日本電子株式会社

日本電子株式会社とは

名称の「株式会社」について(β版)

日本電子株式会社の基本情報

項目	内容
商号又は名称	日本電子株式会社
商号又は名称（読み仮名）フリガナ	ニホンデンシ
法人番号	9012801002438
会社法人等番号	0128-01-002438
登記所	東京法務局立川出張所 ※法人設立時に登記が提出された登記所を表示しています。
インボイス登録番号 ※2024年08月31日更新 インボイス番号	T9012801002438 ※2023年10月01日に適格請求書発行事業者として登録されました。 (2024年08月31日現在)
法人種別	株式会社
郵便番号	〒196-0021 ※地方自治体コードは 13207
国内所在地（都道府県）都道府県	東京都 ※東京都の法人数は 1,311,576件
国内所在地（市区町村）市区町村	昭島市 ※昭島市の法人数は 3,636件
国内所在地（丁目番地等）丁目番地	武蔵野3丁目1番2号
国内所在地（1行表示）1行表示	東京都昭島市武蔵野3丁目1番2号
国内所在地（読み仮名）読み仮名	-
英語表記	JEOL Ltd.
国内所在地（英語表示）英語表示	3-1-2, Musashino, Akishima shi, Tokyo
代表者	代表取締役 大井 泉
設立日	1949年05月30日
資本金	213億9,400万円 (2024年06月27日現在)
従業員数	2,027人 (2024年09月16日現在)
電話番号TEL	042-543-1111
ホームページHP	http://www.jeol.co.jp
更新年月日更新日	2023年10月10日
変更年月日変更日	2022年10月04日
法人番号指定年月日指定日	2015年10月05日 ※2015年10月05日以前に設立された法人は、全て2015年10月05日で表示されます。
管轄の労働局労働局	東京労働局 〒102-8305～〒102-8307 東京都千代田区九段南1丁目2番1号 九段第3合同庁舎12階～14階
管轄の労働基準監督署労働基準監督署	立川労働基準監督署 〒190-8516 東京都立川市緑町4-2立川地方合同庁舎3階

日本電子株式会社の場所

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日本電子株式会社の補足情報

項目	内容
企業名 読み仮名	ニホンデンシカブシキガイシャ
企業名 英語	JEOL Ltd.
上場・非上場	上場
資本金	213億9,400万円
業種	電気機器
証券コード	69510

日本電子株式会社の登録履歴

日付	内容
2022年10月04日	【吸収合併】 令和4年10月1日東京都昭島市武蔵野三丁目1番2号株式会社JEOL RESONANCE(8012801009095)を合併
2021年04月01日	【吸収合併】 令和3年4月1日東京都昭島市武蔵野二丁目6番38号日本電子テクニクス株式会社(5012801002441)を合併
2015年10月05日	【新規登録】 名称が「日本電子株式会社」で、「東京都昭島市武蔵野3丁目1番2号」に新規登録されました。

日本電子株式会社と同じ名称の法人

件数	リンク
4件	※「日本電子株式会社」と同じ名称の法人を探す

日本電子株式会社の法人活動情報

日本電子株式会社の調達情報(63件)

期間 公表組織	活動名称 / 活動対象 / 金額
2023年04月18日 環境省	令和5年度走査型電子顕微鏡等保守業務 3,509,000円
2023年04月03日 警察庁	核磁気共鳴装置保守点検 5,324,000円
2023年04月03日 防衛省	磁化特性測定装置年間保守 5,610,000円
2023年04月03日 環境省	令和5年度透過型電子顕微鏡保守業務 2,376,000円
2023年04月03日 防衛省	電子顕微鏡年間保守 8,360,000円
2022年09月08日 防衛省	臨床化学自動分析システム 修理 137,885円
2022年08月24日 防衛省	自動分析装置,多用途型 修理 82,885円
2022年04月18日 環境省	令和4年度走査型電子顕微鏡保守業務 4,712,853円
2022年04月01日 警察庁	核磁気共鳴装置保守点検 4,246,000円
2022年04月01日 防衛省	臨床化学自動分析システム 定期点検 2,156,000円
2022年04月01日 防衛省	フーリエ変換型核磁気共鳴装置の保守整備 4,525,400円
2022年04月01日 宮内庁	電子顕微鏡装置保守業務 1,357,400円
2022年04月01日 防衛省	電子顕微鏡年間保守 8,360,000円
2022年04月01日 防衛省	磁化特性測定装置年間保守 5,610,000円
2022年04月01日 環境省	令和4年度透過型電子顕微鏡保守業務 2,376,000円
2021年11月22日 環境省	令和3年度透過型電子顕微鏡に係るCCDカメラ故障修理業務 6,173,200円
2021年11月18日 警察庁	低真空走査型電子顕微鏡 修理 1,161,160円
2021年05月24日 原子力規制委員会	令和3年度走査電子顕微鏡の移設 1,056,000円
2021年04月26日 防衛省	フーリエ変換型核磁気共鳴装置の保守整備 4,440,700円
2021年04月16日 環境省	令和3年度走査型電子顕微鏡保守業務 4,598,000円
2021年04月01日 宮内庁	電子顕微鏡装置保守業務 1,357,400円
2021年04月01日 環境省	令和3年度透過型電子顕微鏡保守業務 2,376,000円
2021年04月01日 防衛省	磁化特性測定装置年間保守 5,610,000円
2021年04月01日 警察庁	核磁気共鳴装置保守点検 3,557,400円
2021年04月01日 防衛省	電子顕微鏡年間保守 7,579,000円
2020年04月24日 防衛省	フーリエ変換型核磁気共鳴装置の保守整備 4,440,700円
2020年04月24日 防衛省	GC質量分析装置の保守点検整備 2,988,700円
2020年04月07日 警察庁	核磁気共鳴装置保守点検 3,557,400円
2020年04月01日 環境省	令和2年度走査型電子顕微鏡保守業務 4,598,000円
2020年04月01日 防衛省	臨床化学自動分析システム 定期点検 2,098,800円
2020年04月01日 宮内庁	電子顕微鏡装置保守業務 1,357,400円
2019年11月25日 環境省	令和元年度ツシマヤマネコ野生順化ステーション雷対策工事 7,370,000円
2019年04月24日 防衛省	フーリエ変換型核磁気共鳴装置の保守整備 4,300,560円
2019年04月24日 防衛省	GC質量分析装置の保守点検整備 2,934,360円
2019年04月01日 防衛省	磁化特性測定装置年間保守 5,508,000円
2019年04月01日 防衛省	電子顕微鏡年間保守 8,208,000円
2019年04月01日 宮内庁	電子顕微鏡装置保守業務 1,357,400円
2019年04月01日 環境省	平成31年度走査型電子顕微鏡保守業務 3,769,200円
2019年01月10日 防衛省	オートチェンジャー 2,138,400円
2018年11月20日 防衛省	走査電子顕微鏡点検 1,019,005円
2018年10月09日 防衛省	卓上走査電子顕微鏡 7,506,000円
2018年07月18日 防衛省	GC質量分析装置保守点検整備 2,934,360円
2018年07月04日 国立研究開発法人新エネルギー・産業技術総合開発機構	省エネ製品開発の加速化に向けた複合計測分析システム研究開発事業省エネ製品開発の加速化に向けた複合計測分析システム研究開発事業 100,240,200円
2018年05月14日 防衛省	フーリエ変換型核磁気共鳴装置の保守整備 3,956,040円
2018年04月02日 環境省	平成30年度走査型電子顕微鏡保守業務 3,445,200円
2018年04月02日 防衛省	電子顕微鏡年間保守 7,668,000円
2018年04月02日 防衛省	磁化特性測定装置年間保守 5,508,000円
2018年04月02日 宮内庁	電子顕微鏡装置保守業務 1,332,720円
2017年11月08日 原子力規制委員会	平成29年度共同研究事業(火山活動評価のためのマグマ滞留時間の推定手法に関する研究)にかかる日本電子製JXA?8230/8530F用カソードルミネッセンス検出器の導入 15,984,000円
2017年10月12日 防衛省	走査電子顕微鏡点検1式 1,058,400円
2017年06月27日 防衛省	GC質量分析装置の整備診断後の整備 6,048,000円
2017年06月12日 防衛省	臨床化学自動分析システム 定期点検 1,819,960円
2017年04月27日 防衛省	フーリエ変換型核磁気共鳴装置の保守整備 3,956,040円
2017年04月03日 国家公安委員会（警察庁）	核磁気共鳴装置保守点検 2,447,280円
2017年04月03日 防衛省	電子顕微鏡年間保守 8,208,000円
2017年04月03日 宮内庁	電子顕微鏡装置保守業務 1,332,720円
2017年04月01日 環境省	平成29年度走査型電子顕微鏡保守業務 3,445,200円
2017年04月01日 石油天然ガス・金属鉱物資源機構	平成29年度「高分解能二重収束タンデム型質量分析計(JMS-MS700T)」の年間保守契約 3,456,000円
2016年12月16日 防衛省	自動分析装置,生化学用,自動溶血機能付 14,580,000円
2016年11月15日 防衛省	走査電子顕微鏡修理 2,538,000円
2016年10月21日 国家公安委員会（警察庁）	低真空走査型電子顕微鏡用制御装置 1,652,400円
2016年09月29日 防衛省	超高感度FT-NMR装置 58,536,000円
2016年04月01日 国家公安委員会（警察庁）	核磁気共鳴装置保守点検 2,269,080円

日本電子株式会社の補助金情報(1件)

期間 公表組織	活動名称 / 活動対象 / 金額
2004年01月01日 経済産業省	地域新規産業創造技術開発費補助金 インライン高感度・高スループットウエハ不純物自動解析ICP-MS装置の開発 50,000,000円

日本電子株式会社の表彰情報(5件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2024年09月16日 厚生労働省	次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定 2022
2024年09月16日 厚生労働省	えるぼし-認定
2017年12月04日 厚生労働省	女性の活躍推進企業
2017年12月04日 厚生労働省	両立支援のひろば 一般事業主行動計画公表
2014年03月17日 経済産業省	GNT企業100選 透過電子顕微鏡

日本電子株式会社の届出情報(4件)

日付 公表組織	活動名称 / 活動対象
2023年03月27日 法務省	競争参加資格 - 企業(施設課経理係)
2021年04月01日 法務省	競争参加資格 - 企業(施設課経理係)
2019年04月01日 法務省	競争参加資格 - 企業(施設課経理係)
- デジタル庁	代表者:代表取締役 大井 泉 全省庁統一資格 / -

