株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテストとは

名称の「株式会社」について(β版)

株式会社アドバンテストの基本情報

項目	内容
商号又は名称	株式会社アドバンテスト
商号又は名称（読み仮名）フリガナ	アドバンテスト
法人番号	9011601000379
会社法人等番号	0116-01-000379
登記所	東京法務局練馬出張所 ※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号 ※2024年08月31日更新 インボイス番号	T9011601000379 ※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。 (2024年08月31日現在)
法人種別	株式会社
郵便番号	〒100-0005 ※地方自治体コードは 13101
国内所在地（都道府県）都道府県	東京都 ※東京都の法人数は 1,323,583件
国内所在地（市区町村）市区町村	千代田区 ※千代田区の法人数は 99,293件
国内所在地（丁目番地等）丁目番地	丸の内1丁目6番2号
国内所在地（1行表示）1行表示	東京都千代田区丸の内1丁目6番2号
国内所在地（読み仮名）読み仮名	トウキョウトチヨダクマルノウチ1チョウメ
英語表記	ADVANTEST CORPORATION
国内所在地（英語表示）英語表示	1-6-2 Marunouchi, Chiyoda ku, Tokyo
代表者	代表取締役 吉田 芳明
設立日	1946年12月16日
資本金	323億6,300万円 (2024年06月27日現在)
従業員数	2,475人 (2024年09月16日現在)
電話番号TEL	03-3214-7500
ホームページHP	http://www.advantest.co.jp/
更新年月日更新日	2019年07月17日
変更年月日変更日	2019年07月04日
法人番号指定年月日指定日	2015年10月05日 ※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局	東京労働局 〒102-8305～〒102-8307 東京都千代田区九段南1丁目2番1号 九段第3合同庁舎12階～14階
管轄の労働基準監督署労働基準監督署	中央労働基準監督署 〒112-8573 東京都文京区後楽1-9-20飯田橋合同庁舎6・7階

株式会社アドバンテストの場所

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株式会社アドバンテストの補足情報

項目	内容
企業名 読み仮名	カブシキガイシャアドバンテスト
企業名 英語	ADVANTEST CORPORATION
上場・非上場	上場
資本金	323億6,300万円
業種	電気機器
証券コード	68570

株式会社アドバンテストの登録履歴

日付	内容
2019年07月04日	【吸収合併】 令和1年7月1日東京都千代田区丸の内一丁目6番2号Cloud Testing Service株式会社(3010001149163)を合併
2018年07月02日	【住所変更】 国内所在地が「東京都千代田区丸の内1丁目6番2号」に変更されました。
2015年10月05日	【新規登録】 名称が「株式会社アドバンテスト」で、「東京都練馬区旭町1丁目32番1号」に新規登録されました。

株式会社アドバンテストと同じ名称の法人

件数	リンク
2件	※「株式会社アドバンテスト」と同じ名称の法人を探す

株式会社アドバンテストの関連情報

項目	内容
情報名	株式会社アドバンテスト
情報名 読み	アドバンテスト
住所	東京都千代田区丸の内1丁目6-2
電話番号	03-3214-7500

株式会社アドバンテストの法人活動情報

株式会社アドバンテストの表彰情報(4件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2022
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2021
2024年09月16日 厚生労働省	えるぼし-認定
2019年05月27日 環境省	環境人づくり企業大賞2018 大企業

株式会社アドバンテストの届出情報(1件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
- デジタル庁	代表者:代表取締役 吉田 芳明 全省庁統一資格 / -

