720円 |
2016年10月28日 | AIR CONDITIONER 定期修理1EA 15,719,400円 |
2016年10月28日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 改修1EA 1,415,880円 |
2016年10月28日 | DUCT 6EA 3,162,240円 |
2016年10月27日 | 航空機部品(官給用)SCROLL ほか12件 94,084,200円 |
2016年10月27日 | AIR CONDITIONER 定期修理(診断)1EA 6,569,640円 |
2016年10月26日 | VALVE,PNEUMATIC 組立作業1式 36,501,840円 |
2016年10月26日 | CARRIER ASSY外3品目 26,324,136円 |
2016年10月26日 | 航空武器等用部品(部隊整備用)ROLL,ASSY2件 9,914,400円 |
2016年10月26日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用)VALVE2件 22,629,240円 |
2016年10月24日 | VALVE,SHUT OFF等 組立作業1式 5,442,120円 |
2016年10月24日 | 航空機部品(定期修理用)HEAT EXCHANGER1個 5,248,800円 |
2016年10月21日 | 航空機部品(官給用)SCROLL ほか6件 141,361,200円 |
2016年10月21日 | 航空機部品(部隊整備及び定期修理用)INDICATOR ほか10件 11,929,248円 |
2016年10月18日 | 磁探信号処理装置テストベンチの不具合調査 1,069,200円 |
2016年10月07日 | 自動磁探補償装置 AN/ASA-65(V)5 ほか 定期修理1式 12,592,152円 |
2016年10月06日 | 目標位置指示装置HKX-1用モジュール等修理1式 1,762,560円 |
2016年10月06日 | BALL SCREW ACTUATOR等 オーバーホール作業1式 6,551,280円 |
2016年10月05日 | 油圧機(25GPM)の修理1 式 1,931,040円 |
2016年10月04日 | 潜水艦磁気処理実験装置(応力印加装置)の点検整備 2,951,640円 |
2016年10月04日 | 航空機用部品(国産)PREHEAT DUCT ほか8件9 件 3,186,000円 |
2016年09月29日 | ディスプレー・テストセットJ/USM-148 技術指令書変更草案作成 一式 1,324,080円 |
2016年09月29日 | CADCベンチ・テスターJ/USM-155 技術指令書変更草案作成 一式 2,085,480円 |
2016年09月27日 | AIR CONDITIONER 限定修理外1品目1式 7,652,880円 |
2016年09月16日 | AIR CYCLE MACHINE外21品目 243,540,000円 |
2016年09月16日 | BODY外3品目 33,311,520円 |
2016年09月16日 | SWITCH 196EA 23,982,480円 |
2016年09月16日 | REEL 5,297,400円 |
2016年09月16日 | EXCHANGER外23品目 160,807,680円 |
2016年09月16日 | VALVE外28品目 238,680,000円 |
2016年09月16日 | REGULATOR外18品目 333,180,000円 |
2016年09月15日 | HEAT EXCHANGER外4品目 70,884,720円 |
2016年09月15日 | VALVE ASSY外16品目 394,850,592円 |
2016年09月15日 | RELIEF VALVE外3品目 4,512,240円 |
2016年09月14日 | ACTUATOR 7EA 18,990,720円 |
2016年09月14日 | CONTROL外2品目 84,268,080円 |
2016年09月14日 | VALVE外16品目 31,644,000円 |
2016年09月14日 | BLANKET外12品目 441,857,268円 |
2016年09月14日 | VALVE外43品目 290,762,028円 |
2016年09月14日 | VALVE外16品目 119,556,000円 |
2016年09月13日 | VALVE ASSY外13品目 80,136,000円 |
2016年09月09日 | STARTER外10品目 55,296,000円 |
2016年09月09日 | SEPARATOR外11品目 25,056,000円 |
2016年09月09日 | GEARBOX外1品目 120,744,000円 |
2016年09月09日 | VALVE ASSY外15品目 142,560,000円 |
2016年09月08日 | CLUTCH 30EA 134,589,600円 |
2016年09月07日 | HOSE ASSY外2品目 23,745,960円 |
2016年09月06日 | 不具合の調査・検討等役務 5,248,800円 |
2016年09月06日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 定期修理外5品目1式 118,260,000円 |
2016年09月06日 | CASE ASSY外78品目 219,757,622円 |
2016年09月02日 | CLUTCH外1品目 137,473,200円 |
2016年08月31日 | AIR CONDITIONER 定期修理1EA 22,177,800円 |
2016年08月31日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 修理外2品目1式 17,046,720円 |
2016年08月31日 | AIR CONDITIONER 定期修理1EA 14,537,880円 |
2016年08月31日 | SOLENOID外12品目 11,544,120円 |
2016年08月31日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 修理1EA 4,553,280円 |
2016年08月31日 | AIR CONDITIONER 修理1EA 4,736,880円 |
2016年08月31日 | AIR CONDITIONER 修理外2品目1式 14,673,960円 |
2016年08月29日 | BASE PNEUMATIC外2品目1式 7,884,000円 |
2016年08月29日 | COALESCER 60EA 3,661,200円 |
2016年08月29日 | COALESCER外1品目 13,080,960円 |
2016年08月26日 | HOUSING ASSY外6品目 8,063,280円 |
2016年08月25日 | NOZZLE ASSY外2品目 81,507,600円 |
2016年08月25日 | GEARBOX外14品目 105,948,000円 |
2016年08月24日 | BODY ASSY外2品目 6,153,840円 |
2016年08月23日 | 第2補給処システム管理業務の会社技術利用(AIR CYCLE MACHINE) 26,784,000円 |
2016年08月10日 | BRAKE UNIT ASSY外8品目 9,288,000円 |
2016年08月10日 | SWITCH,PRESSURE外4品目1式 4,958,280円 |
2016年08月10日 | CHAMBER,DECOMPRESSION ALTITUDE 定期修理1SE 16,789,680円 |
2016年08月10日 | GENERATING EQUIPMENT CENTRIFUGE 定期修理1SE 16,839,360円 |
2016年08月10日 | VALVE外7品目 27,972,000円 |
2016年08月10日 | GEARBOX外5品目 126,036,000円 |
2016年08月09日 | COVER ASSY外6品目 11,480,400円 |
2016年08月09日 | CONTROL FUEL外10品目 44,496,000円 |
2016年08月08日 | GEARBOX外1品目 162,540,000円 |
2016年08月04日 | ACTUATOR外6品目 26,352,000円 |
2016年07月29日 | VALVE外7品目 35,316,000円 |
2016年07月28日 | MAIN GEARDOOR JACK外1品目 3,045,600円 |
2016年07月28日 | CONTROLLER 1,986,120円 |
2016年07月26日 | VALVE ASSY外6品目 65,124,000円 |
2016年07月26日 | GEARBOX外8品目 81,432,000円 |
2016年07月20日 | AIR CYCLE MACHINE外16品目 84,780,000円 |
2016年07月20日 | アウタ付ワイヤー・ロープ外12品目1式 3,286,440円 |
2016年07月15日 | STARTER外8品目 21,708,000円 |
2016年07月14日 | BOWL外1品目1式 3,143,880円 |
2016年07月13日 | STARTER外4品目 12,528,000円 |
2016年07月13日 | VALVE外9品目 27,756,000円 |
2016年07月12日 | エアー・データ・システム ADS-81/82() 構成品修理 11EA 5,091,120円 |
2016年07月11日 | SOLENOID ASSY外2品目 51,431,760円 |
2016年07月07日 | VALVE外5品目 3,780,000円 |
2016年07月07日 | VALVE ASSY外9品目 62,640,000円 |
2016年07月07日 | STARTER 5,547,960円 |
2016年07月06日 | 脳機能解析システム(脳機能可視化装置用) 7,236,000円 |
2016年07月05日 | VALVE外1品目 23,976,000円 |
2016年07月04日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 改修 9EA 7,403,400円 |
2016年06月30日 | CYLINDER 修理6EA 1,694,520円 |
2016年06月30日 | エアー・データ・システム ADS-81/82() 構成品修理 26EA 26,698,680円 |
2016年06月30日 | 対気諸元計算装置 A/A24G-30 構成品修理 1EA 8,739,360円 |
2016年06月30日 | CRT ASSEMBLY外3品目 45EA 26,043,120円 |
2016年06月30日 | OUTRIGGER ASSY 修理7EA 5,360,040円 |
2016年06月29日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 11EA 58,706,640円 |
2016年06月29日 | WASHER外7品目 13,641,134円 |
2016年06月29日 | 対気諸元計算装置J/A24G-1() 構成品修理 5EA 7,759,800円 |
2016年06月29日 | REFLECTOR外6品目 45EA 61,970,400円 |
2016年06月29日 | エアー・データ・システム ADS-81/82() 構成品修理 2EA 3,869,640円 |
2016年06月29日 | CIRCUIT CARD ASSY外7品目 59EA 38,464,200円 |
2016年06月28日 | エアー・データ・システム ADS-81/82() 構成品修理 11EA 11,455,560円 |
2016年06月28日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 64EA 154,472,400円 |
2016年06月28日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1() 構成品修理 19EA 54,462,240円 |
2016年06月28日 | SUPPORT ASSY外14品目 17,280,000円 |
2016年06月28日 | ORIFICE外6品目 6,361,200円 |
2016年06月24日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 1EA 5,367,600円 |
2016年06月24日 | 対気諸元計算装置 J/A24G-1() 構成品修理 5EA 9,547,200円 |
2016年06月24日 | CADCベンチ・テスター J/USM-155 構成品修理 1EA 5,125,680円 |
2016年06月23日 | COMBINER GLASS ASSEMBLY 7EA 50,816,430円 |
2016年06月22日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 限定修理1SE 2,246,400円 |
2016年06月22日 | GENERATING EQUIPMENT CENTRIFUGE 定期修理1SE 2,235,600円 |
2016年06月22日 | PNEUMATIC COMPONENT 修理10EA 26,956,800円 |
2016年06月22日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 定期修理1SE 3,135,240円 |
2016年06月22日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 限定修理1SE 1,115,640円 |
2016年06月22日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 定期修理1EA 2,995,920円 |
2016年06月21日 | PNEUMATIC COMPONENT 修理4EA 10,782,720円 |
2016年06月13日 | TRUCK,HAND,NITROGEN 点検修理1EA 1,244,160円 |
2016年06月10日 | RESISTOR,VARIABLE,WIRE WOUND 6EA 5,809,320円 |
2016年06月10日 | RESISTOR外2品目 62EA 57,535,920円 |
2016年06月09日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 修理(診断後)1SE 1,006,560円 |
2016年05月26日 | 不具合の調査・検討等役務 5,983,200円 |
2016年05月16日 | GENERATING EQUIPMENT CENTRIFUGE 定期修理1SE 64,163,880円 |
2016年04月14日 | 不具合の調査・検討等役務 一式 8,926,200円 |
2016年04月01日 | GENERATING EQUIPMENT CENTRIFUGE 現地整備1SE 3,616,920円 |
2016年03月31日 | エアー・データ・システム ADS-81/82()構成品修理 5EA 5,140,800円 |
2016年03月31日 | 対気諸元計算装置 J/A24G-1( ) 構成品修理 23EA 139,320,000円 |
2016年03月31日 | BODY外4品目 一式 10,230,840円 |
2016年03月31日 | TURBINE外1品目 一式 38,233,080円 |
2016年03月31日 | US-2用機体初度部品(技術提携国産) 14,575,680円 |
2016年03月31日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 32EA 94,068,000円 |
2016年03月31日 | エアー・データ・システム ADS-81/82( )構成品修理 7EA 7,182,000円 |
2016年03月31日 | ヘッド・アップ・ディスプレー AN/AVQ-20 構成品修理 9EA 22,896,000円 |
2016年03月31日 | F-15J/DJ近代化改修用初度部品(国産・その11) 12,158,964円 |
2016年03月31日 | LIGHT 40EA 5,745,600円 |
2016年03月31日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1() 構成品修理 4EA 3,780,000円 |
2016年03月31日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 15EA 17,539,200円 |
2016年03月31日 | F-15J/DJ近代化改修用初度部品(国産・その24) 36,288円 |
2016年03月30日 | RING 140EA 11,340,000円 |
2016年03月29日 | DUCT 10EA 2,797,200円 |
2016年03月29日 | RACE,CLUTCH,INNER外1品目 一式 4,019,760円 |
2016年03月29日 | 不具合の調査・検討等役務 一式 3,164,400円 |
2016年03月24日 | HOUSING外16品目 一式 23,528,880円 |
2016年03月23日 | RESISTOR外3品目 30EA 30,444,120円 |
2016年03月17日 | SENSOR外1品目 一式 4,244,400円 |
2016年03月17日 | 高揚力システム駆動系統調整用器材 10,876,680円 |
2016年03月17日 | BODY 67EA 24,312,960円 |
2016年03月17日 | VALVE 4EA 2,600,640円 |
2016年03月17日 | SHAFT外3品目 一式 3,011,040円 |
2016年03月10日 | HOUSING ASSY外6品目 一式 12,033,360円 |
2016年03月09日 | SFCC/ST-ACCリギング器材 11,014,920円 |
2016年03月08日 | GEAR,SPUR外2品目 一式 10,308,600円 |
2016年03月07日 | F-15航空機用維持部品(国産・その2) 602,056,800円 |
2016年02月29日 | 油圧機 24GPM(AC440V) 17,928,000円 |
2016年02月26日 | 磁探信号処理装置(HSA-105C・SH-60K用)(初度費) 25,812,000円 |
2016年02月26日 | 磁探信号処理装置(HSA-105C・SH-60K用) 20,952,000円 |
2016年02月22日 | F-4航空機用維持部品(国産・その2) 336,319,560円 |
2016年02月18日 | SHOCK ABSORBER外2品目 一式 2,691,360円 |
2016年02月18日 | ピストン・リング外5品目1式 6,035,040円 |
2016年02月15日 | REGULATOR AIR PRESSURE外13品目 一式 32,616,000円 |
2016年02月10日 | REGULATOR外2品目 一式 1,447,200円 |
2016年02月09日 | F-15航空機用維持部品(国産) 246,402,000円 |
2016年01月28日 | 磁探信号処理装置用テストベンチ付加器(初度費) 7,797,600円 |
2016年01月28日 | レーダ液冷用地上冷却及び充填/排出装置 32,508,000円 |
2016年01月28日 | 磁探信号処理装置用テストベンチ付加器 15,228,000円 |
2016年01月21日 | スタビライザ・アクチュエータ・センサ位置測定器材 5,335,200円 |
2016年01月18日 | SOLENOID外6品目 一式 22,461,840円 |
2016年01月08日 | 電子管 734-36135-01(目標位置表示装置) 3,944,160円 |
2015年12月25日 | TEST STAND,PNEUMATIC SYSTEM 点検修理(診断後)1EA 2,106,000円 |
2015年12月25日 | VALVE ASSY外4品目 一式 20,412,000円 |
2015年12月25日 | VALVE外18品目 一式 57,132,000円 |
2015年12月24日 | VALVE外15品目 一式 61,560,000円 |
2015年12月24日 | VALVE外9品目 一式 16,880,400円 |
2015年12月22日 | HOUSING外4品目 一式 8,046,108円 |
2015年12月22日 | CONDENSER外1品目 一式 72,360,000円 |
2015年12月21日 | CONTROL FUEL外16品目 一式 144,828,000円 |
2015年12月18日 | VALVE ASSY 16EA 12,977,280円 |
2015年12月18日 | SWITCH外1品目 一式 2,936,520円 |
2015年12月18日 | BEVEL GEAR外1品目 一式 3,522,960円 |
2015年12月18日 | HOUSING ASSY外1品目 一式 2,434,320円 |
2015年12月17日 | VALVE外20品目 一式 121,541,040円 |
2015年12月16日 | SOLENOID ASSY外2品目 一式 51,914,520円 |
2015年12月16日 | INSULATION外1品目 一式 4,714,092円 |
2015年12月16日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 28EA 111,348,000円 |
2015年12月15日 | HOUSING ASSY,SIGNAL DATA PROCE外4品目 18EA 23,824,800円 |
2015年12月14日 | VALVE ASSY外7品目 一式 49,410,000円 |
2015年12月11日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 診断1SE 1,317,600円 |
2015年12月09日 | 空気用フィルタ・エレメント外13品目1式 2,572,560円 |
2015年12月03日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 定期修理1EA 12,058,200円 |
2015年12月02日 | GEARBOX外11品目 一式 156,924,000円 |
2015年11月19日 | ROLL DECELERATION UNIT 修理外1品目1式 10,000,800円 |
2015年11月19日 | CHAMBER,DECOMPRESSION ALTITUDE 定期修理1SE 13,521,600円 |
2015年11月19日 | 不具合の調査・検討等役務 一式 3,693,600円 |
2015年11月18日 | 地磁気観測用三軸磁力計の購入 5,693,760円 |
2015年11月18日 | 電子管29245-79 48,016,800円 |
2015年11月10日 | ACTUATOR外6品目 一式 40,748,400円 |
2015年11月10日 | CYLINDER 修理外1品目1式 5,239,080円 |
2015年11月10日 | GEARBOX外9品目 一式 56,916,000円 |
2015年10月29日 | TURBINE外5品目 一式 10,540,800円 |
2015年09月30日 | PLENUM ASSY外3品目 一式 22,572,000円 |
2015年09月30日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 定期修理外1品目1式 32,038,200円 |
2015年09月30日 | CADCベンチ・テスター J/USM-155() 修理 1SE 45,665,640円 |
2015年09月30日 | VALVE外13品目 一式 130,248,000円 |
2015年09月30日 | BRACKET外19品目 一式 165,456,000円 |
2015年09月30日 | ディスプレー・テストセット J/USM-148()修理 1EA 76,348,440円 |
2015年09月30日 | COOLER外16品目 一式 461,160,000円 |
2015年09月30日 | GASKET外23品目 一式 765,396,000円 |
2015年09月30日 | VALVE外1品目 一式 6,426,000円 |
2015年09月30日 | SHAFT外26品目 一式 150,336,000円 |
2015年09月30日 | GENERATING EQUIPMENT CENTRIFUGE 定期修理1SE 16,818,840円 |
2015年09月30日 | BODY ASSY外28品目 一式 254,232,000円 |
2015年09月30日 | COALESCER外22品目 一式 46,332,000円 |
2015年09月30日 | VALVE 一式 36,072,000円 |
2015年09月29日 | TURBINE外7品目 一式 123,120,000円 |
2015年09月29日 | CONTROL COLUMN外1品目 一式 15,174,000円 |
2015年09月29日 | VALVE 42EA 32,076,000円 |
2015年09月29日 | BODY ASSY外43品目 一式 125,280,000円 |
2015年09月29日 | HOSE ASSY外5品目1式 15,614,208円 |
2015年09月29日 | VALVE 一式 22,680,000円 |
2015年09月29日 | GEARBOX外14品目 一式 225,720,000円 |
2015年09月28日 | ACCELERATION METER 検定4EA 1,029,240円 |
2015年09月28日 | VALVE外6品目 一式 41,364,000円 |
2015年09月28日 | VALVE外1品目 一式 123,552,000円 |
2015年09月24日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 定期修理外1品目1式 29,511,000円 |
2015年09月24日 | TEST STAND,HYDRAULIC SYSTEM 定期修理外3品目1式 99,684,000円 |
2015年09月24日 | IDSコンピュータ 修理1EA 3,460,320円 |
2015年09月24日 | TEST STAND,PNEUMATIC SYSTEM 点検修理1EA 5,841,720円 |
2015年09月17日 | SYNCHRO,TRANSMITTER外1品目 34EA 8,534,160円 |
2015年09月17日 | 第2補給処システム管理業務の会社技術利用(AIR CYCLE MACHINE) 35,802,000円 |
2015年09月16日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 15EA 45,554,400円 |
2015年09月10日 | OUTRIGGER ASSY 修理外1品目1式 6,467,040円 |
2015年09月03日 | PNEUMATIC COMPONENT 修理25EA 70,767,000円 |
2015年08月28日 | AIR DATA COMPUTER 42400-229-1 修理 1EA 6,296,400円 |
2015年08月28日 | COMBINER GLASS ASSEMBLY外1品目 15EA 86,940,000円 |
2015年08月28日 | エアー・データ・システム ADS-81/82( ) 構成品修理 20EA 20,682,000円 |
2015年08月28日 | RADAR DISPLAY J/AVQ-3 構成品修理 25EA 29,959,200円 |
2015年08月28日 | F-2 ヘッド・アップ・ディスプレイ・セット 構成品修理 11EA 52,369,200円 |
2015年08月26日 | X線撮影装置(医務室用) 12,916,800円 |
2015年08月04日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 定期修理1EA 6,004,800円 |
2015年08月04日 | CHAMBER,DECOMPRESSION 定期修理1SE 6,091,200円 |
2015年07月23日 | BODY外4品目1式 3,622,752円 |
2015年07月22日 | BRACKET外19品目2EA 43,329,708円 |
2015年07月01日 | 不具合の調査・検討等役務 一式 2,948,400円 |
2015年06月30日 | 対気諸元計算機 NCPK-2A/A24G 構成品修理 2EA 9,936,000円 |
2015年06月30日 | ヘッド アップ ディスプレイ J/AVQ-1( ) 構成品修理 24EA 25,478,280円 |
2015年06月26日 | 対気諸元計算装置 J/A24G-1( ) 構成品修理 外1件 27EA 91,962,000円 |
2015年06月26日 | 対気諸元計算装置 A/A24G-30 構成品修理 7EA 54,594,000円 |
2015年06月22日 | KNOB外6品目 22EA 2,939,781円 |
2015年06月22日 | MOUNTING BASE,ELECTRICAL EQUIP外4品目 91EA 49,572,000円 |
2015年06月18日 | 不具合の調査・検討等役務 一式 2,095,200円 |
2015年06月17日 | GENERATING EQUIPMENT CENTRIFUGE 定期修理1SE 8,588,160円 |
2015年06月03日 | タングステン棒外2品目1式 2,134,792円 |
2015年05月26日 | 不具合の調査・検討等役務 一式 6,566,400円 |
2015年05月15日 | POWER UNIT,MAINTENANCE,TRUCK 点検修理(診断後)1EA 4,262,760円 |
2015年04月14日 | SPECTROMETER,DIFFRACTION GRATING 現地整備1式 1,836,000円 |
2015年04月13日 | GENERATING EQUIPMENT CENTRIFUG1SE 6,435,720円 |
株式会社島津製作所の補助金情報(1件)
| 期間 公表組織 |
活動名称 / 活動対象 / 金額 |
|---|---|
2020年12月23日 | 感染症対策関連物資生産設備補助事業(感染症検査キット等生産設備補助) 126,605,878円 |
株式会社島津製作所の表彰情報(8件)
| 日付 公表組織 |
活動名称 / 活動対象 |
|---|---|
2024年09月16日 | なでしこ銘柄-認定 2016 |
2024年09月16日 | 次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2009 |
2024年09月16日 | えるぼし-認定 |
2021年04月16日 | 知財功労賞(知的財産権制度活用優良企業等表彰) 知財活用企業(特許) 知的財産権制度を有効に活用しその発展に寄与した企業等 |
2017年12月05日 | ポジティブ・アクション |
2017年12月05日 | 次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2009年 |
2017年12月04日 | 女性の活躍推進企業 |
2017年12月04日 | 両立支援のひろば 一般事業主行動計画公表 |
株式会社島津製作所の届出情報(9件)
| 日付 公表組織 |
活動名称 / 活動対象 |
|---|---|
2023年10月01日 | DX認定制度 - |
2023年03月28日 | 競争参加資格 - 企業(施設課経理係) |
2021年04月01日 | 競争参加資格 - 企業(施設課経理係) |
2019年04月01日 | 競争参加資格 - 企業(施設課経理係) |
2017年11月29日 | 支店:株式会社島津製作所 三条工場 PRTR届出データ / PRTR - 精密機械器具製造業(経済産業大臣) |
2017年11月29日 | 支店:株式会社島津製作所 瀬田事業所 PRTR届出データ / PRTR - 精密機械器具製造業(経済産業大臣) |
2017年01月12日 | 計量法届出製造事業者 - 濃度計第一類 |
2017年01月12日 | 計量法届出製造事業者 - 質量計第一類 |
- | 代表者:代表取締役 山本 靖則 全省庁統一資格 / - |
株式会社島津製作所の特許情報(2535件)
| 日付 公表組織 / 種類 |
活動対象 / 分類等 |
|---|---|
2023年03月07日 特許庁 / 特許 | サイクロイド質量分析装置及びその分解能の調節方法 FI分類-H01J 49/32 800 |
2022年09月15日 特許庁 / 特許 | 送液ユニット、ならびに、液体クロマトグラフィ分析システムおよびその制御方法 FI分類-G01N 30/06 C, FI分類-G01N 30/16 Z, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/26 Z |
2022年07月08日 特許庁 / 特許 | 撮像システム、および撮像方法 FI分類-H04N 23/63, FI分類-H04N 7/18 D, FI分類-H04N 23/60 500 |
2022年06月24日 特許庁 / 特許 | 容器の閉栓装置 FI分類-G01N 35/02 B |
2022年04月01日 特許庁 / 特許 | イオン移動度分析装置 FI分類-H01J 49/30, FI分類-G01N 27/623, FI分類-H01J 49/06 200, FI分類-H01J 49/42 150 |
2022年03月25日 特許庁 / 特許 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 FI分類-G01N 29/24, FI分類-G01N 21/892 B |
2022年03月09日 特許庁 / 特許 | 試験用シートおよび計測方法 FI分類-G01L 1/00 B, FI分類-G01L 1/24 Z |
2022年03月04日 特許庁 / 特許 | 睡眠時動画解析方法および睡眠時動画解析装置 FI分類-G06V 10/70, FI分類-G06T 7/70 Z, FI分類-A61B 5/11 120, FI分類-A61B 5/16 130, FI分類-A61B 5/107 300, FI分類-G06T 7/00 660 B |
2022年01月21日 特許庁 / 特許 | 共培養装置、共培養システム及び共培養方法 FI分類-C12M 1/00 D, FI分類-C12N 1/00 C |
2021年12月23日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/02 500, FI分類-H01J 49/06 300, FI分類-H01J 49/42 150 |
2021年12月22日 特許庁 / 特許 | 応力発光測定方法および応力発光測定装置 FI分類-G01L 1/00 E |
2021年12月21日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01J 3/45, FI分類-H02K 33/18 B |
2021年12月08日 特許庁 / 特許 | 光学検査装置及び光学検査方法 FI分類-G01N 21/3563 |
2021年12月01日 特許庁 / 特許 | 分析方法 FI分類-G01N 27/62 F |
2021年10月29日 特許庁 / 特許 | ワイヤロープ検査装置、および、ワイヤロープ検査システム FI分類-G01N 27/82, FI分類-B66B 5/02 C, FI分類-B66B 7/12 Z |
2021年10月15日 特許庁 / 特許 | データ計測システムおよび計測データのデータ処理を実行する方法 FI分類-H04L 7/04, FI分類-G08C 15/06 H |
2021年10月08日 特許庁 / 特許 | 脱脂炉 FI分類-F27B 17/00 C, FI分類-F27D 19/00 A, FI分類-F27D 21/00 A, FI分類-F27D 17/00 104 G |
2021年09月28日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-H01J 49/00 450 |
2021年09月22日 特許庁 / 特許 | 有機合成化合物の質量分析法 FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-H01J 49/16 400 |
2021年09月07日 特許庁 / 特許 | 容器温調装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 D, FI分類-C12M 1/38 Z, FI分類-C12N 15/09 Z |
2021年09月01日 特許庁 / 特許 | イオンガイド装置及びイオンガイド方法 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/06 500 |
2021年08月24日 特許庁 / 特許 | アシルカルニチン分析方法及びアシルカルニチン分析装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/72 C |
2021年08月03日 特許庁 / 特許 | 分光測定装置 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/02 C |
2021年07月30日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプの堆積物量推定装置 FI分類-F04D 19/04 H |
2021年07月30日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法及び質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/42 400 |
2021年07月29日 特許庁 / 特許 | 蛍光X線分析装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 1/17 H, FI分類-G01T 1/36 B |
2021年07月15日 特許庁 / 特許 | 検査装置 FI分類-B01J 20/291, FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 31/00 D |
2021年07月15日 特許庁 / 特許 | 検査装置 FI分類-B01J 20/285, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/74 F, FI分類-G01N 30/88 C, FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 33/18 B |
2021年07月07日 特許庁 / 特許 | 細胞培養容器及び細胞培養システム FI分類-C12N 1/00, FI分類-C12Q 1/06, FI分類-C12M 1/00 C, FI分類-C12M 1/34 D |
2021年07月07日 特許庁 / 特許 | 姿勢検出装置、姿勢検出方法および寝相判定方法 FI分類-G06T 7/70 Z, FI分類-G06T 7/00 350 B |
2021年07月07日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置 FI分類-G01N 23/041 |
2021年06月30日 特許庁 / 特許 | 光計測ユニットおよびプローブユニットホルダ FI分類-A61B 5/1455, FI分類-A61B 10/00 E |
2021年06月18日 特許庁 / 特許 | 感染症検査方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-G06Q 50/26, FI分類-G16H 50/80 |
2021年06月18日 特許庁 / 特許 | 検査方法及び試料キット FI分類-G16H 50/80 |
2021年06月09日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析方法 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 E |
2021年06月03日 特許庁 / 特許 | 識別器の生成方法及び装置 FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 L, FI分類-G01N 30/86 Q, FI分類-G06N 20/00 130 |
2021年05月28日 特許庁 / 特許 | 感性計測方法および感性計測システム FI分類-A61B 5/16 100 |
2021年05月21日 特許庁 / 特許 | データ解析装置、データ解析方法、学習済みモデルの生成方法、システム、及びプログラム FI分類-G06N 20/00, FI分類-G01N 21/3563 |
2021年05月18日 特許庁 / 特許 | 原子吸光分光光度計 FI分類-G01N 21/31 610 A |
2021年05月18日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2021年05月06日 特許庁 / 特許 | 検査装置 FI分類-C01B 13/10 Z, FI分類-G01N 21/63 Z, FI分類-G01N 27/06 Z, FI分類-H01J 65/00 B |
2021年05月06日 特許庁 / 特許 | 検査装置および検査方法 FI分類-G01N 27/06 A, FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 33/18 B |
2021年05月06日 特許庁 / 特許 | 検査装置および導電率計 FI分類-G01N 27/06 A |
2021年04月27日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-H01J 49/14 700 |
2021年04月26日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/06 300, FI分類-H01J 49/06 800 |
2021年04月26日 特許庁 / 特許 | 分析作業支援装置及び分析作業支援ソフトウェア FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-H01J 49/00 310 |
2021年04月26日 特許庁 / 特許 | ラジカル発生装置及びイオン分析装置 FI分類-H05H 1/30, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/42 150 |
2021年04月16日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置および画像処理方法 FI分類-A61B 6/00 333, FI分類-A61B 6/00 350 D |
2021年04月12日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-H02P 8/38 |
2021年04月01日 特許庁 / 特許 | 熱分析装置 FI分類-G01N 25/00 P, FI分類-G01N 25/20 G |
2021年03月31日 特許庁 / 特許 | ピークトラッキング装置、ピークトラッキング方法およびピークトラッキングプログラム FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 F, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 M |
2021年03月30日 特許庁 / 特許 | 分析データ管理システムにおける教師用データ生成方法 FI分類-G06N 20/00 130 |
2021年03月29日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/42 400 |
2021年03月26日 特許庁 / 特許 | 検査装置、検査システム、及び検査方法 FI分類-G01N 21/35, FI分類-G01N 33/44 |
2021年03月26日 特許庁 / 特許 | ひずみ計測装置およびひずみ計測方法 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01L 1/00 E |
2021年03月26日 特許庁 / 特許 | 複合計測統合ビューアおよびプログラム FI分類-G01N 30/86 D |
2021年03月24日 特許庁 / 特許 | 複合分析データ管理システム、複合分析データ管理方法および複合分析データ管理プログラム FI分類-G06F 21/62 318 |
2021年03月19日 特許庁 / 特許 | 顕微ラマン分光測定装置、及び顕微ラマン分光測定装置の調整方法 FI分類-G01N 21/65 |
2021年03月18日 特許庁 / 特許 | 分取液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/80 F, FI分類-G01N 30/80 Z |
2021年03月18日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/16 400 |
2021年03月12日 特許庁 / 特許 | ワイヤロープ検査装置およびワイヤロープ検査システム FI分類-G01N 27/82 |
2021年03月09日 特許庁 / 特許 | 試料精製装置、分析システム FI分類-B03B 5/30, FI分類-G01N 1/34, FI分類-G01N 1/16 B |
2021年03月04日 特許庁 / 特許 | 試験機特性評価方法、試験機特性評価装置、及び材料試験機 FI分類-G01N 3/34 A |
2021年03月04日 特許庁 / 特許 | 液圧パワーパッケージ FI分類-B60P 1/44, FI分類-B60J 7/08 P, FI分類-F04B 49/06 311 |
2021年03月04日 特許庁 / 特許 | データ処理装置、データ処理方法、データ処理プログラムおよび分析装置 FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 C, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 E |
2021年03月04日 特許庁 / 特許 | 文書検索の性能を評価する方法、システム、および装置 FI分類-G06F 16/30 |
2021年03月02日 特許庁 / 特許 | 全有機体炭素測定装置及び全有機体炭素測定方法 FI分類-G01N 31/10, FI分類-G01N 31/00 D |
2021年03月01日 特許庁 / 特許 | 光計測装置およびプローブホルダセット FI分類-A61B 10/00 E |
2021年02月26日 特許庁 / 特許 | フーリエ変換赤外分光光度計 FI分類-G01J 3/45 |
2021年02月26日 特許庁 / 特許 | レーザ光強度調整方法及びレーザ光強度調整装置 FI分類-G02B 26/00, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/64 B, FI分類-G02B 26/02 G, FI分類-H01J 49/16 400 |
2021年02月24日 特許庁 / 特許 | 治療支援システムおよび治療支援装置 FI分類-A61N 5/067, FI分類-A61N 5/06 Z, FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-G01N 21/64 Z |
2021年02月22日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置およびX線撮影方法 FI分類-G01N 23/046, FI分類-A61B 6/03 373 |
2021年02月22日 特許庁 / 特許 | ピークトラッキング装置、ピークトラッキング方法およびピークトラッキングプログラム FI分類-G01N 21/17 D, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 H |
2021年02月16日 特許庁 / 特許 | 放射線画像生成方法および放射線画像撮影装置 FI分類-G01N 23/046, FI分類-G06T 1/00 290 B |
2021年02月04日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-G01N 30/72 F, FI分類-H01J 49/04 950 |
2021年02月03日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ質量分析装置を用いた一次代謝物の分析方法 FI分類-B01J 20/287, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/88 E |
2021年02月03日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ用検出器 FI分類-G01N 27/08, FI分類-G01N 30/64 A |
2021年02月03日 特許庁 / 特許 | 細胞画像解析装置 FI分類-G06V 10/776, FI分類-G01N 21/17 A, FI分類-G06T 7/00 630, FI分類-G06T 7/00 350 B |
2021年02月02日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ用検出器 FI分類-G01N 30/64 A |
2021年01月28日 特許庁 / 特許 | 高周波電源装置 FI分類-H01F 30/08, FI分類-H02M 7/48 A, FI分類-H02M 7/48 Z, FI分類-H01F 30/10 S |
2021年01月28日 特許庁 / 特許 | ピーク解析方法及び波形処理装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 M |
2021年01月25日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 D |
2021年01月22日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 E |
2021年01月22日 特許庁 / 特許 | 2つの変数により定まるデータの解析方法 FI分類-G01N 21/359, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/72 C |
2021年01月22日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C |
2021年01月19日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2021年01月18日 特許庁 / 特許 | 分析機器管理装置 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 P, FI分類-G01N 30/86 V |
2021年01月14日 特許庁 / 特許 | 試験装置 FI分類-G01N 3/20 |
2021年01月14日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置およびX線透視撮影方法 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2021年01月13日 特許庁 / 特許 | 波形情報推定方法及び装置、並びに、ピーク波形処理方法及び装置 FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 F, FI分類-G01N 30/86 G |
2021年01月12日 特許庁 / 特許 | 試験機用のクランプ構造、および、試験機 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 3/02 E |
2021年01月08日 特許庁 / 特許 | 光源装置、プロジェクタ、機械加工装置、光源ユニットおよび光源装置の調整方法 FI分類-G02B 6/32, FI分類-G02B 6/42, FI分類-H01S 5/022, FI分類-F21Y 105:10, FI分類-F21Y 115:30, FI分類-G03B 21/14 A, FI分類-H01S 5/02212, FI分類-H01S 5/02251, FI分類-F21S 2/00 312, FI分類-F21V 5/04 100, FI分類-F21V 8/00 200, FI分類-F21V 19/00 130, FI分類-F21V 19/00 231 |
2021年01月08日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフィ分析システム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/86 P |
2021年01月06日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置の機差補正方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-H01J 49/00 090, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/16 400 |
2021年01月05日 特許庁 / 特許 | 問診情報取得システム、問診情報取得方法、および、コンピュータプログラム FI分類-G16H 10/60 |
2020年12月25日 特許庁 / 特許 | X線撮像装置およびX線撮像装置用位置ずれ検知ユニット FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 320 M |
2020年12月24日 特許庁 / 特許 | 産業用X線撮像装置の劣化判定方法、及び劣化判定装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01T 7/00 A |
2020年12月24日 特許庁 / 特許 | 遠心式流動場分画装置 FI分類-B03B 5/28 A, FI分類-B04B 5/00 Z, FI分類-B04B 7/06 Z |
2020年12月23日 特許庁 / 特許 | 医用画像撮影システム、医用画像撮影方法、および、医用画像撮影プログラム FI分類-G16H 30/00, FI分類-G16H 40/20 |
2020年12月21日 特許庁 / 特許 | 波形処理支援装置および波形処理支援方法 FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 G |
2020年12月15日 特許庁 / 特許 | 電気泳動分析データ処理装置及びデータ処理プログラム FI分類-G01N 27/447 325 A, FI分類-G01N 27/447 325 D |
2020年12月15日 特許庁 / 特許 | 試料前処理装置 FI分類-G01N 35/10 B, FI分類-G01N 35/10 C |
2020年12月15日 特許庁 / 特許 | 自動試料注入装置 FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 35/10 F |
2020年12月10日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプの解析装置、真空ポンプおよび解析プログラム FI分類-F04B 37/16 A, FI分類-F04D 19/04 H |
2020年12月07日 特許庁 / 特許 | 粒状物質をイムノクロマトグラフィー法によって検出する方法及びそのためのキット FI分類-G01N 33/543 521, FI分類-G01N 33/543 501 J, FI分類-G01N 33/543 525 U, FI分類-G01N 33/543 525 W |
2020年12月07日 特許庁 / 特許 | 蛍光X線分析装置 FI分類-G01N 23/223 |
2020年12月04日 特許庁 / 特許 | データ処理装置、分析装置およびデータ処理方法 FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 15/02 F |
2020年12月04日 特許庁 / 特許 | 直交加速飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/06 800, FI分類-H01J 49/40 100 |
2020年12月03日 特許庁 / 特許 | 自動試料注入装置、及び自動試料注入装置を制御するための方法 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/04 A |
2020年12月02日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/06 |
2020年12月02日 特許庁 / 特許 | X線撮像装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G21K 5/00 S, FI分類-G21K 5/02 X |
2020年12月01日 特許庁 / 特許 | モニタリングシステム FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 Q, FI分類-G01N 30/86 V, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2020年12月01日 特許庁 / 特許 | 球座圧盤、および、材料試験機 FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01N 3/04 P |
2020年11月30日 特許庁 / 特許 | ガス分析装置およびガス分析装置の状態検出方法 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/04 P, FI分類-G01N 30/86 J, FI分類-G01N 30/86 P, FI分類-G01N 30/86 Q |
2020年11月27日 特許庁 / 特許 | 気体試料導入装置、および、気体試料導入装置のリークチェック方法 FI分類-G01M 3/26 M, FI分類-G01N 1/22 W, FI分類-G01N 1/00 101 R |
2020年11月26日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用接続アセンブリ FI分類-G01N 30/26 N |
2020年11月26日 特許庁 / 特許 | レーザー脱離イオン化質量分析装置及びレーザーパワー調整方法 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/16 400 |
2020年11月19日 特許庁 / 特許 | 表面分析装置 FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252, FI分類-G06T 7/00 610 |
2020年11月18日 特許庁 / 特許 | 試料導入装置 FI分類-G01N 30/04 A, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 35/04 A, FI分類-G01N 35/04 G |
2020年11月18日 特許庁 / 特許 | X線検査装置、X線検査装置の管理用サーバおよびX線検査装置の管理方法 FI分類-G16Y 10/25, FI分類-G16Y 20/20, FI分類-G16Y 40/40, FI分類-G01N 23/046 |
2020年11月18日 特許庁 / 特許 | 試料導入装置 FI分類-G01N 30/26 Z, FI分類-G01N 30/86 T |
2020年11月16日 特許庁 / 特許 | バイアル供給システム及びガスクロマトグラフィ分析システム FI分類-G01N 30/16 J, FI分類-G01N 35/02 G |
2020年11月16日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプおよび真空ポンプ用コントローラ FI分類-F04D 19/04 H |
2020年11月16日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/42 150 |
2020年11月10日 特許庁 / 特許 | 分析用機器及び分析システム FI分類-G01N 30/24 Z |
2020年11月09日 特許庁 / 特許 | X線検査装置及びX線検査装置の劣化判定方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-H05G 1/00 W |
2020年11月09日 特許庁 / 特許 | 波形処理支援装置および波形処理支援方法 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 Q |
2020年11月05日 特許庁 / 特許 | ポンプユニットおよびクロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 H, FI分類-G01N 30/26 P, FI分類-G01N 30/32 C |
2020年10月28日 特許庁 / 特許 | 脳梗塞治療支援システム FI分類-A61B 5/00 G, FI分類-G01N 33/53 M, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/03 377, FI分類-A61B 5/055 390, FI分類-C12Q 1/686 ZNAZ |
2020年10月28日 特許庁 / 特許 | 熱伝導度検出器 FI分類-G01N 30/66, FI分類-G01N 30/32 A |
2020年10月27日 特許庁 / 特許 | ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システム、およびワイヤロープ検査方法 FI分類-G01N 27/82 |
2020年10月26日 特許庁 / 特許 | 自動試料注入装置 FI分類-G01N 30/24 Z |
2020年10月26日 特許庁 / 特許 | 容器を含むキット FI分類-C12Q 1/02, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12Q 1/686 Z, FI分類-C12Q 1/6851 Z |
2020年10月20日 特許庁 / 特許 | 感情推定方法および感情推定システム FI分類-A61B 5/397, FI分類-A61B 5/16 120, FI分類-A61B 5/16 130 |
2020年10月19日 特許庁 / 特許 | 質量分析を用いた試料分析方法及び試料分析システム FI分類-G01N 27/62 D |
2020年10月19日 特許庁 / 特許 | 治療支援装置 FI分類-A61N 5/067, FI分類-A61N 5/06 Z, FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 10/00 T, FI分類-G01N 21/64 F |
2020年10月16日 特許庁 / 特許 | 自動試料注入システム FI分類-G01N 30/24 Z |
2020年10月15日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置、および、画像処理方法 FI分類-A61B 6/00 330 A, FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2020年10月15日 特許庁 / 特許 | 蛍光X線分析装置 FI分類-G01N 23/223 |
2020年10月14日 特許庁 / 特許 | 臓器灌流装置および制御方法 FI分類-A01N 1/02 |
2020年10月14日 特許庁 / 特許 | X線撮影システムおよび異物確認方法 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 350 M, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2020年10月12日 特許庁 / 特許 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 FI分類-G01N 29/12, FI分類-G01N 29/24, FI分類-G01N 21/88 Z |
2020年10月09日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 60/30, FI分類-G01Q 60/32 |
2020年10月09日 特許庁 / 特許 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 FI分類-G01N 29/24, FI分類-G01B 11/30 Z |
2020年10月05日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X |
2020年10月05日 特許庁 / 特許 | イオン化装置 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-H01J 49/04 450, FI分類-H01J 49/04 900, FI分類-H01J 49/16 700 |
2020年10月02日 特許庁 / 特許 | 自動試料注入装置 FI分類-G01N 30/24 J |
2020年09月30日 特許庁 / 特許 | 分子構造解析システム及び分子構造解析方法 FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 33/92, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-H01J 49/00 810, FI分類-H01J 49/16 400 |
2020年09月30日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/16 400 |
2020年09月30日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 301 C |
2020年09月29日 特許庁 / 特許 | 放電イオン化検出器およびガスクロマトグラフ分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 30/64 F, FI分類-H01J 49/16 100 |
2020年09月29日 特許庁 / 特許 | 脱脂炉および脱脂方法 FI分類-F27D 7/02 A |
2020年09月29日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/04 180 |
2020年09月28日 特許庁 / 特許 | 移動相モニタ、液体クロマトグラフ、分析システムおよびプログラム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/26 E |
2020年09月28日 特許庁 / 特許 | 光反応評価装置およびフォトン数算出方法 FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 21/64 Z |
2020年09月25日 特許庁 / 特許 | ワイヤロープ検査装置およびワイヤロープ検査システム FI分類-G01N 27/82, FI分類-B66B 5/00 D, FI分類-B66B 5/02 C |
2020年09月23日 特許庁 / 特許 | ポンプ監視装置、真空ポンプ、ポンプ監視方法およびポンプ監視プログラム FI分類-F04D 19/04 H |
2020年09月23日 特許庁 / 特許 | イオントラップへのイオン導入方法、イオントラップ質量分析装置、及び、イオントラップ質量分析用プログラム FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/42 650 |
2020年09月15日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/24 |
2020年09月15日 特許庁 / 特許 | MALDI質量分析装置及びMALDI質量分析方法 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/04 180, FI分類-H01J 49/16 400 |
2020年09月10日 特許庁 / 特許 | 磁性体検査装置および磁性体整磁装置 FI分類-G01N 27/82 |
2020年09月09日 特許庁 / 特許 | 遠心式流動場分画装置 FI分類-B03B 5/28 A, FI分類-G01N 1/10 H |
2020年09月04日 特許庁 / 特許 | 測厚装置 FI分類-G01B 5/06 |
2020年09月04日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F |
2020年09月04日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 3/08 |
2020年09月04日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-G01N 27/62 B |
2020年09月03日 特許庁 / 特許 | 質量分析データ表示処理装置 FI分類-G01N 33/68, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12Q 1/689 Z, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 33/50 P, FI分類-G01N 33/50 Z, FI分類-C12Q 1/6872 Z, FI分類-C12Q 1/6895 Z, FI分類-H01J 49/00 360 |
2020年09月01日 特許庁 / 特許 | 分析作業支援装置及び分析作業支援ソフトウェア FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-H01J 49/04 130, FI分類-H01J 49/04 180, FI分類-G01N 1/00 101 B |
2020年09月01日 特許庁 / 特許 | 排尿量測定装置、排尿量管理システム、排尿量測定方法、およびプログラム FI分類-A61B 5/20, FI分類-G16H 40/00, FI分類-G01G 19/44 M, FI分類-G01G 19/44 Z |
2020年08月28日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び方法 FI分類-H01J 49/24, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-H01J 49/06 300, FI分類-H01J 49/42 550 |
2020年08月28日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-H01J 49/06 200, FI分類-H01J 49/06 700, FI分類-H01J 49/42 550, FI分類-H01J 49/42 700 |
2020年08月27日 特許庁 / 特許 | 磁気検知システム、磁気信号の波形パターン分類方法、および、磁気検知システム用の波形パターン分布作成方法 FI分類-G01V 3/08 E |
2020年08月26日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置群 FI分類-G01N 27/26 391 Z, FI分類-G01N 27/447 301 Z |
2020年08月24日 特許庁 / 特許 | 原子吸光分光光度計および原子吸光分光光度計の制御方法 FI分類-G01N 21/31 610 A |
2020年08月24日 特許庁 / 特許 | 質量分析制御装置、質量分析装置、質量分析方法およびプログラム FI分類-G01N 27/62 V |
2020年08月21日 特許庁 / 特許 | 酸素を含む試料を対象とする水素炎イオン化検出方法とその装置 FI分類-G01N 30/68 Z, FI分類-G01N 30/86 J, FI分類-G01N 30/88 G, FI分類-G01N 27/62 103 A |
2020年08月20日 特許庁 / 特許 | 分析システム FI分類-G01N 35/00 F |
2020年08月20日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/14 700, FI分類-H01J 49/42 150 |
2020年08月19日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法及び質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/02 500, FI分類-H01J 49/40 800, FI分類-H01J 49/42 700 |
2020年08月19日 特許庁 / 特許 | X線撮影用被検体固定具およびX線撮影システム FI分類-A61B 6/04 305 |
2020年08月17日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置および分析方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/00 950 |
2020年08月14日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 E |
2020年08月12日 特許庁 / 特許 | 成膜装置、成膜方法およびプログラム FI分類-C23C 14/34 U |
2020年08月11日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/24, FI分類-H01J 49/00 400, FI分類-H01J 49/06 200, FI分類-H01J 49/06 700, FI分類-H01J 49/06 800 |
2020年08月11日 特許庁 / 特許 | 多重周回飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/06 700, FI分類-H01J 49/40 800, FI分類-H01J 49/42 200 |
2020年08月05日 特許庁 / 特許 | 接合体の検査方法、及び接合体の検査装置、並びに接合体 FI分類-G01N 29/04, FI分類-G01N 29/24, FI分類-G01N 29/36, FI分類-B21D 39/08 C, FI分類-G01H 17/00 Z |
2020年08月05日 特許庁 / 特許 | 電場非対称波形イオン移動度分光分析装置 FI分類-G01N 27/62 102 |
2020年08月05日 特許庁 / 特許 | 電場非対称波形イオン移動度分光分析装置 FI分類-G01N 27/62 102 |
2020年08月05日 特許庁 / 特許 | 電場非対称波形イオン移動度分光分析装置 FI分類-G01N 27/62 102 |
2020年08月04日 特許庁 / 特許 | 元素分析計 FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 31/12 A |
2020年07月31日 特許庁 / 特許 | ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法 FI分類-G01N 27/82, FI分類-B66B 7/12 Z |
2020年07月31日 特許庁 / 特許 | 放電イオン化検出器 FI分類-G01N 27/70, FI分類-G01N 27/68 B, FI分類-G01N 30/64 F |
2020年07月31日 特許庁 / 特許 | 磁気検知システムおよび磁気検知用の表示方法 FI分類-G01R 33/04, FI分類-G01V 3/08 E, FI分類-G01R 33/02 Q |
2020年07月30日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプの堆積物の解析装置、真空ポンプシステムおよび解析プログラム FI分類-F04D 19/04 H |
2020年07月30日 特許庁 / 特許 | 磁気検知システムおよび磁気検知用の表示方法 FI分類-G01R 33/04, FI分類-G01V 3/08 E, FI分類-G01R 33/02 Q |
2020年07月29日 特許庁 / 特許 | 分析システムおよび分析方法 FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/10 B |
2020年07月27日 特許庁 / 特許 | 分析支援装置、分析支援方法、分析支援プログラムおよび分析システム FI分類-G01N 30/36, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/32 A |
2020年07月22日 特許庁 / 特許 | ポンプ洗浄管理装置、真空ポンプ、ポンプ洗浄管理方法およびポンプ洗浄管理プログラム FI分類-F04B 37/16 A, FI分類-F04D 19/04 H |
2020年07月22日 特許庁 / 特許 | 自動試料注入システム及びガスクロマトグラフィ分析システム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2020年07月21日 特許庁 / 特許 | ホルマリン固定パラフィン包埋組織試料からの抗体の分離、検出及び/又は分析方法 FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 33/48 R |
2020年07月14日 特許庁 / 特許 | ヘッドモーショントラッカ装置および航空機用ヘッドモーショントラッカ装置 FI分類-B64D 47/00, FI分類-H04N 5/225 800, FI分類-H04N 5/232 290 |
2020年07月14日 特許庁 / 特許 | イソアスパラギン酸の分析方法、及び質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-H01J 49/00 450, FI分類-H01J 49/02 500 |
2020年07月14日 特許庁 / 特許 | 蛍光X線分析装置 FI分類-G01N 23/223 |
2020年07月08日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-H02P 6/21, FI分類-H02P 6/182 |
2020年07月06日 特許庁 / 特許 | 分析用試料の調製方法、分析方法および分析用試料の調製用キット FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-B01J 20/285 N |
2020年07月06日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法、質量分析装置およびプログラム FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-G01N 27/62 ZNAV |
2020年07月06日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置、学習済みモデルの生成方法、および、X線撮影装置の作動方法 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 320 Z, FI分類-A61B 6/00 350 D |
2020年07月03日 特許庁 / 特許 | ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システム、およびワイヤロープ検査方法 FI分類-G01N 27/83 |
2020年07月03日 特許庁 / 特許 | 探針の先端径の取得方法およびSPM FI分類-G01Q 40/00 |
2020年07月03日 特許庁 / 特許 | ガス測定装置用サンプリングプローブ FI分類-G01N 1/22 E |
2020年07月02日 特許庁 / 特許 | X線分析装置、X線分析用信号処理装置およびX線分析方法 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 1/17 F, FI分類-G01T 1/17 H |