日本電子株式会社の特許情報(545件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2022年04月21日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の制御方法 FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/147 B
2022年03月23日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 H
2022年02月22日 特許庁 / 特許	収差補正装置および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/153 B
2022年02月16日 特許庁 / 特許	相分析装置、試料分析装置、および分析方法 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01N 23/2252
2022年02月10日 特許庁 / 特許	収差補正装置および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/153 A
2022年01月26日 特許庁 / 特許	試料カートリッジ保持装置 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/317 D
2022年01月20日 特許庁 / 特許	集束イオンビーム装置及びイオンビームの視野ズレ補正方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/21 Z, FI分類-H01J 37/30 A, FI分類-H01J 37/147 D, FI分類-H01J 37/305 A, FI分類-H01J 37/317 D
2021年12月23日 特許庁 / 特許	試料カートリッジ搬送システム FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/317 D
2021年12月20日 特許庁 / 特許	試料加工装置および試料加工方法 FI分類-H01J 37/08, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/317 D
2021年11月11日 特許庁 / 特許	NMR用角度調整装置 FI分類-G01N 24/00 510 A
2021年11月05日 特許庁 / 特許	高電圧増幅回路、及び分析装置 FI分類-H03F 3/08, FI分類-G05F 1/10 B, FI分類-H03K 17/785, FI分類-G01N 23/2273, FI分類-G01N 23/2276, FI分類-H03F 3/16 220, FI分類-H01J 49/48 400
2021年11月02日 特許庁 / 特許	相分析装置、試料分析装置、および分析方法 FI分類-G01N 23/2206, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01N 23/2252
2021年11月02日 特許庁 / 特許	相分析装置、試料分析装置、および分析方法 FI分類-G01N 23/2252
2021年10月28日 特許庁 / 特許	NMR測定装置 FI分類-G01R 33/44, FI分類-G01N 24/00 580 B, FI分類-G01N 24/00 580 E
2021年10月28日 特許庁 / 特許	質量分析装置及び方法 FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-H01J 49/00 310, FI分類-H01J 49/00 360, FI分類-H01J 49/00 500, FI分類-H01J 49/42 150
2021年10月27日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および画像取得方法 FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/153 A
2021年10月13日 特許庁 / 特許	X線検出装置及び方法 FI分類-G21K 1/06 B, FI分類-G21K 1/06 M, FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252
2021年10月13日 特許庁 / 特許	放射線検出装置および試料分析装置 FI分類-G01T 1/17 F
2021年10月13日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡及び電子顕微鏡の制御方法 FI分類-H01J 37/26
2021年10月07日 特許庁 / 特許	ホスホニウム化合物、誘導体化用試薬キット、質量分析方法、及びホスホニウム化合物の製造方法 FI分類-G01N 27/62 B, FI分類-C07F 9/54 CSP
2021年10月07日 特許庁 / 特許	化合物及び誘導体化試薬、並びに化合物の合成方法 FI分類-C07D 249/12 508, FI分類-C07D 249/12 CSP
2021年09月24日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置および画像調整方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/317 D, FI分類-H01J 37/22 502 E, FI分類-H01J 37/22 502 F
2021年09月10日 特許庁 / 特許	散布図表示装置、散布図表示方法、および分析装置 FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252
2021年09月08日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置及び画像生成方法 FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2021年08月13日 特許庁 / 特許	三次元積層造形装置 FI分類-B22F 10/28, FI分類-B22F 12/00, FI分類-B22F 12/20, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/245, FI分類-B29C 64/364
2021年08月13日 特許庁 / 特許	三次元積層造形装置 FI分類-B22F 10/28, FI分類-B22F 12/70, FI分類-B22F 12/82, FI分類-B29C 64/25, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/364
2021年08月12日 特許庁 / 特許	NMR装置、及び、NMRプローブ内のガス置換方法 FI分類-G01R 33/30, FI分類-G01N 24/00 510 Z
2021年08月11日 特許庁 / 特許	NMR測定装置及び溶媒識別方法 FI分類-G01N 24/00 530 J, FI分類-G01N 24/08 510 P
2021年07月21日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡及び収差補正方法 FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/153 A
2021年07月20日 特許庁 / 特許	分析装置および画像処理方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 G
2021年07月16日 特許庁 / 特許	試料加工装置および試料加工方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/305 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H
2021年07月08日 特許庁 / 特許	走査電子顕微鏡および対物レンズ FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/141 A
2021年07月07日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡及び画像生成方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 Z
2021年06月28日 特許庁 / 特許	ステージ装置および電子ビーム描画装置 FI分類-G03F 9/00 Z, FI分類-H01L 21/68 K, FI分類-H01L 21/30 541
2021年06月21日 特許庁 / 特許	電子ビーム検査装置 FI分類-G12B 5/00 T, FI分類-F16C 32/06 A, FI分類-H01L 21/68 N
2021年06月18日 特許庁 / 特許	マススペクトル処理装置及びマススペクトル処理方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-H01J 49/00 360
2021年06月04日 特許庁 / 特許	試料加工装置および情報提供方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/305 A, FI分類-H01J 37/22 502 Z
2021年06月04日 特許庁 / 特許	試料加工装置および試料加工方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/305 A
2021年06月03日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置および画像取得方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H
2021年06月03日 特許庁 / 特許	走査型電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/22 502 H
2021年05月18日 特許庁 / 特許	質量分析方法及び情報処理装置 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V
2021年04月13日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡及び試料汚染防止方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244
2021年03月23日 特許庁 / 特許	スペクトル解析装置 FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252
2021年03月22日 特許庁 / 特許	X線スペクトル解析装置及び方法 FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252
2021年03月19日 特許庁 / 特許	三次元積層造形装置および三次元積層造形方法 FI分類-B22F 10/28, FI分類-B22F 10/85, FI分類-B22F 12/40, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B22F 10/368, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/264, FI分類-B29C 64/393
2021年03月18日 特許庁 / 特許	NMRプローブ装置 FI分類-G01N 24/00 510 C
2021年03月10日 特許庁 / 特許	三次元積層造形装置および三次元積層造形方法 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 10/28, FI分類-B22F 10/37, FI分類-B22F 12/13, FI分類-B22F 12/17, FI分類-B22F 12/41, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/214, FI分類-B29C 64/393
2021年03月10日 特許庁 / 特許	三次元積層造形装置および三次元積層造形方法 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 10/28, FI分類-B22F 12/90, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 40/10, FI分類-B33Y 50/02, FI分類-B22F 10/362, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/205, FI分類-B29C 64/268, FI分類-B29C 64/295, FI分類-B29C 64/393
2021年03月09日 特許庁 / 特許	固相混合物、充填剤及びカラム FI分類-B01D 15/08, FI分類-B01D 15/38, FI分類-B01J 20/283, FI分類-G01N 1/10 C, FI分類-B01J 20/02 A, FI分類-B01J 20/22 D, FI分類-G01N 30/06 E, FI分類-G01N 30/08 L, FI分類-G01N 30/88 E, FI分類-B01J 20/281 X, FI分類-B01J 20/285 M, FI分類-B01J 20/285 N, FI分類-B01J 20/285 S, FI分類-B01D 15/00 101
2021年03月08日 特許庁 / 特許	試料加工装置の調整方法および試料加工装置 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/305 A
2021年02月26日 特許庁 / 特許	試料加工装置および試料加工方法 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/305 A
2021年02月16日 特許庁 / 特許	推定モデル作成方法及び電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/153 A
2021年02月12日 特許庁 / 特許	走査透過電子顕微鏡および光学系の調整方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/141 Z, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/22 501 C, FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H
2021年02月12日 特許庁 / 特許	相対回転角度の測定方法および走査透過電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/22 501 A
2021年02月04日 特許庁 / 特許	分析装置および画像処理方法 FI分類-G06T 7/30, FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01N 23/2252
2021年02月03日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/245
2021年01月29日 特許庁 / 特許	分析システム FI分類-G01N 23/2251
2021年01月26日 特許庁 / 特許	イオンビーム加工装置及びその動作制御方法 FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/18, FI分類-F04D 19/04 H, FI分類-H01J 37/305 A
2021年01月18日 特許庁 / 特許	収差測定方法および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2021年01月08日 特許庁 / 特許	試料ホルダーおよび荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 A
2021年01月08日 特許庁 / 特許	搬送装置および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 B, FI分類-H01J 37/20 C
2021年01月08日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 B, FI分類-H01J 37/20 C
2021年01月08日 特許庁 / 特許	試料ホルダーおよび荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 B
2021年01月07日 特許庁 / 特許	三次元積層造形装置 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/245
2021年01月07日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/2252, FI分類-G01N 23/2257, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-G01N 23/20008, FI分類-G01N 23/04 330, FI分類-H01J 37/22 501 A
2021年01月07日 特許庁 / 特許	試料導入方法および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 B, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/252 Z, FI分類-G01N 1/00 101 C
2021年01月07日 特許庁 / 特許	試料の前処理方法 FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-H01J 37/20 A
2020年12月16日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 B, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/20 E
2020年12月16日 特許庁 / 特許	イオン源およびイオンビーム装置 FI分類-H01J 27/16, FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/248, FI分類-H05H 1/46 L, FI分類-H01J 37/04 Z, FI分類-H01J 37/317 D
2020年11月30日 特許庁 / 特許	透過電子顕微鏡および光学系の調整方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/141 Z, FI分類-H01J 37/147 A
2020年11月09日 特許庁 / 特許	X線測定装置、X線測定方法及び機械学習方法 FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252
2020年11月02日 特許庁 / 特許	自動分析装置、および自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 F
2020年10月26日 特許庁 / 特許	マススペクトル処理装置及び方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-H01J 49/00 360
2020年10月21日 特許庁 / 特許	マススペクトル処理装置及び方法 FI分類-G01N 27/62 D
2020年10月08日 特許庁 / 特許	マススペクトル処理装置及び方法 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 E, FI分類-G01N 30/86 L, FI分類-G01N 30/86 R
2020年09月30日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/28 B
2020年09月17日 特許庁 / 特許	マススペクトル処理装置及び方法 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D
2020年09月17日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/147 D
2020年09月17日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置及び3次元積層造形方法。 FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/273, FI分類-B29C 64/393
2020年09月16日 特許庁 / 特許	三次元構造体の製造方法および三次元構造体の製造装置 FI分類-B29C 64/35, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/364, FI分類-B29C 64/393
2020年09月14日 特許庁 / 特許	三次元積層造形装置および三次元積層造形方法 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00
2020年09月11日 特許庁 / 特許	質量分析システム及び変換式補正方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/72 A
2020年09月07日 特許庁 / 特許	三次元積層造形装置 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 30/00
2020年08月27日 特許庁 / 特許	軟X線分光装置および分析方法 FI分類-G01N 23/2204, FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252
2020年08月26日 特許庁 / 特許	スペクトル測定装置、スピン流デバイス測定システム及びスピン流デバイス測定方法 FI分類-G01N 24/10 510 G, FI分類-G01N 24/10 520 C
2020年08月14日 特許庁 / 特許	イオンミリング装置および試料ホルダー FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/30 Z
2020年08月14日 特許庁 / 特許	荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画装置の制御方法 FI分類-H01L 21/30 541 J
2020年08月12日 特許庁 / 特許	自動分析システム FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 G
2020年08月07日 特許庁 / 特許	自動分析装置および保冷庫 FI分類-G01N 35/00 C
2020年08月05日 特許庁 / 特許	自動分析装置及びプログラム FI分類-G01N 1/00 C, FI分類-G01N 35/00 A
2020年07月28日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置および試料ステージの制御方法 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 H
2020年07月27日 特許庁 / 特許	試料分析装置及び方法 FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252
2020年07月27日 特許庁 / 特許	試料分析装置及び方法 FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252
2020年07月22日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B29C 64/25, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/214, FI分類-B29C 64/236
2020年07月21日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置及び設定支援方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-H01J 37/252 B, FI分類-H01J 37/22 502 H
2020年07月21日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置及び設定支援方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-H01J 37/252 B, FI分類-H01J 37/22 502 H
2020年07月21日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置及び設定支援方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-H01J 37/252 B, FI分類-H01J 37/22 502 H
2020年07月21日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置及び設定支援方法 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H
2020年07月20日 特許庁 / 特許	イオンミリング装置および試料作製方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/305 A
2020年07月20日 特許庁 / 特許	画像処理方法および画像処理装置 FI分類-G01N 23/04 330, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2020年07月20日 特許庁 / 特許	試料支持具、支持機器、および試料作製方法 FI分類-G01N 1/06 F, FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-H01J 37/20 C
2020年07月15日 特許庁 / 特許	像取得方法および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01J 37/22 502 G, FI分類-H01J 37/22 502 H