株式会社アドバンテストの特許情報(150件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2023年04月11日 特許庁 / 特許	電磁石、及び磁場印加システム FI分類-H01F 7/14 E
2022年04月26日 特許庁 / 特許	試験方法および製造方法 FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/28 K, FI分類-G01R 31/28 Y
2022年04月26日 特許庁 / 特許	試験方法、製造方法、パネルレベルパッケージおよび試験装置 FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/28 K, FI分類-G01R 31/28 Y
2022年02月09日 特許庁 / 特許	試験用キャリア FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/26 Z
2021年09月30日 特許庁 / 特許	自動試験装置(ATE)を制御するための制御装置、ATE、ATEを制御するための方法、ATEを操作するための方法、および温度の推定または判定を含むそのような方法を実行するためのコンピュータプログラム FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/28 K, FI分類-H01L 21/66 B
2021年09月08日 特許庁 / 特許	試験装置、試験方法およびプログラム FI分類-G01R 31/26 F, FI分類-H01L 33/00 K
2021年07月21日 特許庁 / 特許	試験用キャリア、及び、電子部品試験装置 FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/26 Z
2021年07月05日 特許庁 / 特許	柔軟な試験システムおよび方法 FI分類-G01R 31/28 H
2021年04月28日 特許庁 / 特許	複数の自動試験装置チャネルを較正するための回路および方法 FI分類-G01R 31/26 Z, FI分類-G01R 31/28 M, FI分類-H01L 21/66 F
2021年03月15日 特許庁 / 特許	拡張補助インタフェーステストシステムおよび方法 FI分類-G01R 31/28 T, FI分類-G01R 31/28 Y
2021年02月26日 特許庁 / 特許	試験装置、試験方法およびプログラム FI分類-G01R 31/26 F, FI分類-H01L 21/66 B, FI分類-H01L 21/66 X, FI分類-H01L 33/00 K
2021年01月21日 特許庁 / 特許	試験装置、試験方法およびプログラム FI分類-H01L 33/62, FI分類-H01L 33/00 K
2021年01月13日 特許庁 / 特許	試験装置、試験方法およびプログラム FI分類-G01M 11/00 T, FI分類-H01L 33/00 K
2020年09月28日 特許庁 / 特許	保守装置、保守方法、および、保守プログラム FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/28 K
2020年06月18日 特許庁 / 特許	光超音波測定装置、方法、プログラム、記録媒体 FI分類-A61B 8/13, FI分類-G01N 29/06, FI分類-G01N 29/24
2020年05月26日 特許庁 / 特許	同軸端子、同軸コネクタ、配線板、及び、電子部品試験装置 FI分類-H01R 12/75, FI分類-H01R 24/30, FI分類-H01R 24/44, FI分類-G01R 31/28 H
2020年05月26日 特許庁 / 特許	同軸コネクタを備えた配線板及び電子部品試験装置、並びに、同軸コネクタ FI分類-H01R 12/75, FI分類-H01R 24/30, FI分類-H01R 24/38, FI分類-G01R 31/28 K
2020年05月11日 特許庁 / 特許	検査装置、検査方法、および、検査プログラム、ならびに、学習装置、学習方法、および、学習プログラム FI分類-G06T 7/00 350 B, FI分類-G06T 7/00 610 C
2020年04月22日 特許庁 / 特許	較正装置、変換装置、較正方法、および較正プログラム FI分類-G01R 23/165 B, FI分類-G01R 23/173 D
2020年04月20日 特許庁 / 特許	光音響波測定装置、方法、プログラム、記録媒体 FI分類-A61B 8/13, FI分類-G01N 29/24, FI分類-G01N 29/44
2020年04月13日 特許庁 / 特許	半導体装置、半導体装置の製造方法、および試験装置 FI分類-H01L 29/50 M, FI分類-H01L 29/80 F, FI分類-H01L 29/80 H, FI分類-H01L 21/28 301 B, FI分類-H01L 21/28 301 R, FI分類-H01L 29/78 301 B, FI分類-H01L 29/78 301 N
2020年04月09日 特許庁 / 特許	シミュレートされたデバイスをメモリベース通信プロトコルを使用してテストするためのシステムおよび方法 FI分類-G06F 11/36 196
2020年03月27日 特許庁 / 特許	レーザ光出力装置 FI分類-G02F 1/33, FI分類-G02F 1/377, FI分類-H01S 3/10 Z, FI分類-G01M 11/00 R, FI分類-G01N 21/49 C