2020年07月02日 特許庁 / 特許 | 計測用録画システム、および、計測用録画方法 FI分類-H04N 5/77, FI分類-H04N 5/232 300 |
2020年07月02日 特許庁 / 特許 | 欠陥検査装置 FI分類-G01N 29/24 |
2020年06月26日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 E |
2020年06月25日 特許庁 / 特許 | イメージ電荷/電流信号を生成する装置 FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-H01J 49/02 700, FI分類-H01J 49/42 450 |
2020年06月25日 特許庁 / 特許 | 質量分析器 FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-H01J 49/06 100, FI分類-H01J 49/06 700, FI分類-H01J 49/40 800 |
2020年06月25日 特許庁 / 特許 | ガス分光装置及びガス分光方法 FI分類-G01N 21/39, FI分類-G01N 30/06 G, FI分類-G01N 30/08 G, FI分類-G01N 30/32 A |
2020年06月22日 特許庁 / 特許 | 生体組織上の還元型グルタチオン分布を測定する方法及び診断用データの取得方法 FI分類-G01N 27/62 V |
2020年06月19日 特許庁 / 特許 | ガス吸収分光システムおよびガス吸収分光方法 FI分類-G01N 21/3504 |
2020年06月19日 特許庁 / 特許 | 吸収分光システムおよび吸収分光方法 FI分類-H01S 3/10, FI分類-G01N 21/39 |
2020年06月17日 特許庁 / 特許 | 画像診断システム、画像診断装置、および、画像診断方法 FI分類-A61B 5/055 390, FI分類-A61B 6/00 360 Z, FI分類-A61B 6/03 360 Z |
2020年06月17日 特許庁 / 特許 | 全有機体炭素測定方法及び全有機体炭素測定装置 FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 33/18 B |
2020年06月15日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析装置、及びイメージング質量分析方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G06T 1/00 510, FI分類-G06F 3/0484 150 |
2020年06月04日 特許庁 / 特許 | 画像診断装置 FI分類-G01T 1/161 A |
2020年06月04日 特許庁 / 特許 | イオントラップ質量分析計、質量分析方法および制御プログラム FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 630, FI分類-H01J 49/00 810, FI分類-H01J 49/42 400, FI分類-H01J 49/42 950 |
2020年06月03日 特許庁 / 特許 | 治療支援装置および治療支援装置の作動方法 FI分類-A61B 34/32, FI分類-A61N 5/067, FI分類-A61N 5/06 Z, FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-G01N 21/64 F |
2020年06月03日 特許庁 / 特許 | リボソームタンパク質の判別方法、生物種の同定方法、質量分析装置およびプログラム FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-H01J 49/00 360 |
2020年06月03日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ、ターボ分子ポンプのロータおよびステータ FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 E, FI分類-F04D 19/04 G |
2020年06月03日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ、ターボ分子ポンプおよび真空容器 FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F16K 51/00 B, FI分類-F16K 51/02 A |
2020年06月02日 特許庁 / 特許 | ひずみ計測装置及びひずみ計測方法 FI分類-G01L 1/00 B, FI分類-G01L 1/00 E, FI分類-G01L 1/00 G |
2020年06月02日 特許庁 / 特許 | ひずみ計測装置及びひずみ計測方法 FI分類-G01L 1/00 B, FI分類-G01L 1/00 E, FI分類-G01L 1/00 G |
2020年06月02日 特許庁 / 特許 | 応力発光計測装置及び応力発光計測方法 FI分類-G01L 1/00 B, FI分類-G01L 1/00 E, FI分類-G01L 1/00 G |
2020年06月02日 特許庁 / 特許 | 微生物識別用マーカーの特定方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 ZNAV |
2020年05月29日 特許庁 / 特許 | 画像診断装置 FI分類-G01T 1/161 A |
2020年05月29日 特許庁 / 特許 | 原子吸光分光光度計 FI分類-G01N 21/31 610 B |
2020年05月28日 特許庁 / 特許 | 画像診断装置 FI分類-G01T 1/161 Z |
2020年05月28日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム FI分類-G01N 27/62 D |
2020年05月27日 特許庁 / 特許 | 表面分析装置 FI分類-G01Q 10/02 |
2020年05月27日 特許庁 / 特許 | X線分析装置およびX線分析方法 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252 |
2020年05月27日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法及び質量分析装置 FI分類-H01J 49/00 040, FI分類-H01J 49/04 180, FI分類-H01J 49/16 400 |
2020年05月26日 特許庁 / 特許 | 身体能力提示方法および身体能力提示装置 FI分類-A61B 5/0245 A, FI分類-A61B 5/04 330, FI分類-A61B 5/11 230, FI分類-A61B 5/107 300, FI分類-A61B 5/02 310 Z |
2020年05月25日 特許庁 / 特許 | ワイヤロープ検査装置 FI分類-G01N 27/82, FI分類-B66B 5/00 D, FI分類-B66B 5/02 C |
2020年05月25日 特許庁 / 特許 | マイクロ流路デバイス、マイクロ流路デバイスを用いる試験方法、及びマイクロ流路デバイスを用いる試験装置 FI分類-G01N 33/15 Z, FI分類-G01N 33/50 Z, FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 37/00 101 |
2020年05月25日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/72 Z, FI分類-G01N 30/86 D |
2020年05月25日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/72 Z, FI分類-G01N 30/86 D |
2020年05月22日 特許庁 / 特許 | 歪み分布計測システム、及び歪み分布計測方法 FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01N 3/28, FI分類-G01B 11/16 H |
2020年05月20日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-H01J 49/04 450, FI分類-H01J 49/06 700, FI分類-H01J 49/06 800 |
2020年05月15日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置およびX線画像処理方法 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 350 P |
2020年05月14日 特許庁 / 特許 | 磁性体の劣化予測装置および磁性体の劣化予測方法 FI分類-G01N 27/83 |
2020年05月14日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法及び質量分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-H01J 49/00 040, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/04 130, FI分類-H01J 49/04 180, FI分類-H01J 49/16 400 |
2020年05月13日 特許庁 / 特許 | せん断引張試験機、試験片のチャック装置及びチャック方法 FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01N 3/04 H |
2020年05月13日 特許庁 / 特許 | 細胞外小胞の検出方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C07K 14/705, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/53 S |
2020年05月13日 特許庁 / 特許 | 故障診断システムおよび故障診断方法 FI分類-F15B 20/00 D |
2020年05月12日 特許庁 / 特許 | X線分析装置及びピークサーチ方法 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252 |
2020年05月12日 特許庁 / 特許 | 分析支援装置、分析支援方法および分析支援プログラム FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 G |
2020年05月11日 特許庁 / 特許 | アルブミン分析方法及びアルブミン分析装置 FI分類-C07K 1/20, FI分類-C07K 14/76, FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/86 J, FI分類-G01N 30/88 J |
2020年05月08日 特許庁 / 特許 | 分光器 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/02 C |
2020年05月08日 特許庁 / 特許 | 電子カルテ入力方法、電子カルテ入力システム、および、電子カルテ入力プログラム FI分類-G16H 10/60 |
2020年05月08日 特許庁 / 特許 | 診療科選択支援用の学習モデルの更新方法、診療科選択支援システム、および、診療科選択支援プログラム FI分類-G16H 10/20, FI分類-G16H 50/50 |
2020年05月08日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ質量分析計 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 G |
2020年05月07日 特許庁 / 特許 | 光源装置、プロジェクタおよび機械加工装置 FI分類-F21Y 113:13, FI分類-F21Y 115:30, FI分類-G03B 21/14 A, FI分類-F21S 2/00 390, FI分類-F21V 7/28 240, FI分類-F21V 8/00 340, FI分類-F21V 23/00 113, FI分類-F21V 23/00 140 |
2020年05月07日 特許庁 / 特許 | 解析装置および解析方法 FI分類-G06F 16/30, FI分類-G06F 16/9038 |
2020年05月07日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2020年05月01日 特許庁 / 特許 | 細胞評価用デバイス FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 3/00 A, FI分類-G01N 27/04 Z |
2020年04月30日 特許庁 / 特許 | 分析支援装置、分析支援方法および分析支援プログラム FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 P |
2020年04月27日 特許庁 / 特許 | 血清型判別方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/48 M |
2020年04月27日 特許庁 / 特許 | 有機化合物の構造解析方法 FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V |
2020年04月27日 特許庁 / 特許 | イオンクロマトグラフ用サプレッサ装置 FI分類-G01N 30/02 E, FI分類-G01N 30/26 H, FI分類-G01N 30/86 T |
2020年04月24日 特許庁 / 特許 | 分析支援装置、分析支援方法および分析支援プログラム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/86 F, FI分類-G01N 30/86 M, FI分類-G01N 30/86 P |
2020年04月24日 特許庁 / 特許 | 歪み分布測定装置、及び歪み分布測定方法 FI分類-G01B 11/16 H |
2020年04月24日 特許庁 / 特許 | イオン化装置及び質量分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/04 500, FI分類-H01J 49/04 770, FI分類-H01J 49/16 500, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2020年04月24日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 27/26, FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 49/06 800, FI分類-H01J 49/16 500, FI分類-H01J 49/16 700 |
2020年04月24日 特許庁 / 特許 | 熱伝導度検出器 FI分類-G01N 30/66, FI分類-G01N 25/18 K |
2020年04月23日 特許庁 / 特許 | ワイヤロープ検査装置およびワイヤロープ検査システム FI分類-G01N 27/82 |
2020年04月23日 特許庁 / 特許 | 微生物分析方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V |
2020年04月23日 特許庁 / 特許 | 微生物分析方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V |
2020年04月23日 特許庁 / 特許 | 微生物分析方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V |
2020年04月21日 特許庁 / 特許 | スイートスポットの予測方法及びスイートスポット予測装置 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/04 180, FI分類-H01J 49/16 400 |
2020年04月21日 特許庁 / 特許 | イオン分析方法、イオン分析装置、及びイオン分析装置用プログラム FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/16 400 |
2020年04月21日 特許庁 / 特許 | 理論質量テーブル表示システム FI分類-G01N 27/62 Y |
2020年04月21日 特許庁 / 特許 | 動体追跡装置および動体追跡装置の作動方法 FI分類-A61N 5/10 M |
2020年04月21日 特許庁 / 特許 | 理論質量テーブル表示システム FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 27/62 Y |
2020年04月17日 特許庁 / 特許 | 温調機能付きターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 H |
2020年04月17日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフおよび液体クロマトグラフの制御方法 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 C, FI分類-G01N 30/86 Q, FI分類-G01N 30/86 V |
2020年04月17日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 49/02 200, FI分類-H01J 49/04 500, FI分類-H01J 49/06 100, FI分類-H01J 49/16 500 |
2020年04月16日 特許庁 / 特許 | 観測値の推定方法及び装置、並びに、画像再構成方法及び装置 FI分類-G01J 3/44, FI分類-G06N 5/04, FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/27 A, FI分類-G06N 3/08 180, FI分類-G06N 20/00 160 |
2020年04月15日 特許庁 / 特許 | エレベータ用ワイヤロープ検査装置、エレベータ用ワイヤロープ検査システム、およびエレベータ用ワイヤロープ検査方法 FI分類-G01N 27/82, FI分類-B66B 5/00 D |
2020年04月14日 特許庁 / 特許 | 遠心式流動場分画システム FI分類-B04B 1/02, FI分類-B04B 15/00, FI分類-B03B 5/28 A, FI分類-G01N 15/00 C, FI分類-G01N 15/02 F |
2020年04月13日 特許庁 / 特許 | 光源装置、プロジェクタおよび機械加工装置 FI分類-F21V 9/14, FI分類-G03B 33/12, FI分類-H01S 5/022, FI分類-F21Y 115:30, FI分類-G03B 21/00 D, FI分類-G03B 21/14 A, FI分類-F21S 2/00 300, FI分類-F21V 7/00 570 |
2020年04月13日 特許庁 / 特許 | 管状体の接合部の検査方法及び装置 FI分類-G01N 29/12, FI分類-B23K 31/00 K |
2020年04月13日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 49/24, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/00 720, FI分類-H01J 49/42 150, FI分類-H01J 49/42 400 |
2020年04月07日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-H05G 1/26 T, FI分類-H05G 1/66 C, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2020年04月07日 特許庁 / 特許 | ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システム、および、ワイヤロープ検査方法 FI分類-G01N 27/82 |
2020年04月07日 特許庁 / 特許 | ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法 FI分類-G01N 27/82, FI分類-B66B 5/00 G |
2020年04月07日 特許庁 / 特許 | ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法 FI分類-G01N 27/82 |
2020年04月07日 特許庁 / 特許 | アミロイドベータに対するモノクローナル抗体、及びその抗体を用いるアミロイドベータ関連ペプチドの測定方法 FI分類-C07K 1/22, FI分類-C12N 5/18, FI分類-C07K 17/00, FI分類-C12N 15/13, FI分類-C12P 21/08, FI分類-G01N 33/53 D, FI分類-C07K 16/18 ZNA, FI分類-C12N 15/06 100, FI分類-G01N 33/543 501 A |
2020年04月03日 特許庁 / 特許 | 分取液体クロマトグラフィシステム FI分類-G01N 30/44, FI分類-G01N 30/82, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/46 A, FI分類-G01N 30/80 C |
2020年04月02日 特許庁 / 特許 | 応力発光測定方法および応力発光測定装置 FI分類-G01L 1/00 B, FI分類-G01L 1/24 Z, FI分類-G01N 21/63 Z, FI分類-G01N 21/88 Z |
2020年04月01日 特許庁 / 特許 | 装置監視システムおよび装置監視方法 FI分類-H04M 11/00 301 |
2020年03月30日 特許庁 / 特許 | MALDI質量分析で得られたデータの解析方法、データ処理装置、質量分析装置および解析プログラム FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-H01J 49/16 400 |
2020年03月30日 特許庁 / 特許 | ガス検出装置 FI分類-G01N 21/61, FI分類-G01N 1/00 C, FI分類-G01N 21/3518 |
2020年03月30日 特許庁 / 特許 | ADAMTS4のAPP切断活性制御物質のスクリーニング方法 FI分類-C12Q 1/02, FI分類-C12Q 1/37, FI分類-C12Q 1/68, FI分類-G01N 33/15 Z, FI分類-G01N 33/50 Z, FI分類-C12N 15/12 ZNA, FI分類-C12N 15/113 110 Z |
2020年03月26日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 21/31 610 |
2020年03月25日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/54 E, FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/60 D |
2020年03月24日 特許庁 / 特許 | ファイバ結合モジュール FI分類-G02B 6/32, FI分類-G02B 6/42 |
2020年03月23日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析システム、及び、イメージング質量分析を利用した分析方法 FI分類-G01N 1/00 C, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-H01J 49/00 040, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360 |
2020年03月23日 特許庁 / 特許 | 作動液診断システムおよび作動液診断方法 FI分類-E02F 9/26 A, FI分類-F15B 20/00 D |
2020年03月23日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフを管理する管理装置、管理方法および管理プログラム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 Q, FI分類-G01N 30/86 V |
2020年03月19日 特許庁 / 特許 | 異常診断システムおよび異常診断方法 FI分類-G01M 13/003, FI分類-G01M 99/00 A, FI分類-G01M 99/00 Z, FI分類-G05B 23/02 R |
2020年03月18日 特許庁 / 特許 | 圧力制御バルブ FI分類-F16K 1/42 Z |
2020年03月18日 特許庁 / 特許 | 保護ネット、ターボ分子ポンプおよび質量分析装置 FI分類-H01J 49/24, FI分類-H01J 49/26, FI分類-F04D 19/04 Z |
2020年03月16日 特許庁 / 特許 | リストモード画像再構成方法および核医学診断装置 FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-G01T 1/161 C |
2020年03月13日 特許庁 / 特許 | 推定器および真空バルブ FI分類-F16K 51/02 Z, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2020年03月12日 特許庁 / 特許 | X線位相撮像システム、X線画像処理装置、および、X線画像処理方法 FI分類-G01N 23/041, FI分類-G01N 23/046 |
2020年03月12日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-H01J 49/00 500 |
2020年03月11日 特許庁 / 特許 | 試料注入装置、および、液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/18 G, FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 30/26 M |
2020年03月05日 特許庁 / 特許 | 複合分析装置および分析方法 FI分類-G01N 25/20 G, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 30/06 G, FI分類-G01N 30/08 G, FI分類-G01N 30/72 A |
2020年03月04日 特許庁 / 特許 | 生化学分析装置及び生化学分析方法 FI分類-G01N 35/00 F |
2020年03月03日 特許庁 / 特許 | 磁気検知システム FI分類-G01R 33/04, FI分類-G01R 33/06, FI分類-G01V 3/08 F, FI分類-G01R 33/02 Q |
2020年02月28日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 Q |
2020年02月28日 特許庁 / 特許 | 磁気軸受装置および真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 A, FI分類-F16C 32/04 A |
2020年02月28日 特許庁 / 特許 | 試料注入装置および試料溶解装置 FI分類-G01N 1/28 X, FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2020年02月28日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/32 A |
2020年02月27日 特許庁 / 特許 | 蛍光X線分析装置 FI分類-G01N 23/223 |
2020年02月27日 特許庁 / 特許 | フーリエ変換赤外分光光度計 FI分類-G01J 3/45 |
2020年02月27日 特許庁 / 特許 | 材料試験機および接続治具 FI分類-G01N 3/04 A |
2020年02月27日 特許庁 / 特許 | カラム収容装置及び液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/60 D, FI分類-G01N 30/60 P, FI分類-G01N 30/60 Q |
2020年02月26日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡および走査型プローブ顕微鏡における光軸調整方法 FI分類-G01Q 20/02, FI分類-G12B 1/00 601 H |
2020年02月21日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 315 K, FI分類-G01N 27/447 331 G |
2020年02月21日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフおよび分析方法 FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/54 D, FI分類-G01N 30/60 D, FI分類-G01N 30/60 P |
2020年02月21日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/60 D |
2020年02月20日 特許庁 / 特許 | 前処理システム FI分類-G01N 35/04 H, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2020年02月20日 特許庁 / 特許 | 理論質量の外れ値検出方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-H01J 49/00 360 |
2020年02月19日 特許庁 / 特許 | 分析方法、微生物の識別方法および検査方法 FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-C12Q 1/04 ZNA |
2020年02月18日 特許庁 / 特許 | 画像診断装置 FI分類-G01T 1/161 A |
2020年02月14日 特許庁 / 特許 | ポンプ監視装置および真空ポンプ FI分類-F04C 25/02 B, FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F04B 49/10 331 J, FI分類-F04B 49/10 331 L |
2020年02月12日 特許庁 / 特許 | MALDI質量分析装置及びMALDI質量分析装置用プログラム FI分類-H01J 49/16, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 Y |
2020年02月10日 特許庁 / 特許 | X線分析装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 1/17 F |
2020年02月10日 特許庁 / 特許 | 応力発光測定装置、応力発光測定方法および応力発光測定システム FI分類-G01L 1/00 B |
2020年02月10日 特許庁 / 特許 | 治療支援装置および治療支援装置の作動方法 FI分類-A61B 5/00 D, FI分類-A61N 5/06 Z |
2020年02月10日 特許庁 / 特許 | 視機能検査装置 FI分類-A61B 3/028 |
2020年02月07日 特許庁 / 特許 | 表示装置及び該表示装置で用いる光学素子 FI分類-G02B 27/01, FI分類-B60K 35/00 A |
2020年02月04日 特許庁 / 特許 | 画像診断装置 FI分類-G01T 1/161 A |
2020年01月31日 特許庁 / 特許 | 分析装置および分析装置の制御方法 FI分類-G01N 23/2206, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01N 23/2252 |
2020年01月31日 特許庁 / 特許 | 変位分布計測装置、変位分布計測方法、及び変位分布計測装置の制御プログラム FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01B 11/16 H |
2020年01月30日 特許庁 / 特許 | 歯車ポンプ又は歯車モータ FI分類-F03C 2/08 A, FI分類-F04C 2/18 331, FI分類-F04C 2/18 311 C |
2020年01月29日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置、電気泳動システム、および電気泳動装置の制御方法 FI分類-G01N 27/447 301 Z |
2020年01月29日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 E, FI分類-F04D 19/04 Z |
2020年01月28日 特許庁 / 特許 | 分析天びん FI分類-G01G 21/28, FI分類-G01G 23/00 F |
2020年01月28日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2020年01月27日 特許庁 / 特許 | マイクロ流体システム FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 37/00 101, FI分類-G01N 27/447 301 C, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2020年01月27日 特許庁 / 特許 | 試料の評価方法、分析方法、劣化試料の検出方法、劣化血漿試料検出用マーカーおよび劣化血清試料検出用マーカー FI分類-G01N 33/48 Z |
2020年01月27日 特許庁 / 特許 | 水中光通信装置および水中検査システム FI分類-G02B 6/42, FI分類-H04B 10/80, FI分類-G02B 6/02 Z, FI分類-G02B 6/00 326 |
2020年01月27日 特許庁 / 特許 | 光通信装置 FI分類-H04B 10/11, FI分類-H04B 10/69 |
2020年01月27日 特許庁 / 特許 | 空間光通信用ファイバ分岐構造およびそれを備えた光通信システム FI分類-H04B 10/50, FI分類-H04B 10/80, FI分類-H04B 10/112 |
2020年01月24日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/06 |
2020年01月22日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフおよび分析方法 FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/32 C, FI分類-G01N 30/34 A |
2020年01月22日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/08 |
2020年01月22日 特許庁 / 特許 | 引張試験機 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01N 3/04 P |
2020年01月20日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/02 G |
2020年01月17日 特許庁 / 特許 | 干渉画像撮像装置 FI分類-G01B 9/02 |
2020年01月16日 特許庁 / 特許 | 反応容器 FI分類-C12M 1/26, FI分類-C12M 1/00 A |
2020年01月15日 特許庁 / 特許 | X線撮影システム FI分類-A61B 6/00 320 M |
2020年01月14日 特許庁 / 特許 | APP669-711の測定方法、及び測定用キット FI分類-C12N 15/12, FI分類-G01N 33/53 ZNAD, FI分類-G01N 33/543 515 J, FI分類-G01N 33/543 525 W |
2020年01月14日 特許庁 / 特許 | マイクロチップ電気泳動方法およびマイクロチップ電気泳動装置 FI分類-G01N 35/10 F, FI分類-G01N 35/10 K, FI分類-G01N 37/00 101, FI分類-G01N 27/447 331 E, FI分類-G01N 27/447 331 G |
2020年01月14日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法及び質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/00 810, FI分類-H01J 49/42 150, FI分類-H01J 49/42 400 |
2020年01月09日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 E, FI分類-F04D 29/32 A |
2020年01月09日 特許庁 / 特許 | 流路デバイスおよびそれを用いた試験装置、試験方法 FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 37/00 101 |
2020年01月09日 特許庁 / 特許 | 引張試験機、及び引張試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/08 |
2020年01月07日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 30/72 A |
2019年12月26日 特許庁 / 特許 | データ処理方法及びデータ処理装置 FI分類-B03B 5/28 A, FI分類-G01N 15/02 F |
2019年12月26日 特許庁 / 特許 | イメージング分析データ処理方法及び装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D |
2019年12月25日 特許庁 / 特許 | 試料測定装置および測定試料同定方法 FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 F |
2019年12月25日 特許庁 / 特許 | 分析システム FI分類-G01N 1/38, FI分類-B03B 5/28 A, FI分類-G01N 1/10 P, FI分類-G01N 15/02 F |
2019年12月24日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 T, FI分類-G01N 30/86 V, FI分類-G01N 35/00 F |
2019年12月24日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-H02K 11/33, FI分類-F04D 19/04 Z |
2019年12月23日 特許庁 / 特許 | 患者認証システムおよび患者認証方法 FI分類-A61B 6/00 320 M |
2019年12月23日 特許庁 / 特許 | 脳機能計測装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 5/16 110, FI分類-A61B 5/026 120 |
2019年12月23日 特許庁 / 特許 | 脳機能計測装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 5/055 380 |
2019年12月23日 特許庁 / 特許 | 光計測装置およびプローブホルダセット FI分類-A61B 10/00 E |
2019年12月19日 特許庁 / 特許 | 原子吸光分光光度計 FI分類-G01N 1/00 101 K, FI分類-G01N 21/31 610 A |
2019年12月18日 特許庁 / 特許 | 細胞立体形状評価方法及び細胞観察装置 FI分類-C12Q 1/02, FI分類-C12M 1/34 B |
2019年12月18日 特許庁 / 特許 | アミロイドβの脳内蓄積状態評価方法及び評価装置 FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 27/62 V |
2019年12月16日 特許庁 / 特許 | 細胞培養容器、細胞培養システム及びスフェロイド培養方法 FI分類-C12N 5/071, FI分類-C12M 3/00 Z |
2019年12月12日 特許庁 / 特許 | 生化学分析装置および生化学分析方法 FI分類-G01N 35/10 C |
2019年12月12日 特許庁 / 特許 | 生化学分析装置および生化学分析方法 FI分類-G01N 35/10 C |
2019年12月12日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフシステム FI分類-G01N 30/04 C, FI分類-G01N 30/86 Q, FI分類-G01N 30/86 V |
2019年12月09日 特許庁 / 特許 | 移動体用画像表示システム FI分類-B64D 47/08, FI分類-H04N 7/18 U, FI分類-B64D 45/00 A, FI分類-G06T 5/00 735 |
2019年12月06日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 B, FI分類-F04D 29/056 A |
2019年12月06日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-H02P 6/18, FI分類-H02P 6/20, FI分類-H02P 21/24, FI分類-H02P 21/34, FI分類-F04D 19/04 H |
2019年12月06日 特許庁 / 特許 | 生体データ管理方法、生体データ管理システム、および生体データ管理プログラム FI分類-G16H 10/60, FI分類-A61B 5/00 102 E |
2019年12月06日 特許庁 / 特許 | 生体データ管理方法、生体データ管理システムおよび生体データ管理プログラム FI分類-G16H 10/60, FI分類-G16H 30/00, FI分類-A61B 5/026 120, FI分類-A61B 5/00 102 C, FI分類-A61B 5/00 102 E |
2019年12月05日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 30/72 G |
2019年12月05日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-H02P 3/22, FI分類-H02P 21/26, FI分類-H02P 21/36, FI分類-F04D 19/04 H |
2019年12月05日 特許庁 / 特許 | 検出器の出力を補正する方法、および多角度光散乱検出器 FI分類-G01N 30/78, FI分類-G01N 21/47 B, FI分類-G01N 21/53 Z, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/74 Z, FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 F |
2019年12月05日 特許庁 / 特許 | 光通信装置 FI分類-H04B 10/67, FI分類-H04B 10/80, FI分類-H04B 13/02 |
2019年12月03日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2019年11月29日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2019年11月26日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 Z, FI分類-F04D 29/54 D |
2019年11月21日 特許庁 / 特許 | X線透視方法およびX線透視装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 350 Z |
2019年11月21日 特許庁 / 特許 | 糖ペプチド解析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 33/50 Z |
2019年11月21日 特許庁 / 特許 | 樹脂チューブの端部形成方法および形成工具 FI分類-B01D 15/22, FI分類-B29C 57/04, FI分類-G01N 30/60 P |
2019年11月20日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2019年11月20日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26 |
2019年11月20日 特許庁 / 特許 | ポンプ監視装置、真空ポンプおよび生成物堆積診断用データ処理プログラム FI分類-F04D 19/04 H |
2019年11月19日 特許庁 / 特許 | イオンを分析するための装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/00 540, FI分類-H01J 49/02 500, FI分類-H01J 49/06 500, FI分類-H01J 49/06 700, FI分類-H01J 49/42 250 |
2019年11月18日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置および質量分析装置用のイオン源 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 G |
2019年11月14日 特許庁 / 特許 | 血液凝固分析装置、及び分注ノズルの洗浄方法 FI分類-G01N 35/10 F |
2019年11月13日 特許庁 / 特許 | 黒鉛炉および黒鉛炉で使用される変圧器 FI分類-H02H 7/00 H, FI分類-H02H 7/04 C, FI分類-H01F 30/10 Z, FI分類-G01N 21/31 610 |
2019年11月13日 特許庁 / 特許 | ベロ毒素の検出方法 FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/483 E, FI分類-C12N 15/31 ZNA |
2019年11月13日 特許庁 / 特許 | 分子の分離方法 FI分類-G01N 1/10 B, FI分類-G01N 27/62 B |
2019年11月13日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプの振動測定方法および真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 F |
2019年11月13日 特許庁 / 特許 | 診断画像システムおよび診断画像管理方法 FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2019年11月12日 特許庁 / 特許 | 歯車ポンプ又は歯車モータ FI分類-F03C 2/08 A, FI分類-F04C 15/00 G, FI分類-F04C 2/18 311 D |
2019年11月12日 特許庁 / 特許 | 分析方法、分析装置およびプログラム FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/88 X |
2019年11月11日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法及び質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/00 500 |
2019年11月08日 特許庁 / 特許 | 光通信装置 FI分類-H04B 10/11, FI分類-H04B 10/66, FI分類-H04B 10/80 |
2019年11月06日 特許庁 / 特許 | 試料成分推定方法、試料成分推定装置、試料成分推定プログラム、学習方法および学習プログラム FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252 |
2019年11月05日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 E |
2019年11月01日 特許庁 / 特許 | 熱分析装置 FI分類-G01N 5/04 A, FI分類-G01N 25/20 G |
2019年11月01日 特許庁 / 特許 | イオン選択方法及びイオントラップ質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2019年11月01日 特許庁 / 特許 | 細胞培養装置 FI分類-C12M 1/04 |
2019年10月30日 特許庁 / 特許 | 分析方法、吸着防止剤および分析用キット FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/88 D |
2019年10月29日 特許庁 / 特許 | 脳梗塞治療支援システム FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 33/48 Z, FI分類-G01N 33/50 P, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 5/055 390, FI分類-A61B 6/00 330 A, FI分類-A61B 6/03 360 Q |
2019年10月29日 特許庁 / 特許 | 試料導入装置 FI分類-G01N 30/26 N, FI分類-G01N 30/60 P |
2019年10月28日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 G |
2019年10月25日 特許庁 / 特許 | 試料測定装置および測定パラメータ解析方法 FI分類-G01N 30/30, FI分類-G01N 30/86 Z, FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2019年10月24日 特許庁 / 特許 | ガス発生装置およびガス発生方法 FI分類-G01N 30/04 P, FI分類-G01N 1/00 101 T, FI分類-G01N 1/00 102 D |
2019年10月23日 特許庁 / 特許 | 診断支援方法および診断支援システム FI分類-G16H 50/20, FI分類-A61B 10/00 H |
2019年10月21日 特許庁 / 特許 | 分析用試料の調製方法、分析方法および分析用試料の調製用キット FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/06 A, FI分類-G01N 30/88 N |
2019年10月21日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/10 350, FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X, FI分類-A61B 6/00 320 M |
2019年10月18日 特許庁 / 特許 | 真空排気装置および真空排気装置の起動方法 FI分類-F04D 19/04 H |
2019年10月17日 特許庁 / 特許 | 航空機検査支援装置および航空機検査支援方法 FI分類-B64F 5/60 |
2019年10月17日 特許庁 / 特許 | 生体内チューブ導入判定装置 FI分類-A61J 15/00 A |
2019年10月16日 特許庁 / 特許 | 土壌浄化装置および土壌浄化方法 FI分類-B09C 1/06, FI分類-E02D 3/10 101, FI分類-E02D 3/10 102 |
2019年10月16日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/16, FI分類-G01N 27/62 X |
2019年10月16日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ用送液システム FI分類-G01N 30/34 A |
2019年10月15日 特許庁 / 特許 | 加振機及び疲労・耐久試験装置 FI分類-G01N 3/34 A |
2019年10月15日 特許庁 / 特許 | 事例検索方法および事例検索システム FI分類-G06F 16/332, FI分類-G06F 16/335 |
2019年10月15日 特許庁 / 特許 | 分析システム管理ネットワーク FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/86 V, FI分類-G01N 30/86 Z |
2019年10月15日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/34 A, FI分類-G01N 30/86 P, FI分類-G01N 30/86 T |
2019年10月15日 特許庁 / 特許 | 溶媒消費量管理システム FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/26 Z |
2019年10月11日 特許庁 / 特許 | マルチターン型飛行時間型質量分析装置及びその製造方法 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 E |
2019年10月11日 特許庁 / 特許 | 細胞画像解析方法及び細胞解析装置 FI分類-C12Q 1/06, FI分類-C12M 1/34 B |
2019年10月10日 特許庁 / 特許 | バルブ制御装置および推定装置 FI分類-G05D 16/20 Z |
2019年10月09日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子操作デバイス FI分類-B03C 1/01, FI分類-B03C 1/24, FI分類-C12M 1/32, FI分類-G01N 1/34, FI分類-B03C 1/00 A, FI分類-B01J 19/08 D |
2019年10月09日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置およびX線位相イメージング方法 FI分類-G01N 23/041, FI分類-G01T 7/00 B, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2019年10月08日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡および走査型プローブ顕微鏡の位置調整方法 FI分類-G01Q 20/02, FI分類-G01Q 60/24 |
2019年10月04日 特許庁 / 特許 | MALDI用前処理装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/16, FI分類-G01N 1/28 N, FI分類-G01N 27/62 G |
2019年10月03日 特許庁 / 特許 | リニアイオントラップ及びその操作方法 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2019年10月03日 特許庁 / 特許 | 水質分析計 FI分類-G01N 33/18 106 Z |
2019年10月03日 特許庁 / 特許 | 水中光無線通信システム、水中光無線通信方法、および、水中移動体 FI分類-H04B 10/80 |
2019年10月02日 特許庁 / 特許 | 波形解析方法及び波形解析装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/86 H, FI分類-H01J 49/00 360 |
2019年10月01日 特許庁 / 特許 | 光学分析装置及び方法 FI分類-G01J 3/02 R, FI分類-G09G 5/02 Z, FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G09G 5/00 510 A, FI分類-G09G 5/36 510 A |
2019年09月27日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 G |
2019年09月27日 特許庁 / 特許 | 画像作成装置、画像作成方法および学習済みモデルの作成方法 FI分類-G06T 1/40, FI分類-A61B 6/03 360 D, FI分類-A61B 6/03 360 J, FI分類-A61B 6/03 360 T |
2019年09月27日 特許庁 / 特許 | 顕微分光装置、及び顕微分光方法 FI分類-G01J 3/44, FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01J 3/42 U, FI分類-G01N 21/64 E |
2019年09月26日 特許庁 / 特許 | 試料注入装置 FI分類-G01N 30/18 Z, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2019年09月26日 特許庁 / 特許 | 水質分析計 FI分類-G01N 31/12 A, FI分類-G01N 33/18 B |
2019年09月26日 特許庁 / 特許 | 5-フルオロウラシルおよび5-フルオロジヒドロウラシルの分析方法 FI分類-G01N 30/06 C, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/88 D, FI分類-G01N 30/88 X |
2019年09月24日 特許庁 / 特許 | マイクロバルブ FI分類-B81B 3/00, FI分類-F16K 7/17 B |
2019年09月24日 特許庁 / 特許 | ガス供給方法およびガスサンプラ FI分類-G01N 30/16 K, FI分類-G01N 30/20 G, FI分類-G01N 30/20 J, FI分類-G01N 30/26 M |
2019年09月24日 特許庁 / 特許 | ガスサンプラ FI分類-G01N 30/20 G |
2019年09月20日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置および位相コントラスト画像生成方法 FI分類-G01N 23/041, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2019年09月20日 特許庁 / 特許 | 標的核酸の検査方法および検査装置 FI分類-C12Q 1/686 Z, FI分類-C12Q 1/6888 Z |
2019年09月20日 特許庁 / 特許 | ペプチド主鎖のCα-C結合および/または側鎖を特異的に切断する切断方法、分析方法および特異的切断試薬 FI分類-G01N 27/62 V |
2019年09月20日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプおよび制御装置 FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F16C 32/04 A |
2019年09月20日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフィー分取システム FI分類-G01N 30/82, FI分類-G01N 30/80 E, FI分類-G01N 30/80 F, FI分類-G01N 30/86 E |
2019年09月19日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置 FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 350 S, FI分類-A61B 6/00 360 B, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2019年09月19日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 P |
2019年09月18日 特許庁 / 特許 | 欠陥検査装置 FI分類-G01B 11/30, FI分類-G01N 21/892 B |
2019年09月18日 特許庁 / 特許 | 解析方法、分析方法および微生物の識別方法 FI分類-C12Q 1/14, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/48 M |
2019年09月17日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/20 |
2019年09月17日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 R, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2019年09月13日 特許庁 / 特許 | 医用画像処理装置、X線画像処理システム、および、学習モデルの生成方法 FI分類-G06T 7/00 614, FI分類-A61B 6/03 360 Z, FI分類-G06T 1/00 290 B, FI分類-G06T 7/00 350 B |
2019年09月13日 特許庁 / 特許 | 診断画像システムおよび診断画像表示方法 FI分類-A61B 34/20, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 360 B, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2019年09月13日 特許庁 / 特許 | 診断画像システムおよび診断画像管理方法 FI分類-A61B 6/00 360 B, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2019年09月12日 特許庁 / 特許 | 試料前処理装置 FI分類-G01N 27/62 F |
2019年09月12日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/86 T, FI分類-G01N 30/86 V |
2019年09月12日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフィーシステム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/86 P, FI分類-G01N 30/86 T, FI分類-G01N 35/00 F |
2019年09月12日 特許庁 / 特許 | ガス吸光分光測定装置、周波数ロック方法、及びガス吸光分光測定方法 FI分類-G02F 1/37, FI分類-G01N 21/39, FI分類-G01N 21/3504 |
2019年09月11日 特許庁 / 特許 | 光散乱検出装置 FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 21/47 Z |
2019年09月10日 特許庁 / 特許 | 排気システムおよび真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 G |
2019年09月10日 特許庁 / 特許 | 金属膜付樹脂成形品及びその製造方法 FI分類-B32B 15/09, FI分類-B32B 27/36, FI分類-C08L 67/02, FI分類-C08L 69/00, FI分類-C23C 28/02, FI分類-C08L 101/02, FI分類-C23C 14/20 A, FI分類-B32B 27/36 102 |
2019年09月10日 特許庁 / 特許 | 心房細動指標値の測定方法 FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 27/62 C |
2019年09月10日 特許庁 / 特許 | ガス検査装置におけるガス供給部の洗浄方法 FI分類-G01N 1/00 F, FI分類-G01N 1/00 101 R, FI分類-G01N 1/00 101 T |
2019年09月07日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフィーシステム FI分類-G01N 30/02 Z |
2019年09月06日 特許庁 / 特許 | 分析システム、分析支援装置、分析方法および分析支援方法 FI分類-G01N 30/82, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/16 E, FI分類-G01N 30/18 E, FI分類-G01N 30/86 Q |
2019年09月06日 特許庁 / 特許 | 微生物判別方法、微生物判別システム、及び微生物判別プログラム FI分類-C12Q 1/04, FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V |
2019年09月06日 特許庁 / 特許 | 磁気共鳴分光装置および磁気共鳴分光の測定方法 FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 24/08 510 P |
2019年09月06日 特許庁 / 特許 | 粒状物質をイムノクロマトグラフィー法によって検出する方法及びそのためのキット FI分類-G01N 21/78 C, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 33/543 521 |
2019年09月06日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフシステム FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 30/74 Z |
2019年09月05日 特許庁 / 特許 | 熱分析装置 FI分類-G01N 25/00 J, FI分類-G01N 25/20 A, FI分類-G01N 25/20 E |
2019年09月05日 特許庁 / 特許 | 診療支援方法、診療支援システム、学習モデルの生成方法、および、診療支援プログラム FI分類-G16H 50/20, FI分類-A61B 5/00 G |
2019年09月04日 特許庁 / 特許 | 画像解析方法、画像処理装置および骨密度測定装置 FI分類-G16H 30/00, FI分類-G06T 7/00 612, FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 350 D, FI分類-G06T 7/00 350 B |
2019年09月03日 特許庁 / 特許 | 多連バルブ装置およびその多連バルブ装置を備えた荷役装置 FI分類-B66F 9/22 X, FI分類-F15B 21/041 |
2019年08月30日 特許庁 / 特許 | 質量分析データ処理方法、質量分析データ処理システム、及びプログラム FI分類-G06F 16/906, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G06N 20/00 130 |
2019年08月30日 特許庁 / 特許 | 生体膜ホスホイノシタイドの分離方法 FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/88 E, FI分類-B01J 20/285 N |
2019年08月29日 特許庁 / 特許 | ガス測定装置及びガス測定方法 FI分類-G01N 21/39, FI分類-G01N 21/3504 |
2019年08月29日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用オートサンプラ FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/10 A |
2019年08月27日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2019年08月27日 特許庁 / 特許 | 治療支援装置、治療光制御方法 FI分類-A61N 5/06 A |
2019年08月26日 特許庁 / 特許 | 細胞培養撮像装置および細胞培養撮像方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 3/00 Z |
2019年08月26日 特許庁 / 特許 | 熱分析装置 FI分類-G01N 25/00 M, FI分類-G01N 25/20 C |
2019年08月26日 特許庁 / 特許 | 熱分析装置 FI分類-G01N 25/00 N, FI分類-G01N 25/20 E |
2019年08月23日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子操作装置及び磁性体粒子操作方法 FI分類-G01N 1/34, FI分類-B03C 1/00 A, FI分類-B01J 19/08 D |
2019年08月23日 特許庁 / 特許 | 分析用試料の調製方法、分析方法および分析用試料の調製用キット FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-G01N 1/28 L, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/66 Z |
2019年08月22日 特許庁 / 特許 | 光脳機能計測装置用ファントム装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-G01N 21/01 A, FI分類-G01N 21/17 625 |
2019年08月21日 特許庁 / 特許 | 示差熱・熱重量同時測定装置 FI分類-G01N 25/20 D, FI分類-G01N 25/20 G |
2019年08月21日 特許庁 / 特許 | 操縦支援システム FI分類-B64D 47/08, FI分類-B64D 45/00 A, FI分類-G01C 21/26 B |
2019年08月20日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフィ検出器用フローセルおよびクロマトグラフィ検出器 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/74 Z |
2019年08月19日 特許庁 / 特許 | 移動相残量計 FI分類-G01G 21/22, FI分類-G01G 23/18, FI分類-G01G 17/04 Z, FI分類-G01G 23/00 B |
2019年08月13日 特許庁 / 特許 | 分析装置、分析方法、微量液体採取装置、および微量液体採取方法 FI分類-G01N 1/38, FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 1/00 101 K |
2019年08月13日 特許庁 / 特許 | 分析機器用シール材、及び、それを用いたフローセル、検出機器、分析機器 FI分類-C09K 3/10 R, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/74 A |
2019年08月13日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 23/203, FI分類-G01N 23/2206, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01N 23/2252, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-H01J 37/22 502 A, FI分類-H01J 37/22 502 Z |
2019年08月09日 特許庁 / 特許 | 水質分析計及び水質分析方法 FI分類-G01N 21/59 Z, FI分類-G01N 21/75 Z, FI分類-G01N 21/77 B, FI分類-G01N 21/78 Z, FI分類-G01N 31/00 J, FI分類-G01N 31/00 N, FI分類-G01N 33/18 C |
2019年08月09日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2019年08月08日 特許庁 / 特許 | 質量分析データ処理方法、質量分析データ処理システム、及び質量分析データ処理プログラム FI分類-C12Q 1/02, FI分類-H01J 49/16, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D |
2019年08月07日 特許庁 / 特許 | ジャイロセンサおよび表示装置 FI分類-G02F 1/21, FI分類-G02F 1/39, FI分類-G01C 19/58 |
2019年08月07日 特許庁 / 特許 | 糖ペプチド解析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X |
2019年08月07日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析装置用プログラム FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/04 500, FI分類-H01J 49/04 680, FI分類-H01J 49/16 500 |
2019年08月06日 特許庁 / 特許 | 試料注入装置、試料注入装置の教示方法および試料注入装置の教示プログラム FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 30/24 J, FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 1/00 101 K |
2019年08月06日 特許庁 / 特許 | ガス分取システム FI分類-B01J 20/283, FI分類-B01J 20/10 D, FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/80 B, FI分類-G01N 30/80 E, FI分類-G01N 30/84 J |
2019年08月05日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ用検出器 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/59 Z |
2019年08月02日 特許庁 / 特許 | 変位分布計測装置、変位分布計測方法、及び変位分布計測装置の制御プログラム FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01B 11/16 H |
2019年08月02日 特許庁 / 特許 | 治療支援装置および治療支援方法 FI分類-A61B 10/00 E |
2019年08月01日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置 FI分類-G01N 23/041 |
2019年08月01日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置 FI分類-A61B 6/00 300 B, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2019年08月01日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/02 200, FI分類-H01J 49/42 400, FI分類-H01J 49/42 900 |
2019年08月01日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-H01J 49/00 040, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360 |
2019年07月30日 特許庁 / 特許 | 分注チップホルダ FI分類-G01N 35/10 G |
2019年07月29日 特許庁 / 特許 | バルブ制御装置および真空バルブ FI分類-G05D 16/20 C |
2019年07月29日 特許庁 / 特許 | バルブ制御装置、真空バルブおよびバルブ制御方法 FI分類-F16K 51/02 Z, FI分類-G05B 11/36 N, FI分類-G05B 13/02 A |
2019年07月29日 特許庁 / 特許 | イオン化装置 FI分類-H01J 27/24, FI分類-H01J 37/08, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/16 400 |
2019年07月26日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置 FI分類-G01N 23/041, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2019年07月26日 特許庁 / 特許 | X線位相差撮影装置 FI分類-G01N 23/20, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2019年07月26日 特許庁 / 特許 | 質量分析で得られたデータの解析方法、質量分析方法およびプログラム FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/00 500 |
2019年07月26日 特許庁 / 特許 | 細胞ピッキング装置 FI分類-C12M 1/26, FI分類-C12M 1/00 A |
2019年07月26日 特許庁 / 特許 | 細胞ピッキング装置 FI分類-C12M 1/26, FI分類-C12M 3/00, FI分類-C12Q 1/02, FI分類-C12Q 1/24 |
2019年07月26日 特許庁 / 特許 | 細胞回収装置および細胞回収方法 FI分類-C12M 1/00, FI分類-C12M 1/24, FI分類-C12M 3/00 Z |
2019年07月26日 特許庁 / 特許 | 細胞ピッキング装置 FI分類-C12M 1/00 |
2019年07月25日 特許庁 / 特許 | X線イメージング装置およびX線イメージング方法 FI分類-G01N 23/041, FI分類-G01N 23/046, FI分類-A61B 6/00 350 Z |
2019年07月25日 特許庁 / 特許 | X線位相差撮影システム FI分類-G01N 23/041, FI分類-G01N 23/046 |
2019年07月23日 特許庁 / 特許 | ヘッドモーショントラッカ装置 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/26 H |
2019年07月22日 特許庁 / 特許 | 核酸の検出方法 FI分類-C12N 15/09 Z, FI分類-C12Q 1/686 Z |
2019年07月22日 特許庁 / 特許 | X線位相撮像システム FI分類-G01N 23/041, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2019年07月19日 特許庁 / 特許 | 分注装置 FI分類-G01N 35/10 D, FI分類-G01N 1/00 101 K |
2019年07月19日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 450, FI分類-H01J 49/00 810 |
2019年07月19日 特許庁 / 特許 | 航空機検査支援装置および航空機検査支援方法 FI分類-B64F 5/60 |
2019年07月19日 特許庁 / 特許 | 細胞の分化状態の評価方法 FI分類-C12Q 1/06, FI分類-C12N 5/071, FI分類-G01N 33/68, FI分類-C12N 5/0735 |
2019年07月18日 特許庁 / 特許 | X線位相撮像装置 FI分類-G01N 23/041, FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 350 M |