2020年07月15日 特許庁 / 特許	透過電子顕微鏡および対物絞りの調整方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/09 A
2020年07月02日 特許庁 / 特許	試料作製方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 U
2020年05月20日 特許庁 / 特許	ビーム調整方法及び三次元積層造形装置 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 50/02, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/268, FI分類-B29C 64/393
2020年05月13日 特許庁 / 特許	分析方法および分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/44, FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/2208, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01N 23/2276, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/252 Z
2020年04月14日 特許庁 / 特許	自動分析装置および自動分析装置の制御方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F
2020年04月14日 特許庁 / 特許	自動分析装置および自動分析装置の制御方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F
2020年04月07日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 B, FI分類-H01J 37/20 C
2020年03月31日 特許庁 / 特許	NMR測定プローブ FI分類-G01N 24/00 510 C, FI分類-G01N 24/00 510 D, FI分類-G01N 24/00 510 F, FI分類-G01N 24/00 560 F, FI分類-G01N 24/00 560 G
2020年03月31日 特許庁 / 特許	磁場補償モジュール、物理パッケージシステム、光格子時計用物理パッケージシステム、原子時計用物理パッケージシステム、原子干渉計用物理パッケージシステム、及び、量子情報処理デバイス用物理パッケージシステム FI分類-G04F 5/14, FI分類-H01S 1/06
2020年03月31日 特許庁 / 特許	物理パッケージ、光格子時計用物理パッケージ、原子時計用物理パッケージ、原子干渉計用物理パッケージ、及び、量子情報処理デバイス用物理パッケージ FI分類-G04F 5/14, FI分類-H01S 1/06
2020年03月30日 特許庁 / 特許	放射線検出器 FI分類-G01T 7/00 A, FI分類-G21K 5/00 W
2020年03月30日 特許庁 / 特許	分析方法および分析装置 FI分類-G01N 23/2252
2020年03月27日 特許庁 / 特許	荷電粒子線描画装置および描画方法 FI分類-G03F 7/20 504, FI分類-H01J 37/147 C, FI分類-H01J 37/22 502 B, FI分類-H01L 21/30 541 C
2020年03月27日 特許庁 / 特許	分析方法および蛍光X線分析装置 FI分類-G01N 23/223
2020年03月10日 特許庁 / 特許	磁界レンズの制御方法および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/141 Z, FI分類-H01L 21/30 541 A, FI分類-H01L 21/30 541 F
2020年03月09日 特許庁 / 特許	NMR測定システム及び冷媒流量制御方法 FI分類-G01R 33/32, FI分類-G01R 33/34, FI分類-G01N 24/00 510 F, FI分類-G01N 24/00 560 F, FI分類-G01N 24/00 560 G
2020年03月05日 特許庁 / 特許	NMR測定システム及び試料管センタリング方法 FI分類-G01N 24/00 510 C
2020年02月28日 特許庁 / 特許	スペクトル処理装置及び方法 FI分類-G01N 21/27 F, FI分類-G01N 24/00 530 J
2020年02月18日 特許庁 / 特許	オージェ電子分光装置および分析方法 FI分類-G01N 23/2276, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/252 Z
2020年02月13日 特許庁 / 特許	試料ガス分析システム及び方法 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 G
2020年01月29日 特許庁 / 特許	自動分析装置及び反応異常判定方法 FI分類-G01N 35/00 F
2020年01月27日 特許庁 / 特許	露光装置 FI分類-H01J 37/18, FI分類-G03F 7/20 504, FI分類-G03F 7/20 521, FI分類-H01J 37/305 B, FI分類-H01L 21/30 541 L
2020年01月23日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の調整方法 FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 B, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/28 B
2020年01月21日 特許庁 / 特許	質量分析装置 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/40
2020年01月15日 特許庁 / 特許	質量分析システム及び焼き出し方法 FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 G
2020年01月07日 特許庁 / 特許	高さ測定装置、荷電粒子線装置、および高さ測定方法 FI分類-G01B 9/04, FI分類-G01B 11/02 H, FI分類-G03F 7/20 504, FI分類-G03F 7/20 506, FI分類-G03F 7/20 521, FI分類-H01L 21/30 541 F
2019年12月26日 特許庁 / 特許	分析システム及び分析方法 FI分類-H01J 49/04, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/04 Z, FI分類-G01N 30/06 G, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 F, FI分類-G01N 30/86 G
2019年12月17日 特許庁 / 特許	恒温恒湿装置 FI分類-G01N 17/00
2019年12月11日 特許庁 / 特許	核磁気共鳴測定方法及び装置 FI分類-G01N 24/08 510 D, FI分類-G01N 24/08 510 P
2019年12月06日 特許庁 / 特許	マススペクトル処理装置及び方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D
2019年12月04日 特許庁 / 特許	質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 E
2019年11月26日 特許庁 / 特許	間接加熱蒸着装置 FI分類-C23C 14/00 B, FI分類-C23C 14/24 K
2019年11月21日 特許庁 / 特許	標準較正液 FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/04 P, FI分類-G01N 30/72 C
2019年11月15日 特許庁 / 特許	透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡の制御方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/21 A
2019年11月11日 特許庁 / 特許	マススペクトル処理装置及び方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/86 E
2019年11月01日 特許庁 / 特許	粒子解析方法、機械学習装置、粒子解析装置、および粒子解析システム FI分類-G01N 21/17 A, FI分類-G01N 23/2252
2019年10月29日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 40/00
2019年10月25日 特許庁 / 特許	間接加熱蒸着装置 FI分類-C23C 14/30 A
2019年10月15日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置用冷却装置 FI分類-H01J 37/20 E
2019年10月07日 特許庁 / 特許	電子銃、電子顕微鏡、3次元積層造形装置、及び電子銃の電流調整方法 FI分類-G21K 5/04 M, FI分類-H01J 37/073, FI分類-G21K 1/087 F, FI分類-G21K 1/093 S, FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/28 B
2019年10月04日 特許庁 / 特許	インターフェイス装置 FI分類-H01J 49/04, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 30/72 F
2019年09月30日 特許庁 / 特許	試料チップ作業台及びリテーナ FI分類-G02B 21/34, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 B
2019年09月30日 特許庁 / 特許	試料取付装置 FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-H01J 37/20 A
2019年09月30日 特許庁 / 特許	インプットレンズおよび電子分光装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 49/46
2019年09月25日 特許庁 / 特許	NMRプローブ搬送装置及びNMR測定システム FI分類-G01R 33/28, FI分類-B25J 9/06 D, FI分類-G01N 24/00 100 Z
2019年09月20日 特許庁 / 特許	自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/10 D
2019年09月13日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置および分析方法 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/20 F, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 502 H
2019年09月12日 特許庁 / 特許	暗視野像の取得方法 FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-G01N 23/04 330
2019年09月10日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡の制御方法および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/06 A, FI分類-H01J 37/06 Z
2019年09月09日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置及び3次元積層造形方法 FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/393
2019年09月09日 特許庁 / 特許	3次元積層造形方法及び3次元積層造形装置 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02, FI分類-B29C 64/153
2019年09月05日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/09 Z
2019年09月05日 特許庁 / 特許	試料プレートホルダ FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B
2019年08月28日 特許庁 / 特許	マススペクトル処理装置及びモデル生成方法 FI分類-G01N 27/62 D
2019年08月15日 特許庁 / 特許	可変コンデンサ及びNMRプローブ FI分類-H01G 5/14, FI分類-H01G 5/01 B, FI分類-H01G 5/013 100, FI分類-H01G 5/013 335, FI分類-H01G 5/013 380, FI分類-G01N 24/00 570 A, FI分類-G01N 24/00 580 F
2019年08月08日 特許庁 / 特許	試料ホルダー FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/20 B, FI分類-H01J 37/20 C
2019年07月29日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置のフォーカス調整方法および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/21 A, FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/21 Z, FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H
2019年07月26日 特許庁 / 特許	荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/21 A, FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/21 Z, FI分類-H01J 37/30 A, FI分類-G03F 7/20 504, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/147 C, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/153 B, FI分類-H01J 37/153 Z, FI分類-H01J 37/305 B, FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01L 21/30 541 N, FI分類-H01L 21/30 541 Q
2019年07月24日 特許庁 / 特許	分析装置 FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252
2019年07月19日 特許庁 / 特許	学習装置、判定装置、顕微鏡、学習済みモデル、及びプログラム FI分類-G06T 7/00 630, FI分類-G06N 20/00 130, FI分類-G06T 7/00 350 C
2019年07月18日 特許庁 / 特許	蛍光X線測定装置 FI分類-G01N 23/223
2019年07月11日 特許庁 / 特許	自動分析装置および自動分析装置の制御方法 FI分類-G01N 35/10 F
2019年07月10日 特許庁 / 特許	バルブ装置 FI分類-F16K 27/04, FI分類-H01J 37/18, FI分類-F16K 3/18 Z
2019年07月02日 特許庁 / 特許	自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/04 A
2019年07月01日 特許庁 / 特許	試料支持体および試料支持体の製造方法 FI分類-G01N 1/04 W, FI分類-G01N 1/28 U, FI分類-H01J 37/20 A
2019年06月25日 特許庁 / 特許	モノクロメーターおよび荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/05
2019年06月14日 特許庁 / 特許	X線分析システム及びX線分析方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252, FI分類-H01J 37/252 A
2019年06月11日 特許庁 / 特許	トリアゾリンジオン化合物の結晶体の製造方法 FI分類-C07D 249/12 508, FI分類-C07D 249/12 CSP
2019年06月11日 特許庁 / 特許	セミカルバジド化合物の製造方法 FI分類-C07C 281/06
2019年06月11日 特許庁 / 特許	トリアゾリジンジオン化合物の製造方法 FI分類-A61K 49/00, FI分類-C07D 249/12 508
2019年06月11日 特許庁 / 特許	クックソン型誘導体化試薬、クックソン型誘導体化試薬の製造方法、エン化合物の製造方法、およびエン化合物の分析方法 FI分類-G01N 33/82, FI分類-C07D 487/04 145, FI分類-C07D 487/18 CSP
2019年06月10日 特許庁 / 特許	組成推定装置及び方法 FI分類-G01N 27/62 D
2019年05月31日 特許庁 / 特許	自動分析装置及び自動分析装置の制御方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/02 E
2019年05月31日 特許庁 / 特許	X線分析装置 FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252
2019年05月08日 特許庁 / 特許	気体浮上式搬送装置及び洗浄方法 FI分類-H01L 21/68 A, FI分類-H01L 21/68 K, FI分類-H01L 21/30 541 L
2019年04月26日 特許庁 / 特許	自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/02 C
2019年04月25日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の光学系の制御方法 FI分類-H01J 37/10, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B
2019年04月15日 特許庁 / 特許	間接加熱蒸着源 FI分類-C23C 14/24 B
2019年04月08日 特許庁 / 特許	エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/26
2019年03月28日 特許庁 / 特許	三次元積層造形装置及び三次元積層造形方法 FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/241, FI分類-B29C 64/268, FI分類-B29C 64/393
2019年03月28日 特許庁 / 特許	透過電子顕微鏡の制御方法および透過電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/21 A, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/147 A
2019年03月15日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01L 33/00 L
2019年03月08日 特許庁 / 特許	分析装置およびスペクトル生成方法 FI分類-G01N 23/223
2019年02月26日 特許庁 / 特許	試料交換装置及び荷電粒子線装置 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-H01J 37/20 B
2019年02月19日 特許庁 / 特許	観察方法 FI分類-G01N 1/36, FI分類-G02B 21/34, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 H, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/305 A, FI分類-H01J 37/22 502 L, FI分類-H01J 37/22 502 Z
2019年02月19日 特許庁 / 特許	観察方法、画像処理装置、および電子顕微鏡 FI分類-G02B 21/10, FI分類-G02B 21/34, FI分類-G02B 21/36, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 H, FI分類-G01N 21/41 102, FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 L
2019年02月14日 特許庁 / 特許	イオンビーム電流測定装置、試料作成装置及びイオンビーム電流算出方法 FI分類-H01J 37/08, FI分類-H01J 37/04 A
2019年02月01日 特許庁 / 特許	荷電粒子線システム及び走査電子顕微鏡を用いた試料測定方法 FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/22 502 H
2019年01月31日 特許庁 / 特許	走査透過電子顕微鏡および収差補正方法 FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2019年01月29日 特許庁 / 特許	偏向器および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/147 C, FI分類-H01J 37/147 D
2019年01月24日 特許庁 / 特許	試薬ボトル収容ユニット及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C
2019年01月24日 特許庁 / 特許	自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C
2019年01月23日 特許庁 / 特許	組成推定装置及び方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 33/00 D
2019年01月21日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/22 501 A
2019年01月18日 特許庁 / 特許	マススペクトル処理装置及び方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D
2019年01月10日 特許庁 / 特許	磁場発生装置及び核磁気共鳴装置 FI分類-H01F 6/06 130, FI分類-A61B 5/055 331, FI分類-A61B 5/055 360, FI分類-H01F 7/20 ZAAC, FI分類-G01N 24/00 600 D
2019年01月09日 特許庁 / 特許	自動分析装置及びプログラム FI分類-G01N 35/10 C
2018年12月26日 特許庁 / 特許	自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/10 K
2018年12月25日 特許庁 / 特許	NMR測定装置及び試料管回転制御方法 FI分類-G01N 24/00 510 C
2018年12月21日 特許庁 / 特許	画像処理方法および画像処理システム FI分類-G01N 23/046, FI分類-G01N 23/2251
2018年12月18日 特許庁 / 特許	間接加熱蒸着源 FI分類-C23C 14/24 B, FI分類-H01J 37/06 Z
2018年12月18日 特許庁 / 特許	キャリブレーション方法および分析装置 FI分類-G01N 23/2209, FI分類-G01N 23/2252
2018年12月12日 特許庁 / 特許	マススペクトル解析装置及び方法 FI分類-G01N 27/62 D
2018年12月11日 特許庁 / 特許	自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 D
2018年12月07日 特許庁 / 特許	真空冷却装置及びイオンミリング装置 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/30 Z
2018年12月06日 特許庁 / 特許	自動分析装置 FI分類-G01H 11/02 B, FI分類-G01N 35/04 B, FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01B 7/00 101 F
2018年11月30日 特許庁 / 特許	化学構造推定装置及び方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 Y
2018年11月26日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の制御方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/141 Z
2018年11月21日 特許庁 / 特許	質量分析装置、ガスクロマトグラフ質量分析装置及び焼き出し電流制御装置 FI分類-H01J 49/16, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 30/72 F
2018年11月21日 特許庁 / 特許	質量分析システム及びエミッタ電流制御方法 FI分類-H01J 49/10, FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 G
2018年11月20日 特許庁 / 特許	表面分析装置および表面分析方法 FI分類-G01N 23/2276, FI分類-H01J 37/252 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H