2020年03月26日 特許庁 / 特許	高周波コンポーネント、とくには検査対象シリコンフォトニクスデバイスを検査するための検査装置 FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/28 K, FI分類-H01L 21/66 B
2020年03月13日 特許庁 / 特許	内部アナログ制御ループを使用して電力を負荷に供給する電源および方法 FI分類-G05F 1/46, FI分類-G05F 1/10 B
2020年03月11日 特許庁 / 特許	フィルタリング装置、方法、プログラム、記録媒体 FI分類-A61B 5/05 A
2020年02月13日 特許庁 / 特許	光学試験用装置 FI分類-G01S 7/497
2020年02月10日 特許庁 / 特許	試験装置 FI分類-G01R 33/07, FI分類-H01L 43/00, FI分類-G01R 33/02 X, FI分類-G01R 33/02 Z, FI分類-G01R 35/00 M, FI分類-H01L 21/66 B, FI分類-H01L 21/66 W, FI分類-H01L 21/66 Y
2020年02月10日 特許庁 / 特許	試験装置 FI分類-G01R 33/07, FI分類-H01L 43/00, FI分類-G01R 33/02 Z, FI分類-H01L 21/66 B, FI分類-H01L 21/66 W, FI分類-H01L 21/66 Y
2020年02月06日 特許庁 / 特許	1または複数の被テストデバイスをテストするための自動テスト装置、および、自動テスト装置を操作するための方法 FI分類-G01R 1/073 D, FI分類-G01R 31/28 K
2020年01月29日 特許庁 / 特許	電源モジュール FI分類-G05F 1/56 310 E
2020年01月22日 特許庁 / 特許	1または複数の被テストデバイスをテストするための自動試験装置、1または複数の被テストデバイスの自動試験のための方法、および、コマンドエラーを処理するためのコンピュータプログラム FI分類-G06F 11/22 668, FI分類-G06F 11/36 188, FI分類-G06F 15/78 516
2020年01月22日 特許庁 / 特許	1または複数の被テストデバイスをテストするための自動試験装置、1または複数の被テストデバイスの自動試験のための方法、および、バッファメモリを使用するコンピュータプログラム FI分類-G06F 11/22 668, FI分類-G06F 11/36 188, FI分類-G06F 15/78 516, FI分類-G06F 11/22 673 R, FI分類-G06F 11/22 673 V
2020年01月22日 特許庁 / 特許	オンチップシステムテストコントローラを使用した自動テスト装置 FI分類-G01R 31/28 M, FI分類-G01R 31/28 V
2020年01月22日 特許庁 / 特許	高周波電力分配、合成回路 FI分類-H01P 5/22 A
2019年12月27日 特許庁 / 特許	レーザ光出力装置 FI分類-G02F 1/33, FI分類-G02F 1/37, FI分類-G02F 1/39
2019年12月27日 特許庁 / 特許	光音響波測定装置 FI分類-A61B 8/13, FI分類-G01N 29/24
2019年12月25日 特許庁 / 特許	3次元デバイスおよび3次元デバイスを製造する方法 FI分類-G01R 31/28 V, FI分類-G01R 31/28 Z, FI分類-H01L 25/08 C, FI分類-H01L 27/10 495
2019年12月24日 特許庁 / 特許	電子部品ハンドリング装置、電子部品試験装置、及び、ソケット FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/26 Z
2019年12月24日 特許庁 / 特許	電子部品試験装置、ソケット、及び、電子部品試験装置用の交換部品 FI分類-G01R 29/08 A, FI分類-G01R 29/10 B, FI分類-G01R 29/10 E, FI分類-G01R 31/28 H
2019年11月19日 特許庁 / 特許	バイオセンサ、及び、そのバイオセンサの使用方法 FI分類-B81B 1/00, FI分類-G01N 25/48, FI分類-G01N 37/00 101
2019年10月16日 特許庁 / 特許	光学試験用装置 FI分類-G01J 11/00, FI分類-G01S 7/497, FI分類-G02F 1/03 502, FI分類-G02F 1/11 502
2019年10月15日 特許庁 / 特許	光学試験用装置および光学測定器具の試験方法 FI分類-G01S 7/484, FI分類-G01S 7/497, FI分類-G01C 3/00 120, FI分類-G01C 3/06 120 Q
2019年10月08日 特許庁 / 特許	遠心分離器および白血球量計測装置 FI分類-G01N 1/04 H, FI分類-G01N 1/10 C, FI分類-G01N 1/10 H, FI分類-G01N 1/10 V, FI分類-G01N 33/49 F, FI分類-G01N 33/49 G
2019年10月08日 特許庁 / 特許	体細胞計、体細胞測定方法、プログラムおよび記録媒体 FI分類-C12Q 1/06, FI分類-C12M 1/34 D, FI分類-G01N 33/48 M, FI分類-G01N 33/50 K