2019年07月18日 特許庁 / 特許 | 熱伝導度検出器およびそれを備えるガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/66, FI分類-G01N 27/04 H |
2019年07月18日 特許庁 / 特許 | 分光素子 FI分類-G21K 1/06 C |
2019年07月18日 特許庁 / 特許 | 細胞画像解析方法および細胞画像解析装置 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G06T 7/00 630, FI分類-G06T 7/00 350 B |
2019年07月17日 特許庁 / 特許 | 非対称流流動場分画装置 FI分類-B03B 5/62, FI分類-B03B 13/00, FI分類-C02F 1/44 A |
2019年07月16日 特許庁 / 特許 | 四重極質量分析装置および質量分析方法 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2019年07月11日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 30/26 Z |
2019年07月11日 特許庁 / 特許 | ガス分析装置 FI分類-G01N 1/22 P |
2019年07月10日 特許庁 / 特許 | サンプリング装置 FI分類-C12M 1/26 |
2019年07月10日 特許庁 / 特許 | キャップ着脱装置、並びに、これを備えたサンプリング装置及び前処理装置 FI分類-C12M 1/26, FI分類-C12M 1/00 Z |
2019年07月10日 特許庁 / 特許 | 攪拌装置及び前処理装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/02 A |
2019年07月10日 特許庁 / 特許 | 攪拌装置及び前処理装置 FI分類-C12M 1/26, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 A |
2019年07月10日 特許庁 / 特許 | 固液界面検出装置及びこれを備えた前処理装置 FI分類-C12M 1/26, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 3/00 Z, FI分類-G01F 23/292 Z |
2019年07月10日 特許庁 / 特許 | 試料前処理装置、該装置を備えた分析システム、及びオートサンプラ FI分類-G01N 35/04 G |
2019年07月09日 特許庁 / 特許 | 送液ポンプ及び液体クロマトグラフ FI分類-F04B 49/00 Z, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/34 A, FI分類-G01N 30/86 T, FI分類-F04B 49/06 311 |
2019年07月09日 特許庁 / 特許 | iPS細胞の分化効率予測モデルの構築方法及びiPS細胞の分化効率予測方法 FI分類-C12N 5/10, FI分類-C12Q 1/02, FI分類-C07K 16/28, FI分類-C12N 5/077, FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 33/48 M, FI分類-G01N 33/48 Z, FI分類-G01N 33/53 Y |
2019年07月05日 特許庁 / 特許 | 細胞観察装置 FI分類-G02B 21/06, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 A, FI分類-G01N 21/45 Z |
2019年07月05日 特許庁 / 特許 | 光散乱検出装置 FI分類-G01N 15/00 A, FI分類-G01N 21/53 Z, FI分類-G01N 30/74 Z |
2019年07月04日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 X |
2019年07月03日 特許庁 / 特許 | フロー型流動場分離装置 FI分類-B03B 5/62, FI分類-B03B 5/00 Z, FI分類-G01N 15/00 Z |
2019年07月02日 特許庁 / 特許 | 原子吸光分光光度計 FI分類-G01N 21/31 610 B |
2019年07月01日 特許庁 / 特許 | くさび形つかみ具 FI分類-G01N 3/04 A |
2019年07月01日 特許庁 / 特許 | イオン化装置及びイオン分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/04 090, FI分類-H01J 49/04 590, FI分類-H01J 49/16 100 |
2019年06月27日 特許庁 / 特許 | 関連文書を検索して表示する方法およびシステム FI分類-G06F 16/338 |
2019年06月26日 特許庁 / 特許 | 光散乱検出装置および光散乱検出方法 FI分類-G01N 21/51, FI分類-G01N 15/02 A |
2019年06月26日 特許庁 / 特許 | バイナリポンプ及び液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/32 C, FI分類-F04B 49/06 311 |
2019年06月25日 特許庁 / 特許 | X線装置 FI分類-H05G 1/26 T |
2019年06月25日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/02 Z, FI分類-G01N 3/34 R |
2019年06月25日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/02 Z, FI分類-G01N 3/34 R |
2019年06月24日 特許庁 / 特許 | 吸収係数画像推定方法、吸収係数画像推定プログラム、および、ポジトロンCT装置 FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-G01T 1/161 C |
2019年06月21日 特許庁 / 特許 | 試験装置、及び試験装置の制御方法 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/16 H |
2019年06月20日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C |
2019年06月20日 特許庁 / 特許 | 歯車機構 FI分類-F16H 55/12 A |
2019年06月19日 特許庁 / 特許 | 非アルコール性脂肪肝疾患の検出方法、非アルコール性脂肪肝疾患検出用キットおよび非アルコール性脂肪肝疾患検出用バイオマーカー FI分類-G01N 33/53 S |
2019年06月19日 特許庁 / 特許 | 骨部画像解析方法および学習方法 FI分類-A61B 6/12, FI分類-G06T 7/00 612, FI分類-A61B 6/00 350 D, FI分類-A61B 6/00 360 Z, FI分類-G06T 7/00 350 C |
2019年06月17日 特許庁 / 特許 | 香気性化合物の分離方法及び超臨界流体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 F, FI分類-B01J 20/281 G, FI分類-B01J 20/285 M, FI分類-B01J 20/285 S |
2019年06月17日 特許庁 / 特許 | シリンジポンプによる液の吸入の有無を検出する方法、及びシリンジポンプを備えた装置 FI分類-G01N 33/18 A, FI分類-G01N 1/00 101 F |
2019年06月12日 特許庁 / 特許 | 自然発火試験装置 FI分類-G01N 25/50 A |
2019年06月11日 特許庁 / 特許 | 分析装置及びX線回折装置 FI分類-G01N 23/2055 320 |
2019年06月11日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量較正方法 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 D |
2019年06月11日 特許庁 / 特許 | 立体物の外観検査装置および立体物の外観検査方法 FI分類-G01N 21/88 Z |
2019年06月11日 特許庁 / 特許 | X線位相撮像システム FI分類-G01N 23/041, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2019年06月11日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体装置用移動相温調装置および超臨界流体装置 FI分類-G01N 30/30, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/54 G |
2019年06月11日 特許庁 / 特許 | 背圧制御弁 FI分類-F16K 7/12 A, FI分類-F16K 7/16 D, FI分類-F16K 7/16 Z |
2019年06月11日 特許庁 / 特許 | 液化二酸化炭素供給装置および超臨界流体装置 FI分類-B01D 15/16, FI分類-B01D 15/40, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/26 E |
2019年06月11日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体クロマトグラフおよび超臨界流体クロマトグラフにおけるサンプル供給方法 FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/16 Z, FI分類-G01N 30/20 Z, FI分類-G01N 30/26 M |
2019年06月10日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01N 3/20, FI分類-G05B 5/01, FI分類-G01N 3/32 H, FI分類-G05B 13/02 B |
2019年06月10日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 30/72 F, FI分類-H01J 49/00 400, FI分類-H01J 49/04 220, FI分類-H01J 49/04 680 |
2019年06月07日 特許庁 / 特許 | 微生物の検出方法 FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-C12Q 1/6888 Z, FI分類-C12Q 1/686 ZNAZ |
2019年06月06日 特許庁 / 特許 | 格子の調整方法 FI分類-G01N 23/041 |
2019年06月06日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360 |
2019年06月05日 特許庁 / 特許 | 成膜方法、樹脂製品の製造方法および成膜装置 FI分類-B32B 37/00, FI分類-B32B 15/08 D, FI分類-C23C 14/20 A, FI分類-C23C 14/34 R |
2019年05月31日 特許庁 / 特許 | 導電膜形成方法、および配線基板の製造方法 FI分類-H05K 3/16, FI分類-C23C 14/02 Z |
2019年05月30日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-G01N 27/62 F |
2019年05月30日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプおよびリークディテクタ FI分類-G01M 3/20 D, FI分類-F04D 19/04 D |
2019年05月30日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/26 Z, FI分類-G01N 30/34 Z, FI分類-G01N 30/86 T, FI分類-G01N 30/86 V |
2019年05月29日 特許庁 / 特許 | マーカ物質の探索支援方法、探索支援プログラムおよび探索支援装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/48 M, FI分類-G01N 33/48 Z, FI分類-G01N 33/483 E |
2019年05月29日 特許庁 / 特許 | 細胞培養装置および細胞培養方法 FI分類-C12M 1/00 C |
2019年05月29日 特許庁 / 特許 | 光散乱検出装置 FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 21/49 A |
2019年05月28日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/08 309 B |
2019年05月27日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2019年05月27日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/04 500, FI分類-H01J 49/04 680, FI分類-H01J 49/14 500, FI分類-H01J 49/16 700 |
2019年05月27日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ及び液体クロマトグラフ制御方法 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/86 T |
2019年05月27日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置およびX線撮影装置の障害物接触回避方法 FI分類-A61B 6/10 350 |
2019年05月24日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用サンプル温調装置 FI分類-G01N 30/16 L, FI分類-G01N 30/20 N, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 35/00 B |
2019年05月24日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフおよびクロマトグラフのカラム選択方法 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/46 Z, FI分類-G01N 30/86 Q |
2019年05月24日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプおよび磁気軸受一体型モータ FI分類-F04D 19/04 A, FI分類-F04D 19/04 D |
2019年05月23日 特許庁 / 特許 | 糖鎖構造解析装置、及び糖鎖構造解析用プログラム FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V |
2019年05月23日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置およびX線撮影装置の使用方法 FI分類-A61B 6/10 350, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2019年05月21日 特許庁 / 特許 | 放射線検出装置の2次元位置マップの校正方法および放射線検出装置 FI分類-G01T 1/20 B, FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 G, FI分類-G01T 1/20 J, FI分類-G01T 1/164 B |
2019年05月21日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/10 300, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2019年05月21日 特許庁 / 特許 | 欠陥検出装置 FI分類-G01J 9/02, FI分類-G01N 29/24, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 Z |
2019年05月20日 特許庁 / 特許 | 応力発光データ処理装置、応力発光データ処理方法、応力発光測定装置および応力発光試験システム FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 21/70, FI分類-G01L 1/00 B, FI分類-G01L 1/00 E, FI分類-G01L 1/24 Z |
2019年05月20日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプおよび質量分析装置 FI分類-H01J 49/24, FI分類-F04D 19/04 G, FI分類-G01N 27/62 B |
2019年05月17日 特許庁 / 特許 | 土壌浄化装置および土壌浄化方法 FI分類-B09C 1/06 ZAB |
2019年05月17日 特許庁 / 特許 | 位置決め装置 FI分類-A61N 5/10 M |
2019年05月15日 特許庁 / 特許 | X線CT装置およびX線CT撮影方法 FI分類-G01N 23/046 |
2019年05月15日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/46 A, FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/86 R, FI分類-G01N 30/86 V |
2019年05月13日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフィー分析システム FI分類-G01N 30/30, FI分類-G01N 30/32 |
2019年05月10日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフに使用されるフィルタおよび液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/26 P, FI分類-G01N 30/60 B |
2019年05月09日 特許庁 / 特許 | 短鎖塩素化パラフィンの同族体の検出方法 FI分類-B01J 20/287, FI分類-B01J 20/288, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/04 P, FI分類-G01N 30/46 A, FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/86 J, FI分類-G01N 30/88 X |
2019年05月09日 特許庁 / 特許 | 分析装置のレポート作成装置、方法およびプログラム FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G06F 17/21 620, FI分類-G06F 17/24 680 |
2019年05月09日 特許庁 / 特許 | パイロットロック弁 FI分類-F15B 11/00 D, FI分類-F15B 11/08 B |
2019年05月08日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用データ処理装置および自動試料注入装置 FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 30/24 J, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 C |
2019年05月08日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 G |
2019年05月08日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 30/86 E |
2019年05月07日 特許庁 / 特許 | 磁性体検査装置および磁性体検査方法 FI分類-G01N 27/82 |
2019年05月07日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置 FI分類-G01N 23/041 |
2019年04月26日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用検出器 FI分類-G01N 30/74, FI分類-H05B 41/282, FI分類-H05B 41/295, FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 21/17 D |
2019年04月25日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 10/04 101 |
2019年04月25日 特許庁 / 特許 | 試料注出補助具及び試料注出方法 FI分類-B01L 3/00, FI分類-G01N 1/10 H, FI分類-G01N 1/10 N, FI分類-G01N 1/00 101 F |
2019年04月25日 特許庁 / 特許 | 分取クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 30/32 A |
2019年04月25日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 A |
2019年04月24日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置 FI分類-G01N 23/041 |
2019年04月24日 特許庁 / 特許 | パラメータ探索方法、パラメータ探索装置、及びパラメータ探索用プログラム FI分類-G06N 7/00 150, FI分類-G06N 99/00 180 |
2019年04月24日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置 FI分類-G01N 23/041, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 350 M |
2019年04月24日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフィ検出器用フローセルおよびクロマトグラフィ検出器 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 30/74 E |
2019年04月22日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置およびX線位相コントラスト画像生成方法 FI分類-G01N 23/041, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 320 Z, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2019年04月19日 特許庁 / 特許 | 前処理装置 FI分類-B01D 61/22, FI分類-G01N 1/10 B |
2019年04月19日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/26 N, FI分類-G01N 30/46 E |
2019年04月19日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 N, FI分類-G01N 30/46 E |
2019年04月18日 特許庁 / 特許 | 培地処理システム及び培地処理方法 FI分類-G01N 30/04 A, FI分類-G01N 30/04 P, FI分類-G01N 30/06 C, FI分類-G01N 35/04 A |
2019年04月18日 特許庁 / 特許 | パーティクル計数方法及びパーティクル計数装置 FI分類-G01N 15/06 C, FI分類-G01N 15/06 D |
2019年04月17日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 G |
2019年04月17日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプおよびその起動制御プログラム FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F04D 27/00 L |
2019年04月17日 特許庁 / 特許 | 電源一体型真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 G |
2019年04月17日 特許庁 / 特許 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 FI分類-G01N 29/06 |
2019年04月16日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフシステム、オートサンプラおよび洗浄方法 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/18 G, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 30/26 Q |
2019年04月15日 特許庁 / 特許 | ポンプ監視装置および真空ポンプ FI分類-F04B 51/00, FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F04D 27/00 H, FI分類-F04B 49/02 331 F, FI分類-F04B 49/10 331 P |
2019年04月15日 特許庁 / 特許 | 診断支援システム、診断支援装置および診断支援方法 FI分類-G16H 50/70 |
2019年04月12日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/04 Z |
2019年04月12日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01B 11/00 H |
2019年04月12日 特許庁 / 特許 | グリコサミノグリカンの分析方法 FI分類-B01J 20/288, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 M, FI分類-G01N 30/88 E, FI分類-G01N 30/88 N |
2019年04月12日 特許庁 / 特許 | 生体試料の中の金属タンパク質の分析方法 FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/08 L, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/88 J, FI分類-B01J 20/281 R |
2019年04月12日 特許庁 / 特許 | 発光分析装置、及び、そのメンテナンス方法 FI分類-G01N 21/67 C |
2019年04月10日 特許庁 / 特許 | 密閉型X線管およびX線発生装置 FI分類-H01J 35/16, FI分類-H05G 1/02 S |
2019年04月10日 特許庁 / 特許 | 親水性材料の疎水化方法 FI分類-B01J 20/30, FI分類-B01J 20/283, FI分類-B01J 20/287, FI分類-B01J 20/10 D, FI分類-B01J 20/281 X |
2019年04月10日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 331 A, FI分類-A61B 6/00 350 P, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2019年04月10日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2019年04月08日 特許庁 / 特許 | 試料採取デバイス FI分類-G01N 1/10 H, FI分類-G01N 1/10 N |
2019年04月04日 特許庁 / 特許 | 表面分析装置 FI分類-G01Q 10/02, FI分類-G01Q 10/02 111 |
2019年04月04日 特許庁 / 特許 | 粒子線分析装置 FI分類-G01N 23/225, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/252 A |
2019年04月03日 特許庁 / 特許 | 光導波路 FI分類-G02B 6/122, FI分類-G02F 1/377 |
2019年04月03日 特許庁 / 特許 | 放射線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 331 A, FI分類-A61B 6/00 350 M, FI分類-A61B 6/00 350 S |
2019年04月03日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法、質量分析装置、プログラムおよび質量分析用キット FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/72 A |
2019年04月02日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/42 400 |
2019年04月01日 特許庁 / 特許 | 制御装置、材料試験機、材料試験機の制御方法及びプログラム FI分類-G01N 3/06, FI分類-G05B 11/36 501 H |
2019年04月01日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G05B 13/02 B |
2019年04月01日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/08 |
2019年04月01日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/08 |
2019年04月01日 特許庁 / 特許 | イオンクロマトグラフおよびイオン成分分析方法 FI分類-G01N 30/02 E, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/26 A |
2019年04月01日 特許庁 / 特許 | 電気式産業車両における油圧回路 FI分類-B66F 9/22 X |
2019年03月29日 特許庁 / 特許 | 制御装置、材料試験機、制御装置の制御方法、及び制御プログラム FI分類-G01N 3/06, FI分類-G05B 11/36 501 P |
2019年03月29日 特許庁 / 特許 | 寸法測定方法、寸法測定装置、自動引張試験装置及び耐力評価方法 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01B 21/08, FI分類-G01B 21/02 Z |
2019年03月28日 特許庁 / 特許 | 未就学児童用計測プローブおよび未就学児童用脳機能計測装置 FI分類-A61B 5/1455, FI分類-A61B 10/00 E |
2019年03月28日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び、材料試験機の制御方法 FI分類-G01H 3/08, FI分類-G01N 3/06, FI分類-G05B 11/36 501 E, FI分類-G05B 11/36 503 A |
2019年03月28日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び、材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G05B 11/36 503 Z |
2019年03月28日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び、材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G05B 11/36 501 D |
2019年03月28日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び、材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 3/00 T, FI分類-G05D 3/12 305 Z |
2019年03月27日 特許庁 / 特許 | 制御装置、材料試験機、制御装置の制御方法、及び制御プログラム FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 3/08, FI分類-G05B 13/04, FI分類-G05B 13/02 D |
2019年03月27日 特許庁 / 特許 | 材料試験機、及び、材料試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 3/08, FI分類-G05B 13/02 B |
2019年03月27日 特許庁 / 特許 | バルブ制御装置および真空バルブ FI分類-G05D 16/20 C |
2019年03月27日 特許庁 / 特許 | 同定装置、材料試験機、同定装置の制御方法、及び制御プログラム FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 3/08, FI分類-G05B 13/02 D |
2019年03月27日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 B |
2019年03月27日 特許庁 / 特許 | イオンサプレッサ FI分類-G01N 30/02 E, FI分類-G01N 30/88 H |
2019年03月27日 特許庁 / 特許 | イオンクロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 E |
2019年03月27日 特許庁 / 特許 | イオンサプレッサ FI分類-G01N 30/02 E, FI分類-G01N 30/88 H |
2019年03月27日 特許庁 / 特許 | クロマトグラム表示装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 D |
2019年03月26日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 3/20 |
2019年03月26日 特許庁 / 特許 | 衝撃試験機 FI分類-G01N 3/30 Z, FI分類-G03B 15/00 R, FI分類-H04N 5/232 220 |
2019年03月26日 特許庁 / 特許 | 故障診断システムおよび故障診断方法 FI分類-B66F 9/22 R, FI分類-F15B 20/00 E |
2019年03月25日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2019年03月22日 特許庁 / 特許 | ガス濃度測定装置の較正方法 FI分類-G01N 21/61 |
2019年03月22日 特許庁 / 特許 | 微生物の識別方法 FI分類-G01N 27/62 V |
2019年03月22日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 B, FI分類-F04D 19/04 H |
2019年03月20日 特許庁 / 特許 | 継代補助装置及び継代操作方法 FI分類-C12M 3/02, FI分類-C12N 1/02, FI分類-C12M 1/00 A |
2019年03月20日 特許庁 / 特許 | 画像解析方法、セグメンテーション方法、骨密度測定方法、学習モデル作成方法および画像作成装置 FI分類-A61B 6/00 333, FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 350 S, FI分類-A61B 6/00 350 Z, FI分類-A61B 6/03 360 D |
2019年03月20日 特許庁 / 特許 | X線撮像装置 FI分類-A61B 6/10 351 |
2019年03月20日 特許庁 / 特許 | 細胞解析装置 FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01N 21/27 A, FI分類-G01N 33/48 M, FI分類-G01N 33/483 C |
2019年03月20日 特許庁 / 特許 | 細胞解析装置 FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01N 21/27 A, FI分類-G01N 33/48 M |
2019年03月19日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 301 C |
2019年03月18日 特許庁 / 特許 | 血液抗凝固剤の一斉分析方法 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 33/15 Z |
2019年03月15日 特許庁 / 特許 | ファインバブル供給装置及びファインバブル分析システム FI分類-B01F 3/04 Z, FI分類-B01F 15/02 C, FI分類-G01N 15/02 A |
2019年03月15日 特許庁 / 特許 | 体調検知システム FI分類-A61B 5/18, FI分類-B60W 40/08, FI分類-G10L 25/66, FI分類-G16Y 10/40, FI分類-G16Y 20/40, FI分類-G16Y 40/20, FI分類-G08G 1/16 F |
2019年03月15日 特許庁 / 特許 | 冷却装置 FI分類-F28D 15/06 D |
2019年03月14日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2019年03月14日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-G01N 23/046, FI分類-A61B 6/03 350 G |
2019年03月14日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 R, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2019年03月13日 特許庁 / 特許 | カラムオーブンおよびクロマトグラフィーシステム FI分類-G01N 30/54 D |
2019年03月13日 特許庁 / 特許 | カラムオーブンおよびクロマトグラフィー FI分類-G01N 30/54 H |
2019年03月13日 特許庁 / 特許 | カラムオーブンおよびクロマトグラフィーシステム FI分類-G01N 30/54 H |
2019年03月13日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 350 S, FI分類-G06T 1/00 290 A |
2019年03月13日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフィー分析システム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 30/24 L, FI分類-G01N 30/34 Z |
2019年03月13日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ分析システム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/32 C, FI分類-G01N 30/86 V |
2019年03月13日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ用送液システム FI分類-G01N 30/32 C |
2019年03月13日 特許庁 / 特許 | プレート供給システム、プレートチェンジャーおよび分析装置 FI分類-G01N 35/04 H |
2019年03月13日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用オートサンプラ FI分類-G01N 30/04 A, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 30/46 E |
2019年03月13日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/32 C, FI分類-G01N 30/32 F |
2019年03月12日 特許庁 / 特許 | 分光光度計 FI分類-G01J 3/10, FI分類-G01N 21/01 D |
2019年03月11日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/86 V |
2019年03月11日 特許庁 / 特許 | 分析システム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/86 V, FI分類-G01N 35/00 F |
2019年03月09日 特許庁 / 特許 | 粒子操作用デバイス FI分類-C12M 1/26, FI分類-C12M 1/42, FI分類-G01N 1/34, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-C12M 1/00 ZNAA, FI分類-C12N 15/10 114 Z |
2019年03月08日 特許庁 / 特許 | 黒鉛炉用のロック装置 FI分類-H05B 3/02 A |
2019年03月08日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置および質量分析方法 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/04 220, FI分類-H01J 49/14 500, FI分類-H01J 49/14 700, FI分類-H01J 49/42 150 |
2019年03月08日 特許庁 / 特許 | 質量分析用キット、微生物識別用キット、試料の調製方法、分析方法および微生物の識別方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C12N 13/00, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 V |
2019年03月08日 特許庁 / 特許 | 分析方法 FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 J, FI分類-G01N 30/88 E |
2019年03月08日 特許庁 / 特許 | はすば歯車ポンプまたはモータ FI分類-F03C 2/08 A, FI分類-F04C 2/18 B, FI分類-F04C 15/00 Z, FI分類-F04C 18/16 A, FI分類-F04C 2/18 311 A |
2019年03月07日 特許庁 / 特許 | チャック交換冶具 FI分類-G01N 3/04 P |
2019年03月06日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/86 T, FI分類-G01N 30/86 V |
2019年03月06日 特許庁 / 特許 | 分取クロマトグラフシステム FI分類-G01N 30/80 C |
2019年03月05日 特許庁 / 特許 | 微生物同定システム及び微生物同定用プログラム FI分類-C12Q 1/04, FI分類-G01N 33/68, FI分類-G16B 30/00, FI分類-G01N 27/62 V |
2019年03月04日 特許庁 / 特許 | イメージング装置およびイメージング装置の作動方法 FI分類-A61B 10/00 E |
2019年03月01日 特許庁 / 特許 | X線発生装置、並びに、その診断装置及び診断方法 FI分類-H05G 1/26 C, FI分類-H05G 1/26 T, FI分類-H01J 35/00 Z |
2019年02月28日 特許庁 / 特許 | マイケルソン干渉計およびそれを備えるフーリエ変換赤外分光装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01J 3/45 |
2019年02月28日 特許庁 / 特許 | 分析装置の部品管理システムおよび部品管理プログラム FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G05B 19/418 Z |
2019年02月27日 特許庁 / 特許 | 繊維長測定方法、繊維長測定装置及び繊維長測定プログラム FI分類-D06H 3/08, FI分類-G02B 21/00 |
2019年02月26日 特許庁 / 特許 | 引張試験機、及び引張試験機の制御方法 FI分類-G01N 3/08 |
2019年02月25日 特許庁 / 特許 | 液漏れ検査方法及び検査装置 FI分類-G01M 3/02 M |
2019年02月25日 特許庁 / 特許 | 液圧装置および液圧装置の制御方法 FI分類-H02P 6/18, FI分類-F15B 11/00 H |
2019年02月25日 特許庁 / 特許 | バルブ制御装置および真空バルブ FI分類-F16K 51/02 Z, FI分類-G05D 16/20 Z |
2019年02月25日 特許庁 / 特許 | 電子天びん FI分類-G01G 21/30, FI分類-G01G 23/00 F |
2019年02月25日 特許庁 / 特許 | 分析システム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/86 P, FI分類-G01N 30/86 Q, FI分類-G01N 30/86 T, FI分類-G01N 30/86 V |
2019年02月22日 特許庁 / 特許 | 異常診断システム、その異常診断システムを備えた荷役装置、および異常診断方法 FI分類-F04B 51/00, FI分類-F15B 20/00 D |
2019年02月22日 特許庁 / 特許 | APP669-xのN末端を特異的に認識する抗体、及び免疫測定法 FI分類-C07K 16/18, FI分類-C12P 21/08, FI分類-G01N 33/53 D, FI分類-G01N 33/531 A, FI分類-C12N 15/13 ZNA |
2019年02月21日 特許庁 / 特許 | 脳血流量の特徴量の抽出方法 FI分類-A61B 5/1455, FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 10/00 H |
2019年02月21日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用検出器 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 30/74 A |
2019年02月21日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/20 A, FI分類-G01N 30/24 M, FI分類-G01N 30/32 C, FI分類-G01N 30/86 P, FI分類-G01N 30/86 T |
2019年02月20日 特許庁 / 特許 | 認知機能の指標化方法 FI分類-A61B 5/1455, FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 10/00 H, FI分類-A61B 5/026 120 |
2019年02月19日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 Z |
2019年02月19日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/04 450, FI分類-H01J 49/16 500, FI分類-H01J 49/42 150 |
2019年02月15日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置および質量分析方法 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/24, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/04 950 |
2019年02月14日 特許庁 / 特許 | 自動試料注入装置 FI分類-G01N 30/12 A, FI分類-G01N 30/18 A, FI分類-G01N 30/18 F, FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 30/24 E |
2019年02月14日 特許庁 / 特許 | 分析システムおよび温調システム FI分類-H01J 49/02, FI分類-G01N 27/62 Z, FI分類-G01N 30/54 H |
2019年02月12日 特許庁 / 特許 | 多層膜回折格子 FI分類-G02B 5/18, FI分類-G21K 1/06 B, FI分類-G21K 1/06 C |
2019年02月12日 特許庁 / 特許 | 動体追跡装置および動体追跡方法 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61N 5/10 M, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 350 A, FI分類-A61B 6/02 351 Z |
2019年02月08日 特許庁 / 特許 | マイクロチップ電気泳動装置及びマイクロチップ電気泳動方法 FI分類-G01N 27/447 301 C, FI分類-G01N 27/447 331 E |
2019年02月08日 特許庁 / 特許 | 圧力制御弁およびこの圧力制御弁を備えた油圧パイロット式電磁比例コントロールバルブ FI分類-F16K 17/06 A, FI分類-F16K 27/00 D |
2019年02月08日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフおよび液体クロマトグラフを用いた分析方法 FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/26 Q, FI分類-G01N 30/34 A, FI分類-G01N 30/34 E |
2019年02月07日 特許庁 / 特許 | 光源装置、及びホログラフィ観察装置 FI分類-G03H 1/04, FI分類-H01S 5/06, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 26/08 A |
2019年02月07日 特許庁 / 特許 | 分析方法、分析装置およびプログラム FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 J, FI分類-G01N 30/88 A, FI分類-G01N 30/88 C, FI分類-G01N 33/00 D |
2019年02月07日 特許庁 / 特許 | 圧力制御弁 FI分類-F16K 17/06 A, FI分類-F16K 47/02 D |
2019年02月07日 特許庁 / 特許 | 分析方法 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/86 J, FI分類-G01N 30/88 C |
2019年02月06日 特許庁 / 特許 | 化学発光硫黄検出器 FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 30/74 Z |
2019年02月04日 特許庁 / 特許 | フィールドフローフラクショネーション装置及び洗浄方法 FI分類-B03B 5/62, FI分類-B01D 61/14, FI分類-B01D 65/02, FI分類-B03B 13/00, FI分類-B03B 5/00 Z, FI分類-G01N 15/02 A |
2019年02月04日 特許庁 / 特許 | 機械学習用教師データ作成支援方法、及び機械学習用教師データ作成支援プログラム FI分類-G06T 7/00 610, FI分類-G06T 7/00 350 C |
2019年02月01日 特許庁 / 特許 | 化学発光硫黄検出器 FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 30/74 Z |
2019年02月01日 特許庁 / 特許 | 化学発光硫黄検出器 FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 30/74 Z |
2019年01月31日 特許庁 / 特許 | 触覚刺激呈示装置 FI分類-A61B 10/00 H, FI分類-A61B 10/00 X, FI分類-A61B 10/00 Y |
2019年01月31日 特許庁 / 特許 | ビームスプリッタ組立品およびこれを備える分析装置 FI分類-G01N 21/35, FI分類-G02B 7/00 F, FI分類-G02B 7/00 G, FI分類-G01N 21/45 A |
2019年01月30日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 D |
2019年01月29日 特許庁 / 特許 | 撮像環境測定器および撮像環境測定システム FI分類-G02B 21/34, FI分類-G01N 27/04 A |
2019年01月29日 特許庁 / 特許 | 試料採取装置 FI分類-G01N 1/10 N, FI分類-G01N 1/10 V, FI分類-G01N 33/48 S |
2019年01月29日 特許庁 / 特許 | 成分分析システムおよび成分検出装置 FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 21/77 A, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/74 Z |
2019年01月29日 特許庁 / 特許 | 変位計測装置及び欠陥検出装置 FI分類-G01N 21/88 J |
2019年01月29日 特許庁 / 特許 | 成分分析システムおよび成分検出装置 FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 30/88 G, FI分類-G01N 31/00 P |
2019年01月28日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフィ検出器 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 30/62 Z, FI分類-G01N 30/74 E |
2019年01月28日 特許庁 / 特許 | 分析方法、質量分析用ペプチド酸化防止剤および質量分析用キット FI分類-G01N 27/62 V |
2019年01月28日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/24 M, FI分類-G01N 30/32 A |
2019年01月25日 特許庁 / 特許 | 海底構造物検出装置、海底構造物検出システム、および、海底構造物検出方法 FI分類-G01V 3/02 B, FI分類-B63C 11/00 B, FI分類-B63C 11/48 D |
2019年01月25日 特許庁 / 特許 | ワイヤロープ検査装置およびワイヤロープ検査方法 FI分類-G01N 27/82, FI分類-B66B 5/00 D |
2019年01月25日 特許庁 / 特許 | 分析システム、並びに、油脂または生体サンプル中のビタミンDの迅速検出方法 FI分類-B01J 20/287, FI分類-B01J 20/288, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/14 A, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/46 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/88 C, FI分類-B01J 20/281 X |
2019年01月25日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフを用いた物質同定方法 FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/04 P, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 M, FI分類-G01N 30/86 P |
2019年01月24日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフィーシステム FI分類-G01N 30/46 Z, FI分類-G01N 30/60 Z, FI分類-G01N 30/86 Z |
2019年01月23日 特許庁 / 特許 | 誘電体バリア放電イオン化検出器 FI分類-H05H 1/24, FI分類-G01N 27/70 |
2019年01月23日 特許庁 / 特許 | 検出方法、分析方法、分析装置およびプログラム FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 1/00 102 Z |
2019年01月23日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/06 300, FI分類-H01J 49/42 150 |
2019年01月22日 特許庁 / 特許 | 光イメージング装置および画像処理方法 FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2019年01月22日 特許庁 / 特許 | X線イメージング装置 FI分類-G01N 23/041 |
2019年01月22日 特許庁 / 特許 | X線イメージング装置 FI分類-G01N 23/041 |
2019年01月21日 特許庁 / 特許 | X線管用電源装置およびX線装置 FI分類-H05G 1/24, FI分類-H05G 1/58 |
2019年01月21日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置 FI分類-G06T 7/223, FI分類-H04N 5/232 290 |
2019年01月17日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 R, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2019年01月17日 特許庁 / 特許 | 流体クロマトグラフ用の機器収容構造 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 C |
2019年01月17日 特許庁 / 特許 | 流体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 C |
2019年01月17日 特許庁 / 特許 | 流体クロマトグラフ用の流体供給装置 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 C, FI分類-G01N 30/32 Z |
2019年01月17日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用オートサンプラ及び流体クロマトグラフィー分析システム FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 30/24 J |
2019年01月17日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用吸光度検出器および基準位置検出方法 FI分類-G01N 30/74 E |
2019年01月16日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ装置およびロードスイッチ回路 FI分類-H02H 7/00 A, FI分類-G01N 21/17 D, FI分類-G01N 30/74 Z, FI分類-H03K 17/16 H, FI分類-H03K 17/687 A, FI分類-G06F 1/26 331 C, FI分類-H02J 1/00 309 R |
2019年01月16日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフィー分析システム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/54 H |
2019年01月16日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ及び液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/24 M, FI分類-G01N 30/86 T |
2019年01月11日 特許庁 / 特許 | 分析装置および画像処理方法 FI分類-G01N 23/2206, FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01N 23/2252 |
2019年01月11日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフに使用されるミキサおよび液体クロマトグラフ FI分類-B01F 3/08 Z, FI分類-B01F 5/00 A, FI分類-B01D 39/20 A, FI分類-G01N 30/26 P, FI分類-G01N 30/34 A, FI分類-B01D 29/04 510 B, FI分類-B01D 29/04 510 C, FI分類-B01D 29/04 510 F, FI分類-B01D 29/04 530 A |
2019年01月09日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 30/24 J, FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 1/00 101 K |
2019年01月08日 特許庁 / 特許 | 磁性粒子操作装置 FI分類-B03C 1/23, FI分類-G01N 1/34, FI分類-B03C 1/00 A, FI分類-B03C 1/00 H, FI分類-B01J 19/08 D |
2019年01月08日 特許庁 / 特許 | フーリエ変換赤外分光装置 FI分類-G01J 3/06, FI分類-G01J 3/45 |
2019年01月08日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2019年01月08日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2018年12月28日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 H |
2018年12月28日 特許庁 / 特許 | パルスガスバルブ検査装置 FI分類-G01M 13/00 |
2018年12月27日 特許庁 / 特許 | 電気泳動分離データの解析装置 FI分類-G01N 27/447 301 Z, FI分類-G01N 27/447 325 D |
2018年12月27日 特許庁 / 特許 | 陽電子放射断層撮影装置および光検出器 FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 F, FI分類-G01T 1/20 G, FI分類-G01T 1/161 C, FI分類-G01T 1/164 G |
2018年12月27日 特許庁 / 特許 | 試料注入装置 FI分類-G01N 30/18 A, FI分類-G01N 30/18 E, FI分類-G01N 30/24 E |
2018年12月26日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2018年12月26日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 Y |
2018年12月21日 特許庁 / 特許 | 真空装置および分析装置 FI分類-H01J 49/24, FI分類-H01J 49/40, FI分類-F16K 51/02 A, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-H01J 49/04 180, FI分類-H01J 49/16 400 |
2018年12月20日 特許庁 / 特許 | 真空バルブおよびバルブ制御装置 FI分類-F16K 31/04 K, FI分類-F16K 51/02 A |
2018年12月20日 特許庁 / 特許 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 FI分類-G01N 29/06, FI分類-G01N 29/24, FI分類-G01N 21/88 Z |
2018年12月20日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/046 |
2018年12月20日 特許庁 / 特許 | 化学発光硫黄検出器 FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 21/77 A, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/74 Z |
2018年12月20日 特許庁 / 特許 | 分析制御装置、液体クロマトグラフ分析システムおよび分析方法 FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/74 F, FI分類-G01N 30/84 A |
2018年12月19日 特許庁 / 特許 | 試料の製造方法 FI分類-G01N 1/36, FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/2202 |
2018年12月19日 特許庁 / 特許 | 前処理装置 FI分類-G01N 35/10 A |
2018年12月19日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/08 |
2018年12月19日 特許庁 / 特許 | 分析データ表示装置 FI分類-G01N 15/02 F, FI分類-G01N 35/00 A |
2018年12月19日 特許庁 / 特許 | 粒子径表示装置、粒子径表示方法および粒子径表示システム FI分類-G01N 15/02 D |
2018年12月19日 特許庁 / 特許 | 吸光度検出器、液体クロマトグラフ及び異常判定方法 FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/86 L |
2018年12月19日 特許庁 / 特許 | 重水素ランプを備える装置及び液体クロマトグラフ FI分類-H05B 41/23 |
2018年12月19日 特許庁 / 特許 | グラジエント送液の濃度正確性を測定する方法及びその方法を実行する機能を有する液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/34 Z, FI分類-G01N 30/86 J |
2018年12月19日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/02 200, FI分類-H01J 49/04 950, FI分類-H01J 49/06 300 |
2018年12月18日 特許庁 / 特許 | 医療画像用器具およびX線画像撮影装置 FI分類-A61B 6/00 390 A |
2018年12月17日 特許庁 / 特許 | 検査装置および検査方法 FI分類-G01N 29/11, FI分類-G01N 29/48, FI分類-G01H 9/00 C |
2018年12月17日 特許庁 / 特許 | 分析装置の評価方法、分析装置の較正方法、分析方法、分析装置およびプログラム FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/86 V |
2018年12月17日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ、メンテナンス切り替えモード設定方法およびメンテナンス切り替えモード設定プログラム FI分類-G01N 30/12 Z, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/46 E |
2018年12月14日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子操作用容器及び磁性体粒子操作用装置 FI分類-G01N 1/34, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 1/10 C |
2018年12月13日 特許庁 / 特許 | 画像診断装置 FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-G01T 1/161 C |
2018年12月13日 特許庁 / 特許 | 画像診断装置 FI分類-G01T 1/161 A |
2018年12月13日 特許庁 / 特許 | 振動計測装置 FI分類-G01H 9/00 C |
2018年12月13日 特許庁 / 特許 | 欠陥検出方法及び装置 FI分類-G01N 29/04, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/47 Z, FI分類-G01N 21/88 J |
2018年12月12日 特許庁 / 特許 | 化学発光硫黄検出器 FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 21/77 A, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/74 Z |
2018年12月12日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用オートサンプラ FI分類-G01N 30/22, FI分類-G01N 30/24 E |
2018年12月11日 特許庁 / 特許 | イメージング分析装置 FI分類-G01N 27/62 Y |
2018年12月11日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01N 3/04 P |
2018年12月11日 特許庁 / 特許 | イオン化装置、質量分析装置および流体試料の分析方法 FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 G |
2018年12月10日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用オートサンプラ FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 30/26 N |
2018年12月07日 特許庁 / 特許 | データ処理装置、分析装置、データ処理方法およびプログラム FI分類-G06F 17/30 350 C, FI分類-G06F 17/30 360 Z |
2018年12月06日 特許庁 / 特許 | 核医学診断装置用被検者支持装置 FI分類-G01T 1/161 A |
2018年12月06日 特許庁 / 特許 | 試料注入装置 FI分類-G01N 30/18 F, FI分類-G01N 35/10 D |
2018年12月05日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2018年12月05日 特許庁 / 特許 | 画像診断装置 FI分類-G01T 1/161 A |
2018年12月05日 特許庁 / 特許 | イオントラップ質量分析装置 FI分類-H01J 43/24, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2018年12月05日 特許庁 / 特許 | スペクトル演算処理装置、スペクトル演算処理方法、スペクトル演算処理プログラム、イオントラップ質量分析システムおよびイオントラップ質量分析方法 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 E |
2018年12月04日 特許庁 / 特許 | 駆動装置 FI分類-F16H 49/00 A, FI分類-G01N 27/62 F |
2018年12月04日 特許庁 / 特許 | MALDIイオン源 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/16 400 |
2018年12月03日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置 FI分類-G01N 23/041, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 350 Z |
2018年11月30日 特許庁 / 特許 | 分析システム FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/2204 |
2018年11月30日 特許庁 / 特許 | 蛍光X線分析システムおよび蛍光X線分析方法 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/2204 |
2018年11月30日 特許庁 / 特許 | 分析システム、分析装置および情報処理方法 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 35/00 A |
2018年11月30日 特許庁 / 特許 | キノン類分析方法とその方法を実施するためのオンラインSFE-SFCシステム FI分類-B01J 20/287, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/88 C, FI分類-B01J 20/281 X |
2018年11月29日 特許庁 / 特許 | ファインバブル除去方法及びファインバブル除去装置、並びに、気泡径分布測定方法及び気泡径分布測定装置 FI分類-B01D 19/00 C, FI分類-G01N 15/02 D |
2018年11月29日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/04 950, FI分類-H01J 49/06 300, FI分類-H01J 49/16 500, FI分類-H01J 49/42 150 |
2018年11月29日 特許庁 / 特許 | 試料測定装置、プログラムおよび測定パラメータ設定支援装置 FI分類-G01N 30/52, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/86 R |
2018年11月28日 特許庁 / 特許 | 動体追跡装置および動体追跡方法 FI分類-A61N 5/10 M |
2018年11月27日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X, FI分類-A61B 6/04 332 A |
2018年11月27日 特許庁 / 特許 | 原子吸光分光光度計 FI分類-G01N 21/31 610 A |
2018年11月27日 特許庁 / 特許 | X線位相撮像システム FI分類-G01N 23/041 |
2018年11月27日 特許庁 / 特許 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 FI分類-G01N 29/06, FI分類-G01N 29/24 |
2018年11月26日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/04 090, FI分類-H01J 49/04 450, FI分類-H01J 49/16 500, FI分類-H01J 49/42 150 |
2018年11月22日 特許庁 / 特許 | 分析支援方法、分析支援装置、分析支援プログラムおよび分析システム FI分類-G01N 30/36, FI分類-G01N 30/02 N |
2018年11月22日 特許庁 / 特許 | 磁性体検査装置 FI分類-G01N 27/82, FI分類-B66B 5/02 C, FI分類-B66B 7/12 Z |
2018年11月22日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子の操作方法及び装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-B01J 19/08 D, FI分類-B01J 19/08 J, FI分類-C12N 15/10 Z |
2018年11月22日 特許庁 / 特許 | 分析支援方法および分析支援装置 FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 A |
2018年11月21日 特許庁 / 特許 | 細胞評価用デバイス及び細胞評価用システム FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 27/04 Z |
2018年11月21日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置、イオン発生タイミング制御方法およびイオン発生タイミング制御プログラム FI分類-H01J 49/16, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2018年11月21日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法及び質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 G |
2018年11月20日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡の光軸調整方法 FI分類-G01Q 20/02 |
2018年11月20日 特許庁 / 特許 | ガス測定装置及びガス測定方法 FI分類-G01N 21/3504 |
2018年11月19日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置および質量分析システム FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G06F 3/14 400 |
2018年11月16日 特許庁 / 特許 | 試料容器保持具及び電子天秤 FI分類-G01G 23/00 Z |
2018年11月15日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置およびX線画像の表示角度調整方法 FI分類-A61B 6/00 350 A |
2018年11月14日 特許庁 / 特許 | 質量スペクトルデータの取得および解析方法 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/00 450 |
2018年11月14日 特許庁 / 特許 | 低圧グラジエント送液システム及び液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/34 A |
2018年11月14日 特許庁 / 特許 | 流体制御装置 FI分類-F15B 11/16 Z |
2018年11月13日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 350 D |
2018年11月12日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 L |
2018年11月09日 特許庁 / 特許 | 分光器 FI分類-G01J 3/06, FI分類-G01J 3/18 |