2018年11月15日 特許庁 / 特許	走査電子顕微鏡および画像処理方法 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 D, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 L
2018年11月05日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および画像処理方法 FI分類-G01N 23/046, FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/2252, FI分類-G01N 23/2276, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-G01N 23/04 340, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 502 H
2018年11月01日 特許庁 / 特許	評価方法および荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-G03F 7/20 504, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/153 B, FI分類-H01J 37/305 B, FI分類-H01L 21/30 541 D, FI分類-H01L 21/30 541 E, FI分類-H01L 21/30 541 N, FI分類-H01L 21/30 541 Q
2018年11月01日 特許庁 / 特許	評価方法および荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/147 C, FI分類-H01J 37/153 Z, FI分類-H01J 37/305 B, FI分類-H01J 37/22 502 Z, FI分類-H01L 21/30 541 B, FI分類-H01L 21/30 541 Q
2018年10月30日 特許庁 / 特許	分注ユニット及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C
2018年10月05日 特許庁 / 特許	元素マップの生成方法および表面分析装置 FI分類-G01N 23/2273, FI分類-G01N 23/2276, FI分類-H01J 37/22 502 H
2018年10月02日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/22 501 A
2018年09月28日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡装置、電子顕微鏡装置の制御方法 FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 E
2018年09月28日 特許庁 / 特許	DNP-NMRプローブ及びその使用方法 FI分類-G01N 24/00 570 E
2018年09月28日 特許庁 / 特許	自動分析装置、および自動分析方法 FI分類-G01N 35/10 F
2018年09月19日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A
2018年09月19日 特許庁 / 特許	一次線走査装置および信号処理方法 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 502 H
2018年09月18日 特許庁 / 特許	電子スピン共鳴測定装置及びその調整方法 FI分類-G01N 24/10 520 G, FI分類-G01N 24/10 520 P
2018年09月11日 特許庁 / 特許	高周波誘導熱プラズマ装置 FI分類-H05H 1/30, FI分類-B82Y 40/00, FI分類-C23C 16/513, FI分類-C23C 14/26 B
2018年09月10日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および電子顕微鏡の調整方法 FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/22 501 A
2018年09月06日 特許庁 / 特許	電子銃および電子線装置 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/06 A
2018年09月04日 特許庁 / 特許	元素分布のムラの評価方法および荷電粒子線装置 FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01N 23/2252, FI分類-G01N 23/2257
2018年09月03日 特許庁 / 特許	自動分析装置および検体分注機構の異常検出方法 FI分類-G01N 35/00 F, FI分類-G01N 35/10 A
2018年08月31日 特許庁 / 特許	NMRプローブシステム及びNMRプローブシステム使用方法 FI分類-G01N 24/00 510
2018年08月30日 特許庁 / 特許	電子スピン共鳴測定装置及び方法 FI分類-G01N 24/10 520 G, FI分類-G01N 24/10 520 P
2018年08月29日 特許庁 / 特許	質量分析装置及び方法 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 E
2018年08月22日 特許庁 / 特許	フィラメント回路及び電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 37/06 A
2018年08月16日 特許庁 / 特許	X線分析装置および計数率の補正方法 FI分類-G01N 23/2252
2018年08月16日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置およびその制御方法 FI分類-H01J 37/04 A, FI分類-H01J 37/28 B
2018年08月15日 特許庁 / 特許	真空装置及び復旧支援方法 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/20 B, FI分類-G01N 1/00 101 C
2018年08月09日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置および制御方法 FI分類-H01J 37/09 A
2018年08月09日 特許庁 / 特許	試料搬送装置及び電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/28 B
2018年07月30日 特許庁 / 特許	分析装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/2208, FI分類-G01N 23/2252, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-H01J 37/22 502 H
2018年07月05日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置および分析方法 FI分類-G01N 23/203, FI分類-G01N 23/207, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-G01N 23/20058, FI分類-G01N 23/2055 310, FI分類-H01J 37/22 502 H, FI分類-H01J 37/22 502 Z
2018年07月03日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-G01N 23/041, FI分類-H01J 37/295, FI分類-H01J 37/22 501 A
2018年07月03日 特許庁 / 特許	マススペクトル処理装置及び方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 Y
2018年06月29日 特許庁 / 特許	結晶構造解析システム及び結晶構造解析方法 FI分類-G01N 23/20058, FI分類-G01N 24/00 530 K, FI分類-G01N 24/08 510 N
2018年06月19日 特許庁 / 特許	自動分析装置、および自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/02 J
2018年06月13日 特許庁 / 特許	分注ユニット、自動分析装置及び液面検出判定方法 FI分類-G01N 35/10 C
2018年06月05日 特許庁 / 特許	荷電粒子ビーム描画方法および荷電粒子ビーム描画装置 FI分類-H01J 37/30 A, FI分類-G03F 7/20 504, FI分類-H01L 21/30 541 M
2018年06月04日 特許庁 / 特許	クロマトグラフ質量分析システム及び測定条件表示方法 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 B, FI分類-G01N 30/86 D
2018年05月29日 特許庁 / 特許	分注ユニット及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C
2018年05月25日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-G06F 17/30 170 B, FI分類-G06F 17/30 220 Z, FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H
2018年05月24日 特許庁 / 特許	生物組織画像処理装置及び方法 FI分類-G06T 7/00 350 B
2018年05月24日 特許庁 / 特許	生物組織画像処理システム及び機械学習方法 FI分類-G01N 33/483 C, FI分類-G06T 7/00 630, FI分類-G06T 7/00 350 B
2018年05月24日 特許庁 / 特許	生物組織画像処理システム及び機械学習方法 FI分類-C12M 1/34 Z, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01N 33/48 P, FI分類-G06T 7/00 630, FI分類-G06T 7/00 350 B
2018年05月24日 特許庁 / 特許	生物組織画像処理装置及び方法 FI分類-H01J 37/22 502 H
2018年05月24日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置および画像取得方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 F, FI分類-H01J 37/22 502 H
2018年05月24日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置および画像取得方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H
2018年05月16日 特許庁 / 特許	自動分析装置、および自動分析方法 FI分類-G01N 35/10 D
2018年05月14日 特許庁 / 特許	観察方法、試料支持体、試料保持具セット、および透過電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2018年04月26日 特許庁 / 特許	自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/10 B
2018年04月26日 特許庁 / 特許	NMRプローブ FI分類-G01N 24/00 ZAA, FI分類-G01N 24/00 560 F, FI分類-G01N 24/00 560 G, FI分類-G01N 24/00 570 A
2018年04月20日 特許庁 / 特許	NMR試料管 FI分類-G01N 24/00 510 A, FI分類-G01N 24/08 510 S
2018年04月18日 特許庁 / 特許	核磁気共鳴測定装置及び方法 FI分類-H01F 5/00 C, FI分類-H01F 6/06 140, FI分類-G01N 24/00 ZAA, FI分類-G01N 24/00 570 A
2018年03月30日 特許庁 / 特許	収差補正装置および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/153 A
2018年03月30日 特許庁 / 特許	自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/10 F
2018年03月30日 特許庁 / 特許	電子銃 FI分類-H01J 37/06 B
2018年03月26日 特許庁 / 特許	液体試料を観察または分析する方法および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/244, FI分類-G01N 23/2204, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 Z
2018年03月20日 特許庁 / 特許	インターフェース、およびガスクロマトグラフ質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 30/54 G, FI分類-G01N 30/72 F
2018年03月19日 特許庁 / 特許	質量分析装置 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 E, FI分類-G01N 27/62 Y
2018年03月15日 特許庁 / 特許	自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 F
2018年03月14日 特許庁 / 特許	質量分析装置 FI分類-H01J 49/22, FI分類-H01J 49/42
2018年03月13日 特許庁 / 特許	イオンミリング装置及び試料ホルダー FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/305 A
2018年03月05日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2018年02月28日 特許庁 / 特許	スペクトル処理装置及び方法 FI分類-G01N 24/00 530 F
2018年02月23日 特許庁 / 特許	収差測定方法および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2018年02月23日 特許庁 / 特許	温度制御装置、温度制御方法、および荷電粒子線装置 FI分類-F25D 13/00 B, FI分類-G05D 23/19 J, FI分類-F25D 17/02 303, FI分類-F25B 1/00 101 H, FI分類-F25B 1/00 304 S, FI分類-F25B 1/00 399 Y
2018年02月09日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B
2018年02月09日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および電子顕微鏡の制御方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/248 B
2018年02月01日 特許庁 / 特許	マススペクトル処理装置及び方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 Y
2018年01月30日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/09 Z, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 L, FI分類-H01J 37/22 502 Z
2018年01月24日 特許庁 / 特許	走査電子顕微鏡および測定方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/317 D, FI分類-H01J 37/22 502 H
2018年01月24日 特許庁 / 特許	収差補正装置および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/153 B
2018年01月23日 特許庁 / 特許	マススペクトル処理装置及び方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 Y
2018年01月17日 特許庁 / 特許	容器収容ユニット及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C
2018年01月12日 特許庁 / 特許	スペクトル処理装置及び方法 FI分類-G01N 24/00 530 F, FI分類-G01N 24/00 530 G
2018年01月04日 特許庁 / 特許	高周波誘導熱プラズマ装置 FI分類-H05H 1/30, FI分類-C01G 23/07, FI分類-B22F 1/02 F, FI分類-B22F 9/14 Z, FI分類-C01B 33/021, FI分類-B01J 19/08 K, FI分類-C01B 13/14 B
2017年12月20日 特許庁 / 特許	蛍光X線分析装置および分析方法 FI分類-G01N 23/223
2017年12月05日 特許庁 / 特許	質量分析データ処理装置および質量分析データ処理方法 FI分類-G01N 27/62 D
2017年12月05日 特許庁 / 特許	自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/02 C, FI分類-G01N 35/02 G
2017年11月27日 特許庁 / 特許	定量分析方法および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-G01N 23/225 312, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2017年11月16日 特許庁 / 特許	核磁気共鳴測定用プローブ及び中継コイル FI分類-A61B 5/05 350, FI分類-A61B 5/05 355, FI分類-G01R 33/36 ZAA, FI分類-G01N 24/00 580 Z
2017年11月16日 特許庁 / 特許	スペクトル解析装置及び方法 FI分類-A61B 5/05 376, FI分類-G01N 24/00 530 J
2017年11月13日 特許庁 / 特許	自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 C, FI分類-G01N 35/10 F
2017年11月13日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244
2017年11月09日 特許庁 / 特許	データ処理装置及びデータ処理方法 FI分類-G01N 23/227 310
2017年11月02日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および電子顕微鏡の制御方法 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/147 B
2017年11月02日 特許庁 / 特許	検出装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244
2017年11月01日 特許庁 / 特許	試料ホルダ FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/317 D
2017年10月31日 特許庁 / 特許	電子スピン共鳴測定装置及び方法 FI分類-G01N 24/00 530 D, FI分類-G01N 24/10 510 D, FI分類-G01N 24/10 510 S, FI分類-G01N 24/10 520 Z
2017年10月17日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および試料傾斜角の調整方法 FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/22 501 A
2017年10月16日 特許庁 / 特許	質量分析用データ処理装置及び質量分析用データ処理方法 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C, FI分類-G01N 30/86 G
2017年10月10日 特許庁 / 特許	荷電粒子ビーム描画装置 FI分類-G03F 7/20 504, FI分類-H01J 37/305 B, FI分類-H01L 21/30 541 D, FI分類-H01L 21/30 541 Q
2017年10月06日 特許庁 / 特許	質量分析データ処理装置及び質量分析データ処理方法 FI分類-G01N 27/62 D
2017年10月06日 特許庁 / 特許	自動分析装置及び動作量補正方法 FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 A
2017年10月02日 特許庁 / 特許	質量分析データ処理装置、及び質量分析データ処理方法 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 X, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/72 C
2017年09月27日 特許庁 / 特許	質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 F, FI分類-G01N 27/62 G
2017年09月21日 特許庁 / 特許	三次元構造体の製造方法および三次元構造体の製造装置 FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/264, FI分類-B29C 64/393
2017年09月19日 特許庁 / 特許	容器供給ユニット及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 G
2017年09月15日 特許庁 / 特許	冷陰極電界放出型電子銃の調整方法 FI分類-H01J 37/073, FI分類-H01J 37/06 A
2017年09月15日 特許庁 / 特許	測定方法および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/244
2017年09月04日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡観察用の包埋樹脂試料の作製方法およびそれに用いる型枠。 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/28 R, FI分類-G01N 1/32 A
2017年09月01日 特許庁 / 特許	ガスクロマトグラフ質量分析装置、およびガスクロマトグラフ質量分析方法 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 30/26 N, FI分類-G01N 30/54 F, FI分類-G01N 30/54 H, FI分類-G01N 30/72 F
2017年08月24日 特許庁 / 特許	収差測定方法および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/10, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/22 501 C, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2017年08月24日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-G01N 23/22 332, FI分類-G01N 23/225 312
2017年08月21日 特許庁 / 特許	NMR測定装置 FI分類-A61B 5/05 312, FI分類-A61B 5/05 332, FI分類-G01N 24/02 510 F, FI分類-G01N 24/06 520 K, FI分類-G01N 24/10 510 D
2017年08月21日 特許庁 / 特許	質量分析データ処理装置、質量分析システム及び質量分析データ処理方法 FI分類-G01N 27/62 D
2017年08月17日 特許庁 / 特許	三次元像構築方法 FI分類-H01J 37/31, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/28 H, FI分類-G01N 1/32 B, FI分類-H01J 37/22 502 H
2017年08月14日 特許庁 / 特許	X線分析装置およびスペクトル生成方法 FI分類-G01N 23/20 390, FI分類-G01N 23/225 312
2017年07月31日 特許庁 / 特許	画像処理装置、分析装置、および画像処理方法 FI分類-G01N 23/207 320, FI分類-G01N 23/225 312
2017年07月28日 特許庁 / 特許	容器収容ユニット及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 B, FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 E
2017年07月26日 特許庁 / 特許	質量分析システム及び質量スペクトル表示方法 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 Y
2017年07月26日 特許庁 / 特許	NMR測定装置 FI分類-A61B 5/05 372, FI分類-A61B 5/05 374, FI分類-A61B 5/05 376, FI分類-G01N 24/02 530 A, FI分類-G01N 24/02 530 B, FI分類-G01N 24/02 530 G
2017年07月26日 特許庁 / 特許	NMR測定装置及び反射波モニタリング方法 FI分類-A61B 5/05 355, FI分類-G01N 24/04 530 F
2017年07月24日 特許庁 / 特許	磁気共鳴信号検出モジュール FI分類-G01N 24/02 510 B, FI分類-G01N 24/04 510 F, FI分類-G01N 24/04 510 G, FI分類-G01N 24/04 520 A, FI分類-G01N 24/04 530 F, FI分類-G01N 24/04 530 H, FI分類-G01N 24/12 510 G
