株式会社ミツトヨ

株式会社ミツトヨとは

名称の「株式会社」について(β版)

株式会社ミツトヨの基本情報

項目	内容
商号又は名称	株式会社ミツトヨ
商号又は名称（読み仮名）フリガナ	ミツトヨ
法人番号	7020001067105
会社法人等番号	0200-01-067105
登記所	横浜地方法務局 ※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号 ※2024年08月31日更新 インボイス番号	T7020001067105 ※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。 (2024年08月31日現在)
法人種別	株式会社
郵便番号	〒213-0012 ※地方自治体コードは 14134
国内所在地（都道府県）都道府県	神奈川県 ※神奈川県の法人数は 365,880件
国内所在地（市区町村）市区町村	川崎市高津区 ※川崎市高津区の法人数は 8,129件
国内所在地（丁目番地等）丁目番地	坂戸1丁目20番1号
国内所在地（1行表示）1行表示	神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号
国内所在地（読み仮名）読み仮名	-
代表者	代表取締役 沼田 恵明
設立日	1938年02月22日
資本金	3億9,145万7,000円 (2024年03月29日現在)
従業員数	3,147人 (2024年03月29日現在)
電話番号TEL	044-822-4132
FAX番号FAX	044-844-9835
ホームページHP	https://www.mitutoyo.co.jp/
更新年月日更新日	2022年07月19日
変更年月日変更日	2022年07月01日
法人番号指定年月日指定日	2015年10月05日 ※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局	神奈川労働局 〒231-8434 神奈川県横浜市中区北仲通5丁目57番地横浜第2合同庁舎
管轄の労働基準監督署労働基準監督署	川崎北労働基準監督署 〒213-0001 神奈川県川崎市高津区溝口1-21-9

株式会社ミツトヨの場所

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株式会社ミツトヨの補足情報

項目	内容
企業名 読み仮名	カブシキガイシャ　ミツトヨ
企業名 英語	Mitutoyo Corporation
上場・非上場	非上場
資本金	3億9,100万円
業種	精密機器

株式会社ミツトヨの登録履歴

日付	内容
2022年07月01日	【吸収合併】 令和4年7月1日高知県高岡郡中土佐町大野見吉野1015番地株式会社高知ミツトヨ(7490001005835)を合併
2015年10月05日	【新規登録】 名称が「株式会社ミツトヨ」で、「神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号」に新規登録されました。

株式会社ミツトヨと同じ名称の法人

件数	リンク
4件	※「株式会社ミツトヨ」と同じ名称の法人を探す

株式会社ミツトヨの法人活動情報

株式会社ミツトヨの調達情報(3件)

期間 公表組織	活動名称 / 活動対象 / 金額
2017年04月03日 国土交通省	水管傾斜計の保守 1,069,200円
2016年04月01日 国土交通省	水管傾斜計の保守 1,069,200円
2015年04月01日 国土交通省	水管傾斜計の保守 1,069,200円

株式会社ミツトヨの届出情報(5件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2017年11月29日 経済産業省	支店:株式会社ミツトヨ 中津川工場 PRTR届出データ / PRTR - 精密機械器具製造業(経済産業大臣)
2017年11月29日 経済産業省	支店:株式会社ミツトヨ 広島事業所呉地区 PRTR届出データ / PRTR - 精密機械器具製造業(経済産業大臣)
2017年11月29日 経済産業省	支店:株式会社ミツトヨ 広島事業所郷原地区 PRTR届出データ / PRTR - 精密機械器具製造業(経済産業大臣)
2017年11月29日 経済産業省	支店:株式会社ミツトヨ 宇都宮事業所 PRTR届出データ / PRTR - 精密機械器具製造業(経済産業大臣)
- デジタル庁	代表者:代表取締役 沼田 恵明 全省庁統一資格 / -