2019年09月24日 特許庁 / 特許	内視鏡、蛍光測定装置およびレンズ保持筒状体 FI分類-G01N 21/64 A, FI分類-G01N 21/64 F, FI分類-G02B 23/26 B, FI分類-A61B 1/00 511, FI分類-A61B 1/00 731, FI分類-A61B 1/07 730, FI分類-A61B 1/07 732, FI分類-A61B 1/07 734, FI分類-A61B 1/12 532
2019年09月18日 特許庁 / 特許	識別情報読出装置、方法、プログラム、記録媒体および測定システム FI分類-C12Q 1/04, FI分類-C12M 1/34 D, FI分類-A01K 11/00 Z, FI分類-G01N 33/48 Z, FI分類-G06K 7/10 244, FI分類-G06K 7/10 300
2019年09月17日 特許庁 / 特許	ファントムおよび蛍光検出装置 FI分類-G01N 21/01 A, FI分類-G01N 21/64 F
2019年09月09日 特許庁 / 特許	非集中化環境においてデバイスを制御する方法、非集中化ストレージシステム、非集中化ストレージネットワーク FI分類-G06F 9/50 150 Z, FI分類-G06F 11/22 673 V, FI分類-G06F 13/10 340 A
2019年08月28日 特許庁 / 特許	回路および回路に連結されるアンテナを備える被試験デバイスを試験するための試験装置、自動試験装置および方法 FI分類-G01R 29/10 B, FI分類-G01R 29/10 E
2019年08月28日 特許庁 / 特許	アンテナを備える被試験デバイスを試験するための試験装置、自動試験装置および方法 FI分類-H01P 3/02, FI分類-H01Q 7/00, FI分類-H01Q 9/16, FI分類-H01P 5/08 B, FI分類-G01R 29/10 B, FI分類-G01R 29/10 E
2019年08月22日 特許庁 / 特許	製造装置および製造方法 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/393
2019年08月06日 特許庁 / 特許	電気フィルタ構造 FI分類-H01P 1/212, FI分類-H01P 7/00 Z
2019年08月06日 特許庁 / 特許	処理ユニット並びにプログラム及び/又はデータメモリを含む被試験デバイスをテストするための自動試験機器、テストコントローラ、被試験デバイスへの1又は複数のインターフェース、共有メモリを含む自動試験機器、並びに被試験デバイスをテストするための方法 FI分類-G01R 31/28 B, FI分類-G01R 31/28 W, FI分類-G01R 31/3183, FI分類-G06F 11/22 605, FI分類-G06F 11/22 673 A, FI分類-G06F 11/22 673 D
2019年06月28日 特許庁 / 特許	信号処理装置および信号処理方法 FI分類-G01R 31/28 M, FI分類-G01R 31/28 Q
2019年05月31日 特許庁 / 特許	信号発生装置、波形デジタイザ、信号発生方法、および、信号発生プログラム FI分類-H03M 1/10 B, FI分類-H03M 1/66 C
2019年05月31日 特許庁 / 特許	試験装置、試験方法およびプログラム FI分類-G01R 31/28 K, FI分類-G01R 31/28 Y, FI分類-H01L 33/00 K
2019年05月29日 特許庁 / 特許	試験装置 FI分類-G01R 31/26 G, FI分類-G01R 31/28 M, FI分類-G01R 31/28 R, FI分類-G01R 31/28 Y
2019年05月29日 特許庁 / 特許	試験装置 FI分類-G01R 31/26 G, FI分類-G01R 31/28 M, FI分類-G01R 31/28 R, FI分類-G01R 31/28 Y
2019年05月23日 特許庁 / 特許	電子部品ハンドリング装置及び電子部品試験装置 FI分類-G01R 31/26 H
2019年05月09日 特許庁 / 特許	光学試験用装置 FI分類-G01S 7/497
2019年03月28日 特許庁 / 特許	波形データ取得モジュールおよび試験装置 FI分類-G01R 31/28 M
2019年03月26日 特許庁 / 特許	光音響波測定装置 FI分類-A61B 8/13
2019年03月25日 特許庁 / 特許	半導体装置 FI分類-H01L 29/44 Y, FI分類-H01L 29/80 E, FI分類-H01L 29/80 F, FI分類-H01L 29/80 H, FI分類-H01L 29/06 301 F, FI分類-H01L 29/78 301 B, FI分類-H01L 29/78 301 W
2019年03月20日 特許庁 / 特許	インタポーザ、ソケット、ソケット組立体、及び、配線板組立体 FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-H01R 33/76 505 A
2019年02月28日 特許庁 / 特許	試験システム、インタフェースユニット FI分類-G01R 31/28 H
2019年01月30日 特許庁 / 特許	電子部品ハンドリング装置及び電子部品試験装置 FI分類-G01R 31/26 H
2019年01月30日 特許庁 / 特許	電子部品ハンドリング装置及び電子部品試験装置 FI分類-G01R 31/26 H
2019年01月21日 特許庁 / 特許	バーンインボード及びバーンイン装置 FI分類-G01R 31/26 H
