株式会社ホロンとは

株式会社ホロン(ホロン)は、法人番号:7030001029814で東京都立川市上砂町5丁目40番地の1に所在する法人としてさいたま地方法務局で法人登録され、2015年10月05日に法人番号が指定されました。代表者は、代表取締役社長張皓。資本金は17億6,402万4,000円。従業員数は46人。登録情報として、特許情報が11件が登録されています。なお、2021年07月28日に法人番号公表サイトでは登録情報が変更されています。法人番号公表サイトでの最終更新日は2021年08月03日です。
インボイス番号:T7030001029814については、2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されています。
この地域の労働局は東京労働局。立川労働基準監督署が所轄の労働基準監督署です。
 

名称の「株式会社」について(β版)

株式会社は、法人格を持つ組織形態の一つであり、株主が出資することによって設立されます。株式会社は、株主の出資額に応じた株式を発行し、経営を行います。株主は株式を所有することで、会社の経営に参加する権利を持ちます。また、株式会社は独立した法的存在であり、株主の責任は出資額に限定されます。株式会社は、経営の安定性や資金調達の容易さなどの利点を持ち、多くの企業がこの形態を選択しています。

株式会社ホロンの基本情報

項目 内容
商号又は名称 株式会社ホロン
商号又は名称(読み仮名)フリガナ ホロン
法人番号 7030001029814
会社法人等番号 0300-01-029814
登記所 さいたま地方法務局
※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号
※2024年08月31日更新
インボイス番号
T7030001029814
※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。
(2024年08月31日現在)
法人種別 株式会社
郵便番号 〒190-0032
※地方自治体コードは 13202
国内所在地(都道府県)都道府県 東京都
※東京都の法人数は 1,322,587件
国内所在地(市区町村)市区町村 立川市
※立川市の法人数は 8,698件
国内所在地(丁目番地等)丁目番地 上砂町5丁目40番地の1
国内所在地(1行表示)1行表示 東京都立川市上砂町5丁目40番地の1
国内所在地(読み仮名)読み仮名 -
代表者 代表取締役社長 張 皓
資本金 17億6,402万4,000円 (2023年12月13日現在)
従業員数 46人 (2023年12月13日現在)
電話番号TEL 04-2945-2951
FAX番号FAX 04-2945-2962
ホームページHP http://www.holon-ltd.co.jp/
更新年月日更新日 2021年08月03日
変更年月日変更日 2021年07月28日
法人番号指定年月日指定日 2015年10月05日
※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局 東京労働局
〒102-8305~〒102-8307 東京都千代田区九段南1丁目2番1号 九段第3合同庁舎12階~14階
管轄の労働基準監督署労働基準監督署 立川労働基準監督署
〒190-8516 東京都立川市緑町4-2立川地方合同庁舎3階

株式会社ホロンの場所

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株式会社ホロンの補足情報

項目 内容
企業名 読み仮名 カブシキガイシャホロン
企業名 英語 HOLON CO.,LTD.
上場・非上場 非上場
資本金 17億6,400万円
業種 精密機器

株式会社ホロンの登録履歴

日付 内容
2021年07月28日
【住所変更】
国内所在地が「東京都立川市上砂町5丁目40番地の1」に変更されました。
2015年10月05日
【新規登録】
名称が「株式会社ホロン」で、「埼玉県所沢市大字南永井1026番地の1」に新規登録されました。

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件数 リンク
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株式会社ホロンの法人活動情報

株式会社ホロンの特許情報(11件)

日付
公表組織 / 種類
活動対象 / 分類等
2020年05月19日
特許庁 / 特許
マルチビーム画像生成装置およびマルチビーム画像生成方法
FI分類-H01J 37/22 502 G
2020年04月22日
特許庁 / 特許
マルチビーム画像生成装置およびマルチビーム画像生成方法
FI分類-H01J 37/22 502 G
2019年11月22日
特許庁 / 特許
リターディング電圧を用いた電子線検査装置
FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 F, FI分類-H01J 37/20 H, FI分類-H01J 37/28 B
2019年09月20日
特許庁 / 特許
走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の2次電子検出方法
FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/29, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 B
2018年10月02日
特許庁 / 特許
電子ビーム測定装置および電子ビーム測定方法
FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-G01B 15/04 K, FI分類-H01L 21/66 J, FI分類-H01J 37/22 502 H
2018年10月02日
特許庁 / 特許
電子ビーム測定装置および電子ビーム測定方法
FI分類-G01B 15/04 K
2018年04月13日
特許庁 / 特許
電子検出装置
FI分類-H01J 37/244
2018年04月13日
特許庁 / 特許
電子検出装置
FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/22 502 H
2017年04月21日
特許庁 / 特許
走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の2次電子検出方法
FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 H, FI分類-H01J 37/28 B
2017年04月21日
特許庁 / 特許
電子ビーム・イオン発生装置および電子ビーム・イオン発生方法
FI分類-H01J 27/20, FI分類-H01J 37/20 H, FI分類-H01J 37/28 B
2017年02月24日
特許庁 / 特許
サンプル傾斜自動補正装置およびサンプル傾斜自動補正方法
FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B

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