株式会社ミツトヨの特許情報(641件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2020年11月30日 特許庁 / 特許	光電式ロータリエンコーダ FI分類-G01D 5/38 A, FI分類-G01D 5/347 110 E
2020年10月12日 特許庁 / 特許	電磁誘導式エンコーダ FI分類-G01D 5/20 110 D
2020年10月02日 特許庁 / 特許	誤差特定装置、誤差特定方法及びプログラム FI分類-G01B 21/00 G
2020年08月31日 特許庁 / 特許	データ補正装置、測定システム、プログラム、および補正方法 FI分類-G01S 17/32, FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 Q
2020年08月07日 特許庁 / 特許	校正方法 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 5/00 P
2020年08月06日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/00 P, FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 21/20 101
2020年08月05日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01B 3/22 Z, FI分類-G01B 5/00 B
2020年07月22日 特許庁 / 特許	てこ型光学式変位センサ FI分類-G01B 5/00 B, FI分類-G01B 11/00 G
2020年06月29日 特許庁 / 特許	硬さ試験機 FI分類-G01N 3/42 B
2020年05月28日 特許庁 / 特許	自動測定装置 FI分類-G01B 5/02
2020年05月28日 特許庁 / 特許	自動測定装置および自動測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/02
2020年05月26日 特許庁 / 特許	ノギス測定力検出装置 FI分類-G01L 5/00 Z, FI分類-G01B 3/20 101 Z
2020年05月18日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/00 G
2020年04月10日 特許庁 / 特許	三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/25 H
2020年03月12日 特許庁 / 特許	光学式変位センサ FI分類-G01B 11/00 G
2020年03月09日 特許庁 / 特許	可視化装置及びプログラム FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 21/00 E, FI分類-G06T 19/00 600
2020年03月06日 特許庁 / 特許	光学系システム FI分類-G02B 13/00, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 3/00 A
2020年02月25日 特許庁 / 特許	画像測定装置のティーチングプログラム FI分類-G01B 11/00 H
2020年02月25日 特許庁 / 特許	画像測定装置のティーチングプログラム FI分類-G01B 11/00 G
2020年02月13日 特許庁 / 特許	テーパー形状ワークの心水平出し調整方法 FI分類-G01B 5/00 F
2020年02月10日 特許庁 / 特許	レーザ干渉装置 FI分類-G01B 9/02
2020年02月05日 特許庁 / 特許	情報送受信システム FI分類-H04L 1/16, FI分類-H04Q 9/00 311 H, FI分類-H04Q 9/00 311 L
2020年02月04日 特許庁 / 特許	情報処理システムおよびその接続手段 FI分類-G01B 3/20 101 Z
2020年02月04日 特許庁 / 特許	情報処理システムおよびその接続手段 FI分類-G01B 3/20 101 Z
2020年01月21日 特許庁 / 特許	レーザ周波数安定化装置およびレーザ周波数安定化方法 FI分類-H01S 3/137, FI分類-H01S 3/00 G, FI分類-H01S 5/0687
2020年01月20日 特許庁 / 特許	焦点距離可変光学系 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 13/00, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/02 Z
2020年01月14日 特許庁 / 特許	ロータリエンコーダ FI分類-G01D 5/245 E, FI分類-G01D 5/20 110 E, FI分類-G01D 5/245 110 P
2019年12月27日 特許庁 / 特許	マシンビジョン検査システムを用いてワークピース表面のZ高さ値を測定するための方法 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/25 H
2019年12月26日 特許庁 / 特許	平面状傾斜パターン表面を有する較正物体を用いて可変焦点距離レンズシステムを較正するためのシステム及び方法 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 7/36, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G03B 13/36, FI分類-H04N 5/232, FI分類-G02B 3/00 B, FI分類-G02B 7/04 C, FI分類-G02B 7/04 Z, FI分類-G02B 7/08 C, FI分類-G02B 7/28 J, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-H04N 5/225 400
2019年12月23日 特許庁 / 特許	電磁誘導式エンコーダ FI分類-G01D 5/245 110 Q
2019年12月18日 特許庁 / 特許	軸方向追従部を備える可変音響式屈折率分布型レンズ FI分類-G02B 3/10, FI分類-G02B 3/00 B
2019年12月18日 特許庁 / 特許	レーザ装置 FI分類-G02F 2/02, FI分類-H01S 3/10, FI分類-H01S 3/107, FI分類-G02F 1/01 B, FI分類-H01S 3/00 F, FI分類-G01C 3/06 120 Q
2019年12月16日 特許庁 / 特許	測定装置、及び軸物ワークの座標測定方法 FI分類-G01B 5/00 L
2019年12月13日 特許庁 / 特許	高速TAGレンズ支援3D計測及び拡張被写界深度撮像 FI分類-G01B 11/24 K
2019年12月09日 特許庁 / 特許	アダプタ光学系および焦点距離可変光学系 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 13/00, FI分類-G02B 13/22, FI分類-G02B 21/00
2019年12月05日 特許庁 / 特許	焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 7/02 F, FI分類-G02B 7/04 Z, FI分類-G02B 7/08 C
2019年12月04日 特許庁 / 特許	レーザ加工装置 FI分類-B23K 26/046, FI分類-B23K 26/00 M, FI分類-B23K 26/064 A, FI分類-G01C 3/06 120 P
2019年12月03日 特許庁 / 特許	高さ測定方法および高さ測定装置 FI分類-G01B 11/02 H
2019年12月02日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01B 3/18, FI分類-G01B 3/22 Z
2019年11月25日 特許庁 / 特許	光学式測定装置および光源制御方法 FI分類-G01B 11/24 K
2019年11月21日 特許庁 / 特許	硬さ試験機及びプログラム FI分類-G01N 3/42 C
2019年11月19日 特許庁 / 特許	内径測定ノギス及び内径測定方法 FI分類-G01B 3/20 101 Z
2019年11月12日 特許庁 / 特許	反発係数測定機、及び硬さ測定機 FI分類-G01N 3/52
2019年11月07日 特許庁 / 特許	スケール FI分類-G01D 5/245 110 Q
2019年11月05日 特許庁 / 特許	測定装置、及び光量制御方法 FI分類-G01B 11/24 K
2019年11月01日 特許庁 / 特許	エンコーダ及びエンコーダの検出ヘッド FI分類-G01D 5/20 110 D, FI分類-G01D 5/20 110 Q
2019年10月30日 特許庁 / 特許	測定デバイスのスタイラスの位置を示すための誘導性位置検出構成体 FI分類-G01B 5/016
2019年10月30日 特許庁 / 特許	テストインジケータ FI分類-G01B 3/22 A
2019年10月28日 特許庁 / 特許	測定デバイスのスタイラスの位置を示すための誘導性位置検出構成体 FI分類-G01B 5/016
2019年10月23日 特許庁 / 特許	硬さ試験機、硬さ試験方法及びプログラム FI分類-G01N 3/42 E
2019年10月21日 特許庁 / 特許	光学装置および光学式測定機 FI分類-G02B 7/00 B, FI分類-G02B 7/02 C, FI分類-G01B 11/24 K
2019年10月17日 特許庁 / 特許	線膨張係数測定方法および線膨張係数測定装置 FI分類-G01N 25/16 E
2019年10月14日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/20 C
2019年10月14日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/20 C
2019年10月11日 特許庁 / 特許	焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ装置の制御方法 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G03B 15/05, FI分類-G03B 15/03 V, FI分類-H04N 5/235 400
2019年10月08日 特許庁 / 特許	解析装置、解析方法、干渉測定システム、およびプログラム FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/24 D, FI分類-G01B 11/30 102 G
2019年10月08日 特許庁 / 特許	解析装置、解析方法、干渉測定システム、およびプログラム FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/24 D, FI分類-G01B 11/30 102 G
2019年10月07日 特許庁 / 特許	変位測定装置、変位測定装置の信号処理部およびその信号処理方法 FI分類-G01D 5/241 D, FI分類-G01D 5/245 C, FI分類-G01D 5/245 110 R
2019年10月04日 特許庁 / 特許	レーザープローブ、及び光学調整方法 FI分類-G01B 11/26 H
2019年10月03日 特許庁 / 特許	測定装置、及び測定方法 FI分類-G01B 11/25 H
2019年09月30日 特許庁 / 特許	高さ測定機および高さ測定機を用いた測定方法 FI分類-G01B 5/02
2019年09月20日 特許庁 / 特許	計測用X線CT装置の校正方法、測定方法、及び、計測用X線CT装置 FI分類-G01N 23/046
2019年09月12日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 S
2019年09月10日 特許庁 / 特許	画像検出装置、パルス照明装置、およびパルス照明方法 FI分類-G03B 3/04, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G02B 7/04 Z, FI分類-G03B 15/02 G, FI分類-G03B 15/03 W
2019年09月10日 特許庁 / 特許	X線計測装置の校正方法 FI分類-G01N 23/046, FI分類-G01B 15/00 A
2019年09月09日 特許庁 / 特許	X線計測装置の校正方法 FI分類-G01N 23/046, FI分類-G01B 15/00 A
2019年09月06日 特許庁 / 特許	画像測定機および画像測定方法 FI分類-G03B 7/093, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G03B 15/00 H, FI分類-G03B 15/00 T, FI分類-H04N 5/235 300, FI分類-H04N 5/235 500
2019年09月06日 特許庁 / 特許	計測用X線CT装置 FI分類-G01N 23/046, FI分類-G01B 15/00 H
2019年09月06日 特許庁 / 特許	粗さ測定機 FI分類-G01B 5/28 102
2019年09月02日 特許庁 / 特許	測定機器管理システム FI分類-G05B 19/418 Z, FI分類-G06Q 50/04 ZJC
2019年08月29日 特許庁 / 特許	パルス照明回路基板 FI分類-H05K 1/02 N, FI分類-H05K 1/18 S, FI分類-H01L 33/00 J, FI分類-G05F 1/56 310 M
2019年08月29日 特許庁 / 特許	一次元測定機 FI分類-G01B 3/20 B
2019年08月26日 特許庁 / 特許	検査方法および補正方法 FI分類-G01B 11/00 Z
2019年08月26日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01B 11/00 G
2019年08月21日 特許庁 / 特許	レーザ装置及びレーザ安定化方法 FI分類-H01S 3/139
2019年08月15日 特許庁 / 特許	ロボットと共に使用される位置合わせセンサを含む補足計測位置座標決定システム FI分類-B25J 9/10 A
2019年08月09日 特許庁 / 特許	ロボットと共に使用される補足計測位置座標決定システム FI分類-B25J 9/10 A
2019年08月07日 特許庁 / 特許	固定用冶具 FI分類-B23Q 3/08 A, FI分類-B24B 41/06 L
2019年07月30日 特許庁 / 特許	スケールおよびその製造方法 FI分類-G01D 5/347 110 A
2019年07月29日 特許庁 / 特許	表面性状測定装置のパラメータ校正方法 FI分類-G01B 5/00 P, FI分類-G01B 5/20 C
2019年07月29日 特許庁 / 特許	形状測定装置、及び形状測定方法 FI分類-G01B 5/20 C
2019年07月26日 特許庁 / 特許	デジタル表示読取装置及びプログラム FI分類-G06T 7/62, FI分類-G06T 7/20 300 B, FI分類-G06T 7/60 300 A
2019年07月25日 特許庁 / 特許	測定機器 FI分類-G01D 7/00 A, FI分類-G10L 15/28 500, FI分類-G10L 15/00 200 L, FI分類-G10L 15/10 200 W, FI分類-G10L 15/28 230 K
2019年07月25日 特許庁 / 特許	光学式測定装置 FI分類-G01B 11/02 Z
2019年07月23日 特許庁 / 特許	音響測定装置およびプログラム FI分類-G01N 29/12
2019年07月22日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01S 17/32, FI分類-G01B 11/00 G, FI分類-G01C 3/06 120 Q
2019年07月18日 特許庁 / 特許	測定開始条件判定装置 FI分類-G01B 21/20 101
2019年07月17日 特許庁 / 特許	光学式測定装置 FI分類-G01B 11/08 Z
2019年07月04日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01S 17/32, FI分類-G01C 3/06 120 Q
2019年07月02日 特許庁 / 特許	内径測定装置および内径測定装置を用いた内径測定方法 FI分類-G01B 5/12, FI分類-B25J 9/06 A
2019年06月28日 特許庁 / 特許	格子部品およびその製造方法 FI分類-G02B 5/18, FI分類-G02B 5/00 Z, FI分類-G01D 5/347 110 A
2019年06月27日 特許庁 / 特許	オフセット補正装置および位置測定装置 FI分類-G01D 5/244 B, FI分類-G01D 5/20 110 E
2019年06月25日 特許庁 / 特許	電磁誘導式エンコーダのためのスケール構成 FI分類-G01D 5/20 110 E, FI分類-G01D 5/245 110 Q
2019年06月24日 特許庁 / 特許	表面性状測定装置および表面性状測定方法 FI分類-G01B 5/06, FI分類-G01B 5/12, FI分類-G01B 5/00 P
2019年06月21日 特許庁 / 特許	ハイトゲージ FI分類-G01B 5/02, FI分類-G01B 5/00 A
2019年06月19日 特許庁 / 特許	測定システム FI分類-G08C 25/02
2019年06月19日 特許庁 / 特許	電磁誘導式エンコーダにおける受信線間隔 FI分類-G01D 5/20 110 E, FI分類-G01D 5/245 110 Q
2019年06月18日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01C 15/00 103 Z
2019年06月17日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01C 15/00 103 E
2019年06月12日 特許庁 / 特許	電磁誘導式エンコーダ FI分類-G01D 5/245 110 Q
2019年06月07日 特許庁 / 特許	不具合判定ユニット FI分類-G01B 5/00 P
2019年06月05日 特許庁 / 特許	座標測定機、及び座標測定プログラム FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 21/00 E
2019年06月03日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01B 11/00 G
2019年05月31日 特許庁 / 特許	形状測定システムおよびその制御方法 FI分類-G01B 5/00 P, FI分類-G01B 21/20 Z
2019年05月31日 特許庁 / 特許	形状測定システムおよびその制御方法 FI分類-G01B 5/00 P, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 21/20 Z
2019年05月30日 特許庁 / 特許	光学式エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 B
2019年05月29日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01B 11/00 B
2019年05月27日 特許庁 / 特許	測定プログラム選択補助装置および測定制御装置 FI分類-G01B 21/00 Z, FI分類-G05B 19/418 Z, FI分類-G06F 3/01 510
2019年05月25日 特許庁 / 特許	デジタル式マイクロメータ FI分類-G01B 3/18 102
2019年04月09日 特許庁 / 特許	表面形状測定システムおよび表面形状測定器を用いた表面形状測定方法 FI分類-G01B 11/24 A
2019年04月05日 特許庁 / 特許	光学式測定装置および光学式測定方法 FI分類-G01B 11/03 Z
2019年04月05日 特許庁 / 特許	アナログ-デジタル変換器、アナログ-デジタル変換方法及び変位検出装置 FI分類-H03M 1/40
2019年04月03日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 C
2019年03月28日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダおよび光電式エンコーダにおける演算方法 FI分類-G01D 5/26 L, FI分類-G01D 5/347 110 M, FI分類-G01D 5/347 110 T
2019年03月26日 特許庁 / 特許	回転載物台 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 21/00 L
2019年03月22日 特許庁 / 特許	回転テーブルおよび真円度測定機 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G12B 5/00 A
2019年03月20日 特許庁 / 特許	電磁誘導式エンコーダの送信部及び受信部 FI分類-G01B 7/00 101 E, FI分類-G01D 5/20 110 E, FI分類-G01D 5/245 110 Q
2019年03月06日 特許庁 / 特許	光干渉測定装置 FI分類-G01B 9/02
2019年03月01日 特許庁 / 特許	透明なチューブの内径測定のための方法及び装置 FI分類-G01B 11/12 Z
2019年02月28日 特許庁 / 特許	ゲージ検査治具及びゲージ検査機 FI分類-G01B 3/22 P
2019年02月28日 特許庁 / 特許	検査治具、ゲージ検査機及びゲージの保持方法 FI分類-G01B 3/22 P
2019年02月04日 特許庁 / 特許	一次元測定機及びプログラム FI分類-G01B 5/004
2019年01月28日 特許庁 / 特許	エンコーダの寿命検出装置 FI分類-G01D 5/244 K, FI分類-G01D 5/347 110 M
2019年01月17日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/20 C
2019年01月10日 特許庁 / 特許	画像測定機およびプログラム FI分類-G06F 3/0485, FI分類-G06F 3/0488, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G06F 3/041 590
2019年01月10日 特許庁 / 特許	物体の表面の高さマップを測定するための方法及びシステム、並びにこの方法で使用されるコンピュータプログラム及びデータキャリア FI分類-G01B 11/24 F, FI分類-G06T 1/00 315, FI分類-G06T 3/00 780
2019年01月06日 特許庁 / 特許	測定器に外部機器を接続するための接続ユニット FI分類-G08C 19/00 J, FI分類-H01R 13/46 E, FI分類-H01R 31/06 M, FI分類-G01B 3/20 101 Z
2018年12月28日 特許庁 / 特許	画像測定装置および非接触形状測定装置 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G03B 13/36, FI分類-G02B 7/04 Z, FI分類-G02B 7/28 H, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01C 3/06 120 P
2018年12月26日 特許庁 / 特許	位置測定デバイス、寸法計測測定システムの動作方法及び位置測定デバイスの動作方法 FI分類-G01B 21/04, FI分類-G01B 21/00 E, FI分類-G08C 15/06 H
2018年12月21日 特許庁 / 特許	合焦状態参照サブシステムを含む可変焦点距離レンズシステム FI分類-G01B 11/00 H
2018年12月13日 特許庁 / 特許	電磁誘導式エンコーダの巻線及びスケール構成 FI分類-G01D 5/245 E, FI分類-G01D 5/20 110 Q