2017年07月18日 特許庁 / 特許	表面分析装置および試料の高さ合わせ方法 FI分類-G01N 23/227
2017年06月28日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/393
2017年06月23日 特許庁 / 特許	試料ホルダーおよび電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/09 Z, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 Z, FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/317 D
2017年06月20日 特許庁 / 特許	歪み補正方法および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/153 A
2017年06月13日 特許庁 / 特許	間接加熱蒸着源 FI分類-C23C 14/24 B, FI分類-C23C 14/30 A
2017年06月12日 特許庁 / 特許	試料ホルダーシステム及び試料観察装置 FI分類-G02B 21/26, FI分類-H01J 37/20 F, FI分類-H01J 37/305 A
2017年06月06日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02, FI分類-B29C 64/153, FI分類-B29C 64/393
2017年06月02日 特許庁 / 特許	NMR測定装置及び磁場マップ演算方法 FI分類-G01N 24/06 520 J, FI分類-G01N 24/08 510 D
2017年06月02日 特許庁 / 特許	走査電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/244
2017年05月30日 特許庁 / 特許	自動分析装置及びプログラム FI分類-G01N 35/10 F
2017年05月29日 特許庁 / 特許	画像処理装置、表面分析装置、および画像処理方法 FI分類-G01N 23/225 312
2017年05月26日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡像の歪み測定方法および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2017年05月26日 特許庁 / 特許	イオンミリング装置及び試料ホルダー FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/30 Z
2017年05月25日 特許庁 / 特許	削り器 FI分類-B23B 5/00 A
2017年05月22日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置および走査像の歪み補正方法 FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/147 D, FI分類-H01J 37/147 Z, FI分類-H01J 37/317 D
2017年05月22日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/147 B
2017年05月18日 特許庁 / 特許	NMR用自動試料交換装置 FI分類-G01N 24/02 510 D, FI分類-G01N 24/02 510 F
2017年05月09日 特許庁 / 特許	試料ホルダーユニット及び試料観察装置 FI分類-G02B 21/00, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/305 A, FI分類-B23K 15/00 508, FI分類-B23K 15/00 504 B
2017年04月27日 特許庁 / 特許	容器収容ユニット及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C
2017年04月26日 特許庁 / 特許	ホルダーおよび荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/20 A
2017年04月14日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2017年03月28日 特許庁 / 特許	核磁気共鳴装置 FI分類-G01N 24/06 530 B
2017年03月23日 特許庁 / 特許	画像処理装置、観察装置、および画像処理方法 FI分類-G02B 21/36, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 H, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2017年03月14日 特許庁 / 特許	核磁気共鳴プローブの多重共鳴回路の誘導結合および使用方法 FI分類-G01N 24/00 570 A, FI分類-G01N 24/00 580 F
2017年03月10日 特許庁 / 特許	分析装置および分析方法 FI分類-G01N 23/225 312
2017年03月07日 特許庁 / 特許	NMR試料管導入回収装置、及び、NMR試料管導入回収方法 FI分類-G01N 24/02 510 B, FI分類-G01N 24/02 510 D, FI分類-G01N 24/02 510 F, FI分類-G01N 24/08 510 S
2017年03月03日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/04 A, FI分類-H01J 37/252 A
2017年02月28日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および試料高さの調整方法 FI分類-H01J 37/20 C
2017年02月27日 特許庁 / 特許	自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 F
2017年02月23日 特許庁 / 特許	除振装置および除振台 FI分類-F16F 1/06, FI分類-F16F 15/04 F, FI分類-F16F 15/06 D
2017年02月23日 特許庁 / 特許	走査電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B
2017年02月14日 特許庁 / 特許	イオン化法選択支援装置及び方法 FI分類-G01N 27/62 B
2017年02月08日 特許庁 / 特許	試料移動装置及び電子顕微鏡 FI分類-G01N 1/28 K, FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/20 E
2017年02月08日 特許庁 / 特許	エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 49/46, FI分類-H01J 37/295, FI分類-H01J 37/28 C
2017年02月07日 特許庁 / 特許	観察方法および試料作製方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/28 H, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/317 D, FI分類-G01N 23/22 310
2017年01月27日 特許庁 / 特許	放射線分析装置 FI分類-G01N 23/225 312
2017年01月20日 特許庁 / 特許	試料作製装置 FI分類-G01N 1/28 F
2017年01月12日 特許庁 / 特許	荷電粒子ビーム装置のフォーカス調整方法、および荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/21 A, FI分類-H01J 37/21 B, FI分類-H01J 37/22 502 H
2016年12月28日 特許庁 / 特許	NMR測定用混合マイクロチップ FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/08 A, FI分類-G01N 37/00 101, FI分類-G01N 24/02 510 D
2016年12月26日 特許庁 / 特許	電子銃用の取外し工具 FI分類-H01J 37/067
2016年12月22日 特許庁 / 特許	報告書作成装置、プログラム、情報記憶媒体、および報告書作成方法 FI分類-G06F 19/00 500
2016年12月16日 特許庁 / 特許	3次元造形装置、3次元造形装置の制御方法および3次元造形装置の制御プログラム FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02
2016年12月12日 特許庁 / 特許	NMR測定方法及び装置 FI分類-G01N 24/02 510 B, FI分類-G01N 24/08 510 D, FI分類-G01N 24/08 510 S, FI分類-G01N 24/12 510 A, FI分類-G01N 24/12 510 L
2016年12月05日 特許庁 / 特許	画像取得方法および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/295, FI分類-H01J 37/20 C, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2016年12月05日 特許庁 / 特許	プログラム、制御装置、および情報記憶媒体 FI分類-G06F 3/0481
2016年11月28日 特許庁 / 特許	軸合わせ方法および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/22 501 C
2016年11月28日 特許庁 / 特許	走査透過電子顕微鏡および画像生成方法 FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/147 B, FI分類-H01J 37/22 501 C
2016年11月17日 特許庁 / 特許	ビタミンDの定量方法、質量分析装置およびビタミンD定量用試薬キット FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 X
2016年11月15日 特許庁 / 特許	自動分析装置及びプログラム FI分類-G01N 35/02 G
2016年11月08日 特許庁 / 特許	カートリッジ保持装置 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-H01J 37/20 A
2016年11月07日 特許庁 / 特許	試料台支持具 FI分類-H01J 37/20 A
2016年10月14日 特許庁 / 特許	支持装置および真空装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/20 A
2016年09月29日 特許庁 / 特許	s-cis-ジエンを有する化合物の誘導体化法、誘導体化試薬キット、および分析方法 FI分類-G01N 27/62 V
2016年09月29日 特許庁 / 特許	検体ラック搬送装置及び自動分析システム FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 H
2016年09月29日 特許庁 / 特許	検体ラック搬送装置及び自動分析システム FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 H
2016年09月28日 特許庁 / 特許	観察方法および試料観察装置 FI分類-H01J 37/20 D, FI分類-H01J 37/28 Z, FI分類-H01J 37/22 502 L, FI分類-H01J 37/22 502 Z
2016年09月21日 特許庁 / 特許	対物レンズおよび透過電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/141 A
2016年09月09日 特許庁 / 特許	電子検出装置及び電子顕微鏡装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 502 H
2016年08月30日 特許庁 / 特許	分析方法 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/22 310
2016年08月19日 特許庁 / 特許	質量分析用データ処理装置、および質量分析用データ処理方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 Y
2016年08月12日 特許庁 / 特許	画像処理装置、画像処理方法、および分析装置 FI分類-G06T 5/00 705, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-G01N 23/207 320, FI分類-G01N 23/225 312
2016年07月29日 特許庁 / 特許	四重極型質量分析計及び質量分析方法 FI分類-H01J 49/42
2016年07月29日 特許庁 / 特許	自動分析装置及びプログラム FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/10 F
2016年07月29日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/04 A, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H
2016年07月28日 特許庁 / 特許	緩和時間測定方法及び磁気共鳴測定装置 FI分類-G01N 24/08 510 L, FI分類-G01N 24/10 510 D, FI分類-G01N 24/10 520 C
2016年07月27日 特許庁 / 特許	間接加熱蒸着源 FI分類-C23C 14/30 A
2016年07月27日 特許庁 / 特許	自動分析装置及びプログラム FI分類-G01N 35/10 C
2016年07月26日 特許庁 / 特許	マススペクトルデータのピーク検出処理方法及び装置 FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D
2016年07月20日 特許庁 / 特許	磁気共鳴測定用検出コイルの製造方法 FI分類-A61B 5/05 355, FI分類-G01N 24/04 ZAA, FI分類-G01N 24/04 520 A
2016年07月12日 特許庁 / 特許	質量分析データ解析方法 FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 Y
2016年07月12日 特許庁 / 特許	質量分析方法 FI分類-G01N 27/62 D
2016年06月30日 特許庁 / 特許	紫外線照射装置および真空容器装置 FI分類-G01N 1/34, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-H01J 37/20 G, FI分類-H01J 65/00 D, FI分類-G01N 23/22 310, FI分類-G01N 23/225 310
2016年06月14日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および画像取得方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2016年05月13日 特許庁 / 特許	電子分光装置および測定方法 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 43/04, FI分類-H01J 49/44, FI分類-H01J 37/252 Z, FI分類-G01N 23/227 310, FI分類-G01N 23/227 320
2016年05月13日 特許庁 / 特許	磁気共鳴信号検出モジュール FI分類-A61B 5/05 355, FI分類-A61B 5/05 360, FI分類-G01N 24/04 ZAA, FI分類-G01N 24/04 510 F, FI分類-G01N 24/04 510 G, FI分類-G01N 24/04 520 A
2016年05月11日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および電子顕微鏡の制御方法 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/12
2016年04月15日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および焦点合わせ方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/141, FI分類-H01J 37/21 A, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2016年04月12日 特許庁 / 特許	質量分析装置および画像生成方法 FI分類-G01N 27/62 C, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-G01N 30/72 A, FI分類-G01N 30/86 D, FI分類-G01N 30/86 J, FI分類-G01N 30/86 M, FI分類-G01N 30/88 A
2016年04月08日 特許庁 / 特許	磁気結合の高分解能核磁気共鳴プローブおよび使用法 FI分類-G01N 24/00 560 C, FI分類-G01N 24/00 580 G
2016年04月05日 特許庁 / 特許	分析装置 FI分類-H01J 37/22 502 H
2016年04月04日 特許庁 / 特許	質量分析に基づいた組成解析のための組成候補抽出方法 FI分類-G01N 27/62 D
2016年03月25日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および収差補正方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/21 A, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2016年03月25日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置、3次元積層造形装置の制御方法および3次元積層造形装置の制御プログラム FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B29C 67/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02
2016年03月25日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置、3次元積層造形装置の制御方法および3次元積層造形装置の制御プログラム FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/02
2016年03月25日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置、3次元積層造形装置の制御方法および3次元積層造形装置の制御プログラム FI分類-B29C 67/00, FI分類-B33Y 10/00, FI分類-B33Y 30/00, FI分類-B33Y 50/00
2016年03月23日 特許庁 / 特許	質量分析装置 FI分類-H01J 49/02, FI分類-H01J 49/38, FI分類-H01J 49/40, FI分類-H01J 49/42, FI分類-H01J 37/256, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 Y, FI分類-H01J 37/252 B
2016年03月15日 特許庁 / 特許	染色方法および観察方法 FI分類-G01N 1/30, FI分類-G01N 1/04 G, FI分類-G01N 1/04 H, FI分類-G01N 1/06 Z, FI分類-G01N 1/28 J, FI分類-G01N 33/53 Y
2016年03月08日 特許庁 / 特許	X線分析装置 FI分類-G01N 23/22 320, FI分類-G01N 23/225 312
2016年03月08日 特許庁 / 特許	相分析装置、相分析方法、および表面分析装置 FI分類-G01N 23/225 312
2016年02月10日 特許庁 / 特許	マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、および質量分析装置 FI分類-G01N 27/62 D
2016年02月09日 特許庁 / 特許	自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 B, FI分類-G01N 35/04 G
2016年02月05日 特許庁 / 特許	試料ホルダー FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/20 F
2016年02月03日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および収差測定方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/153 A
2016年01月22日 特許庁 / 特許	マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、質量分析装置、およびプログラム FI分類-H01J 49/26, FI分類-G01N 27/62 D, FI分類-G01N 27/62 Y
2016年01月20日 特許庁 / 特許	質量分析装置及び質量分析方法 FI分類-H01J 49/06, FI分類-H01J 49/26, FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 D
2016年01月14日 特許庁 / 特許	NMR測定用プローブ FI分類-G01N 24/04 510 G, FI分類-G01N 24/04 520 Z
2016年01月05日 特許庁 / 特許	測定方法 FI分類-G01N 21/65, FI分類-G01N 27/62 B
2016年01月05日 特許庁 / 特許	クライオ観察用試料作製方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/28 K, FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-H01J 37/20 A
2015年12月25日 特許庁 / 特許	固体撮像素子のクリーニング方法および放射線検出装置 FI分類-H04N 5/335, FI分類-H04N 5/225 E, FI分類-G01N 23/207 320, FI分類-G01N 23/225 312
2015年12月25日 特許庁 / 特許	検体ラック搬送装置及び自動分析システム FI分類-G01N 35/02 G
2015年12月25日 特許庁 / 特許	検体ラック搬送装置、自動分析システム及び検体ラック搬送装置の検体ラック回収方法 FI分類-G01N 35/02 G
2015年12月25日 特許庁 / 特許	自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/10 A, FI分類-G01N 35/10 E
2015年12月22日 特許庁 / 特許	収差補正方法および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2015年12月22日 特許庁 / 特許	NMR測定用スピナ装置 FI分類-G01N 24/02 510 B, FI分類-G01N 24/02 510 F, FI分類-G01N 24/04 520 Z, FI分類-G01N 24/08 510 S
2015年12月21日 特許庁 / 特許	核磁気共鳴測定装置及び排ガス処理方法 FI分類-G01N 24/02 510 B, FI分類-G01N 24/04 510 G, FI分類-G01N 24/04 520 Z, FI分類-G01N 24/08 510 S
2015年12月17日 特許庁 / 特許	分析方法および分光装置 FI分類-G01N 23/227 320
2015年12月16日 特許庁 / 特許	自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 D
2015年12月15日 特許庁 / 特許	容器供給ユニット及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/02 A, FI分類-G01N 35/04 G
2015年11月24日 特許庁 / 特許	薄膜試料加工方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 N, FI分類-H01J 37/20 Z
2015年11月04日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/10, FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/256, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/252 A
2015年10月23日 特許庁 / 特許	検出装置および荷電粒子線装置 FI分類-G01B 21/22, FI分類-G01B 21/00 C, FI分類-H01J 37/20 A
2015年10月22日 特許庁 / 特許	四重極型質量分析計及び質量分析方法 FI分類-H01J 49/42, FI分類-G01N 27/62 B
2015年10月07日 特許庁 / 特許	検体ラック搬送装置及び自動分析システム FI分類-G01N 35/04 H
2015年10月07日 特許庁 / 特許	容器供給ユニット及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 D
2015年09月09日 特許庁 / 特許	加工方法 FI分類-G01N 1/30, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/32 B