2019年01月15日 特許庁 / 特許	試験装置 FI分類-G01R 31/28 H
2018年12月14日 特許庁 / 特許	センサ試験装置 FI分類-G01L 27/02, FI分類-G01R 31/26 H, FI分類-G01R 31/26 Z, FI分類-G01R 33/12 Z
2018年12月14日 特許庁 / 特許	センサ試験装置 FI分類-G01L 27/02, FI分類-G01R 31/26 H, FI分類-G01R 31/26 Z, FI分類-G01R 33/12 Z
2018年12月14日 特許庁 / 特許	センサ試験システム FI分類-G01L 27/02, FI分類-G01R 31/26 H, FI分類-G01R 31/26 Z, FI分類-G01R 33/12 Z
2018年12月04日 特許庁 / 特許	導出器収容体 FI分類-G01D 11/24 B
2018年11月21日 特許庁 / 特許	測定結果受信装置および測定装置ならびにこれらの方法、プログラムおよび記録媒体 FI分類-G01D 9/00 A, FI分類-G08C 15/00 E, FI分類-G08C 17/00 Z
2018年10月12日 特許庁 / 特許	解析装置、解析方法および解析プログラム FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-H01L 21/66 B, FI分類-G06N 99/00 150
2018年10月12日 特許庁 / 特許	解析装置、解析方法および解析プログラム FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-H01L 21/66 B
2018年10月12日 特許庁 / 特許	解析装置、解析方法および解析プログラム FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-H01L 21/66 B, FI分類-G06N 99/00 150
2018年10月12日 特許庁 / 特許	解析装置、解析方法および解析プログラム FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-H01L 21/66 B
2018年09月28日 特許庁 / 特許	ポアチップケースおよび微粒子測定システム FI分類-G01N 15/12 A
2018年09月19日 特許庁 / 特許	ポアデバイスおよび微粒子測定システム FI分類-G01N 15/12 A
2018年09月13日 特許庁 / 特許	装置、方法、およびプログラム FI分類-G01R 31/28 H
2018年09月10日 特許庁 / 特許	計測装置 FI分類-G01R 27/22, FI分類-G01N 15/12 Z, FI分類-G01R 35/00 J, FI分類-H03F 3/34 220
2018年09月04日 特許庁 / 特許	微粒子測定システム、計測装置 FI分類-G01N 15/12 F, FI分類-G01N 27/00 Z, FI分類-G01N 27/02 D
2018年08月30日 特許庁 / 特許	光学素子 FI分類-G02F 1/035, FI分類-G02B 6/12 363, FI分類-G02B 6/122 301
2018年07月26日 特許庁 / 特許	ロードボード及び電子部品試験装置 FI分類-G01R 31/26 H
2018年07月26日 特許庁 / 特許	計測装置および微粒子測定システム FI分類-G01N 15/12 F, FI分類-G01N 27/02 D, FI分類-G01N 27/02 E
2018年07月26日 特許庁 / 特許	計測装置および微粒子測定システム FI分類-G01N 15/12 F, FI分類-G01N 27/00 Z
2018年05月28日 特許庁 / 特許	フロントエンド回路、テストボード、テストシステム、コンピュータおよびプログラム FI分類-H03D 7/00 Z, FI分類-H04B 1/26 B, FI分類-H04B 1/26 E, FI分類-H04L 27/26 100
2018年05月11日 特許庁 / 特許	試験用キャリア FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/26 Z
2018年05月11日 特許庁 / 特許	試験用キャリア FI分類-G01L 27/00, FI分類-H01L 21/68 U, FI分類-H01L 29/84 A, FI分類-H01L 29/84 B, FI分類-G01L 9/00 303 Z
2018年05月11日 特許庁 / 特許	製造装置、検査方法、製造方法およびプログラム FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/00, FI分類-B22F 3/26 Z
2018年05月11日 特許庁 / 特許	試験用キャリア FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/26 Z
2018年05月11日 特許庁 / 特許	試験用キャリア FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/26 Z
2018年05月11日 特許庁 / 特許	試験用キャリア FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-G01R 31/26 Z
2018年04月25日 特許庁 / 特許	テストプログラムフロー制御 FI分類-G01R 31/28 H