2018年12月10日 特許庁 / 特許	遮蔽されたワークピース形体のための自動透過動作を用いた検査プログラム編集環境 FI分類-G05B 19/401, FI分類-G01B 21/00 E
2018年12月06日 特許庁 / 特許	三次元測定装置及び測定方法 FI分類-G01B 5/20 C
2018年12月04日 特許庁 / 特許	高さ測定機 FI分類-G01B 5/02, FI分類-G01B 3/20 B
2018年11月30日 特許庁 / 特許	X線CTにおけるCTボリュームの表面抽出方法 FI分類-G01N 23/046, FI分類-G01B 15/04 H
2018年11月28日 特許庁 / 特許	プローブユニット及び測定システム FI分類-G01B 5/016
2018年11月15日 特許庁 / 特許	画像測定機および画像測定プログラム FI分類-G01B 11/02 H
2018年11月14日 特許庁 / 特許	エアベアリング FI分類-F16C 32/06 A
2018年10月31日 特許庁 / 特許	表面性状測定方法および表面性状測定装置 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 5/28 102
2018年10月31日 特許庁 / 特許	回転テーブル装置 FI分類-B23Q 1/52, FI分類-B23Q 1/01 T, FI分類-B23Q 1/38 A, FI分類-F16C 32/06 C, FI分類-F16C 32/06 Z, FI分類-G01B 21/00 L
2018年10月30日 特許庁 / 特許	パートプログラム生成装置及びプログラム FI分類-G01B 5/02
2018年10月30日 特許庁 / 特許	外観検査方法及びプログラム FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/00 610 C, FI分類-G06T 7/60 300 A
2018年10月29日 特許庁 / 特許	測定システムおよび測定システムの制御方法 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 21/20 101
2018年10月26日 特許庁 / 特許	形状測定装置および形状測定方法 FI分類-G01B 5/00 A, FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 5/28 102
2018年10月24日 特許庁 / 特許	表面性状測定装置およびその制御方法 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 5/28 102
2018年10月23日 特許庁 / 特許	移動機構および測定機 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 21/00 L
2018年10月23日 特許庁 / 特許	三次元測定機 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 21/00 L
2018年10月22日 特許庁 / 特許	データ記録システム FI分類-G06Q 50/04, FI分類-G05B 19/418 Z, FI分類-G06T 7/20 300 A
2018年10月22日 特許庁 / 特許	エンコーダ FI分類-G01D 5/249 K, FI分類-G01D 5/20 110 E
2018年10月12日 特許庁 / 特許	硬さ試験機及びプログラム FI分類-G01N 3/42 C
2018年10月03日 特許庁 / 特許	硬さ試験機 FI分類-G01N 3/42 E
2018年10月03日 特許庁 / 特許	硬さ試験機 FI分類-G01N 3/42 A
2018年10月02日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01B 3/22 Z
2018年09月28日 特許庁 / 特許	屈折力の監視を行う可変焦点距離レンズシステム FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/36
2018年09月27日 特許庁 / 特許	複雑な回路の統合用のコンパクトな測定デバイス構成体 FI分類-G01B 5/012
2018年09月14日 特許庁 / 特許	三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法 FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/25 H
2018年09月13日 特許庁 / 特許	レーザ追尾装置およびレーザ追尾装置の制御方法 FI分類-G01S 17/66, FI分類-G05D 3/12 306 Z
2018年09月05日 特許庁 / 特許	測定点決定方法、プログラム、および測定点決定装置 FI分類-G01B 21/04, FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01D 3/00 B, FI分類-G01B 21/00 E, FI分類-G01B 21/20 101
2018年08月30日 特許庁 / 特許	焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02F 1/33
2018年08月30日 特許庁 / 特許	焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02F 1/33
2018年08月24日 特許庁 / 特許	撮像システムにおける高速可変焦点距離可変音響式屈折率分布型レンズの動作の安定化 FI分類-G01B 11/14 Z
2018年08月22日 特許庁 / 特許	密閉構造に取り付けられるキャップを有する測定器 FI分類-G01B 3/18 102
2018年08月07日 特許庁 / 特許	非接触式変位計 FI分類-G01B 11/00 B
2018年08月06日 特許庁 / 特許	形状測定装置 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 21/00 L
2018年08月03日 特許庁 / 特許	焦点距離可変レンズ装置 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G02B 7/04 C, FI分類-G02B 21/02 Z
2018年08月01日 特許庁 / 特許	非接触式変位計 FI分類-G01B 11/00 B
2018年08月01日 特許庁 / 特許	干渉計及び配置調整方法 FI分類-G01B 9/02
2018年07月31日 特許庁 / 特許	測定制御装置及びプログラム FI分類-G01B 21/00 E, FI分類-G05B 19/42 J, FI分類-G01B 21/20 101
2018年07月20日 特許庁 / 特許	真円度測定機のパートプログラム自動生成装置、真円度測定装置および真円度測定機のパートプログラム自動生成方法 FI分類-G01B 5/20 R
2018年07月19日 特許庁 / 特許	光学式角度センサ FI分類-G01B 11/26 G
2018年07月17日 特許庁 / 特許	ハイトゲージ FI分類-G01B 3/20 B
2018年07月09日 特許庁 / 特許	光学測定装置 FI分類-G01N 21/59 Z
2018年07月05日 特許庁 / 特許	光学式角度センサ FI分類-G01B 11/26 G
2018年07月04日 特許庁 / 特許	X線CT装置により得られる投影像を用いた寸法測定方法 FI分類-G01N 23/046, FI分類-G01B 15/00 H
2018年07月04日 特許庁 / 特許	フィルタ逆投影法によるCT再構成処理方法 FI分類-G01N 23/046
2018年07月03日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダの信号処理方法 FI分類-G01D 5/347 110 M
2018年06月30日 特許庁 / 特許	表面性状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 5/28 102
2018年06月26日 特許庁 / 特許	光学式エンコーダ FI分類-G01D 5/244 B, FI分類-G01D 5/245 110 B, FI分類-G01D 5/347 110 M, FI分類-G01D 5/347 110 T
2018年06月26日 特許庁 / 特許	光学式エンコーダ FI分類-G01D 5/244 B, FI分類-G01D 5/245 110 B, FI分類-G01D 5/347 110 M, FI分類-G01D 5/347 110 T
2018年06月26日 特許庁 / 特許	光学式エンコーダ FI分類-G01D 5/244 B, FI分類-G01D 5/245 110 B, FI分類-G01D 5/347 110 M, FI分類-G01D 5/347 110 T
2018年06月25日 特許庁 / 特許	計測用X線CT装置 FI分類-G01N 23/046
2018年06月22日 特許庁 / 特許	エンコーダ FI分類-G01D 5/38
2018年06月22日 特許庁 / 特許	測定装置および測定方法 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 21/20 C
2018年06月22日 特許庁 / 特許	座標測定機用の自己構成要素識別および信号処理システム FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 21/00 E
2018年06月12日 特許庁 / 特許	デジタル式マイクロメータおよびマイクロメータ FI分類-G01B 3/18, FI分類-G01B 5/02
2018年06月08日 特許庁 / 特許	光吸収装置、及びレーザ装置 FI分類-H01S 3/137, FI分類-H01S 3/00 G
2018年06月08日 特許庁 / 特許	三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法 FI分類-G01B 11/25 H
2018年05月23日 特許庁 / 特許	位置エンコーダサンプリングタイミングシステム FI分類-G01D 5/244 B, FI分類-G01D 5/245 E, FI分類-G08C 15/00 E
2018年05月21日 特許庁 / 特許	振動部材の保持機構、焦点距離可変レンズおよび焦点距離可変レンズ装置 FI分類-G02B 1/06, FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 26/08 H
2018年05月21日 特許庁 / 特許	焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/36
2018年05月21日 特許庁 / 特許	焦点距離可変レンズの校正方法および焦点距離可変レンズ装置 FI分類-G02B 3/12, FI分類-G03B 3/00, FI分類-G02B 7/04 Z, FI分類-G02B 7/08 C, FI分類-G02B 26/08 H
2018年05月21日 特許庁 / 特許	焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 FI分類-G02B 3/14
2018年05月14日 特許庁 / 特許	ベローズ式ダンパ FI分類-F16F 9/08, FI分類-F16J 3/04 B, FI分類-F16J 15/52 Z, FI分類-F16F 15/023 A
2018年05月09日 特許庁 / 特許	電磁誘導式エンコーダ FI分類-G01D 5/20 110 E
2018年05月09日 特許庁 / 特許	アナログ測定工具の測定値の読み取り装置 FI分類-G01B 11/00 H
2018年05月09日 特許庁 / 特許	アナログ測定工具の測定値の読み取り装置 FI分類-G01D 9/42, FI分類-G01B 11/00 H
2018年05月09日 特許庁 / 特許	アナログ測定工具の測定値の読み取り装置 FI分類-G01B 11/00 H
2018年05月08日 特許庁 / 特許	光学装置及び形状測定方法 FI分類-G01B 11/24 D
2018年05月01日 特許庁 / 特許	真空チャック及び真空チャック用オートバルブ FI分類-B23Q 3/08 A, FI分類-F16K 17/30 A, FI分類-H01L 21/68 P
2018年04月20日 特許庁 / 特許	小型測定器およびその制御方法 FI分類-G01B 5/02, FI分類-G01B 3/18 102, FI分類-G01B 3/20 101 Z
2018年04月19日 特許庁 / 特許	リニアエンコーダ FI分類-G01D 5/245 110 W, FI分類-G01D 5/347 110 U, FI分類-G01D 5/347 110 X
2018年04月19日 特許庁 / 特許	回転テーブルおよび真円度測定機 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 5/20 R, FI分類-G01B 21/00 L
2018年04月18日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 A, FI分類-G01D 5/347 110 S, FI分類-G01D 5/347 110 X
2018年04月13日 特許庁 / 特許	電磁誘導式エンコーダ FI分類-G01D 5/20 110 D
2018年03月27日 特許庁 / 特許	位置検出器を用いた線形変位センサー FI分類-G01B 5/00 B, FI分類-G01B 11/00 B
2018年03月23日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダの信号処理方法 FI分類-G01D 5/347 110 L
2018年03月23日 特許庁 / 特許	測定器および測定システム FI分類-G01B 21/00 A
2018年03月22日 特許庁 / 特許	情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び画像測定装置 FI分類-G02B 7/36, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G03B 13/36, FI分類-G02B 7/28 H, FI分類-G02B 7/28 J, FI分類-H04N 5/232 120, FI分類-H04N 5/232 450
2018年03月22日 特許庁 / 特許	座標測定装置を動作させる方法 FI分類-G01B 5/008
2018年03月19日 特許庁 / 特許	計測用X線CTの測定計画生成方法及び装置 FI分類-G01N 23/046
2018年03月16日 特許庁 / 特許	高速で周期的に合焦位置が変調される可変焦点距離レンズを含む撮像システムと共に用いられる変調監視システム FI分類-G02B 7/28 H, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G03B 15/00 T
2018年03月06日 特許庁 / 特許	計測用X線CT装置 FI分類-G01N 23/046
2018年02月21日 特許庁 / 特許	位置検出エンコーダ及び位置検出エンコーダの製造方法 FI分類-G01D 5/245 110 J, FI分類-G01D 5/347 110 A, FI分類-G01D 5/347 110 M
2018年02月19日 特許庁 / 特許	送り機構およびそれを備えた測定器 FI分類-G01B 3/20 A, FI分類-G01B 3/20 B
2018年02月19日 特許庁 / 特許	ダイヤルゲージ FI分類-G01B 3/22 Z
2018年02月13日 特許庁 / 特許	制御回路 FI分類-G01B 5/00 A, FI分類-G01B 21/00 A
2018年01月31日 特許庁 / 特許	エンコーダおよびエンコーダの制御方法 FI分類-G01D 5/244 K
2018年01月19日 特許庁 / 特許	計測用X線CT装置、及び、その干渉防止方法 FI分類-G01N 23/04 320
2018年01月17日 特許庁 / 特許	3D形状のオートトレース方法及び測定機 FI分類-G01B 11/24 K
2018年01月16日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-H04L 25/02 V, FI分類-H04L 25/38 T, FI分類-G01D 5/347 110 L
2018年01月16日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01D 5/347 110 L
2018年01月12日 特許庁 / 特許	位置指定方法およびプログラム FI分類-G06F 3/0488, FI分類-G06F 3/0481 120
2018年01月12日 特許庁 / 特許	画像測定機、ツール編集方法、およびプログラム FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G06F 3/0488 130
2018年01月12日 特許庁 / 特許	画像測定機およびプログラム FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G06F 3/0488 130
2018年01月12日 特許庁 / 特許	画像測定機およびプログラム FI分類-G06F 3/0482, FI分類-G06F 3/0488, FI分類-G01B 11/24 K
2018年01月12日 特許庁 / 特許	画像測定機およびプログラム FI分類-G06F 3/0488, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G06F 3/0481 170
2018年01月12日 特許庁 / 特許	計測用X線CT装置、及び、その校正方法 FI分類-G01B 15/00 H, FI分類-G01N 23/04 320
2018年01月11日 特許庁 / 特許	レンズ測定装置およびレンズ測定方法 FI分類-G01B 5/20 M
2018年01月05日 特許庁 / 特許	三次元測定装置及び移動制御方法 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 21/00 E
2017年12月28日 特許庁 / 特許	スケールおよびその製造方法 FI分類-G01D 5/347 110 C
2017年12月27日 特許庁 / 特許	非接触座標測定装置 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01B 11/00 G, FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01C 3/06 120 W
2017年12月22日 特許庁 / 特許	回転角制限機構 FI分類-G01B 5/28, FI分類-G01B 5/012, FI分類-G01B 21/00 H, FI分類-G01B 21/30 101 Z
2017年12月20日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01N 3/42 A
2017年12月19日 特許庁 / 特許	データ送信モジュール、無線送信方法及び無線送信システム FI分類-G01B 3/18, FI分類-G08C 15/00 E, FI分類-G08C 17/00 Z, FI分類-G08C 19/00 G, FI分類-G01B 3/20 101 A
2017年12月19日 特許庁 / 特許	デジタル信号通信を備えたCMMのためのタッチプローブ FI分類-G01B 5/012
2017年12月18日 特許庁 / 特許	スケールおよびその製造方法 FI分類-G01D 5/347 110 A
2017年12月14日 特許庁 / 特許	空間精度補正方法、及び空間精度補正装置 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 5/00 P, FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01B 11/00 G, FI分類-G01B 21/20 101
2017年12月14日 特許庁 / 特許	空間精度補正方法、及び空間精度補正装置 FI分類-G01B 5/00 P, FI分類-G01B 11/00 A, FI分類-G01B 11/00 G
2017年12月11日 特許庁 / 特許	電子式エンコーダ及び狭範囲誤差を低減させる方法 FI分類-G01D 5/244 H, FI分類-G01B 7/00 101 E, FI分類-G01D 5/245 110 B
2017年12月08日 特許庁 / 特許	精密機器用の組立・検査台車 FI分類-B60V 1/12, FI分類-B60V 3/02, FI分類-B62D 57/04, FI分類-B60P 3/00 L, FI分類-B65G 7/06 D
2017年12月07日 特許庁 / 特許	フラッシュメモリに記憶されたカウント値を持つ測定装置用トリガカウンタ FI分類-G01B 5/012
2017年12月05日 特許庁 / 特許	スケールおよびその製造方法 FI分類-G01D 5/347 110 A
2017年12月05日 特許庁 / 特許	測定ステーションおよび測定方法 FI分類-B25J 13/00 Z, FI分類-G01B 21/00 L
2017年12月05日 特許庁 / 特許	測定装置及び測定システム FI分類-G01B 5/28, FI分類-G01B 3/22 Z, FI分類-G01B 5/20 R
2017年12月01日 特許庁 / 特許	電磁誘導式位置検出装置 FI分類-G01D 5/244 G, FI分類-G01D 5/20 110 E, FI分類-G01D 5/20 110 Q, FI分類-G01D 5/245 110 B
2017年12月01日 特許庁 / 特許	レンズ保持機構及び発光ユニット FI分類-G02B 3/04, FI分類-G03B 15/05, FI分類-G02B 7/02 A, FI分類-G02B 7/02 B, FI分類-G02B 7/02 Z, FI分類-G03B 15/02 F, FI分類-G03B 15/02 S
2017年11月30日 特許庁 / 特許	倍率検査用ワーク、倍率検査方法および光学式測定装置 FI分類-G01B 11/02 H
2017年11月30日 特許庁 / 特許	測定方法、測定装置の補正量設定方法および測定装置 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 21/02 Z
2017年11月29日 特許庁 / 特許	測定装置、及び測定方法 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 11/00 H
2017年11月29日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01B 3/22 Z, FI分類-G01B 5/00 A
2017年11月29日 特許庁 / 特許	測定システム FI分類-G01B 5/02, FI分類-G01B 3/22 Z, FI分類-G01B 5/28 101
2017年11月29日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01D 9/00 F, FI分類-G01P 15/00 C, FI分類-G01P 15/02 C
2017年11月21日 特許庁 / 特許	マルチレベル拡大被写界深度画像処理機能を備えた可変焦点距離レンズ FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 21/36, FI分類-H04N 5/232, FI分類-G02B 7/04 E
2017年11月21日 特許庁 / 特許	拡大被写界深度を有する画像を取得するためのマシンビジョン検査システム及び方法 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01B 11/24 K
2017年11月17日 特許庁 / 特許	レーザ追尾装置、及びレーザ追尾装置のゲイン調整方法 FI分類-G01S 17/42, FI分類-G01S 17/66
2017年11月16日 特許庁 / 特許	三次元測定装置 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 21/20 101