2018年11月08日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置、レーザ光強度調整方法およびレーザ光強度調整プログラム FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 G |
2018年11月08日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-G01N 23/041, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 300 S, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2018年11月06日 特許庁 / 特許 | 磁性体検査装置および磁性体検査システム FI分類-G01N 27/82, FI分類-B66B 5/00 G |
2018年11月06日 特許庁 / 特許 | PET装置 FI分類-G01T 1/161 D, FI分類-G06F 3/0484 120 |
2018年11月06日 特許庁 / 特許 | データ処理装置及びデータ処理プログラム FI分類-G01N 27/447 325 B, FI分類-G01N 27/447 325 E |
2018年11月06日 特許庁 / 特許 | X線イメージング装置 FI分類-G01N 23/041, FI分類-G01N 23/20 380 |
2018年11月06日 特許庁 / 特許 | 磁性体検査装置および磁性体検査システム FI分類-G01N 27/82 |
2018年11月05日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X |
2018年11月05日 特許庁 / 特許 | 産業車両 FI分類-B66F 9/24 J |
2018年11月05日 特許庁 / 特許 | X線撮像装置 FI分類-A61B 6/00 350 D, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2018年11月05日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 35/00 B |
2018年11月02日 特許庁 / 特許 | 移動型放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310 |
2018年11月02日 特許庁 / 特許 | プレートチェンジャおよびそれを備えるクロマトグラフ FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 35/04 C, FI分類-G01N 35/04 H |
2018年10月31日 特許庁 / 特許 | フーリエ変換赤外分光光度計用データ処理装置、及びフーリエ変換赤外分光光度計 FI分類-G01J 3/45, FI分類-G01N 21/35 |
2018年10月30日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 M |
2018年10月29日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ起動制御システム、コントローラ、情報サーバ、真空ポンプ起動制御方法 FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F04B 49/02 331 B |
2018年10月29日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置におけるデータ取得方法 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 Z, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360 |
2018年10月26日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 3/08 |
2018年10月26日 特許庁 / 特許 | 引張試験機のコーンチャック装置、コーン装着用治具、およびコーン取出し用治具 FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01N 3/04 B, FI分類-G01N 3/04 P |
2018年10月26日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61N 5/10 H, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/03 377, FI分類-A61B 6/02 351 M |
2018年10月26日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ制御装置、クロマトグラフシステム、クロマトグラフ制御方法およびクロマトグラフ制御プログラム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/86 V |
2018年10月25日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ装置およびガスクロマトグラフ装置の較正方法 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/16 A, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/86 P |
2018年10月25日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置およびプログラム FI分類-H01J 49/30, FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 400, FI分類-H01J 49/04 860, FI分類-H01J 49/42 150 |
2018年10月23日 特許庁 / 特許 | 液漏れ検知装置及びオーブン FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/54 D, FI分類-G01N 30/86 T |
2018年10月23日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 35/10 Z |
2018年10月23日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 35/10 F |
2018年10月17日 特許庁 / 特許 | 分析装置および全有機体炭素測定装置 FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 31/12 A |
2018年10月16日 特許庁 / 特許 | 線材引張試験装置 FI分類-G01N 3/08 |
2018年10月16日 特許庁 / 特許 | 分析装置および分析システム FI分類-G01N 35/00 F |
2018年10月16日 特許庁 / 特許 | 表面分析装置 FI分類-G01Q 30/20 |
2018年10月16日 特許庁 / 特許 | 前処理装置およびこれを備えた分析システム FI分類-G06F 3/0482, FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G06F 3/0481 170 |
2018年10月16日 特許庁 / 特許 | 磁性体管理システムおよび磁性体管理方法 FI分類-G01N 27/72 |
2018年10月16日 特許庁 / 特許 | 事例検索方法 FI分類-G06F 40/58, FI分類-G06F 16/335, FI分類-G06F 40/247 |
2018年10月16日 特許庁 / 特許 | 事例検索方法 FI分類-G06F 16/26 |
2018年10月16日 特許庁 / 特許 | 文献検索方法および文献検索システム FI分類-G06F 16/33 |
2018年10月15日 特許庁 / 特許 | X線回折装置及びそれに用いられる試料配置システム FI分類-G01N 23/207, FI分類-G01N 23/2055 320 |
2018年10月15日 特許庁 / 特許 | 半導体レーザモジュール FI分類-H01S 5/022, FI分類-H01S 5/0683 |
2018年10月15日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子操作用装置 FI分類-B03C 1/01, FI分類-C12M 1/42, FI分類-B03C 1/00 A, FI分類-B03C 1/00 H, FI分類-G01N 1/10 C, FI分類-B01J 19/08 J, FI分類-B03C 1/28 107 |
2018年10月15日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 F |
2018年10月15日 特許庁 / 特許 | 画像解析式粒子分析装置 FI分類-G01N 15/14 D |
2018年10月15日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/02 C |
2018年10月15日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ制御装置、液体クロマトグラフシステム、液体クロマトグラフ制御方法および液体クロマトグラフ制御プログラム FI分類-G01N 30/82, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 A |
2018年10月12日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 C |
2018年10月12日 特許庁 / 特許 | 放射線位相差撮影装置 FI分類-G01N 23/041, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2018年10月11日 特許庁 / 特許 | 分析装置、分析システムおよび分析方法 FI分類-G01N 30/86 R, FI分類-G01N 30/86 V |
2018年10月10日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 D |
2018年10月05日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 101 |
2018年10月05日 特許庁 / 特許 | 推定装置およびバルブ制御装置 FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年10月03日 特許庁 / 特許 | 微生物識別装置および微生物識別方法 FI分類-C12Q 1/06, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 27/62 V |
2018年10月03日 特許庁 / 特許 | 試料注入装置および試料注入装置の調整方法 FI分類-G01N 30/18 F, FI分類-G01N 30/24 M, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2018年10月03日 特許庁 / 特許 | 試料注入装置および試料注入システム FI分類-G01N 30/04 F, FI分類-G01N 30/12 A, FI分類-G01N 30/26 E |
2018年10月03日 特許庁 / 特許 | 分析用試料の調製方法、分析方法および分析用試料の調製用キット FI分類-G01N 1/34, FI分類-G01N 1/10 F, FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/88 N |
2018年10月03日 特許庁 / 特許 | X線位相差撮像システム FI分類-G01N 23/041 |
2018年10月03日 特許庁 / 特許 | 学習済みモデルの製造方法、輝度調整方法および画像処理装置 FI分類-A61B 6/00 350 M, FI分類-A61B 6/00 360 Z, FI分類-G06T 1/00 290 A |
2018年10月02日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 G |
2018年10月02日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置およびX線位相イメージング装置の製造方法 FI分類-G01N 23/041, FI分類-G01T 7/00 B |
2018年10月02日 特許庁 / 特許 | 表示処理装置、イメージング質量分析システムおよび表示処理方法 FI分類-G01N 27/62 Y |
2018年10月02日 特許庁 / 特許 | 識別器の生成方法 FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 Q |
2018年09月28日 特許庁 / 特許 | 真空度検出装置、及び電子線照射システム FI分類-G01L 21/34 |
2018年09月28日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置の評価方法、質量分析装置の較正方法、分析方法、質量分析装置および質量分析用試薬 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 27/62 ZABV |
2018年09月27日 特許庁 / 特許 | X線分析用信号処理装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 1/17 F, FI分類-G01T 1/17 H, FI分類-G01T 1/36 D |
2018年09月27日 特許庁 / 特許 | X線位相差撮像システム FI分類-G01N 23/041 |
2018年09月27日 特許庁 / 特許 | X線位相差撮像システム FI分類-G01N 23/041 |
2018年09月27日 特許庁 / 特許 | 適格性自動判定システム FI分類-G01N 35/00 F |
2018年09月27日 特許庁 / 特許 | バリデーション装置、バリデーション方法およびバリデーションプログラム FI分類-G01N 35/00 F |
2018年09月26日 特許庁 / 特許 | 試料搬送装置 FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 35/10 A |
2018年09月26日 特許庁 / 特許 | 試料搬送装置 FI分類-G01N 30/24 M, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2018年09月26日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 M |
2018年09月26日 特許庁 / 特許 | 情報管理装置、及び情報管理システム FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2018年09月21日 特許庁 / 特許 | 解析装置、分析装置、解析方法およびプログラム FI分類-G01N 27/62 D |
2018年09月21日 特許庁 / 特許 | ゲートウエイデバイス、監視システム、データ変換方法、およびデータ変換方法をコンピュータに実行させるプログラム FI分類-G01N 1/10 K, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/86 V, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G05B 23/02 301 U |
2018年09月21日 特許庁 / 特許 | データ処理方法、プログラム、データ処理装置および陽電子放出断層撮像装置 FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-G01T 1/161 C |
2018年09月21日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/00 500 |
2018年09月20日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置およびX線源の消耗度推定方法 FI分類-H05G 1/34, FI分類-G01N 23/04, FI分類-H05G 1/26 J, FI分類-H05G 1/54 A, FI分類-H01J 35/06 Z |
2018年09月19日 特許庁 / 特許 | X線位相差撮像システム FI分類-G01N 23/041 |
2018年09月18日 特許庁 / 特許 | X線位相差撮影システムおよび位相コントラスト画像補正方法 FI分類-G01N 23/041, FI分類-G01T 1/17 C, FI分類-G01T 7/00 B, FI分類-G01T 7/00 C, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2018年09月18日 特許庁 / 特許 | 生体試料の前処理方法 FI分類-G01N 27/62 X |
2018年09月14日 特許庁 / 特許 | サンプリング支援装置、システムおよび方法 FI分類-G01N 1/00 Z, FI分類-G01N 1/22 A |
2018年09月14日 特許庁 / 特許 | 分析用試料の調製方法、分析方法および微生物の識別方法 FI分類-C07K 1/34, FI分類-G01N 1/10 B, FI分類-G01N 1/10 F, FI分類-G01N 1/10 H, FI分類-G01N 27/62 V |
2018年09月13日 特許庁 / 特許 | 熱伝導度検出器およびそれを備えるガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/66, FI分類-G01N 27/04 E |
2018年09月13日 特許庁 / 特許 | 熱伝導度検出器およびそれを備えるガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/66, FI分類-G01N 27/04 E |
2018年09月13日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体分離装置 FI分類-B01D 11/00, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/54 G |
2018年09月13日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ用のプレートチェンジャ FI分類-G01N 1/10 N, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 35/04 G |
2018年09月12日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 E |
2018年09月11日 特許庁 / 特許 | ブレーズド回折格子 FI分類-G02B 5/18 |
2018年09月10日 特許庁 / 特許 | 光学系部品の保持部品およびその製造方法 FI分類-G02B 7/00 F, FI分類-G02B 7/02 A, FI分類-G02B 27/02 Z |
2018年09月10日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体クロマトグラフ、及び超臨界流体クロマトグラフィー分析方法 FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/26 Z |
2018年09月07日 特許庁 / 特許 | ポンプ監視装置および真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 H |
2018年09月06日 特許庁 / 特許 | 四重極質量分析装置 FI分類-H01J 49/14, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/04 220, FI分類-H01J 49/04 310, FI分類-H01J 49/06 300, FI分類-H01J 49/06 700, FI分類-H01J 49/06 800, FI分類-H01J 49/42 150 |
2018年09月06日 特許庁 / 特許 | 四重極質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/20, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/06 100, FI分類-H01J 49/10 500, FI分類-H01J 49/42 150 |
2018年09月05日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/04 P |
2018年09月05日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置およびX線撮影装置の作動方法 FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 350 S, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2018年09月04日 特許庁 / 特許 | 分析システム、表示制御方法および表示制御プログラム FI分類-G01N 21/76, FI分類-G06F 3/0484, FI分類-G01N 35/00 E |
2018年09月03日 特許庁 / 特許 | 磁性体検査システム、磁性体検査装置および磁性体検査方法 FI分類-G01N 27/82 |
2018年09月03日 特許庁 / 特許 | ガス吸収分光装置、及びガス吸収分光方法 FI分類-G01N 21/39, FI分類-G01N 21/3504 |
2018年09月03日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ装置およびガスクロマトグラフ装置の分析支援方法 FI分類-G01N 30/78, FI分類-G01N 30/82, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 35/00 E |
2018年09月03日 特許庁 / 特許 | 干渉計移動鏡位置測定装置及びフーリエ変換赤外分光光度計 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/00 B |
2018年08月31日 特許庁 / 特許 | 磁性体の検査装置 FI分類-G01N 27/82, FI分類-G01R 33/02 B |
2018年08月31日 特許庁 / 特許 | イオントラップ FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42 |
2018年08月31日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2018年08月31日 特許庁 / 特許 | 磁性体の検査装置および磁性体の検査方法 FI分類-G01N 27/82 |
2018年08月31日 特許庁 / 特許 | 廃液監視装置 FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 30/86 V |
2018年08月31日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 3/04 B |
2018年08月31日 特許庁 / 特許 | 分析方法、分析装置およびプログラム FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/16 700 |
2018年08月30日 特許庁 / 特許 | X線分析装置 FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252, FI分類-H01J 37/252 A |
2018年08月30日 特許庁 / 特許 | 試料プレート供給制御装置、試料プレート供給制御システム、試料プレート供給制御方法および試料プレート供給制御プログラム FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/04 Z |
2018年08月30日 特許庁 / 特許 | バリデーション装置、バリデーション方法およびバリデーションプログラム FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/00 Z |
2018年08月29日 特許庁 / 特許 | 高周波電源UVランプモニタおよびこれを用いた全有機炭素計 FI分類-G01N 27/06 Z, FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 33/18 B |
2018年08月28日 特許庁 / 特許 | データ解析方法、データ解析装置、及びデータ解析用の学習モデル作成方法 FI分類-G06Q 10/04 |
2018年08月27日 特許庁 / 特許 | X線分析装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/2204 |
2018年08月24日 特許庁 / 特許 | 分析支援装置および分析支援方法 FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 Y |
2018年08月24日 特許庁 / 特許 | 分析用試料の調製方法、分析方法および分析用試料の調製用キット FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/88 N, FI分類-G01N 33/66 Z |
2018年08月24日 特許庁 / 特許 | 分析用試料の調製方法、分析方法および分析用試料の調製用キット FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/88 N, FI分類-G01N 33/66 Z |
2018年08月24日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/04 309, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2018年08月23日 特許庁 / 特許 | 送液装置 FI分類-F04B 23/06, FI分類-F04B 53/18, FI分類-F04B 53/22, FI分類-F04B 53/00 H, FI分類-G01N 30/32 C |
2018年08月23日 特許庁 / 特許 | 光結合装置 FI分類-G02B 6/32, FI分類-G02B 6/42, FI分類-G02B 6/28 T |
2018年08月23日 特許庁 / 特許 | プレート搬送装置およびプレートチェンジャー FI分類-B25J 15/08 F, FI分類-G01N 35/04 G |
2018年08月22日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ分析装置、移動相供給装置、液体クロマトグラフ分析方法および移動相供給方法 FI分類-G01N 30/34 A, FI分類-G01N 30/54 D |
2018年08月22日 特許庁 / 特許 | 冷却温調用バイアルホルダ及びその冷却温調用バイアルホルダを用いる試料温度調節装置 FI分類-B01L 7/00, FI分類-B01L 9/06, FI分類-G01N 35/00 B |
2018年08月20日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフィー用検出器 FI分類-G01N 21/41 B |
2018年08月16日 特許庁 / 特許 | 外科用移動型X線装置 FI分類-A61B 6/00 310 |
2018年08月10日 特許庁 / 特許 | 分光検出器 FI分類-G01J 3/06, FI分類-G01J 3/18 |
2018年08月10日 特許庁 / 特許 | 歯車ポンプまたはモータ FI分類-F03C 2/08 A, FI分類-F04C 2/18 B, FI分類-F04C 2/18 311 C, FI分類-F04C 2/18 321 C |
2018年08月10日 特許庁 / 特許 | ポジトロンCT装置 FI分類-G01T 1/161 A |
2018年08月09日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡、および走査型プローブ顕微鏡を用いた物性量測定方法 FI分類-G01Q 60/24, FI分類-G01N 3/40 E |
2018年08月08日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置 FI分類-G01N 23/041, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2018年08月08日 特許庁 / 特許 | 電子線マイクロアナライザー、データ処理方法及びデータ処理プログラム FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252 |
2018年08月08日 特許庁 / 特許 | 分析制御装置、分析システムおよび分析方法 FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 G |
2018年08月08日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置およびプログラム FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 E |
2018年08月08日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ、バルブシステム、バルブシステムの制御装置および校正装置 FI分類-F16K 51/02 B, FI分類-G05D 16/20 Z |
2018年08月07日 特許庁 / 特許 | 流体残量管理装置、分析システム、流体残量管理方法および流体残量管理プログラム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/86 V, FI分類-G01N 35/00 F |
2018年08月06日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D |
2018年08月06日 特許庁 / 特許 | 光源モジュール FI分類-G02B 6/32, FI分類-G02B 6/42, FI分類-H01S 5/022 |
2018年08月06日 特許庁 / 特許 | 試料搬送装置 FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 35/04 G |
2018年08月06日 特許庁 / 特許 | 試料注入装置 FI分類-G01N 30/18 E, FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 35/10 E |
2018年08月06日 特許庁 / 特許 | 教師ラベル画像修正方法、学習済みモデルの作成方法および画像解析装置 FI分類-G06T 7/00 350 B |
2018年08月06日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用の試料容器搬送装置 FI分類-B25J 15/00 D, FI分類-B25J 15/06 G, FI分類-B25J 15/06 Z, FI分類-G01N 35/04 G |
2018年08月03日 特許庁 / 特許 | 電気泳動分離データ解析装置、電気泳動分離データ解析方法及びその解析方法をコンピュータに実施させるためのコンピュータプログラム FI分類-G01N 27/447 325 D |
2018年08月03日 特許庁 / 特許 | フランジ付ナットおよび材料試験機 FI分類-G01N 3/04, FI分類-G01N 3/08 |
2018年08月02日 特許庁 / 特許 | 光散乱検出装置 FI分類-G01N 21/51, FI分類-G01N 15/06 C, FI分類-G01N 15/14 P |
2018年08月02日 特許庁 / 特許 | 除電装置及び電子天秤 FI分類-G01G 3/12, FI分類-G01G 7/02, FI分類-G01G 21/30 |
2018年08月02日 特許庁 / 特許 | 放射線画像処理装置および放射線画像処理方法 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 350 A |
2018年08月02日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-G06T 5/50, FI分類-G06T 7/00 616, FI分類-A61B 6/00 350 P, FI分類-G06T 1/00 290 A |
2018年08月02日 特許庁 / 特許 | ガスサンプリングプローブおよびこれを備えた煙道排ガス分析装置 FI分類-G01N 1/22 D, FI分類-G01N 1/22 E, FI分類-G01N 1/22 Q |
2018年07月31日 特許庁 / 特許 | 光散乱検出装置 FI分類-G01N 15/00 A, FI分類-G01N 21/01 B, FI分類-G01N 21/47 Z |
2018年07月31日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-H01J 49/16, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 D |
2018年07月31日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置、質量分析方法および質量分析プログラム FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C12Q 1/68, FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 27/62 Y |
2018年07月31日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/06 |
2018年07月30日 特許庁 / 特許 | 堆積物監視装置および真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F04D 29/70 N |
2018年07月27日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡および走査型プローブ顕微鏡の制御装置 FI分類-G01Q 20/02, FI分類-G01Q 30/04 |
2018年07月27日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 31/00 V, FI分類-G01N 31/12 A, FI分類-G01N 1/00 101 T |
2018年07月26日 特許庁 / 特許 | 光散乱検出装置 FI分類-G01N 15/14 D |
2018年07月25日 特許庁 / 特許 | X線分光分析装置、及び該X線分光分析装置を用いた化学状態分析方法 FI分類-G01N 23/2209 |
2018年07月25日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/34 A, FI分類-G01N 30/64 A, FI分類-G01N 30/86 P |
2018年07月23日 特許庁 / 特許 | マイクロ流体デバイス観察装置 FI分類-C12M 1/34 D, FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 37/00 101 |
2018年07月23日 特許庁 / 特許 | マイクロ流体デバイス観察装置及びマイクロ流体デバイス観察方法 FI分類-C12M 1/34 C, FI分類-G01N 15/14 B, FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 37/00 101 |
2018年07月20日 特許庁 / 特許 | 振とう装置および分析方法 FI分類-G01N 1/38 |
2018年07月19日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 49/02, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 F |
2018年07月18日 特許庁 / 特許 | 細胞培養装置および細胞播種方法 FI分類-C12M 1/12, FI分類-C12M 1/26, FI分類-C12M 3/06, FI分類-C12N 1/02, FI分類-B01D 63/00 500 |
2018年07月13日 特許庁 / 特許 | 案内機構 FI分類-G01N 3/02 A |
2018年07月12日 特許庁 / 特許 | 示差屈折率検出器 FI分類-G01N 21/41 B |
2018年07月12日 特許庁 / 特許 | 移動型X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310 |
2018年07月11日 特許庁 / 特許 | 磁性体検査システム、磁性体検査装置および磁性体検査方法 FI分類-G01N 27/82 |
2018年07月11日 特許庁 / 特許 | におい嗅ぎ装置 FI分類-G01N 30/54 F |
2018年07月10日 特許庁 / 特許 | 診断用X線装置 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 300 D |
2018年07月10日 特許庁 / 特許 | 放射線断層画像処理装置および放射線断層撮影装置 FI分類-A61B 6/02 301 D |
2018年07月10日 特許庁 / 特許 | 画像表示装置 FI分類-G02B 5/08 Z, FI分類-G02B 27/02 Z |
2018年07月09日 特許庁 / 特許 | 医用X線画像処理装置およびX線画像撮影装置 FI分類-A61B 6/00 350 A, FI分類-A61B 6/00 390 A |
2018年07月06日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子操作用容器 FI分類-B01F 13/08 A, FI分類-G01N 35/02 A |
2018年07月04日 特許庁 / 特許 | 映像信号圧縮処理装置、映像信号伸張処理装置、映像信号伝送システム、映像信号圧縮処理方法、及び映像信号伸張処理方法 FI分類-A61B 5/00 D, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2018年07月04日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ用電源装置および真空ポンプ装置 FI分類-F04D 19/04 G |
2018年07月02日 特許庁 / 特許 | 圧力制御バルブ及び超臨界流体クロマトグラフ FI分類-F16K 31/02 A, FI分類-F16K 31/04 K, FI分類-F16K 37/00 J, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/32 A |
2018年06月29日 特許庁 / 特許 | 4種の物質の含有率を測定する測定方法、測定処理プログラムおよび測定装置 FI分類-G01N 21/552, FI分類-G01N 21/3563 |
2018年06月28日 特許庁 / 特許 | 機械学習方法、機械学習装置、及び機械学習プログラム FI分類-G06T 7/00 350 C |
2018年06月27日 特許庁 / 特許 | パーティクル計数装置 FI分類-G01N 15/06 C, FI分類-G01N 15/06 D |
2018年06月25日 特許庁 / 特許 | 変位量測定装置、変位量測定方法および変位量測定プログラム FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01B 11/16 H |
2018年06月25日 特許庁 / 特許 | 圧縮試験治具、材料試験機、および材料試験機における平行度調整方法 FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01N 3/04 P |
2018年06月21日 特許庁 / 特許 | 脱気装置 FI分類-B01D 19/00 H, FI分類-G01N 30/26 H, FI分類-B01D 19/00 101 |
2018年06月20日 特許庁 / 特許 | 水質測定装置及び水質測定方法 FI分類-C02F 1/32, FI分類-G01N 27/06 A, FI分類-G01N 33/18 B |
2018年06月20日 特許庁 / 特許 | サンプルプレート及びオートサンプラ FI分類-G01N 35/02 A, FI分類-G01N 35/10 C |
2018年06月20日 特許庁 / 特許 | チューブ状レーザ光源を作製する方法、チューブ状レーザ光源及びそのチューブ状レーザ光源を用いた検出器 FI分類-H01S 3/06, FI分類-H01S 3/16, FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/64, FI分類-H01S 3/00 F |
2018年06月20日 特許庁 / 特許 | 送液装置 FI分類-F04B 49/22, FI分類-F04B 51/00, FI分類-F04B 53/10 B, FI分類-F04B 53/10 D, FI分類-F16K 15/18 D, FI分類-F16K 37/00 M, FI分類-G01N 30/32 C |
2018年06月20日 特許庁 / 特許 | マスター回折格子の製造装置及び製造方法 FI分類-G02B 5/18 |
2018年06月18日 特許庁 / 特許 | サンプル温調機能を備えた装置 FI分類-G01N 35/00 B |
2018年06月18日 特許庁 / 特許 | サンプル温調機能を備えた装置 FI分類-G01N 35/00 B |
2018年06月18日 特許庁 / 特許 | サンプル温調機能を備えた装置 FI分類-G01N 1/28 Z, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 30/54 F |
2018年06月14日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子操作用装置 FI分類-C12M 1/00 A |
2018年06月14日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプおよび診断システム FI分類-F04D 19/04 A |
2018年06月14日 特許庁 / 特許 | X線画像撮影装置およびX線画像撮影方法 FI分類-A61B 6/02 300 F, FI分類-A61B 6/02 301 D |
2018年06月14日 特許庁 / 特許 | プラズマ発生装置、これを備えた発光分析装置及び質量分析装置、並びに、装置状態判定方法 FI分類-H05H 1/30, FI分類-G01N 21/73, FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 G |
2018年06月08日 特許庁 / 特許 | X線検査装置およびX線検査装置におけるX線管のターゲットの消耗度判定方法 FI分類-G01N 23/02, FI分類-G21K 5/02 X, FI分類-G21K 5/08 X, FI分類-H05G 1/26 F, FI分類-H05G 1/26 J, FI分類-H01J 35/08 Z |
2018年06月08日 特許庁 / 特許 | 流体デバイスの製造方法および流体デバイス FI分類-G01N 33/15 Z, FI分類-A61J 1/05 350 |
2018年06月08日 特許庁 / 特許 | 分析方法、質量分析用試料調製用材料、質量分析用キット、糖鎖類分析用材料および糖鎖類質量分析用キット FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 V |
2018年06月08日 特許庁 / 特許 | 探針エレクトロスプレーイオン化ユニット及びイオン分析装置 FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-H01J 49/04 090, FI分類-H01J 49/16 500, FI分類-H01J 49/42 150 |
2018年06月08日 特許庁 / 特許 | 蛍光X線分析装置および蛍光X線分析方法 FI分類-G01N 23/223 |
2018年06月05日 特許庁 / 特許 | 画像処理方法および画像処理装置 FI分類-G06T 3/40 725, FI分類-G06T 5/00 705, FI分類-G06T 7/00 350 B |
2018年06月01日 特許庁 / 特許 | 機器分析用データ処理方法及び装置 FI分類-H03M 7/40, FI分類-H03M 7/46, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-H01J 49/00 360 |
2018年06月01日 特許庁 / 特許 | 質量分析データ処理プログラム FI分類-G01N 27/62 D |
2018年06月01日 特許庁 / 特許 | 四重極マスフィルタおよび分析装置 FI分類-H01J 49/42 150, FI分類-H01J 49/42 550 |
2018年05月31日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/02 200 |
2018年05月31日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/02 200, FI分類-H01J 49/40 300 |
2018年05月31日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/06 300 |
2018年05月31日 特許庁 / 特許 | 分析装置、分析方法およびプログラム FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-H01J 49/00 090, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/40 100, FI分類-H01J 49/40 500 |
2018年05月31日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/02 200, FI分類-H01J 49/02 500 |
2018年05月31日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/06 300, FI分類-H01J 49/06 700, FI分類-H01J 49/42 150 |
2018年05月31日 特許庁 / 特許 | 探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/04 450, FI分類-H01J 49/42 150 |
2018年05月30日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/06 |
2018年05月30日 特許庁 / 特許 | 直交加速飛行時間型質量分析装置及びその引き込み電極 FI分類-H01J 49/06 700, FI分類-H01J 49/06 800, FI分類-H01J 49/40 300 |
2018年05月30日 特許庁 / 特許 | スペクトルデータ処理装置及び分析装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2018年05月30日 特許庁 / 特許 | イメージングデータ処理装置 FI分類-G01N 21/64 E, FI分類-G01N 27/62 Y |
2018年05月30日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 Y |
2018年05月30日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-H01J 49/00 040, FI分類-H01J 49/00 360 |
2018年05月30日 特許庁 / 特許 | イメージングデータ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2018年05月30日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 Y |
2018年05月29日 特許庁 / 特許 | 検体抽出用ジグ FI分類-G01N 35/10 Z, FI分類-G01N 1/00 101 K |
2018年05月29日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 Z, FI分類-H01J 49/00 400 |
2018年05月28日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-H01J 49/02 200, FI分類-H01J 49/40 100, FI分類-H01J 49/42 450 |
2018年05月28日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-H01J 49/02 200, FI分類-H01J 49/40 300 |
2018年05月28日 特許庁 / 特許 | 自動試料導入装置、クロマトグラフ、自動試料導入方法および分析方法 FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/18 E, FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 35/10 K |
2018年05月24日 特許庁 / 特許 | MALDIイオン源及び質量分析装置 FI分類-H01J 49/16, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 G |
2018年05月24日 特許庁 / 特許 | 分析システム FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 C, FI分類-G01N 30/86 Q, FI分類-G06F 3/16 650 |
2018年05月23日 特許庁 / 特許 | 磁性体検査装置 FI分類-G01N 27/82 |
2018年05月23日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40 100 |
2018年05月22日 特許庁 / 特許 | エネルギー分散型蛍光X線分析装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-H05G 1/34 A |
2018年05月21日 特許庁 / 特許 | X線検査装置 FI分類-G01N 23/044 |
2018年05月18日 特許庁 / 特許 | 内在性ペプチド同定用スペクトルライブラリ作成方法、内在性ペプチド同定方法、及び内在性ペプチド同定装置 FI分類-C40B 40/10, FI分類-G01N 33/68, FI分類-C07K 14/435, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 ZNAV |
2018年05月17日 特許庁 / 特許 | 磁性体検査システムおよびプログラム FI分類-G01N 27/82 |
2018年05月16日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/24, FI分類-H01J 49/40 100, FI分類-H01J 49/40 500 |
2018年05月16日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/06 500, FI分類-H01J 49/40 100 |
2018年05月16日 特許庁 / 特許 | 送液装置及び液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/32 C |
2018年05月14日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40 500 |
2018年05月14日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/02 200, FI分類-H01J 49/06 200, FI分類-H01J 49/42 150 |
2018年05月11日 特許庁 / 特許 | 医用画像撮像装置 FI分類-A61B 10/00 E |
2018年05月11日 特許庁 / 特許 | 流路切替装置 FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/72 G |
2018年05月11日 特許庁 / 特許 | 試料容器保持機構 FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 30/72 C |
2018年05月10日 特許庁 / 特許 | 分析方法、処理装置、分析装置およびプログラム FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/88 F, FI分類-G01N 30/88 J |
2018年05月10日 特許庁 / 特許 | プライオリティ流量制御バルブ FI分類-F15B 11/16 B, FI分類-F15B 13/06 A |
2018年05月09日 特許庁 / 特許 | データ検索装置、データ蓄積システムおよびデータ検索方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G06F 17/30 170 Z, FI分類-G06F 17/30 380 D |
2018年05月08日 特許庁 / 特許 | 画像処理システムおよび異常検出方法 FI分類-G06T 1/20 A, FI分類-A61B 6/00 350 Z, FI分類-G06T 1/00 500 A |
2018年05月07日 特許庁 / 特許 | 分析装置、分析方法およびプログラム FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 30/72 A |
2018年05月07日 特許庁 / 特許 | 医療用イメージング装置 FI分類-A61B 10/00 E |
2018年05月02日 特許庁 / 特許 | フーリエ変換型分光光度計 FI分類-G01J 3/45 |
2018年05月02日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/10 350, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2018年05月01日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/06 100, FI分類-H01J 49/06 200, FI分類-H01J 49/40 100 |
2018年04月27日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 101 |
2018年04月26日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/00 090, FI分類-H01J 49/02 500, FI分類-H01J 49/40 500 |
2018年04月25日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡及び光強度調整方法 FI分類-G01Q 20/02 |
2018年04月23日 特許庁 / 特許 | X線撮影システム FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 350 A, FI分類-A61B 6/00 350 P |
2018年04月20日 特許庁 / 特許 | スキマーコーン及び誘導結合プラズマ質量分析装置 FI分類-H01J 49/24, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/06 700, FI分類-H01J 49/10 500 |
2018年04月20日 特許庁 / 特許 | デジタルラジオグラフィー装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2018年04月19日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/04 332 C |
2018年04月19日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 350 S |
2018年04月18日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 10/06, FI分類-G01Q 20/02 |
2018年04月18日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61N 5/10 P, FI分類-A61N 5/10 Q, FI分類-A61N 5/10 U, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 350 S |
2018年04月18日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61N 5/10, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2018年04月17日 特許庁 / 特許 | 光検出器及びそれを備えた分光分析装置 FI分類-G01J 3/45, FI分類-G01J 1/02 N, FI分類-G01J 1/44 Z, FI分類-G01J 3/02 S |
2018年04月16日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバー移動方法 FI分類-G01Q 10/02, FI分類-G01Q 20/02 |
2018年04月16日 特許庁 / 特許 | X線イメージング装置 FI分類-G01N 23/041, FI分類-G01N 23/201 |
2018年04月13日 特許庁 / 特許 | 抽出物の回収方法および分析方法 FI分類-G01N 1/10 F, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 1/00 101 P |
2018年04月13日 特許庁 / 特許 | 撮影順序決定支援方法、撮影順序決定支援プログラム並びにそれを搭載したX線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 M, FI分類-A61B 6/00 320 M |
2018年04月12日 特許庁 / 特許 | 馬尿酸類分析用の分離カラム、馬尿酸類分析用の液体クロマトグラフ、及び馬尿酸類の分析方法 FI分類-B01J 20/283, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/88 E |
2018年04月12日 特許庁 / 特許 | 吸光度検出器 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/27 Z |
2018年04月11日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 R, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2018年04月11日 特許庁 / 特許 | フィールドフローフラクショネーション装置 FI分類-B03B 5/62, FI分類-B03B 5/00 Z |
2018年04月11日 特許庁 / 特許 | フィールドフローフラクショネーション装置 FI分類-B03B 5/62, FI分類-B03B 5/00 Z, FI分類-G01N 1/04 M |
2018年04月09日 特許庁 / 特許 | 治療支援装置 FI分類-F21V 7/26, FI分類-F21V 29/83, FI分類-F21Y 115:10, FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-F21W 131:205, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-F21S 2/00 610, FI分類-F21V 23/00 113, FI分類-F21V 29/503 100 |
2018年04月09日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 350 P |
2018年04月05日 特許庁 / 特許 | 光源モジュール FI分類-G02B 6/32, FI分類-G02B 6/42, FI分類-H01S 5/40, FI分類-G02B 13/00, FI分類-G02B 13/18 |
2018年04月05日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/04 332 C |
2018年03月30日 特許庁 / 特許 | イメージングデータ処理装置及びイメージングデータ処理プログラム FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 Y |
2018年03月30日 特許庁 / 特許 | 移動型放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 320 R |
2018年03月30日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び試料搬送装置 FI分類-H01J 49/04 180, FI分類-H01J 49/16 400 |
2018年03月29日 特許庁 / 特許 | 水中用レーザ光源 FI分類-H01S 5/024, FI分類-H04B 10/50, FI分類-H04B 10/80 |
2018年03月29日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 101 |
2018年03月29日 特許庁 / 特許 | 分析情報収集用プログラム及び分析情報収集システム FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G06F 3/12 322, FI分類-G06F 3/12 344 |
2018年03月29日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析におけるデータ処理方法及びデータ処理プログラム FI分類-G01N 27/62 Y |
2018年03月28日 特許庁 / 特許 | 被曝線量表示装置 FI分類-G01T 1/00 D, FI分類-G01T 7/00 A, FI分類-A61B 6/10 302 |
2018年03月28日 特許庁 / 特許 | 水質分析計 FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 33/18 B, FI分類-G01N 33/18 106 Z |
2018年03月27日 特許庁 / 特許 | 三次元形状測定用X線CT装置の長さ測定誤差評価用器物 FI分類-G01N 23/046, FI分類-G01B 15/00 H |
2018年03月27日 特許庁 / 特許 | 三次元形状測定用X線CT装置の長さ測定誤差評価用器物 FI分類-G01N 23/046, FI分類-G01N 23/083, FI分類-G01B 15/00 H, FI分類-G01B 15/04 H |
2018年03月27日 特許庁 / 特許 | 三次元形状測定用X線CT装置の長さ測定誤差評価用器物 FI分類-G01B 15/00 Z |
2018年03月26日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム軸合わせ装置、荷電粒子ビーム照射装置および荷電粒子ビーム軸合わせ方法 FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2018年03月26日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム軸合わせ装置、荷電粒子ビーム照射装置および荷電粒子ビーム軸合わせ方法 FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2018年03月22日 特許庁 / 特許 | つかみ歯およびつかみ具 FI分類-G01N 3/04 D |
2018年03月22日 特許庁 / 特許 | 移動型放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310 |
2018年03月20日 特許庁 / 特許 | 目標開度推定器および圧力調整真空バルブ FI分類-H01L 21/205, FI分類-C23C 16/44 B, FI分類-H01L 21/31 A, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2018年03月20日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 V |
2018年03月20日 特許庁 / 特許 | データ補正方法、データ補正方法をコンピュータに実行させるプログラム、画像処理装置、走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 30/06 |
2018年03月20日 特許庁 / 特許 | 細胞観察装置 FI分類-C12Q 1/02, FI分類-G03H 1/02, FI分類-G03H 1/04, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/36, FI分類-C12M 1/34 A |
2018年03月20日 特許庁 / 特許 | 細胞観察装置 FI分類-G03H 1/04, FI分類-G03H 1/22, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/36 |
2018年03月20日 特許庁 / 特許 | 細胞観察装置及び細胞観察用プログラム FI分類-G06T 7/00 630 |
2018年03月20日 特許庁 / 特許 | 細胞観察装置 FI分類-G06T 7/00 630, FI分類-G06T 7/00 350 B |
2018年03月20日 特許庁 / 特許 | 細胞画像解析装置、細胞画像解析システム、学習データの生成方法、学習モデルの生成方法、学習データの生成プログラム、および、学習データの製造方法 FI分類-G01N 33/48 M, FI分類-G06T 7/00 630, FI分類-G06T 7/00 350 B |
2018年03月20日 特許庁 / 特許 | 細胞観察装置及び細胞観察方法 FI分類-C12M 1/34 D, FI分類-C12N 5/0735 |
2018年03月19日 特許庁 / 特許 | 粒子径分布測定装置 FI分類-G01N 15/02 A |
2018年03月16日 特許庁 / 特許 | バイナリポンプ及びそのバイナリポンプを備えた液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/32 C |
2018年03月16日 特許庁 / 特許 | 細胞ピッキング装置 FI分類-C12M 1/26, FI分類-C12M 1/00 A |
2018年03月12日 特許庁 / 特許 | 断層像生成方法および放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 350 M, FI分類-A61B 6/02 301 D |
2018年03月08日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡及び表面画像補正方法 FI分類-G01Q 30/06 |
2018年03月08日 特許庁 / 特許 | 細胞画像解析方法、細胞画像解析装置、及び学習モデル作成方法 FI分類-G06T 7/00 630, FI分類-G06T 7/00 350 C |
2018年03月07日 特許庁 / 特許 | 粒子画像解析装置及び粒子画像解析方法 FI分類-G01N 15/14 B |
2018年03月07日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F16N 7/00, FI分類-F16N 7/36, FI分類-F16N 19/00, FI分類-F04D 19/04 B, FI分類-F16C 33/66 Z |
2018年03月07日 特許庁 / 特許 | 化学発光検出器用反応装置及びこれを備えた化学発光検出器、並びに、化学発光検出方法 FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 30/74 Z |
2018年03月06日 特許庁 / 特許 | 画像表示装置 FI分類-G02B 27/02 Z |
2018年03月06日 特許庁 / 特許 | 細胞画像解析方法、細胞画像解析装置、及び学習モデル作成方法 FI分類-G06T 7/00 630 |
2018年03月05日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/16, FI分類-H01J 49/26 |
2018年03月01日 特許庁 / 特許 | 分析システム FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/27 F, FI分類-G01N 35/02 E |
2018年03月01日 特許庁 / 特許 | 試料の調製方法および分析方法 FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/48 A |
2018年03月01日 特許庁 / 特許 | イオントラップ装置 FI分類-H01J 49/42 |
2018年03月01日 特許庁 / 特許 | 分光分析制御装置、分光分析装置、分光分析制御方法および分光分析制御プログラム FI分類-G01J 3/02 R |
2018年02月28日 特許庁 / 特許 | X線位相差撮像システム FI分類-G01N 23/041, FI分類-G01T 7/00 B |
2018年02月28日 特許庁 / 特許 | タンデム型質量分析装置及び該装置用プログラム FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 D |
2018年02月28日 特許庁 / 特許 | 四重極型質量分析装置 FI分類-H01J 49/42 150 |
2018年02月28日 特許庁 / 特許 | 糖鎖解析方法、糖鎖解析システム、糖鎖解析用プログラム、及び糖鎖解析用キット FI分類-G01N 27/447 301 A, FI分類-G01N 27/447 301 B, FI分類-G01N 27/447 315 F, FI分類-G01N 27/447 315 K |
2018年02月27日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/06 |
2018年02月27日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置及びイオン解離方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 B |
2018年02月27日 特許庁 / 特許 | ライトガイド及びその製造方法 FI分類-G02B 7/00 F, FI分類-G02B 27/02 Z |
2018年02月26日 特許庁 / 特許 | 測定データ処理方法、測定データ処理装置、及び測定データ処理用プログラム FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 D |
2018年02月26日 特許庁 / 特許 | 画像処理方法 FI分類-G06T 7/00 612, FI分類-A61B 6/00 350 D |
2018年02月26日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 M, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2018年02月22日 特許庁 / 特許 | 分析用液監視装置 FI分類-G01N 30/26 E |
2018年02月21日 特許庁 / 特許 | 電池材料の化学状態分析方法 FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252 |
2018年02月21日 特許庁 / 特許 | 電池材料の化学状態分析装置及び方法 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/2209 |
2018年02月16日 特許庁 / 特許 | 真空排気装置、真空ポンプおよび真空バルブ FI分類-F16K 27/04, FI分類-F04D 19/04 G, FI分類-F16K 27/00 B, FI分類-F16K 51/02 B |
2018年02月16日 特許庁 / 特許 | 化学発光式NOx濃度測定装置 FI分類-G01N 21/76 |
2018年02月14日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプおよびバランス調整方法 FI分類-G01M 1/32, FI分類-G01M 1/34, FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 Z, FI分類-F04D 29/64 F |
2018年02月14日 特許庁 / 特許 | 磁気浮上制御装置および真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 A, FI分類-F16C 32/04 A |
2018年02月13日 特許庁 / 特許 | 微生物分析方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-G01N 27/62 V |
2018年02月09日 特許庁 / 特許 | 電気伝導度検出器及びバックグランド減算信号の位相調整値を求めるための方法 FI分類-G01N 27/06 B, FI分類-G01N 30/02 B, FI分類-G01N 30/62 B, FI分類-G01N 30/64 A, FI分類-G01R 27/22 Z |
2018年02月08日 特許庁 / 特許 | モノクローナル抗体の検出結果を向上する方法 FI分類-G01N 33/549, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 33/53 N |
2018年02月07日 特許庁 / 特許 | 磁性体検査装置 FI分類-G01N 27/82, FI分類-G01R 33/02 B |
2018年02月07日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-H01J 49/06 700, FI分類-H01J 49/06 800, FI分類-H01J 49/42 150, FI分類-H01J 49/42 250 |
2018年02月07日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/42 150, FI分類-H01J 49/42 250 |
2018年02月07日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-H01J 49/06 800, FI分類-H01J 49/42 150, FI分類-H01J 49/42 250 |
2018年02月07日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/06 800, FI分類-H01J 49/42 150, FI分類-H01J 49/42 250 |
2018年02月06日 特許庁 / 特許 | イオン化装置及び質量分析装置 FI分類-H01J 49/32, FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/14 700, FI分類-H01J 49/42 150 |
2018年02月05日 特許庁 / 特許 | データ解析装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2018年02月05日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析装置における質量較正方法 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 D |
2018年02月02日 特許庁 / 特許 | 硬さ試験機 FI分類-G01N 3/42 B |
2018年02月02日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 B, FI分類-F04D 19/04 G |
2018年02月02日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフィーシステム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/60 Z, FI分類-G01N 30/86 D |
2018年02月02日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-H01J 49/00 040, FI分類-H01J 49/16 400 |
2018年02月02日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析用データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2018年02月01日 特許庁 / 特許 | マイクロ流路内に保持された検体の前処理方法、その前処理方法を実行するための前処理装置及びその前処理装置を備えた分析システム FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 30/16 L, FI分類-G01N 30/88 E, FI分類-G01N 35/00 D, FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 37/00 101, FI分類-G01N 1/00 101 H |
2018年02月01日 特許庁 / 特許 | 試験結果評価方法および材料試験機 FI分類-G01N 3/30 P |
2018年02月01日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/30 P |
2018年02月01日 特許庁 / 特許 | 振幅検出方法および材料試験機 FI分類-G01N 3/30 P |
2018年02月01日 特許庁 / 特許 | ワイヤロープ検査装置、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法 FI分類-G01N 27/82 |
2018年01月31日 特許庁 / 特許 | X線発生装置、X線検査装置、および、X線発生装置における絶縁不良検出方法 FI分類-H05G 1/26 C, FI分類-H05G 1/26 T |
2018年01月30日 特許庁 / 特許 | 前処理システム FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 1/10 B, FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 1/00 101 F, FI分類-G01N 1/00 101 N |
2018年01月30日 特許庁 / 特許 | データ処理装置及びデータ処理プログラム FI分類-G01N 15/02 A |
2018年01月30日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子操作用デバイス及び磁性体粒子操作用装置 FI分類-C12M 1/32, FI分類-G01N 1/10 C, FI分類-B01J 19/08 D, FI分類-G01N 35/02 A |