2015年09月07日 特許庁 / 特許	分析方法およびX線光電子分光装置 FI分類-G01N 23/227 310, FI分類-G01N 23/227 320
2015年09月07日 特許庁 / 特許	自動分析装置及び自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 H
2015年09月07日 特許庁 / 特許	荷電粒子装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/295, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/147 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2015年09月07日 特許庁 / 特許	荷電粒子装置および測定方法 FI分類-H01J 37/295, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/147 A
2015年08月25日 特許庁 / 特許	電子スピン共鳴装置 FI分類-G01N 21/31, FI分類-G01N 24/10 510 G, FI分類-G01N 24/10 520 C
2015年08月21日 特許庁 / 特許	3次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡 FI分類-G01N 23/04
2015年08月19日 特許庁 / 特許	電源回路および荷電粒子放出装置 FI分類-H02M 3/28 J, FI分類-H02M 3/28 P
2015年08月14日 特許庁 / 特許	画像生成装置及び画像生成方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-G06T 3/00 780, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 C, FI分類-H01J 37/22 502 H
2015年08月12日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 G, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 C
2015年08月12日 特許庁 / 特許	検体ラック搬送装置及び自動分析システム FI分類-G01N 35/04 H
2015年07月28日 特許庁 / 特許	試料台および試料加工方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-H01J 37/20 A
2015年07月24日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡 FI分類-G01N 23/04, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/256, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-G01N 23/225 310, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H
2015年07月23日 特許庁 / 特許	分析装置および分析方法 FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/225 310, FI分類-G01N 23/225 312
2015年07月23日 特許庁 / 特許	分析装置および分析方法 FI分類-G01N 23/2251
2015年07月23日 特許庁 / 特許	分析装置および分析方法 FI分類-G01N 23/2208, FI分類-G01N 23/2251, FI分類-G01N 23/2252, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-H01J 37/22 502 H
2015年06月30日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 G, FI分類-H01J 37/28 C
2015年06月11日 特許庁 / 特許	放射線検出器およびその製造方法 FI分類-H01L 35/30, FI分類-H01L 35/34, FI分類-G01T 7/00 A, FI分類-H01L 31/02 B
2015年05月15日 特許庁 / 特許	試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/18, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 L, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 E, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-G01N 23/22 320
2015年05月14日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および測定方法 FI分類-H01J 37/10, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/295, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/28 C
2015年05月08日 特許庁 / 特許	自動分析装置及び多重測定方法 FI分類-G01N 35/00 E
2015年05月08日 特許庁 / 特許	画像処理装置、電子顕微鏡、および画像処理方法 FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2015年04月30日 特許庁 / 特許	自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 E
2015年04月27日 特許庁 / 特許	制御装置、制御方法、および分析システム FI分類-G01N 23/04, FI分類-G01N 23/225 312
2015年03月31日 特許庁 / 特許	固体NMR装置及びマジック角調整方法 FI分類-G01N 24/02 510 C, FI分類-G01N 24/06 520 J, FI分類-G01N 24/08 510 S
2015年03月19日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡及び制御方法 FI分類-H01J 37/18
2015年03月17日 特許庁 / 特許	温度制御装置、温度制御方法、および荷電粒子線装置 FI分類-F25D 17/02, FI分類-F25B 39/04 H, FI分類-H01J 37/09 Z, FI分類-F25D 17/02 303, FI分類-F25B 1/00 101 H, FI分類-F25B 1/00 399 Y
2015年03月12日 特許庁 / 特許	電子分光装置および測定方法 FI分類-G01N 23/227 310
2015年03月04日 特許庁 / 特許	画像表示装置、画像表示方法、およびプログラム FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01N 23/225 312
2015年03月04日 特許庁 / 特許	分析装置、画像処理方法及びビームの軸合わせ方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/04 B, FI分類-H01J 37/22 501 B, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2015年02月27日 特許庁 / 特許	測定方法および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2015年02月18日 特許庁 / 特許	磁気共鳴信号検出モジュール FI分類-G01N 24/04 520 A, FI分類-G01N 24/06 520 Z
2015年02月17日 特許庁 / 特許	磁気共鳴測定装置 FI分類-G01N 24/02 530 Z, FI分類-G01N 24/04 530 F, FI分類-G01N 24/04 530 H
2015年02月12日 特許庁 / 特許	自動分析装置及び自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 F
2015年02月06日 特許庁 / 特許	NMRプローブ FI分類-G01N 24/04 510 F, FI分類-G01N 24/04 510 G, FI分類-G01N 24/04 510 Z, FI分類-G01N 24/04 520 H, FI分類-G01N 24/04 530 F
2015年02月03日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および収差測定方法 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/09 A, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/22 501 A
2015年01月29日 特許庁 / 特許	NMRプローブ FI分類-G01N 24/02 B, FI分類-G01N 24/02 510 C, FI分類-G01N 24/02 510 F, FI分類-G01N 24/04 510 G, FI分類-G01N 24/12 510 L
2015年01月28日 特許庁 / 特許	自動分析装置及び自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/00 F
2015年01月20日 特許庁 / 特許	多極子レンズおよび荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/141 Z
2015年01月16日 特許庁 / 特許	質量分析データ処理装置および質量分析データ処理方法 FI分類-G01N 27/62 Y
2015年01月09日 特許庁 / 特許	電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法 FI分類-H01J 37/063, FI分類-H01J 37/302, FI分類-H01J 37/04 A, FI分類-H01J 37/06 B
2015年01月07日 特許庁 / 特許	電子検出装置および走査電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/244
2014年12月08日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法 FI分類-H01J 37/04 A, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2014年12月08日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法 FI分類-H01J 37/22 501 Z
2014年12月03日 特許庁 / 特許	成膜方法および集束イオンビーム装置 FI分類-H01J 37/305 Z, FI分類-H01J 37/317 D
2014年11月21日 特許庁 / 特許	試料作製装置 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-H01J 37/20 G, FI分類-H01J 37/305 A, FI分類-G01N 23/225 320
2014年11月19日 特許庁 / 特許	試料ホルダー、試料作製装置、および位置合わせ方法 FI分類-G02B 21/24, FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-G01N 1/28 W, FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/30 Z, FI分類-H01J 37/305 A
2014年11月18日 特許庁 / 特許	自動分析装置および自動分析装置における棒状部材の昇降動作方法 FI分類-G01N 35/02 D, FI分類-G01N 35/10 C
2014年11月11日 特許庁 / 特許	液体吸引具、液体供給ユニット及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/10 D
2014年11月11日 特許庁 / 特許	自動分析装置及び動作指定方法 FI分類-G01N 35/00 E, FI分類-G01N 35/00 F
2014年11月07日 特許庁 / 特許	画像評価方法および荷電粒子ビーム装置 FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/317 D, FI分類-H01J 37/22 502 H
2014年10月29日 特許庁 / 特許	アクチュエーター、試料位置決め装置、および荷電粒子線装置 FI分類-F16C 29/04, FI分類-H02K 7/06 A, FI分類-F16H 25/20 E, FI分類-F16H 25/24 B, FI分類-F16H 25/24 H, FI分類-H01J 37/20 A
2014年10月24日 特許庁 / 特許	自動分析装置及び分離洗浄方法 FI分類-G01N 35/02 Z
2014年10月22日 特許庁 / 特許	試料作製装置及び試料作製方法 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/28 G, FI分類-H01J 37/30 Z, FI分類-H01J 37/305 A, FI分類-H01J 37/22 502 H
2014年10月20日 特許庁 / 特許	散布図表示装置、散布図表示方法、および表面分析装置 FI分類-G01N 23/225 312
2014年10月20日 特許庁 / 特許	ライブタイム比演算回路、ライブタイム比演算方法、放射線検出装置、および試料分析装置 FI分類-G01N 23/223, FI分類-G01T 1/17 B, FI分類-G01T 1/17 F, FI分類-G01T 1/17 H, FI分類-G01T 1/17 J, FI分類-G01T 1/36 D
2014年10月06日 特許庁 / 特許	情報処理装置、及び情報処理方法 FI分類-G01N 23/225
2014年10月02日 特許庁 / 特許	発光計測装置、および自動分析装置 FI分類-G01N 21/76, FI分類-G01N 35/02 G, FI分類-G01N 35/04 G
2014年09月29日 特許庁 / 特許	試料ホルダー、および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/20 A
2014年09月26日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡観察窓用の遮光器および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/16, FI分類-H01J 37/26
2014年09月24日 特許庁 / 特許	有機化合物除去装置 FI分類-B08B 7/00, FI分類-H01L 21/302 201 B
2014年09月22日 特許庁 / 特許	情報処理装置、及び情報処理方法 FI分類-G01N 23/22
2014年09月19日 特許庁 / 特許	試料作製装置 FI分類-G01N 1/28 F, FI分類-G01N 1/32 B, FI分類-H01J 37/20 A
2014年09月11日 特許庁 / 特許	自動分析装置及び異常判定方法 FI分類-G01N 35/00 A, FI分類-G01N 35/00 F
2014年08月29日 特許庁 / 特許	放射線分析装置 FI分類-E05C 1/04 A, FI分類-G01N 23/223
2014年08月29日 特許庁 / 特許	3次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2014年08月22日 特許庁 / 特許	流体循環装置および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/141 B, FI分類-F25D 17/02 304
2014年08月13日 特許庁 / 特許	検体ラック搬送ユニット及び自動分析システム FI分類-G01N 35/04 H
2014年08月11日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡、およびモノクロメーターの調整方法 FI分類-H01J 37/05, FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/04 A, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 C
2014年08月05日 特許庁 / 特許	制御装置、及び制御方法 FI分類-G01N 23/227
2014年07月24日 特許庁 / 特許	磁気共鳴測定装置 FI分類-H03K 3/78, FI分類-G01N 24/00 B, FI分類-G01N 24/08 510 Q, FI分類-G01N 24/08 510 S, FI分類-G01N 24/08 520 Z, FI分類-G01N 24/10 520 Z
2014年07月23日 特許庁 / 特許	磁気共鳴測定装置 FI分類-G01N 24/02 530 A, FI分類-G01N 24/04 530 C
2014年07月23日 特許庁 / 特許	磁気共鳴測定装置 FI分類-A61B 5/05 351, FI分類-G01N 24/08 520 L, FI分類-G01N 24/10 520 G
2014年07月23日 特許庁 / 特許	磁気共鳴測定装置 FI分類-G01R 33/20, FI分類-H03B 15/00, FI分類-A61B 5/05 355, FI分類-G01N 24/02 530 A
2014年07月23日 特許庁 / 特許	磁気共鳴測定装置 FI分類-G01N 24/04 530 A, FI分類-G01N 24/04 530 Y
2014年07月17日 特許庁 / 特許	放射線分析装置 FI分類-G01T 7/00 A, FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/252 A
2014年07月15日 特許庁 / 特許	ライブタイム信号合成回路、ライブタイム信号合成方法、放射線検出装置、および試料分析装置 FI分類-G01N 23/08, FI分類-G01T 1/17 B, FI分類-G01T 7/00 C
2014年06月18日 特許庁 / 特許	収差計測角度範囲計算装置、収差計測角度範囲計算方法、および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/153 A
2014年06月02日 特許庁 / 特許	電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法 FI分類-G01N 1/30
2014年05月27日 特許庁 / 特許	流通分析装置および流通分析方法 FI分類-G01N 24/02 510 D, FI分類-G01N 24/08 510 P
2014年05月21日 特許庁 / 特許	相分析装置、相分析方法、および表面分析装置 FI分類-G01N 23/221, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/252 A, FI分類-H01J 37/22 502 H
2014年05月14日 特許庁 / 特許	容器供給ユニット及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/04 D
2014年05月13日 特許庁 / 特許	自動分析装置及びノズル洗浄方法 FI分類-B08B 3/04 Z, FI分類-B08B 9/02 Z, FI分類-G01N 35/06 F, FI分類-G01N 1/00 101 N
2014年05月08日 特許庁 / 特許	収差計算装置、収差計算方法、画像処理装置、画像処理方法、および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/24, FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2014年04月30日 特許庁 / 特許	ドリフト量計算装置、ドリフト量計算方法、および荷電粒子線装置 FI分類-G06T 7/20 B, FI分類-G01B 15/00 K, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/28 C, FI分類-H01J 37/22 502 H
2014年04月17日 特許庁 / 特許	多極子レンズ、収差補正装置、および電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/12, FI分類-H01J 37/18, FI分類-H01J 37/145, FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/153 B
2014年04月17日 特許庁 / 特許	自動分析装置及び自動分析方法 FI分類-G01N 35/00 A
2014年03月31日 特許庁 / 特許	電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法 FI分類-H01J 37/065, FI分類-H01J 37/04 A, FI分類-H01J 37/06 Z, FI分類-H01J 37/30 A, FI分類-H01J 37/248 B
2014年03月31日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置及び3次元積層造形方法 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B29C 67/00
2014年03月31日 特許庁 / 特許	三次元積層造形装置 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B29C 67/00
2014年03月31日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置に用いられるブラスト装置 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B24C 3/12, FI分類-B24C 3/22, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B24C 1/00 Z, FI分類-B24C 9/00 J
2014年03月26日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置及び3次元積層造形方法 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 5/02, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B29C 67/00
2014年03月26日 特許庁 / 特許	ミコール酸分析方法及び装置 FI分類-G01N 27/62 V, FI分類-G01N 27/62 Y
2014年03月24日 特許庁 / 特許	自動分析装置および自動分析方法 FI分類-G01N 35/06 E, FI分類-G01N 35/06 K
2014年03月20日 特許庁 / 特許	自動分析装置及び異常判定方法 FI分類-G01N 35/00 A
2014年03月20日 特許庁 / 特許	試薬容器収容ユニット及び自動分析装置 FI分類-G01N 35/00 C, FI分類-G01N 35/02 B
2014年03月14日 特許庁 / 特許	荷電粒子ビーム照射装置及び荷電粒子ビーム照射方法 FI分類-B29C 67/00, FI分類-H01J 37/30 A
2014年03月14日 特許庁 / 特許	検出器および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/244, FI分類-H01J 37/28 C
2014年03月14日 特許庁 / 特許	透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡像の表示方法 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/21 A, FI分類-H01J 37/22 501 C, FI分類-H01J 37/22 501 H, FI分類-H01J 37/22 501 Z
2014年03月11日 特許庁 / 特許	自動分析装置及び異常検出方法 FI分類-G01N 35/00 F
2014年03月10日 特許庁 / 特許	3次元積層造形装置及び3次元積層造形方法 FI分類-B22F 3/16, FI分類-B22F 3/105, FI分類-B29C 67/00, FI分類-B22F 3/02 R, FI分類-H01J 37/147 E, FI分類-H01J 37/305 Z
2014年02月28日 特許庁 / 特許	透過電子顕微鏡 FI分類-H01J 37/141 Z
2014年02月25日 特許庁 / 特許	荷電粒子線描画装置 FI分類-H01L 21/30 541 L, FI分類-H01L 21/30 541 Q
2014年02月13日 特許庁 / 特許	多極子レンズの製造方法、多極子レンズ、および荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/141 A, FI分類-H01J 37/141 Z, FI分類-H01J 37/153 A, FI分類-H01J 37/153 B
2014年02月13日 特許庁 / 特許	荷電粒子線装置 FI分類-H01J 37/26, FI分類-H01J 37/20 A, FI分類-H01J 37/20 Z, FI分類-H01J 37/28 B, FI分類-H01J 37/22 501 A, FI分類-H01J 37/22 501 Z, FI分類-H01J 37/22 502 H
2014年02月06日 特許庁 / 特許	粒子解析装置、およびプログラム FI分類-G01N 23/225
2014年02月04日 特許庁 / 特許	質量分析装置 FI分類-H01J 49/10, FI分類-H01J 49/40, FI分類-G01N 27/62 G, FI分類-G01N 27/62 K, FI分類-G01N 27/64 B