2017年11月14日 特許庁 / 特許	高速可変焦点距離レンズを含む撮像システムにおける焦点探索範囲の拡大 FI分類-G02B 7/36, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01C 3/06 120 P
2017年11月13日 特許庁 / 特許	真円度測定器 FI分類-G01B 5/20 R
2017年11月10日 特許庁 / 特許	傾き調整機構 FI分類-G02B 21/00, FI分類-G03B 17/14, FI分類-G02B 7/02 C, FI分類-G02B 7/02 Z, FI分類-G03B 17/56 F
2017年11月10日 特許庁 / 特許	変位測定装置 FI分類-G01D 5/12 N, FI分類-G01B 21/00 A
2017年11月06日 特許庁 / 特許	レーザ装置、及びレーザ装置のゲイン調整方法 FI分類-H01S 3/101, FI分類-H01S 3/00 F, FI分類-G01S 7/481 A, FI分類-G02B 26/10 G, FI分類-G01C 3/06 120 Z
2017年10月30日 特許庁 / 特許	硬さ試験機及びプログラム FI分類-G06T 7/174, FI分類-G01N 3/42 F
2017年10月19日 特許庁 / 特許	焦点距離可変レンズ装置 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 13/00
2017年10月18日 特許庁 / 特許	画像測定装置の調整方法 FI分類-G01B 11/00 H
2017年10月11日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01B 5/012
2017年10月10日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01D 18/00, FI分類-G01B 3/22 P, FI分類-G01D 7/00 F
2017年10月02日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01D 18/00, FI分類-G01B 3/22 P
2017年09月28日 特許庁 / 特許	焦点監視及び制御を用いた可変焦点距離レンズシステム FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 7/28 H, FI分類-G02B 7/28 J, FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 P
2017年09月21日 特許庁 / 特許	測定器およびその制御方法 FI分類-G01D 3/032
2017年09月14日 特許庁 / 特許	処理装置、処理方法、及び処理プログラム FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/24 D
2017年09月08日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 21/20 Z
2017年09月08日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 21/20 Z
2017年09月05日 特許庁 / 特許	表面性状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/28, FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01B 21/20 C, FI分類-G01B 21/30 102, FI分類-G01B 11/30 102 Z
2017年09月04日 特許庁 / 特許	画像処理装置、画像処理システム及びプログラム FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/25 H, FI分類-G06T 1/00 315
2017年09月04日 特許庁 / 特許	画像処理装置、及びプログラム FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G06T 1/00 315, FI分類-G06T 5/00 705
2017年08月31日 特許庁 / 特許	熱膨張係数測定装置、及び熱膨張係数測定方法 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/02 G, FI分類-G01N 25/16 C
2017年08月31日 特許庁 / 特許	熱膨張係数測定装置、及び熱膨張係数測定方法 FI分類-G01N 25/16 C
2017年08月10日 特許庁 / 特許	リセット回路、基準電圧生成回路 FI分類-G05F 3/30, FI分類-H01L 27/04 B
2017年08月07日 特許庁 / 特許	電磁誘導式エンコーダの巻線構成 FI分類-G01D 5/245 E, FI分類-G01D 5/245 110 A
2017年08月04日 特許庁 / 特許	光学システム、光学装置及びプログラム FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/24 D
2017年07月21日 特許庁 / 特許	光学式外径測定装置 FI分類-G02B 26/12, FI分類-G01B 11/02 Z, FI分類-G01B 11/08 Z
2017年07月19日 特許庁 / 特許	光学式測定装置 FI分類-G01B 11/12 Z
2017年07月19日 特許庁 / 特許	光学式測定装置 FI分類-G01B 11/12 Z
2017年07月13日 特許庁 / 特許	測定機管理システム及びプログラム FI分類-G01B 5/00 W, FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G05B 19/418 Z
2017年07月10日 特許庁 / 特許	撮像装置 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G03B 15/00 T
2017年07月07日 特許庁 / 特許	門型移動装置および三次元測定機 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 21/00 L
2017年07月05日 特許庁 / 特許	リニアスケール FI分類-G01B 21/00 C, FI分類-G01D 5/245 110 X, FI分類-G01D 5/347 110 X
2017年07月03日 特許庁 / 特許	端末装置およびプログラム FI分類-G06F 3/0488, FI分類-G06F 3/0484 150
2017年06月30日 特許庁 / 特許	光学測定装置 FI分類-G01B 11/00 H
2017年06月30日 特許庁 / 特許	座標測定機のための取り外し可能なプローブに電力を供給するための電力伝達構成体 FI分類-G01B 5/004
2017年06月26日 特許庁 / 特許	ノギスのサムローラー定圧機構 FI分類-G01B 3/20 101 Z
2017年06月26日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 11/02 H
2017年06月23日 特許庁 / 特許	表面性状測定機、表面性状測定システム及びプログラム FI分類-G01B 5/28
2017年06月23日 特許庁 / 特許	三次元測定ユニット及び測定プローブの識別方法 FI分類-G01B 5/012, FI分類-G01B 5/00 B, FI分類-G01B 21/00 P
2017年06月16日 特許庁 / 特許	インジケータ検査機とその検査方法及び検査プログラム FI分類-G01B 3/22 P
2017年06月14日 特許庁 / 特許	超解像度ボア撮像システム FI分類-G03B 15/05, FI分類-H04N 5/349, FI分類-G03B 15/00 H, FI分類-G03B 15/00 W, FI分類-G01N 21/954 A, FI分類-H04N 5/225 600, FI分類-H04N 5/232 380
2017年06月09日 特許庁 / 特許	座標測定装置を動作させる方法 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 21/20 101
2017年06月09日 特許庁 / 特許	エンコーダ、測定方法、及び測定システム FI分類-G01D 5/249 T
2017年05月29日 特許庁 / 特許	位置計測装置の操作方法 FI分類-G01B 21/00 E, FI分類-G01B 21/00 H, FI分類-G06T 7/20 300 A
2017年05月24日 特許庁 / 特許	表面性状測定装置 FI分類-G01B 5/00 B, FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 21/00 P
2017年05月23日 特許庁 / 特許	レーザ装置及び周波数偏移量特定方法 FI分類-G02F 1/37, FI分類-H01S 3/109, FI分類-H01S 3/139, FI分類-H01S 3/0941
2017年05月12日 特許庁 / 特許	三次元測定機および三次元測定方法 FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01B 21/20 C
2017年05月01日 特許庁 / 特許	非接触三次元形状測定機、及び、これを用いた形状測定方法 FI分類-G06T 7/55, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G06T 1/00 315
2017年04月28日 特許庁 / 特許	硬さ試験機及びプログラム FI分類-G01N 3/42 C
2017年04月28日 特許庁 / 特許	焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 7/04 Z, FI分類-G02B 7/08 C
2017年04月28日 特許庁 / 特許	焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 7/04 Z
2017年04月28日 特許庁 / 特許	デジタル式測定器 FI分類-G01B 3/20 101 Z
2017年04月24日 特許庁 / 特許	ベルト駆動による軸方向移動装置 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-F16H 19/02 A, FI分類-F16H 19/02 J
2017年04月19日 特許庁 / 特許	光学式エンコーダ FI分類-G01D 5/38, FI分類-G02B 5/18, FI分類-G01D 5/347 110 U
2017年04月18日 特許庁 / 特許	光学式外径測定装置 FI分類-G01B 11/02 Z
2017年04月18日 特許庁 / 特許	駆動ステージ装置の駆動制御方法 FI分類-G01B 5/14, FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 5/20 R, FI分類-B23Q 15/00 C, FI分類-F16C 32/06 C, FI分類-G01B 21/00 H, FI分類-G01B 21/30 101 Z
2017年04月18日 特許庁 / 特許	座標測定プローブ本体 FI分類-G01B 5/016
2017年04月06日 特許庁 / 特許	エンコーダ FI分類-G01D 5/12 N, FI分類-G01D 5/20 J, FI分類-G01D 5/244 B
2017年03月28日 特許庁 / 特許	硬さ試験機及びプログラム FI分類-G01N 3/42 F
2017年03月27日 特許庁 / 特許	測定ヘッド FI分類-G01B 5/012, FI分類-G01B 21/00 P
2017年03月24日 特許庁 / 特許	可変焦点距離撮像システム FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G03B 11/00, FI分類-G03B 15/00 T, FI分類-H04N 5/225 400, FI分類-H04N 5/232 090
2017年03月24日 特許庁 / 特許	関係特定方法、関係特定装置、関係特定プログラム、補正方法、補正装置、及び補正用プログラム FI分類-G01B 11/24 D
2017年03月24日 特許庁 / 特許	情報処理装置及びプログラム FI分類-G06T 7/521, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G06T 1/00 315
2017年03月24日 特許庁 / 特許	校正用システム、校正治具、校正方法、及び校正用プログラム FI分類-G01B 11/00 H
2017年03月23日 特許庁 / 特許	電磁誘導型変位検出装置およびこれを用いた測定器 FI分類-G01D 5/20 110 E
2017年03月22日 特許庁 / 特許	可変焦点距離レンズシステムにおける位相差較正 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01B 11/02 H
2017年03月22日 特許庁 / 特許	高速で周期的に変更される可変焦点距離レンズシステムのための自動合焦システム FI分類-G02B 21/36, FI分類-G02B 7/28 J, FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 P
2017年03月21日 特許庁 / 特許	測定システム、測定プログラム及び制御方法 FI分類-G05B 19/18 S
2017年03月16日 特許庁 / 特許	光学装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G02B 7/198, FI分類-G02B 7/00 B
2017年03月13日 特許庁 / 特許	電磁誘導式アブソリュート型位置エンコーダ FI分類-G01D 5/20 110 E, FI分類-G01D 5/20 110 Q
2017年03月13日 特許庁 / 特許	電磁誘導式アブソリュート型エンコーダ FI分類-G01D 5/245 E, FI分類-G01D 5/245 110 Q
2017年03月10日 特許庁 / 特許	光学式変位計、光学式変位計の調整方法および光学式変位測定方法 FI分類-G01B 11/00 H
2017年03月08日 特許庁 / 特許	硬さ試験機及びプログラム FI分類-G01N 3/42 F
2017年03月02日 特許庁 / 特許	昇降駆動装置およびこれを用いた測定機 FI分類-G01B 5/00 L
2017年03月01日 特許庁 / 特許	測定器の保護具 FI分類-G01B 3/18, FI分類-G01B 5/02, FI分類-G01B 5/00 L
2017年02月24日 特許庁 / 特許	三次元測定装置 FI分類-G01B 21/04, FI分類-G01B 5/008
2017年02月02日 特許庁 / 特許	変位検出器 FI分類-G01D 5/245 C
2017年02月01日 特許庁 / 特許	形状測定システム、形状測定装置及び形状測定方法 FI分類-G01B 11/25 H
2017年01月30日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/20 C
2017年01月30日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 21/20 101
2017年01月27日 特許庁 / 特許	硬さ試験機及び硬さ試験方法 FI分類-G01N 3/42 Z
2017年01月27日 特許庁 / 特許	誘導検出型ロータリエンコーダ FI分類-G01B 7/30 M, FI分類-G01B 7/00 101 E, FI分類-G01D 5/20 110 D
2017年01月26日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01D 11/24 D, FI分類-G01B 3/18 102, FI分類-G09F 9/00 358, FI分類-G09F 9/00 366 G, FI分類-G09G 5/00 510 H, FI分類-G09G 5/00 530 H, FI分類-G09G 5/00 530 T, FI分類-G09G 5/00 550 C, FI分類-G09G 5/36 520 K
2017年01月18日 特許庁 / 特許	パワーオンリセット回路 FI分類-H01L 27/04 B, FI分類-H03K 17/22 E, FI分類-G06F 1/24 351
2017年01月06日 特許庁 / 特許	形状測定装置および移動機構 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 21/00 L
2016年12月28日 特許庁 / 特許	焦点距離可変レンズ装置 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 15/00
2016年12月22日 特許庁 / 特許	情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム FI分類-G01B 21/02 A, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G02B 23/24 B, FI分類-G02B 23/24 C, FI分類-G01N 21/954 Z, FI分類-G01B 21/30 102
2016年12月22日 特許庁 / 特許	線膨張係数測定方法および測定装置 FI分類-G01N 25/16 B
2016年12月21日 特許庁 / 特許	CMMタッチプローブのためのセンサ信号オフセット補正システム FI分類-G01B 5/008
2016年12月20日 特許庁 / 特許	測定方法および測定プログラム FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/24 D
2016年12月20日 特許庁 / 特許	測定方法および測定プログラム FI分類-G01B 11/02 G, FI分類-G01B 11/02 Z, FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01B 11/28 Z, FI分類-G01B 21/20 C, FI分類-G01B 11/30 102 G
2016年12月19日 特許庁 / 特許	計測パーソナルエリアネットワーク内で使用されるリモート表示デバイス FI分類-G01B 5/00 Z, FI分類-G01B 21/00 Z, FI分類-G08C 15/00 E
2016年12月13日 特許庁 / 特許	マルチモード計測ユーザインターフェースデバイス FI分類-B23Q 17/00 D, FI分類-G01B 21/00 Z, FI分類-G01R 13/00 Z
2016年12月13日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダ FI分類-G01D 5/38 G
2016年12月12日 特許庁 / 特許	電子式アブソリュート型エンコーダ FI分類-G01D 5/244 F, FI分類-G01D 5/245 B, FI分類-G01D 5/245 110 B
2016年12月08日 特許庁 / 特許	割締装置およびその使用方法 FI分類-F16B 2/06 A, FI分類-F16B 2/24 B, FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 21/00 L
2016年12月06日 特許庁 / 特許	エンコーダおよびその調整方法 FI分類-G01D 5/347 110 M
2016年12月05日 特許庁 / 特許	エンコーダ及びエンコーダの光源 FI分類-G01D 5/36 R, FI分類-G01D 5/36 U
2016年11月30日 特許庁 / 特許	温度制御ユニット、及びレーザ光源装置 FI分類-H01S 3/042
2016年11月29日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/20 C
2016年11月18日 特許庁 / 特許	情報処理装置及びプログラム FI分類-G06T 7/00 C, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G06T 1/00 315
2016年11月16日 特許庁 / 特許	回転伝達装置 FI分類-F16D 3/04 F
2016年11月15日 特許庁 / 特許	三次元測定機 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 21/00 L
2016年11月10日 特許庁 / 特許	光周波数コムを使ったレーザ周波数測定装置 FI分類-H01S 3/00 G, FI分類-G01R 23/10 A, FI分類-G01R 23/10 H, FI分類-G01R 23/14 A
2016年11月09日 特許庁 / 特許	位相シフト干渉計 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/24 D
2016年11月02日 特許庁 / 特許	計測用X線CT装置と座標測定機の座標合せ治具 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 15/00 A
2016年10月21日 特許庁 / 特許	クロマティック共焦点センサ及び測定方法 FI分類-G01B 11/00 B
2016年10月21日 特許庁 / 特許	測定器に外部機器を接続するための接続ユニットとこの接続ユニットを用いた測定器オプションシステム FI分類-G08C 19/00 J, FI分類-G01B 3/20 101 Z
2016年10月20日 特許庁 / 特許	クロマティック共焦点センサ FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01B 11/24 A
2016年10月07日 特許庁 / 特許	スライダ装置およびこのスライダ装置を備えた形状測定装置 FI分類-F16C 29/02, FI分類-F16C 32/06 A, FI分類-G01B 21/30 102, FI分類-G01B 21/30 101 Z
2016年10月03日 特許庁 / 特許	発光ユニットおよび光電式エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 S
2016年09月26日 特許庁 / 特許	直線変位測定装置の取付け具 FI分類-G01D 5/245 110 J
2016年09月23日 特許庁 / 特許	一体型の位置合わせプログラムプランニング及び編集機能を含む検査プログラム編集環境 FI分類-G05B 19/409 C, FI分類-G01B 21/20 101
2016年09月15日 特許庁 / 特許	冗長空間位相信号を含むアブソリュート型エンコーダ FI分類-G01D 5/244 J, FI分類-G01D 5/245 L, FI分類-G01B 7/00 101 F, FI分類-G01D 5/245 110 Q
2016年09月13日 特許庁 / 特許	真円度測定機 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 5/20 R
2016年09月13日 特許庁 / 特許	可変焦点距離レンズを含む撮像システムにおける色収差補正 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G03B 15/05, FI分類-G02B 7/28 J, FI分類-G02B 7/28 N, FI分類-G03B 15/00 T, FI分類-G03B 15/02 F, FI分類-G01C 3/06 120 P
2016年09月12日 特許庁 / 特許	形状測定機 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 5/20 C
2016年09月12日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 N
2016年09月12日 特許庁 / 特許	載物台 FI分類-G02B 21/26
2016年08月31日 特許庁 / 特許	真円度測定機 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 5/20 R
2016年08月31日 特許庁 / 特許	投影機およびその使用方法 FI分類-G01B 9/08, FI分類-G03B 21/06