2018年01月29日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡及び分析方法 FI分類-G01Q 30/06, FI分類-G01Q 60/10, FI分類-G01Q 60/24 |
2018年01月26日 特許庁 / 特許 | 打撃装置および固有周波数測定装置 FI分類-G01N 3/303 D |
2018年01月26日 特許庁 / 特許 | 分析制御装置、分析装置、分析制御方法および分析方法 FI分類-G01N 21/73, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 Y |
2018年01月26日 特許庁 / 特許 | 分析装置用の配管デバイス及びその配管デバイスを用いた分析装置 FI分類-G01N 30/02 A, FI分類-G01N 30/26 N, FI分類-G01N 37/00 101 |
2018年01月26日 特許庁 / 特許 | 探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置 FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/16 500 |
2018年01月25日 特許庁 / 特許 | 骨密度測定装置および骨密度撮影方法 FI分類-A61B 6/00 333, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2018年01月22日 特許庁 / 特許 | サンプル温調装置 FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 30/54 C, FI分類-G01N 30/54 D, FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/54 H |
2018年01月18日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 G |
2018年01月18日 特許庁 / 特許 | バルブシステム FI分類-F16K 7/17 B, FI分類-G01N 30/16 C, FI分類-G01N 30/16 K |
2018年01月18日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-G05D 16/20 Z |
2018年01月18日 特許庁 / 特許 | 電気泳動解析方法、電気泳動解析装置及び電気泳動解析プログラム FI分類-C12Q 1/68, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 33/50 P, FI分類-G01N 27/447 301 A |
2018年01月15日 特許庁 / 特許 | X線透視装置 FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2018年01月11日 特許庁 / 特許 | サンプルラック FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/04 H, FI分類-G01N 1/00 101 H |
2018年01月09日 特許庁 / 特許 | 画像作成装置及び学習済モデルの生成方法 FI分類-A61B 6/03 371, FI分類-G06T 7/00 612, FI分類-A61B 6/00 331 Z, FI分類-A61B 6/00 350 M, FI分類-A61B 6/00 360 B, FI分類-A61B 6/03 360 J |
2018年01月09日 特許庁 / 特許 | タンパク質同定方法 FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X |
2017年12月28日 特許庁 / 特許 | モノクローナル抗体の簡素化された定量方法 FI分類-C07K 16/00, FI分類-C07K 17/00, FI分類-C12N 11/00, FI分類-C12N 15/13, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/06 ZNAE |
2017年12月28日 特許庁 / 特許 | モノクローナル抗体の検出結果を向上する方法 FI分類-C07K 16/00, FI分類-C12P 21/08, FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/06 ZNAE |
2017年12月27日 特許庁 / 特許 | 成分抽出装置 FI分類-B01D 11/00 |
2017年12月27日 特許庁 / 特許 | 放射線治療用追跡装置、位置検出装置および動体追跡方法 FI分類-A61N 5/10 M |
2017年12月27日 特許庁 / 特許 | 二次元液体クロマトグラフシステム FI分類-G01N 30/82, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/34 E, FI分類-G01N 30/46 A |
2017年12月26日 特許庁 / 特許 | バルブ装置 FI分類-F16K 37/00 D, FI分類-F16K 51/02 B, FI分類-G05D 16/20 C |
2017年12月25日 特許庁 / 特許 | 走査型荷電粒子顕微鏡及び制御プログラム FI分類-G01B 15/00, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/28 Z, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/147 D, FI分類-G06T 7/00 300 D, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年12月25日 特許庁 / 特許 | 電子線マイクロアナライザ FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2017年12月25日 特許庁 / 特許 | フローセル及びそのフローセルを備えた検出器 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/27 Z |
2017年12月22日 特許庁 / 特許 | 水質分析計 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 33/18 106 Z |
2017年12月21日 特許庁 / 特許 | X線分析装置、及び、X線検出器の交換時期判定方法 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 7/00 C, FI分類-G01N 23/207 320 |
2017年12月21日 特許庁 / 特許 | X線分析装置及び異常検知方法 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/207 320 |
2017年12月20日 特許庁 / 特許 | 信号処理方法および材料試験機 FI分類-G01N 3/30 P |
2017年12月19日 特許庁 / 特許 | 熱伝導度検出器 FI分類-G01N 27/18, FI分類-G01N 30/66, FI分類-G01N 25/18 E |
2017年12月18日 特許庁 / 特許 | 遠心式流動場分画装置 FI分類-B04B 15/00, FI分類-B03B 5/28 A, FI分類-G01N 1/04 M, FI分類-G01N 1/10 H, FI分類-G01N 15/00 C |
2017年12月14日 特許庁 / 特許 | 蛍光X線分析装置 FI分類-G01N 23/223 |
2017年12月14日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 T |
2017年12月14日 特許庁 / 特許 | 移動型X線撮影装置および移動型X線撮影装置の表示部の制御方法 FI分類-A61B 6/00 310 |
2017年12月13日 特許庁 / 特許 | 乳房検査用核医学診断装置および乳房検査用核医学診断装置用距離調整装置 FI分類-G01T 1/161 D |
2017年12月12日 特許庁 / 特許 | 発光装置 FI分類-G02B 27/09, FI分類-G02B 27/10, FI分類-H01S 5/022 |
2017年12月11日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 S |
2017年12月11日 特許庁 / 特許 | メカニカルシール装置 FI分類-F16J 15/34 K, FI分類-F16J 15/36 Z, FI分類-F16L 27/08 Z |
2017年12月11日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子を輸送するための輸送装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 E |
2017年12月07日 特許庁 / 特許 | 水質分析計 FI分類-G01N 31/10, FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 31/00 F, FI分類-G01N 33/18 B |
2017年12月05日 特許庁 / 特許 | 分注装置 FI分類-G01F 23/26 A, FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 35/10 D, FI分類-G01N 1/00 101 K |
2017年12月05日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/02 C |
2017年12月05日 特許庁 / 特許 | 生体試料自動分析システム FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/02 C |
2017年12月04日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40 |
2017年12月01日 特許庁 / 特許 | 流体クロマトグラフ用送液ポンプ FI分類-G01N 30/32 C, FI分類-F04B 49/06 321 Z |
2017年12月01日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ分析システム FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/26 H, FI分類-G01N 30/34 E, FI分類-G01N 30/72 C |
2017年11月30日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/18, FI分類-G01N 3/20 |
2017年11月30日 特許庁 / 特許 | マトリックス膜形成装置 FI分類-G01N 1/28 N, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/64 B |
2017年11月30日 特許庁 / 特許 | マトリックス膜形成装置 FI分類-G01N 1/28 T, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/64 B |
2017年11月29日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/02 Z |
2017年11月29日 特許庁 / 特許 | プランジャポンプ FI分類-F04B 53/16 C |
2017年11月27日 特許庁 / 特許 | フローセルユニット FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/09, FI分類-F16J 15/06 A, FI分類-F16J 15/06 P |
2017年11月24日 特許庁 / 特許 | マルチディメンジョナルガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/46 A, FI分類-G01N 30/54 F |
2017年11月24日 特許庁 / 特許 | 赤外分光光度計及び窓部材の保管方法 FI分類-G01J 3/45, FI分類-G02B 5/20, FI分類-G01J 3/02 Z |
2017年11月24日 特許庁 / 特許 | フーリエ変換型分光光度計 FI分類-G01J 3/45 |
2017年11月22日 特許庁 / 特許 | 材料試験機および把持力検出方法 FI分類-G01N 3/04 Z |
2017年11月21日 特許庁 / 特許 | 移動型放射線撮影装置 FI分類-F16H 19/02 D, FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 300 D |
2017年11月17日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ用のプレートチェンジャ FI分類-B65G 1/14 B, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 35/04 G |
2017年11月17日 特許庁 / 特許 | 生体イメージング用半導体SWCNT分散液及びその製造方法 FI分類-B82Y 5/00, FI分類-A61K 49/00, FI分類-B82Y 30/00, FI分類-B82Y 40/00, FI分類-C01B 32/159, FI分類-C01B 32/174 |
2017年11月17日 特許庁 / 特許 | 生体イメージング用半導体SWCNT分散液及びその検査方法 FI分類-A61K 9/10, FI分類-B82Y 5/00, FI分類-A61K 41/00, FI分類-A61K 45/00, FI分類-A61K 47/10, FI分類-A61K 49/00, FI分類-B82Y 30/00, FI分類-C01B 32/159, FI分類-C01B 32/174 |
2017年11月13日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ用検出器 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/15, FI分類-G01N 21/27 Z |
2017年11月09日 特許庁 / 特許 | データ解析装置及びデータ解析用プログラム FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 G |
2017年11月09日 特許庁 / 特許 | 波形解析装置 FI分類-G06T 7/90, FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G06T 7/60 200, FI分類-G06T 7/00 350 C |
2017年11月09日 特許庁 / 特許 | 波形解析装置 FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 C, FI分類-G01N 30/86 E |
2017年11月07日 特許庁 / 特許 | 赤外分光光度計用付属品 FI分類-G01J 3/44, FI分類-G01J 3/45, FI分類-G01N 21/35, FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/64 G |
2017年11月06日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体クロマトグラフを用いた成分分離方法 FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/88 C, FI分類-G01N 30/88 J |
2017年11月02日 特許庁 / 特許 | スペイシャルフィルタの調整方法、補助器及びスペイシャルフィルタ FI分類-G02B 7/00 D, FI分類-G02B 7/00 G |
2017年11月02日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/40 100 |
2017年11月02日 特許庁 / 特許 | 分析方法、検量線の作成方法及び凝固分析装置 FI分類-G01N 33/86 |
2017年10月27日 特許庁 / 特許 | タッチパネル装置を備えた分析装置、その表示制御方法、及びプログラム FI分類-G06F 3/0488, FI分類-G06F 3/0484 150 |
2017年10月27日 特許庁 / 特許 | ESIスプレイヤー用管及びESIスプレイヤー FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/16 700 |
2017年10月25日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 B, FI分類-F04D 19/04 H |
2017年10月25日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-H01J 49/06 700 |
2017年10月25日 特許庁 / 特許 | 移動型X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310 |
2017年10月23日 特許庁 / 特許 | 送液装置及び流体クロマトグラフ FI分類-F04B 23/06, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/32 C, FI分類-G01N 30/34 A |
2017年10月20日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/03 371, FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 360 B, FI分類-A61B 6/03 360 G |
2017年10月18日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置用情報管理装置 FI分類-G01N 27/62 F |
2017年10月18日 特許庁 / 特許 | 放射線撮像装置および放射線治療装置 FI分類-A61N 5/10 F, FI分類-A61N 5/10 M, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 350 D, FI分類-A61B 6/00 350 P |
2017年10月18日 特許庁 / 特許 | 光結合装置 FI分類-G02B 6/42, FI分類-G02B 6/26 301 |
2017年10月16日 特許庁 / 特許 | レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/00 M, FI分類-B23K 26/00 Q |
2017年10月13日 特許庁 / 特許 | 歯車ポンプ又はモータ FI分類-F03C 2/08 A, FI分類-F04C 2/18 311 Z |
2017年10月06日 特許庁 / 特許 | 分析データベース登録装置、分析データ収集システム、分析システムおよび分析データベース登録方法 FI分類-G01N 35/00 A |
2017年10月06日 特許庁 / 特許 | ガス推定装置および真空排気装置 FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-G05D 16/20 Z, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2017年10月05日 特許庁 / 特許 | 試料導入装置 FI分類-G01N 1/22 L, FI分類-G01N 1/00 101 R |
2017年10月05日 特許庁 / 特許 | 試料導入装置 FI分類-G01N 1/22 J, FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 1/00 101 R |
2017年10月04日 特許庁 / 特許 | 診断画像システム FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2017年10月04日 特許庁 / 特許 | 診断画像システム FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 350 P, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2017年10月04日 特許庁 / 特許 | 診断画像システム FI分類-G06Q 50/24, FI分類-A61B 5/00 G, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2017年10月04日 特許庁 / 特許 | 診断画像システムおよび診断用情報処理装置 FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 350 P, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2017年10月03日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 R |
2017年10月03日 特許庁 / 特許 | 放射線断層撮影装置の撮像倍率校正方法 FI分類-G01N 23/046 |
2017年10月03日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 330 A, FI分類-A61B 6/00 360 B, FI分類-A61B 6/03 360 G |
2017年10月02日 特許庁 / 特許 | 電気泳動用分離媒体、電気泳動用試薬キット、及び電気泳動方法 FI分類-G01N 27/447 ZNA, FI分類-G01N 27/447 315 F, FI分類-G01N 27/447 325 E |
2017年09月28日 特許庁 / 特許 | 全リン測定装置 FI分類-G01N 21/78 Z, FI分類-G01N 31/00 N |
2017年09月26日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ制御装置 FI分類-H02M 7/48 M, FI分類-H02M 7/48 Z, FI分類-F04D 19/04 H |
2017年09月26日 特許庁 / 特許 | 屈折率測定装置及び屈折率測定方法 FI分類-G01N 21/41 Z |
2017年09月26日 特許庁 / 特許 | 医用X線画像処理装置 FI分類-A61B 6/02 301 D |
2017年09月26日 特許庁 / 特許 | 医用X線画像処理装置およびX線画像撮影装置 FI分類-A61B 6/02 300 F |
2017年09月26日 特許庁 / 特許 | 医用X線画像処理装置およびX線画像撮影装置 FI分類-A61B 6/02 300 F, FI分類-A61B 6/02 301 D, FI分類-A61B 6/02 301 Z |
2017年09月25日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 D |
2017年09月25日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 D |
2017年09月21日 特許庁 / 特許 | 分析条件データ変換装置、データ処理システムおよび分析システム FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C |
2017年09月21日 特許庁 / 特許 | 材料試験のノイズ除去方法および材料試験機 FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01N 3/30 Z |
2017年09月21日 特許庁 / 特許 | カラムオーブン FI分類-G01N 30/54 D, FI分類-G01N 30/54 F |
2017年09月19日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/08 |
2017年09月19日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ及び液量検知方法 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/26 E |
2017年09月15日 特許庁 / 特許 | 菌体量測定装置、分析装置および菌体量測定方法 FI分類-G01N 21/47 B, FI分類-G01N 21/47 Z, FI分類-G01N 27/62 V |
2017年09月15日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体装置 FI分類-B01J 3/00 A, FI分類-G01N 30/02 N |
2017年09月14日 特許庁 / 特許 | フィールドフローフラクショネーション装置 FI分類-B03B 5/62, FI分類-B03B 5/00 Z, FI分類-G01N 15/00 Z |
2017年09月14日 特許庁 / 特許 | 屈折率測定装置および屈折率測定装置用セル FI分類-G01N 21/03 Z, FI分類-G01N 21/41 Z |
2017年09月14日 特許庁 / 特許 | イオン化プローブ接続用治具及び液体クロマトグラフ FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 G |
2017年09月14日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/54 H, FI分類-G01N 30/54 Z, FI分類-G01N 30/60 Q, FI分類-G01N 30/72 G |
2017年09月14日 特許庁 / 特許 | ESIスプレイヤー FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/16, FI分類-G01N 27/62 G |
2017年09月14日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 G |
2017年09月14日 特許庁 / 特許 | ESIスプレイヤー及びイオン化装置 FI分類-H01J 49/16, FI分類-G01N 27/62 G |
2017年09月13日 特許庁 / 特許 | コントロールバルブ FI分類-B66F 9/22 H |
2017年09月12日 特許庁 / 特許 | プランジャポンプ FI分類-F04B 53/22, FI分類-F04B 13/00 A, FI分類-F04B 53/16 E, FI分類-G01N 30/32 C |
2017年09月11日 特許庁 / 特許 | 試料カテゴリーの特定装置、分析システム、及び分析ネットワークシステム FI分類-G06F 16/906, FI分類-G06F 16/907 |
2017年09月07日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ起動制御装置 FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F04B 49/02 331 D |
2017年09月07日 特許庁 / 特許 | イオン化プローブ及びイオン分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 101 |
2017年09月07日 特許庁 / 特許 | イオン源及びイオン分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 G, FI分類-G01N 27/62 101 |
2017年09月07日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 30/54 E, FI分類-G01N 30/54 Z, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/72 E |
2017年09月06日 特許庁 / 特許 | 放射線位相差撮影装置 FI分類-G01N 23/20 370 |
2017年09月06日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置 FI分類-G01N 23/20008 |
2017年09月06日 特許庁 / 特許 | 平面検出器の歪み量算出方法 FI分類-G01B 15/00 H |
2017年09月05日 特許庁 / 特許 | 分光光度計 FI分類-G01J 3/02 Z |
2017年09月05日 特許庁 / 特許 | X線イメージング装置 FI分類-G01N 23/20 370 |
2017年09月04日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/06 |
2017年09月04日 特許庁 / 特許 | 磁気軸受制御装置および真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 A, FI分類-F16C 32/04 A |
2017年09月04日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-H02M 9/06 A |
2017年09月01日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子の供給制御方法及び装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 30/72 C |
2017年09月01日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置 FI分類-A61B 6/00 350 M |
2017年09月01日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ及び液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 35/10 F |
2017年09月01日 特許庁 / 特許 | 切替バルブ FI分類-F16K 37/00 E, FI分類-G01N 30/20 A, FI分類-F16K 11/074 Z |
2017年08月31日 特許庁 / 特許 | 原子吸光分光光度計及び原子吸光測定方法 FI分類-G01N 21/31 610 Z |
2017年08月30日 特許庁 / 特許 | 光学素子用トレイおよび梱包容器 FI分類-B65D 85/38 Z |
2017年08月28日 特許庁 / 特許 | X線透視装置およびX線透視方法 FI分類-A61N 5/10 M, FI分類-A61N 5/10 P, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 350 A |
2017年08月28日 特許庁 / 特許 | フローバイアル FI分類-G01N 1/20 B, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 1/00 101 P |
2017年08月25日 特許庁 / 特許 | 移動型放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2017年08月25日 特許庁 / 特許 | 移動型放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310 |
2017年08月25日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 1/42, FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2017年08月25日 特許庁 / 特許 | フローバイアル FI分類-G01N 1/20 B, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 1/00 101 P |
2017年08月25日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ及び溶出試験システム FI分類-G01N 30/04 A, FI分類-G01N 30/16 C, FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 33/15 A |
2017年08月25日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ及び溶出試験システム FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 30/24 E |
2017年08月24日 特許庁 / 特許 | 蛍光X線分析方法 FI分類-G01N 23/223 |
2017年08月24日 特許庁 / 特許 | ガスサンプリングプローブ FI分類-G01N 1/22 E |
2017年08月24日 特許庁 / 特許 | 高速引張試験機 FI分類-G01N 3/30 Z |
2017年08月23日 特許庁 / 特許 | 光学異性体の分析方法及びイオン移動度分析装置 FI分類-G01N 27/62 101 |
2017年08月23日 特許庁 / 特許 | 放射線治療用追跡装置 FI分類-A61N 5/10 M |
2017年08月23日 特許庁 / 特許 | 試料ホルダ FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 21/01 B, FI分類-G01N 21/3563, FI分類-G01N 23/22 320 |
2017年08月21日 特許庁 / 特許 | 粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定方法 FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 21/47 A |
2017年08月15日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 F |
2017年08月10日 特許庁 / 特許 | ポンプロータおよびターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 E, FI分類-F04D 19/04 F |
2017年08月10日 特許庁 / 特許 | 液体試料導入方法及び液体試料導入装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/16, FI分類-G01N 27/62 F |
2017年08月08日 特許庁 / 特許 | 動作シーケンス編集装置、分析制御システム、分析システムおよび動作シーケンス編集方法 FI分類-G06F 3/048, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 B |
2017年08月07日 特許庁 / 特許 | X線検出器監視装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 1/17 G |
2017年08月03日 特許庁 / 特許 | 前処理装置及びその前処理装置を備えた分析システム FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 35/02 D |
2017年08月03日 特許庁 / 特許 | カンナビス有効成分分析方法及び液体クロマトグラフ用制御プログラム FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/34 E, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/88 C |
2017年07月31日 特許庁 / 特許 | 放射線検出器および核医学診断装置 FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 F, FI分類-G01T 1/20 G, FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-G01T 1/164 A |
2017年07月28日 特許庁 / 特許 | 送液装置 FI分類-F04B 49/06 321 Z |
2017年07月25日 特許庁 / 特許 | 散乱推定方法および画像処理装置 FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-G01T 1/161 C, FI分類-G01T 1/161 D |
2017年07月24日 特許庁 / 特許 | イオン光学素子の設計方法及び質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2017年07月24日 特許庁 / 特許 | イオンサプレッサーおよびイオンクロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 E, FI分類-G01N 30/64 A |
2017年07月24日 特許庁 / 特許 | イオンサプレッサーおよびイオンクロマトグラフ FI分類-B01D 15/36, FI分類-G01N 30/02 B, FI分類-G01N 30/02 E, FI分類-G01N 30/88 H, FI分類-B01D 61/44 500 |
2017年07月24日 特許庁 / 特許 | イオンガイド装置およびそれに関連する方法 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/42 |
2017年07月21日 特許庁 / 特許 | 遺伝子測定装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 F |
2017年07月21日 特許庁 / 特許 | 冷媒導入装置及びガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/54 D |
2017年07月21日 特許庁 / 特許 | 磁性体の検査装置 FI分類-G01R 31/06, FI分類-G01R 33/02 B |
2017年07月20日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置および情報取得手法 FI分類-G01N 23/20 370 |
2017年07月20日 特許庁 / 特許 | 半導体レーザ駆動回路 FI分類-H04B 10/564, FI分類-H01S 5/042 630 |
2017年07月19日 特許庁 / 特許 | 半導体レーザ駆動回路 FI分類-H01S 5/042 630 |
2017年07月18日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/10 |
2017年07月18日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/02, FI分類-H01J 49/26 |
2017年07月11日 特許庁 / 特許 | 回路基板 FI分類-H05K 1/02 J, FI分類-H01L 23/12 J |
2017年07月10日 特許庁 / 特許 | 磁性体の検査装置 FI分類-G01N 27/82 |
2017年07月10日 特許庁 / 特許 | X線位相差撮像装置 FI分類-G01N 23/041, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2017年07月10日 特許庁 / 特許 | フレーム式原子吸光分光光度計 FI分類-G01N 21/31 610 B |
2017年07月10日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置、質量分析方法、及び質量分析用プログラム FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 D |
2017年07月07日 特許庁 / 特許 | フーリエ変換赤外分光光度計 FI分類-G01J 3/45 |
2017年07月07日 特許庁 / 特許 | 電気伝導度検出器及び位相調整値を求めるための方法 FI分類-G01R 27/22 Z |
2017年07月07日 特許庁 / 特許 | データ取得方法 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 10/00 H |
2017年07月06日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置および放射線画像検出方法 FI分類-A61N 5/10 M, FI分類-A61B 6/00 370 |
2017年07月06日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置および放射線画像検出方法 FI分類-A61N 5/10 H, FI分類-A61N 5/10 M, FI分類-A61B 6/00 335, FI分類-A61B 6/00 370 |
2017年07月04日 特許庁 / 特許 | イオン移動度分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 101 |
2017年07月04日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ及び流体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/20 C, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 30/26 M |
2017年07月04日 特許庁 / 特許 | 送液装置及び液体クロマトグラフ FI分類-B01D 15/10, FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/26 P, FI分類-G01N 30/32 C |
2017年07月03日 特許庁 / 特許 | 検出装置 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/15 |
2017年07月03日 特許庁 / 特許 | 送液装置 FI分類-F04B 13/00 B, FI分類-F04B 49/10 311 |
2017年07月03日 特許庁 / 特許 | X線CT装置 FI分類-G01N 23/046 |
2017年07月03日 特許庁 / 特許 | 放射線検出装置およびそれを備えた核医学診断装置 FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 F, FI分類-G01T 1/20 G, FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-G01T 1/161 C |
2017年07月03日 特許庁 / 特許 | X線CT装置 FI分類-G01N 23/046 |
2017年06月30日 特許庁 / 特許 | 電子線マイクロアナライザー及びデータ処理プログラム FI分類-G01N 23/225 310 |
2017年06月30日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ用制御装置および真空ポンプ FI分類-H05K 7/20 G, FI分類-H05K 7/20 H, FI分類-F04D 19/04 Z |
2017年06月30日 特許庁 / 特許 | 流体処理装置及び処理液回収方法 FI分類-G01N 1/10 F, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/84 J |
2017年06月30日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/34 Z, FI分類-G01N 30/46 A, FI分類-G01N 30/84 J |
2017年06月30日 特許庁 / 特許 | 切替バルブ、バイナリポンプ及びそのバイナリポンプを備えた液体クロマトグラフ FI分類-F04B 23/06, FI分類-F04B 49/22, FI分類-F04B 53/10 H, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/32 C |
2017年06月30日 特許庁 / 特許 | 光検出器 FI分類-G01J 1/42 H, FI分類-G01J 1/44 A, FI分類-G01J 1/44 P, FI分類-G01T 1/17 D, FI分類-G01T 1/17 F, FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 F, FI分類-G01T 1/20 G, FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-H01L 31/10 B, FI分類-H01L 31/10 G |
2017年06月29日 特許庁 / 特許 | 四重極型質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2017年06月29日 特許庁 / 特許 | 放射線計測器および放射線撮影装置 FI分類-G01T 1/185 E, FI分類-A61B 6/00 300 R, FI分類-A61B 6/00 320 R |
2017年06月28日 特許庁 / 特許 | 質量分析を用いた脂質解析方法及び質量分析装置 FI分類-G01N 33/92, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 V |
2017年06月23日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 30/72 A |
2017年06月23日 特許庁 / 特許 | X線応力測定装置 FI分類-G01L 1/25, FI分類-G01L 1/00 A, FI分類-G01N 23/207 |
2017年06月22日 特許庁 / 特許 | X線イメージング装置およびX線イメージング画像の合成方法 FI分類-G01N 23/20 370, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2017年06月22日 特許庁 / 特許 | X線位相差イメージング装置 FI分類-A61B 6/06 333, FI分類-G01N 23/20 370, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2017年06月22日 特許庁 / 特許 | 抗原または抗抗体が結合したモノクローナル抗体の定量方法 FI分類-C07K 16/18, FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 ZNAV |
2017年06月21日 特許庁 / 特許 | 固体試料の位置の調整用治具、その調整用治具を用いる装置及び方法 FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-G01N 23/22 320 |
2017年06月21日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/26 L |
2017年06月21日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/26 Z |
2017年06月16日 特許庁 / 特許 | 衝撃試験の評価方法および衝撃試験機 FI分類-G01N 3/30 P |
2017年06月16日 特許庁 / 特許 | 衝撃試験の評価方法および衝撃試験機 FI分類-G01N 3/30 P |
2017年06月12日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体分離装置 FI分類-B01D 15/40, FI分類-G01N 30/02 N |
2017年06月12日 特許庁 / 特許 | 欠陥検出方法及び欠陥検出装置 FI分類-G01N 29/06, FI分類-G01N 29/24, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 Z |
2017年06月12日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析に基づく信号処理方法およびシステム並びに電子機器 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 D |
2017年06月09日 特許庁 / 特許 | 位置決め装置および位置決め方法 FI分類-A61N 5/10 M |
2017年06月08日 特許庁 / 特許 | 分析システム、コントローラ及びデータ処理装置 FI分類-G01N 30/02 Z |
2017年06月07日 特許庁 / 特許 | 干渉分光光度計 FI分類-G01J 3/45, FI分類-H02K 33/18 B |
2017年06月02日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/54 H |
2017年05月31日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ用モータの回転速度制御装置、真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F16K 37/00 A, FI分類-F04B 49/06 341 J |
2017年05月31日 特許庁 / 特許 | 気泡径分布測定用のデータ処理方法、データ処理装置及びデータ処理プログラム FI分類-G01N 15/02 A |
2017年05月31日 特許庁 / 特許 | PESIイオン源用サンプルプレート及び該サンプルプレートを用いた質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 G |
2017年05月31日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 F |
2017年05月30日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ、真空排気システムおよび排気システム用コントローラ FI分類-F04B 51/00, FI分類-G01L 21/32, FI分類-F04D 19/04 H |
2017年05月30日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 H |
2017年05月30日 特許庁 / 特許 | イオンガイド装置及びイオンガイド方法 FI分類-H01J 49/06, FI分類-G01N 27/62 E |
2017年05月30日 特許庁 / 特許 | 質量分析データ取得方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C |
2017年05月29日 特許庁 / 特許 | レーザ装置 FI分類-H01S 5/062 |
2017年05月29日 特許庁 / 特許 | 吸収係数画像推定方法、吸収係数画像推定プログラム並びにそれを搭載したポジトロンCT装置 FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-G01T 1/161 C |
2017年05月25日 特許庁 / 特許 | 頭部装着型表示装置 FI分類-H04N 13/344, FI分類-H04N 13/346, FI分類-H04N 13/363, FI分類-G02B 27/02 Z, FI分類-H04N 5/64 511 A |
2017年05月23日 特許庁 / 特許 | 質量分析データ解析装置及び質量分析データ解析用プログラム FI分類-C12M 1/34 B, FI分類-G01N 27/62 D |
2017年05月23日 特許庁 / 特許 | カラム取付方法及び加熱装置 FI分類-G01N 30/60 P, FI分類-G01N 30/60 Z |
2017年05月22日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ用カラムオーブン及び液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/54 Z, FI分類-G01N 30/86 T |
2017年05月18日 特許庁 / 特許 | X線分光分析装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/2209 |
2017年05月17日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2017年05月17日 特許庁 / 特許 | X線蛍光分析装置及びそれに用いられるサンプル容器 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/22 320 |
2017年05月17日 特許庁 / 特許 | イオン検出装置及び質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 101 |
2017年05月16日 特許庁 / 特許 | 分析システム及びネットワークシステム FI分類-F04B 49/06 311 |
2017年05月15日 特許庁 / 特許 | 試料保持具、固定部材及び試料固定方法 FI分類-G01Q 30/14, FI分類-G01Q 30/20, FI分類-G01N 1/28 W |
2017年05月15日 特許庁 / 特許 | ペプチドの分析方法 FI分類-C07K 14/47, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-C12Q 1/37 ZNA |
2017年05月15日 特許庁 / 特許 | タンパク質の酵素消化方法 FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-C12P 21/06 ZNA |
2017年05月15日 特許庁 / 特許 | ホログラフィ観察方法及び装置 FI分類-G03H 1/00 |
2017年05月12日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ用オーブン及びそれを用いたガスクロマトグラフ装置 FI分類-G01N 30/54 H, FI分類-G01N 30/54 J |
2017年05月11日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ質量分析方法及び液体クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 X |
2017年05月10日 特許庁 / 特許 | 送液装置及びその送液装置を備えた液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/32 F |
2017年05月09日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ用オーブン及びそれを用いたガスクロマトグラフ装置 FI分類-G01N 30/54 H, FI分類-G01N 30/54 J |
2017年05月09日 特許庁 / 特許 | ガス供給制御装置、ガスクロマトグラフ及び圧力センサ異常判定方法 FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G05D 16/20 Z |
2017年05月09日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/54 A, FI分類-G01N 30/54 B, FI分類-G01N 30/54 C, FI分類-G01N 30/54 D, FI分類-G01N 30/54 H |
2017年05月08日 特許庁 / 特許 | 粒子荷電装置 FI分類-H01T 19/00, FI分類-H01T 23/00, FI分類-B01J 19/08 G, FI分類-B01J 19/08 J, FI分類-G01N 27/62 102 |
2017年05月08日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析データ処理装置及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 D |
2017年05月02日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 23/20 350, FI分類-G01N 23/225 312 |
2017年05月01日 特許庁 / 特許 | ビームスプリッタ組立品 FI分類-G02B 7/00 F, FI分類-G02B 7/198 100 |
2017年04月28日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体クロマトグラフィー用カラム充填剤、超臨界流体クロマトグラフィー用カラム及びそれらの製造方法 FI分類-B01D 15/40, FI分類-B01J 20/30, FI分類-B01J 20/26 L, FI分類-B01J 20/28 Z, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/56 A, FI分類-G01N 30/88 101 M, FI分類-G01N 30/88 101 S, FI分類-G01N 30/88 201 G |
2017年04月28日 特許庁 / 特許 | 分光蛍光光度計、分光測定方法、及び分光蛍光光度計用制御ソフトウェア FI分類-G01J 3/443, FI分類-G01N 21/64 Z |
2017年04月27日 特許庁 / 特許 | ビッグデータ解析方法及び該解析方法を利用した質量分析システム FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G06F 17/30 210 D, FI分類-G06F 17/30 350 C |
2017年04月27日 特許庁 / 特許 | データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/86 G |
2017年04月26日 特許庁 / 特許 | 垂直式荷受台昇降装置 FI分類-B60P 1/46 B |
2017年04月26日 特許庁 / 特許 | 送液装置及び流体クロマトグラフ FI分類-F04B 53/08 E, FI分類-F04B 53/16 E, FI分類-G01N 30/32 C |
2017年04月25日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置およびX線画像表示方法 FI分類-A61B 6/00 360 B |
2017年04月25日 特許庁 / 特許 | 電源一体型真空ポンプ FI分類-H05K 7/20 N, FI分類-F04D 19/04 Z |
2017年04月25日 特許庁 / 特許 | X線撮像装置 FI分類-A61B 6/00 333, FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 350 A, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2017年04月25日 特許庁 / 特許 | 試料分析装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/72 C |
2017年04月21日 特許庁 / 特許 | X線位相イメージング装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01T 7/00 B, FI分類-G01N 23/20 370 |
2017年04月21日 特許庁 / 特許 | 分光検出器 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/02 Z, FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 21/27 Z |
2017年04月20日 特許庁 / 特許 | 分析機器管理システム FI分類-G01N 30/02 Z |
2017年04月20日 特許庁 / 特許 | 分光光度計 FI分類-G01J 3/36, FI分類-G01N 21/17 D, FI分類-G01N 21/27 Z |
2017年04月20日 特許庁 / 特許 | 放射線画像処理装置および放射線画像処理方法 FI分類-A61B 6/00 350 M |
2017年04月19日 特許庁 / 特許 | X線画像表示装置、X線画像表示方法及びX線画像表示プログラム FI分類-G01T 7/00 A, FI分類-G01N 23/225 312 |
2017年04月17日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 10/06, FI分類-G01Q 60/30 |
2017年04月17日 特許庁 / 特許 | 発光分光分析装置 FI分類-H05H 1/24, FI分類-G01N 21/67 |
2017年04月17日 特許庁 / 特許 | フーリエ変換型赤外分光光度計 FI分類-G01J 3/45 |
2017年04月14日 特許庁 / 特許 | 分析デバイス、コントローラ及び分析システム FI分類-G01N 30/00 Z, FI分類-G01N 35/00 E |
2017年04月13日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 350 P |
2017年04月13日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ質量分析による試料分析方法 FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/46 A, FI分類-G01N 30/72 C |
2017年04月12日 特許庁 / 特許 | 排尿量管理システム FI分類-A61B 5/20, FI分類-G01G 19/44 D |
2017年04月12日 特許庁 / 特許 | 排尿量管理システム FI分類-A61B 5/20 |
2017年04月10日 特許庁 / 特許 | 固体レーザ装置 FI分類-H01S 3/0941 |
2017年04月07日 特許庁 / 特許 | 液漏れ検出装置 FI分類-G01M 3/02 J, FI分類-G01N 30/54 D, FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/54 H, FI分類-G01N 30/86 T |
2017年04月06日 特許庁 / 特許 | タスク実行制御装置及び該装置用プログラム FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G06F 9/46 452 H |
2017年04月06日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子操作用デバイス FI分類-B03C 1/24, FI分類-G01N 1/34, FI分類-B03C 1/00 A, FI分類-B03C 1/00 H, FI分類-G01N 1/10 C, FI分類-G01N 1/28 J |
2017年04月05日 特許庁 / 特許 | 分取液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/82, FI分類-G01N 30/80 F, FI分類-G01N 30/86 R |
2017年04月03日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 D |
2017年04月03日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプのモータ異常検出装置および真空ポンプシステム FI分類-H02P 29/024, FI分類-F04D 19/04 Z, FI分類-F04B 49/10 331 J |
2017年04月03日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X, FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/04 331 B |
2017年04月03日 特許庁 / 特許 | 液圧装置 FI分類-F15B 1/26 |
2017年03月31日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/54 Z |
2017年03月31日 特許庁 / 特許 | イオン移動度スペクトルとマススペクトルの並行分析の方法及び装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 27/62 101 |
2017年03月31日 特許庁 / 特許 | 材料試験用恒温槽および材料試験機 FI分類-G01N 3/18 |
2017年03月30日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/46 E |
2017年03月30日 特許庁 / 特許 | 大腸がん検査方法 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 33/49 Z, FI分類-G01N 33/50 D |
2017年03月30日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析方法及び装置 FI分類-G01N 30/50, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/04 P, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/86 P, FI分類-G01N 30/88 E |
2017年03月30日 特許庁 / 特許 | イオン光学デバイス FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/42 |
2017年03月29日 特許庁 / 特許 | 振動測定装置 FI分類-G01B 11/00 G, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 Z |
2017年03月29日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 G |
2017年03月27日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプおよびポンプ一体型の電源装置 FI分類-F04D 19/04 G |
2017年03月27日 特許庁 / 特許 | アトマイズ炉用の管状炉装置 FI分類-G01N 21/31 610 A |
2017年03月24日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/54 H |
2017年03月23日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及びクロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 Y |
2017年03月22日 特許庁 / 特許 | イメージ電荷/電流信号の処理方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/38, FI分類-G01N 27/62 D |
2017年03月21日 特許庁 / 特許 | タンデム四重極型質量分析装置および該装置の制御パラメータ最適化方法 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2017年03月21日 特許庁 / 特許 | センターリングおよび真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 H |
2017年03月17日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/54 H |
2017年03月17日 特許庁 / 特許 | 電気泳動測定方法、データ処理装置及びデータ処理プログラム FI分類-G01N 27/447 301 Z |
2017年03月17日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体装置 FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/32 Z |
2017年03月17日 特許庁 / 特許 | イメージング装置 FI分類-A61B 10/00 E |
2017年03月17日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用データ処理装置 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/86 F, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/88 F, FI分類-G01N 30/88 W |
2017年03月16日 特許庁 / 特許 | データ解析装置 FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 G |
2017年03月16日 特許庁 / 特許 | 分取液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/00 B, FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/80 C, FI分類-G01N 30/80 F |
2017年03月16日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子の供給制御方法及び装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 G |
2017年03月15日 特許庁 / 特許 | 分析データ解析装置及び分析データ解析方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G06N 99/00 153 |
2017年03月15日 特許庁 / 特許 | 放射線格子検出器およびX線検査装置 FI分類-G01T 1/24, FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 G, FI分類-G01T 1/20 L, FI分類-G01T 7/00 B, FI分類-A61B 6/00 333, FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 300 S, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2017年03月15日 特許庁 / 特許 | ループ注入機構 FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/20 A, FI分類-G01N 30/20 L |
2017年03月15日 特許庁 / 特許 | 液圧ユニット FI分類-F15B 1/26, FI分類-B66F 9/22 Z |
2017年03月15日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2017年03月14日 特許庁 / 特許 | 電気伝導度検出器 FI分類-G01N 27/06 B |
2017年03月13日 特許庁 / 特許 | 撮像装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 5/0275 J |
2017年03月10日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/04 332 P |
2017年03月09日 特許庁 / 特許 | 排尿情報表示装置および排尿情報表示システム FI分類-A61B 5/20 |
2017年03月07日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプの製造方法 FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 F |
2017年03月07日 特許庁 / 特許 | フラクションコレクタ制御装置及び分取液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/80 A, FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 H, FI分類-G01N 30/86 L |
2017年03月07日 特許庁 / 特許 | フラクションコレクタ制御装置及び分取液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/82, FI分類-G01N 30/80 A, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 F |
2017年03月06日 特許庁 / 特許 | X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/18, FI分類-G01N 23/083, FI分類-H05K 3/00 V |
2017年03月03日 特許庁 / 特許 | 前処理装置及びその前処理装置を備えた分析システム FI分類-G01N 1/10 F, FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 33/48 B, FI分類-G01N 35/04 G |
2017年03月03日 特許庁 / 特許 | 細胞観察装置 FI分類-G03H 1/04, FI分類-G02B 21/36, FI分類-C12M 1/34 D, FI分類-G01N 21/41 Z |
2017年03月02日 特許庁 / 特許 | 細胞解析方法及び細胞解析装置 FI分類-G03H 1/04, FI分類-C12M 1/34 Z |
2017年02月28日 特許庁 / 特許 | 細胞観察システム FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01N 21/45 A, FI分類-G06T 1/00 295, FI分類-G01N 21/17 ZITA |
2017年02月28日 特許庁 / 特許 | 細胞培養用ゲル組成物およびその製造方法、細胞培養方法ならびに細胞培養用基板 FI分類-C12N 5/00, FI分類-C12N 11/04 |
2017年02月28日 特許庁 / 特許 | 細胞観察装置 FI分類-G03H 1/04, FI分類-G02B 21/00, FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 21/17 A, FI分類-G01N 21/41 ZITZ |
2017年02月27日 特許庁 / 特許 | 電源一体型真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 G |
2017年02月27日 特許庁 / 特許 | レーザ誘起分析装置、それに用いられるサンプルプレート、および、レーザ誘起分析方法 FI分類-G01N 21/63 A |
2017年02月23日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/32 A |
2017年02月23日 特許庁 / 特許 | 発光分光分析装置 FI分類-G01N 21/67 A |
2017年02月23日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X |
2017年02月22日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 20/02 |
2017年02月22日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/32 Z, FI分類-G01N 30/54 A |
2017年02月22日 特許庁 / 特許 | 放射線位相差撮影装置 FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2017年02月20日 特許庁 / 特許 | 診断画像システム FI分類-A61B 8/14, FI分類-G01N 30/72 G, FI分類-G01T 1/161 D, FI分類-A61B 1/00 620, FI分類-A61B 1/045 623, FI分類-A61B 5/055 380, FI分類-A61B 6/00 360 Z, FI分類-A61B 6/03 360 Z |
2017年02月20日 特許庁 / 特許 | 診断画像システム FI分類-A61B 6/12, FI分類-G16H 30/00, FI分類-G16H 50/00, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2017年02月20日 特許庁 / 特許 | 電気伝導度検出器及びイオンクロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 B, FI分類-G01N 30/64 A |
2017年02月20日 特許庁 / 特許 | 診断画像システム FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 360 B, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2017年02月17日 特許庁 / 特許 | 磁気軸受装置および真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 A, FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F16C 32/04 A |
2017年02月17日 特許庁 / 特許 | 磁気軸受装置および真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 A, FI分類-F04D 19/04 F, FI分類-F16C 32/04 A |
2017年02月17日 特許庁 / 特許 | X線位相差撮像システム FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/041 |
2017年02月16日 特許庁 / 特許 | フォークリフト FI分類-B62D 5/10, FI分類-B66F 9/24 G, FI分類-B62D 5/065 B |
2017年02月14日 特許庁 / 特許 | パーティクル計数システム FI分類-G01B 11/08 Z, FI分類-G06M 11/00 D |
2017年02月13日 特許庁 / 特許 | 自動圧力調整バルブおよびバルブ制御装置 FI分類-H01L 21/205, FI分類-F16K 31/04 K, FI分類-G05D 16/20 Z, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2017年02月09日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子操作用デバイス FI分類-B03C 1/12, FI分類-B03C 1/00 A, FI分類-C12M 1/00 Z, FI分類-B01J 19/08 D |
2017年02月08日 特許庁 / 特許 | 試料導入装置 FI分類-G01N 1/22 R, FI分類-G01N 30/06 G, FI分類-G01N 30/88 C, FI分類-G01N 30/88 G, FI分類-G01N 1/00 101 X |
2017年02月07日 特許庁 / 特許 | 時間強度曲線測定装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-G01N 21/64 F |
2017年02月06日 特許庁 / 特許 | 自動圧力調整バルブおよび真空排気システム FI分類-F04B 49/22, FI分類-F04B 37/16 A, FI分類-F04B 37/16 B, FI分類-F04B 49/06 341 J |
2017年02月06日 特許庁 / 特許 | 磁気軸受装置および真空ポンプ FI分類-H02K 7/09, FI分類-H02K 7/14 B, FI分類-F04D 19/04 A, FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F16C 32/04 A |