日本電子株式会社の商標情報(39件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2022年02月22日 特許庁 / 商標	EG-grid 09類
2021年12月10日 特許庁 / 商標	§JEOL 37類, 40類, 41類, 42類
2021年12月10日 特許庁 / 商標	§JEOL 37類, 40類, 41類, 42類
2021年05月27日 特許庁 / 商標	ECZ Luminous 09類
2021年04月21日 特許庁 / 商標	§FEMTUS 09類
2021年04月21日 特許庁 / 商標	FEMTUS 09類
2020年11月17日 特許庁 / 商標	LUMINARY 09類
2020年09月24日 特許庁 / 商標	Relativity 09類
2019年10月02日 特許庁 / 商標	JeoQuant 01類, 09類
2019年08月29日 特許庁 / 商標	ななまるくん 09類
2019年04月03日 特許庁 / 商標	JEOINT 09類, 10類, 37類, 42類
2019年02月21日 特許庁 / 商標	JEOL 07類
2019年02月21日 特許庁 / 商標	JEOL 07類
2018年10月24日 特許庁 / 商標	C-Linkage 09類
2017年12月14日 特許庁 / 商標	ROYALプローブ 09類
2017年12月14日 特許庁 / 商標	ROYALPROBE 09類
2017年04月24日 特許庁 / 商標	BMテスト 01類, 05類, 10類
2017年04月24日 特許庁 / 商標	BM Test 01類, 05類, 10類
2017年04月14日 特許庁 / 商標	ROTORCARRIER 09類
2017年03月14日 特許庁 / 商標	4DCanvas 09類
2017年02月21日 特許庁 / 商標	CeSPIA 41類, 42類, 44類
2017年01月18日 特許庁 / 商標	ドライSD 09類
2017年01月16日 特許庁 / 商標	DART 09類
2016年12月09日 特許庁 / 商標	ION SLICER 09類
2016年12月09日 特許庁 / 商標	CROSS SECTION POLISHER 09類
2016年06月08日 特許庁 / 商標	CRYO ARM 09類
2016年02月12日 特許庁 / 商標	日本電子山形 09類, 10類, 37類, 41類, 42類
2016年02月12日 特許庁 / 商標	JYC 09類, 10類, 37類, 41類, 42類
2016年02月12日 特許庁 / 商標	日本電子インスツルメンツ 09類, 10類, 37類
2016年02月12日 特許庁 / 商標	JII 09類, 10類, 37類
2015年10月15日 特許庁 / 商標	SPECPORTER 09類
2015年10月15日 特許庁 / 商標	Triskelion 09類
2015年10月15日 特許庁 / 商標	msTriskelion 09類
2015年08月28日 特許庁 / 商標	mTOF 09類
2015年08月28日 特許庁 / 商標	NEXTOF 09類
2015年03月25日 特許庁 / 商標	YOKOGUSHI 41類, 42類
2015年02月05日 特許庁 / 商標	msMicroImager 09類
2014年02月21日 特許庁 / 商標	JEOL 07類, 09類, 10類
2014年02月20日 特許庁 / 商標	JEOL 07類, 09類, 10類