2018年04月25日 特許庁 / 特許	テストシステム及び方法 FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-G06F 11/273 D
2018年04月20日 特許庁 / 特許	ソフトウェアアプリケーションプログラミングインタフェース(API)を用いた自動テスト機能のユーザによる制御 FI分類-G06F 8/20, FI分類-G01R 31/28 H
2018年01月19日 特許庁 / 特許	測定装置、方法、プログラム、記録媒体 FI分類-G01R 33/02 X
2018年01月18日 特許庁 / 特許	変圧器装置、回路装置および変圧器装置を動作させる方法 FI分類-H01F 17/04 F, FI分類-H01F 17/04 Z, FI分類-H01F 30/10 A, FI分類-H01F 30/10 Z
2017年12月07日 特許庁 / 特許	光超音波測定装置、方法、プログラム、記録媒体 FI分類-A61B 8/13
2017年12月06日 特許庁 / 特許	温度測定装置、リアクター、酵素活性度の評価装置およびその評価方法 FI分類-G01J 5/48 A, FI分類-G01N 25/20 J
2017年11月16日 特許庁 / 特許	ポリフェーズフィルタの測定装置および測定方法 FI分類-G01R 27/26 Z
2017年10月19日 特許庁 / 特許	三次元積層造形装置および積層造形方法 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/393
2017年10月19日 特許庁 / 特許	三次元積層造形装置および積層造形方法 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/393
2017年10月06日 特許庁 / 特許	カロリメトリックセンサ、それを用いた検査装置 FI分類-G01N 25/22, FI分類-G01N 25/20 D
2017年08月04日 特許庁 / 特許	磁気センサ試験装置 FI分類-G01R 33/12 Z, FI分類-H01L 43/08 Z
2017年07月20日 特許庁 / 特許	製造装置、製造方法、およびプログラム FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02, FI分類-B23K 15/00 502
2017年07月13日 特許庁 / 特許	製造装置、製造方法、およびプログラム FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/00
2017年06月28日 特許庁 / 特許	三次元積層造形装置及びその照射位置ずれ検出方法 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B29C 64/153
2017年04月28日 特許庁 / 特許	電子部品試験装置用のキャリア FI分類-G01R 31/26 J
2017年04月28日 特許庁 / 特許	電子部品試験装置用のキャリア FI分類-G01R 31/26 J
2017年04月28日 特許庁 / 特許	電子部品試験装置用のキャリア FI分類-G01R 31/26 J, FI分類-H01R 33/76 505 Z
2016年12月28日 特許庁 / 特許	デバイス測定用治具 FI分類-H03F 3/45 Z, FI分類-H03K 19/094, FI分類-H03K 19/00 101 B
2016年11月16日 特許庁 / 特許	化合物半導体装置およびその製造方法 FI分類-H01L 29/80 E, FI分類-H01L 29/80 H, FI分類-H03K 17/693 A
2016年07月13日 特許庁 / 特許	磁場測定装置及び磁場測定方法 FI分類-G01R 33/06, FI分類-A61B 5/05 A
2016年06月20日 特許庁 / 特許	化合物半導体装置の製造方法 FI分類-H01L 21/02 B, FI分類-H01L 21/02 C, FI分類-H01L 29/80 H
2016年06月20日 特許庁 / 特許	エピ基板 FI分類-H01L 21/20, FI分類-H01L 21/205, FI分類-H01L 21/02 B, FI分類-H01L 29/80 H
2016年03月30日 特許庁 / 特許	RF信号生成装置およびRF信号解析装置 FI分類-H04L 27/00 A
2016年03月07日 特許庁 / 特許	異方性導電膜の製造方法及び異方性導電膜 FI分類-B81C 1/00, FI分類-C23C 18/18, FI分類-C23C 18/31 Z, FI分類-C25D 1/00 381, FI分類-C25D 11/24 302
2016年02月15日 特許庁 / 特許	テストシステム、試験装置 FI分類-G01R 31/28 B, FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-G11C 29/00 655 S
2016年01月29日 特許庁 / 特許	磁気ノイズ消去装置及び磁場測定装置 FI分類-A61B 5/05 A, FI分類-H05K 9/00 H, FI分類-G01R 33/02 W
2015年12月25日 特許庁 / 特許	デバイス測定用治具 FI分類-G01R 31/26 J
2015年10月08日 特許庁 / 特許	試験装置、試験信号供給装置、試験方法、およびプログラム FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-G01R 31/28 Q, FI分類-G06F 11/22 310 B, FI分類-G06F 11/22 310 V