2017年02月03日 特許庁 / 特許 | 移動型放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310 |
2017年02月03日 特許庁 / 特許 | 分析システム、分析方法及び分析制御プログラム FI分類-C12M 1/34 Z |
2017年02月02日 特許庁 / 特許 | イオン処理装置においてイオンを案内する又は閉じ込めるためのイオン操作装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-G01N 27/62 E |
2017年02月01日 特許庁 / 特許 | 磁気軸受制御装置および真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 A, FI分類-F16C 32/04 A |
2017年01月31日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/02 Z, FI分類-H03H 17/08 A, FI分類-H03H 17/02 615, FI分類-H03H 17/02 655 |
2017年01月31日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置およびX線画像解析方法 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 350 C |
2017年01月30日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2017年01月30日 特許庁 / 特許 | スペクトルデータ処理装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 H, FI分類-G01N 30/86 L |
2017年01月27日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 E |
2017年01月26日 特許庁 / 特許 | 磁性体の検査装置および磁性体の検査方法 FI分類-G01N 27/83 |
2017年01月25日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/40 |
2017年01月23日 特許庁 / 特許 | クロマトグラムデータ処理装置 FI分類-G01N 30/72 Z, FI分類-G01N 30/86 G |
2017年01月20日 特許庁 / 特許 | X線透視装置 FI分類-A61B 6/06 300, FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 350 A |
2017年01月19日 特許庁 / 特許 | 電子カルテシステムおよび電子カルテ作成プログラム FI分類-G06Q 50/22, FI分類-G06Q 50/24 |
2017年01月19日 特許庁 / 特許 | 分析データ解析方法および分析データ解析装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2017年01月18日 特許庁 / 特許 | 回診用X線装置 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 300 D |
2017年01月17日 特許庁 / 特許 | 試料加熱装置 FI分類-G01N 31/12 A |
2017年01月17日 特許庁 / 特許 | 試料加熱装置 FI分類-F27B 9/38, FI分類-F27D 3/00 Z, FI分類-F27D 3/12 Z, FI分類-G01N 1/22 R, FI分類-G01N 1/28 K, FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 31/12 A |
2017年01月16日 特許庁 / 特許 | 放射線断層撮影装置 FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-G01T 1/161 C |
2017年01月13日 特許庁 / 特許 | 弁装置 FI分類-F16K 27/04, FI分類-F16K 3/04 Z, FI分類-F16K 51/02 B |
2017年01月13日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ FI分類-H02P 8/30, FI分類-H02P 21/06, FI分類-F16K 31/04 A, FI分類-F16K 37/00 A, FI分類-F16K 51/02 B |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ FI分類-F16K 31/04 Z, FI分類-F16K 51/00 A, FI分類-F16K 51/02 B |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ FI分類-F16K 3/10, FI分類-F16K 51/02 B |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ FI分類-F16K 3/04 Z, FI分類-F16K 51/02 B |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ、真空ポンプおよび真空排気システム FI分類-F04B 37/16 B, FI分類-F16K 17/36 Z, FI分類-F16K 31/04 A, FI分類-F16K 51/02 B |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | バルブ制御装置 FI分類-F04B 37/16 B, FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F16K 51/02 B, FI分類-G05D 16/20 Z |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ FI分類-H02P 8/12, FI分類-H02P 8/14, FI分類-F16K 31/04 A, FI分類-F16K 37/00 A |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | バルブ制御装置 FI分類-F04B 37/16 A, FI分類-F04B 37/16 B, FI分類-F16K 31/04 A, FI分類-F16K 37/00 A, FI分類-F16K 51/02 B, FI分類-G05D 16/20 Z, FI分類-F04B 49/06 341 J |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ、および真空ポンプ FI分類-H01L 21/205, FI分類-F04B 37/16 B, FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F15B 20/00 G, FI分類-F16K 31/04 Z, FI分類-H01L 21/302 101 G |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ FI分類-F16K 41/04, FI分類-F16K 51/02 B |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ FI分類-F16K 31/04 A, FI分類-F16K 31/04 K, FI分類-F16K 37/00 D, FI分類-F16K 51/02 B |
2017年01月12日 特許庁 / 特許 | 真空バルブおよびバルブ製造方法 FI分類-F16K 41/00, FI分類-F16K 51/02 B |
2017年01月11日 特許庁 / 特許 | 蛍光イメージング装置および蛍光イメージングシステム FI分類-A61B 10/00 E |
2017年01月10日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ装置用制御装置 FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/88 H |
2017年01月05日 特許庁 / 特許 | 試料採取チップ分割用器具 FI分類-G01N 1/18, FI分類-G01N 1/12 B, FI分類-G01N 1/28 J |
2017年01月05日 特許庁 / 特許 | コントロールバルブ及びリリーフバルブ FI分類-F16K 17/04 C |
2016年12月28日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置およびX線撮影装置の撮影方法 FI分類-A61B 6/00 320 M, FI分類-A61B 6/04 332 P |
2016年12月28日 特許庁 / 特許 | 電子天秤 FI分類-G01G 7/04, FI分類-G01G 23/02 A |
2016年12月28日 特許庁 / 特許 | 電子天秤 FI分類-G01G 21/28 |
2016年12月28日 特許庁 / 特許 | 分析用試料の調製方法および分析方法 FI分類-C07K 1/16, FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/66 ZNAZ |
2016年12月26日 特許庁 / 特許 | バルブ装置 FI分類-H02P 29/00, FI分類-F16K 3/06 B, FI分類-F16K 31/04 A, FI分類-F16K 37/00 D, FI分類-G05D 16/20 Z |
2016年12月26日 特許庁 / 特許 | X線位相撮影装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/20 370, FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/03 370 Z |
2016年12月26日 特許庁 / 特許 | X線位相コントラスト撮影装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/20 370, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2016年12月26日 特許庁 / 特許 | 液体収容容器及びその液体収容容器を用いる前処理装置 FI分類-G01N 1/10 N, FI分類-G01N 35/02 A |
2016年12月22日 特許庁 / 特許 | 遠心式流動場分画装置 FI分類-B03B 5/28 A, FI分類-G01N 15/02 F |
2016年12月22日 特許庁 / 特許 | ベルト交換時期決定システム FI分類-B03B 5/00 Z, FI分類-F16H 7/00 A |
2016年12月22日 特許庁 / 特許 | 遠心分離用試料ホルダ FI分類-B04B 5/02 A, FI分類-B04B 5/02 Z, FI分類-G01N 1/10 H |
2016年12月22日 特許庁 / 特許 | 遠心式流動場分画装置 FI分類-B03B 5/28 A |
2016年12月22日 特許庁 / 特許 | 遠心式流動場分画装置 FI分類-B04B 1/02, FI分類-B04B 13/00, FI分類-B04B 15/00, FI分類-B03B 5/28 A, FI分類-G01N 15/02 F |
2016年12月22日 特許庁 / 特許 | 遠心式流動場分画装置 FI分類-B03B 13/00, FI分類-B03B 5/28 A |
2016年12月22日 特許庁 / 特許 | 遠心式流動場分画装置 FI分類-B03B 5/28 A |
2016年12月22日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析装置用プログラム FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 Y |
2016年12月22日 特許庁 / 特許 | フィールドフローフラクショネーション装置 FI分類-B03B 5/28 A, FI分類-G01N 1/04 M, FI分類-G01N 1/10 H |
2016年12月20日 特許庁 / 特許 | X線位相撮影装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/20 370, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2016年12月20日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ FI分類-H02P 25/06, FI分類-H02P 3/22 A, FI分類-F16K 31/04 A, FI分類-F16K 51/02 B |
2016年12月15日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D |
2016年12月14日 特許庁 / 特許 | 分析用プラズマトーチおよびそれを備える分析装置 FI分類-H05H 1/30, FI分類-G01N 21/73, FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/28 |
2016年12月09日 特許庁 / 特許 | シアリル糖鎖解析方法 FI分類-G01N 27/62 V |
2016年12月08日 特許庁 / 特許 | 流体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/20 A |
2016年12月06日 特許庁 / 特許 | X線分光分析装置及び元素分析方法 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/207 320, FI分類-G01N 23/225 312 |
2016年12月05日 特許庁 / 特許 | 分光スペクトル解析プログラム FI分類-G01J 3/50, FI分類-G01N 21/27 Z |
2016年12月02日 特許庁 / 特許 | 微小硬度計 FI分類-G01N 3/42 Z |
2016年12月02日 特許庁 / 特許 | 放射線検出装置 FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 G, FI分類-G01T 1/20 J, FI分類-G01T 1/161 A |
2016年12月01日 特許庁 / 特許 | 試料の吸光度分布を近似式により推定する方法、および分光分析装置 FI分類-G01N 21/27 Z |
2016年12月01日 特許庁 / 特許 | X線透視装置 FI分類-A61N 5/10 H, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/03 377 |
2016年12月01日 特許庁 / 特許 | バルブ FI分類-F16K 31/04 A, FI分類-F16K 31/44 C |
2016年11月29日 特許庁 / 特許 | 電池のX線検査装置 FI分類-G01N 23/04 |
2016年11月29日 特許庁 / 特許 | イオン化装置及び質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-G01N 27/62 G |
2016年11月28日 特許庁 / 特許 | 試料解析システム FI分類-G01N 21/35, FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 21/73, FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 21/00 Z, FI分類-G01N 21/31 610 |
2016年11月18日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/16, FI分類-H01J 49/22, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 G |
2016年11月18日 特許庁 / 特許 | イオン化方法及びイオン化装置、並びにイメージング分析方法及びイメージング分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 G |
2016年11月15日 特許庁 / 特許 | ポンプ状態推定装置およびターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 H |
2016年11月15日 特許庁 / 特許 | X線透視装置及びX線透視方法 FI分類-A61B 6/00 320 Z, FI分類-A61B 6/00 350 D |
2016年11月15日 特許庁 / 特許 | X線透視方法およびX線透視装置 FI分類-A61B 6/00 350 C, FI分類-A61B 6/00 350 D |
2016年11月15日 特許庁 / 特許 | DRR画像作成装置 FI分類-A61B 6/03 371, FI分類-A61B 6/03 350 Y |
2016年11月14日 特許庁 / 特許 | 発光分析装置 FI分類-G01N 21/73, FI分類-G01N 21/67 A |
2016年11月09日 特許庁 / 特許 | 表示制御装置及び粒子径分布測定装置 FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G09G 5/00 510 H, FI分類-G09G 5/36 510 A |
2016年11月09日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析用データ解析装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 G |
2016年11月07日 特許庁 / 特許 | 糖鎖解析方法 FI分類-G01N 27/62 V |
2016年11月04日 特許庁 / 特許 | 回転陽極型X線管装置とその回転陽極駆動装置 FI分類-H02M 7/48 F, FI分類-H05G 1/66 C, FI分類-H01J 35/10 N |
2016年11月01日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/42 |
2016年11月01日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2016年11月01日 特許庁 / 特許 | 移動型X線検査装置 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2016年11月01日 特許庁 / 特許 | アパーチャ板の駆動機構 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/36 |
2016年11月01日 特許庁 / 特許 | アパーチャ板の移動機構 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/36 |
2016年10月27日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01N 3/08 |
2016年10月26日 特許庁 / 特許 | フロースルーバイアル及びオートサンプラ FI分類-G01N 30/04 A, FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 1/00 101 H |
2016年10月25日 特許庁 / 特許 | 変位計 FI分類-G01N 3/06, FI分類-G01B 5/00 A |
2016年10月25日 特許庁 / 特許 | 吸着装置及び化学発光式窒素酸化物濃度計 FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 1/22 L, FI分類-B01D 53/04 110, FI分類-B01D 53/26 210 |
2016年10月25日 特許庁 / 特許 | 化学発光式窒素酸化物濃度計 FI分類-G01N 21/76, FI分類-C01B 13/11 C |
2016年10月24日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ及びゼロ点調整方法 FI分類-G01N 27/18, FI分類-G01N 30/66 |
2016年10月24日 特許庁 / 特許 | タンク及び液圧装置 FI分類-F15B 1/26, FI分類-F16K 17/16 |
2016年10月24日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及びイオン検出装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 G |
2016年10月17日 特許庁 / 特許 | X線検査装置 FI分類-G01N 23/04, FI分類-H05G 1/02 S, FI分類-H05G 1/34 M |
2016年10月14日 特許庁 / 特許 | X線検出システム FI分類-G01N 23/207 |
2016年10月14日 特許庁 / 特許 | X線分析装置 FI分類-G01N 23/223 |
2016年10月13日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/02 C |
2016年10月11日 特許庁 / 特許 | ラミナー型回折格子 FI分類-G02B 5/18, FI分類-G01N 23/207 320, FI分類-G01N 23/225 312 |
2016年10月11日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/12 D, FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/86 T |
2016年10月06日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 10/02, FI分類-G01Q 10/04, FI分類-G01Q 20/02 |
2016年10月05日 特許庁 / 特許 | 水質分析計 FI分類-G01N 21/77 B |
2016年10月05日 特許庁 / 特許 | 分析機器用データ処理システム及び分析機器用データ処理プログラム FI分類-G01N 35/00 A |
2016年10月05日 特許庁 / 特許 | ICP分析装置 FI分類-G01N 21/73, FI分類-H05K 7/20 P |
2016年10月04日 特許庁 / 特許 | 移動装置 FI分類-B65G 54/02 |
2016年10月04日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-H02J 7/00 303 C |
2016年09月28日 特許庁 / 特許 | 材料試験機および材料試験システム FI分類-G01N 3/00 ZITZ |
2016年09月28日 特許庁 / 特許 | 発光分析装置 FI分類-G01N 21/71, FI分類-G01N 21/67 C |
2016年09月26日 特許庁 / 特許 | 全有機体炭素測定装置 FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 31/12 A |
2016年09月26日 特許庁 / 特許 | 分光分析装置およびキャリブレーション方法 FI分類-G01J 3/36, FI分類-G01J 3/02 C, FI分類-G01N 21/27 F |
2016年09月23日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F16C 19/06, FI分類-F04D 19/04 A, FI分類-F16C 33/76 Z |
2016年09月21日 特許庁 / 特許 | 逐次近似画像再構成方法、逐次近似画像再構成プログラムおよび断層撮影装置 FI分類-G01N 23/04 310, FI分類-A61B 6/03 350 X |
2016年09月21日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置 FI分類-H04N 1/409, FI分類-G06T 5/00 705 |
2016年09月21日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/42 |
2016年09月20日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2016年09月20日 特許庁 / 特許 | 放射線画像処理装置および放射線画像処理方法 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 350 M |
2016年09月20日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2016年09月20日 特許庁 / 特許 | 放射線画像処理装置および放射線画像処理方法 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 350 P, FI分類-A61B 6/00 350 S, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2016年09月20日 特許庁 / 特許 | 移動型X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 320 M |
2016年09月20日 特許庁 / 特許 | 顕微分析装置 FI分類-G02B 13/14, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 17/08 Z, FI分類-G02B 21/02 Z |
2016年09月20日 特許庁 / 特許 | 両親媒性ブロックポリマーを用いた薬剤内包分子集合体 FI分類-A61K 9/51, FI分類-A61K 47/14, FI分類-A61K 47/34, FI分類-A61P 35/00, FI分類-A61K 31/282 |
2016年09月16日 特許庁 / 特許 | 偏光顕微鏡 FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/06 |
2016年09月15日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ及び全有機体炭素測定装置 FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 31/00 D |
2016年09月13日 特許庁 / 特許 | ペプチド解析方法、ペプチド解析装置、及びペプチド解析用プログラム FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-C07K 1/14 ZNA |
2016年09月13日 特許庁 / 特許 | ペプチド帰属方法及びペプチド帰属システム FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V |
2016年09月09日 特許庁 / 特許 | 液体試料容器保持機構 FI分類-B01L 9/00, FI分類-G01N 1/10 N, FI分類-G01N 27/62 F |
2016年09月09日 特許庁 / 特許 | 疲労・耐久試験装置 FI分類-G01N 3/34 A |
2016年09月09日 特許庁 / 特許 | 脳内のアミロイドβ蓄積状態を評価するマルチプレックスバイオマーカー及びその分析方法 FI分類-G01N 33/68 ZNA |
2016年09月08日 特許庁 / 特許 | 熱伝導度検出器及びガスクロマトグラフ FI分類-G01N 27/18, FI分類-G01N 30/66, FI分類-G01N 25/18 F |
2016年09月08日 特許庁 / 特許 | 誘電体バリア放電イオン化検出器 FI分類-G01N 27/70, FI分類-G01N 30/64 F |
2016年09月08日 特許庁 / 特許 | 誘電体バリア放電イオン化検出器 FI分類-G01N 27/70, FI分類-G01N 30/64 F |
2016年09月08日 特許庁 / 特許 | 誘電体バリア放電イオン化検出器 FI分類-G01N 27/70 |
2016年09月08日 特許庁 / 特許 | 誘電体バリア放電イオン化検出器 FI分類-G01N 27/70, FI分類-G01N 30/64 F |
2016年09月08日 特許庁 / 特許 | 誘電体バリア放電イオン化検出器 FI分類-G01N 27/70, FI分類-G01N 30/64 F |
2016年09月08日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/82, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/86 Q |
2016年09月07日 特許庁 / 特許 | フローセル及びそのフローセルを備えた吸光度検出器 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/27 Z |
2016年09月07日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/00 Z |
2016年09月07日 特許庁 / 特許 | 遺伝子増幅装置 FI分類-C12M 1/00 A |
2016年09月06日 特許庁 / 特許 | 堆積物監視装置および真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 H |
2016年09月06日 特許庁 / 特許 | スワブ材 FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 31/12 Z |
2016年09月02日 特許庁 / 特許 | 誘電体膜の成膜方法 FI分類-C23C 16/42, FI分類-C23C 16/54, FI分類-G02B 5/08 C, FI分類-C23C 14/08 E, FI分類-C23C 14/22 Z, FI分類-C23C 14/56 F, FI分類-C23C 16/44 F |
2016年09月01日 特許庁 / 特許 | 質量分析データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2016年08月31日 特許庁 / 特許 | におい評価装置 FI分類-G01N 27/12 A, FI分類-G01N 30/00 C |
2016年08月31日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ分析装置の制御装置、液体クロマトグラフ分析装置の制御方法、および、液体クロマトグラフ分析システム FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/26 Z |
2016年08月31日 特許庁 / 特許 | におい評価方法及びにおい評価装置 FI分類-G01N 30/44, FI分類-G01N 27/12 A, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/80 B |
2016年08月30日 特許庁 / 特許 | 水質分析計 FI分類-G01N 33/18 106 Z |
2016年08月30日 特許庁 / 特許 | MALDI質量分析装置 FI分類-H01J 49/16, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/64 B |
2016年08月29日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 D |
2016年08月29日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 H |
2016年08月29日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置用保持機構およびX線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D |
2016年08月29日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 E, FI分類-F04D 19/04 F |
2016年08月26日 特許庁 / 特許 | 分光光度計における検出信号値の補正方法及び検出信号値の補正機能を備えた分光光度計 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/36, FI分類-G01J 3/02 C, FI分類-G01N 21/27 Z |
2016年08月26日 特許庁 / 特許 | 分光分析装置及びそれを備えるクロマトグラフ装置 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/36, FI分類-G01N 21/17 D, FI分類-G01N 30/74 E |
2016年08月26日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び該装置を用いた生体試料の分析方法 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 F |
2016年08月26日 特許庁 / 特許 | 発光装置 FI分類-G02B 6/42, FI分類-H01L 33/58, FI分類-H01S 5/022 |
2016年08月26日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析データ処理装置及び方法 FI分類-G01N 27/62 Y |
2016年08月26日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 Y |
2016年08月25日 特許庁 / 特許 | 分析データ表示処理装置 FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/86 D |
2016年08月25日 特許庁 / 特許 | フローセル FI分類-G01N 21/05 |
2016年08月25日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/02 G |
2016年08月24日 特許庁 / 特許 | 画像診断用撮影装置 FI分類-G01T 1/161 E, FI分類-G01T 1/164 E |
2016年08月24日 特許庁 / 特許 | データ処理方法、データ処理装置及びデータ処理プログラム FI分類-G01N 15/02 C |
2016年08月24日 特許庁 / 特許 | 脳機能計測装置 FI分類-A61B 10/00 E |
2016年08月24日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 Y |
2016年08月23日 特許庁 / 特許 | 水中通信システム及び水中通信装置 FI分類-H04B 11/00 D, FI分類-H04B 9/00 268, FI分類-H04B 9/00 380 |
2016年08月23日 特許庁 / 特許 | 質量分析データ処理装置、質量分析データ処理方法、及び質量分析データ処理プログラム FI分類-G01N 27/62 D |
2016年08月22日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 E |
2016年08月10日 特許庁 / 特許 | データ平滑化方法及びその方法を実行するプログラム FI分類-G06F 17/30 220 Z |
2016年08月04日 特許庁 / 特許 | X線回折装置 FI分類-G01N 23/207 320 |
2016年08月03日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 X, FI分類-A61B 6/00 350 D |
2016年08月03日 特許庁 / 特許 | 分析データ処理方法及び分析データ処理装置 FI分類-G01N 30/78, FI分類-G06N 99/00, FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 30/86 G |
2016年08月01日 特許庁 / 特許 | 半導体発光素子駆動回路 FI分類-H01L 33/00 J, FI分類-H01S 5/042 630 |
2016年07月29日 特許庁 / 特許 | 放射線検出器 FI分類-G01T 1/24, FI分類-H01L 31/00 A |
2016年07月29日 特許庁 / 特許 | 質量分析データ解析装置及び解析方法 FI分類-G01N 27/62 D |
2016年07月29日 特許庁 / 特許 | 分析制御システム FI分類-G01R 22/06 130 C |
2016年07月27日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/02 H |
2016年07月27日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/02 C |
2016年07月27日 特許庁 / 特許 | 油潤滑軸受装置および真空ポンプ FI分類-F16C 19/16, FI分類-F16C 33/41, FI分類-F16C 33/66 Z |
2016年07月27日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 E |
2016年07月26日 特許庁 / 特許 | タンパク質変異体の並行的定量方法 FI分類-C12Q 1/37, FI分類-G01N 33/68, FI分類-C07K 14/515, FI分類-C12M 1/34 E, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/88 J, FI分類-G01N 27/62 ZNAV |
2016年07月25日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 21/27 Z |
2016年07月21日 特許庁 / 特許 | 分光光度計 FI分類-G01J 3/06, FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/32 |
2016年07月15日 特許庁 / 特許 | 材料試験機用保持具 FI分類-G01N 3/04 P |
2016年07月14日 特許庁 / 特許 | 分光器 FI分類-G01J 3/04 |
2016年07月14日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置における移動部材の停止装置 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X, FI分類-A61B 6/00 390 Z |
2016年07月13日 特許庁 / 特許 | 波長校正方法及びその波長校正方法を用いた分光光度計 FI分類-G01J 3/06, FI分類-G01J 3/18 |
2016年07月08日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 F, FI分類-G01N 30/86 G |
2016年07月07日 特許庁 / 特許 | マイクロチップ電気泳動装置 FI分類-G01N 27/447 331 E, FI分類-G01N 27/447 331 H, FI分類-G01N 27/447 331 K |
2016年07月06日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 J, FI分類-G01N 30/86 T |
2016年07月06日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 M |
2016年07月06日 特許庁 / 特許 | 分取液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/80 E, FI分類-G01N 30/80 F |
2016年07月01日 特許庁 / 特許 | 気泡径分布測定装置及び気泡径分布測定方法 FI分類-G01N 15/02 B |
2016年06月30日 特許庁 / 特許 | フローコントローラ FI分類-G01N 30/32 A |
2016年06月30日 特許庁 / 特許 | 容器セットおよびそれを用いた試料調製方法 FI分類-C12Q 1/37, FI分類-G01N 1/10 B, FI分類-G01N 1/10 F, FI分類-G01N 1/10 H, FI分類-G01N 1/28 J |
2016年06月29日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/14, FI分類-H01J 49/16, FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 G |
2016年06月28日 特許庁 / 特許 | ロータ寿命推定装置および真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 E, FI分類-F04D 19/04 F, FI分類-G01M 99/00 A |
2016年06月28日 特許庁 / 特許 | 前処理装置 FI分類-G01N 30/18 Z, FI分類-G01N 35/02 Z, FI分類-G01N 1/00 101 H |
2016年06月28日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 H |
2016年06月27日 特許庁 / 特許 | X線発生装置及びそれを備える分析装置 FI分類-H05G 1/34 Z |
2016年06月27日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 23/223 |
2016年06月25日 特許庁 / 特許 | 薬物複合体 FI分類-C07K 7/08, FI分類-A61K 45/00, FI分類-A61K 47/42, FI分類-A61K 47/64, FI分類-A61P 35/00, FI分類-C07K 14/00, FI分類-C07K 7/06 ZNA |
2016年06月24日 特許庁 / 特許 | ICP質量分析装置 FI分類-H01J 49/02, FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 Z |
2016年06月24日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡用データ処理装置 FI分類-G01Q 30/04 |
2016年06月23日 特許庁 / 特許 | 質量分析データ処理装置、質量分析装置、質量分析データ処理方法、及び質量分析データ処理用プログラム FI分類-G01N 27/62 D |
2016年06月23日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフによる濃度測定方法及びクロマトグラフ FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/86 J |
2016年06月22日 特許庁 / 特許 | 情報処理装置、情報処理方法及び情報処理プログラム FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 Q, FI分類-G01N 30/88 H |
2016年06月21日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/86 R |
2016年06月21日 特許庁 / 特許 | 水中通信装置及び水中照射装置 FI分類-H01S 5/06, FI分類-H04B 9/00 380, FI分類-H04B 9/00 564 |
2016年06月21日 特許庁 / 特許 | 欠陥検査装置及び方法 FI分類-G01N 29/06, FI分類-G01B 11/30 A |
2016年06月20日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置並びに該装置においてイオンの損失及び次段の真空負荷を低減するために用いられる方法 FI分類-H01J 49/06, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 G |
2016年06月20日 特許庁 / 特許 | イオンガイド装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 101 |
2016年06月17日 特許庁 / 特許 | 試料気化ユニット及びそれを備えたガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/12 A, FI分類-G01N 30/18 A |
2016年06月15日 特許庁 / 特許 | ソフトウェアライセンス管理システム及び管理方法 FI分類-G06F 21/10 350, FI分類-H04L 9/00 601 B |
2016年06月15日 特許庁 / 特許 | ソフトウェアライセンス管理システム及び管理方法 FI分類-G06F 21/10 350 |
2016年06月14日 特許庁 / 特許 | 分光器及びこれに用いられる入射光制限部材 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G02B 5/18, FI分類-G01J 3/02 Z |
2016年06月14日 特許庁 / 特許 | X線装置、それを制御する制御方法、および制御プログラム FI分類-A61B 6/00 300 W, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2016年06月14日 特許庁 / 特許 | 示差屈折率検出器 FI分類-G01N 21/41 B |
2016年06月09日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2016年06月09日 特許庁 / 特許 | 近赤外線イメージング装置 FI分類-A61B 90/30, FI分類-A61B 10/00 E |
2016年06月09日 特許庁 / 特許 | 液圧制御装置 FI分類-B60P 1/44 E, FI分類-B60P 1/44 J |
2016年06月08日 特許庁 / 特許 | 尿量計測装置および尿量計測方法 FI分類-A61B 5/20 |
2016年06月07日 特許庁 / 特許 | レーザダイオードモジュール FI分類-G01J 3/45, FI分類-H01S 5/024, FI分類-H01S 5/068, FI分類-H01S 5/183 |
2016年06月06日 特許庁 / 特許 | カラムオーブン FI分類-G01N 30/26 N, FI分類-G01N 30/54 H |
2016年06月06日 特許庁 / 特許 | 試料採取装置、その試料採取装置用ホルダ及びその試料採取装置を用いた試料前処理方法 FI分類-G01N 1/10 H, FI分類-G01N 1/10 N, FI分類-G01N 1/10 V, FI分類-G01N 33/48 C, FI分類-G01N 33/48 H, FI分類-G01N 33/48 K |
2016年06月06日 特許庁 / 特許 | 回折格子及び分光装置 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G02B 5/18 |
2016年06月02日 特許庁 / 特許 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 FI分類-G01J 9/02, FI分類-G01N 29/24, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/88 Z |
2016年06月02日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 30/04 |
2016年06月02日 特許庁 / 特許 | イオン化装置及び質量分析システム FI分類-H01J 49/10 |
2016年06月01日 特許庁 / 特許 | 移動型X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310 |
2016年06月01日 特許庁 / 特許 | 移動型X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310 |
2016年06月01日 特許庁 / 特許 | 光生体測定用のプローブホルダ FI分類-A61B 10/00 E |
2016年05月31日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-H02K 1/22 A, FI分類-F04D 19/04 F, FI分類-F04D 19/04 G |
2016年05月30日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 Q |
2016年05月30日 特許庁 / 特許 | ピーク検出方法及びデータ処理装置 FI分類-G01N 30/86 E |
2016年05月27日 特許庁 / 特許 | 医療用イメージング装置 FI分類-A61B 10/00 E |
2016年05月26日 特許庁 / 特許 | 分析データ処理装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 35/00 A |
2016年05月26日 特許庁 / 特許 | バックアップリング及びそのバックアップリングを用いた送液ポンプ FI分類-F04B 53/14 A, FI分類-F16J 15/18 A |
2016年05月25日 特許庁 / 特許 | サンプルプレート移動機構及びそれを備えたレーザ脱離イオン化質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 1/00 101 B |
2016年05月24日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ装置 FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/86 Q |
2016年05月23日 特許庁 / 特許 | 熱伝導度検出器及びガスクロマトグラフ FI分類-G01N 27/18, FI分類-G01N 30/66 |
2016年05月23日 特許庁 / 特許 | 分取精製装置及び分取精製方法 FI分類-G01N 30/82, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/80 F |
2016年05月20日 特許庁 / 特許 | 原子吸光分光光度計 FI分類-G01N 21/31 610 A |
2016年05月20日 特許庁 / 特許 | 前処理装置及びその前処理装置を備えた分析システム FI分類-G01N 1/38, FI分類-G01N 30/06 C, FI分類-G01N 35/04 A |
2016年05月19日 特許庁 / 特許 | X線画像処理装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/02 351 M |
2016年05月17日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ装置 FI分類-G01N 30/18 G, FI分類-G01N 30/20 L, FI分類-G01N 30/26 Q |
2016年05月16日 特許庁 / 特許 | タンパク質及びペプチドのCα-C結合及び側鎖の特異的切断方法、及びアミノ酸配列決定方法 FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 27/62 ZNAV |
2016年05月16日 特許庁 / 特許 | 放射線検出器およびそれを備えた放射線撮影装置 FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 F, FI分類-G01T 1/20 G, FI分類-G01T 1/161 A |
2016年05月16日 特許庁 / 特許 | シャッター FI分類-H01J 49/24, FI分類-G01N 27/62 Z |
2016年05月12日 特許庁 / 特許 | 材料試験機用つかみ具および材料試験機 FI分類-G01N 3/04 B |
2016年05月11日 特許庁 / 特許 | 疲労・耐久試験装置 FI分類-G01N 3/34 Z |
2016年05月10日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 Y |
2016年05月06日 特許庁 / 特許 | フローセル FI分類-G01N 21/05 |
2016年05月02日 特許庁 / 特許 | スペクトルデータ処理装置 FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 30/74 Z, FI分類-G01N 30/86 J |
2016年05月02日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ用フィルタ装置及びガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/10, FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/26 P |
2016年04月27日 特許庁 / 特許 | データ処理方法及び装置 FI分類-G01N 30/86 H |
2016年04月27日 特許庁 / 特許 | X線装置 FI分類-A61B 6/00 310 |
2016年04月25日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ FI分類-G01N 21/33, FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 30/54 C, FI分類-G01N 30/74 A |
2016年04月22日 特許庁 / 特許 | 監視装置および真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 H |
2016年04月21日 特許庁 / 特許 | 試料解析システム FI分類-G01J 3/44, FI分類-G01N 21/35, FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01J 3/42 U, FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 21/63 Z, FI分類-G01N 21/31 610 Z |
2016年04月19日 特許庁 / 特許 | 試料気化ユニット及びそれを備えたガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/12 A, FI分類-G01N 30/18 A |
2016年04月18日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/16, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 G |
2016年04月14日 特許庁 / 特許 | 情報処理装置および電子カルテ表示装置 FI分類-G06Q 50/24 |
2016年04月14日 特許庁 / 特許 | イオントラップ質量分析装置 FI分類-H01J 49/16, FI分類-H01J 49/42 |
2016年04月14日 特許庁 / 特許 | 質量分析を用いた多成分一斉分析方法及び多成分一斉分析用プログラム FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V |
2016年04月13日 特許庁 / 特許 | データ処理装置 FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 H |
2016年04月13日 特許庁 / 特許 | データ処理装置及びデータ処理方法 FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 F, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 M, FI分類-G01N 30/86 Q |
2016年04月13日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 1/10 K, FI分類-G01N 30/24 Z |
2016年04月12日 特許庁 / 特許 | 位置決め装置および位置決め装置の作動方法 FI分類-A61N 5/10 M, FI分類-A61N 5/10 T |
2016年04月11日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-G01N 27/62 D |
2016年04月08日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 G |
2016年04月05日 特許庁 / 特許 | 放射線検出素子の感度補正方法および放射線断層撮影装置 FI分類-G01T 1/17 E, FI分類-G01T 1/161 C |
2016年04月05日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置、放射線画像の対象物検出プログラムおよび放射線画像における対象物検出方法 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 350 D, FI分類-A61B 6/00 360 Z, FI分類-G06T 7/00 350 B |
2016年04月01日 特許庁 / 特許 | 電子線応用装置 FI分類-H04N 9/04 B, FI分類-H04N 9/73 B, FI分類-H04N 5/225 C, FI分類-H04N 5/232 Z, FI分類-G01N 23/225 312 |
2016年03月31日 特許庁 / 特許 | ピーク検出方法及びデータ処理装置 FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 K |
2016年03月31日 特許庁 / 特許 | 微生物の識別方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C12N 15/09 Z, FI分類-G01N 27/62 ZNAV |
2016年03月31日 特許庁 / 特許 | 微生物の識別方法 FI分類-G01N 33/02, FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-C12Q 1/04 ZNA |
2016年03月31日 特許庁 / 特許 | 微生物の識別方法 FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-C12Q 1/04 ZNA |
2016年03月31日 特許庁 / 特許 | 微生物の識別方法 FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/48 M, FI分類-C12Q 1/04 ZNA |
2016年03月29日 特許庁 / 特許 | 分光器及びこれに用いられるリテーナ FI分類-G01J 3/18, FI分類-G02B 5/18, FI分類-G01J 3/02 Z |
2016年03月24日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 23/225 312 |
2016年03月24日 特許庁 / 特許 | 放射線検出器および検出器モジュール FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 F, FI分類-G01T 1/20 G, FI分類-G01T 1/20 L, FI分類-G01T 1/161 C |
2016年03月24日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析装置の制御方法 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 B |
2016年03月18日 特許庁 / 特許 | 粒子径分布測定装置、データ処理方法及びデータ処理プログラム FI分類-G01N 15/02 A |
2016年03月18日 特許庁 / 特許 | 磁気軸受式真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 A, FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-F16C 32/04 A |
2016年03月18日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/02 300 F, FI分類-A61B 6/02 300 M, FI分類-A61B 6/02 301 D |
2016年03月18日 特許庁 / 特許 | 放射線検出器またはそれを備えた放射線断層撮影装置 FI分類-G01T 1/20 C, FI分類-G01T 1/20 D, FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 G, FI分類-G01T 1/20 L |
2016年03月18日 特許庁 / 特許 | 電圧印加方法、電圧印加装置及び飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40 |
2016年03月17日 特許庁 / 特許 | 分光器及びこれに用いられる0次光減衰機構 FI分類-G01J 3/04, FI分類-G01J 3/18 |
2016年03月16日 特許庁 / 特許 | タンパク質及びペプチドのCα-C結合及び側鎖の特異的切断方法、及びアミノ酸配列決定方法 FI分類-C07K 14/47, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 V |
2016年03月16日 特許庁 / 特許 | 細胞の分化状態の評価方法 FI分類-C12N 5/10, FI分類-C12Q 1/02, FI分類-C12N 5/071, FI分類-C12N 5/0735 |
2016年03月16日 特許庁 / 特許 | 測定装置および材料試験機 FI分類-G01N 3/06 |
2016年03月16日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 Y |
2016年03月16日 特許庁 / 特許 | 細胞培養容器 FI分類-C12M 3/00 A |
2016年03月15日 特許庁 / 特許 | 耐久試験機 FI分類-G01M 13/02 |
2016年03月15日 特許庁 / 特許 | 共役ジエン化合物と芳香族ビニル化合物の共重合体の分析方法 FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/46 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 J, FI分類-G01N 30/88 P |
2016年03月14日 特許庁 / 特許 | 放射線システム FI分類-A61B 6/00 300 Z |
2016年03月14日 特許庁 / 特許 | 放射線検出器およびそれを備えたTOF-PET装置 FI分類-G01T 1/20 F, FI分類-G01T 1/20 G, FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-G01T 1/161 C |
2016年03月14日 特許庁 / 特許 | 温度制御装置およびターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 F, FI分類-F04D 19/04 H |
2016年03月14日 特許庁 / 特許 | 質量分析データ解析装置及び質量分析データ解析用プログラム FI分類-G01N 27/62 D |
2016年03月11日 特許庁 / 特許 | 画像再構成処理方法、画像再構成処理プログラム並びにそれを搭載した断層撮影装置 FI分類-G01N 23/046, FI分類-A61B 5/055 376, FI分類-A61B 6/03 350 X, FI分類-A61B 6/03 360 J |
2016年03月09日 特許庁 / 特許 | 流体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/46 E |
2016年03月08日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ用検出器 FI分類-G01N 21/01 D |
2016年03月07日 特許庁 / 特許 | 熱伝導度検出器 FI分類-G01N 27/18, FI分類-G01N 30/66, FI分類-G01N 25/18 K |
2016年03月07日 特許庁 / 特許 | マイクロチップ電気泳動装置 FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 35/10 F, FI分類-G01N 37/00 101, FI分類-G01N 27/26 331 E, FI分類-G01N 27/26 331 H, FI分類-G01N 27/26 331 K |
2016年03月07日 特許庁 / 特許 | 熱伝導度検出器 FI分類-G01N 27/18, FI分類-G01N 30/66, FI分類-G01N 25/18 F |
2016年03月07日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/86 R |
2016年03月07日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ用試料導入装置 FI分類-G01N 30/06 G, FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 30/16 K, FI分類-G01N 30/18 A |
2016年03月04日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/10 350, FI分類-A61B 6/00 300 S |
2016年03月04日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法及び誘導結合プラズマ質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 G |
2016年03月03日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/40 |
2016年03月01日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/10 350 |
2016年03月01日 特許庁 / 特許 | 分析用プラズマトーチおよびそれを備える分析装置 FI分類-H05H 1/30, FI分類-G01N 21/73, FI分類-G01N 27/68 Z |
2016年03月01日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 M, FI分類-A61B 6/04 332 P |
2016年03月01日 特許庁 / 特許 | 移動型放射線装置 FI分類-A61B 6/00 310 |
2016年03月01日 特許庁 / 特許 | 移動型放射線装置 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 300 D |
2016年02月29日 特許庁 / 特許 | 分析測定装置システム FI分類-G01N 35/00 F |
2016年02月29日 特許庁 / 特許 | 部材連結機構及び部材連結方法 FI分類-G01N 30/12 A, FI分類-G01N 30/12 E, FI分類-G01N 30/12 Z, FI分類-G01N 30/16 K, FI分類-G01N 30/18 A |
2016年02月29日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 Y |
2016年02月26日 特許庁 / 特許 | 赤外顕微鏡及び赤外顕微鏡システム FI分類-G02B 21/06, FI分類-G01N 21/359, FI分類-G01N 21/27 E |
2016年02月26日 特許庁 / 特許 | 直流高圧電源装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H02M 7/06 H, FI分類-H02M 7/06 S, FI分類-H01J 37/248 Z |
2016年02月25日 特許庁 / 特許 | 反応容器及びそれを用いた試薬キット FI分類-C12M 1/30, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12M 1/34 Z |
2016年02月24日 特許庁 / 特許 | 測定装置および材料試験機 FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01L 25/00 B |
2016年02月23日 特許庁 / 特許 | 材料試験機用の同期回路および材料試験機 FI分類-G01N 3/08 |
2016年02月16日 特許庁 / 特許 | 波長変換光学装置及びレーザ装置 FI分類-G02F 1/377 |
2016年02月15日 特許庁 / 特許 | 成分抽出装置 FI分類-G01N 1/44, FI分類-B01D 11/00, FI分類-G01N 1/10 F, FI分類-G01N 30/02 N |
2016年02月12日 特許庁 / 特許 | 骨解析装置 FI分類-A61B 6/00 350 Z, FI分類-A61B 6/02 301 D |
2016年02月09日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置、プログラムおよび放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 350 D, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2016年02月09日 特許庁 / 特許 | 試料表面形状と物理特性の測定方法、及び走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 60/24, FI分類-G01Q 60/40, FI分類-G12B 1/00 601 Z |
2016年02月09日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F16N 7/12, FI分類-F16C 19/06, FI分類-F16N 11/00, FI分類-F04D 29/059, FI分類-F16C 35/077, FI分類-F04D 19/04 B, FI分類-F16C 33/66 Z |
2016年02月09日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 350 M |
2016年02月05日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ装置 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 30/24 L, FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/86 M |
2016年02月03日 特許庁 / 特許 | 測定装置および材料試験機 FI分類-G01N 3/08 |
2016年01月27日 特許庁 / 特許 | 圧力制御バルブ及び超臨界流体クロマトグラフ FI分類-F16K 1/42 F, FI分類-F16K 7/16 D, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/32 Z, FI分類-G01N 30/72 C |
2016年01月22日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ用電源装置 FI分類-H02P 29/62, FI分類-H05K 7/20 H, FI分類-F04B 37/16 Z |
2016年01月19日 特許庁 / 特許 | 核酸前処理キット、および塩基配列解析方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12Q 1/6869 Z |
2016年01月18日 特許庁 / 特許 | 誘導結合プラズマ発生装置 FI分類-H05H 1/30, FI分類-G01N 21/73, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/68 Z |
2016年01月18日 特許庁 / 特許 | 光学素子並びにそれを用いた表示装置及び受光装置 FI分類-G02B 5/04 A, FI分類-G02B 5/08 D, FI分類-G02B 27/02 Z, FI分類-H04N 5/64 511 A |
2016年01月18日 特許庁 / 特許 | イオントラップ質量分析装置及び該装置を用いた質量分析方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 Z |
2016年01月15日 特許庁 / 特許 | 部材連結機構 FI分類-G01N 30/12 A, FI分類-G01N 30/16 K |
2016年01月15日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/12 A, FI分類-G01N 30/54 G |
2016年01月15日 特許庁 / 特許 | 直交加速飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 E |
2016年01月14日 特許庁 / 特許 | イメージング装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-G01N 21/64 F |
2016年01月13日 特許庁 / 特許 | イメージング装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-G01N 21/64 F |
2016年01月12日 特許庁 / 特許 | イメージング装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-G01N 21/64 F |
2016年01月12日 特許庁 / 特許 | 送液装置 FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/32 C |
2016年01月12日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/40 |
2016年01月08日 特許庁 / 特許 | ポリクロメータ及びこれを備えた分析装置 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/36, FI分類-G01J 3/02 C |
2016年01月08日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 21/35, FI分類-G01N 21/01 D |
2016年01月07日 特許庁 / 特許 | ゲル組成物、およびゲル組成物の製造方法 FI分類-A61K 9/06, FI分類-A61P 1/00, FI分類-C07J 5/00, FI分類-C07J 7/00, FI分類-A61K 31/55, FI分類-A61K 31/57, FI分類-A61K 38/13, FI分類-A61K 47/10, FI分類-A61K 47/34, FI分類-A61P 27/02, FI分類-A61K 31/138, FI分類-A61K 31/165, FI分類-A61K 31/222, FI分類-A61K 31/496, FI分類-A61K 31/542, FI分類-A61K 31/569, FI分類-A61K 31/573, FI分類-C07D 215/56, FI分類-C07D 285/10, FI分類-C07D 403/04, FI分類-A61K 31/5377, FI分類-A61K 31/5575, FI分類-A61K 31/7048, FI分類-A61K 31/7105, FI分類-C07H 17/08 K, FI分類-C07D 513/04 371 |
2016年01月06日 特許庁 / 特許 | クロマトグラムデータ処理方法及び装置 FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 H |
2015年12月28日 特許庁 / 特許 | 放射線透視装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X, FI分類-A61B 6/04 332 E, FI分類-A61B 6/04 332 P |
2015年12月28日 特許庁 / 特許 | 監視装置および監視プログラム FI分類-H02P 7/00 P, FI分類-H02P 7/00 T, FI分類-F04D 19/04 G, FI分類-F16C 32/04 Z |
2015年12月28日 特許庁 / 特許 | 放射線装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 350 P, FI分類-A61B 6/00 350 S |
2015年12月28日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ FI分類-G01N 30/86 D |
2015年12月25日 特許庁 / 特許 | 分析データ処理装置 FI分類-H03M 7/40, FI分類-H03M 7/46, FI分類-G01N 27/62 D |
2015年12月22日 特許庁 / 特許 | 乳房検査用画像撮影装置 FI分類-G01T 1/161 A |
2015年12月22日 特許庁 / 特許 | 流路機構及びこれを備えた液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/08 L, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/34 A, FI分類-G01N 30/46 E, FI分類-G01N 30/54 H |
2015年12月22日 特許庁 / 特許 | 電子天秤 FI分類-G01G 7/02, FI分類-G01G 21/28, FI分類-G01G 21/24 Z, FI分類-G01G 23/02 Z |
2015年12月21日 特許庁 / 特許 | 硬さ試験機 FI分類-G01N 3/42 F |
2015年12月18日 特許庁 / 特許 | 直流電源の制御方法 FI分類-H01J 49/02, FI分類-H01J 49/42 |
2015年12月18日 特許庁 / 特許 | モノクローナル抗体の検出のためのサンプル調製用キット FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/00 A, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/72 C |
2015年12月18日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 350 S |
2015年12月17日 特許庁 / 特許 | 質量分析を用いた試料解析方法及び試料解析システム FI分類-H01J 49/00, FI分類-G01N 27/62 D |
2015年12月17日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 G |
2015年12月15日 特許庁 / 特許 | 斜めCT装置 FI分類-G01N 23/05, FI分類-G01N 23/044 |
2015年12月15日 特許庁 / 特許 | 試料導入装置 FI分類-G01N 1/22 R, FI分類-G01N 1/22 T, FI分類-G01N 30/06 G, FI分類-G01N 1/00 101 R |
2015年12月14日 特許庁 / 特許 | 水質分析計 FI分類-G01N 31/00 D |
2015年12月11日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置、被検者の位置決め装置および被検者の位置決め方法 FI分類-A61N 5/10 M, FI分類-A61N 5/10 T, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 320 M, FI分類-A61B 6/03 360 G |