2016年08月29日 特許庁 / 特許	マシンビジョン検査システムのインスタンスによって与えられる多露光画像取得を制御する動作を規定するための方法、コンピュータ読み取り可能非一時的記憶媒体及びマシンビジョン検査システム FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G06T 1/00 300
2016年08月26日 特許庁 / 特許	三次元測定装置及び座標補正方法 FI分類-G01B 5/00 P
2016年08月26日 特許庁 / 特許	座標補正方法及び三次元測定装置 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 5/00 P
2016年08月22日 特許庁 / 特許	測定器と外部機器とのユニット FI分類-G01D 13/00, FI分類-G01B 21/02 Z, FI分類-G01B 3/18 102
2016年08月12日 特許庁 / 特許	駆動部傾斜調整方法、及び駆動部傾斜調整プログラム FI分類-G01B 5/00 P
2016年08月10日 特許庁 / 特許	追尾式レーザ干渉計のフィードバックゲイン調整方法及び装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01S 17/32, FI分類-G01S 17/66
2016年08月10日 特許庁 / 特許	複数の視野の高さマップを測定し、装置のドリフトに対する感度を最小限に抑えてこれらを合成高さマップに結合する方法 FI分類-G01B 11/02 Z
2016年08月03日 特許庁 / 特許	追尾式レーザ干渉計による位置決め機械の検査方法及び装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/03 G
2016年08月02日 特許庁 / 特許	振動検出器 FI分類-G01P 15/11, FI分類-G01H 11/02 D
2016年08月01日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01B 3/22 Z, FI分類-G01B 3/18 102, FI分類-G01B 3/20 101 B
2016年07月19日 特許庁 / 特許	測定プローブ及び測定装置 FI分類-G01B 5/012, FI分類-G01B 5/00 B, FI分類-G01B 21/00 P
2016年07月14日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 21/20 101
2016年07月12日 特許庁 / 特許	エンコーダの制御システム、エンコーダおよびエンコーダの制御システムの制御方法 FI分類-G01D 5/245 110 J
2016年07月07日 特許庁 / 特許	カメラ付きクロマティック共焦点式の測距センサ FI分類-G01B 11/00 B
2016年07月07日 特許庁 / 特許	動的なスペクトル強度の補償機能を備えたクロマティック測距センサ FI分類-G01J 3/02 C, FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01B 11/00 Z, FI分類-G01C 3/06 120 P
2016年07月07日 特許庁 / 特許	倍率調整可能光学システムにおける可変焦点距離レンズの適応的な動作周波数の調整方法 FI分類-G02B 7/36, FI分類-G03B 13/36, FI分類-G02B 7/28 N, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01N 21/84 Z
2016年06月29日 特許庁 / 特許	パートプログラム選択装置、産業機械、及びパートプログラム選択方法 FI分類-G01B 5/00 Z, FI分類-G01B 21/00 Z, FI分類-G05B 19/4155 N
2016年06月27日 特許庁 / 特許	電流制御装置及びレーザ装置 FI分類-G02F 1/37, FI分類-H01S 5/02, FI分類-H01S 3/042, FI分類-H01S 3/109, FI分類-H01S 5/062, FI分類-H01S 3/0941
2016年06月22日 特許庁 / 特許	レーザ光調整方法、及びレーザ光源装置 FI分類-G02F 1/37, FI分類-H01S 3/108, FI分類-H01S 3/137
2016年06月21日 特許庁 / 特許	硬さ試験機 FI分類-G01N 3/42 E
2016年06月21日 特許庁 / 特許	位置特定装置及び位置特定方法 FI分類-G06K 7/12, FI分類-G06K 7/14 017, FI分類-G06K 19/06 037, FI分類-G06K 19/06 140
2016年06月17日 特許庁 / 特許	光干渉測定装置及び光干渉測定方法 FI分類-G01B 9/02
2016年06月16日 特許庁 / 特許	産業機械 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 21/00 L
2016年06月15日 特許庁 / 特許	対物レンズマウント、対物レンズユニット、および光学式測定機 FI分類-G02B 7/14, FI分類-G02B 21/24, FI分類-G02B 7/02 Z
2016年06月14日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01B 3/18, FI分類-G01B 3/22 Z, FI分類-G01B 21/02 Z, FI分類-G01B 3/20 101 Z
2016年06月13日 特許庁 / 特許	測定装置のための光学的構成体 FI分類-G01B 5/016, FI分類-G01B 11/00 A, FI分類-G01B 21/00 P
2016年06月13日 特許庁 / 特許	多重化された位置信号を備える測定装置 FI分類-G01B 5/012, FI分類-G01B 11/00 Z
2016年06月09日 特許庁 / 特許	保持構造 FI分類-G01D 5/245 110 W
2016年05月27日 特許庁 / 特許	発光ユニット、発光受光ユニットおよび光電式エンコーダ FI分類-G02B 17/08 Z, FI分類-G01D 5/347 110 U
2016年05月24日 特許庁 / 特許	測定装置及び軸物ワーク支持機構 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 21/00 L
2016年05月24日 特許庁 / 特許	エンコーダ FI分類-G01D 5/244 K
2016年05月23日 特許庁 / 特許	測定システム及び調整用設定値の切替方法 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G01N 21/359, FI分類-G01N 21/27 B, FI分類-G01N 21/64 E
2016年05月18日 特許庁 / 特許	測定方法及び測定装置 FI分類-G01B 5/02, FI分類-G01B 5/08, FI分類-G01B 21/10, FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 21/00 L, FI分類-G01B 21/02 Z
2016年04月27日 特許庁 / 特許	リニアゲージ FI分類-G01B 5/02, FI分類-G01B 5/012
2016年04月26日 特許庁 / 特許	透明体の欠陥検出方法及び装置 FI分類-G01N 21/958, FI分類-G01M 11/00 L
2016年04月21日 特許庁 / 特許	光学エンコーダの照明部に使用される光源アレイ FI分類-G01D 5/347 110 S
2016年04月21日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01B 3/20 101 Z
2016年04月12日 特許庁 / 特許	テレセントリック光学装置 FI分類-G02B 13/22
2016年04月01日 特許庁 / 特許	エアベアリング FI分類-F16C 32/06 A
2016年04月01日 特許庁 / 特許	吸着スタンド FI分類-G01B 5/00 L
2016年04月01日 特許庁 / 特許	撮像システム及び撮像方法 FI分類-G02B 3/14, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-H04N 5/225 C, FI分類-H04N 5/232 Z
2016年03月25日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 L
2016年03月22日 特許庁 / 特許	直線変位測定装置のスケール保持構造 FI分類-G01B 21/00 L
2016年03月16日 特許庁 / 特許	表面性状測定機の制御方法 FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G01B 21/20 Z, FI分類-G05B 19/4093 E
2016年03月16日 特許庁 / 特許	表面性状測定機用のパートプログラム生成装置 FI分類-G01B 11/24 Z, FI分類-G01B 21/20 Z
2016年03月03日 特許庁 / 特許	高感度測定モードを有するクロマティック・レンジ・センサ FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01B 11/02 Z
2016年02月26日 特許庁 / 特許	クロマティック共焦点センサ及び測定方法 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01B 11/00 G, FI分類-G01C 3/06 120 P
2016年02月26日 特許庁 / 特許	測定プローブ FI分類-G01B 5/00 B, FI分類-G01B 21/00 P
2016年02月26日 特許庁 / 特許	測定プローブ FI分類-G01B 5/012, FI分類-G01B 5/00 B
2016年02月25日 特許庁 / 特許	表面性状測定機 FI分類-G01B 21/20 D
2016年02月25日 特許庁 / 特許	表面性状測定機及び表面性状測定方法 FI分類-G01B 11/24 B, FI分類-G01B 11/24 D, FI分類-G01B 11/24 K
2016年02月25日 特許庁 / 特許	内壁測定装置及びオフセット量算出方法 FI分類-G01B 5/00 P, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 21/00 P
2016年02月24日 特許庁 / 特許	測定システム FI分類-G06F 3/0487, FI分類-G06F 3/0346 423, FI分類-G06F 3/0481 170, FI分類-G06F 3/0484 120
2016年02月24日 特許庁 / 特許	眼で操作するアイポインティングシステム FI分類-G06F 3/01 510, FI分類-G06F 3/0346 423, FI分類-G06F 3/038 310 A
2016年02月05日 特許庁 / 特許	クロマティック共焦点センサ FI分類-G02B 7/36, FI分類-G03B 13/36, FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 P
2016年02月05日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダ FI分類-G01D 5/38 A
2016年02月05日 特許庁 / 特許	画像測定機およびプログラム FI分類-G06T 5/50, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G06T 1/00 300
2016年01月25日 特許庁 / 特許	オートフォーカス装置 FI分類-G03B 13/36, FI分類-G02B 7/28 H, FI分類-G02B 7/28 N
2015年12月22日 特許庁 / 特許	エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 P
2015年12月22日 特許庁 / 特許	エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 A
2015年12月21日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダおよび測定器 FI分類-G01D 5/347 110 L
2015年12月18日 特許庁 / 特許	接触プローブシステム FI分類-G01B 5/012
2015年12月15日 特許庁 / 特許	透明管の内径測定方法 FI分類-G01B 11/12 H
2015年12月02日 特許庁 / 特許	ボア撮像システム FI分類-G03B 19/07, FI分類-G01B 11/30 A, FI分類-G01N 21/84 A, FI分類-G03B 15/00 B, FI分類-G03B 15/00 H, FI分類-G03B 15/00 L, FI分類-G03B 15/00 W, FI分類-G01N 21/954 A
2015年11月16日 特許庁 / 特許	光学式エンコーダのための照明部 FI分類-G01D 5/347 D, FI分類-H01L 33/00 L, FI分類-G01D 5/347 110 S
2015年11月12日 特許庁 / 特許	エンコーダスケール FI分類-G01D 5/245 110 Q
2015年11月11日 特許庁 / 特許	2つの調整モードを含む人間工学に基づいたマイクロメータ FI分類-G01B 3/18 102
2015年11月09日 特許庁 / 特許	プローブ測定力調整装置 FI分類-G01B 5/012
2015年11月04日 特許庁 / 特許	小型測定機器 FI分類-G01B 3/18, FI分類-G01D 7/00 F, FI分類-G01B 3/20 101
2015年10月30日 特許庁 / 特許	寸法基準器の線膨張係数測定方法および測定装置 FI分類-G01N 25/16 E
2015年10月30日 特許庁 / 特許	寸法基準器の線膨張係数測定方法 FI分類-G01N 25/16 E
2015年10月23日 特許庁 / 特許	治具及びゲージ検査機 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 5/00 P
2015年10月22日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 5/20 C
2015年10月19日 特許庁 / 特許	回転系の位置フィードバック制御方法 FI分類-G05D 3/00 J
2015年10月13日 特許庁 / 特許	座標測定装置 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 21/00 E
2015年10月09日 特許庁 / 特許	硬さ試験機 FI分類-G01N 3/42 D
2015年10月08日 特許庁 / 特許	計測システム用の3次元ワークスキャンパスをプログラミングする方法 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/02 Z, FI分類-G05B 19/4093 H
2015年10月01日 特許庁 / 特許	座標測定装置 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 21/00 L
2015年09月30日 特許庁 / 特許	ゲージ検査機 FI分類-G01B 3/22 P
2015年09月30日 特許庁 / 特許	直線変位測定装置 FI分類-G01D 5/12 K, FI分類-G01B 21/00 C
2015年09月29日 特許庁 / 特許	計測機器用の信号処理回路 FI分類-G01D 5/12 N
2015年09月25日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/20 C
2015年09月25日 特許庁 / 特許	寸法基準器の線膨張係数測定方法および測定装置 FI分類-G01N 25/16 E
2015年09月14日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダ FI分類-G02B 13/00, FI分類-G02B 5/00 Z, FI分類-G01D 5/347 110 U
2015年09月14日 特許庁 / 特許	絶対位置検出型光電式エンコーダ FI分類-G01D 5/347 C
2015年09月14日 特許庁 / 特許	テレセントリック光学系 FI分類-G02B 13/08, FI分類-G01D 5/347 110 U
2015年09月10日 特許庁 / 特許	硬さ試験機 FI分類-G01N 3/42 C
2015年09月10日 特許庁 / 特許	硬さ試験機及び硬さ試験方法 FI分類-G01N 3/42 Z
2015年09月10日 特許庁 / 特許	硬さ試験機及び硬さ試験方法 FI分類-G01N 3/42 C, FI分類-G01N 3/42 F
2015年09月10日 特許庁 / 特許	硬さ試験機及び硬さ試験方法 FI分類-G01N 3/42 C, FI分類-G01N 3/42 F
2015年09月08日 特許庁 / 特許	エンコーダ FI分類-G02B 13/00, FI分類-G02B 13/18, FI分類-G02B 13/22, FI分類-G01D 5/347 110 U
2015年09月04日 特許庁 / 特許	設置物固定機構 FI分類-G01V 1/20
2015年08月31日 特許庁 / 特許	画像測定装置及びその制御プログラム FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G06T 1/00 300, FI分類-G06T 7/60 150 S, FI分類-G06T 7/60 250 C
2015年08月31日 特許庁 / 特許	画像測定装置及びその制御プログラム FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/24 K
2015年08月31日 特許庁 / 特許	画像測定装置、その制御プログラム及び測定装置 FI分類-G01B 11/02 H
2015年08月27日 特許庁 / 特許	プローブヘッド回転機構 FI分類-G01B 5/012, FI分類-G01B 21/00 P
2015年08月03日 特許庁 / 特許	干渉計周期誤差の補正方法および補正パラメータ取得方法 FI分類-G01B 9/02
2015年07月28日 特許庁 / 特許	変位検出装置 FI分類-G02B 5/18, FI分類-G01D 5/347 D, FI分類-G01D 5/347 110 U
2015年07月28日 特許庁 / 特許	変位検出装置 FI分類-G02B 5/18, FI分類-G01D 5/347 110 E
2015年07月28日 特許庁 / 特許	測定装置の補助装置 FI分類-G02B 26/12, FI分類-G01B 11/02 Z
2015年07月24日 特許庁 / 特許	テスト表面の高精度高さマップを測定する方法 FI分類-G01B 11/24 A, FI分類-G01B 21/20 101
2015年07月14日 特許庁 / 特許	スケール固定装置 FI分類-G01D 5/245 110 J
2015年07月14日 特許庁 / 特許	瞬時位相シフト干渉計 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/24 D
2015年06月29日 特許庁 / 特許	形状測定装置の原点ゲージ FI分類-G01B 5/00 P, FI分類-G01B 5/20 R, FI分類-G01B 21/20 101, FI分類-G01B 21/30 101 Z
2015年06月29日 特許庁 / 特許	造形装置、及び造形方法 FI分類-B29C 67/00, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-G01B 11/24 K
2015年06月29日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01B 11/00 Z
2015年06月18日 特許庁 / 特許	座標測定機の動作を制御する方法 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 21/00 H, FI分類-G01B 21/20 101
2015年06月17日 特許庁 / 特許	画像取得動作の連続ストリームが実行モード中に実行されるパートプログラムのマシンビジョンシステム編集環境 FI分類-G01B 11/02 H
2015年06月17日 特許庁 / 特許	平面形状測定装置及び平面形状算出システム FI分類-G01B 11/30 101
2015年06月12日 特許庁 / 特許	傾斜面又は曲面を持つ透明立体の高さマップの計算方法 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01B 11/06 G
2015年06月12日 特許庁 / 特許	変化する切欠きに対して繰り返して配置されたプレートを有するアブソリュート型エンコーダスケール FI分類-G01D 5/20 110 F
2015年06月11日 特許庁 / 特許	光学式エンコーダ FI分類-G01D 5/36 Q, FI分類-G01D 5/38 A, FI分類-G01D 5/347 110 D, FI分類-G01D 5/347 110 E
2015年06月10日 特許庁 / 特許	測定機の衝突防止装置 FI分類-G01B 21/00 L
2015年06月10日 特許庁 / 特許	光学素子切替装置 FI分類-G02B 7/16, FI分類-G02B 21/24
2015年06月02日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 21/20 101
2015年05月29日 特許庁 / 特許	変位検出装置 FI分類-G01D 5/12 C, FI分類-G01D 5/26 G
2015年05月29日 特許庁 / 特許	光学エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 A
2015年05月26日 特許庁 / 特許	マイクロメータ格納箱 FI分類-G01B 3/18 102
2015年05月22日 特許庁 / 特許	形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 21/20 101
2015年05月21日 特許庁 / 特許	位置検出装置 FI分類-G01D 5/12 C
2015年05月14日 特許庁 / 特許	エンコーダスケール及びその製造・取付方法 FI分類-G01D 5/245 110 Q
2015年05月12日 特許庁 / 特許	リニアゲージ FI分類-G01B 5/012
2015年05月08日 特許庁 / 特許	非接触距離測定方法 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/00 G
2015年05月08日 特許庁 / 特許	光周波数コム装置を用いたレーザ周波数測定装置の評価方法 FI分類-G01J 9/04
2015年05月08日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01B 3/22 Q
2015年04月27日 特許庁 / 特許	電磁誘導式エンコーダおよびスケール FI分類-G01D 5/245 110 Q
2015年04月24日 特許庁 / 特許	触覚又は聴覚フィードバックを利用するノギス測定力インジケータ FI分類-G01L 5/22, FI分類-G01L 5/00 B, FI分類-G01B 3/20 101 Z
2015年04月24日 特許庁 / 特許	追尾式レーザ干渉計を用いた空間位置測定方法及び装置 FI分類-G01B 9/02
2015年04月21日 特許庁 / 特許	測定システムおよびユーザインタフェース装置 FI分類-G01B 21/00 Z, FI分類-G06F 3/01 310 A
2015年04月21日 特許庁 / 特許	制御システム FI分類-G01B 21/00 Z, FI分類-G06F 3/01 510, FI分類-G06F 3/0346 422, FI分類-G06F 3/0481 150
2015年04月21日 特許庁 / 特許	測定システム FI分類-G01B 21/00 Z, FI分類-G06F 3/01 510, FI分類-G06F 3/0346 422, FI分類-G06F 3/0481 150