2015年09月14日 特許庁 / 特許	電磁放射を用いた非侵襲性の原位置における血のグルコース値の検出 FI分類-A61B 3/10 Z, FI分類-G01N 21/21 Z, FI分類-G01N 21/3581, FI分類-A61B 5/14 310
2015年08月21日 特許庁 / 特許	接点装置および製造方法 FI分類-H01H 1/04 B, FI分類-H01H 11/04 B
2015年06月02日 特許庁 / 特許	半導体装置 FI分類-H01L 29/80 C, FI分類-H01L 29/80 E, FI分類-H01L 29/80 W, FI分類-H01L 29/78 301 G
2015年05月25日 特許庁 / 特許	電子部品ハンドリング装置及び電子部品試験装置 FI分類-G01R 31/26 Z
2015年04月28日 特許庁 / 特許	プロセス制御のためのリアルタイム厚さ測定と共にテラヘルツ放射を用いる密度の動的測定 FI分類-G01N 21/3586, FI分類-G01B 11/06 101 Z
2014年11月28日 特許庁 / 特許	電流測定回路および塩基配列解析装置 FI分類-H03F 1/42, FI分類-H03F 3/34 Z, FI分類-G01N 27/00 Z, FI分類-G01R 19/00 C
2014年11月28日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01N 27/00 Z
2014年11月28日 特許庁 / 特許	電流測定装置および塩基配列解析装置、測定用チップ FI分類-H03F 3/34 Z, FI分類-G01N 27/00 Z, FI分類-G01R 19/00 C, FI分類-G01R 19/00 E
2014年11月28日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01N 27/00 Z, FI分類-G01R 19/00 C
2014年11月28日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01N 27/00 Z
2014年11月28日 特許庁 / 特許	測定装置 FI分類-G01R 31/04, FI分類-G01N 27/00 Z, FI分類-G01R 19/00 C
2014年11月12日 特許庁 / 特許	荷電粒子ビーム露光装置及び荷電粒子ビーム露光方法 FI分類-G03F 7/20 521, FI分類-H01J 37/305 B, FI分類-H01L 21/30 541 J, FI分類-H01L 21/30 541 W
2014年10月31日 特許庁 / 特許	認証システム、認証方法およびサービス提供システム FI分類-G06F 21/31, FI分類-G06F 21/32, FI分類-H04L 9/00 621 Z, FI分類-H04L 9/00 673 D
2014年09月24日 特許庁 / 特許	脈波センサユニット FI分類-A61B 5/02 310 M, FI分類-A61B 5/02 321 C, FI分類-G01L 9/00 303 M, FI分類-G01L 9/00 303 N
2014年09月24日 特許庁 / 特許	脈波センサユニット FI分類-A61B 5/02 310 M, FI分類-A61B 5/02 321 C, FI分類-G01L 9/00 303 N
2014年09月18日 特許庁 / 特許	電子デバイス FI分類-H01H 57/00
2014年09月11日 特許庁 / 特許	パターン高さ測定装置及びパターン高さ測定方法 FI分類-G01B 15/00 B
2014年08月27日 特許庁 / 特許	露光装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/305 B, FI分類-H01L 21/30 541 B
2014年07月18日 特許庁 / 特許	テストスライスとトレイとの間の高速テスタ通信インターフェイス FI分類-G01R 31/26 G, FI分類-G01R 31/26 H, FI分類-G01R 31/28 H
2014年07月16日 特許庁 / 特許	半導体スイッチおよびそれを用いた試験装置 FI分類-G01R 31/28 H, FI分類-H03K 17/00 B
2014年07月03日 特許庁 / 特許	試験用キャリア FI分類-G01R 31/26 J
2014年04月23日 特許庁 / 特許	補償回路、情報処理装置、補償方法、およびプログラム FI分類-H04B 3/02, FI分類-H01P 1/00 A
2014年03月26日 特許庁 / 特許	ステージ装置および電子線装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/20 G, FI分類-H01J 37/20 H
2014年03月11日 特許庁 / 特許	試験装置および接続ユニット FI分類-G01R 31/26 J
2014年02月26日 特許庁 / 特許	半導体装置の製造方法 FI分類-G03F 7/20 504, FI分類-H01J 37/305 B, FI分類-H01L 21/30 541 M, FI分類-H01L 21/30 541 W
2014年01月14日 特許庁 / 特許	電子ビーム露光装置 FI分類-H01J 37/12, FI分類-G03F 7/20 521, FI分類-H01J 37/305 B, FI分類-H01L 21/30 541 S