2015年12月11日 特許庁 / 特許 | 分析情報管理システム FI分類-G06Q 50/10, FI分類-G01N 30/86 Z |
2015年12月11日 特許庁 / 特許 | 分析情報管理システム FI分類-G06Q 10/00 |
2015年12月10日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2015年12月09日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置、プログラムおよび放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 350 D |
2015年12月09日 特許庁 / 特許 | 分析情報管理システム FI分類-G06Q 10/00, FI分類-G06Q 50/22 |
2015年12月09日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X, FI分類-A61B 6/00 320 Z, FI分類-A61B 6/04 332 P |
2015年12月07日 特許庁 / 特許 | 開口封止構造体、試料気化ユニット及びガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/12 A, FI分類-G01N 30/18 A |
2015年12月07日 特許庁 / 特許 | 顕微画像分析装置用管理プログラム及び顕微画像分析装置用管理装置 FI分類-G01N 21/27 E |
2015年12月04日 特許庁 / 特許 | 液体試料分析システム FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/04 P, FI分類-G01N 30/72 C |
2015年12月03日 特許庁 / 特許 | ピーク検出方法及びデータ処理装置 FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 H |
2015年12月02日 特許庁 / 特許 | ヘッドマウントディスプレイ用の動画像処理装置、ヘッドマウントディスプレイ用の動画像処理方法およびヘッドマウントディスプレイシステム FI分類-G02B 27/02 Z, FI分類-G09G 5/00 510 G, FI分類-G09G 5/00 530 M, FI分類-G09G 5/00 550 C, FI分類-G09G 5/36 510 M, FI分類-G09G 5/36 520 C, FI分類-G09G 5/36 520 L, FI分類-G09G 5/36 520 P, FI分類-H04N 5/64 511 A |
2015年12月02日 特許庁 / 特許 | 四重極マスフィルタ及び四重極型質量分析装置 FI分類-H01J 49/42 |
2015年12月01日 特許庁 / 特許 | 情報処理装置、プログラム、寝台および放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/04 332 E, FI分類-A61B 6/04 332 P |
2015年12月01日 特許庁 / 特許 | 送液装置 FI分類-F04B 13/00 A, FI分類-F04B 49/08 311 |
2015年11月27日 特許庁 / 特許 | 細胞群の部分母集団推定方法 FI分類-C12Q 1/02, FI分類-G06F 17/18 |
2015年11月27日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置および放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 330 A, FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2015年11月27日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置および放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 330, FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 350 Z |
2015年11月26日 特許庁 / 特許 | 送液装置、送液装置の送液制御方法及び送液装置の送液制御プログラム FI分類-F04B 13/00 B, FI分類-G01N 30/32 A |
2015年11月24日 特許庁 / 特許 | 混合マトリックスを用いる質量分析法 FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/64 B |
2015年11月20日 特許庁 / 特許 | 疲労試験機 FI分類-G01N 3/34 A |
2015年11月20日 特許庁 / 特許 | 放射線位相差撮影装置 FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2015年11月20日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置および質量分析装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 37/20 Z |
2015年11月20日 特許庁 / 特許 | 真空処理装置および質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 F |
2015年11月20日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 F |
2015年11月19日 特許庁 / 特許 | 半導体検出器 FI分類-H01L 29/48 M, FI分類-H01L 31/10 H, FI分類-H01L 27/144 K, FI分類-H01L 27/146 A, FI分類-H01L 27/146 F, FI分類-H01L 21/92 603 D |
2015年11月19日 特許庁 / 特許 | 放射線断層撮影装置 FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-G01T 1/161 D |
2015年11月11日 特許庁 / 特許 | 四重極マスフィルタ及び四重極型質量分析装置 FI分類-H01J 49/42 |
2015年11月09日 特許庁 / 特許 | ガス分析システム FI分類-G01D 7/08, FI分類-G01N 30/04 Z, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-H01M 10/04 Z, FI分類-H01M 10/48 Z |
2015年11月09日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/10, FI分類-G01N 30/12 A, FI分類-G01N 30/32 A |
2015年11月05日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析データ処理方法及び処理装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 G |
2015年11月05日 特許庁 / 特許 | 表示装置およびX線CT装置 FI分類-G01N 23/046 |
2015年10月30日 特許庁 / 特許 | レーザ装置の製造方法 FI分類-G02B 6/42, FI分類-H01S 5/40, FI分類-H01S 5/022, FI分類-H01S 5/024, FI分類-H01L 23/40 C |
2015年10月30日 特許庁 / 特許 | X線検出器 FI分類-G01T 1/24, FI分類-H04N 5/32 |
2015年10月30日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/08 301 |
2015年10月30日 特許庁 / 特許 | フーリエ変換質量分析法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/28, FI分類-H01J 49/38, FI分類-G01N 27/62 B |
2015年10月29日 特許庁 / 特許 | 画像補正装置 FI分類-H01J 37/28 X, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-H01J 37/252 B, FI分類-G01N 23/225 312, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2015年10月29日 特許庁 / 特許 | 成膜方法 FI分類-C23C 16/42, FI分類-C23C 14/02 A |
2015年10月28日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ及び試料注入方法 FI分類-G01N 30/12 A, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 30/88 X |
2015年10月23日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40 |
2015年10月16日 特許庁 / 特許 | 走査型荷電粒子顕微鏡 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-H01J 37/22 502 H |
2015年10月16日 特許庁 / 特許 | 磁気軸受装置およびロータ回転駆動装置 FI分類-F16C 32/04 A |
2015年10月16日 特許庁 / 特許 | 測定装置の温度変位による測定誤差補正方法及び該方法を用いた質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 B |
2015年10月15日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2015年10月14日 特許庁 / 特許 | 高温試験装置および高温試験方法 FI分類-G01N 3/18 |
2015年10月13日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 20/02, FI分類-G01Q 30/02 |
2015年10月07日 特許庁 / 特許 | タンデム型質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2015年10月05日 特許庁 / 特許 | 電気泳動流路洗浄方法及び電気泳動装置 FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 27/26 331 G |
2015年10月02日 特許庁 / 特許 | 凝集測定装置及び凝集測定方法 FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 15/06 E |
2015年09月29日 特許庁 / 特許 | 分析用温度制御装置、及び、これを備えた分析装置 FI分類-G01N 21/01 Z, FI分類-G01N 21/67 A |
2015年09月29日 特許庁 / 特許 | イオン源用液体試料導入システム及び分析システム FI分類-H01J 49/04, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 30/72 C |
2015年09月29日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 23/223 |
2015年09月29日 特許庁 / 特許 | イオン源用液体試料導入システム及び分析システム FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 G |
2015年09月28日 特許庁 / 特許 | 液体分注装置及び液体分注方法 FI分類-G01N 35/10 E |
2015年09月25日 特許庁 / 特許 | 定性分析のための質量分析データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2015年09月18日 特許庁 / 特許 | 圧力制御弁 FI分類-F16K 17/04 Z, FI分類-F16K 47/02 J |
2015年09月17日 特許庁 / 特許 | 疲労試験機 FI分類-G01N 3/34 A, FI分類-G01N 3/34 R |
2015年09月17日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置、プログラムおよび放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 350 D, FI分類-A61B 6/00 350 M |
2015年09月17日 特許庁 / 特許 | 呼気分析装置 FI分類-G01N 33/497 A |
2015年09月17日 特許庁 / 特許 | 情報処理装置、放射線検出器、放射線撮影装置、およびプログラム FI分類-G01T 1/20 C, FI分類-G01T 1/20 D, FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 F, FI分類-G01T 1/20 G |
2015年09月17日 特許庁 / 特許 | 放射線装置 FI分類-A61B 6/08 301 |
2015年09月16日 特許庁 / 特許 | 電子天秤 FI分類-G01G 23/01 K |
2015年09月16日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置用部材 FI分類-H01J 49/40 |
2015年09月16日 特許庁 / 特許 | 材料試験機用つかみ具および材料試験機 FI分類-G01N 3/04 A |
2015年09月16日 特許庁 / 特許 | 脳機能計測装置用プローブホルダおよび脳機能計測装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 5/14 322 |
2015年09月15日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプおよび質量分析装置 FI分類-H01J 49/24, FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 G, FI分類-G01N 27/62 Z |
2015年09月15日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 H |
2015年09月15日 特許庁 / 特許 | 電子天秤及び電子天秤用仕切部材 FI分類-G01G 21/28, FI分類-G01G 21/30 |
2015年09月15日 特許庁 / 特許 | 逆止弁及び送液ポンプ FI分類-F04B 53/10 B, FI分類-F04B 53/10 J, FI分類-F16K 15/18 A, FI分類-F16K 31/06 305 L |
2015年09月15日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置、質量分析方法、及び質量分析用プログラム FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 X |
2015年09月14日 特許庁 / 特許 | 送液装置及び液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 H, FI分類-G01N 30/34 A |
2015年09月14日 特許庁 / 特許 | 光計測装置 FI分類-A61B 5/16, FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 5/02 310 A |
2015年09月14日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 T |
2015年09月14日 特許庁 / 特許 | モータ駆動機構及びモータ駆動方法 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F |
2015年09月09日 特許庁 / 特許 | レーザ式ガス分析装置 FI分類-G01N 21/39 |
2015年09月09日 特許庁 / 特許 | 放射線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 G, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2015年09月09日 特許庁 / 特許 | 放射線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2015年09月09日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/03 377, FI分類-A61B 6/03 350 V |
2015年09月09日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 350 P |
2015年09月09日 特許庁 / 特許 | X線撮影システム、X線撮影装置、およびX線検出器 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 321 |
2015年09月09日 特許庁 / 特許 | マイクロチップ電気泳動装置 FI分類-G01N 27/26 331 Z |
2015年09月09日 特許庁 / 特許 | 分析データ解析装置及び分析データ解析用プログラム FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 D |
2015年09月08日 特許庁 / 特許 | 硬さ試験機 FI分類-G01N 3/42 B |
2015年09月04日 特許庁 / 特許 | 検出器システム FI分類-H01J 43/30, FI分類-G01J 1/02 D, FI分類-G01J 1/42 G |
2015年09月04日 特許庁 / 特許 | 断層画像表示装置 FI分類-G01T 1/161 D |
2015年09月03日 特許庁 / 特許 | 成膜装置及び成膜方法 FI分類-H05H 1/46 M, FI分類-C23C 16/44 J |
2015年09月02日 特許庁 / 特許 | イオン光学装置および質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 101 |
2015年09月01日 特許庁 / 特許 | 光学ユニット及びこれを備えた分光器 FI分類-G01J 3/36, FI分類-G01J 1/44 P |
2015年08月31日 特許庁 / 特許 | 高分子化合物の定量分析方法及び該定量分析のためのデータ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/88 J |
2015年08月28日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2015年08月28日 特許庁 / 特許 | マイコトキシンの分析方法 FI分類-G01N 30/78, FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/34 E, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/74 F, FI分類-G01N 30/88 A |
2015年08月26日 特許庁 / 特許 | ラミナー型回折格子 FI分類-G02B 5/18, FI分類-G01N 23/04, FI分類-G21K 1/00 X, FI分類-G21K 1/06 B, FI分類-G21K 1/06 C, FI分類-G01N 23/225 312 |
2015年08月25日 特許庁 / 特許 | イメージング装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-G01N 21/64 F |
2015年08月24日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/08 |
2015年08月24日 特許庁 / 特許 | イオン移動度分析用ドリフトセル及びイオン移動度分析装置 FI分類-G01N 27/62 101 |
2015年08月24日 特許庁 / 特許 | 分取精製装置 FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/26 Q, FI分類-G01N 30/46 A, FI分類-G01N 30/84 Z |
2015年08月24日 特許庁 / 特許 | 全有機炭素計 FI分類-G01N 31/00 D |
2015年08月19日 特許庁 / 特許 | 放射線透視装置 FI分類-G01N 23/04 310, FI分類-A61B 6/00 350 P |
2015年08月18日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ用検出器 FI分類-G01N 30/54 D, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/74 Z |
2015年08月17日 特許庁 / 特許 | 画像再構成処理方法、画像再構成処理プログラム並びにそれを搭載した断層撮影装置 FI分類-G01N 23/04 320, FI分類-A61B 6/03 350 X |
2015年08月11日 特許庁 / 特許 | コンソールおよびそれを備えた放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2015年08月10日 特許庁 / 特許 | 骨密度測定装置 FI分類-A61B 6/00 333, FI分類-A61B 6/04 305, FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 350 S |
2015年08月07日 特許庁 / 特許 | 分取液体クロマトグラフ装置及び分取条件探索方法 FI分類-G01N 30/80 F, FI分類-G01N 30/80 Z, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 F, FI分類-G01N 30/86 M |
2015年08月07日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/06 333, FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 331 E |
2015年08月07日 特許庁 / 特許 | 画像処理方法およびX線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 350 S |
2015年08月06日 特許庁 / 特許 | 放射線透視装置 FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 350 D, FI分類-A61B 6/00 350 M |
2015年08月06日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/14, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2015年08月05日 特許庁 / 特許 | 多変量解析結果表示装置 FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/86 B |
2015年08月05日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 E |
2015年08月04日 特許庁 / 特許 | ピーク波形処理装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2015年08月03日 特許庁 / 特許 | イメージング装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-A61B 5/10 300 Z |
2015年07月30日 特許庁 / 特許 | X線観察用の曲げ試験機 FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01N 23/04 320 |
2015年07月28日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析用プログラム FI分類-G01N 27/62 D |
2015年07月28日 特許庁 / 特許 | タンデム型質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 E |
2015年07月27日 特許庁 / 特許 | 自動配管接続装置 FI分類-G01N 30/00 B, FI分類-G01N 30/08 Z, FI分類-G01N 30/26 N |
2015年07月23日 特許庁 / 特許 | 光ファイバ着脱コネクタ、レーザ装置、照明装置、加工装置、治療装置及び光通信装置 FI分類-G02B 6/36, FI分類-G02B 6/42, FI分類-A61N 5/06 E, FI分類-F21Y 101:02, FI分類-B23K 26/064 K, FI分類-B23K 26/064 Z, FI分類-F21S 2/00 610, FI分類-F21V 8/00 221, FI分類-F21V 8/00 225 |
2015年07月23日 特許庁 / 特許 | 放射線位相差撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 J, FI分類-A61B 6/00 300 Z |
2015年07月22日 特許庁 / 特許 | 検出器結合体 FI分類-G01T 1/202, FI分類-G01T 1/20 B, FI分類-G01T 1/20 C, FI分類-G01T 1/20 D, FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 G |
2015年07月22日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 320 M |
2015年07月17日 特許庁 / 特許 | 同時型蛍光X線分析装置 FI分類-G01N 23/223 |
2015年07月17日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 350 A, FI分類-A61B 6/00 350 P |
2015年07月14日 特許庁 / 特許 | ポリペプチドの質量分析方法 FI分類-G01N 1/34, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/543 501 F |
2015年07月13日 特許庁 / 特許 | 樹脂判別装置 FI分類-G01N 23/223 |
2015年07月13日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01N 3/62, FI分類-G01N 3/02 A, FI分類-G01L 25/00 B |
2015年07月13日 特許庁 / 特許 | ディジタルホログラフィ装置及びディジタルホログラム生成方法 FI分類-G03H 1/08, FI分類-G03H 1/10 |
2015年07月10日 特許庁 / 特許 | 質量分析を用いた多成分一斉分析方法及び質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2015年07月09日 特許庁 / 特許 | 分光検出器 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01N 21/64 Z |
2015年07月09日 特許庁 / 特許 | 前処理装置及びこれを備えた分析システム FI分類-G01N 35/00 E |
2015年07月09日 特許庁 / 特許 | 前処理装置及びこれを備えた分析システム FI分類-G01N 35/02 D |
2015年07月08日 特許庁 / 特許 | イメージング装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-G01N 21/64 F |
2015年07月08日 特許庁 / 特許 | イメージング装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-G01N 21/64 Z |
2015年07月06日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ及びこれに用いられる冷媒導入方法 FI分類-G01N 30/54 D, FI分類-G01N 30/54 Z |
2015年07月06日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ及び液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/26 N |
2015年07月06日 特許庁 / 特許 | 固体撮像素子の信号処理方法及び駆動方法 FI分類-H04N 5/374, FI分類-H04N 5/367 500 |
2015年07月06日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2015年07月03日 特許庁 / 特許 | 蛍光X線分析装置及びそれに用いられるスペクトル表示方法 FI分類-G01N 23/223 |
2015年07月01日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/16 K, FI分類-G01N 30/20 E |
2015年07月01日 特許庁 / 特許 | データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2015年07月01日 特許庁 / 特許 | データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 Y |
2015年06月29日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 H |
2015年06月29日 特許庁 / 特許 | 分析結果出力処理装置及び分析結果出力処理用プログラム FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 35/00 A |
2015年06月29日 特許庁 / 特許 | 真空装置、及び、これを備えた分析装置 FI分類-H01J 49/24, FI分類-H01J 49/40 |
2015年06月23日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ装置 FI分類-G01N 30/54 D |
2015年06月23日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/54 Z, FI分類-G01N 30/86 T |
2015年06月19日 特許庁 / 特許 | 顕微鏡 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01N 21/27 A |
2015年06月18日 特許庁 / 特許 | 送液ポンプ FI分類-F04B 53/00 A, FI分類-F04B 53/00 F |
2015年06月16日 特許庁 / 特許 | 認知脳活動計測システムおよび認知脳活動計測方法 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 5/14 322 |
2015年06月15日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/06 |
2015年06月12日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 E |
2015年06月11日 特許庁 / 特許 | レーザ装置 FI分類-G02B 6/42, FI分類-H01S 5/02, FI分類-H01S 5/40, FI分類-H01S 5/068 |
2015年06月11日 特許庁 / 特許 | カセグレン鏡保持機構及びこれを備えた顕微鏡、並びに、カセグレン鏡の取付方法 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 7/198, FI分類-G02B 17/00 Z |
2015年06月09日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプおよび質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-F04D 19/04 G |
2015年06月09日 特許庁 / 特許 | 絶縁処理装置 FI分類-B29C 39/10, FI分類-B29C 39/42 |
2015年06月09日 特許庁 / 特許 | フローコントローラ及びそれを用いたガスクロマトグラフ装置 FI分類-G01N 30/32 A |
2015年06月02日 特許庁 / 特許 | 放射線透視装置 FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/00 350 P |
2015年06月01日 特許庁 / 特許 | 分取クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/80 F |
2015年05月29日 特許庁 / 特許 | パーティクル計数装置 FI分類-G01N 15/06 C, FI分類-G01N 15/06 D |
2015年05月28日 特許庁 / 特許 | フローコントローラ、及び、これを備えたガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/32 A |
2015年05月28日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2015年05月27日 特許庁 / 特許 | タンパク質又はペプチドの解析方法及び解析装置 FI分類-G01N 27/62 V |
2015年05月27日 特許庁 / 特許 | ICP分析装置 FI分類-G01N 21/73 |
2015年05月27日 特許庁 / 特許 | 脳活動フィードバックシステム FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 5/14 322 |
2015年05月26日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A |
2015年05月25日 特許庁 / 特許 | 放射線透視装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z, FI分類-A61B 6/02 351 Z |
2015年05月25日 特許庁 / 特許 | 放射線透視装置 FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/02 350 |
2015年05月25日 特許庁 / 特許 | 分析用試料の調製方法および分析方法 FI分類-C07K 1/16, FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/48 A |
2015年05月25日 特許庁 / 特許 | 遠心分離による定容量分取又はさらに保管のための器具 FI分類-G01N 1/10 H, FI分類-G01N 1/10 N, FI分類-G01N 33/48 C |
2015年05月22日 特許庁 / 特許 | 放電イオン化検出器 FI分類-G01N 27/64 B |
2015年05月22日 特許庁 / 特許 | サプレッサシステム及びイオン交換樹脂カラムの寿命判定方法 FI分類-G01N 30/02 E, FI分類-G01N 30/96 A |
2015年05月22日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 20/02, FI分類-G01Q 30/04 |
2015年05月22日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置および画像処理プログラム FI分類-G06T 5/00 710, FI分類-A61B 6/00 350 D, FI分類-A61B 6/00 350 M |
2015年05月21日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用オーブン及びそれを用いたクロマトグラフ FI分類-G01N 30/54 J |
2015年05月21日 特許庁 / 特許 | 皮膚外用剤及び皮膚刺激低減剤 FI分類-A61P 3/06, FI分類-A61K 31/13, FI分類-A61K 31/27, FI分類-A61K 31/47, FI分類-A61K 47/34, FI分類-A61P 25/28 |
2015年05月20日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 35/00 E |
2015年05月20日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプおよび質量分析装置 FI分類-F04D 19/04 D |
2015年05月19日 特許庁 / 特許 | イメージング装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 5/10 300 A |
2015年05月19日 特許庁 / 特許 | 脳内のアミロイドβペプチド蓄積状態を評価するサロゲート・バイオマーカー及びその分析方法 FI分類-G01N 33/68 |
2015年05月19日 特許庁 / 特許 | クロマトグラムデータ処理装置及びプログラム FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 G |
2015年05月19日 特許庁 / 特許 | 脳内のアミロイドβペプチド蓄積状態を評価するサロゲート・バイオマーカー及びその分析方法 FI分類-C07K 14/47, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/68 ZNA |
2015年05月18日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置 FI分類-H04N 5/21 B, FI分類-H04N 5/232 Z, FI分類-G06T 5/00 705, FI分類-A61B 6/00 350 P, FI分類-G06T 1/00 290 A |
2015年05月15日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2015年05月13日 特許庁 / 特許 | 歯車ポンプ FI分類-F04C 15/00 B, FI分類-F04C 2/18 321 A |
2015年05月12日 特許庁 / 特許 | 受動Qスイッチレーザ及びその動作最適化方法 FI分類-G02F 1/37, FI分類-H01S 3/113, FI分類-H01S 3/0941 |
2015年05月08日 特許庁 / 特許 | 波長変換素子及びレーザ装置 FI分類-G02F 1/37, FI分類-G02F 1/377, FI分類-H01S 3/10 Z |
2015年04月29日 特許庁 / 特許 | 質量分析計 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/28, FI分類-H01J 49/40 |
2015年04月28日 特許庁 / 特許 | 分析システム、分光蛍光光度計、演算処理装置および演算処理装置用プログラム FI分類-G01N 21/64 Z |
2015年04月27日 特許庁 / 特許 | イメージング装置 FI分類-A61B 10/00 E |
2015年04月24日 特許庁 / 特許 | 光学分析装置 FI分類-G01N 21/17 D, FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 21/59 Z, FI分類-G01N 21/64 Z |
2015年04月24日 特許庁 / 特許 | 光学分析装置及びその製造方法 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 37/00 101 |
2015年04月24日 特許庁 / 特許 | 光学測定装置 FI分類-G01N 21/05, FI分類-G01N 21/59 Z |
2015年04月22日 特許庁 / 特許 | 前処理装置 FI分類-G01N 35/10 F, FI分類-G01N 1/00 101 N |
2015年04月21日 特許庁 / 特許 | 細胞の分化状態の評価方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C12N 5/095, FI分類-C12N 5/0735 |
2015年04月21日 特許庁 / 特許 | 細胞の分化状態の評価方法 FI分類-C12N 5/10, FI分類-C12Q 1/04, FI分類-G01N 33/68, FI分類-C12N 5/0735, FI分類-C12N 5/0789 |
2015年04月16日 特許庁 / 特許 | フーリエ変換型分光光度計 FI分類-G01J 3/45 |
2015年04月14日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 10/02 101, FI分類-G01Q 10/04 101 |
2015年04月10日 特許庁 / 特許 | 水質分析装置 FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 31/00 J, FI分類-G01N 31/00 N, FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 33/18 106 Z |
2015年04月08日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/32, FI分類-G01N 30/86 V |
2015年04月03日 特許庁 / 特許 | フラクションコレクタ FI分類-G01N 30/80 F |
2015年04月03日 特許庁 / 特許 | 分取クロマトグラフ FI分類-G01N 30/80 F, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 Q |
2015年04月03日 特許庁 / 特許 | 歯車ポンプ又はモータ FI分類-F03C 2/08 A, FI分類-F04C 15/00 B, FI分類-F04C 2/18 321 B |
2015年04月03日 特許庁 / 特許 | モジュラー型分析システム FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/86 Q, FI分類-G01N 35/00 F |
2015年04月03日 特許庁 / 特許 | モジュラー型分析システム FI分類-G01N 30/86 P, FI分類-G01N 35/00 F |
2015年03月30日 特許庁 / 特許 | 非破壊検査方法 FI分類-G01N 27/82 |
2015年03月25日 特許庁 / 特許 | フローセル FI分類-G01N 21/05 |
2015年03月25日 特許庁 / 特許 | 硬さ試験機 FI分類-G01N 3/42 Z |
2015年03月20日 特許庁 / 特許 | PDFデータ取り出しシステム及びPDFデータ取り出しシステム用プログラム FI分類-G06F 17/22 664 |
2015年03月20日 特許庁 / 特許 | 変位測定装置および材料試験機 FI分類-G01B 5/30, FI分類-G01N 3/08 |
2015年03月20日 特許庁 / 特許 | 異物解析装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 21/3563, FI分類-G01N 23/22 330 |
2015年03月20日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2015年03月19日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 35/04, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 35/04 H |
2015年03月19日 特許庁 / 特許 | キャピラリー電気泳動装置及びキャピラリー電気泳動による試料分析方法 FI分類-G01N 27/26 331 E |
2015年03月19日 特許庁 / 特許 | キャピラリ電気泳動装置 FI分類-G01N 27/26 331 H |
2015年03月19日 特許庁 / 特許 | 搬送用容器保持具及びこれを備えたサンプリング装置 FI分類-G01N 35/04 H, FI分類-G01N 35/10 C |
2015年03月19日 特許庁 / 特許 | 示差屈折率検出器及び液体クロマトグラフ FI分類-G01N 21/11, FI分類-G01N 21/41 B, FI分類-G01N 30/74 Z |
2015年03月19日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用制御装置 FI分類-G01N 21/27 Z, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/86 Q |
2015年03月18日 特許庁 / 特許 | 液化二酸化炭素送液ポンプとそれを備えた超臨界流体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/32 C |
2015年03月18日 特許庁 / 特許 | 液化二酸化炭素送液ポンプとそれを備えた超臨界流体クロマトグラフ FI分類-F04B 15/06, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/32 C |
2015年03月18日 特許庁 / 特許 | X線検査装置 FI分類-A61B 6/04 309 C |
2015年03月18日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 E |
2015年03月18日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 E |
2015年03月17日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-G01T 1/17 D, FI分類-G21K 1/04 R, FI分類-G21K 5/02 X, FI分類-A61B 6/00 320 Z, FI分類-A61B 6/08 309 Z |
2015年03月17日 特許庁 / 特許 | コントロールバルブ FI分類-F16K 15/18 E, FI分類-F16K 47/02 D |
2015年03月16日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ及び液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/34 Z, FI分類-G01N 1/00 101 G, FI分類-G01N 1/00 101 L |
2015年03月13日 特許庁 / 特許 | 前処理装置及びこれを備えた分析システム FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/72 G, FI分類-G01N 30/86 Q |
2015年03月13日 特許庁 / 特許 | フーリエ変換型分光光度計 FI分類-G01J 3/45 |
2015年03月11日 特許庁 / 特許 | X線撮影用検診台およびX線撮影用検診台のストッパ機構 FI分類-A61B 6/10 353, FI分類-A61B 6/04 332 P |
2015年03月11日 特許庁 / 特許 | 軸心調整装置および材料試験機 FI分類-G01N 3/02 F |
2015年03月11日 特許庁 / 特許 | パーティクル計数装置及びそれを用いたパーティクル計数システム FI分類-G01N 15/06 C, FI分類-G01N 15/06 D |
2015年03月11日 特許庁 / 特許 | 液中電位測定用電極装置および液中電位測定システム FI分類-G01R 19/00 Q, FI分類-G01R 29/12 F, FI分類-G01N 27/38 331 |
2015年03月11日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 30/24 Z |
2015年03月09日 特許庁 / 特許 | 平行平板型不均一電場イオン移動度分光装置 FI分類-G01N 27/62 102 |
2015年03月06日 特許庁 / 特許 | 放射線位相差撮影装置 FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2015年03月05日 特許庁 / 特許 | 磁気軸受装置 FI分類-G01B 7/14, FI分類-F16C 32/04 A |
2015年03月05日 特許庁 / 特許 | 光計測装置 FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-A61B 5/14 322, FI分類-G01N 21/17 610 |
2015年03月04日 特許庁 / 特許 | 電気加温法を用いた土壌浄化方法のための井戸構造体 FI分類-B09B 3/00 ZAB, FI分類-B09B 3/00 303 P |
2015年03月04日 特許庁 / 特許 | 電気加温法を用いた土壌浄化装置 FI分類-B09B 3/00 ZAB, FI分類-B09B 3/00 303 P |
2015年03月04日 特許庁 / 特許 | 蛍光誘導体化試薬及びアミン分析方法 FI分類-G01N 33/02, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 33/50 B, FI分類-C07D 251/26 CSP |
2015年03月02日 特許庁 / 特許 | データ処理システム及びこれに用いられる電子天秤 FI分類-G01G 23/01 Z |
2015年03月02日 特許庁 / 特許 | 撮像装置の制御装置 FI分類-H04N 5/232 Z |
2015年02月26日 特許庁 / 特許 | 焦電型赤外線検出器 FI分類-G01J 1/02 Y |
2015年02月26日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 333, FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 350 S |
2015年02月25日 特許庁 / 特許 | 含有蛍光成分数決定方法及びその含有蛍光成分数決定方法を用いた分光蛍光光度計 FI分類-G01N 21/64 B |
2015年02月25日 特許庁 / 特許 | 気泡径分布測定方法及び気泡径分布測定装置 FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 15/02 D |
2015年02月25日 特許庁 / 特許 | ファインバブル分離方法及びファインバブル分離装置 FI分類-G01N 1/10 H, FI分類-G01N 1/10 J |
2015年02月24日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2015年02月20日 特許庁 / 特許 | 製造装置 FI分類-C23C 16/48, FI分類-C23C 16/54, FI分類-C23C 14/56 G, FI分類-C23C 14/56 J, FI分類-H01L 21/31 C, FI分類-H01L 21/68 A |
2015年02月20日 特許庁 / 特許 | 試料前処理装置及びこれを備えた分析装置、並びに、試料前処理方法 FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-G01N 30/04 A, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/88 F, FI分類-G01N 33/48 A |
2015年02月17日 特許庁 / 特許 | イオン分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 101 |
2015年02月16日 特許庁 / 特許 | 分光蛍光光度計及びそれに用いられる補正関数作成方法 FI分類-G01J 3/443, FI分類-G01J 3/02 C, FI分類-G01N 21/64 Z |
2015年02月16日 特許庁 / 特許 | 試料気化ユニット及びガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/12 A |
2015年02月16日 特許庁 / 特許 | ノイズレベル推定方法、測定データ処理装置、及び測定データ処理用プログラム FI分類-G01N 30/86 L |
2015年02月10日 特許庁 / 特許 | アミノ酸配列分析装置 FI分類-G01N 33/68, FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/88 F, FI分類-G01N 35/00 C |
2015年02月09日 特許庁 / 特許 | 光学分析装置 FI分類-G01N 21/01 D, FI分類-G01N 21/27 Z |
2015年02月05日 特許庁 / 特許 | 電磁駆動式コントロールバルブ FI分類-H01F 7/18 S, FI分類-F16K 31/06 320 A |
2015年02月04日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/66, FI分類-G01N 30/32 Z, FI分類-G01N 30/86 D |
2015年02月03日 特許庁 / 特許 | 放射線治療用動体追跡装置、放射線治療用照射領域決定装置および放射線治療装置 FI分類-A61N 5/10 J, FI分類-A61N 5/10 M, FI分類-A61N 5/10 P, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/03 377 |
2015年01月30日 特許庁 / 特許 | 医用システム FI分類-G06Q 50/24 110 |
2015年01月30日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子操作用デバイスおよび磁性体粒子の操作方法 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-B01J 19/08 D |
2015年01月28日 特許庁 / 特許 | 脱気装置 FI分類-B01D 61/00, FI分類-B01D 19/00 H, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/26 Z, FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/86 G |
2015年01月26日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 30/24 E, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/32 A |
2015年01月26日 特許庁 / 特許 | 3次元スペクトルデータ処理装置及び処理方法 FI分類-G01N 27/62 D |
2015年01月26日 特許庁 / 特許 | ノイズレベル推定方法、測定データ処理装置、及び測定データ処理用プログラム FI分類-G01N 30/86 L |
2015年01月23日 特許庁 / 特許 | パルスレーザ装置 FI分類-H01S 3/113, FI分類-H01S 3/0941, FI分類-H01S 5/042 630 |
2015年01月22日 特許庁 / 特許 | レーザモジュール及びレーザ装置 FI分類-G02F 1/37, FI分類-H01S 3/30, FI分類-H01S 3/109, FI分類-H01S 3/0941, FI分類-G02F 1/35 502 |
2015年01月22日 特許庁 / 特許 | X線検出器の感度補正係数算出システム及びX線分析装置 FI分類-G01N 23/20, FI分類-G01T 1/17 E |
2015年01月22日 特許庁 / 特許 | X線分析装置 FI分類-G01N 23/20 320 |
2015年01月22日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及びイオン移動度分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 101 |
2015年01月21日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及びクロマトグラフ質量分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D |
2015年01月21日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 B |
2015年01月20日 特許庁 / 特許 | X線装置 FI分類-A61B 6/00 350 P |
2015年01月20日 特許庁 / 特許 | 構造体および成膜方法 FI分類-C23C 16/42, FI分類-C23C 16/509, FI分類-B32B 15/08 M, FI分類-C23C 14/14 B, FI分類-C23C 14/20 A |
2015年01月19日 特許庁 / 特許 | カラムとニードルの相互接続機構 FI分類-G01N 30/60 P, FI分類-G01N 30/60 Q, FI分類-G01N 30/80 F |
2015年01月19日 特許庁 / 特許 | キャピラリ電気泳動装置及びそれに用いるキャピラリカセット FI分類-G01N 37/00 102, FI分類-G01N 27/26 331 G, FI分類-G01N 27/26 331 H, FI分類-G01N 27/26 331 K |
2015年01月16日 特許庁 / 特許 | 放射線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2015年01月15日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子操作用デバイスおよび磁性体粒子の操作方法 FI分類-C12M 1/28, FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C12M 1/34 A, FI分類-G01N 1/10 C, FI分類-B01J 19/08 D, FI分類-B01J 19/08 J |
2015年01月15日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置 FI分類-H04N 5/217, FI分類-A61B 6/00 330 B, FI分類-A61B 6/00 350 P |
2015年01月14日 特許庁 / 特許 | 嗅覚検査装置 FI分類-A61B 10/00 X |
2015年01月14日 特許庁 / 特許 | アナログ信号処理回路、物理量測定装置および材料試験機 FI分類-G01N 3/08 |
2015年01月14日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体-液体クロマトグラフとその分析方法 FI分類-G01N 30/36, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/34 A, FI分類-G01N 30/34 E |
2015年01月13日 特許庁 / 特許 | 質量分析データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2015年01月09日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 350 A |
2015年01月09日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/02 300 F |
2015年01月09日 特許庁 / 特許 | 放射線画像生成方法および画像処理装置 FI分類-A61B 6/02 301 D, FI分類-A61B 6/03 350 R, FI分類-A61B 6/03 360 Q |
2015年01月07日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ FI分類-F16K 3/06 B, FI分類-F16K 51/02 B |
2015年01月07日 特許庁 / 特許 | APP切断型ペプチドの測定方法 FI分類-C07K 14/47, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 33/68 ZNA |
2015年01月06日 特許庁 / 特許 | X線分析装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 1/17 D, FI分類-G01T 1/17 F |
2015年01月05日 特許庁 / 特許 | 自動試料採取装置 FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 1/00 101 K |
2015年01月05日 特許庁 / 特許 | ATR測定用対物光学系 FI分類-G02B 13/14, FI分類-G02B 21/10, FI分類-G01N 21/552, FI分類-G02B 17/08 Z |
2014年12月26日 特許庁 / 特許 | 光学観察装置 FI分類-G02B 21/36 |
2014年12月25日 特許庁 / 特許 | 光学分析装置 FI分類-G01N 21/01 D |
2014年12月25日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ FI分類-F16K 3/16, FI分類-F16K 31/04 K, FI分類-F16K 31/04 Z, FI分類-F16K 37/00 D, FI分類-F16K 37/00 M |
2014年12月25日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/03 377, FI分類-A61B 6/00 350 P |
2014年12月25日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 G |
2014年12月24日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/08 310 |
2014年12月24日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 333, FI分類-A61B 6/00 350 S, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2014年12月22日 特許庁 / 特許 | バイアルインサート及びバイアルインサートシート FI分類-G01N 1/10 N, FI分類-G01N 30/24 Z |
2014年12月22日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子操作用装置 FI分類-B03C 1/12, FI分類-B01J 19/08 D, FI分類-G01N 35/02 Z |
2014年12月22日 特許庁 / 特許 | 分析データ処理方法及び装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/64 B |
2014年12月19日 特許庁 / 特許 | イオンクロマトグラフ用装置、イオンクロマトグラフ、イオン成分分析方法及び電解質溶液生成方法 FI分類-G01N 27/08, FI分類-G01N 30/02 B, FI分類-G01N 30/02 E, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/64 A |
2014年12月19日 特許庁 / 特許 | イオンクロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 E, FI分類-G01N 30/32 F, FI分類-G01N 30/32 Z |
2014年12月18日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体分離装置 FI分類-G01N 30/36, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/26 N, FI分類-G01N 30/86 V |
2014年12月16日 特許庁 / 特許 | データ収集装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2014年12月16日 特許庁 / 特許 | 真空装置及びこれを備えた質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-F16K 3/18 Z, FI分類-F16K 51/02 B, FI分類-G01N 27/62 F |
2014年12月16日 特許庁 / 特許 | サンプリング部及びそれを備えたICP質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 G |
2014年12月16日 特許庁 / 特許 | コントロールバルブ FI分類-F15B 11/00 D |
2014年12月15日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/08 L, FI分類-G01N 30/26 M |
2014年12月12日 特許庁 / 特許 | マトリックス膜形成装置 FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/64 B |
2014年12月12日 特許庁 / 特許 | 受動Qスイッチレーザ FI分類-H01S 3/113, FI分類-H01S 3/136 |
2014年12月11日 特許庁 / 特許 | フィードバック制御装置 FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G05B 11/36 N, FI分類-G05B 11/42 Z, FI分類-G05D 16/20 C |
2014年12月11日 特許庁 / 特許 | 乳房検査用画像撮影装置 FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-G01T 1/161 Z |
2014年12月08日 特許庁 / 特許 | 高速度撮影システム FI分類-G03B 7/093, FI分類-G03B 15/00 R, FI分類-G03B 15/00 T, FI分類-H04N 5/225 Z |
2014年12月08日 特許庁 / 特許 | 多次元質量分析データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/46 A, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C |
2014年12月03日 特許庁 / 特許 | タイヤ圧縮試験機 FI分類-G01M 17/02 B |
2014年11月26日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ用制御装置 FI分類-F04D 19/04 H |
2014年11月25日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 30/14, FI分類-G01Q 60/32 |
2014年11月25日 特許庁 / 特許 | クリンプアタッチメント及びクリンプ装置 FI分類-G01N 25/20 D |
2014年11月25日 特許庁 / 特許 | 粒子解析装置及び粒子解析方法 FI分類-G01N 15/00 Z, FI分類-G01N 15/02 B |
2014年11月21日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 10/06, FI分類-G01Q 60/24, FI分類-G01Q 60/50 |
2014年11月21日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡用データ表示処理装置、走査型プローブ顕微鏡用データ表示処理方法及び制御プログラム FI分類-G01Q 30/04 |
2014年11月17日 特許庁 / 特許 | 粒子操作方法および粒子操作用装置 FI分類-B01F 13/10, FI分類-G01N 33/553, FI分類-G01N 33/558 |
2014年11月17日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 B |
2014年11月11日 特許庁 / 特許 | 液採取装置及びその液採取装置を備えた自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 C |
2014年11月11日 特許庁 / 特許 | 原子吸光光度計及び原子吸光測定方法 FI分類-G01N 21/31 610 A, FI分類-G01N 21/31 610 C |
2014年11月11日 特許庁 / 特許 | 自動分析システム FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/04 H |
2014年11月06日 特許庁 / 特許 | 分析装置システム及び該システム用プログラム FI分類-G01N 35/00 E |
2014年10月31日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 21/78 Z, FI分類-G01N 31/00 F, FI分類-G01N 31/00 Y |
2014年10月30日 特許庁 / 特許 | ロータ位置検出装置及びロータリバルブ FI分類-F16K 37/00 D, FI分類-G01D 5/249 T, FI分類-F16K 11/076 Z, FI分類-G01D 5/347 110 A |
2014年10月30日 特許庁 / 特許 | 放射線検出器 FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 F, FI分類-G01T 1/20 G |
2014年10月30日 特許庁 / 特許 | X線装置 FI分類-G21K 5/02 X, FI分類-A61B 6/00 300 B, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2014年10月29日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X, FI分類-A61B 6/00 360 Z |
2014年10月29日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置 FI分類-A61B 6/00 350 D, FI分類-A61B 6/00 350 Z |
2014年10月27日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフを用いたマルチ定量分析方法 FI分類-G01N 30/04 P, FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/86 J |
2014年10月24日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 30/18 |
2014年10月22日 特許庁 / 特許 | イメージング装置 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 19/00 502, FI分類-G06T 1/00 290 Z |
2014年10月22日 特許庁 / 特許 | 放射線検出器 FI分類-G01T 1/202, FI分類-G01T 1/20 C, FI分類-G01T 1/20 E, FI分類-G01T 1/20 G, FI分類-G01T 1/20 L, FI分類-G01T 1/161 E |
2014年10月22日 特許庁 / 特許 | 診断システム FI分類-G06Q 50/22, FI分類-A61B 6/00 321 |
2014年10月22日 特許庁 / 特許 | イメージング装置 FI分類-G06T 5/50, FI分類-A61B 90/00, FI分類-G06T 7/90 B, FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-G01N 21/64 F |
2014年10月21日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/00 W, FI分類-G01N 3/32 C |
2014年10月20日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H02M 7/10 B, FI分類-H02M 7/10 Z, FI分類-G01N 27/62 G |
2014年10月17日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 G |
2014年10月15日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフシステムとその制御方法 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 30/54 D, FI分類-G01N 30/86 V |
2014年10月14日 特許庁 / 特許 | 水質分析計 FI分類-G01N 21/75 Z, FI分類-G01N 21/78 Z, FI分類-G01N 31/00 F, FI分類-G01N 31/00 N, FI分類-G01N 31/00 V, FI分類-G01N 33/18 Z |
2014年10月10日 特許庁 / 特許 | 熱伝導度検出器及びガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/66 |
2014年10月09日 特許庁 / 特許 | 熱分解ガスクロマトグラフ質量分析装置の校正方法 FI分類-G01N 30/04 P, FI分類-G01N 30/06 G, FI分類-G01N 1/00 102 B |
2014年10月08日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 302, FI分類-A61B 6/00 300 Y, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2014年10月03日 特許庁 / 特許 | 放射線断層撮影装置 FI分類-G01T 1/161 A |
2014年10月03日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 333, FI分類-A61B 6/00 320 Z, FI分類-A61B 6/00 350 D, FI分類-A61B 6/00 350 S, FI分類-A61B 6/00 350 Z |
2014年10月02日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/10 350, FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2014年10月01日 特許庁 / 特許 | 光計測装置および同時点灯可能な送光点群の抽出方法 FI分類-G01N 21/359, FI分類-A61B 5/14 322 |
2014年09月24日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 H |
2014年09月22日 特許庁 / 特許 | X線透視装置、放射線治療用動体追跡装置及びX線検出器 FI分類-A61N 5/10 M, FI分類-A61B 6/00 370, FI分類-A61B 6/02 350, FI分類-A61B 6/00 300 J |
2014年09月22日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 Z, FI分類-A61B 6/00 330 Z |
2014年09月18日 特許庁 / 特許 | イメージセンサの信号処理装置及び信号読出方法 FI分類-G01J 1/44 N, FI分類-H04N 5/335 530, FI分類-H04N 5/335 780 |
2014年09月18日 特許庁 / 特許 | 硬さ試験機 FI分類-G01N 3/42 Z |
2014年09月18日 特許庁 / 特許 | 位置決め装置及び位置決め装置の作動方法 FI分類-A61N 5/10 M, FI分類-A61N 5/10 P |
2014年09月18日 特許庁 / 特許 | DRR画像作成方法およびDRR画像作成装置 FI分類-A61N 5/10 M, FI分類-A61B 6/03 377 |
2014年09月18日 特許庁 / 特許 | 試料回収容器の搭載加熱機構 FI分類-G01N 1/28 K, FI分類-G01N 1/28 Z, FI分類-G01N 30/80 F |
2014年09月18日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2014年09月17日 特許庁 / 特許 | X線装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 350 A, FI分類-A61B 6/00 350 P, FI分類-A61B 6/00 350 S |
2014年09月17日 特許庁 / 特許 | 被検体固定具 FI分類-A61B 6/04 331 F |
2014年09月17日 特許庁 / 特許 | 気液分離器及び超臨界流体装置 FI分類-B01J 3/00 A, FI分類-G01N 1/10 J, FI分類-B01D 19/00 E, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/80 A |
2014年09月17日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/42, FI分類-H02M 3/00 H, FI分類-G01N 27/62 G |
2014年09月10日 特許庁 / 特許 | 光ファイバ出力型多波長レーザ光源装置 FI分類-H01S 5/40, FI分類-H01S 5/0683 |
2014年09月10日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F16C 19/06, FI分類-F16C 35/077, FI分類-F04D 19/04 A, FI分類-F16C 27/06 B, FI分類-F16C 37/00 B |
2014年09月09日 特許庁 / 特許 | コリメータ用光源装置 FI分類-A61B 6/08 301 |
2014年09月09日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ及びこれに用いられる流量制御装置 FI分類-G01N 30/32 A |
2014年09月03日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2014年09月03日 特許庁 / 特許 | 半導体レーザ励起固体レーザ装置及びレーザ光の出力方法 FI分類-G02F 1/37, FI分類-H01S 3/109, FI分類-H01S 3/04 L, FI分類-H01S 3/094 S |
2014年09月03日 特許庁 / 特許 | 回診用X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310 |
2014年09月03日 特許庁 / 特許 | クロマトグラムデータ処理方法及び装置 FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 G |
