ローツェイアス株式会社とは

ローツェイアス株式会社(ローツェイアス)は、法人番号:9012401010270で東京都日野市日野本町2丁目2番地の1に所在する法人として東京法務局府中支局で法人登録され、2015年10月05日に法人番号が指定されました。代表者は、代表取締役川端克彦。設立日は2004年12月09日。登録情報として、補助金情報が1件届出情報が1件特許情報が13件商標情報が2件が登録されています。なお、2025年03月04日に法人番号公表サイトでは登録情報が変更されています。法人番号公表サイトでの最終更新日は2025年03月13日です。
インボイス番号:T9012401010270については、2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されています。
この地域の労働局は東京労働局。八王子労働基準監督署が所轄の労働基準監督署です。
 

名称の「株式会社」について(β版)

株式会社は、法人格を持つ組織形態の一つであり、株主が出資することによって設立されます。株式会社は、株主の出資額に応じた株式を発行し、経営を行います。株主は株式を所有することで、会社の経営に参加する権利を持ちます。また、株式会社は独立した法的存在であり、株主の責任は出資額に限定されます。株式会社は、経営の安定性や資金調達の容易さなどの利点を持ち、多くの企業がこの形態を選択しています。

ローツェイアス株式会社の基本情報

項目 内容
商号又は名称 ローツェイアス株式会社
商号又は名称(読み仮名)フリガナ ローツェイアス
法人番号 9012401010270
会社法人等番号 0124-01-010270
登記所 東京法務局府中支局
※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号
※2024年08月31日更新
インボイス番号
T9012401010270
※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。
(2024年08月31日現在)
法人種別 株式会社
郵便番号 〒191-0011
※地方自治体コードは 13212
国内所在地(都道府県)都道府県 東京都
※東京都の法人数は 1,319,020件
国内所在地(市区町村)市区町村 日野市
※日野市の法人数は 4,552件
国内所在地(丁目番地等)丁目番地 日野本町2丁目2番地の1
国内所在地(1行表示)1行表示 東京都日野市日野本町2丁目2番地の1
国内所在地(読み仮名)読み仮名 トウキョウトヒノシヒノホンマチ2チョウメ
代表者 代表取締役 川端 克彦
設立日 2004年12月09日
更新年月日更新日 2025年03月13日
変更年月日変更日 2025年03月04日
法人番号指定年月日指定日 2015年10月05日
※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局 東京労働局
〒102-8305~〒102-8307 東京都千代田区九段南1丁目2番1号 九段第3合同庁舎12階~14階
管轄の労働基準監督署労働基準監督署 八王子労働基準監督署
〒192-0046 東京都八王子市明神町3-8-10

ローツェイアス株式会社の場所

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ローツェイアス株式会社の登録履歴

日付 内容
2025年03月04日
【名称変更】
名称が「ローツェイアス株式会社」に変更されました。
2021年05月19日
【住所変更】
国内所在地が「東京都日野市日野本町2丁目2番地の1」に変更されました。
2015年10月05日
【新規登録】
名称が「株式会社イアス」で、「東京都国立市富士見台4丁目39番地の5、916」に新規登録されました。

ローツェイアス株式会社の法人活動情報

ローツェイアス株式会社の補助金情報(1件)

期間
公表組織
活動名称 / 活動対象 / 金額
2023年06月26日
令和4年度中小企業経営支援等対策費補助金(戦略的基盤技術高度化支援事業)(SiCおよびGaNウェーハおよび薄膜中の極微量金属不純物定量分析装置の開発)
21,239,000円

ローツェイアス株式会社の届出情報(1件)

日付
公表組織
活動名称 / 活動対象
-
代表者:代表取締役 川端 克彦
全省庁統一資格 / -

ローツェイアス株式会社の特許情報(13件)

日付
公表組織 / 種類
活動対象 / 分類等
2019年08月29日
特許庁 / 特許
金属微粒子の分析方法および誘導結合プラズマ質量分析方法
FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/04 450, FI分類-H01J 49/10 500
2018年12月26日
特許庁 / 特許
基板分析方法および基板分析装置
FI分類-G01N 1/28 X, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-H01L 21/66 N
2018年04月13日
特許庁 / 特許
シリコン基板の分析方法
FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 V
2017年07月18日
特許庁 / 特許
基板分析用ノズル及び基板分析方法
FI分類-G01N 1/28 X, FI分類-G01N 1/00 101 G
2016年10月18日
特許庁 / 特許
基板分析用のノズル
FI分類-G01N 1/28 X, FI分類-G01N 1/32 B, FI分類-H01L 21/66 L, FI分類-G01N 1/00 101 K
2016年04月27日
特許庁 / 特許
ガス状水銀又はスチビンの測定方法及び測定装置
FI分類-G01N 1/22 J, FI分類-G01N 31/00 T
2015年12月22日
特許庁 / 特許
シリコン基板用分析装置
FI分類-G01N 1/28 X, FI分類-G01N 1/32 B, FI分類-G01N 27/62 V
2015年08月21日
特許庁 / 特許
オンライン移送した分析試料の分析システム
FI分類-G01N 21/73
2015年01月05日
特許庁 / 特許
元素分析方法
FI分類-G01N 1/28 X, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 31/00 Y, FI分類-G01N 31/12 B
2014年09月11日
特許庁 / 特許
シリコン基板の分析方法
FI分類-G01N 1/28 N, FI分類-H01L 21/66 L
2014年08月20日
特許庁 / 特許
基板局所の自動分析装置及び分析方法
FI分類-G01N 1/28 X, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 35/06 A, FI分類-G01N 1/00 101 G
2014年08月13日
特許庁 / 特許
レーザーアブレーションICP分析方法及び分析装置
FI分類-G01N 1/28 T, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 V
2014年01月21日
特許庁 / 特許
基板のエッチング装置及び基板のエッチング方法
FI分類-H01L 21/302 201 A

ローツェイアス株式会社の商標情報(2件)

日付
公表組織 / 種類
活動対象 / 分類等
2018年10月24日
特許庁 / 商標
§GED
09類
2015年01月26日
特許庁 / 商標
IAS
09類

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