2015年04月21日 特許庁 / 特許	測定システム FI分類-G01B 21/00 E, FI分類-G06F 3/01 570, FI分類-G06F 3/0481 150
2015年04月20日 特許庁 / 特許	追尾式レーザ干渉計および追尾式レーザ干渉計の復帰方法 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01S 17/66, FI分類-G01S 7/481 A
2015年04月14日 特許庁 / 特許	画像測定装置、画像測定方法、情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム FI分類-G01B 11/24 K
2015年04月14日 特許庁 / 特許	測定器の調整方法、調整装置、および測定器 FI分類-G01B 3/22 R, FI分類-G01B 5/00 B
2015年04月07日 特許庁 / 特許	測定装置および軸物ワークの支持機構 FI分類-G01B 21/00 L, FI分類-G01B 21/20 C
2015年04月07日 特許庁 / 特許	測定装置および軸物ワークの支持機構 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 21/00 L
2015年03月31日 特許庁 / 特許	エッジ検出偏り補正値計算方法、エッジ検出偏り補正方法、及びプログラム FI分類-G01B 11/00 H
2015年03月31日 特許庁 / 特許	形状測定機の姿勢調整器 FI分類-G01B 5/20, FI分類-G01B 5/28, FI分類-G01B 5/00 L
2015年03月31日 特許庁 / 特許	パラメータ演算装置及びプログラム FI分類-G01B 5/28 102, FI分類-G01B 21/30 102
2015年03月27日 特許庁 / 特許	測定データ収集装置及びプログラム FI分類-G01B 11/00 H
2015年03月27日 特許庁 / 特許	測定データ収集装置及びプログラム FI分類-G06K 9/22, FI分類-G06K 9/00 S, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G06K 9/20 340 A, FI分類-G06T 7/00 300 Z
2015年03月26日 特許庁 / 特許	ノギスのジョウに圧力アクチュエータを取り付けるための弾性取付具及び取付方法 FI分類-G01B 3/20 101 Z
2015年03月16日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 L
2015年03月16日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダ FI分類-G01D 5/26 L, FI分類-G01D 5/244 K
2015年03月12日 特許庁 / 特許	コマンド実行システムおよび位置計測装置 FI分類-G06F 3/048 657 A
2015年03月11日 特許庁 / 特許	測定センサ用高速接触検出器 FI分類-G01B 5/004
2015年03月09日 特許庁 / 特許	形状測定装置の軸ずれ判定方法、形状測定装置の調整方法、形状測定装置の軸ずれ判定プログラム、および、形状測定装置 FI分類-G01B 5/00 P, FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 21/20 101
2015年03月05日 特許庁 / 特許	測定プローブ FI分類-G01B 5/012
2015年03月05日 特許庁 / 特許	測定プローブ FI分類-G01B 5/012, FI分類-G01B 21/00 P
2015年03月05日 特許庁 / 特許	測定プローブ FI分類-G01B 5/012
2015年03月05日 特許庁 / 特許	測定プローブ FI分類-G01B 5/012, FI分類-G01B 21/00 P
2015年03月05日 特許庁 / 特許	測定プローブ FI分類-G01B 5/012, FI分類-G01B 11/00 G, FI分類-G01B 21/00 P
2015年03月04日 特許庁 / 特許	ハイトゲージ FI分類-G01B 5/02, FI分類-G01B 5/00 B, FI分類-G01B 7/00 101 H
2015年03月04日 特許庁 / 特許	測定装置および軸物ワークの支持機構 FI分類-G01B 5/00 L
2015年03月03日 特許庁 / 特許	位相調整器及びエンコーダ FI分類-G01D 5/244 A, FI分類-G01D 5/347 110 B, FI分類-G01D 5/347 110 L
2015年02月25日 特許庁 / 特許	ノギスのジョウを移動させるためのローラ機構及びノギスに測定力を印加する方法 FI分類-G01B 3/20 101 Z
2015年02月24日 特許庁 / 特許	測定力を示す変位センサを有するノギス FI分類-G01B 7/02 Z, FI分類-G01B 3/20 101 B
2015年02月23日 特許庁 / 特許	ステム、及びプローブ FI分類-G01B 5/012
2015年02月16日 特許庁 / 特許	内側測定器 FI分類-G01B 5/12, FI分類-G01B 5/20 D, FI分類-G01B 21/00 P
2015年02月09日 特許庁 / 特許	テストインジケータ FI分類-G01B 3/22 A
2015年02月06日 特許庁 / 特許	構造化照明顕微鏡法での画像シーケンス及び評価方法及びシステム FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01B 11/06 H, FI分類-G01B 11/25 H
2015年01月21日 特許庁 / 特許	エンコーダ FI分類-G01D 5/36 X
2015年01月19日 特許庁 / 特許	変位測定装置および変位測定方法 FI分類-G01D 5/244 J, FI分類-G01B 7/00 101 C
2015年01月05日 特許庁 / 特許	干渉対物レンズ、および光干渉測定装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/04, FI分類-G02B 7/182
2014年12月26日 特許庁 / 特許	誘導検出型ロータリエンコーダ FI分類-G01D 5/245 E
2014年12月22日 特許庁 / 特許	プログラム可能な計測システムのためのカスタマイズされて同期された参照メモを生成するためのリモートアクセサリ FI分類-G06F 9/06 620 C, FI分類-G06F 3/048 651 E
2014年12月18日 特許庁 / 特許	座標測定機のワークピース要素検査動作をプログラミングするためのシステム及び方法 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 21/00 E, FI分類-G01B 21/20 101
2014年12月08日 特許庁 / 特許	非回転のCPSペンを用いた穴測定装置及び穴測定方法 FI分類-G01B 11/08 Z
2014年11月28日 特許庁 / 特許	光学式エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 B
2014年11月27日 特許庁 / 特許	拡張被写界深度を有する画像を得るマシンビジョン検査システム及び方法 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01N 21/84 D, FI分類-H04N 5/225 C, FI分類-H04N 5/225 F, FI分類-H04N 5/232 Z
2014年11月26日 特許庁 / 特許	LEDリングライト及びその製造方法並びにLEDリングライトを用いた画像測定機及び光学機器 FI分類-G02B 21/06, FI分類-F21Y 101:02, FI分類-G02B 7/02 E, FI分類-H01L 33/00 H, FI分類-F21S 2/00 312, FI分類-F21V 19/00 150, FI分類-F21V 19/00 170, FI分類-F21V 19/00 450, FI分類-F21V 19/00 510
2014年11月26日 特許庁 / 特許	画像測定装置及び測定装置 FI分類-G01B 11/25 H
2014年11月18日 特許庁 / 特許	非接触位置決め方法および非接触位置決め装置 FI分類-G01B 9/021, FI分類-G01B 11/00 G
2014年11月14日 特許庁 / 特許	投影アーティファクト抑制要素を含む構造化照明顕微鏡法光学装置 FI分類-G02B 21/06, FI分類-G01B 11/02 H
2014年11月13日 特許庁 / 特許	光学装置 FI分類-G02B 21/24
2014年11月10日 特許庁 / 特許	測定機へのワーク載置方法および測定機 FI分類-G01B 21/00 L
2014年11月10日 特許庁 / 特許	白色光干渉計光学ヘッドを用いた非接触表面形状測定方法及び装置 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/24 D, FI分類-G01B 11/24 K
2014年11月07日 特許庁 / 特許	測定値補正方法、測定値補正プログラム及び測定装置 FI分類-G01B 5/00 P, FI分類-G01B 5/20 C
2014年11月07日 特許庁 / 特許	測定値補正方法、測定値補正プログラム及び測定装置 FI分類-G01B 5/00 P, FI分類-G01B 5/20 C
2014年11月06日 特許庁 / 特許	温度計システムおよび形状測定装置 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01K 1/02 Z, FI分類-G01B 21/20 101
2014年11月06日 特許庁 / 特許	形状測定装置、及び形状測定方法 FI分類-G01B 5/20 C
2014年10月23日 特許庁 / 特許	光学式エンコーダ FI分類-G01D 5/38 A
2014年10月10日 特許庁 / 特許	マシンビジョン検査システムにおいてTAF(トラッキングオートフォーカス)センサを制御するシステム及び方法 FI分類-G02B 7/32, FI分類-G02B 7/28 H, FI分類-G01B 11/02 Z
2014年10月02日 特許庁 / 特許	形状測定装置、形状測定方法およびポイントセンサの位置合わせ手段 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01B 11/14 Z
2014年10月02日 特許庁 / 特許	形状測定装置の位置合わせオフセット算出方法および形状測定装置の制御方法 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01B 11/14 Z
2014年09月29日 特許庁 / 特許	画像測定装置及び画像測定装置のガイダンス表示方法 FI分類-G01B 11/02 H
2014年09月24日 特許庁 / 特許	真円度測定機およびその制御方法 FI分類-G01B 5/20 R
2014年09月12日 特許庁 / 特許	位置計測装置 FI分類-G01B 11/00 H
2014年09月05日 特許庁 / 特許	形状測定装置、及び形状測定方法 FI分類-G01B 5/20 C
2014年09月02日 特許庁 / 特許	寸法計測手工具による測定対象物測定値の確定方法 FI分類-G01B 3/18, FI分類-G01B 3/20 101
2014年09月02日 特許庁 / 特許	位置計測装置 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 110 A
2014年09月02日 特許庁 / 特許	光学観察装置及び光学観察方法 FI分類-G02B 21/00
2014年09月01日 特許庁 / 特許	測定器のパラメータ設定方法及び測定器のパラメータ設定プログラム FI分類-G01B 21/00 Z, FI分類-G06F 3/048 654 A
2014年08月29日 特許庁 / 特許	形状測定装置、及び形状測定方法 FI分類-G01B 5/20 C
2014年08月29日 特許庁 / 特許	形状測定装置、及び形状測定方法 FI分類-G01B 5/20 C
2014年08月27日 特許庁 / 特許	測定具用校正制御装置 FI分類-G01B 3/22 P
2014年08月27日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01B 3/20 101
2014年08月27日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01B 3/20 101 Z
2014年08月19日 特許庁 / 特許	エンコーダスケールおよびその製造方法 FI分類-G01D 5/245 110 Q
2014年08月07日 特許庁 / 特許	光周波数コムによるレーザ周波数測定の精度評価方法及び装置 FI分類-G01J 9/02, FI分類-G02F 1/365, FI分類-H01S 3/00 G
2014年08月05日 特許庁 / 特許	外形寸法測定装置及び外形寸法測定方法 FI分類-G01B 11/08 Z
2014年07月22日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-F16H 19/04 K, FI分類-G01B 3/20 101
2014年07月22日 特許庁 / 特許	硬さ試験機及び硬さ試験方法 FI分類-G01N 3/42 B
2014年07月18日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 11/26, FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/30 101
2014年07月18日 特許庁 / 特許	形状測定装置の測定誤差の補正方法及び形状測定装置 FI分類-G01B 5/20 C
2014年07月18日 特許庁 / 特許	画像測定装置 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01B 11/03 H
2014年07月17日 特許庁 / 特許	球形状測定方法及び装置 FI分類-G01B 11/24 D
2014年07月17日 特許庁 / 特許	球形状測定方法及び装置 FI分類-G01B 11/24 D, FI分類-G01B 11/24 R
2014年07月16日 特許庁 / 特許	硬さ試験機 FI分類-G01N 3/42 F
2014年07月10日 特許庁 / 特許	光周波数コムを使ったレーザ周波数測定方法及び装置 FI分類-H01S 3/00 G, FI分類-G01R 23/10 H, FI分類-G01R 23/14 C
2014年07月04日 特許庁 / 特許	NC工作機械の制御方法 FI分類-B23Q 17/20 A, FI分類-G05B 19/18 S, FI分類-G05B 19/409 B
2014年07月03日 特許庁 / 特許	クロマティックレンジセンサを構成する光学ペン用の交換可能光学エレメント、および、その分離状態の検出方法 FI分類-G01B 11/00 B, FI分類-G01C 3/06 120 P
2014年06月20日 特許庁 / 特許	位置検出器 FI分類-G11C 17/00 632 Z
2014年06月18日 特許庁 / 特許	センサ信号検知回路 FI分類-G01B 7/00 S
2014年06月17日 特許庁 / 特許	光学式エンコーダ及び光学式エンコーダにおける原点信号生成方法 FI分類-G01D 5/36 X
2014年06月13日 特許庁 / 特許	マシンビジョン検査システム及び高速合焦高さ測定動作を実行する方法 FI分類-G01B 11/02 H
2014年06月09日 特許庁 / 特許	位置計測装置及び位置計測方法 FI分類-G01B 21/00 E
2014年06月06日 特許庁 / 特許	露光制御が強化された構造化照明投影 FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G01B 11/25 H
2014年06月05日 特許庁 / 特許	干渉計測装置、及び変位量測定方法 FI分類-G01B 9/02
2014年06月02日 特許庁 / 特許	位置計測装置 FI分類-G09G 5/08 D, FI分類-G06F 3/033 424, FI分類-G06F 3/048 620, FI分類-G09G 5/00 510 B, FI分類-G09G 5/00 550 C, FI分類-G06F 3/048 656 A, FI分類-G06F 3/048 658 A
2014年05月30日 特許庁 / 特許	温度補正機能付測定機 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01D 3/04 D, FI分類-G01J 5/48 A
2014年05月28日 特許庁 / 特許	光学系及び画像測定装置 FI分類-G02B 13/00, FI分類-G02B 21/06, FI分類-G02B 5/00 B
2014年05月28日 特許庁 / 特許	光学装置 FI分類-G02B 7/34, FI分類-G02B 21/26, FI分類-G02B 7/28 J
2014年05月27日 特許庁 / 特許	スケール及び光学式エンコーダ FI分類-G01D 5/36 X, FI分類-G01D 5/347 110 B
2014年05月27日 特許庁 / 特許	試料表面の干渉信号を生成する干渉計システム及び方法 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G02B 21/00, FI分類-G02B 21/36
2014年05月16日 特許庁 / 特許	情報伝達システム FI分類-G09B 21/00 B, FI分類-G06F 3/01 310 D, FI分類-G06F 3/01 310 Z
2014年05月16日 特許庁 / 特許	情報伝達用グローブ FI分類-G01C 21/36, FI分類-G09B 21/00 B, FI分類-G06F 3/01 560
2014年05月15日 特許庁 / 特許	デジタル式比較測定器 FI分類-G01B 3/18 102
2014年05月13日 特許庁 / 特許	動作コンテキストを意識したコピーアンドペースト機能を含むマシンビジョンシステムプログラム編集環境 FI分類-G06F 3/0484, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G06F 9/06 620 B
2014年05月09日 特許庁 / 特許	マシンビジョン検査システムにおけるステップ・アンド・リピート動作命令編集のためのシステム、GUIおよび方法 FI分類-G01B 11/00 C, FI分類-G06F 9/06 620 D, FI分類-G06F 3/048 651 E
2014年05月07日 特許庁 / 特許	三次元測定システム、三次元測定方法、および、被測定体 FI分類-G01B 5/004, FI分類-G01B 21/00 E
2014年04月28日 特許庁 / 特許	エッジ検出方法 FI分類-G01B 11/00 H, FI分類-G01N 21/88 J, FI分類-G06T 7/60 250 A
2014年04月24日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 U
2014年04月16日 特許庁 / 特許	測定器用表示装置、測定器、測定値のアナログ表示方法、及びプログラム FI分類-G01B 3/22 Z, FI分類-G01D 7/00 301 A, FI分類-G01D 7/00 302 M, FI分類-G09G 5/00 510 D, FI分類-G09G 5/36 530 A
2014年04月09日 特許庁 / 特許	形状測定機 FI分類-G01B 5/20 C
2014年04月09日 特許庁 / 特許	誘導検出型ロータリエンコーダ FI分類-G01B 7/30 M, FI分類-G01D 5/245 110 Q
2014年04月08日 特許庁 / 特許	並進機構及び三次元測定機 FI分類-G01B 5/008, FI分類-G01B 5/00 L
2014年04月08日 特許庁 / 特許	画像測定機 FI分類-G01B 11/02 H
2014年04月03日 特許庁 / 特許	測定器 FI分類-G01B 5/00 B, FI分類-G01D 7/00 D
2014年03月28日 特許庁 / 特許	凸凹表面のエッジに向けて強化されたエッジ検出ツール FI分類-G06T 1/00 300, FI分類-G06T 7/60 250 A
2014年03月28日 特許庁 / 特許	エッジ分解能強化に利用されるオフセットを有する画像を取得するシステム及び方法 FI分類-G01B 11/02 H
2014年03月19日 特許庁 / 特許	位置測定器の補正方法及び位置測定器 FI分類-G01B 5/00 P
2014年03月19日 特許庁 / 特許	形状測定機及びその位置調整方法 FI分類-G01B 5/00 L, FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 21/00 L
2014年03月12日 特許庁 / 特許	位置検出装置 FI分類-G01D 5/244 A
2014年03月12日 特許庁 / 特許	形状測定機 FI分類-G01B 5/20 C
2014年03月12日 特許庁 / 特許	誘導検出型ロータリエンコーダ FI分類-G01B 7/02 J, FI分類-G01D 5/20 110 D, FI分類-G01D 5/245 110 Q
2014年03月12日 特許庁 / 特許	干渉計における参照ミラー表面形状の校正方法 FI分類-G01B 9/02
2014年03月11日 特許庁 / 特許	表面粗さ測定ユニット、三次元測定システム、及び表面粗さ測定ユニットの動作状態表示方法 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 5/28 102
2014年03月03日 特許庁 / 特許	光電式エンコーダ FI分類-G01D 5/347 110 S
2014年02月21日 特許庁 / 特許	斜入射干渉計 FI分類-G01B 9/02, FI分類-G01B 11/24 D
2014年02月21日 特許庁 / 特許	三次元測定機及び三次元測定機による補正行列算出方法 FI分類-G01B 5/00 P
2014年02月19日 特許庁 / 特許	形状測定装置及び形状測定誤差の補正方法 FI分類-G01B 5/00 P, FI分類-G01B 5/20 C
2014年02月19日 特許庁 / 特許	ゲージ検査機、ゲージ検査方法およびゲージをゲージの検査機にセットするための治具 FI分類-G01B 3/22 P
2014年02月17日 特許庁 / 特許	変位検出装置、変位検出システム、及び変位検出方法 FI分類-G01B 11/00 H
2014年02月13日 特許庁 / 特許	位置計測装置および位置計測方法 FI分類-G01B 11/00 H
2014年02月04日 特許庁 / 特許	情報処理装置、情報処理方法、プログラム、測定装置、及び測定方法 FI分類-G01B 11/24 K, FI分類-G06T 1/00 300
2014年02月04日 特許庁 / 特許	誘導型位置測定装置 FI分類-G01D 5/245 110 R
2014年02月04日 特許庁 / 特許	リニアエンコーダ FI分類-G01D 5/245 110 J, FI分類-G01D 5/245 110 Q
2014年01月29日 特許庁 / 特許	多関節アーム型手動測定装置 FI分類-G01B 5/00 Z, FI分類-G01B 21/00 Z
2014年01月29日 特許庁 / 特許	手動測定装置 FI分類-G01B 5/20 C, FI分類-G01B 21/20 101
2014年01月27日 特許庁 / 特許	パラレル機構 FI分類-F16H 21/46, FI分類-B25J 11/00 D, FI分類-G01B 21/00 F
2014年01月22日 特許庁 / 特許	駆動制御装置、駆動装置、および、駆動制御方法 FI分類-G05D 3/12 306 Z
2014年01月21日 特許庁 / 特許	タッチパネル式タブレット型パーソナルコンピュータ、その制御方法及びコンピュータプログラム FI分類-G06F 3/048 620
2014年01月08日 特許庁 / 特許	ゲージ検査治具 FI分類-G01B 3/22 P, FI分類-G01B 5/00 L