2014年09月02日 特許庁 / 特許 | 前処理キット、その前処理キットを用いて試料の前処理を行なう前処理装置及びその前処理装置を備えた分析システム FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 1/10 F, FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/04 G, FI分類-G01N 1/00 101 H |
2014年09月02日 特許庁 / 特許 | 前処理装置及びこれを備えた分析システム FI分類-G01N 1/10 C, FI分類-G01N 1/10 N, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 1/00 101 F |
2014年09月02日 特許庁 / 特許 | 前処理装置及びこれを備えた分析システム FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 1/10 F, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 35/04 G |
2014年09月02日 特許庁 / 特許 | 前処理装置及びこれを備えた分析システム FI分類-G01N 1/10 C, FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-G01N 30/06 Z, FI分類-G01N 1/00 101 F |
2014年09月02日 特許庁 / 特許 | 前処理キット、その前処理キットを用いて試料の前処理を行なう前処理装置及びその前処理装置を備えた分析システム FI分類-B01D 15/12, FI分類-G01N 1/10 B, FI分類-G01N 30/00 Z, FI分類-G01N 30/06 Z |
2014年08月29日 特許庁 / 特許 | 高周波電源装置 FI分類-H05H 1/30, FI分類-H05H 1/36, FI分類-G01N 21/73, FI分類-H02M 7/48 A, FI分類-H02M 7/48 Z, FI分類-H05H 1/46 R, FI分類-H02M 7/5387 Z |
2014年08月29日 特許庁 / 特許 | 核医学診断装置 FI分類-G01T 1/161 E |
2014年08月29日 特許庁 / 特許 | ステアバイワイヤ方式の操舵システム FI分類-B62D 6/00, FI分類-B62D 5/06 B |
2014年08月28日 特許庁 / 特許 | 電子捕獲検出器とそれを備えたガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/70, FI分類-G01N 27/64 A, FI分類-G01N 30/32 Z, FI分類-G01N 30/62 A |
2014年08月28日 特許庁 / 特許 | 電子捕獲検出器とそれを備えたガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/70, FI分類-G01N 27/64 A |
2014年08月28日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 30/36, FI分類-G01N 25/14 B, FI分類-G01N 30/02 N |
2014年08月27日 特許庁 / 特許 | 気泡径分布測定方法及び気泡径分布測定装置 FI分類-G01N 15/02 A, FI分類-G01N 15/02 C |
2014年08月25日 特許庁 / 特許 | 計測機器用制御装置、計測機器の制御方法及び制御プログラム FI分類-G01N 30/86 Z, FI分類-G05B 19/05 Z |
2014年08月20日 特許庁 / 特許 | 分析装置管理システム FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F |
2014年08月20日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ及びこれを備えた分析装置 FI分類-G01N 1/22 Y, FI分類-G01N 30/04 A, FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 1/00 101 R |
2014年08月19日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42 |
2014年08月11日 特許庁 / 特許 | X線診断装置 FI分類-A61B 6/00 310, FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X |
2014年08月11日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影用ファントム FI分類-A61B 6/00 390 A |
2014年08月08日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42 |
2014年08月06日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/00 T |
2014年08月06日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ FI分類-F16K 3/10, FI分類-F16K 51/02 B |
2014年08月05日 特許庁 / 特許 | 光学的検出器 FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 30/74 F |
2014年07月31日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 10/02, FI分類-G01Q 60/24 |
2014年07月31日 特許庁 / 特許 | 電気泳動装置 FI分類-G01N 27/26 315 K, FI分類-G01N 27/26 325 D, FI分類-G01N 27/26 325 Z, FI分類-G01N 27/26 331 E |
2014年07月30日 特許庁 / 特許 | 質量分析データ処理装置及び質量分析データ処理方法 FI分類-G01N 27/62 D |
2014年07月29日 特許庁 / 特許 | 真空バルブ FI分類-F16K 3/04 Z, FI分類-F16K 27/00 C, FI分類-F16K 51/02 B |
2014年07月29日 特許庁 / 特許 | 試料分析システム FI分類-G01N 35/02 C |
2014年07月25日 特許庁 / 特許 | 分光測定装置 FI分類-G01J 3/26, FI分類-G01N 21/65 |
2014年07月25日 特許庁 / 特許 | 磁性ビーズを用いた糖鎖又は糖ペプチドの精製濃縮方法 FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 V |
2014年07月23日 特許庁 / 特許 | 画像解析装置 FI分類-A61B 6/00 350 A, FI分類-A61B 6/00 350 P |
2014年07月16日 特許庁 / 特許 | 内圧疲労試験機 FI分類-G01N 3/36 |
2014年07月16日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/08 |
2014年07月11日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法並びにクロマトグラフ分析システム FI分類-G01N 30/86 J |
2014年07月11日 特許庁 / 特許 | 圧力制御装置および真空システム FI分類-H02M 7/48 F, FI分類-H02P 7/74 A, FI分類-H02P 7/74 J, FI分類-H02P 7/63 302 D, FI分類-H02P 7/63 302 K |
2014年07月11日 特許庁 / 特許 | 前処理装置 FI分類-G01N 1/10 F, FI分類-G01N 1/28 Y, FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/04 G |
2014年07月09日 特許庁 / 特許 | 流量調整装置及びこれを備えた分析装置 FI分類-G05D 7/06 Z, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 1/00 101 T |
2014年07月08日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 C |
2014年07月08日 特許庁 / 特許 | 上皮間葉転換の有無を判別する方法 FI分類-C12Q 1/06, FI分類-G01N 33/68, FI分類-C12Q 1/68 A, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/88 F, FI分類-G01N 33/15 Z, FI分類-G01N 33/50 Z, FI分類-C12N 5/00 202 V |
2014年07月08日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-G01T 1/202, FI分類-G01T 1/20 B, FI分類-G01T 1/20 F, FI分類-G01T 1/20 G, FI分類-G01T 1/20 J, FI分類-C09K 11/00 E, FI分類-G01T 1/161 C, FI分類-C09K 11/79 CPR |
2014年07月08日 特許庁 / 特許 | 成膜装置および成膜方法 FI分類-C23C 14/34 M, FI分類-C23C 14/34 R, FI分類-C23C 14/34 T |
2014年07月07日 特許庁 / 特許 | 採便容器 FI分類-G01N 1/04 G, FI分類-G01N 1/04 J, FI分類-G01N 33/48 G |
2014年07月04日 特許庁 / 特許 | 画像再構成処理方法 FI分類-G01T 1/161 C, FI分類-A61B 6/03 350 T |
2014年07月03日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 41/10 |
2014年07月03日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置及びプログラム FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 G |
2014年07月02日 特許庁 / 特許 | 前処理装置 FI分類-G01N 1/10 F, FI分類-G01N 1/28 L, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/04 G |
2014年06月26日 特許庁 / 特許 | 真空容器の形成方法 FI分類-B23K 1/20 D, FI分類-B23K 1/20 J, FI分類-B23K 101:40, FI分類-H01L 23/02 C, FI分類-H01L 23/02 F, FI分類-B23K 1/00 330 E |
2014年06月25日 特許庁 / 特許 | 超臨界流体を用いた成分抽出分離装置及び成分抽出分離方法 FI分類-G01N 30/30, FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/84 Z |
2014年06月24日 特許庁 / 特許 | 包括的2次元クロマトグラフ用データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/46 A, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 M |
2014年06月24日 特許庁 / 特許 | 制御装置 FI分類-G01N 30/86 Q, FI分類-G01N 35/00 E |
2014年06月19日 特許庁 / 特許 | 電子ビーム装置並びに電子ビーム装置の制御装置及び制御方法 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/248 B, FI分類-H01J 37/248 C, FI分類-H01J 37/252 A |
2014年06月18日 特許庁 / 特許 | 遺伝子多型解析装置 FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-G01N 21/78 C |
2014年06月17日 特許庁 / 特許 | ラマン分光分析装置 FI分類-G01N 21/65 |
2014年06月17日 特許庁 / 特許 | 光合成レーザ装置 FI分類-G02B 6/42, FI分類-H01S 5/40, FI分類-H01S 5/022, FI分類-G02B 6/02 401 |
2014年06月16日 特許庁 / 特許 | 分光測定装置、液体クロマトグラフ及び分光器の波長校正方法 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/02 C, FI分類-G01N 30/74 E |
2014年06月13日 特許庁 / 特許 | 代謝物解析システム及び代謝物解析方法 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V |
2014年06月12日 特許庁 / 特許 | 分析装置用制御装置 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 30/86 Q, FI分類-G01N 35/00 E |
2014年06月12日 特許庁 / 特許 | 質量分析用データ処理装置及び同装置用プログラム FI分類-G01N 27/62 D |
2014年06月12日 特許庁 / 特許 | ファイバカップリングモジュール FI分類-G02B 6/42 |
2014年06月11日 特許庁 / 特許 | 両親媒性ブロックポリマーを用いた分子集合体、及びそれを用いた物質搬送用キャリア FI分類-A61K 9/51, FI分類-B82Y 5/00, FI分類-A61K 47/34, FI分類-B82Y 30/00, FI分類-C08G 81/00, FI分類-A61K 49/00 A |
2014年06月11日 特許庁 / 特許 | 液体試料導入装置 FI分類-G01N 30/20 A, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/26 Q, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2014年06月09日 特許庁 / 特許 | 光計測装置および光計測方法 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 5/14 322, FI分類-G01N 21/35 107 |
2014年06月04日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 C |
2014年06月03日 特許庁 / 特許 | 培地用バルブ及びこれを備えた培地供給システム FI分類-C12M 3/00 Z |
2014年06月03日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 D |
2014年06月03日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 D |
2014年06月02日 特許庁 / 特許 | 粒度分布測定方法、並びに、粒度分布測定装置及びその制御プログラム FI分類-G01N 15/02 A |
2014年06月02日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/08 310, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2014年06月02日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置およびX線撮影装置の作動方法 FI分類-A61B 6/00 331 E, FI分類-A61B 6/00 350 S |
2014年05月29日 特許庁 / 特許 | 蛍光X線分析装置 FI分類-G01N 23/223 |
2014年05月28日 特許庁 / 特許 | 歯車ポンプ又はモータ FI分類-F04C 2/18 321 A, FI分類-F04C 2/18 321 B |
2014年05月27日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/04 332 P |
2014年05月27日 特許庁 / 特許 | 分析データ処理装置 FI分類-G01N 21/27 A, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X |
2014年05月26日 特許庁 / 特許 | 定量用データ処理装置 FI分類-G01N 30/86 J, FI分類-G01N 35/00 A |
2014年05月23日 特許庁 / 特許 | カラム取付装置及びカラム位置決め具 FI分類-G01N 30/26 N, FI分類-G01N 30/60 P |
2014年05月23日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子の操作方法 FI分類-C07K 1/22, FI分類-C12M 1/26, FI分類-C12N 1/02, FI分類-C12Q 1/02, FI分類-B03C 1/00 A, FI分類-C12N 1/00 T, FI分類-C12Q 1/68 Z, FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-G01N 33/553, FI分類-B01D 15/00 M, FI分類-B01J 19/08 D, FI分類-B01J 20/28 Z, FI分類-B01J 20/34 G, FI分類-B01D 15/02 102, FI分類-G01N 33/543 541 A |
2014年05月23日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子の操作方法 FI分類-C07K 1/22, FI分類-C12N 1/02, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12N 1/00 T, FI分類-B01J 19/08 D |
2014年05月21日 特許庁 / 特許 | フェルールかしめ装置 FI分類-G01N 30/26 N, FI分類-G01N 30/60 P |
2014年05月21日 特許庁 / 特許 | 高周波電圧生成装置 FI分類-H01J 49/42 |
2014年05月20日 特許庁 / 特許 | クロマトグラムデータ処理装置 FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 J |
2014年05月20日 特許庁 / 特許 | 試料導入システム FI分類-G01N 1/00 C, FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/10 B, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2014年05月20日 特許庁 / 特許 | 光計測システムおよび光脳機能計測方法 FI分類-A61B 10/00 E, FI分類-A61B 5/14 322 |
2014年05月16日 特許庁 / 特許 | シリンジニードル一体型固相抽出装置及びそれを用いた試料前処理方法 FI分類-G01N 1/10 C, FI分類-G01N 30/06 Z |
2014年05月16日 特許庁 / 特許 | 周期分極反転用電極、周期分極反転構造の形成方法及び周期分極反転素子 FI分類-G02F 1/37 |
2014年05月16日 特許庁 / 特許 | カラム取付装置 FI分類-G01N 30/60 P |
2014年05月15日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置およびX線撮影装置の作動方法 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61M 25/00 312, FI分類-A61B 6/00 350 P |
2014年05月15日 特許庁 / 特許 | フェルール容器及びフェルール入りフェルール容器 FI分類-G01N 30/60 P, FI分類-G01N 30/60 Z |
2014年05月14日 特許庁 / 特許 | サンプリング装置 FI分類-G01N 35/06 C |
2014年05月14日 特許庁 / 特許 | 細胞培養デバイス FI分類-C12M 1/00 C |
2014年05月14日 特許庁 / 特許 | 分析装置 FI分類-G01N 35/00 E |
2014年05月14日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01N 3/04 G |
2014年05月13日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/08, FI分類-G01N 3/04 P |
2014年05月13日 特許庁 / 特許 | 振動試験装置 FI分類-G01M 7/00 B, FI分類-G01M 7/00 D |
2014年05月13日 特許庁 / 特許 | 異なる極性をもつ化合物を含む試料の一斉分析方法 FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/26 L, FI分類-G01N 30/88 C, FI分類-G01N 30/88 101 L |
2014年05月01日 特許庁 / 特許 | 放射線断層撮影装置 FI分類-A61B 6/02 301 D |
2014年04月28日 特許庁 / 特許 | トルク伝達機構 FI分類-F16D 43/20, FI分類-F16D 7/06 Z, FI分類-F16H 25/12 D, FI分類-F16H 27/04 Z |
2014年04月25日 特許庁 / 特許 | 非可逆機構 FI分類-F16D 41/10, FI分類-F16D 65/18, FI分類-F16D 125:36, FI分類-F16D 127:00, FI分類-F16D 63/00 R |
2014年04月24日 特許庁 / 特許 | 超音波疲労試験機および超音波疲労試験方法 FI分類-G01N 3/32 Z |
2014年04月23日 特許庁 / 特許 | 充填剤、その充填剤を用いたカラム FI分類-B01D 15/08, FI分類-B01J 20/22 D, FI分類-G01N 30/88 Q, FI分類-G01N 30/88 101 K, FI分類-G01N 30/88 201 X |
2014年04月23日 特許庁 / 特許 | タンパク質に対する親和性評価のための分析方法及びその装置 FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/14 A, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/46 A, FI分類-G01N 30/88 C |
2014年04月23日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 D |
2014年04月21日 特許庁 / 特許 | イメージング質量分析データ処理方法及びイメージング質量分析装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D |
2014年04月14日 特許庁 / 特許 | 細胞培養用デバイス、細胞培養用システム及び細胞培養方法 FI分類-C12N 5/02, FI分類-C12M 3/00 A |
2014年04月09日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/26 |
2014年04月07日 特許庁 / 特許 | 信号波形データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/86 G |
2014年04月04日 特許庁 / 特許 | MALDI用試料調製方法及び試料調製装置 FI分類-G01N 27/62 F |
2014年04月03日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法及び質量分析データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2014年04月01日 特許庁 / 特許 | 分光測定装置及び積分球 FI分類-G01J 1/02 F, FI分類-G01J 1/06 B |
2014年03月31日 特許庁 / 特許 | 順相・逆相カラムを備えた超臨界流体クロマトグラフとそれを用いた分析方法 FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/46 A, FI分類-G01N 30/88 201 X, FI分類-G01N 30/88 201 Y |
2014年03月31日 特許庁 / 特許 | サンプリング部及びそれを備えたICP質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 V |
2014年03月31日 特許庁 / 特許 | ICP質量分析装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 G |
2014年03月31日 特許庁 / 特許 | 入力装置、本体装置、入力情報補正システム、制御プログラム FI分類-G06F 3/041 520, FI分類-G06F 3/041 595, FI分類-G06F 3/041 600 |
2014年03月31日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/26 Z |
2014年03月31日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/08 307 |
2014年03月31日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法及び質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E |
2014年03月28日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用試料注入装置 FI分類-G01N 30/18 Z, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2014年03月28日 特許庁 / 特許 | 感度補正係数算出システム及びX線分析装置 FI分類-G01N 23/207 |
2014年03月28日 特許庁 / 特許 | X線測定装置 FI分類-G01N 23/207, FI分類-G01N 23/223 |
2014年03月28日 特許庁 / 特許 | ガスサンプラ FI分類-G01N 30/16 K, FI分類-G01N 30/20 A, FI分類-G01N 30/20 J, FI分類-G01N 30/26 M |
2014年03月28日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 G |
2014年03月28日 特許庁 / 特許 | 水質分析計及び水質分析方法 FI分類-G01N 31/00 D, FI分類-G01N 1/00 101 G, FI分類-G01N 1/00 101 N, FI分類-G01N 33/18 106 Z |
2014年03月28日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/86 D |
2014年03月27日 特許庁 / 特許 | コントロールバルブおよび制御方法 FI分類-F16K 3/10, FI分類-F16K 3/16, FI分類-F16K 51/02 B |
2014年03月27日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 A |
2014年03月27日 特許庁 / 特許 | 自動分析装置用制御装置 FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 35/02 G |
2014年03月26日 特許庁 / 特許 | 化合物分析方法、化合物分析装置、及び化合物分析用プログラム FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/88 C |
2014年03月26日 特許庁 / 特許 | カンチレバー取付治具およびそれを備えた走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 70/02 |
2014年03月25日 特許庁 / 特許 | レーザ装置の製造方法 FI分類-H01S 5/022 |
2014年03月24日 特許庁 / 特許 | 飛行時間型質量分析装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 K |
2014年03月24日 特許庁 / 特許 | 水質分析計及び水質分析方法 FI分類-G01N 33/18 106 Z |
2014年03月24日 特許庁 / 特許 | 分離カラム温度調節装置及びガスクロマトグラフ装置 FI分類-G01N 30/30, FI分類-G01N 30/26 M, FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/54 G, FI分類-G01N 30/60 D |
2014年03月20日 特許庁 / 特許 | 微生物の識別方法 FI分類-C12Q 1/04, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 ZNAV |
2014年03月20日 特許庁 / 特許 | 画像処理装置および画像処理プログラム FI分類-A61B 6/00 350 M, FI分類-G06T 1/00 290 A |
2014年03月20日 特許庁 / 特許 | 走査型プローブ顕微鏡 FI分類-G01Q 60/24, FI分類-G01Q 10/04 101 |
2014年03月19日 特許庁 / 特許 | ガスクロマトグラフ装置及びガスクロマトグラフ分析システム FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/86 V |
2014年03月19日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 360 B |
2014年03月19日 特許庁 / 特許 | 赤外顕微鏡 FI分類-G01N 21/35, FI分類-G02B 21/06 |
2014年03月18日 特許庁 / 特許 | ガス吹付式液体試料注入装置及びそれに用いられる注入容器 FI分類-G01N 30/84 J |
2014年03月18日 特許庁 / 特許 | 分取精製方法及び分取精製装置 FI分類-B01D 15/08, FI分類-G01N 30/80 C, FI分類-G01N 30/80 Z |
2014年03月18日 特許庁 / 特許 | ガス吹付式液体注入装置及びそれに用いられる注入容器 FI分類-G01N 30/80 C, FI分類-G01N 30/84 J |
2014年03月17日 特許庁 / 特許 | トリアシルグリセロールの分離方法 FI分類-G01N 30/02 N, FI分類-G01N 30/26 A, FI分類-G01N 30/88 C, FI分類-G01N 30/88 E, FI分類-G01N 30/88 W, FI分類-G01N 30/88 201 W |
2014年03月14日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子の操作方法および磁性体粒子操作用デバイス FI分類-C07K 1/14, FI分類-B03C 1/00 B, FI分類-B03C 1/02 Z, FI分類-G01N 33/553, FI分類-B01J 19/08 D, FI分類-C12N 15/00 A, FI分類-G01N 33/53 D |
2014年03月13日 特許庁 / 特許 | 標線スタンプ装置および材料試験機 FI分類-G01N 3/06 |
2014年03月11日 特許庁 / 特許 | 移動型X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 310 |
2014年03月10日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/08 310, FI分類-A61B 19/00 502, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2014年03月07日 特許庁 / 特許 | センサ機構体及び電子天秤 FI分類-G01G 7/02, FI分類-G01G 23/02 A |
2014年03月07日 特許庁 / 特許 | 試験装置 FI分類-G01N 3/08 |
2014年03月05日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 E, FI分類-F04D 19/04 H |
2014年03月05日 特許庁 / 特許 | 真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 D |
2014年03月05日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 360 B |
2014年03月05日 特許庁 / 特許 | 磁性体粒子分散方法及び磁性体粒子分散装置 FI分類-B01F 3/12, FI分類-C12M 1/12, FI分類-B03C 1/00 A, FI分類-B03C 1/00 H, FI分類-C12M 1/00 A, FI分類-C12Q 1/68 A, FI分類-B01F 13/08 Z |
2014年03月05日 特許庁 / 特許 | 情報表示処理装置及び情報表示処理装置の制御プログラム FI分類-G06K 7/12, FI分類-G06F 3/048, FI分類-G06K 7/10 464, FI分類-G06K 7/14 043, FI分類-G06K 19/06 112, FI分類-G06K 19/06 140 |
2014年03月05日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法及び質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2014年03月05日 特許庁 / 特許 | 質量分析方法及び質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2014年03月04日 特許庁 / 特許 | 誘電体バリア放電イオン化検出器及びその調整方法 FI分類-G01N 27/70, FI分類-G01N 27/68 B, FI分類-G01N 30/64 F |
2014年03月04日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 E, FI分類-F04D 19/04 H |
2014年03月04日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ制御装置及び液体クロマトグラフ制御方法 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/32 A, FI分類-G01N 30/46 Z, FI分類-G01N 30/86 Q |
2014年03月04日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ及び液体クロマトグラフ分析方法 FI分類-G01N 30/02 Z, FI分類-G01N 30/26 E, FI分類-G01N 30/46 Z, FI分類-G01N 30/86 Q |
2014年03月04日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法 FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 G |
2014年03月04日 特許庁 / 特許 | マトリックス支援レーザ脱離イオン化質量分析用マトリックス FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/64 B |
2014年03月04日 特許庁 / 特許 | マトリックス支援レーザ脱離イオン化質量分析用マトリックス FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/64 B |
2014年03月04日 特許庁 / 特許 | マトリックスを用いる質量分析法 FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/64 B |
2014年03月03日 特許庁 / 特許 | ICP発光分析装置用高周波電源装置 FI分類-H05H 1/30, FI分類-H05H 1/36, FI分類-H01L 21/205, FI分類-H02M 7/48 P, FI分類-H03H 7/38 B, FI分類-G01N 21/62 Z, FI分類-H01L 21/302 101 C |
2014年03月03日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置用データ処理装置及びプログラム FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/62 B, FI分類-G01N 30/72 Z, FI分類-G01N 30/86 J |
2014年02月28日 特許庁 / 特許 | 高周波発振回路 FI分類-H05H 1/30, FI分類-H05H 1/36, FI分類-G01N 21/73, FI分類-H02M 7/516, FI分類-H02M 7/48 P, FI分類-H03B 5/12 A, FI分類-H05H 1/46 R |
2014年02月26日 特許庁 / 特許 | 放射線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 320 M |
2014年02月26日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/00 350 P, FI分類-A61B 6/00 360 B |
2014年02月25日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 G |
2014年02月25日 特許庁 / 特許 | 放射線治療装置および画像処理装置 FI分類-A61N 5/10 G, FI分類-A61N 5/10 P |
2014年02月20日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフとそれに用いるカラムオーブン FI分類-G01N 30/54 D, FI分類-G01N 30/54 J, FI分類-G01N 30/86 V |
2014年02月19日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ稼働状態監視装置 FI分類-G01N 30/62 G, FI分類-G01N 30/62 J, FI分類-G01N 30/86 V |
2014年02月19日 特許庁 / 特許 | マススペクトルデータ処理装置及びマススペクトルデータ処理方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V |
2014年02月18日 特許庁 / 特許 | ソレノイドバルブ FI分類-F16K 37/00 F, FI分類-F16K 31/06 310 Z |
2014年02月18日 特許庁 / 特許 | 質量分析を用いたタンパク質の検出方法 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-C12Q 1/37 ZNA |
2014年02月17日 特許庁 / 特許 | X線回折装置およびX線回折装置の感度補正方法 FI分類-G01N 23/207 |
2014年02月17日 特許庁 / 特許 | 液体クロマトグラフ用検出器 FI分類-G01J 3/18, FI分類-G01J 3/02 Z, FI分類-G01N 21/64 Z, FI分類-G01N 30/74 A, FI分類-G01N 30/74 F |
2014年02月14日 特許庁 / 特許 | 荷電粒子ビーム照射装置及び荷電粒子ビーム軸調整方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/28 B |
2014年02月12日 特許庁 / 特許 | X線撮影装置 FI分類-A61B 6/12, FI分類-A61B 6/00 370 |
2014年02月12日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置用データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 G |
2014年02月12日 特許庁 / 特許 | X線透視撮影装置 FI分類-A61B 6/00 300 D, FI分類-A61B 6/00 300 X, FI分類-A61B 6/00 320 Z |
2014年02月12日 特許庁 / 特許 | クロマトグラムデータ処理装置及び処理方法 FI分類-G01N 30/74 E, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 G, FI分類-G01N 30/86 M |
2014年02月12日 特許庁 / 特許 | クロマトグラフ質量分析装置用データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 Y |
2014年02月10日 特許庁 / 特許 | 乳房検査用画像撮影装置 FI分類-G01T 1/161 A, FI分類-G01T 1/161 C |
2014年02月07日 特許庁 / 特許 | 示差屈折率計を用いた測定方法、その測定方法を使用する示差屈折率計及び液体クロマトグラフ FI分類-G01N 21/17 D, FI分類-G01N 21/41 B, FI分類-G01N 30/26 H, FI分類-G01N 30/74 A, FI分類-G01N 30/74 Z |
2014年02月05日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X |
2014年02月05日 特許庁 / 特許 | ターボ分子ポンプ FI分類-F04D 19/04 D, FI分類-F04D 19/04 H |
2014年02月05日 特許庁 / 特許 | がん転移マーカー及びその分析方法 FI分類-C07K 7/06, FI分類-C07K 7/08, FI分類-C12Q 1/25, FI分類-C12Q 1/32, FI分類-C07K 14/47, FI分類-G01N 33/48 P, FI分類-G01N 33/53 Y, FI分類-G01N 33/574 D, FI分類-G01N 33/574 ZNAA |
2014年02月03日 特許庁 / 特許 | 画像処理方法 FI分類-A61B 6/00 330 Z, FI分類-A61B 6/00 350 D |
2014年01月31日 特許庁 / 特許 | 分光光度計 FI分類-G01N 21/33, FI分類-G01N 21/27 F |
2014年01月28日 特許庁 / 特許 | 波長変換光学装置、波長変換素子及びレーザ装置 FI分類-G02F 1/37, FI分類-G02F 1/377 |
2014年01月27日 特許庁 / 特許 | 粒度分布測定用データ処理装置及びこれを備えた粒度分布測定装置、並びに、粒度分布測定用データ処理方法及び粒度分布測定用データ処理プログラム FI分類-G01N 15/02 A |
2014年01月24日 特許庁 / 特許 | 光ファイバ出力型レーザモジュール FI分類-H01S 5/0683 |
2014年01月24日 特許庁 / 特許 | 波長変換素子の温度制御方法及びその装置並びにレーザ装置 FI分類-G02F 1/37 |
2014年01月24日 特許庁 / 特許 | 粒子径測定装置及び粒子径測定方法 FI分類-G01N 15/02 A |
2014年01月21日 特許庁 / 特許 | ポジトロンCT装置 FI分類-G01T 1/161 A |
2014年01月20日 特許庁 / 特許 | ガス状試料の分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 W, FI分類-G01N 27/68 B, FI分類-G01N 30/64 F, FI分類-G01N 30/72 F |
2014年01月20日 特許庁 / 特許 | タンデム質量分析データ処理装置 FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 D |
2014年01月20日 特許庁 / 特許 | タンデム質量分析データ処理装置 FI分類-G01N 27/62 D |
2014年01月17日 特許庁 / 特許 | ソフトウェア実行操作補助装置及びソフトウェア実行操作補助方法 FI分類-G06F 3/0484, FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 G |
2014年01月17日 特許庁 / 特許 | 材料試験機 FI分類-G01N 3/06 |
2014年01月15日 特許庁 / 特許 | 超音波疲労試験機 FI分類-G01N 3/32 Z |
2014年01月15日 特許庁 / 特許 | サンプル濃縮装置 FI分類-G01N 30/06 C, FI分類-G01N 30/08 L, FI分類-G01N 30/24 A, FI分類-G01N 30/32 A |
2014年01月15日 特許庁 / 特許 | オートサンプラ FI分類-G01N 30/82, FI分類-G01N 30/18 F, FI分類-G01N 30/24 J, FI分類-G01N 30/24 Z, FI分類-G01N 1/00 101 G |
2014年01月14日 特許庁 / 特許 | 磁気軸受装置および真空ポンプ FI分類-F04D 19/04 A, FI分類-F16C 32/04 A |
2014年01月06日 特許庁 / 特許 | 質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 Y |
株式会社島津製作所の商標情報(219件)
| 日付 公表組織 / 種類 |
活動対象 / 分類等 |
|---|---|
2023年08月08日 特許庁 / 商標 | OPESCOPE ACTENO 10類 |
2023年05月11日 特許庁 / 商標 | AlChemyzer 09類, 42類 |
2023年04月24日 特許庁 / 商標 | Shim-Quant 01類 |
2023年04月24日 特許庁 / 商標 | ALTRACE 09類 |
2023年04月03日 特許庁 / 商標 | Analytical Transformation 09類, 35類, 42類 |
2023年04月03日 特許庁 / 商標 | アナリティカルトランスフォーメーション 09類, 35類, 42類 |
2023年02月01日 特許庁 / 商標 | SCORE Opera 09類 |
2023年01月24日 特許庁 / 商標 | §P∞PERFORMANCE＼CONCIERGE 09類 |
2023年01月24日 特許庁 / 商標 | §P∞PERFORMANCE＼ASSISTANT 09類 |
2023年01月24日 特許庁 / 商標 | X’sy Anesis 10類 |
2023年01月17日 特許庁 / 商標 | UFPLC 09類 |
2022年12月13日 特許庁 / 商標 | COGMONI 09類, 10類, 41類, 44類 |
2022年11月09日 特許庁 / 商標 | XV-Talk 09類 |
2022年10月28日 特許庁 / 商標 | SUPOFULL 09類, 44類 |
2022年09月12日 特許庁 / 商標 | Shim-vial 09類, 21類 |
2022年09月12日 特許庁 / 商標 | SEC-TOCD 09類 |
2022年08月31日 特許庁 / 商標 | Aetherclock＼イーサクロック 09類, 14類 |
2022年08月31日 特許庁 / 商標 | Aether＼clock 09類, 14類 |
2022年08月12日 特許庁 / 商標 | S-TRAC 09類, 10類 |
2022年06月10日 特許庁 / 商標 | i-PeakTracer 09類 |
2022年05月09日 特許庁 / 商標 | UFstabilization 09類 |
2022年04月25日 特許庁 / 商標 | AIRsight 09類 |
2022年04月25日 特許庁 / 商標 | AIMsight 09類 |
2022年04月25日 特許庁 / 商標 | DOSIURA 01類, 05類, 10類, 42類, 44類 |
2022年03月25日 特許庁 / 商標 | LuminousQuester 09類 |
2022年03月24日 特許庁 / 商標 | CORE Boost 09類 |
2022年03月24日 特許庁 / 商標 | PLUS ALGO 09類 |
2022年01月25日 特許庁 / 商標 | BREVIS 09類 |
2022年01月18日 特許庁 / 商標 | ASMOS 41類, 42類 |
2021年12月17日 特許庁 / 商標 | Smart Aroma Database 09類 |
2021年11月24日 特許庁 / 商標 | EQseed 09類 |
2021年09月10日 特許庁 / 商標 | Mass-it 09類 |
2021年09月10日 特許庁 / 商標 | HuME＼Human Metrics Explorer 09類, 42類, 44類 |
2021年07月20日 特許庁 / 商標 | Amprep 09類 |
2021年07月20日 特許庁 / 商標 | IRXross 09類 |
2021年07月16日 特許庁 / 商標 | アミロイドMS 01類, 10類, 44類 |
2021年07月16日 特許庁 / 商標 | XSeeker 09類 |
2021年07月16日 特許庁 / 商標 | Xctal 09類 |
2021年07月09日 特許庁 / 商標 | Smart Auto Door 09類 |
2021年07月09日 特許庁 / 商標 | Application Development Team 09類, 16類, 41類, 42類 |
2021年07月09日 特許庁 / 商標 | picALuc 01類 |
2021年04月26日 特許庁 / 商標 | EluNA 01類, 09類 |
2021年04月26日 特許庁 / 商標 | Hospital Essentials 09類, 38類, 44類 |
2021年04月20日 特許庁 / 商標 | §LR 09類 |
2021年04月20日 特許庁 / 商標 | LiChRa 09類 |
2021年03月25日 特許庁 / 商標 | Urina 09類, 10類 |
2021年02月24日 特許庁 / 商標 | xCTAL 09類 |
2020年12月01日 特許庁 / 商標 | AutoAmp 09類, 10類 |
2020年11月26日 特許庁 / 商標 | MS ASSETs 09類, 42類 |
2020年11月12日 特許庁 / 商標 | Active-Path 09類 |
2020年08月06日 特許庁 / 商標 | Hospital Essentials 09類, 38類, 44類 |
2020年08月06日 特許庁 / 商標 | HuME＼Human Metric Explorer 09類, 42類, 44類 |
2020年07月30日 特許庁 / 商標 | SialoCapper 01類, 42類 |
2020年05月14日 特許庁 / 商標 | GlideView 10類 |
2020年05月14日 特許庁 / 商標 | PowerGlide 10類 |
2020年05月14日 特許庁 / 商標 | CELL POCKET 09類 |
2020年05月14日 特許庁 / 商標 | HiRID 09類 |
2020年04月24日 特許庁 / 商標 | X-Vリフレッシュ 37類 |
2020年03月31日 特許庁 / 商標 | SHIMADZU 05類 |
2020年03月04日 特許庁 / 商標 | NeuroRehab 44類 |
2020年02月27日 特許庁 / 商標 | Real-Time Strain View 09類 |
2020年02月10日 特許庁 / 商標 | IonFocus 09類 |
2020年02月10日 特許庁 / 商標 | QP Guard 09類 |
2020年02月03日 特許庁 / 商標 | MAIVIS 09類 |
2019年11月25日 特許庁 / 商標 | Amyloid MS 01類, 09類, 10類, 44類 |
2019年11月07日 特許庁 / 商標 | ANALYTICAL＼INTELLIGENCE 09類 |
2019年11月07日 特許庁 / 商標 | Speed Chest 10類 |
2019年11月07日 特許庁 / 商標 | LotusStream 09類 |
2019年09月19日 特許庁 / 商標 | UV-i Selection 09類 |
2019年09月11日 特許庁 / 商標 | ANALYTICAL＼INTELLIGENCE 35類 |
2019年09月03日 特許庁 / 商標 | Xspecia 09類 |
2019年07月29日 特許庁 / 商標 | CoreFocus 01類, 09類 |
2019年07月16日 特許庁 / 商標 | SHIMADZUみらい共創ラボ 42類 |
2019年06月14日 特許庁 / 商標 | Peakintelligence 09類 |
2019年06月11日 特許庁 / 商標 | ADVANCED＼HEALTHCARE 01類, 05類, 09類, 10類, 42類, 44類 |
2019年05月29日 特許庁 / 商標 | HYDROX 01類 |
2019年05月13日 特許庁 / 商標 | シンクーン 07類 |
2019年04月18日 特許庁 / 商標 | VisEase 09類 |
2019年04月18日 特許庁 / 商標 | AGX 09類 |
2019年04月15日 特許庁 / 商標 | Sampling Viewer 09類, 10類 |
2019年04月15日 特許庁 / 商標 | AVSsolution 09類 |
2019年04月10日 特許庁 / 商標 | PQY 09類 |
2019年04月10日 特許庁 / 商標 | Lightway 09類 |
2019年03月04日 特許庁 / 商標 | DOSIMYCO 01類, 05類, 10類, 42類, 44類 |
2019年03月04日 特許庁 / 商標 | DOSINACO 01類, 05類, 10類, 42類, 44類 |
2019年02月26日 特許庁 / 商標 | BLUEREVOLUTION 07類 |
2019年02月05日 特許庁 / 商標 | BresTome 10類 |
2019年02月01日 特許庁 / 商標 | SHIMSEN 09類 |
2019年01月25日 特許庁 / 商標 | Shim-pack Arata 09類 |
2019年01月25日 特許庁 / 商標 | Shim-pure 09類 |
2019年01月25日 特許庁 / 商標 | MPMChecker 09類 |
2019年01月18日 特許庁 / 商標 | KYOLABS 35類, 41類, 42類 |
2018年12月27日 特許庁 / 商標 | Shim-pack Scepter 09類 |
2018年12月11日 特許庁 / 商標 | LabSolutions Insight Explore 09類 |
2018年11月08日 特許庁 / 商標 | SPM-Nanoa 09類 |
2018年11月01日 特許庁 / 商標 | MRM Spectrum 09類 |
2018年10月31日 特許庁 / 商標 | DUH 09類 |
2018年09月27日 特許庁 / 商標 | SERENADE 07類 |
2018年09月07日 特許庁 / 商標 | iSpect 09類 |
2018年08月30日 特許庁 / 商標 | Ep-CNT 01類, 05類 |
2018年08月08日 特許庁 / 商標 | FabAXCEL 07類, 09類, 37類, 42類 |
2018年08月08日 特許庁 / 商標 | i-QLinks 09類 |
2018年08月08日 特許庁 / 商標 | MALDImini 09類 |
2018年08月08日 特許庁 / 商標 | IMAGEREVEAL 09類 |
2018年08月08日 特許庁 / 商標 | SiT-COM 07類, 09類, 12類, 37類 |
2018年08月08日 特許庁 / 商標 | アミロイドMS 44類 |
2018年07月31日 特許庁 / 商標 | eMSTAT Solution 09類 |
2018年07月31日 特許庁 / 商標 | Shim-pack Velox 09類 |
2018年07月26日 特許庁 / 商標 | Active Time Management 09類 |
2018年07月26日 特許庁 / 商標 | スマートホルダ 09類 |
2018年07月13日 特許庁 / 商標 | CTO-Mikros 09類 |
2018年07月13日 特許庁 / 商標 | LC-Mikros 09類 |
2018年07月13日 特許庁 / 商標 | msWing 07類, 09類, 10類 |
2018年07月13日 特許庁 / 商標 | msWindmill 07類, 09類, 10類 |
2018年07月13日 特許庁 / 商標 | Nexera Mikros 09類 |
2018年05月17日 特許庁 / 商標 | DOSIMMUNE 01類, 05類, 10類, 42類, 44類 |
2018年05月14日 特許庁 / 商標 | HITS 09類 |
2018年05月14日 特許庁 / 商標 | StealthMetal 09類, 12類 |
2018年05月14日 特許庁 / 商標 | UT-Station 09類, 10類 |
2018年05月02日 特許庁 / 商標 | EGR-chaser 09類 |
2018年05月02日 特許庁 / 商標 | DIOMELAS 09類 |
2018年05月02日 特許庁 / 商標 | UFaccumulation 09類 |
2018年05月02日 特許庁 / 商標 | UFgrating 09類 |
2018年05月02日 特許庁 / 商標 | UFflighttube 09類 |
2018年04月20日 特許庁 / 商標 | IR Pilot 09類 |
2018年04月20日 特許庁 / 商標 | SAFAER 09類, 12類 |
2018年04月12日 特許庁 / 商標 | CELL PICKER 09類 |
2018年04月04日 特許庁 / 商標 | MCT 09類 |
2018年03月06日 特許庁 / 商標 | Smart Pesticides Database 09類 |
2018年03月06日 特許庁 / 商標 | Smart Metabolites Database 09類 |
2018年03月06日 特許庁 / 商標 | Smart Environmental Database 09類 |
2018年03月06日 特許庁 / 商標 | Smart Forensic Database 09類 |
2018年01月29日 特許庁 / 商標 | Alsachim 01類, 05類, 09類, 10類, 42類, 44類 |
2017年11月02日 特許庁 / 商標 | C2MAPシステム 09類 |
2017年11月02日 特許庁 / 商標 | C2MAP TRENDS 09類 |
2017年11月02日 特許庁 / 商標 | C2MAP 09類 |
2017年11月02日 特許庁 / 商標 | UF-Link 06類 |
2017年11月02日 特許庁 / 商標 | iRefTOF 09類 |
2017年11月02日 特許庁 / 商標 | C2MAP＼Cell Culture Media Analysis Platform 09類 |
2017年10月17日 特許庁 / 商標 | C2MAP 09類 |
2017年09月29日 特許庁 / 商標 | Nexgen GC 09類 |
2017年09月28日 特許庁 / 商標 | ICDS 09類 |
2017年09月28日 特許庁 / 商標 | BlueBooster 09類, 10類, 11類 |
2017年09月28日 特許庁 / 商標 | LabSolutions Connect 09類 |
2017年09月12日 特許庁 / 商標 | ELTRA 01類, 06類, 12類 |
2017年09月05日 特許庁 / 商標 | SALSA 01類, 09類, 42類 |
2017年07月20日 特許庁 / 商標 | スマートリハ 09類, 10類, 28類, 35類, 37類, 42類, 43類, 44類 |
2017年07月20日 特許庁 / 商標 | SmartRehab 09類, 10類, 28類, 35類, 37類, 42類, 43類, 44類 |
2017年06月26日 特許庁 / 商標 | Nexlock 06類 |
2017年06月21日 特許庁 / 商標 | XDimensus 09類 |
2017年06月20日 特許庁 / 商標 | カルチャースキャナー 09類 |
2017年06月19日 特許庁 / 商標 | DPiMS 09類, 10類 |
2017年06月07日 特許庁 / 商標 | CAGC 09類 |
2017年05月31日 特許庁 / 商標 | LabSolutions Insight 09類 |
2017年03月24日 特許庁 / 商標 | §Meta Profile 42類, 44類 |
2017年03月07日 特許庁 / 商標 | CLAM 09類, 10類 |
2017年03月07日 特許庁 / 商標 | Easy wiper 09類, 21類 |
2017年03月07日 特許庁 / 商標 | EDXIR-Holder 09類 |
2017年03月07日 特許庁 / 商標 | CultureScanner 09類 |
2017年02月21日 特許庁 / 商標 | メタプロファイル 42類, 44類 |
2017年02月21日 特許庁 / 商標 | MetaProfile 42類, 44類 |
2017年02月01日 特許庁 / 商標 | EDXIR-Analysis 09類 |
2017年02月01日 特許庁 / 商標 | QATR 09類 |
2016年12月28日 特許庁 / 商標 | ClickTek 06類 |
2016年12月28日 特許庁 / 商標 | Nexis 09類 |
2016年11月04日 特許庁 / 商標 | Udck 07類, 09類, 10類 |
2016年10月14日 特許庁 / 商標 | HT 09類 |
2016年10月07日 特許庁 / 商標 | タッチフォーカス 10類 |
2016年10月07日 特許庁 / 商標 | Touch Focus 10類 |
2016年09月12日 特許庁 / 商標 | §MSW2 10類 |
2016年09月12日 特許庁 / 商標 | Micro Sampling Wing 07類, 09類, 10類 |
2016年09月12日 特許庁 / 商標 | Micro Sampling Windmill 07類, 09類, 10類 |
2016年08月29日 特許庁 / 商標 | SHIMADZU＼LabTotal 37類 |
2016年08月29日 特許庁 / 商標 | SHIMADZU LabTotal 09類, 37類 |
2016年08月26日 特許庁 / 商標 | §iMS2 library 09類 |
2016年08月26日 特許庁 / 商標 | IRSpirit 09類 |
2016年08月01日 特許庁 / 商標 | FCM-3D-Oxy 09類 |
2016年06月28日 特許庁 / 商標 | LabSolutions Report Plus 09類 |
2016年06月28日 特許庁 / 商標 | LabSolutions Report Plus 09類 |
2016年05月23日 特許庁 / 商標 | NanoPEM 09類 |
2016年04月08日 特許庁 / 商標 | スムーストライアル 37類, 39類, 41類, 42類 |
2016年04月08日 特許庁 / 商標 | Sトライアル 37類, 39類, 41類, 42類 |
2016年03月08日 特許庁 / 商標 | Purification Solution 09類 |
2016年02月24日 特許庁 / 商標 | NJ-SERVO 09類 |
2016年01月27日 特許庁 / 商標 | Nano 3D Mapping 09類 |
2016年01月27日 特許庁 / 商標 | ナノ 3D マッピング 09類 |
2016年01月26日 特許庁 / 商標 | nSMOL 01類, 42類 |
2015年12月01日 特許庁 / 商標 | Smart Aligner 10類 |
2015年10月30日 特許庁 / 商標 | iFlagger 09類 |
2015年10月28日 特許庁 / 商標 | SVIC 07類 |
2015年10月28日 特許庁 / 商標 | EREXIM 09類, 42類 |
2015年10月28日 特許庁 / 商標 | Smart SIM 09類 |
2015年10月28日 特許庁 / 商標 | ATHAP 01類, 42類 |
2015年10月28日 特許庁 / 商標 | §UniBlocAP 09類 |
2015年10月20日 特許庁 / 商標 | Bubble Sizer 09類 |
2015年08月24日 特許庁 / 商標 | T-smart 10類 |
2015年07月15日 特許庁 / 商標 | UF-Qarray 09類 |
2015年07月02日 特許庁 / 商標 | Xslicer 09類, 10類 |
2015年03月19日 特許庁 / 商標 | LIGHTVISION 10類 |
2015年02月02日 特許庁 / 商標 | SSCP 09類 |
2014年12月19日 特許庁 / 商標 | IRPF 07類, 09類 |
2014年12月18日 特許庁 / 商標 | Mass++ 09類 |
2014年12月18日 特許庁 / 商標 | BLUE IMPACT 09類, 10類, 11類 |
2014年12月08日 特許庁 / 商標 | 5D Ultra-e 09類 |
2014年12月08日 特許庁 / 商標 | Py-Screener 09類 |
2014年10月20日 特許庁 / 商標 | SCLAM 09類 |
2014年10月17日 特許庁 / 商標 | SAI 09類 |
2014年10月09日 特許庁 / 商標 | LIGHTNIRS 09類 |
2014年10月02日 特許庁 / 商標 | ULTRA2 09類 |
2014年09月10日 特許庁 / 商標 | The Grand EPMA 09類 |
2014年08月20日 特許庁 / 商標 | ASAPrep 09類 |
2014年08月01日 特許庁 / 商標 | iMScope TRIO 09類 |
2014年07月04日 特許庁 / 商標 | iMRM 09類 |
2014年07月04日 特許庁 / 商標 | SPEEDNIRS 09類, 10類 |
2014年03月13日 特許庁 / 商標 | OneSight 09類 |
2014年03月13日 特許庁 / 商標 | Smart Database 09類 |
2014年03月13日 特許庁 / 商標 | HR-SPM 09類 |
2014年03月13日 特許庁 / 商標 | HRSPM 09類 |
2014年02月05日 特許庁 / 商標 | CONCRETO 09類 |
株式会社島津製作所の意匠情報(120件)
| 日付 公表組織 / 種類 |
活動対象 / 分類等 |
|---|---|
2023年10月26日 特許庁 / 意匠 | 試料前処理装置 意匠新分類-K670 |
2023年08月30日 特許庁 / 意匠 | ガスクロマトグラフ分析機 意匠新分類-J1500 |
2023年08月28日 特許庁 / 意匠 | 質量分析機 意匠新分類-J1500 |
2023年07月14日 特許庁 / 意匠 | 診療支援システム用画像 意匠新分類-N311 W |
2023年07月14日 特許庁 / 意匠 | 診療支援システム用画像 意匠新分類-N311 W |
2023年05月31日 特許庁 / 意匠 | 構造式表示用画像 意匠新分類-N310 W |
2023年05月31日 特許庁 / 意匠 | 構造式表示用画像 意匠新分類-N310 W |
2023年05月31日 特許庁 / 意匠 | アイコン用画像 意匠新分類-N312 W |
2023年05月15日 特許庁 / 意匠 | 心電デバイス 意匠新分類-J7330 |
2023年04月04日 特許庁 / 意匠 | マイクロ流路デバイス 意匠新分類-J1519 |
2023年02月01日 特許庁 / 意匠 | 排尿量管理装置 意匠新分類-N311 W |
2023年02月01日 特許庁 / 意匠 | 排尿量測定装置用画像 意匠新分類-N310 W |
2022年12月26日 特許庁 / 意匠 | エックス線撮影装置 意匠新分類-J7361 |
2022年11月25日 特許庁 / 意匠 | アイコン用画像 意匠新分類-N312 W |
2022年10月25日 特許庁 / 意匠 | エックス線分析用試料保持具 意匠新分類-J159 |
2022年10月25日 特許庁 / 意匠 | 分析データ解析装置 意匠新分類-N311 W |
2022年10月05日 特許庁 / 意匠 | 音声操作機能付き材料試験機 意匠新分類-J1500 |
2022年09月20日 特許庁 / 意匠 | 質量分析機 意匠新分類-J1500 |
2022年07月25日 特許庁 / 意匠 | 遠心分離機用の廃液貯蓄容器 意匠新分類-K611 |
2022年07月25日 特許庁 / 意匠 | 試料前処理装置 意匠新分類-K670 |
2022年05月16日 特許庁 / 意匠 | X線CT装置 意匠新分類-N311 W |
2022年04月27日 特許庁 / 意匠 | 検査機器制御装置 意匠新分類-H2600 |
2022年03月23日 特許庁 / 意匠 | 材料試験機監視装置 意匠新分類-N311 W |
2022年03月23日 特許庁 / 意匠 | 材料試験機監視装置 意匠新分類-N311 W |
2022年03月18日 特許庁 / 意匠 | 近赤外光イメージング装置 意匠新分類-J7300 |
2022年03月08日 特許庁 / 意匠 | X線検査機 意匠新分類-J170 |
2022年02月24日 特許庁 / 意匠 | X線撮影装置 意匠新分類-J170 |
2022年02月22日 特許庁 / 意匠 | X線CT装置 意匠新分類-N311 W |
2022年02月22日 特許庁 / 意匠 | X線CT装置 意匠新分類-N310 W |
2022年02月22日 特許庁 / 意匠 | X線撮影装置用画像 意匠新分類-N310 W |
2022年01月07日 特許庁 / 意匠 | ラマン顕微鏡 意匠新分類-N310 W |
2022年01月07日 特許庁 / 意匠 | ラマン顕微鏡 意匠新分類-N310 W |
2021年12月02日 特許庁 / 意匠 | 脳活動計測システム用画像 意匠新分類-N312 W |
2021年11月05日 特許庁 / 意匠 | アイコン用画像 意匠新分類-N312 W |
2021年11月05日 特許庁 / 意匠 | アイコン用画像 意匠新分類-N312 W |
2021年11月01日 特許庁 / 意匠 | ピーエイチ測定器 意匠新分類-J1500 |
2021年10月25日 特許庁 / 意匠 | 細胞画像解析装置用画像 意匠新分類-N310 W |
2021年10月19日 特許庁 / 意匠 | 試料供給機 意匠新分類-J159 |
2021年10月19日 特許庁 / 意匠 | 一組の測定機器セット 意匠新分類-J1500 |
2021年10月12日 特許庁 / 意匠 | 医療用エックス線透視撮影機 意匠新分類-J7361 |
2021年09月30日 特許庁 / 意匠 | 質量分析機 意匠新分類-J1500 |
2021年09月14日 特許庁 / 意匠 | 遺伝子前処理分注装置用画像 意匠新分類-N311 W |
2021年09月14日 特許庁 / 意匠 | 遺伝子前処理分注装置用画像 意匠新分類-N311 W |
2021年07月29日 特許庁 / 意匠 | エックス線検査機 意匠新分類-J1500 |
2021年07月29日 特許庁 / 意匠 | エックス線検査機 意匠新分類-J1500 |
2021年04月27日 特許庁 / 意匠 | 材料試験機用制御装置 意匠新分類-H2600 |
2021年03月23日 特許庁 / 意匠 | 成分抽出機 意匠新分類-K670 |
2021年02月08日 特許庁 / 意匠 | 医療用エックス線撮影機用操作器 意匠新分類-J7360 |
2020年10月30日 特許庁 / 意匠 | 分光測定装置 意匠新分類-J1500 |
2020年10月23日 特許庁 / 意匠 | ガスクロマトグラフ用画像 意匠新分類-N310 W |
2020年09月29日 特許庁 / 意匠 | 細胞画像解析装置 意匠新分類-N311 W |
2020年08月27日 特許庁 / 意匠 | 遠心式流動場分画装置 意匠新分類-K611 |
2020年08月27日 特許庁 / 意匠 | 心電計 意匠新分類-J7330 |
2020年08月27日 特許庁 / 意匠 | 生体情報測定機 意匠新分類-J7330 |
2020年08月27日 特許庁 / 意匠 | 遠心式流動場分画装置 意匠新分類-K611 |
2020年08月27日 特許庁 / 意匠 | 全有機体炭素計 意匠新分類-J1500 |
2020年08月25日 特許庁 / 意匠 | 遺伝子解析装置 意匠新分類-J151 |
2020年08月25日 特許庁 / 意匠 | 遺伝子解析装置 意匠新分類-J151 |
2020年02月18日 特許庁 / 意匠 | 質量顕微鏡 意匠新分類-J1500 |
2020年02月18日 特許庁 / 意匠 | エックス線分析機 意匠新分類-J1500 |
2019年10月24日 特許庁 / 意匠 | 自動噴霧装置 意匠新分類-K670 |
2019年07月10日 特許庁 / 意匠 | 医療用撮像機 意匠新分類-J7360 |
2019年03月26日 特許庁 / 意匠 | 材料試験機 意匠新分類-J1500 |
2018年08月31日 特許庁 / 意匠 | 液体取扱器 意匠新分類-J159 |
2018年08月31日 特許庁 / 意匠 | 試料イオン化器 意匠新分類-K670 |
2018年08月31日 特許庁 / 意匠 | 試料粒子計測機 意匠新分類-J1500 |
2018年08月31日 特許庁 / 意匠 | 試料特性測定機 意匠新分類-J1500 |
2018年08月31日 特許庁 / 意匠 | クロマトグラフ分析用検出器 意匠新分類-J1500 |
2018年08月31日 特許庁 / 意匠 | 光学分析機 意匠新分類-J1500 |
2018年07月27日 特許庁 / 意匠 | 試料供給器 意匠新分類-J159 |
2018年07月27日 特許庁 / 意匠 | 分析機用制御器 意匠新分類-H2600 |
2018年04月13日 特許庁 / 意匠 | 分光光度計 意匠新分類-J1500 |
2018年04月12日 特許庁 / 意匠 | 質量分析機 意匠新分類-J1500 |
2018年01月26日 特許庁 / 意匠 | 液体クロマトグラフ分析用送液ポンプ 意匠新分類-J1500 |
2018年01月26日 特許庁 / 意匠 | 分析機用制御器 意匠新分類-H2600 |
2018年01月26日 特許庁 / 意匠 | 質量分析機 意匠新分類-J1500 |
2018年01月26日 特許庁 / 意匠 | 液体クロマトグラフ分析用送液ポンプ 意匠新分類-J1500 |
2018年01月26日 特許庁 / 意匠 | 液体クロマトグラフ分析用検出器 意匠新分類-J1500 |
2018年01月26日 特許庁 / 意匠 | 液体クロマトグラフ分析用オーブン 意匠新分類-J1500 |
2018年01月26日 特許庁 / 意匠 | 脱気器 意匠新分類-K600 |
2018年01月26日 特許庁 / 意匠 | 分析機用制御器 意匠新分類-H2600 |
2018年01月26日 特許庁 / 意匠 | 反応槽 意匠新分類-J1500 |
2018年01月26日 特許庁 / 意匠 | 試料供給器 意匠新分類-J159 |
2018年01月26日 特許庁 / 意匠 | 液体クロマトグラフ分析用オーブン 意匠新分類-J1500 |
2017年09月13日 特許庁 / 意匠 | 医療用放射線撮影機 意匠新分類-J7360 |
2017年08月30日 特許庁 / 意匠 | 分光光度計 意匠新分類-J1500 |
2017年06月19日 特許庁 / 意匠 | エックス線検査機 意匠新分類-J1500 |
2017年04月25日 特許庁 / 意匠 | ガスクロマトグラフ分析機 意匠新分類-J1500 |
2017年02月28日 特許庁 / 意匠 | ガスクロマトグラフ分析機 意匠新分類-J1500 |
2016年10月28日 特許庁 / 意匠 | 埋設物探知器 意匠新分類-J170 |
2016年09月16日 特許庁 / 意匠 | 液体試料容器 意匠新分類-J1519 |
2016年09月16日 特許庁 / 意匠 | 試料容器保持具 意匠新分類-J1519 |
2016年04月13日 特許庁 / 意匠 | 医療用撮像機 意匠新分類-J7360 |
2015年11月12日 特許庁 / 意匠 | フェルール容器 意匠新分類-F491100 |
2015年11月04日 特許庁 / 意匠 | フェルール 意匠新分類-M2433 |
2015年11月04日 特許庁 / 意匠 | フェルール 意匠新分類-M2433 |
2015年08月31日 特許庁 / 意匠 | 屈折計 意匠新分類-J1500 |
2015年08月26日 特許庁 / 意匠 | 蛋白質分析機 意匠新分類-J151 |
2015年08月03日 特許庁 / 意匠 | 発光分析機 意匠新分類-J1500 |
2015年06月08日 特許庁 / 意匠 | ガス分析計 意匠新分類-J1500 |
2015年05月18日 特許庁 / 意匠 | 質量分析機 意匠新分類-J1500 |
2015年04月28日 特許庁 / 意匠 | 質量分析機 意匠新分類-J1500 |
2015年03月03日 特許庁 / 意匠 | エックス線分析機 意匠新分類-J1500 |
2015年02月25日 特許庁 / 意匠 | 熱分析用試料作製器 意匠新分類-J159 |
2015年02月25日 特許庁 / 意匠 | 分光光度計 意匠新分類-J1500 |
2014年11月28日 特許庁 / 意匠 | 医用診断用撮影台 意匠新分類-J7360 |
2014年10月29日 特許庁 / 意匠 | 試料供給機 意匠新分類-J159 |
2014年09月03日 特許庁 / 意匠 | 試料前処理機 意匠新分類-J151 |
2014年08月27日 特許庁 / 意匠 | 除電器 意匠新分類-H232 |
2014年08月25日 特許庁 / 意匠 | 電子線マイクロアナライザ 意匠新分類-J18 |
2014年08月07日 特許庁 / 意匠 | 天びん 意匠新分類-J12100 |
2014年08月07日 特許庁 / 意匠 | 天びん 意匠新分類-J12100 |
2014年07月25日 特許庁 / 意匠 | 流動特性試験機 意匠新分類-J1500 |
2014年07月01日 特許庁 / 意匠 | クロマトグラフ分析器 意匠新分類-J1500 |
2014年04月16日 特許庁 / 意匠 | 発光分析機 意匠新分類-J1500 |
2014年04月15日 特許庁 / 意匠 | 試料供給機 意匠新分類-J159 |
2014年04月07日 特許庁 / 意匠 | 医療用乳房撮像機 意匠新分類-J7360 |
2014年04月07日 特許庁 / 意匠 | 放射線検出器 意匠新分類-J1500 |
2014年03月28日 特許庁 / 意匠 | 発光分光分析機 意匠新分類-J1500 |
2014年02月27日 特許庁 / 意匠 | 分光器 意匠新分類-J1500 |
株式会社島津製作所の職場情報
| 項目 | データ |
|---|---|
事業概要 | 計測機器、医用機器、航空・産業機器、その他の各事業分野で、研究、開発、製造、販売、保守サービスなどにわたる事業活動を行っています。 |
企業規模 | 3,154人 男性 2,650人 / 女性 504人 |
平均勤続年数 範囲 正社員 | 男性 19.2年 / 女性 13.4年 |
女性労働者の割合 範囲 正社員 | 29.9% |
管理職全体人数 | 752人 男性 716人 / 女性 36人 |
役員全体人数 | 25人 男性 23人 / 女性 2人 |
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