日本電子株式会社の意匠情報(8件)

日付 公表組織 / 種類	活動対象 / 分類等
2019年02月04日 特許庁 / 意匠	電子顕微鏡 意匠新分類-J18
2018年08月09日 特許庁 / 意匠	電子顕微鏡用カバー 意匠新分類-J18
2017年05月16日 特許庁 / 意匠	警告灯 意匠新分類-J601
2016年04月01日 特許庁 / 意匠	検体搬送機 意匠新分類-J1519
2015年11月11日 特許庁 / 意匠	生化学分析機 意匠新分類-J151
2015年11月11日 特許庁 / 意匠	自動分析機 意匠新分類-J151
2015年11月11日 特許庁 / 意匠	検体搬送機 意匠新分類-J1519
2015年10月21日 特許庁 / 意匠	電子顕微鏡 意匠新分類-J18

日本電子株式会社の職場情報

項目	データ
事業概要	高級精密理科学機器（電子光学機器・分析機器）、計測検査機器、半導体関連機器、産業機器、医用機器の製造・販売・開発研究、およびそれに附帯する製品・部品の加工委託、保守・サービス、周辺機器の仕入・販売
企業規模	2,027人
平均勤続年数 範囲 正社員	男性 17.4年 / 女性 17.6年
女性労働者の割合 範囲 正社員	21.0%

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