株式会社アドバンテストの商標情報(14件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2023年06月22日 特許庁 / 商標	§APT‐Gate 09類
2023年06月22日 特許庁 / 商標	§APT‐Pore 09類
2021年03月10日 特許庁 / 商標	§VGEM 09類
2020年11月09日 特許庁 / 商標	MiETA 09類
2020年09月04日 特許庁 / 商標	Advantest IQ Box 09類
2020年09月04日 特許庁 / 商標	Xtreme Link 09類
2020年07月27日 特許庁 / 商標	myAdvantest 09類, 41類, 42類
2020年03月03日 特許庁 / 商標	§Lumifinder 10類
2019年12月03日 特許庁 / 商標	§ADVANTEST 10類
2019年07月08日 特許庁 / 商標	§nano SCOuTER 09類
2019年07月08日 特許庁 / 商標	§micro SCOuTER 09類
2019年04月15日 特許庁 / 商標	UmaiT-est 09類
2018年10月25日 特許庁 / 商標	§Air＼Logger 09類
2015年08月11日 特許庁 / 商標	Hadatomo 09類

株式会社アドバンテストの意匠情報(7件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2023年02月27日 特許庁 / 意匠	血中蛍光スペクトル表示用画像 意匠新分類-N310 W
2022年05月12日 特許庁 / 意匠	電子部品試験装置用キャリア 意匠新分類-J159
2021年07月05日 特許庁 / 意匠	電子部品試験装置用キャリア 意匠新分類-J159
2021年07月05日 特許庁 / 意匠	電子部品試験装置用キャリア 意匠新分類-J159
2020年05月26日 特許庁 / 意匠	同軸コネクタ 意匠新分類-H13434
2020年05月26日 特許庁 / 意匠	同軸コネクタ 意匠新分類-H13434
2017年04月28日 特許庁 / 意匠	電子部品試験装置用キャリア 意匠新分類-J159

株式会社アドバンテストの職場情報

項目	データ
事業概要	半導体・部品テストシステム事業、メカトロニクス関連事業、サービス他
企業規模	2,475人
平均勤続年数 範囲 正社員	男性 20.0年 / 女性 17.3年
女性労働者の割合 範囲 正社員	16.4%

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