株式会社ミツトヨの商標情報(34件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2022年08月12日 特許庁 / 商標	STRATO 09類
2021年11月11日 特許庁 / 商標	LEGEX TAKUMI 09類
2021年02月24日 特許庁 / 商標	DDPAK 09類
2021年01月05日 特許庁 / 商標	§LEGEX 匠 09類
2020年12月23日 特許庁 / 商標	StrobeSnap 09類
2020年04月16日 特許庁 / 商標	LITEMATIC 09類
2020年03月23日 特許庁 / 商標	MiFLASH 09類
2019年04月11日 特許庁 / 商標	MTP 09類
2018年10月05日 特許庁 / 商標	ROUNDTRACER 09類
2018年10月05日 特許庁 / 商標	ROUNDTRACER EXTREME 09類
2018年08月21日 特許庁 / 商標	SMS＼Smart Measuring System 09類
2018年04月13日 特許庁 / 商標	§M3 InnovaTion 09類
2018年03月09日 特許庁 / 商標	SPACETRAC 09類
2017年11月29日 特許庁 / 商標	QUICKmini 09類
2017年02月21日 特許庁 / 商標	MiSCAN 09類
2016年11月15日 特許庁 / 商標	TAG＼LENS 09類
2016年11月01日 特許庁 / 商標	TAGPAK 09類
2016年10月26日 特許庁 / 商標	MiSCANNING Vision System 09類
2016年09月09日 特許庁 / 商標	TAG＼LENS 09類
2016年08月26日 特許庁 / 商標	TAGLENS 09類
2016年08月26日 特許庁 / 商標	TAGLens 09類
2016年08月26日 特許庁 / 商標	TAG LENS 09類
2016年08月26日 特許庁 / 商標	TAG Lens 09類
2016年08月25日 特許庁 / 商標	VISIONPAK 09類
2016年05月26日 特許庁 / 商標	§d2 09類
2016年05月26日 特許庁 / 商標	d2 09類
2016年04月11日 特許庁 / 商標	BoreTex 09類
2016年02月29日 特許庁 / 商標	FORMTRACEPAK 09類
2015年08月25日 特許庁 / 商標	PRONT 09類
2015年07月28日 特許庁 / 商標	LGH 09類
2015年06月11日 特許庁 / 商標	Quick Vision Active 09類
2015年06月09日 特許庁 / 商標	PRONTO 09類
2015年06月09日 特許庁 / 商標	MiSTAR 09類
2014年04月18日 特許庁 / 商標	Quick Vision Lite 09類

株式会社ミツトヨの意匠情報(94件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2023年06月06日 特許庁 / 意匠	画像測定機 意匠新分類-J1125
2023年05月24日 特許庁 / 意匠	画像測定機 意匠新分類-J1125
2023年05月23日 特許庁 / 意匠	ワーク位置調整用画像 意匠新分類-N310 W
2023年01月30日 特許庁 / 意匠	寸法測定器 意匠新分類-J1125
2023年01月30日 特許庁 / 意匠	寸法測定器 意匠新分類-J1125
2023年01月26日 特許庁 / 意匠	ゲージブロック用検査機 意匠新分類-J11200
2023年01月26日 特許庁 / 意匠	ゲージブロック用検査機 意匠新分類-J11200
2023年01月19日 特許庁 / 意匠	表示器 意匠新分類-J1500
2023年01月13日 特許庁 / 意匠	コネクタ付接続ケーブル 意匠新分類-H1351
2023年01月06日 特許庁 / 意匠	画像測定機 意匠新分類-J1125
2022年09月22日 特許庁 / 意匠	通信用接続機器 意匠新分類-H620
2022年06月14日 特許庁 / 意匠	マイクロメータ 意匠新分類-J11200
2022年06月14日 特許庁 / 意匠	マイクロメータ 意匠新分類-J11200
2021年12月06日 特許庁 / 意匠	三次元測定機 意匠新分類-J1125
2021年12月06日 特許庁 / 意匠	三次元測定機 意匠新分類-J1125
2021年10月14日 特許庁 / 意匠	ハイトゲージ 意匠新分類-J11200
2021年10月14日 特許庁 / 意匠	表示器付き操作器 意匠新分類-H7120
2021年10月14日 特許庁 / 意匠	表示器付き操作器 意匠新分類-H7120
2021年10月14日 特許庁 / 意匠	ハイトゲージ 意匠新分類-J11200
2021年08月20日 特許庁 / 意匠	無線通信機器 意匠新分類-H620
2021年07月01日 特許庁 / 意匠	顕微鏡ユニット 意匠新分類-J319
2021年06月10日 特許庁 / 意匠	ハイトゲージ 意匠新分類-J11200
2021年04月20日 特許庁 / 意匠	無線通信機器 意匠新分類-H620
2021年04月20日 特許庁 / 意匠	表面粗さ測定機 意匠新分類-J11200
2021年03月05日 特許庁 / 意匠	画像測定機 意匠新分類-J1125
2021年03月05日 特許庁 / 意匠	画像測定機 意匠新分類-J1125
2021年03月05日 特許庁 / 意匠	画像測定機 意匠新分類-J1125
2020年11月16日 特許庁 / 意匠	三次元測定機用点検ゲージ 意匠新分類-J1125
2020年08月18日 特許庁 / 意匠	通信用接続機器 意匠新分類-H620
2020年08月18日 特許庁 / 意匠	通信用接続機器 意匠新分類-H620
2020年08月04日 特許庁 / 意匠	座標測定用光学測定ヘッド 意匠新分類-J1125
2020年07月02日 特許庁 / 意匠	データ読み取り機 意匠新分類-J14500
2020年04月21日 特許庁 / 意匠	測定用表示板 意匠新分類-H148
2020年03月27日 特許庁 / 意匠	座標測定用光学測定ヘッド 意匠新分類-J1125
2019年12月13日 特許庁 / 意匠	データ読み取り機 意匠新分類-J14500
2019年12月13日 特許庁 / 意匠	データ出力用インターフェイス 意匠新分類-J14500
2019年12月13日 特許庁 / 意匠	データ出力用インターフェイス 意匠新分類-J14500
2019年12月13日 特許庁 / 意匠	抵抗器 意匠新分類-H1420
2019年06月10日 特許庁 / 意匠	デジタル式ダイヤルゲージ 意匠新分類-J11200
2019年06月10日 特許庁 / 意匠	デジタル式ダイヤルゲージ 意匠新分類-J11200
2019年06月10日 特許庁 / 意匠	デジタル式ダイヤルゲージ 意匠新分類-J11200
2019年06月10日 特許庁 / 意匠	測定用表示板 意匠新分類-H148
2019年06月10日 特許庁 / 意匠	デジタル式ダイヤルゲージ 意匠新分類-J11200
2018年10月10日 特許庁 / 意匠	焦点距離可変レンズ 意匠新分類-J319
2018年10月10日 特許庁 / 意匠	焦点距離可変レンズ 意匠新分類-J319
2018年10月02日 特許庁 / 意匠	光学式測定装置の補正用治具 意匠新分類-J1900
2018年08月28日 特許庁 / 意匠	マイクロメータ 意匠新分類-J11200
2018年08月22日 特許庁 / 意匠	三次元測定機 意匠新分類-J1125
2017年11月24日 特許庁 / 意匠	表面形状・粗さ測定機 意匠新分類-J11200
2017年11月24日 特許庁 / 意匠	表面形状・粗さ測定機 意匠新分類-J11200
2017年11月24日 特許庁 / 意匠	表面形状・粗さ測定機 意匠新分類-J11200
2017年11月24日 特許庁 / 意匠	測定機用制御ボックス 意匠新分類-H2600
2017年11月24日 特許庁 / 意匠	測定機用コントローラ 意匠新分類-H7120
2017年11月24日 特許庁 / 意匠	設置台 意匠新分類-D6513
2017年11月24日 特許庁 / 意匠	作業台 意匠新分類-D6513
2017年07月14日 特許庁 / 意匠	硬さ試験機用表示器 意匠新分類-J159
2017年07月14日 特許庁 / 意匠	硬さ試験機 意匠新分類-J1500
2017年07月14日 特許庁 / 意匠	硬さ試験機 意匠新分類-J1500
2017年07月14日 特許庁 / 意匠	硬さ試験機 意匠新分類-J1500
2017年07月14日 特許庁 / 意匠	硬さ試験機 意匠新分類-J1500
2017年07月14日 特許庁 / 意匠	硬さ試験機 意匠新分類-J1500
2016年10月05日 特許庁 / 意匠	真円度円筒形状測定機 意匠新分類-J1125
2016年10月05日 特許庁 / 意匠	作業台 意匠新分類-D6513
2016年10月05日 特許庁 / 意匠	真円度円筒形状測定機 意匠新分類-J1125
2016年10月05日 特許庁 / 意匠	真円度円筒形状測定機 意匠新分類-J1125
2016年09月27日 特許庁 / 意匠	無線通信機器 意匠新分類-H620
2016年09月27日 特許庁 / 意匠	無線通信機器 意匠新分類-H620
2016年09月27日 特許庁 / 意匠	通信用接続機器 意匠新分類-H6291
2016年09月26日 特許庁 / 意匠	三次元測定機 意匠新分類-J1125
2016年09月21日 特許庁 / 意匠	表面性状測定機 意匠新分類-J1125
2016年09月21日 特許庁 / 意匠	表面性状測定機 意匠新分類-J1125
2016年03月04日 特許庁 / 意匠	画像測定機 意匠新分類-J1125
2016年03月04日 特許庁 / 意匠	画像測定機 意匠新分類-J1125
2016年03月04日 特許庁 / 意匠	画像測定機 意匠新分類-J1125
2016年03月04日 特許庁 / 意匠	画像測定機 意匠新分類-J1125
2015年12月17日 特許庁 / 意匠	座標測定用光学測定ヘッド 意匠新分類-J1125
2015年09月30日 特許庁 / 意匠	デジタル式ダイヤルゲージ 意匠新分類-J11200
2015年09月30日 特許庁 / 意匠	ダイヤルゲージ検査機 意匠新分類-J1500
2015年09月30日 特許庁 / 意匠	変位測定器 意匠新分類-H15500
2015年03月11日 特許庁 / 意匠	ノギス 意匠新分類-J1121
2015年03月11日 特許庁 / 意匠	ノギス 意匠新分類-J1121
2015年03月11日 特許庁 / 意匠	ノギス 意匠新分類-J1121
2015年03月11日 特許庁 / 意匠	ノギス 意匠新分類-J1121
2014年10月20日 特許庁 / 意匠	画像測定機 意匠新分類-J1125
2014年09月29日 特許庁 / 意匠	測定機用の制御機 意匠新分類-J1125 W
2014年04月07日 特許庁 / 意匠	測定器用表示器 意匠新分類-J1900 W
2014年04月07日 特許庁 / 意匠	測定器用表示器 意匠新分類-J1900 W
2014年03月28日 特許庁 / 意匠	ハイトゲージ 意匠新分類-J11200
2014年03月28日 特許庁 / 意匠	ハイトゲージ 意匠新分類-J11200 W
2014年03月10日 特許庁 / 意匠	デジタル式ダイヤルゲージ 意匠新分類-J11200
2014年03月10日 特許庁 / 意匠	測定用表示板 意匠新分類-H148 W
2014年03月06日 特許庁 / 意匠	三次元測定機 意匠新分類-J1125
2014年03月06日 特許庁 / 意匠	通信機器 意匠新分類-H620
2014年03月05日 特許庁 / 意匠	三次元測定機 意匠新分類-J1125

株式会社ミツトヨの職場情報

項目	データ
企業規模	3,500人
平均勤続年数 範囲 正社員	男性 16.6年 / 女性 17.5年

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